JPH01208463A - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
- Publication number
- JPH01208463A JPH01208463A JP3420688A JP3420688A JPH01208463A JP H01208463 A JPH01208463 A JP H01208463A JP 3420688 A JP3420688 A JP 3420688A JP 3420688 A JP3420688 A JP 3420688A JP H01208463 A JPH01208463 A JP H01208463A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- sputtering
- electrodes
- electrode
- sputtering target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 claims abstract description 47
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 5
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 abstract description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 abstract 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 16
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、低温で高速製膜が可能なスパッタリング装置
に間するものである。
に間するものである。
従来の技術
従来、スパッタリング装置としてはマグネトロンスパッ
タリング装置が主に用いられている。第4図にその従来
のマグネトロンスパッタリング装置のスパッタ源の要部
の断面図を示す。このスパッタ源は次のように構成され
ている。カソードホルダー1に所定の極性配置された永
久磁石2が取り付けられている。スパッタリングターゲ
ット3をボンディングしたバッキングプレート4がこの
永久磁石2にほぼ接するようにカソードホルダー1に設
置されている。そして永久磁石2とスパッタリングター
ゲット3を冷却するため冷却系5も設置されている。こ
の従来のスパッタ源を持つスパッタリング装置では次の
ように製膜が行われる。
タリング装置が主に用いられている。第4図にその従来
のマグネトロンスパッタリング装置のスパッタ源の要部
の断面図を示す。このスパッタ源は次のように構成され
ている。カソードホルダー1に所定の極性配置された永
久磁石2が取り付けられている。スパッタリングターゲ
ット3をボンディングしたバッキングプレート4がこの
永久磁石2にほぼ接するようにカソードホルダー1に設
置されている。そして永久磁石2とスパッタリングター
ゲット3を冷却するため冷却系5も設置されている。こ
の従来のスパッタ源を持つスパッタリング装置では次の
ように製膜が行われる。
第4図に示すスパッタ源6は第5図に示されるように真
空チャンバ7に絶縁されて固定される。真空チャンバ7
にはアルゴン等の不活性ガスを主成分とするスパッタガ
スが導入され、真空排気系により真空チャンバ7内の真
空度は所定の値に設定されている。この状態でスパッタ
リングターゲット3と基板8もしくは基板ホルダー9の
間に電圧を印加すると、これらの間にマグネトロン放電
によるプラズマが発生する。そしてこのプラズマから電
離したイオンがスパッタリングターゲット3に衝突した
結果、スパッタ粒子がスパッタリングターゲット3から
飛び出し製膜を行う。
空チャンバ7に絶縁されて固定される。真空チャンバ7
にはアルゴン等の不活性ガスを主成分とするスパッタガ
スが導入され、真空排気系により真空チャンバ7内の真
空度は所定の値に設定されている。この状態でスパッタ
リングターゲット3と基板8もしくは基板ホルダー9の
間に電圧を印加すると、これらの間にマグネトロン放電
によるプラズマが発生する。そしてこのプラズマから電
離したイオンがスパッタリングターゲット3に衝突した
結果、スパッタ粒子がスパッタリングターゲット3から
飛び出し製膜を行う。
発明が解決しようとする課題
しかし、このような構成のスパッタリング装置では、製
膜速度が遅く、またターゲットにおいてスパッタされる
領域が限定されているため、スパッタリングを長時閏行
なっていると放電状態が変化し安定な製膜が行えなくな
るという欠点を有していた。
