JPH01202649A - X線回折装置 - Google Patents
X線回折装置Info
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- JPH01202649A JPH01202649A JP63026400A JP2640088A JPH01202649A JP H01202649 A JPH01202649 A JP H01202649A JP 63026400 A JP63026400 A JP 63026400A JP 2640088 A JP2640088 A JP 2640088A JP H01202649 A JPH01202649 A JP H01202649A
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- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims abstract description 44
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 9
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N sodium;9,10-dioxoanthracene-2-sulfonic acid Chemical compound [Na+].C1=CC=C2C(=O)C3=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、試料にX線を照射して、試料のX線回折像を
調べるX線回折装置に関するものである。
調べるX線回折装置に関するものである。
[従来の技術]
結晶性物質の結晶構造を解明する手法として、結晶性物
質である試料にX線を照射し、この結果得られるX線回
折像を観察・分析することが知られている。
質である試料にX線を照射し、この結果得られるX線回
折像を観察・分析することが知られている。
また、X線の照射によって得られるX線回折像の記録法
としては、X線写真によるものが古くから知られている
。
としては、X線写真によるものが古くから知られている
。
[発明が解決しようとする課題]
ところが、前述のX線写真による方法は、以下の如き器
があり、今後の解決課題とされていた。
があり、今後の解決課題とされていた。
第一には、銀塩を使用するため、銀資源の枯渇等の問題
に大きく拘るという点であり、第二には、現像等の時間
のかかる処理が必要となるため、処理時間の短縮が困難
であるという点であり、第三には、現像したものをスケ
ール等を使って読取るため、読取りに時間がかかるとと
もに熟練が要求されるという点であり、さらに第四には
、−枚ずつ写真に取るため、試料の状態の変化を連続的
に!1察し分析することができないという点である。
に大きく拘るという点であり、第二には、現像等の時間
のかかる処理が必要となるため、処理時間の短縮が困難
であるという点であり、第三には、現像したものをスケ
ール等を使って読取るため、読取りに時間がかかるとと
もに熟練が要求されるという点であり、さらに第四には
、−枚ずつ写真に取るため、試料の状態の変化を連続的
に!1察し分析することができないという点である。
第一および第二の課題に対しては、放射線を吸収・蓄積
する蛍光体層を放射線画像(X線回折像)の記録手段と
して利用する技術が開発され、既に実用化に至ったが、
第三および第四の課題に対しては、未だ有効な解決がな
されていない。
する蛍光体層を放射線画像(X線回折像)の記録手段と
して利用する技術が開発され、既に実用化に至ったが、
第三および第四の課題に対しては、未だ有効な解決がな
されていない。
この第三および第四の課題を解決するには、具体的な装
置化への配慮が必要であり、この装置化に当たっての問
題も同時に解決しなければならないこと、すなわち、画
像記録手段における連続記録性を確保するための機構の
開発等の問題に併せて、さらに、回折像を得るために試
料にX線を照射するX線回折用光学手段や記録した回折
像を読出すための画像読取手段の配備の仕方等の問題、
あるいは、これらの各手段を総合しての装置全体として
のコンパクト化や高能率化等の種々の問題を一挙に解決
しなければならず、そのなめに解決が困雑になっている
のである。
置化への配慮が必要であり、この装置化に当たっての問
題も同時に解決しなければならないこと、すなわち、画
像記録手段における連続記録性を確保するための機構の
開発等の問題に併せて、さらに、回折像を得るために試
料にX線を照射するX線回折用光学手段や記録した回折
像を読出すための画像読取手段の配備の仕方等の問題、
あるいは、これらの各手段を総合しての装置全体として
のコンパクト化や高能率化等の種々の問題を一挙に解決
しなければならず、そのなめに解決が困雑になっている
のである。
この発明は、前記事情に鑑みてなされたもので、放射線
を吸収・蓄積する蛍光体層をX線回折像の記録手段とし
て利用し、しかも、X線回折像を記録する動作と記録し
