JPH01199725A - ワイヤカットのギャップ電圧検出装置 - Google Patents
ワイヤカットのギャップ電圧検出装置Info
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- JPH01199725A JPH01199725A JP63022117A JP2211788A JPH01199725A JP H01199725 A JPH01199725 A JP H01199725A JP 63022117 A JP63022117 A JP 63022117A JP 2211788 A JP2211788 A JP 2211788A JP H01199725 A JPH01199725 A JP H01199725A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 34
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- 238000009763 wire-cut EDM Methods 0.000 claims 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
- B23H7/04—Apparatus for supplying current to working gap; Electric circuits specially adapted therefor
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ワイヤカッ１−ｆｌｉｌ加電機に関し、特に
、ワイヤとワーク間の一１！１？ツブ電圧を検出する検
出装置に関する。
、ワイヤとワーク間の一１！１？ツブ電圧を検出する検
出装置に関する。
従来の技術
ワイヤカット放電加工機においては、ワークとワイヤ間
に電圧を印加して放電を生ビしめ加工を行うものである
が、加工電源から上記ワイヤへの通電１ま、通常、ワイ
ヤをガイドするだめの、ワークの上部位置及びワークの
下部位置に配設された上ガイド、下ガイドに近接して上
通電子、下通゛電子を段ｔノ、該上下通電子によって行
われる。
に電圧を印加して放電を生ビしめ加工を行うものである
が、加工電源から上記ワイヤへの通電１ま、通常、ワイ
ヤをガイドするだめの、ワークの上部位置及びワークの
下部位置に配設された上ガイド、下ガイドに近接して上
通電子、下通゛電子を段ｔノ、該上下通電子によって行
われる。
そして、ワイヤとワーク間のギャップ電圧の測定は不通
電子とワーク間まｊＪは不通電子とワーク間の電圧を測
定することによって行われ、該測定電圧をギ１１ツブ電
圧としている。
電子とワーク間まｊＪは不通電子とワーク間の電圧を測
定することによって行われ、該測定電圧をギ１１ツブ電
圧としている。
しかし、上通゛市子とワーク間、又は不通電子とワーク
間の電圧には、ギャップ電圧と上又は下の通電子と放電
位置間のソイ〜７の抵抗及びインダクタンスによる電圧
成分をも含んだものであるため、上記測定電圧は正確な
１＝トップ電圧ではない。
間の電圧には、ギャップ電圧と上又は下の通電子と放電
位置間のソイ〜７の抵抗及びインダクタンスによる電圧
成分をも含んだものであるため、上記測定電圧は正確な
１＝トップ電圧ではない。
イこで、通電子と放電位■間のインダクタンスと電流の
微分成分によって生じる電圧降下分を、通電子とワーク
間の測定電圧から差し引いて補正する方法が特開昭６０
−１８０７１９号公報で公知になっている。
微分成分によって生じる電圧降下分を、通電子とワーク
間の測定電圧から差し引いて補正する方法が特開昭６０
−１８０７１９号公報で公知になっている。