膜速度が遅く、またターゲットにおいてスパッタされる
領域が限定されているため、スパッタリングを長時閏行
なっていると放電状態が変化し安定な製膜が行えなくな
るという欠点を有していた。
本発明は上記のような課題を解決するため製膜速度の向
上と安定な製膜を可能とするスパッタリング装置を提供
することを目的とするものである。
上と安定な製膜を可能とするスパッタリング装置を提供
することを目的とするものである。
課題を解決するための手段
本発明のスパッタリング装置は、上記問題点を解決する
ため、中央部に電極を持ち、この中央部の電極の周りに
中央部の電極の長さ以下の電極長を持つ電極を配置し、
この画電極の間にスパッタリングターゲットを配置した
構造を持ち、またターゲットの消費の度合を重量、また
はスパッタリングターゲットの位置をセンサにより検知
することによりスパッタリングターゲットを電極に対し
て常に同じ位置に設定できるようにスパッタリングター
ゲットを取り付けた駆動系を制御する制御系を具備した
ものである。
ため、中央部に電極を持ち、この中央部の電極の周りに
中央部の電極の長さ以下の電極長を持つ電極を配置し、
この画電極の間にスパッタリングターゲットを配置した
構造を持ち、またターゲットの消費の度合を重量、また
はスパッタリングターゲットの位置をセンサにより検知
することによりスパッタリングターゲットを電極に対し
て常に同じ位置に設定できるようにスパッタリングター
ゲットを取り付けた駆動系を制御する制御系を具備した
ものである。
作用
本発明は上記した構成により、電極間で放電を行うこと
によりスパッタガスをプラズマ化し、電極間を流れる放
電電流と、放電電流に起因する自己誘起磁場とのローレ
ンツ力によりプラズマをターゲット表面方向に加速しタ
ーゲット表面に高密度のプラズマを集中させスパッタ粒
子を増加させるものである。
によりスパッタガスをプラズマ化し、電極間を流れる放
電電流と、放電電流に起因する自己誘起磁場とのローレ
ンツ力によりプラズマをターゲット表面方向に加速しタ
ーゲット表面に高密度のプラズマを集中させスパッタ粒
子を増加させるものである。
実施例
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
(実施例1)
第1図は本発明の実施例1のスパッタリング装置のスパ
ッタ源要部の断面図である。中央部の電極10とその周
りに中央部の電極10の長さ以下の電極長を持つ電極1
1を持ち、その間にスパッタリングターゲット12を設
けている。スパッタリングターゲット12はスパッタリ
ングターゲラ)12を少なくとも矢印入方向に動かす駆
動系13に取り付けられており、この駆動系13は制御
系14によって制御される。このときスパッタガスは作
動ガス導入系15よりスパッタ源に導入され、そして電
極10.IIとスパッタリングターゲット12間に設け
たガス通路16.17を矢印のように流れる。電極10
.11間で放電を行うとスパッタガスはプラズマ化する
。電極10,11問を流れる放電電流と、放電電流に起
因する自己誘起磁場とのローレンツ力により、プラズマ
はスパッタリングターゲット12表面方向に力を受は加
速されスパッタリングターゲット12表面近傍に高密度
のプラズマが存在することになる。このためスパッタリ
ングターゲット12に衝突するイオンが増加するのでス
パッタリングターゲット12から飛び出すスパッタ粒子
が増加し、大きな製膜速度が得られる。
ッタ源要部の断面図である。中央部の電極10とその周
りに中央部の電極10の長さ以下の電極長を持つ電極1
1を持ち、その間にスパッタリングターゲット12を設
けている。スパッタリングターゲット12はスパッタリ
ングターゲラ)12を少なくとも矢印入方向に動かす駆
動系13に取り付けられており、この駆動系13は制御
系14によって制御される。このときスパッタガスは作
動ガス導入系15よりスパッタ源に導入され、そして電
極10.IIとスパッタリングターゲット12間に設け
たガス通路16.17を矢印のように流れる。電極10
.11間で放電を行うとスパッタガスはプラズマ化する
。電極10,11問を流れる放電電流と、放電電流に起
因する自己誘起磁場とのローレンツ力により、プラズマ
はスパッタリングターゲット12表面方向に力を受は加
速されスパッタリングターゲット12表面近傍に高密度
のプラズマが存在することになる。このためスパッタリ
ングターゲット12に衝突するイオンが増加するのでス
パッタリングターゲット12から飛び出すスパッタ粒子
が増加し、大きな製膜速度が得られる。
なお、放電の際、電極10.11とスパッタリングター
ゲット12は温度上昇してくるが、スパッタガスが電極
10.11とスパッタリングターゲット12の間に設け
たガス通路16.17を通って真空チャンバ内に導入さ
