JPH0118450B2 - - Google Patents

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JPH0118450B2
JPH0118450B2 JP59037915A JP3791584A JPH0118450B2 JP H0118450 B2 JPH0118450 B2 JP H0118450B2 JP 59037915 A JP59037915 A JP 59037915A JP 3791584 A JP3791584 A JP 3791584A JP H0118450 B2 JPH0118450 B2 JP H0118450B2
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panel
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diodes
coordinate
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Kazuo Yoshikawa
Hisashi Yamaguchi
Tooru Asano
Hideaki Takizawa
Shizuhito Ando
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Priority to EP85301314A priority patent/EP0155781B1/en
Priority to ES540763A priority patent/ES8702007A1/es
Priority to US06/706,224 priority patent/US4680430A/en
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は座標検出装置に係り、特に表示装置等
の基板に抵抗膜を設け、適宜位置を指示したとき
の座標値を二次元的に検出するようにした座標検
出装置に関する。
〔技術の背景〕
オフイス機器の電子化、デイジタル化に伴つて
入力装置の操作部品として透明スイツチ、ライト
タツチスイツチあるいはキーボードスイツチ等が
大きな役割を果すようになつてきている。特にパ
ネルスイツチとして各種デイスプレイの上から指
やペン等によつてデイスプレイを見ながら操作可
能な透明スイツチ等は表面デザインが比較的自由
に選択できることで広範に利用され始められ、こ
れら入力装置の指示点を検出するための座標検出
装置としては例えば透明フイルム等の表面に透明
導電膜を設け、上下透明電極パターンを一定間隔
で格子状に対向配置してキーボードを使わずに指
先で軽く触れることでデータを入力するものが知
られている。この装置では座標の入力精度が配置
したパターンの密度で決定される問題があつた。
〔従来技術の問題点〕
このような問題点を解決するために本出願人は
先に第1図に示すように抵抗膜1の一方の端子側
からみた等価インピーダンスが該抵抗膜の両端に
付加したバツフア回路でクランプしたときに指示
点との座標の関係が特定の函数関係になることを
利用して等価インピーダンス値から座標検出を行
う検出装置を提案した。
第1図について、これを詳記すると、1は材質
の均一な抵抗膜で、該抵抗膜1の一側端2は出力
端子5に接続され、さらにバツフア回路を構成す
るオペアンプ6のプラス入力に接続するとともに
他端3は該オペアンプ6の出力に接続し、さらに
オペアンプ6自身のマイナス入力にも接続されて
いる。4は抵抗膜1の適宜位置を指示した指示点
で該指示点と接地7間にはインピーダンス8を有
する。なお、該インピーダンスをZ0とする。該イ
ンピーダンスは指先で抵抗膜4を指示したときは
人体と接地間に生ずる容量成分等である。いま、
該抵抗膜1の一端2の座標が“0”、他端3が
“1”で指示点4の座標xは0≦x≦1の値をと
るものとする。さらに指示点4の接地電位をva,
抵抗膜の一端2,3の接地に対する電位をvと
し、抵抗膜1の一端2と指示点4間の抵抗値を
Rx,抵抗膜1の一端3と指示点4間の抵抗値を
R1-xとし、出力端子5と接地7間の上記した各
インピーダンスZ0及び抵抗値Rx,R1-xを合成し