発明が解決しようとηる課題
ワークとワイヤ間のギャップ電圧を直接検出することは
難しく、上述したように、通電子とワーク間の電圧を測
定することにより、この測定値をギ１１ツブ電圧として
いるが、この測定値も、通電子と放電位置間のワイヤ抵
抗及びインダクタンスによる電圧降下分を含む正確なギ
ャップ電圧ではない。そして、上記特開昭６０−１８’
０７１９号公報で示されるように、ワイヤのインダクタ
ンスによる電圧降下分を補正しても、さらには、通電子
と放電位置間のワイヤ抵抗弁の電圧降下分を補正したと
しても、放電位置が時々刻々変動し、これにともないこ
れらインダクタンス、抵抗が変動Ｊるためその補正値も
正確なものではない。特に、ワークの板厚が大きい場合
、放゛電位置の変動によるインダクタンスと抵抗の変動
も大ぎく、正確な補正値を得ることが困難であった。
難しく、上述したように、通電子とワーク間の電圧を測
定することにより、この測定値をギ１１ツブ電圧として
いるが、この測定値も、通電子と放電位置間のワイヤ抵
抗及びインダクタンスによる電圧降下分を含む正確なギ
ャップ電圧ではない。そして、上記特開昭６０−１８’
０７１９号公報で示されるように、ワイヤのインダクタ
ンスによる電圧降下分を補正しても、さらには、通電子
と放電位置間のワイヤ抵抗弁の電圧降下分を補正したと
しても、放電位置が時々刻々変動し、これにともないこ
れらインダクタンス、抵抗が変動Ｊるためその補正値も
正確なものではない。特に、ワークの板厚が大きい場合
、放゛電位置の変動によるインダクタンスと抵抗の変動
も大ぎく、正確な補正値を得ることが困難であった。
そこで本発明の目的は、従来技術を改善し、より正確な
ギャップ電圧を得ることができるライＡ１カットのギャ
ップ電圧検出装置を得ることにある。
ギャップ電圧を得ることができるライＡ１カットのギャ
ップ電圧検出装置を得ることにある。
課題を解決するための手段
上記目的を達成するために、本発明は上進電子とワーク
間の電圧を検出する電圧検出手段と不通電子とワーク間
の電圧を検出する電圧検出手段を設け、該２つの電圧検
出手段の出力を演算手段で加Ｃ＞し、この加算した値に
よってギャップ電圧を求めるようにした。
間の電圧を検出する電圧検出手段と不通電子とワーク間
の電圧を検出する電圧検出手段を設け、該２つの電圧検
出手段の出力を演算手段で加Ｃ＞し、この加算した値に
よってギャップ電圧を求めるようにした。
さらに、ワークに流れる電流を検出する電流検出手段と
、ワークに流れる電流の微分値を検出する電流微分検出
手段を設け、上記電流検出手段。
、ワークに流れる電流の微分値を検出する電流微分検出
手段を設け、上記電流検出手段。
電流微分検出手段で検出された電流値、微分値より、上
記演ｔフ手段で、上、十進電子間の抵抗インダクタンス
による電ＩＩ ｌｌ’ｆ五分を上記２つの電圧検出′ｆ
段の出力を加わした値から差し引いて補正することによ
って１′−【７ツブ電圧を求めるようにした。
記演ｔフ手段で、上、十進電子間の抵抗インダクタンス
による電ＩＩ ｌｌ’ｆ五分を上記２つの電圧検出′ｆ
段の出力を加わした値から差し引いて補正することによ
って１′−【７ツブ電圧を求めるようにした。
作 用
第２図は、本発明の原理１作用を説明する説明図で、２
はワイヤ、３はワークであり、４は上進電子、５は不通
電子と１６゜そして、今、ある位７１ＰＴ−放電が生じ
たとすると、そのときの−１？ １ｐツブ雷圧をＶａ、
上進電子４と放電位冒Ｐ間のワイヤ２の抵抗をｒｌ、イ
ンダクタンスをＪｌ、不通電子５とｔＩｌ電位置Ｐ間の
ワイヤ２の抵抗をｒ２、インダクタンスをｊ！２、上進
電子４を通って流れる電流を１１、不通電子５を通って
流れる電流を１２とすると、ワーク３と上進電子４間の