れるため、電極10.11とスパッタリングターゲット
12より熱を奪い、それらを冷却し、スパッタガスはプ
ラズマになり易い高温のガスとなる。
ゲット12は温度上昇してくるが、スパッタガスが電極
10.11とスパッタリングターゲット12の間に設け
たガス通路16.17を通って真空チャンバ内に導入さ
れるため、電極10.11とスパッタリングターゲット
12より熱を奪い、それらを冷却し、スパッタガスはプ
ラズマになり易い高温のガスとなる。
(実施例2)
スパッタリングターゲットが絶縁物の場合は第2図に示
すスパッタ源要部の構造としても良い。
すスパッタ源要部の構造としても良い。
中央部の電極lOとその周りに中央部の電極1゜の長さ
以下の電極長を持つ電極11を持ち、そのI旧こスパッ
タリングターゲット12を設けている。
以下の電極長を持つ電極11を持ち、そのI旧こスパッ
タリングターゲット12を設けている。
前記実施例1と異なり電極1o、11とスパックリング
ターゲット12はほぼ接するように設けてある。スパッ
タガスは真空チャンバの他の場所より導入する。電極1
0,11、スパッタリングターゲット12の冷却は電極
10.11の内部を水冷することにより行なう。作動は
実施例1と同じである。
ターゲット12はほぼ接するように設けてある。スパッ
タガスは真空チャンバの他の場所より導入する。電極1
0,11、スパッタリングターゲット12の冷却は電極
10.11の内部を水冷することにより行なう。作動は
実施例1と同じである。
(実施例3)
中央部の電極10とその周りに中央部の電極lOの長さ
以下の電極長を持つ電極11を持ちその間にスパッタリ
ングターゲット12を設けている構造では、放電の際、
電極1O111表面にスポットが形成され電流経路が偏
り均一な放電が行えない恐れがある。本実施例では、こ
の問題点を解決するため次のような構造を具備している
。第3図は本実施例のスパッタ源要部の正面図であり、
第3図(a)は周囲の電極11が軸方向に分割された構
成を示すものであり、また第3図(b)は、周囲の電極
11が軸方向に分割され、また中央部の電極10も軸方
向に分割されている構成を示すものである。他に中央部
の電極10のみを分割することも考えられる。この構造
を実施例1、実施例2の電極1O111にもたすことに
より、電圧をかける電極1o、11を順次変化させ放電
電流の経路を強制的に回転させ放電の偏りを防ぎ、安定
な製膜を行なうことができるスパッタリング装置である
。
以下の電極長を持つ電極11を持ちその間にスパッタリ
ングターゲット12を設けている構造では、放電の際、
電極1O111表面にスポットが形成され電流経路が偏
り均一な放電が行えない恐れがある。本実施例では、こ
の問題点を解決するため次のような構造を具備している
。第3図は本実施例のスパッタ源要部の正面図であり、
第3図(a)は周囲の電極11が軸方向に分割された構
成を示すものであり、また第3図(b)は、周囲の電極
11が軸方向に分割され、また中央部の電極10も軸方
向に分割されている構成を示すものである。他に中央部
の電極10のみを分割することも考えられる。この構造
を実施例1、実施例2の電極1O111にもたすことに
より、電圧をかける電極1o、11を順次変化させ放電
電流の経路を強制的に回転させ放電の偏りを防ぎ、安定
な製膜を行なうことができるスパッタリング装置である
。
また各実施例においては、スパッタリングターゲラ)1
2の消費の度合を重量により検知(重量センサー18に
よる)したり、またはスパッタリングターゲラ)12の
位置により検知(距離センサー19による)することに
よりスパッタリングターゲット12を電極10,11に
対して常に同じ位置に設定できるようにするために、ス
パッタリングターゲット12を軸方向に移動する、また
は回転させ軸方向に移動するようにスパッタリングター
ゲット12を取り付けた駆動系13の動きを制御系14
により自動的に制御し、常に安定な放電を維持し製膜を
行なうことができる。
2の消費の度合を重量により検知(重量センサー18に
よる)したり、またはスパッタリングターゲラ)12の
位置により検知(距離センサー19による)することに
よりスパッタリングターゲット12を電極10,11に
対して常に同じ位置に設定できるようにするために、ス
パッタリングターゲット12を軸方向に移動する、また
は回転させ軸方向に移動するようにスパッタリングター
ゲット12を取り付けた駆動系13の動きを制御系14
により自動的に制御し、常に安定な放電を維持し製膜を
行なうことができる。
発明の効果
本発明のスパッタリング装置は、中央部に電極を持ち、
この中央部の電極の長さ以下の電極長を持つもう一方の
電極を中央部電極の周りに配置し、両電極間にスパッタ
