JPH01195371A - 測定器 - Google Patents
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- JPH01195371A JPH01195371A JP63020955A JP2095588A JPH01195371A JP H01195371 A JPH01195371 A JP H01195371A JP 63020955 A JP63020955 A JP 63020955A JP 2095588 A JP2095588 A JP 2095588A JP H01195371 A JPH01195371 A JP H01195371A
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 20
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はインピーダンス測定等を行う際、測定条件をで
きるだけ一定不変に保ち再現性のよい測定を行うことが
できる測定器に関する。
きるだけ一定不変に保ち再現性のよい測定を行うことが
できる測定器に関する。
第3図に示すような従来技術による一般的なインピーダ
ンス測定器において、測定対象(DUT)に印加される
ACレベル(電圧または電流)を積極的に一定に保つこ
とは行われてはいなかった。第3図において、信号源抵
抗R1は測定系の安定度を保つ必要があるため極端に小
さくすることはできず、通常10Ω以上にとられる。従
来はDUTのインピーダンスの大きさにより、信号源抵
抗R8を切り換え、近位的に定電圧源あるいは定電流源
を実現するに止まっていた。その場合、DUTに印加さ
れる信号レベルを測定者の所望の値に設定することは現
実的には困難であった。
ンス測定器において、測定対象(DUT)に印加される
ACレベル(電圧または電流)を積極的に一定に保つこ
とは行われてはいなかった。第3図において、信号源抵
抗R1は測定系の安定度を保つ必要があるため極端に小
さくすることはできず、通常10Ω以上にとられる。従
来はDUTのインピーダンスの大きさにより、信号源抵
抗R8を切り換え、近位的に定電圧源あるいは定電流源
を実現するに止まっていた。その場合、DUTに印加さ
れる信号レベルを測定者の所望の値に設定することは現
実的には困難であった。
〔発明の目的〕。
本発明の目的は上述した従来技術の問題点を解消し、測
定系の安定性を損なうことなくOUTに印加されるAC
レベルを一定に保持することにある。
定系の安定性を損なうことなくOUTに印加されるAC
レベルを一定に保持することにある。
(発明の概要)
本発明の一実施例によれば、DOTに印加されるAC電
流あるいは電圧を一定レベルに保持するインピーダンス
測定器が与えられる。この測定器においては、DOTの
一端に信号源からのAC信号が与えられ、他端にはこの
点を仮想接地とするための帰還回路が接続されている。
流あるいは電圧を一定レベルに保持するインピーダンス
測定器が与えられる。この測定器においては、DOTの
一端に信号源からのAC信号が与えられ、他端にはこの
点を仮想接地とするための帰還回路が接続されている。
DUTに印加されているAC電流、電圧を表す信号が取
り出され、同期検波される。この検波出力は周知の二重
積分型AD変換器によりディジタル信号に変換される。
り出され、同期検波される。この検波出力は周知の二重
積分型AD変換器によりディジタル信号に変換される。
このディジタル信号はマイクロコンピュータに与えられ
る。マイクロコンピュータはこれを用いてDUTに印加
されているAC電圧または電流を所定値に近づけるよう
に信号源を間歇的に制御する。
る。マイクロコンピュータはこれを用いてDUTに印加
されているAC電圧または電流を所定値に近づけるよう
に信号源を間歇的に制御する。
第2図は本願発明の詳細な説明する図である。
同図において、DUTのインピーダンスをZ8、この系
全体のインピーダンスをZ1信号源のAC電圧をVs、
信号源の内部抵抗をR,、DUTに印加されている電流
、電圧を夫々I、、V、とすれば、 IX=V、/Z −−−(1)Vx=Czx
/z)−v、・−−(2)が成立する。一般にDUTの
インピーダンスはAC電圧vsの影響を受けるので、Z
xおよびZはv3の関数となる。(1)式において、V