た出力端子5側からみた等価インピーダンスをZ
としたとき、該等価インピーダンスを求める。ま
ずインピーダンスZ0に流れる電流va/Z0は指示
点4を介してRxに流れる電流(v−va)/Rx
R1-xに流れる電流(v−va)/R1-xの和となり (va/Z0)=(v−va) {(1/Rx)+(1/R1-x)} ……(1) となるが抵抗膜の他端をバツフア回路(ボルテー
ジフオロアβ=1.0)でクランプしているため抵
抗R1-xを流れる電流はバツフア回路から独自に
供給される。したがつて出力端子5を流れる電流
は抵抗Rxを流れる電流そのものである。このこ
とから等価インピーダンスZに流れる電流v/Z
はRxに流れる電流(v−va)/Rxに等しく、 (v/Z)=(v−va)/Rx ……(2) となる。(1),(2)式から等価インピーダンスを求め
ると Z=Rx+Z0{(Rx+R1-x)/R1-x} ……(3) ここでRx+R1-xがインピーダンスZ0の絶対値
|Z0|に比べて充分に小さくなるようにRx
R1-x、およびZ0を設定すれば(3)式は近似的に Z≒Z0{(Rx+R1-x)/R1-x} ……(4) とすることができる。
一方、第1図から抵抗膜1の抵抗値は抵抗の長
さに比例するので指示点4の座標xはx=Rx
(Rx+R1-x)からR1-xを求めると R1-x={(1−x)/x}Rx ……(5) となる。(4)式に(5)式を代入してxを求めると x=1−(Z0/Z) ……(6) (6)式からわかるように指示点4の座標xは出力端
子5と接地7間の等価インピーダンスZと反比例
の関係にあり、等価インピーダンスZおよびイン
ピーダンスZ0の値を測定してxの値を計算すれば
xを求められる。
上記(6)式においてインピーダンスZが指先の指
示による人間の体と接地間の容量や容量ペン等で
ある場合には出力端子5に容量可変デイジタル発
振器9とそのパルス幅測定器10を付加すること
で指示点4の座標を出力11から原理的には求め
ることができる。しかし、容量インピーダンスZ0
が容量ペンのように一定の値をもつている場合に
は非常に有効であるが指先のタツチによる人体容
量の場合は容量値が変動するために直接上記方式
を用いることができない問題があつた。さらに、
抵抗膜1の両端2,3と接地間に浮遊容量12,
13(容量値をCsx,Cs1-xとする)が存在するよ
うな場合に等価インピーダンスZの計算における
誤差は無視できなくなる問題があつた。
〔発明の目的〕
本発明は上記欠点に鑑みなされたもので、上記
した等価インピーダンスZを求めることで座標を
求める際に抵抗膜の両端からみた等価インピーダ
ンスを複数回にわたつて測定し、平均化して指先
指示による座標指示を可能にするとともに抵抗膜
のX及びY軸方向の二次元座標をも検出すること
のできる座標検出装置を提供することを目的とす
るものである。
〔発明の構成〕
上記目的は本発明によれば、基板上に抵抗膜を
形成した座標入力用のパネル手段と、該パネル手
段の適宜位置を指示したときに該パネルのX軸方
向あるいはY軸方向に接続したダイオード群を順
バイアスあるいは逆バイアスするためのバイアス
切換手段と、前記パネル手段のX軸あるいはY軸
方向に接続したダイオード群間の電圧を一定の条
件に保つバツフア手段と、該バツフア手段に接続
されて、該バツフア手段の両端を交互に切り換え
る切換手段と、該切換手段によつて切り換えられ
た上記バツフア手段の一端よりみたインピーダン
スを検出する検出手段と、該検出手段の出力値に
基づいてパネル手段の指示位置を演算する制御手
段とを具備することを特徴とする座標検出装置を
提供することで達成される。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図面について詳記する。第1図
および第2図を用いて本発明の座標検出装置の原
理図を示す。上記した従来例として説明した第1
図で本発明においてはインピーダンスZ0は指示点
4を指先で指示していると仮定し、該インピーダ
ンス値Z0は例えば変動する容量値CBをもつてい
るとする。また、浮遊容量12,13を含んでの
等価インピーダンスZを求めるにまずZ0=CB
すると Z0=1/jωCB ……(7) (ただしjは複素数、ωは角周波数) となる。上記インピーダンスZ0を(4)式に代入すれ