た画像情報を読取る動作とを並行して行うことができ、
これによって画像処理に要する時間の短縮を図るととも
に、試料の状態の変化に対する連続的な観察・分析を許
容することができて、結晶方位の迅速決定や残留応力高
速測定に適したX線回折装置を提供することを目的とす
る。
を吸収・蓄積する蛍光体層をX線回折像の記録手段とし
て利用し、しかも、X線回折像を記録する動作と記録し
た画像情報を読取る動作とを並行して行うことができ、
これによって画像処理に要する時間の短縮を図るととも
に、試料の状態の変化に対する連続的な観察・分析を許
容することができて、結晶方位の迅速決定や残留応力高
速測定に適したX線回折装置を提供することを目的とす
る。
[課題を解決するための手段]
この発明に係るX線回折装置は、結晶方位の迅速決定や
残留応力高速測定等の用途開発を念頭において課題解決
を図ったものである。
残留応力高速測定等の用途開発を念頭において課題解決
を図ったものである。
その具体的な手段としては、試料を支持する支持台と、
帯状をなすとともに一方の面に蛍光体層によって放射線
画像を記録する画像記録面を有して、この画像記録面を
試料支持台上の試料側に向けて並列配置された第1およ
び第2の画像記録手段と、前記試料支持台上の試料にX
線を照射して画像記録手段側の一定の投射位置に帯状に
X線回折像を投射するX線回折用光学手段と、前記試料
に対して第1および第2の画像記録手段をその並び方向
に相対移動させて、択一的に一方の画像記録手段をX線
回折像の投射位置に位置させる記録部切替手段と、第1
および第2の画像記録手段相互間の間隙に挿通させた回
転軸の先端に支持されて、該回転軸の回転によってどち
らか一方の画像記録手段上に読取り位置を移す画像読取
手段とを備えた構成をなしている。
帯状をなすとともに一方の面に蛍光体層によって放射線
画像を記録する画像記録面を有して、この画像記録面を
試料支持台上の試料側に向けて並列配置された第1およ
び第2の画像記録手段と、前記試料支持台上の試料にX
線を照射して画像記録手段側の一定の投射位置に帯状に
X線回折像を投射するX線回折用光学手段と、前記試料
に対して第1および第2の画像記録手段をその並び方向
に相対移動させて、択一的に一方の画像記録手段をX線
回折像の投射位置に位置させる記録部切替手段と、第1
および第2の画像記録手段相互間の間隙に挿通させた回
転軸の先端に支持されて、該回転軸の回転によってどち
らか一方の画像記録手段上に読取り位置を移す画像読取
手段とを備えた構成をなしている。
[作用コ
本発明に係るX線回折装置では、X線回折用光学手段に
よって試料へX線が照射されると、試料を経たX線が投
射位置に位置した一方の画像記録手段の記録面に向けて
投射されることになる。
よって試料へX線が照射されると、試料を経たX線が投
射位置に位置した一方の画像記録手段の記録面に向けて
投射されることになる。
そして、一方の画像記録手段への記録が完了したら、試
料に対して各画像記録手段の位置を相対移動させて、他
方の画像記録手段を投射位置に位置させることによって
、X線回折像の記録を続行させることができ、この点で
連続的な記録が可能になる。また、帯状をなす画像記録
手段の長手方向の寸法を大に設定しておけば、その長手
方向にX線回折像の投射位置を順にずらして連続記録を
図ることもでき、この点でも連続的な記録が可能になり
、試料の状態の変化に応じた連続記録によって過渡現象
測定等を行うこともできる。
料に対して各画像記録手段の位置を相対移動させて、他
方の画像記録手段を投射位置に位置させることによって
、X線回折像の記録を続行させることができ、この点で
連続的な記録が可能になる。また、帯状をなす画像記録
手段の長手方向の寸法を大に設定しておけば、その長手
方向にX線回折像の投射位置を順にずらして連続記録を
図ることもでき、この点でも連続的な記録が可能になり
、試料の状態の変化に応じた連続記録によって過渡現象
測定等を行うこともできる。
また、読取手段による読取り位置は、どちらか一方の画
像記録手段に随時切替えできるため、−方の画像記録手
段への記録が完了した場合には、他方の画像記録手段へ
の記録動作に並行して一方の画像記録手段からの読取り
動作を実行することができ、このような同時処理によっ
て、時間的により効率良くX線回折像の観察・分析を進
めることが可能になる。
像記録手段に随時切替えできるため、−方の画像記録手
段への記録が完了した場合には、他方の画像記録手段へ
の記録動作に並行して一方の画像記録手段からの読取り
動作を実行することができ、このような同時処理によっ
て、時間的により効率良くX線回折像の観察・分析を進
めることが可能になる。
また、蛍光体層による記録面に記録された画像の読取り
は、励起光によって走査したときの輝尽発光の発光強度
の検出によって行われることになるが、検出した情報は
電気信号として電子計算機等によって処理することがで
きるため、処理時間を大幅に短縮することができ、結晶
方位の迅速決定や残留応力の高速測定等の達成が可能に
なる。
は、励起光によって走査したときの輝尽発光の発光強度