sをX。
全体のインピーダンスをZ1信号源のAC電圧をVs、
信号源の内部抵抗をR,、DUTに印加されている電流
、電圧を夫々I、、V、とすれば、 IX=V、/Z −−−(1)Vx=Czx
/z)−v、・−−(2)が成立する。一般にDUTの
インピーダンスはAC電圧vsの影響を受けるので、Z
xおよびZはv3の関数となる。(1)式において、V
sをX。
Zをf (x)、DUTの電流の目標値をI TGTと
して変形すると下式を得る。
して変形すると下式を得る。
F (x) =x −1tct−f (x) =0・・
・ (3) 同様に、(2)式において■3をx、Z/Zxをg (
x)、OUTの電圧の目標値をVTGアとして変形する
と下式を得る。
・ (3) 同様に、(2)式において■3をx、Z/Zxをg (
x)、OUTの電圧の目標値をVTGアとして変形する
と下式を得る。
G(x)=x−Vア、・g (x)
・・・ (4)
すなわち、I8またはvXを目標値に一致させるには、
夫々F (x)=O1G (x)=0の解を信号源のA
C電圧とするように信号源を制御すればよい。DUTの
インピーダンスによって決まる関数F (x)、G (
x)はDOT毎に異なりまた非線型性を有することも多
いので、上の方程式の解を解析的に求めることは実際的
ではない。そこで逐次近位的にこの解を求めるような動
作を行う。
夫々F (x)=O1G (x)=0の解を信号源のA
C電圧とするように信号源を制御すればよい。DUTの
インピーダンスによって決まる関数F (x)、G (
x)はDOT毎に異なりまた非線型性を有することも多
いので、上の方程式の解を解析的に求めることは実際的
ではない。そこで逐次近位的にこの解を求めるような動
作を行う。
ここで用いることができる逐次近似の手法としては逐次
代入法、2分法、線型逆補間法等があるが、詳細は後で
説明する。
代入法、2分法、線型逆補間法等があるが、詳細は後で
説明する。
第1図は本願発明の一実施例であるインピーダンス測定
器の概略図である。
器の概略図である。
第1図において、交流信号源Sの出力はレベル制御回路
lO1抵抗R3を通して被測定素子(DUT)Z、に与
えられる。高利得増幅器20と帰還抵抗Rから成る帰還
回路によりOUTの他端Pが仮想接地となっている。D
UTおよびレンジ抵抗Rの両端の電圧■、およびV t
i (= D U Tを流れる電流×レンジ抵抗Rの
値)がベクトル比検出検出器30に導入される(点Pは
仮想接地になっているので、第1図に示すように夫々D
UT、レンジ抵抗Rの一端の電位を観測するだけでもほ
とんど同じ電圧が観測される)。ベクトル比検出器30
には同期整流器と積分型AD変換器が設けられているの
で、これを用いて当業者に周知の動作により■8または
■ヮ (のベクトル表示)のディジタル値を求めること
ができる。従って論理回路内のマイクロプロセッサによ
りベクトル電圧比検出器30の動作を制御することによ
り、DUTのAC電圧を制御する場合は電圧v8の、ま
たAC電流を制御する場合は電圧v5のディジタル変換
をベクトル電圧比検出器30に行わせる。その結果を論
理回路40に導入することにより、上で第2図を用いて
説明したようにAC電源への新たなレベル制御信号を計
算することができる。
lO1抵抗R3を通して被測定素子(DUT)Z、に与
えられる。高利得増幅器20と帰還抵抗Rから成る帰還
回路によりOUTの他端Pが仮想接地となっている。D
UTおよびレンジ抵抗Rの両端の電圧■、およびV t
i (= D U Tを流れる電流×レンジ抵抗Rの
値)がベクトル比検出検出器30に導入される(点Pは
仮想接地になっているので、第1図に示すように夫々D
UT、レンジ抵抗Rの一端の電位を観測するだけでもほ
とんど同じ電圧が観測される)。ベクトル比検出器30
には同期整流器と積分型AD変換器が設けられているの
で、これを用いて当業者に周知の動作により■8または
■ヮ (のベクトル表示)のディジタル値を求めること
ができる。従って論理回路内のマイクロプロセッサによ
りベクトル電圧比検出器30の動作を制御することによ
り、DUTのAC電圧を制御する場合は電圧v8の、ま
たAC電流を制御する場合は電圧v5のディジタル変換
をベクトル電圧比検出器30に行わせる。その結果を論
理回路40に導入することにより、上で第2図を用いて