ば等価インピーダンスZは Z=1/[jωCB{R1-x/(Rx+R1-x)}] ……(8) となる。従つて Z=CB{R1-x/(Rx−R1-x)} ……(9) となるが、さらに浮遊容量12,13を考えた場
合浮遊容量値Cs1-xは端子3に電流が流れないの
で無視でき、浮遊容量値CsxはインピーダンスZ0
=CBと並列に接続されたものとなり、等価イン
ピーダンスZは Z=Csx+[CB{R1-x/(Rx+R1-x)}] ……(10) で表される。
第2図はオペアンプ6と容量可変デイジタル発
振器9の接続を抵抗膜1の一端2と3とで第1図
とまつたく逆に接続した状態を示し、このときの
第1図から第2図への切り換えが5msec程度の
非常に短い時間で行われるとすると浮遊容量値
Csx,Cs1-xおよび人体容量値CBは変化していない
と考えることができる。第2図の出力端子5a側
からみた等価インピーダンスZaは Za=Cs1-x+[CB{Rx/(Rx+R1-x)}] ……(11) となる。よつて(10),(11)式よりCを消去することが
できる。すなわち、 R1-x={(Z−Csx)/(Z−Cs1-x)}Rx ……(12) となる。よつて指示点4の座標xは x=Rx/(Rx+R1-x) =(Za−Cs1-x)/{(Z−Csx) +(Csx−Cs1-x)} ……(13) として求めることができる。
ゆえに、パルス幅測定器10からの出力パルス
を出力11から取り出し、指示点4の座標xを求
める。いま、第1図の容量可変デイジタル発振器
9の発振周期をTx1とすれば Tx1=k・Z ……(14) (ただしkは定数) となる。
同様に第2図の場合の発振周期をTx2とすれば Tx2=k・Za ……(15) となる。さらに第1図に示す浮遊容量Csxにおい
て指先タツチがない状態の発振周期をTsxとする
と Tsx=k・Csx ……(16) となる。同様にして第2図に示す浮遊容量Cs1-x
において指タツチがない状態の発振周期をTs1-x
とすると Ts1-x=k・Cs1-x ……(17) として検出される。
上記(14)(15)(16)(17)式を(13)式に代
入すると x=(Tx2−Ts1-x)/{(Tx1−Tsx) +(Tx1−Ts1-x)} ……(18) と計算できる。すなわち、本発明においては第1
図および第2図の各状態で指タツチ8がないとき
の発振周期を求め、その後指タツチ8がある場合
発振周期を求めて(18)式から指示点4の座標x
を求めればよい。
上記の原理においては容量可変デイジタル発振
器9の発振周期Tx1,Tx2を求める間に短時間で
切り換えを行うため人体容量が変化しないと仮定
したが実際にはその間にも人体容量はわずかに変
化しているので検出精度に限界がある。そこで測
定を複数回(l回とするとl=2〜4回が望まし
い)繰り返し各回毎の測定値Tx1i,Tx2iを制御装
置(コンピユータ)等の演算装置によつて(Tx1i
−Tsx),(Tx2i−Ts1-x)を計算し、その値をn回
にわたつて積算する。すなわち、li=1 (Tx1i
Tsx),li=1 (Tx2i−Ts1-x)計算する。以上l回の
測定、演算後に、 x={li=1 (Tx2i−Ts1-x)} /{li=1 (Tx1i−Tsx)+li=1 (Tx2i−Ts1-x)} ……(19) としてx座標を演算検出する。この値は各測定サ
イクルにおける検出座標値xiの加重平均になつて
いて次の如く表され、 xi=(Tx2i−Ts1-x/{(Tx1i−Tsx) +(Tx2i−Ts1-x} ……(20) Tx1i,Tx2iを求める間の人体容量の変化による
検出座標値のバラツキを良く平均化して高精度に
x座標検出を行うことができる。
上述の原理に基づく本発明の座標検出装置の一
実施例を第3図について詳記する。
第3図において、14はパネルで該パネルは例
えばガラス基板上に透明抵抗膜を形成する。ガラ
ス透明抵抗膜は500〜1KΩ/口の抵抗値をもつよ
うに一様にスパツタリングされる。さらに該透明
抵抗膜上には2μm厚程度に酸化シリコン(SiO2
を絶縁膜として形成する。略々長方形状に形成し
たパネル14のX軸方向およびY軸方向には複数
のダイオードD1x,D2x,D3x,……,D1x′,