の検出によって行われることになるが、検出した情報は
電気信号として電子計算機等によって処理することがで
きるため、処理時間を大幅に短縮することができ、結晶
方位の迅速決定や残留応力の高速測定等の達成が可能に
なる。
[実施例]
第1図及び第2図は、それぞれこの発明に係るX線回折
装置の一実施例を示したものである。
装置の一実施例を示したものである。
このX線回折装置1は、第1図から理解されるように、
試料2を支持する試料支持台3と、X線画像を記録する
画像記録面4a、5aを試料支持台3上の試料2111
に向けて並列配置された第1および第2の画像記録手段
4,5と、前記試料支持台3上の試料2にX線6を照射
して画像記録手段4.5fFIの一定の投射位置に帯状
にX線回折像を投射するX線回折用光学手段(図示時)
と、前記試料2に対して第1および第2の画像記録手段
4゜5をその並び方向く第2図で上下方向)に相対移動
させて、択一的に一方の画像記録手段をX線回折像の投
射位置に位置させる記録部切替手段8と、第1および第
2の画像記録手段相互間の間隙9に挿通させた回転軸1
0と、この回転軸10の先端に支持された画像読取手段
11とを備えている。
試料2を支持する試料支持台3と、X線画像を記録する
画像記録面4a、5aを試料支持台3上の試料2111
に向けて並列配置された第1および第2の画像記録手段
4,5と、前記試料支持台3上の試料2にX線6を照射
して画像記録手段4.5fFIの一定の投射位置に帯状
にX線回折像を投射するX線回折用光学手段(図示時)
と、前記試料2に対して第1および第2の画像記録手段
4゜5をその並び方向く第2図で上下方向)に相対移動
させて、択一的に一方の画像記録手段をX線回折像の投
射位置に位置させる記録部切替手段8と、第1および第
2の画像記録手段相互間の間隙9に挿通させた回転軸1
0と、この回転軸10の先端に支持された画像読取手段
11とを備えている。
以下、前述の各構成部材の内、必要なものについて詳述
する。
する。
前記試料支持台3は、ゴニオメータを装備しており、支
持した試料2の姿勢(向き)を任意方向に調整可能にし
ている。また、この支持台3の上では、試料2の温度、
圧力等の諸条件を連続的に変えることのできる状態調節
装置(図示時)が設けられていて、該状態調節装置によ
って試料2の状態を連続的に変化させ得るように構成さ
れている。
持した試料2の姿勢(向き)を任意方向に調整可能にし
ている。また、この支持台3の上では、試料2の温度、
圧力等の諸条件を連続的に変えることのできる状態調節
装置(図示時)が設けられていて、該状態調節装置によ
って試料2の状態を連続的に変化させ得るように構成さ
れている。
前述の画像記録手段4,5は、蛍光体層によって放射線
画像(X線回折像)を記録する画像記録面4a、5aを
形成したもので、それぞれ、帯状を呈するとともに、試
料2を中心軸とする円弧状に湾曲した形状になっている
。そして、これらの記録手段4.5相互は、上下方向に
間隔をあけて並列配置されている。これらの記録手段4
.5は、いずれも支持枠13の支柱14に固定されてい
る。
画像(X線回折像)を記録する画像記録面4a、5aを
形成したもので、それぞれ、帯状を呈するとともに、試
料2を中心軸とする円弧状に湾曲した形状になっている
。そして、これらの記録手段4.5相互は、上下方向に
間隔をあけて並列配置されている。これらの記録手段4
.5は、いずれも支持枠13の支柱14に固定されてい
る。
支持枠13は、図示時の支持系によって試料支持台3に
対して記録手段4.5の並び方向く上下方向)に移動自
在に支持されている。
対して記録手段4.5の並び方向く上下方向)に移動自
在に支持されている。
X線6は発射する図示時のX線回折用光学手段は、X線
を発生するX線源、モノクロメータ、コリメータ等から
構成されるもので、試料2に水平にX線6を照射し、水
平方向に帯状に広がるX線回折像6aを得る。したがっ
て、試料2の高さ位置が回折像の投射位置となる。
を発生するX線源、モノクロメータ、コリメータ等から
構成されるもので、試料2に水平にX線6を照射し、水
平方向に帯状に広がるX線回折像6aを得る。したがっ
て、試料2の高さ位置が回折像の投射位置となる。
前述の記録部切替手段8は、前記支持枠13を上下方向
に昇降させることによって、随時、記録手段4.5の一
方を回折像の投射位置に位置させるもので、支持枠13
に螺合したねじ部材8aや、該ねじ部材8aを回転駆動
するモータ8bを構成要素としている。
に昇降させることによって、随時、記録手段4.5の一
方を回折像の投射位置に位置させるもので、支持枠13
に螺合したねじ部材8aや、該ねじ部材8aを回転駆動
するモータ8bを構成要素としている。
前述の回転軸10は、第2図にも示すように、筒状に形
成されており、その内部には、画像読取手段11に接続
されるケーブル等11aが挿通されている。この回転軸
10は、移動台車15に回転自在に支持されており、該
回転軸10の後端に組付けられたギヤ機構16、モータ
17等によって回転駆動される。ここに、前記支持枠1