説明したようにAC電源への新たなレベル制御信号を計
算することができる。
このようにして、論理回路40はOUTのAC電圧また
は電流を示すディジタルデータを得、これに基づきその
AC電圧または電流が所望の値に近付くようにするため
の新たなレベル制御信号値を計算してAC電源に与える
。このような間歇的な動作の繰り返しにより、OUTの
AC電圧または電流が所望の値に対して許容誤差範囲内
に入った所でこの繰り返し計算動作を打ち切り、DUT
の測定を行う。
は電流を示すディジタルデータを得、これに基づきその
AC電圧または電流が所望の値に近付くようにするため
の新たなレベル制御信号値を計算してAC電源に与える
。このような間歇的な動作の繰り返しにより、OUTの
AC電圧または電流が所望の値に対して許容誤差範囲内
に入った所でこの繰り返し計算動作を打ち切り、DUT
の測定を行う。
ここでレベル制御回路IOとしてはたとえば乗算型DA
変換器を使用できる。また自動レベル調整範囲から外れ
たことを論理回路40が検出すると警告表示を行うよう
にすることもできる。
変換器を使用できる。また自動レベル調整範囲から外れ
たことを論理回路40が検出すると警告表示を行うよう
にすることもできる。
DUTに印加されているAC電圧/電流の情報に基づい
て次回の制御信号を定めるためのアルゴリズムの例を以
下に示す(電流について示すが、電圧の場合も同様であ
る)。
て次回の制御信号を定めるためのアルゴリズムの例を以
下に示す(電流について示すが、電圧の場合も同様であ
る)。
正久代入広
F (X) =X 1tGy ・f (X) =0
であるから x=Itct が成立する。ここで適当な第1近位から出発しXIHI
= Iyct ” f (Xh )なる計算を反復
する。これは常に収束するとは限らないが、収束すれば
その極限が解となる。解の真値をX?、第に近似解の誤
差x、−xTをelとすると、収束するためには、充分
大きな全てのkに対して絶対値が1未満の定数Cが存在
して1 ek、11≦C1ek 1 が成立すればよい。これを変形することによりItcy
l f (xh ) −f (xt ) l≦C
lxm xyl となることから、結局Xの近傍で Itst I f ’(X) l < 1が成立す
ればよい。
であるから x=Itct が成立する。ここで適当な第1近位から出発しXIHI
= Iyct ” f (Xh )なる計算を反復
する。これは常に収束するとは限らないが、収束すれば
その極限が解となる。解の真値をX?、第に近似解の誤
差x、−xTをelとすると、収束するためには、充分
大きな全てのkに対して絶対値が1未満の定数Cが存在
して1 ek、11≦C1ek 1 が成立すればよい。これを変形することによりItcy
l f (xh ) −f (xt ) l≦C
lxm xyl となることから、結局Xの近傍で Itst I f ’(X) l < 1が成立す
ればよい。
このアルゴリズムによれば、以下で説明する2分法等の
ように第1近偵を選択するための予備測定を行う必要が
なく、また線型のCUT(つまりインピーダンスがAC
電圧または電流によらず一定であるDUT)では1回の
測定で解が得られる。
ように第1近偵を選択するための予備測定を行う必要が
なく、また線型のCUT(つまりインピーダンスがAC
電圧または電流によらず一定であるDUT)では1回の
測定で解が得られる。
ただし、非線型のDUTに対しては解が収束する保証は
ないので、DUTによっては他のアルゴリズムを採用す
る必要がある。
ないので、DUTによっては他のアルゴリズムを採用す
る必要がある。
主分広
逐次近位操作を開始する前に予備測定を行うことにより
、 F (a)・F (b) <0 なる2点a、bを探し、c = (a + b ) /
2としてF (c)を求める− F (a) ・F
(c)<Oならば次回のaとしてCを採用し、F (
b) ・F(c)ならば次回のbとしてCを採用する
。この手続きをF (c)が予め設定した誤差範囲内に
収まるまで繰り返す。
、 F (a)・F (b) <0 なる2点a、bを探し、c = (a + b ) /
2としてF (c)を求める− F (a) ・F
(c)<Oならば次回のaとしてCを採用し、F (
b) ・F(c)ならば次回のbとしてCを採用する
。この手続きをF (c)が予め設定した誤差範囲内に