D2x′,D3x′,……,D1Y,D2Y,D3Y,……,
D1Y′,D2Y′,D3Y′,……,を接続する。X軸方
向に接続されるD1x,D2x,D3x,……よりなる第
1のダイオード群15XはカソードをパネルのX
軸方向の一端に接続し、各アノード側は共通にし
て第1のラインLAに接続され、ダイオード
D1x′,D2x′,D3x′,……よりなる第2のダイオ
ード群15X′はカソードを共通に第2のライン
LBに接続するとともに各アノードをパネルのX
軸方向の他端に接続する。
さらにパネルのY軸方向の一端にはダイオード
D1Y,D2Y,D3Y,D4Y,……よりなる第3のダイ
オード群16Yを配設し、該ダイオードの各アノ
ードをパネルのY軸方向の一端に接続するととも
にカソードを共通に接続して第1のラインLAに
接続する。パネルのY軸方向の他端にはダイオー
ドD1Y′,D2Y′,D3Y′,D4Y′……よりなる第4の
ダイオード群16Y′を配設し、各ダイオードの
カソードをパネル14のY軸方向の他端に接続
し、各アノードを共通して第2のラインLBに接
続する。
8は指先で適宜位置を指示したときの人体と接
地7間に生ずる容量(容量値CB)である。S1
第1のスイツチ手段で2連スイツチ17,18よ
り構成され、第1のスイツチ17の可動接点aは
分圧抵抗R2,R1を介して第1のラインLAに接続
され、第2のスイツチ18の可動接点aは分圧抵
抗R3,R4を介して第2のラインLBに接続されて
いる。第1および第2のスイツチ17,18の固
定接点bおよびCは接地され、同じく第1および
第2のスイツチ17,18の固定接点cおよびb
は直流電圧源(12V)に接続された端子E0に接続
されている。さらに抵抗R1,R2およびR3,R4
各接続点にオペアンプ6からの交流を阻止するた
めの比較的容量の大きいブロツキングコンデンサ
C1,C2を接続し、該コンデンサの他端を共通に
して第1図および第2図で述べたオペアンプ6の
出力側に接続する。オペアンプ6のプラス側入力
はブロツキングコンデンサC4を介して第1図お
よび第2図で述べた容量可変デイジタル発振器
9、パネル幅測定器10等よりなる変換回路19
の出力11から制御装置(コンピユータ)20に
加えられたx座標信号に基づいて該制御装置は座
標出力20aと第1および第2のスイツチ手段
S1,S2を制御する制御信号20b,20cを出力
して第1および第2のスイツチ手段をコントロー
ルしている。第2のスイツチ手段S2は2連のスイ
ツチ21,22よりなり第3のスイツチ21の可
動接点aはオペアンプ6のプラス端子に第4のス
イツチ22の可動接点aはブロツキングコンデン
サC3を介してオペアンプ6の出力側に接続され、
第3のスイツチ21の固定接点bは第2のライン
LBに、固定接点cは第1のラインLAに接続され
ている。また、第4のスイツチ22の固定接点b
は第1のラインLAに、固定接点cは第2のライ
ンLBに接続されている。
上記構成における動作を説明すると、パネル1
4の適宜位置を指先で指示したとするとパネル基
板の透明抵抗膜上の酸化シリコン膜を含んで人と
接地間の容量CBが形成されたとする第1のスイ
ツチS1に制御装置20よりの制御信号20bによ
つて第1のスイツチ手段S1の切換動作により第1
のスイツチ17の可動接点aの接片は固定接点b
に接続して直流12V電源が抵抗R2,R1を介して
第1のラインに与えられ第1のダイオード群15
Xは順方向バイアスされるが第3のダイオード群
16Yは逆バイアス状態となる。また、第1のス
イツチ手段S1の第2のスイツチ18の可動接点a
の接片は固定接点cに接続されているため第2の
ラインLBは接地ラインとなり第2のダイオード
群15X′には第1図の等価回路で示す抵抗Rx
R1-xのように左から右に向かつてパネルのX軸
方向に電流が流れる。すなわち第1のラインLA
側の電圧VLAが第2のラインLB側の電圧VLBに比
べて VLA>VLB であればX軸方向のダイオードが“オン”状態と
なる。
このとき、第4のダイオード群16Y′は逆バ
イアスで非導通状態で事実上オープンであり第4
のダイオード群16Y′から第3のダイオード群
16Y側に電流は流れない。
この状態では第2のスイツチ手段S2は同じく制