電圧ＶＵは次式のように ワーク３と不通電子５間の電圧Ｖ１は次式のようになる
。
はワイヤ、３はワークであり、４は上進電子、５は不通
電子と１６゜そして、今、ある位７１ＰＴ−放電が生じ
たとすると、そのときの−１？ １ｐツブ雷圧をＶａ、
上進電子４と放電位冒Ｐ間のワイヤ２の抵抗をｒｌ、イ
ンダクタンスをＪｌ、不通電子５とｔＩｌ電位置Ｐ間の
ワイヤ２の抵抗をｒ２、インダクタンスをｊ！２、上進
電子４を通って流れる電流を１１、不通電子５を通って
流れる電流を１２とすると、ワーク３と上進電子４間の
電圧ＶＵは次式のように ワーク３と不通電子５間の電圧Ｖ１は次式のようになる
。
上記電圧ｖｕ、ｖｉの和Ｖ６をとると
ＶＧ＝Ｖｕ＋ＶＪｌ
となる。
一方、加工電源から土、不通電子４，５及びワーク３か
ら加工電源までの放電回路のインダクタンスをＬｌ、Ｌ
２とすると、このインダクタンスＬ１．Ｌ２は上記ソイ
Ｖ２のインダクタンス１１゜１２より大ぎく、電流の値
ｉ１．ｉ２はこのインダクタンスＬ１．Ｌ２によって決
まるので、１１＝ｉ２＝ｉと仮定すると、上記第（３）
式はＶＧ ＝２Ｖｏ ＋−１（ｒ１＋ｒ２） 十＜ｐ１
＋ｐ２）−ｉＬｄｔ ・・・・・・（４） と近似できる。
ら加工電源までの放電回路のインダクタンスをＬｌ、Ｌ
２とすると、このインダクタンスＬ１．Ｌ２は上記ソイ
Ｖ２のインダクタンス１１゜１２より大ぎく、電流の値
ｉ１．ｉ２はこのインダクタンスＬ１．Ｌ２によって決
まるので、１１＝ｉ２＝ｉと仮定すると、上記第（３）
式はＶＧ ＝２Ｖｏ ＋−１（ｒ１＋ｒ２） 十＜ｐ１
＋ｐ２）−ｉＬｄｔ ・・・・・・（４） と近似できる。
上記第（４）式において、抵抗（ｒ１＋ｒ２）及びイン
ダクタンス（ｊ！１）ｊ！２）は、上、不通電子間の抵
抗及びインダクタンスであり、上、不通電子間距離で決
まる一定な値で加工中一定であるので、放電位置Ｐの変
動によって影響を受けないものである。
ダクタンス（ｊ！１）ｊ！２）は、上、不通電子間の抵
抗及びインダクタンスであり、上、不通電子間距離で決
まる一定な値で加工中一定であるので、放電位置Ｐの変
動によって影響を受けないものである。
よって、上進電子４とワーク３間の電圧Ｖｕ。
不通電子５とワーク３間の電圧Ｖｉを各々上記電圧検出
手段で測定し、演口手段で該測定電圧■Ｕ。
手段で測定し、演口手段で該測定電圧■Ｕ。
ｖｌを加ｉすれば第（４）式で近似される電圧ＶＣが得
られる。この電圧ＶＧは、前述したＪ：うに放電位置Ｐ
に影響されない値であり、従来の放電位置Ｐによって変
動する測定ギャップ電圧と比較し、より正確な−）！ｔ
？ツブ電圧ＶＧを得ることができる。
られる。この電圧ＶＧは、前述したＪ：うに放電位置Ｐ
に影響されない値であり、従来の放電位置Ｐによって変
動する測定ギャップ電圧と比較し、より正確な−）！ｔ
？ツブ電圧ＶＧを得ることができる。
さらに、放電電流、即ちワーク３に流れるＴｉ流を電流
検出手段で、また、甚電流の微分値を電流微分検出手段
で検出し、検出した電流、微分値より第（４）式の１（
ｒｌ ＋ｒ２）、 ＜１１ ＋ｊ！２）−”のｔ 値をゲインを調整することによって求めて、２つの電圧
検出手段の出力を加口して求めた値から差し引けば、よ
り正確な％！レップ電ｊ玉ＶＧ＝２ＶＱが求まる。
検出手段で、また、甚電流の微分値を電流微分検出手段
で検出し、検出した電流、微分値より第（４）式の１（
ｒｌ ＋ｒ２）、 ＜１１ ＋ｊ！２）−”のｔ 値をゲインを調整することによって求めて、２つの電圧
検出手段の出力を加口して求めた値から差し引けば、よ
り正確な％！レップ電ｊ玉ＶＧ＝２ＶＱが求まる。
実施例
第１図は、本発明の一実施例の概要図で、ワイヤ２はガ
イドローラ６、上ガイド８．下ガイド９゜ガイドローラ
７を介して上、下ガイド８．９間で１ノーク３に放電す
