JPH01208320A - 酸化物系超電導体の製造方法と装置 - Google Patents

酸化物系超電導体の製造方法と装置

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JPH01208320A
JPH01208320A JP63030555A JP3055588A JPH01208320A JP H01208320 A JPH01208320 A JP H01208320A JP 63030555 A JP63030555 A JP 63030555A JP 3055588 A JP3055588 A JP 3055588A JP H01208320 A JPH01208320 A JP H01208320A
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JP
Japan
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plasma treatment
periodic table
group
plasma processing
frequency plasma
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Application number
JP63030555A
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English (en)
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Shoichi Hasegawa
正一 長谷川
Ryuichi Okiayu
置鮎 隆一
Shotaro Yoshida
昭太郎 吉田
Masayuki Tan
丹 正之
Hiroshi Yamanouchi
山之内 宏
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Fujikura Ltd
Original Assignee
Fujikura Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、酸化物系高温超電導体を製造するための方
法とその装置に関する。
「従来技術とその課題」 近時、常電導状態から超電導状態に遷移する臨界温度(
Tc)が液体窒素温度以上の高い値を示す酸化物系超電
導材料が種々発見されつつある。
そして、このような酸化物系超電導材料からなる超電導
体を製造ずろ方法として、例えば高周波プラズマやアー
クプラズマをそれぞれ単独で用い、CVD法(化学気相
蒸着法)やPVD法(物理的蒸着法)によって基板上に
超電導材料を成膜する方法が知られている。
ところで、このような方法においては、以下に述べるよ
うな不都合がある。
例えば、Y −B a−Cu−0系の超電導体を作製す
る場合、BaとYおよびCuとの間の融点および沸点が
大きく異なる(Baの融点;850℃・沸点1140℃
、Yの融点;t 490℃・沸点2500℃、Cuの融
点:t 490°C−沸点25008C)ことから、そ
の同温同圧の状態での蒸気圧も大きく異なるものとなる
。よってこれらの元素を同時にプラズマ処理し、ガス化
してCVD法により成膜するには、各元素間のモル比を
所望する比に調整し制御するのが非常に困難であり、し
たがって処理後に得られた超電導体にあっては、十分に
高い超電導特性を示さないという問題がある。また、通
常のCVD法で超電導体の成膜を行うには、現状ではB
aのソースガスとして適当なものが無く、したがって所
望ケる組成の超電導体を製造するのが非常に困難である
この発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、優れた超電導特性を有する超電導体を
製造し得る方法を提供するとともに、この製造方法に基
づいて超電導体を作製するのに好適に用いられる製造装
置を提供することにある。
「課題を解決するための手段」 本発明の酸化物系超電導体の製造方法では、B元素から
なる単体あるいはこれを含有する化合物の粉末状材料に
アークプラズマ処理を施し、次いでこのアークプラズマ