御装置20の制御信号20cでコントロールされ
ていて第3及び第4のスイツチ21,22の可動
接点aの接片は固定接点c側に接している。この
ためオペアンプ6は交流的には第1図の等価回路
で示される状態と同一となりパネル14の等価イ
ンピーダンスZを求めることができて交換回路1
9の出力には上記した発振周期Tx1に対応する出
力パルスを得て制御装置20に出力する。該出力
パルスの発振周期は制御装置20内のカウンタと
タイマ等で計測され記憶される。またこの状態で
指先がタツチされていない状態の発振周期Tsx
あらかじめ制御装置20内に記憶されている。
次に第2のスイツチ手段S2の第3および第4の
スイツチ21,22の可動接点aの接片はb側に
切り換り、オペアンプ6は交流的には第2図に示
したと同様の等価インピーダンスZaに対応する
発振周期Tx2の出力パルスが得られて制御装置2
0によつて計測、記憶される。また、この状態に
おける指先タツチがないときの発振周期Ts1-x
あらかじめ制御装置に計測、記憶されている。
以上の動作によつて求めたTx1,Tx2および
Tsx,Ts1-xを用いて(18)式を制御装置20内で
演算することでパルス14のX軸方向のx座標が
出力される。
次に第1のスイツチ手段S1に制御信号が与えら
れて第1のスイツチおよび第2ののスイツチ1
7,18の可動接点aの接片は固定接点b側に切
り換る。このため第1のラインLAは接地ライン
となり、第2のラインLBは直流12V電源が抵抗
R3,R4を介して与えられるために第2のダイオ
ード群15X′は逆バイアス、第4のダイオード
群16Y′は順方向バイアスされ、第1のライン
LAの電圧VLAは第2のラインLBの電圧VLBに比
べて低くなり、 VLA<VLB の関係となるためにパネル14のX軸方向はオー
プン状態となり第4のダイオード群16Y′方向
から第3のダイオード群16Yの方向に電流が流
れる。
以下の動作はパネルのY軸方向に入れ替つて上
記したと同様の動作を行うことでy座標を検出し
て制御装置20に出力20aが検出される。な
お、上記したスイツチS2の切換時間は5msec程
度に選択するを可とする。
また、加重平均する場合は制御装置20内で上
記した測定を繰り返し測定演算すればよい。
上記した構成ならびに動作によれば、本来人体
のみへ流れるべき交流分がラインLA,LBから
R1,R2,R3,R4を介して大地や電源E0へ流れる
のを阻止するためと直流分がオペアンプ6へ流れ
るのを阻止するためのブロツキング用コンデンサ
C1,C2を必要とし、第1および第2のライン
LA,LB間に直流電流を流すためにオペアンプ6
のまわりにブロツキングコンデンサC3,C4を必
要とし、XおよびY軸の切換え時に生ずる過度現
象が納まるまで待つ必要があり検出速度が遅くな
る問題がある。
このような問題を生じない他の実施例を第4図
および第5図に詳記する。
第4図は他の実施例を示す回路図でパネル14
に配設するダイオード群によつてX軸方向からだ
け指示点位置信号を検出する場合を示すものであ
り、第5図はパネル14に配設するダイオードの
接続方法を示すさらに他の実施例を示す接続図で
ある。
第4図における回路図ではパネル14のX軸方
向の一端にはダイオードD1x,D2x,D3xのアノー
ドを共通接続してスイツチング手段25のスイツ
チS4の可動接点aに接続し、上記各ダイオードの
カソードをパネル14の一端に接続するとともに
該各カソードと直列にダイオードD4x,D5x,D6x
を接続し、該ダイオードD4x,D5x,D6xの各カソ
ードを共通接続してスイツチング手段25のスイ
ツチS3の可動接点aに接続する。かくすることで
第1のダイオード群23Xがパネル14のX軸方
向の一端に接続される。同様にパネル14のX軸
方向の他端にはダイオードD1x′,D2x′,D3x′の
各アノードが接続されるとともにダイオード
D4x′,D5x′,D6x′の各々のカソードと直列接続
され、該各ダイオードD4x′,D5x′,D6x′のアノ
ードは共通に接続されてスイツチング手段25の
スイツチS8の可動接点aに接続される。ダイオー
ドD1x′,D2x′,D3x′のカソードは共通に接続さ
れてスイツチング手段25のスイツチS7の可動接
点aに接続される。かくすれば第2のダイオード