るようになってＪ３す、上ガイド８、下ガイド９に近接
して加工電源１から電流を給電する上、不通電子４．５
が配設されている。
イドローラ６、上ガイド８．下ガイド９゜ガイドローラ
７を介して上、下ガイド８．９間で１ノーク３に放電す
るようになってＪ３す、上ガイド８、下ガイド９に近接
して加工電源１から電流を給電する上、不通電子４．５
が配設されている。
なお、Ｌｌ、Ｌ２は加工電源１と上、不通電子４゜５問
、及び加工電源１とワーク３間の放電回路におけるイン
ダクタンスである。
、及び加工電源１とワーク３間の放電回路におけるイン
ダクタンスである。
上記上進電子４とワーク３間の電圧、及び不通電子５と
ワーク３間の電圧は各々抵抗Ｒで分圧して検出しくこの
分圧回路が上進電子４とワーク３問・不通電子５とワー
ク３間の電圧検出手段を構成している）、この検出電圧
Ｖｕ、Ｖｊ！は加減算処理を行う演口器１１に入力され
ている。
ワーク３間の電圧は各々抵抗Ｒで分圧して検出しくこの
分圧回路が上進電子４とワーク３問・不通電子５とワー
ク３間の電圧検出手段を構成している）、この検出電圧
Ｖｕ、Ｖｊ！は加減算処理を行う演口器１１に入力され
ている。
一方、ワーク３から加工電源１に流れる電流、即ら放電
電流を検出コイル１０で検出するようにしており、この
検出コイル１０では電流の変化値、即ち微分値が求めら
れ、この検出出力は可変抵抗ＲＶ１を介して演ｎ２Ａ１
ｉに入力されている。また、検出コイル１０の出力を積
分回路１２で積分しく微分値を積分することから電流値
が求められる）、該積分回路１２の出力を可変抵抗ＲＶ
２を介して演紳器１１に入力している。
電流を検出コイル１０で検出するようにしており、この
検出コイル１０では電流の変化値、即ち微分値が求めら
れ、この検出出力は可変抵抗ＲＶ１を介して演ｎ２Ａ１
ｉに入力されている。また、検出コイル１０の出力を積
分回路１２で積分しく微分値を積分することから電流値
が求められる）、該積分回路１２の出力を可変抵抗ＲＶ
２を介して演紳器１１に入力している。
演ｆ１器１１は上、不通電子４．５とワーク３間の各々
の電圧の分圧Ｖｕ、Ｖｊ！を加算し、検出コイル１０の
出力と積分回路１２の出力を減粋する加減惇器でよく、
該演（１器１１を加算器で構成する場合には、上記分圧
Ｖｕ、ＶＪ！の拘性と検出コイル１０及び積分回路１２
の出力のル性が逆になるように検出コイル１０の配設方
向を調整しておけばよい。
の電圧の分圧Ｖｕ、Ｖｊ！を加算し、検出コイル１０の
出力と積分回路１２の出力を減粋する加減惇器でよく、
該演（１器１１を加算器で構成する場合には、上記分圧
Ｖｕ、ＶＪ！の拘性と検出コイル１０及び積分回路１２
の出力のル性が逆になるように検出コイル１０の配設方
向を調整しておけばよい。
また、可変抵抗ＲＶ１．ＲＶ２は、ゲイン調整用であり
、検出コイル１０で検出される電流の微分１ａｄｉ／ｄ
ｔによって、第（４）式で示す上、不通電子間のインダ
クタンスによる電圧降下分（ｊ！１１１１）・ｄｉ／ｄ
ｔになるように可変抵抗ＲＶＩを調整し、また、積分回
路の出力１に対し第（４）式の上、十進電子間の抵抗に
よる電圧降下分（ｒｌ＋ｒ２）ｉになるように可変抵抗
ＲＶ２を調整するものである。
、検出コイル１０で検出される電流の微分１ａｄｉ／ｄ
ｔによって、第（４）式で示す上、不通電子間のインダ
クタンスによる電圧降下分（ｊ！１１１１）・ｄｉ／ｄ
ｔになるように可変抵抗ＲＶＩを調整し、また、積分回
路の出力１に対し第（４）式の上、十進電子間の抵抗に
よる電圧降下分（ｒｌ＋ｒ２）ｉになるように可変抵抗
ＲＶ２を調整するものである。
以上のような構成においで、加工電源１より上。
不通電子４．５を介しＣ給電し、ワイヤ２とワーク３間