収まるまで繰り返す。
2分法によれば一定の回数以内に必ず収束することが保
証される。ただしa、bの第1近似を定めるための予備
測定が必要となる。この予備測定は例えば交流信号源の
出力をスイープしてDUTのAC電圧(または電流)を
観測することにより行うことができる。なお、このよう
なスィーブを行うことにより設定可能なOUTのAC電
圧(または電流)の範囲を知ることができる。
証される。ただしa、bの第1近似を定めるための予備
測定が必要となる。この予備測定は例えば交流信号源の
出力をスイープしてDUTのAC電圧(または電流)を
観測することにより行うことができる。なお、このよう
なスィーブを行うことにより設定可能なOUTのAC電
圧(または電流)の範囲を知ることができる。
算杢逆亙皿広
2分法と同様に
F (a) ・F(b)<0
を満足する区間(a、b)を与えて以下の手続きを行う
。
。
(i)F (x)を2点(a、 F (a) )、(b
。
。
F (b) )を通る直線で近似し、この直線とX軸と
の交点をCとしてF (c)を求める。
の交点をCとしてF (c)を求める。
F(a) −F(b)
(iii) F (a) ・F (c) <oならば
次回のaとしてCを採用する。F (b) ・F (c
)ならば次回のbとしてCを採用する。
次回のaとしてCを採用する。F (b) ・F (c
)ならば次回のbとしてCを採用する。
これをF (c)が予め定めた誤差範囲内に収まるまで
反復する。
反復する。
このアルゴリズムの特徴は2分法とほぼ同様だが、DU
Tが線型に近い場合には収束が速い(DUTが完全に線
型なら1回で収束する)、ただし非線型性の形態によっ
ては収束が極端に遅くなる場合がある。この場合は解を
X7とすれば(または不等号の向きが逆) が成立する。
Tが線型に近い場合には収束が速い(DUTが完全に線
型なら1回で収束する)、ただし非線型性の形態によっ
ては収束が極端に遅くなる場合がある。この場合は解を
X7とすれば(または不等号の向きが逆) が成立する。
上述したようなアルゴリズムを用いてAC電源の制御を
行う場合、状況に応じて使用されるアルゴリズムを切り
換えることにより、収束性を保証するとともに、収束を
できるだけ速くすることができる。
行う場合、状況に応じて使用されるアルゴリズムを切り
換えることにより、収束性を保証するとともに、収束を
できるだけ速くすることができる。
どれ位のAC電圧(または電流)ならば設定可能かを使
用者が分からない場合等には予備測定を行う必要がある
。このように予備測定を行う場合には例えば2分法と線
型逆補間法を収束速度に応じて使い分けることができる
。すなわち線型逆補間法の収束が遅くなる場合には2分
法を使用し、それ以外では線型逆補間法を使用する。収
束が遅(なる条件には解Xアが含まれているが、この値
は逐次近位を始める前には未知であるので、その代わり
に以下のような判定条件を用いることができる。
用者が分からない場合等には予備測定を行う必要がある
。このように予備測定を行う場合には例えば2分法と線
型逆補間法を収束速度に応じて使い分けることができる
。すなわち線型逆補間法の収束が遅くなる場合には2分
法を使用し、それ以外では線型逆補間法を使用する。収
束が遅(なる条件には解Xアが含まれているが、この値
は逐次近位を始める前には未知であるので、その代わり
に以下のような判定条件を用いることができる。
IF(a)l)IP(b)I
(またはIF (a)l)IF (b)l)であれば2
分法を用いる。
分法を用いる。
使用者がDUTに対するAC電圧(または電流)の設定
範囲を予測できる場合等においては、例えば以下のよう
にして予備測定なしでAC電源の制御を行うことができ
る。
範囲を予測できる場合等においては、例えば以下のよう
にして予備測定なしでAC電源の制御を行うことができ
る。
逐次代入法を基本として解を求めるが、発散する場合が
あるので、設定可能なAC電圧の最小値と最大値をXa
ia % X@IHzとして以下の4通りに場合分けを
して考える。
あるので、設定可能なAC電圧の最小値と最大値をXa
ia % X@IHzとして以下の4通りに場合分けを
して考える。
(+) Iwit ” f’(XT ) >
1(ii)O≦Iycy ・f’(xt )≦1(i
ii)−1≦frGt ” f ’(Xy ) <0