3上には、台車支持用の架台18が立設されており、こ
の架台18上に敷設され、なレール18aに前記移動台
車15が載置されている。レール18aは、記録手段4
,5の湾曲状態に沿って設けられている。移動台車15
自体には、駆動用のモータ15aと、架台18に形成さ
れたラック18bに噛合うビニオン15bとが装備され
ていて、この結果、記録手段4.5に沿って移動可能に
されている。
成されており、その内部には、画像読取手段11に接続
されるケーブル等11aが挿通されている。この回転軸
10は、移動台車15に回転自在に支持されており、該
回転軸10の後端に組付けられたギヤ機構16、モータ
17等によって回転駆動される。ここに、前記支持枠1
3上には、台車支持用の架台18が立設されており、こ
の架台18上に敷設され、なレール18aに前記移動台
車15が載置されている。レール18aは、記録手段4
,5の湾曲状態に沿って設けられている。移動台車15
自体には、駆動用のモータ15aと、架台18に形成さ
れたラック18bに噛合うビニオン15bとが装備され
ていて、この結果、記録手段4.5に沿って移動可能に
されている。
前記画像読取手段11は、画像記録面4a、5aに励起
光を照射し、この結果、放射線(X線)の蓄積量に比例
して起こる輝尽発光の発光強度を検出することによって
、記録されている画像を読取るものである。この読取手
段11は、前記回転軸10の回転によって回転軸10を
中心軸とした旋回を起こし、この旋回によってその読取
り位置をいずれかの記録手段上に切替えることができ、
また、前記移動台車15の走行によって記録手段の記録
面に沿った走査を行うことができる。
光を照射し、この結果、放射線(X線)の蓄積量に比例
して起こる輝尽発光の発光強度を検出することによって
、記録されている画像を読取るものである。この読取手
段11は、前記回転軸10の回転によって回転軸10を
中心軸とした旋回を起こし、この旋回によってその読取
り位置をいずれかの記録手段上に切替えることができ、
また、前記移動台車15の走行によって記録手段の記録
面に沿った走査を行うことができる。
なお、該読取手段11の基本的な構成は、発光検出装置
、光路機構、集光用のレンズ、読取った情報の処理のた
めの演算処理手段等を備えたものである。読取った情報
の処理等に関しては、基本的な構成は本願出願人が先に
出願した放射線画像読取装置(例えば、特願昭62−1
61918号や特願昭62−215853号など)に記
載の技術が流用されている。
、光路機構、集光用のレンズ、読取った情報の処理のた
めの演算処理手段等を備えたものである。読取った情報
の処理等に関しては、基本的な構成は本願出願人が先に
出願した放射線画像読取装置(例えば、特願昭62−1
61918号や特願昭62−215853号など)に記
載の技術が流用されている。
また、記録手段4.5に記録された画像を前記読取手段
11によって読取った後には、図示略のハロゲンランプ
等を利用して画像の消去を行うように配慮されている。
11によって読取った後には、図示略のハロゲンランプ
等を利用して画像の消去を行うように配慮されている。
以上の如き回折装置1においては、図示略のX線回折用
光学手段によって試料2へX線6が照射されると、試料
2を経たX線が投射位置に位置した一方の画1象記録手
段(図示例の場合では、下側の記録手段4)の記録面に
向けて投射されることになる。そして、一方の画像記録
手段への記録が完了したら、切替手段8を動作させて、
試料2に対して各画像記録手段の位置を相対移動させ、
他方の画像記録手段を投射位置に位置させることによっ
て、X線回折像の記録を続行させることができ、この点
で連続的な記録が可能になる。また、帯状をなす画像記
録手段の長手方向の寸法を大に設定しておけば、その長
手方向にX線回折像の投射位置を順にずらして連続記録
を図ることもでき、この点でも連続的な記録が可能にな
り、試料2の状態の変化に応じた連続記録によって過渡
現象測定等を行うこともできる。
光学手段によって試料2へX線6が照射されると、試料
2を経たX線が投射位置に位置した一方の画1象記録手
段(図示例の場合では、下側の記録手段4)の記録面に
向けて投射されることになる。そして、一方の画像記録
手段への記録が完了したら、切替手段8を動作させて、
試料2に対して各画像記録手段の位置を相対移動させ、
他方の画像記録手段を投射位置に位置させることによっ
て、X線回折像の記録を続行させることができ、この点
で連続的な記録が可能になる。また、帯状をなす画像記
録手段の長手方向の寸法を大に設定しておけば、その長
手方向にX線回折像の投射位置を順にずらして連続記録
を図ることもでき、この点でも連続的な記録が可能にな
り、試料2の状態の変化に応じた連続記録によって過渡
現象測定等を行うこともできる。
また、読取手段11による読取り位置は、どちらか一方
の画像記録手段に随時切替えできるなめ、一方の画像記
録手段への記録が完了した場合には、他方の画像記録手
段への記録動作に並行して一方の画像記録手段からの読
取り動作を実行することができ、このような同時処理に