に電圧を印加して放電を開始させると、ト通電子４とワ
ーク３間の電圧、不通電子５とワーク３間の電圧は各々
分圧され、演算器１１に入力され加０される。この加口
された伯は第（３）式に示す値であり、前述したように
放電回路のインダクタンスＬ１．Ｌ２の値は、ソイψ２
の土、不通゛市子４．５間のインダクタンスの値λ １
．１２より通常大きいので（Ｌｌ、Ｌ２＞＞１１ 、ｊ
！２）、この放電回路のインダクタンスＬｌ、Ｌ２の影
響で１ｌ−ｉ２＝ｉと仮定づると第（４）式に示゛すよ
うに両分圧Ｖｕ、Ｖｊ！の加ｔ）値になる。
に電圧を印加して放電を開始させると、ト通電子４とワ
ーク３間の電圧、不通電子５とワーク３間の電圧は各々
分圧され、演算器１１に入力され加０される。この加口
された伯は第（３）式に示す値であり、前述したように
放電回路のインダクタンスＬ１．Ｌ２の値は、ソイψ２
の土、不通゛市子４．５間のインダクタンスの値λ １
．１２より通常大きいので（Ｌｌ、Ｌ２＞＞１１ 、ｊ
！２）、この放電回路のインダクタンスＬｌ、Ｌ２の影
響で１ｌ−ｉ２＝ｉと仮定づると第（４）式に示゛すよ
うに両分圧Ｖｕ、Ｖｊ！の加ｔ）値になる。
一方、ワーク３とワイヤ２間に放電が生じ電流が流れる
と、検出コイル１０ぐはその電流の変化値即ち微分値を
出力し、この出力は、可変抵抗ＲＶＩでゲインが調整さ
れて第（４）式における（ｊ！１＋ｆ２）・ｄｉ／ｄｔ
の値が演算器１１に入ツノされ、また、積分回路１２は
検出コイル１０で検出された電流の微分値を積分して電
流値を出力し、この電流値に可変抵抗ＲＶ２が乗じられ
て、第（４）式の１（ｒ１＋ｒ２）に相当する電圧が入
力される。そして、演ｉ！１１ではＦ記分圧の加算値ｖ
ｕ＋ｖｊ！から、可変抵抗ＲＶ１．ＲＶ２の出力値（ｊ
！１ ＋Ｊ！２）ｄｉ／ｄｔ、（ｒＩ ＋ｒ２）ｉが減
じられるから、演ｆｉ器１１の出力■６はＶＧ＝２Ｖｏ
となりワーク３とワイヤ２間の１！ｔ？ツブ電圧ＶＱを
出力することとなる。
と、検出コイル１０ぐはその電流の変化値即ち微分値を
出力し、この出力は、可変抵抗ＲＶＩでゲインが調整さ
れて第（４）式における（ｊ！１＋ｆ２）・ｄｉ／ｄｔ
の値が演算器１１に入ツノされ、また、積分回路１２は
検出コイル１０で検出された電流の微分値を積分して電
流値を出力し、この電流値に可変抵抗ＲＶ２が乗じられ
て、第（４）式の１（ｒ１＋ｒ２）に相当する電圧が入
力される。そして、演ｉ！１１ではＦ記分圧の加算値ｖ
ｕ＋ｖｊ！から、可変抵抗ＲＶ１．ＲＶ２の出力値（ｊ
！１ ＋Ｊ！２）ｄｉ／ｄｔ、（ｒＩ ＋ｒ２）ｉが減
じられるから、演ｆｉ器１１の出力■６はＶＧ＝２Ｖｏ
となりワーク３とワイヤ２間の１！ｔ？ツブ電圧ＶＱを
出力することとなる。
発明の効果
本発明は、上、不通電子どワーク間の夫々の電圧を測定
し、両電圧を加篩することによって、ギ１？ツブ電圧を
求めるようにしたから、放電位置の変化に影響を受けず
、より正確なギ１？ツブ電圧を求めることができる。
し、両電圧を加篩することによって、ギ１？ツブ電圧を
求めるようにしたから、放電位置の変化に影響を受けず
、より正確なギ１？ツブ電圧を求めることができる。
さらに、放電電流及びその微分値を検出し、これらに基
づいてワーク内での電圧降下分を補正するＪ：うにした
から、より精確なギ１？ツブ電圧を求めることができる
。
づいてワーク内での電圧降下分を補正するＪ：うにした
から、より精確なギ１？ツブ電圧を求めることができる
。
第１図は、本発明の一実施例の概要図、第２図は、本発
明の原理９作用を説明する説明図である。 １・・・加工電源、２・・・ワイヤ、３・・・ワーク、
４・・・上進電子、５・・・不通゛市子、１０・・・検
出コイル、１１・・・演算器、１２・・・積分回路、Ｐ
・・・放電位置、ｒｌ・・・上進電子と放電位置間のワ