(IV) ITGT ・f’(xv ) < 1通
次代入法では(i)と(in)の場合は発散する。
1(ii)O≦Iycy ・f’(xt )≦1(i
ii)−1≦frGt ” f ’(Xy ) <0
(IV) ITGT ・f’(xv ) < 1通
次代入法では(i)と(in)の場合は発散する。
ここで通常のDUTにおいてはf (x)は区間(Xa
ta 、 XIIIIM )で単調であるとしてよい
。そこで、第n近領解X7に対して (i)と(ii)(つまりI TG? ・f’(x7
)≧O)ではF (xn)・F(X11゜l)≧0(i
n)と(iv) (ツまりItsy ・f ’(x
y ) <O)ではF (Xla ) −F (xlt
、+ ) <。
ta 、 XIIIIM )で単調であるとしてよい
。そこで、第n近領解X7に対して (i)と(ii)(つまりI TG? ・f’(x7
)≧O)ではF (xn)・F(X11゜l)≧0(i
n)と(iv) (ツまりItsy ・f ’(x
y ) <O)ではF (Xla ) −F (xlt
、+ ) <。
が成立する。そこで第1近似解をxl= (x□7+
x 611m ) / 2として逐次代入法を行い、F
(x7)・F(x□I)〈0が成立したところで、前述
の予備測定を行う場合の手順を区間[x、、xl、、]
に対して適用する。これにより上の(ii)ないしくi
v)の場合は収束する。発散した場合((i)の場合)
はF (Xata ) 、F (Xma、)を求めて、 F (xl ) ・F (x、i、 ) <0ならば区
間[Xaia + xl ]に F (Xl ) ・F Cxwhax ) <Oならば
区間〔Xl r x@IIX )に 対して上述の予備測定を行う場合の手順を適用する(f
(X)が単調だから何れか一方が成立する)、これに
より単調な任意のf (x)について収束が保証される
。
x 611m ) / 2として逐次代入法を行い、F
(x7)・F(x□I)〈0が成立したところで、前述
の予備測定を行う場合の手順を区間[x、、xl、、]
に対して適用する。これにより上の(ii)ないしくi
v)の場合は収束する。発散した場合((i)の場合)
はF (Xata ) 、F (Xma、)を求めて、 F (xl ) ・F (x、i、 ) <0ならば区
間[Xaia + xl ]に F (Xl ) ・F Cxwhax ) <Oならば
区間〔Xl r x@IIX )に 対して上述の予備測定を行う場合の手順を適用する(f
(X)が単調だから何れか一方が成立する)、これに
より単調な任意のf (x)について収束が保証される
。
このような構成・動作により、DUTの非直線性やDU
Tの電圧・電流情報に基づいて次回の制御信号を決める
ためのアルゴリズムによってモ変わるが、DUTが通常
のり、C,R,ダイオード等の場合には、ディジタルル
ープの2〜3ステツプの動作でバイアス電圧あるいは電
流が目標値に収束するので、実用性が大きい。
Tの電圧・電流情報に基づいて次回の制御信号を決める
ためのアルゴリズムによってモ変わるが、DUTが通常
のり、C,R,ダイオード等の場合には、ディジタルル
ープの2〜3ステツプの動作でバイアス電圧あるいは電
流が目標値に収束するので、実用性が大きい。
以上詳細に説明したように、本願発明によれば測定対象
に印加される電圧または電流のACレベルを一定値に保
持することができるので、非線型性素子を測定する場合
にも良好な再現性が得られる。更に、レベルを一定に保
持するためのフィードバックをディジタルループを用い
て間歇的に行っているので、測定系自体のフィードバッ
クループと干渉することがなくなり、測定系のアナログ
的な安定性を損なうことがない。
に印加される電圧または電流のACレベルを一定値に保
持することができるので、非線型性素子を測定する場合
にも良好な再現性が得られる。更に、レベルを一定に保
持するためのフィードバックをディジタルループを用い
て間歇的に行っているので、測定系自体のフィードバッ
クループと干渉することがなくなり、測定系のアナログ
的な安定性を損なうことがない。
第1図は本発明の一実施例の測定器のブロック図、第2
図は本発明の詳細な説明するための図、第3図は従来技
術による測定器の一例を示す図である。 lOニレベル制御回路、 20:高利得増幅器、 40:論理回路、S:交流信号