処理後の上記材料を高周波プラズマ処理部に導入すると
ともにへ元素を含有する材料およびC元素を含有する材
料を上記高周波プラズマ処理部に導入し、これら材料に
高周波プラズマ処理を施すことを上記課題の解決手段と
した。
また、本発明の酸化物系超電導体の製造装置では、アー
クプラズマ処理部と高周波プラズマ処理部とを具備し、
これら処理部を互いに連通せしめ、かつ該処理部のそれ
ぞれに材料供給部を設けたことを上記課題の解決手段と
した。
「実施例」 以下、本発明をその酸化物系超電導体の製造装置を例に
して詳しく説明する。
第1図は本発明における酸化物系超電導体の製造装置の
一実施例を示す図であって、図中符号Iは製造装置であ
る。この製造装置lは、アークプラズマ処理部2とこの
アークプラズマ処理部2に連通して配設された高周波プ
ラズマ処理部3とからなるものである。
アークプラズマ処理部2は、有M筒状の陽極4内にアー
クプラズマ処理空間5を配し、このアークプラズマ処理
空間5内に棒状の陰極6を配し、陽極4にアークプラズ
マ処理空間5に連通ずる材料供給管7を設けたものであ
る。゛ここで陽極4および陰極6は、それぞれ図示しな
い電源に接続されているものであり、陰極6にイオンが
流入したとき電子を引き出し、この電子を陽極4に向か
って直進せしめ、気体分子と衝突せしめてプラズマを形
成するものである。
高周波プラズマ処理部3は、石英等の絶縁体からなる有
蓋円筒状の処理本体8と、この処理本体8の外周に巻回
された高周波コイル9とからなり、処理本体8内を高周
波プラズマ処理空間IOとしたものである。また、この
高周波プラズマ処理部3には、そのM部IIに形成され
た連通孔12に上記アークプラズマ処理部2の陽極4が
内挿されたおり、これによりアークプラズマ処理部2の
アークプラズマ処理空間5と高周波プラズマ処理空間1
0とが互いに連通したものとなっている。蓋部■1には
、高周波プラズマ処理空間!0に連通。
する材料供給管13が設けられており、また連通孔12
には、アークプラズマ処理部2との間に陽極11と処理
本体8との熱膨張率の差に起因して発生ずる処理本体8
の割れなどを防止するための絶縁性断熱材14が介装さ
れている。高周波コイル9は、図示しない高周波電源に
接続された乙のであり、高周波電磁誘導によって高周波
プラズマ処理空間10内にプラズマを形成するものであ
る。
また、処理本体8の開口部には、処理本体8に着脱自在
の底板15が取り付けられている。この底板I5には、
その高周波プラズマ処理空間IO側に基板固定部16が
形成され、さらに高周波プラズマ処理空間IO内を真空
排気にするための排気孔I7.17が形成されている。
基板固定部16には、基板を加熱するためのヒータ18
が設けられており、これにより処理時に基板を予備加熱
して基板の付着性を向上せしめることができるようにな
っている。
次に、このような構成の製造装置lにより酸化物系超電
導体を作製する方法について説明する。
なお、ここでいう酸化物系超電導体とは、一般式A −
B −C−D (ただし、AはY、Sc、La、Yb、
Er。
Ho、Dy等の周期律表第1IIa族元素のうち1種あ
るいは2種以上を表し、BはSr、Ba、Ca等の周期
律表第11a族元素のうち1種あるいは2種以上を表し
、CはCu、A g、A uの周期律表第rb族元素お
よびNbのうちCuあるいはCuを含む2種以上を表し
、DはO,S、Se等の周期律表第VIb族元素および
F、C(!、Br等の周期律表第VIIb族元元素うち
0あるいはOを含む2種以上を表す。)で表されるらの
とする。また、ここで説明する酸化物系超電導体の例は
、基板上に形成される薄膜状の超電導体とする。
このような超電導体を作製するには、まず基板Kを底板
15の基板固定部16にセットし、該底板15を処理本
体8に取り付けた後、排気孔17.17から図示しない
真空ポンプにより真空排気して高周波プラズマ処理空間
IOおよびアークプラズマ処理空間をlo−3〜50T
orr程度の所望する真空度に脱気するとともに、ヒー
タ18により基@Kを適宜な温度に加熱する。ここで、
基板にとしては、銅、銀等の金属、ステンレス等の合金
、石英ガラス等のガラス、さらには各種セラミックスな
どが用いられる。
次に、上記一般式中のB元素からなる単体あるいはこれ