よって、時間的により効率良くX線回折像の観察・分析
を進めることが可能になる。
の画像記録手段に随時切替えできるなめ、一方の画像記
録手段への記録が完了した場合には、他方の画像記録手
段への記録動作に並行して一方の画像記録手段からの読
取り動作を実行することができ、このような同時処理に
よって、時間的により効率良くX線回折像の観察・分析
を進めることが可能になる。
址な、蛍光体層による記録面4a、5aに記録された画
像の読取りは、励起光によって走査したときの輝尽発光
の発光強度の検出によって行われることになるが、検出
した情報は電気信号として電子計算機等によって処理す
ることができるため、処理時間を大幅に短縮することが
でき、結晶方位の迅速決定や残留応力の高速測定等の達
成が可能になる。
像の読取りは、励起光によって走査したときの輝尽発光
の発光強度の検出によって行われることになるが、検出
した情報は電気信号として電子計算機等によって処理す
ることができるため、処理時間を大幅に短縮することが
でき、結晶方位の迅速決定や残留応力の高速測定等の達
成が可能になる。
なお、本発明はX線回折装置に係るものであるが、X線
の代わりにX線に近い池の放射線を使う場合でも、同様
の効果を期待できることは、いうまでもない。
の代わりにX線に近い池の放射線を使う場合でも、同様
の効果を期待できることは、いうまでもない。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように、本発明に係るX線回折
装置においては、X線回折用光学手段によって試料へX
線が照射されると、試料を経たX線が投射位置に位置し
た一方の画像記録手段の記録面に向けて投射されること
になる。
装置においては、X線回折用光学手段によって試料へX
線が照射されると、試料を経たX線が投射位置に位置し
た一方の画像記録手段の記録面に向けて投射されること
になる。
そして、一方の画像記録手段への記録が完了したら、試
料に対して各画像記録手段の位置を相対移動させて、他
方の画像記録手段を投射位置に位置させることによって
、X線回折像の記録を続行させることができ、この点で
連続的な記録が可能になる。また、帯状をなす画像記録
手段の長手方向の寸法を大に設定しておけば、その長手
方向にX線回折像の投射位置を順にずらして連続記録を
図ることもでき、この点でも連続的な記録が可能になり
、試料の状態の変化に応じた連続記録によって過渡現象
測定等を行うこともできる。
料に対して各画像記録手段の位置を相対移動させて、他
方の画像記録手段を投射位置に位置させることによって
、X線回折像の記録を続行させることができ、この点で
連続的な記録が可能になる。また、帯状をなす画像記録
手段の長手方向の寸法を大に設定しておけば、その長手
方向にX線回折像の投射位置を順にずらして連続記録を
図ることもでき、この点でも連続的な記録が可能になり
、試料の状態の変化に応じた連続記録によって過渡現象
測定等を行うこともできる。
また、読取手段による読取り位置は、どちらか一方の画
像記録手段に随時切替えできるため、−方の画像記録手
段への記録が完了した場合には、他方の画像記録手段へ
の記録動作に並行して一方の画像記録手段からの読取り
動作を実行することができ、このような同時処理によっ
て、時間的により効率良くX線回折像の観察・分析を進
めることが可能になる。
像記録手段に随時切替えできるため、−方の画像記録手
段への記録が完了した場合には、他方の画像記録手段へ
の記録動作に並行して一方の画像記録手段からの読取り
動作を実行することができ、このような同時処理によっ
て、時間的により効率良くX線回折像の観察・分析を進
めることが可能になる。
また、蛍光体層による記録面に記録された画像の読取り
は、励起光によって走査したときの輝尽発光の発光強度
の検出によって行われることになるが、検出した情報は
電気信号として電子計算機等によって処理することがで
きるため、処理時間を大幅に短縮することができ、結晶
方位の迅速決定や残留応力の高速測定等の達成が可能に
なる。
は、励起光によって走査したときの輝尽発光の発光強度
の検出によって行われることになるが、検出した情報は
電気信号として電子計算機等によって処理することがで
きるため、処理時間を大幅に短縮することができ、結晶
方位の迅速決定や残留応力の高速測定等の達成が可能に
なる。
の効果も得られる。
第1図は本発明に係るX線回折装置の一実施例の斜視図
、第2図は一実施例の側面図である。 1・・・X線回折装置、2・・・試料、3・・・試料支
持台、4.5・・・画像記録手段、4a、5a・・・画
像記録面、6・・・X線、8・・・記録部切替手段、9
・・・間隙、10・・・回転軸、11・・・画像読取手
段。 出願人 株式会社マックサイエンス
、第2図は一実施例の側面図である。 1・・・X線回折装置、2・・・試料、3・・・試料支
持台、4.5・・・画像記録手段、4a、5a・・・画
像記録面、6・・・X線、8・・・記録部切替手段、9
・・・間隙、10・・・回転軸、11・・・画像読取手
段。 出願人 株式会社マックサイエンス