リングターゲットを配置した構造を持つことにより製膜
速度の向上を可能とするものであり、また中央部の電極
のみ、または周囲の電極のみ、または両方の電極を軸方
向に分割し、電圧をかける電極を順次変化さすことによ
り放電経路の偏りを防ぎ安定な製膜を可能とし、またス
パッタリングターゲットの消費の度合を重量により検知
したり、またはスパッタリングターゲットの位置により
検知することによりスパッタリングターゲットを電極に
対して常に同じ位置に設定できるようにスパッタリング
ターゲットを軸方向に移動する、または回転させ軸方向
に移動するようにスパッタリングターゲットを取り付け
た駆動系の動きを制御系により制御し、常に安定な放電
て製膜を行なうことを可能とするものであり、実用上、
多大な効果を発揮するものである。
この中央部の電極の長さ以下の電極長を持つもう一方の
電極を中央部電極の周りに配置し、両電極間にスパッタ
リングターゲットを配置した構造を持つことにより製膜
速度の向上を可能とするものであり、また中央部の電極
のみ、または周囲の電極のみ、または両方の電極を軸方
向に分割し、電圧をかける電極を順次変化さすことによ
り放電経路の偏りを防ぎ安定な製膜を可能とし、またス
パッタリングターゲットの消費の度合を重量により検知
したり、またはスパッタリングターゲットの位置により
検知することによりスパッタリングターゲットを電極に
対して常に同じ位置に設定できるようにスパッタリング
ターゲットを軸方向に移動する、または回転させ軸方向
に移動するようにスパッタリングターゲットを取り付け
た駆動系の動きを制御系により制御し、常に安定な放電
て製膜を行なうことを可能とするものであり、実用上、
多大な効果を発揮するものである。
第1図は本発明の第1の実施例におけるスパッタリング
装置のスパッタ源要部の断面図、第2図は本発明のスパ
ッタリング装置のスパッタ源要部の断面図、第3図(a
)、 (b)は本発明のスパッタリング装置のスパッタ
源要部の正面図、第4図は従来のスパッタリング装置の
スパッタ源要部の断面図、第5図は従来のスパッタリン
グ装置の概略図である。 1・・カソードホルダー、2・・永久磁石、3・・スパ
ッタリングターゲット、4・・バッキングプレート、5
・・冷却系、6・・スパッタ源、7・・真空チャンバ、
8・・基板、9・・基板ホルダー、lO・・中央部電極
、11・・電極、12・・スパッタリングターゲット、
13・・駆動系、14・・制御系、15・・作動ガス導
入系、16・・ガス通路、17・・ガス通路、18・・
重量センサ、19・・距離センサ。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名/θ−?劇
画を慰 第2図 /8
装置のスパッタ源要部の断面図、第2図は本発明のスパ
ッタリング装置のスパッタ源要部の断面図、第3図(a
)、 (b)は本発明のスパッタリング装置のスパッタ
源要部の正面図、第4図は従来のスパッタリング装置の
スパッタ源要部の断面図、第5図は従来のスパッタリン
グ装置の概略図である。 1・・カソードホルダー、2・・永久磁石、3・・スパ
ッタリングターゲット、4・・バッキングプレート、5
・・冷却系、6・・スパッタ源、7・・真空チャンバ、
8・・基板、9・・基板ホルダー、lO・・中央部電極
、11・・電極、12・・スパッタリングターゲット、
13・・駆動系、14・・制御系、15・・作動ガス導
入系、16・・ガス通路、17・・ガス通路、18・・
重量センサ、19・・距離センサ。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名/θ−?劇
画を慰 第2図 /8
Claims (2)
- (1)中央部に電極を持ち、前記中央部の電極の長さ以
下の電極長を持つもう一方の電極を前記中央部の電極の
周りに配置し、前記両電極間にスパッタリングターゲッ
トを配置したスパッタリング装置。 - (2)スパッタリングターゲットの消費の度合を前記ス
パッタリングターゲットの重量、または前記スパッタリ
ングターゲットの位置をセンサにより検知することによ
り、前記スパッタリングターゲットを電極に対して常に
同じ位置に設定できるように前記スパッタリングターゲ
ットを取り付けた駆動系を制御する制御系を具備した請
求項1に記載のスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3420688A JPH01208463A (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3420688A JPH01208463A (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | スパッタリング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01208463A true JPH01208463A (ja) | 1989-08-22 |