を含有する化合物の粉末状材料を用意し、これを材料供
給管7からアークプラズマ処理空間5内に、キャリヤガ
スとしてのArガスとともに導入する。ここで、上記B
元素あるいはこれを含有する化合物の粉末材料としては
、例えばY−Ba−Cu−0系の超電導体を作製する場
合には、Baの単体粉末やBaO粉末が作製する超電導
体への不純物混入の度合が少ないことにより好適に用い
られるが、これらに限ることなく、他にBJICO3や
BaP、などを用いることもできる。また、この粉末材
料としては、その粒径が0.5〜lOμm程度の微粉末
状のものが用いられるものとされ、特に0.5〜2μm
程度のものか好適に使用される。
次いで、陽極4および陰極6間に電圧を印加し、導入し
たArガスを励起せしめてプラズマ化することにより、
プラズマ雰囲気中の上記粉末材料を高温にして粉末材料
中のB元素をガス化する。
次いで、このガス化した材料を、励起したArガスとと
もに高周波プラズマ処理空間10内に流入せしめ、さら
にこれと同時に材料供給管13より上記へ元素を含有す
る材料およびC元素を含有する材料とキャリヤガスとし
てのArガスとを上記高周波プラズマ処理空間lO内に
導入し、高周波コイル9に電圧を印加して上記材料に高
周波プラズマ処理を施す。この場合にへ元素およびB元
素を含む材料としては、それぞれ上記元素を含む化合物
のうち、蒸気圧を有し常温で気化可能なアセデルアセト
ン基を有する金属化合物、シクロペンタジェニル基を存
する金属化合物、ジピバロイル基を有する金属化合物等
の有機金属錯体などが用いられ、具体的には例えばY 
−B a−Cu−0系の場合、Y (D P M )3
、Y(HF’A)3、Cu(DPM)z、Cu(II 
F A )zなどが用いられろ。また、これらへ元素お
よびC元素を含有する材料は、材料中のへ元素およびC
元素のモル量が、上述の励起せしめられてガス化したB
元素のモル量に対して所望する割合となるように予め調
整されて導入されるものとされ、例えばY −B a−
Cu−0系の場合、Y:Ba:Cu−1:2:3となる
ように調整される。
するとこれら材料は、高周波プラズマ処理空間10内に
形成されたプラズマ炎P中においてその高熱により瞬時
に熱分解され、材料中の有機物が焼失せしめられる。一
方、材料中の上記A元素、B元素お上びC元素は、いず
れらプラズマ炎P中で励起せしめられてガス化した後、
自重により落下し、その融点が高いことから昇華して超
微粉状となり、基板に上に所望する比率で付着し、薄膜
を形成する。
またこの場合、高周波によるプラズマ雰囲気を作製する
にあたり、その着火源としては、アークプラズマ処理に
より励起せしめたArを用いることができ、よって高周
波プラズマ処理部3に別に着火装置を設ける必要が無い
。さらにこの場合、基板KがヒータI8によって適宜な
温度に加熱されていることにより、超微粉状になった上
記各元素は基板に上に容易に付着し、薄膜を形成する。
そして、基板に上に所望する厚さの薄膜か形成された後
、高周波コイル9への電圧印加を止め、プラズマの発生
を停止して基板に上への超電導体成分の付着を終了する
その後、高周波プラズマ処理空間IO内を大気圧に戻し
、底板15を外して基板Kを取り出し、これを酸素雰囲
気中にて800〜1100℃程度で加熱して基板に上の
薄膜を超電導体とする。
このような構成の製造装置lにあっては、へ元素および
C元素に比較して同温同圧の状態での蒸気圧が著しく高
いB元素を含む材料に、予めアークプラズマ処理を施し
てB元素をガス化し、次いでこのアークプラズマ処理後
のガス化した材料を高周波プラズマ処理部に導入すると
ともに上記へ元素を含有する材料およびC元素を含有す
る材料を上記高周波プラズマ処理部に導入し、これら材
料に高周波プラズマ処理を施すことができろように構成
されているので、各元素間の蒸気圧の差にとられれるこ
となく元素間におけるモル比の調整を容易に行うことが
できる。
なお、上記実施例では、製造装置!により基板に上に薄
膜状の超電導体を作製する例を示したが、他に例えば、
超電導体微粉末を作製することも可能であり、その場合
には底板上に基板を固定することなく単に捕集板を載置
し、この捕集板上に超微粉状とな。た上記A、B、Cの
各元素を堆積せしめ、その後この堆積した微粉に仮焼成