イヤ抵抗、１１・・・上進電子と放電位置間のインダク
タンス、ｒ２・・・不通電子と放電位置間のソイＡ７抵
抗、１２・・・不通電子と放電位置間のインダクタンス
、Ｌｌ、Ｌ２・・・放電回路のインダクタンス。
明の原理９作用を説明する説明図である。 １・・・加工電源、２・・・ワイヤ、３・・・ワーク、
４・・・上進電子、５・・・不通゛市子、１０・・・検
出コイル、１１・・・演算器、１２・・・積分回路、Ｐ
・・・放電位置、ｒｌ・・・上進電子と放電位置間のワ
イヤ抵抗、１１・・・上進電子と放電位置間のインダク
タンス、ｒ２・・・不通電子と放電位置間のソイＡ７抵
抗、１２・・・不通電子と放電位置間のインダクタンス
、Ｌｌ、Ｌ２・・・放電回路のインダクタンス。
Claims (2)
- （１）上ガイド及び下ガイドに各々近接して配設された
上、下通電子によつて加工電源からワイヤに電流を通電
し、ワークとワイヤ間に放電を生ぜしめ加工するワイヤ
カット放電加工機において、上通電子とワーク間の電圧
を検出する電圧検出手段と下通電子とワーク間の電圧を
検出する電圧検出手段を設け、該２つの電圧検出手段の
出力を加算する演算手段の出力によつてワークとワイヤ
間のギャップ電圧を検出するようにしたワイヤカットの
ギャップ電圧検出装置。 - （２）ワークに流れる電流を検出する電流検出手段と、
ワークに流れる電流の微分値を検出する電流微分検出手
段を設け、上記演算手段は上記電流検出手段で検出され
た電流値により上下通電子間のワイヤ抵抗による電圧降
下分と、上記電流微分検出手段で検出された電流の微分
値より上下通電子間のインダクタンスによる電圧降下分
を上記２つの電圧検出手段の出力の加算値より差引いて
出力するようにした特許請求の範囲第１項記載のワイヤ
カットのギャップ電圧検出装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63022117A JP2522685B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | ワイヤカットのギャップ電圧検出装置 |
| DE1989602520 DE68902520T2 (de) | 1988-02-03 | 1989-01-30 | Spannungsdetektor in der oeffnung fuer funkerosiondrahtschneidvorrichtung. |
| EP89901745A EP0354967B1 (en) | 1988-02-03 | 1989-01-30 | Gap voltage detector for wire cut electric discharge machines |
| PCT/JP1989/000087 WO1989007032A1 (en) | 1988-02-03 | 1989-01-30 | Gap voltage detector for wire cut electric discharge machines |
| US07/381,635 US5006693A (en) | 1988-02-03 | 1989-01-30 | Gap voltage detector in a wire-cut electric discharge machine |
| KR1019890701816A KR900700221A (ko) | 1988-02-03 | 1989-09-30 | 와이어 커트 방전가공기의 갭전압 검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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