Family
ID=12407682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3420688A Pending JPH01208463A (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01208463A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0416241A2 (de) * | 1989-09-07 | 1991-03-13 | Leybold Aktiengesellschaft | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats |
CN107043917A (zh) * | 2017-04-27 | 2017-08-15 | 昆山国显光电有限公司 | 磁控溅射设备及系统 |
-
1988
- 1988-02-17 JP JP3420688A patent/JPH01208463A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0416241A2 (de) * | 1989-09-07 | 1991-03-13 | Leybold Aktiengesellschaft | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats |
CN107043917A (zh) * | 2017-04-27 | 2017-08-15 | 昆山国显光电有限公司 | 磁控溅射设备及系统 |
CN107043917B (zh) * | 2017-04-27 | 2019-07-02 | 昆山国显光电有限公司 | 磁控溅射设备及系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5558749A (en) | Magnetron sputtering apparatus and method | |
US5130005A (en) | Magnetron sputter coating method and apparatus with rotating magnet cathode | |
US6113752A (en) | Method and device for coating substrate | |
US5409590A (en) | Target cooling and support for magnetron sputter coating apparatus | |
JP2924891B1 (ja) | スパッタリング装置 | |
JPH08176817A (ja) | マグネトロンスパッタリング装置 | |
EP0555339B1 (en) | Magnetron sputter coating method and apparatus with rotating magnet cathode | |
JPH11158625A (ja) | マグネトロンスパッタ成膜装置 | |
JPH01208463A (ja) | スパッタリング装置 | |
JPH0234780A (ja) | マグネトロンスパッタ用磁気回路 | |
JP2907620B2 (ja) | マグネトロン電極 | |
JPH01111870A (ja) | スパッタリング装置 | |
JP2625789B2 (ja) | マグネトロンスパッタカソード | |
JP4056112B2 (ja) | マグネトロンスパッタ装置 | |
JPS63223173A (ja) | 基板処理方法およびその装置 | |
JPH03243761A (ja) | スパッタリング装置 | |
JPH02290971A (ja) | スパッタ装置 | |
JPH01287270A (ja) | スパッタリング装置 | |
JP2000017435A (ja) | マグネトロンスパッタ方法及び装置 | |
JPS6354789B2 (ja) | ||
JPS63103066A (ja) | プレ−ナマグネトロン方式のスパツタリング装置 | |
JPS60194071A (ja) | 薄膜の形成方法およびその装置 | |
JPS62167619A (ja) | 磁気デイスク製膜装置 | |
JPH0625845A (ja) | スパッタリング装置 | |
JPH1161405A (ja) | スパッタリング装置 |