、粉砕、圧粉、本焼成等からなる一連の処理を施すよう
にする。
「発明の効果」 以上説明したように、本発明の第1の発明である酸化物
系超電導体の製造方法は、B元素からなる単体あるいは
これを含有する化合物の粉末状材料にアークプラズマ処
理を施し、次いでこのアークプラズマ処理後の上記材料
を高周波プラズマ処理部に導入するとともにへ元素を含
有する材料お上びC元素を含有する材料を上記高周波プ
ラズマ処理部に導入し、これら材料に高周波プラズマ処
理を施すものである。したがって、この方法によれば、
各元素間の蒸気圧の差にとられれることなく元素間にお
けるモル比の調整を容易に行うことができ、これにより
得られる超電導体の組成を所望する比率に精度良く合わ
せることができ、よって優れた超電導特性を呈する超電
導体を作製することができる。
また、本発明の第2の発明である酸化物系超電導体の製
造装置は、アークプラズマ処理部と高周波プラズマ処理
部とを具備し、これら処理部を互いに連通せしめ、かつ
該処理部のそれぞれに材料供給部を設けたものである。
したがって、アークプラズマ処理部にてB元素からなる
単体あるいはこれを含有する化合物の粉末状材料にアー
クプラズマ処理を施し、さらにこのアークプラズマ処理
後の上記材料を高周波プラズマ処理部に導入するととら
にへ元素を含有する材料およびC元素を含有する材料を
上記高周波プラズマ処理部に導入し、これら材料に高周
波プラズマ処理を施すようにすれば、上記A、BSCの
各元素間の蒸気圧の差にとられれることなく元素間にお
けるモル比の調整を容易に行うことができ、これにより
得られる超電導体の組成を所望する比率に精度良く合わ
けることができ、よって優れた超電導特性を呈する超電
導体を作製することができる。また、この装置にあって
は、アークプラズマ処理部において励起されたAr等の
キャリアガスが高周波プラズマ処理部における着火源と
して作用仕しめることかできるため、高周波プラズマ処
理部に特に着火源を。
設ける必要がなく、したがってその構成が簡略なものと
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる図であって、酸化物系超電導体
の製造装置の概略構成図である。 !・・・・・・製造装置、2・・・・・・アークプラズ
マ処理部、3・・・・・・高周波プラズマ処理部、4・
・・・・・陽極、5・・・・・・アークプラズマ処理空
間、6・・・・・・陰極、7、!3・・・・・・材料供
給管、9・・・・・・高周波コイル、10・・・・・・
高周波プラズマ処理空間。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一般式A−B−C−D (ただし、AはY、Sc、La、Yb、Er、Ho、D
    y等の周期律表第IIIa族元素のうち1種あるいは2種
    以上を表し、BはSr、Ba、Ca等の周期律表第IIa
    族元素のうち1種あるいは2種以上を表し、CはCu、
    Ag、Auの周期律表第 I b族元素およびNbのうち
    CuあるいはCuを含む2種以上を表し、DはO、S、
    Se等の周期律表第VIb族元素およびF、Cl、Br等
    の周期律表第VIIb族元素のうちOあるいはOを含む2
    種以上を表す。)として表される酸化物系超電導体を製
    造する方法であって、上記B元素からなる単体あるいは
    これを含有する化合物の粉末状材料にアークプラズマ処
    理を施し、次いでこのアークプラズマ処理後の上記材料
    を高周波プラズマ処理部に導入するとともに上記A元素
    を含有する材料およびC元素を含有する材料を上記高周
    波プラズマ処理部に導入し、これら材料に高周波プラズ
    マ処理を施すことを特徴とする酸化物系超電導体の製造
    方法。
  2. (2)酸化物系超電導体を製造するための装置であって
    、 アークプラズマ処理部と高周波プラズマ処理部とを具備
    し、これら処理部を互いに連通せしめ、かつ該処理部の
    それぞれに材料供給部を設けたことを特徴とする酸化物
    系超電導体の製造装置。
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