Claims (1)
- 試料を支持する支持台と、帯状をなすとともに一方の面
に蛍光体層によって放射線画像を記録する画像記録面を
有して、この画像記録面を試料支持台上の試料側に向け
て並列配置された第1および第2の画像記録手段と、前
記試料支持台上の試料にX線を照射して画像記録手段側
の一定の投射位置に帯状にX線回折像を投射するX線回
折用光学手段と、前記試料に対して第1および第2の画
像記録手段をその並び方向に相対移動させて、択一的に
一方の画像記録手段をX線回折像の投射位置に位置させ
る記録部切替手段と、第1および第2の画像記録手段相
互間の間隙に挿通させた回転軸の先端に支持されて、該
回転軸の回転によつてどちらか一方の画像記録手段上に
読取り位置を移す画像読取手段とを備えたことを特徴と
するX線回折装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63026400A JPH0812159B2 (ja) | 1988-02-06 | 1988-02-06 | X線回折装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63026400A JPH0812159B2 (ja) | 1988-02-06 | 1988-02-06 | X線回折装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01202649A true JPH01202649A (ja) | 1989-08-15 |
JPH0812159B2 JPH0812159B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=12192508
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63026400A Expired - Lifetime JPH0812159B2 (ja) | 1988-02-06 | 1988-02-06 | X線回折装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0812159B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1102060A1 (en) * | 1998-07-17 | 2001-05-23 | Japan Science and Technology Corporation | Imaging plate x-ray diffraction apparatus |
JP2008262138A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-10-30 | Rigaku Corp | 放射線画像読取装置および方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5866931A (ja) * | 1981-10-16 | 1983-04-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報記録読取装置 |
-
1988
- 1988-02-06 JP JP63026400A patent/JPH0812159B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5866931A (ja) * | 1981-10-16 | 1983-04-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像情報記録読取装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1102060A1 (en) * | 1998-07-17 | 2001-05-23 | Japan Science and Technology Corporation | Imaging plate x-ray diffraction apparatus |
EP1102060A4 (en) * | 1998-07-17 | 2003-07-09 | Japan Science & Tech Corp | X-RAY DIFFRACTION APPARATUS ON IMAGE PLATE |
JP2008262138A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-10-30 | Rigaku Corp | 放射線画像読取装置および方法 |
JP4564027B2 (ja) * | 2007-04-16 | 2010-10-20 | 株式会社リガク | 放射線画像読取装置および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0812159B2 (ja) | 1996-02-07 |
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