源。 器 j 3 回 手続補正書 l、事件の表示 昭和63年 特許 願第 2
0955 号2、発明の名称 測 定 器 3、補正をする者 事件との関係 特 許 出 願 人ササ
青カ ケシ チラ 代表者 取締役社長 笹 岡 健 三4、代理人 住所 東京都 杉並区 高井戸東 3丁目2
9621号5、 補正命令の日付 昭和
年 月1 日(自発)6、 補正の対象 明
細書[発明の詳細な説明の欄」7、補正の内容 (1)明細書第4頁第15行の rG (x)ミx Vtat ・g (X) Jを’
G (x)=x Vtat ・g (x)=OJと
補正する。 (2)明細書第5頁第16行ないし第17行の[ベクト
ル比検出検出器」を「ベクトル比検出器」と補正する。 (3)明細書第7頁第13行の ’X=1tstJを ’X=Itcy + f (X) Jと補正する。 (4)明細書第8頁第5行の「Xの近傍で」を「xTの
近傍で」と補正する。 (5)明細書第9頁第1行ないし第3行の「F(a)
・F (c)<0ならば・・・Cを採用する。 」を’F (a) ・F (c)<0ならば次回のbと
してCを採用し、F (b)−F (c)<0ならば次
回のaとしてCを採用する。」と補正する。 (6)明細書第10頁第3行ないし第5行の「(ii)
F (a) ・F (c)<0ならば一−−cを採用
する。ノを’ (ij) F (a) ・F (c)
<0ならば次回のbとしてCを採用する。 F (b
) ・F(c)<0ならば次回のaとしてCを採用す
る。 」と補正する。 (7)明細書第11頁第16行ないし第17行の「(ま
たはIF (a)I)IP (b)l)であれば」を「
(またはIP (b)l)IF (a)l)であれば」
と補正する。
図は本発明の詳細な説明するための図、第3図は従来技
術による測定器の一例を示す図である。 lOニレベル制御回路、 20:高利得増幅器、 40:論理回路、S:交流信号
源。 器 j 3 回 手続補正書 l、事件の表示 昭和63年 特許 願第 2
0955 号2、発明の名称 測 定 器 3、補正をする者 事件との関係 特 許 出 願 人ササ
青カ ケシ チラ 代表者 取締役社長 笹 岡 健 三4、代理人 住所 東京都 杉並区 高井戸東 3丁目2
9621号5、 補正命令の日付 昭和
年 月1 日(自発)6、 補正の対象 明
細書[発明の詳細な説明の欄」7、補正の内容 (1)明細書第4頁第15行の rG (x)ミx Vtat ・g (X) Jを’
G (x)=x Vtat ・g (x)=OJと
補正する。 (2)明細書第5頁第16行ないし第17行の[ベクト
ル比検出検出器」を「ベクトル比検出器」と補正する。 (3)明細書第7頁第13行の ’X=1tstJを ’X=Itcy + f (X) Jと補正する。 (4)明細書第8頁第5行の「Xの近傍で」を「xTの
近傍で」と補正する。 (5)明細書第9頁第1行ないし第3行の「F(a)
・F (c)<0ならば・・・Cを採用する。 」を’F (a) ・F (c)<0ならば次回のbと
してCを採用し、F (b)−F (c)<0ならば次
回のaとしてCを採用する。」と補正する。 (6)明細書第10頁第3行ないし第5行の「(ii)
F (a) ・F (c)<0ならば一−−cを採用
する。ノを’ (ij) F (a) ・F (c)
<0ならば次回のbとしてCを採用する。 F (b
) ・F(c)<0ならば次回のaとしてCを採用す
る。 」と補正する。 (7)明細書第11頁第16行ないし第17行の「(ま
たはIF (a)I)IP (b)l)であれば」を「
(またはIP (b)l)IF (a)l)であれば」
と補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 測定対象の一端に交流を印加する信号源と、前記測定対
象の他端に接続されて該他端を仮想接地とする帰還回路
と、 前記測定対象の電圧信号および電流信号を入力して同期
整流する同期整流器と、 前記同期整流器の出力を積分することによりアナログ・
ディジタル変換を行うアナログ・ディジタル変換器と、 前記アナログ・ディジタル変換器の出力に基づいて前記
測定対象に印加される電圧または電流を所定値にするよ
うに前記信号源を間歇的に制御する論理手段と を設けてなる測定器。
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