群23X′がパネル14のX軸方向の他端に接続
配置される。
同様にパネル14のY軸方向にもダイオード
D1Y,D2Y,D3YならびにダイオードD5Y,D6Y
D7Yのおのおのを直列接続し、直列接続点をY軸
方向の一端に接続するとともにダイオードD1Y
D2Y,D3Yのカソードを共通接続してスイツチン
グ手段25のスイツチS6の可動接点aに接続し、
ダイオードD5Y,D6Y,D7Yのアノードを共通接続
してスイツチS5の可動接点aに接続し、第3のダ
イオード群24Yがパネル14のY軸方向の一端
に接続配置される。
さらにパネル14のY軸方向にはダイオード
D1Y′,D2Y′,D3Y′とD5Y′,D6Y′,D7Y′のおのお
のを直列接続し、夫々の直列接続交点をパネルの
Y軸方向他端に接続し、ダイオードD1Y′,D2Y′,
D3Y′のアノードを共通接続してスイツチS10の可
動接点aに接続し、ダイオードD5Y′,D6Y′,
D7Y′のカソードを共通接続してスイツチS9可動
接点aに接続する。かくして第4のダイオード群
24Y′がパネル14のY軸方向の一端に接続さ
れる。上記第1〜第4のダイオード群はおのおの
3組の直列回路をパネルに接続したが、これらの
数は適宜の数を選択することは勿論である。
また、ダイオード群とパネル間の接続は第5図
に示すように直列接続することなく1ペアのダイ
オードD1x,D4x:D2x,D5x:D3x,D6xのおのお
ののアノードおよびカソードを直接パネル14の
一端に接続するようにしてもよい。
スイツチ手段25のS1の固定接点b、スイツチ
S6の固定接点c、スイツチS7の固定接点b、スイ
ツチS9の固定接点cは第1の電圧源Vpのプラス
端子に接続され、該第1の電圧源のマイナス側は
接地されている。第1のスイツチS3の固定接点c
は第3図で述べた第1のラインLAに接する端子
に接続され、同様にスイツチS7の固定接点cは第
2のラインLBに接する端子に接続されている。
上記第1のラインLAに連なる端子にはスイツ
チS4の固定接点c、スイツチS5の固定接点b、ス
イツチS6の固定接点のおのおのが接続され、第2
のラインLBに連なる端子にはスイツチS8の固定
接点c、スイツチS9の固定接点b、スイツチS0
固定接点bが接続されている。またスイツチS4
固定接点b、スイツチS5の固定接点c、スイツチ
S8の固定接点c、スイツチS10の固定接点cの一
端は第2の電圧源VNのマイナス端子に接続され、
該第2の電圧源のプラス端子は接地されている。
端子LA,LBは第3図に示したと同様のオペアン
プ6や制御装置20等を有する座標検出手段に接
続されているものとする。
上記構成によれば、スイツチ手段25は制御装
置20(第3図参照)でコントロールされ、該ス
イツチ手段内のスイツチS3〜S4の可動接点a側の
接片が固定接点c側に接しているときはパネル1
4のY軸方向に接続された第3および第4のダイ
オード群24Y,24Y′は逆バイアスされた状
態で実質的にオープン状態であり、パネルのX軸
方向の第1および第2のダイオード群23X,2
3X′のみがオン状態となされ、端子LA,LB間
からパネル指示点のx座標に対応するデータを取
り出し得る。もちろん、この場合第1および第2
のダイオード群を駆動するための最大電圧より第
1の電圧源Vpの電圧は高く選択され、駆動用最
小電圧より第2の電圧源VNの電圧は低く選択す
る。
Y軸方向の座標検出を行うためにはスイツチ手
段25のすべてのスイツチS3〜S10の可動接点a
の接片を固定接点c側に倒すように制御装置20
によりコントロールすればX軸方向がオープン状
態となる。
〔発明の効果〕
本発明は叙上の如く構成させたので二次元的に
座標検出を行うことができるだけでなく、座標位
置指示を指先で行い得る。またダイオードを用い
たために一群のダイオードを逆バイアスするだけ
で済み複雑なアナログスイツチやIC類をパネル
周辺に配設しなくてもよい特徴を有する。さらに
第4図および第5図に示す実施例においてはブロ
ツキングコンデンサを用いることなく座標検出を
行うことができる特徴を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の座標検出装置と本発明の座標検
出装置の原理を説明するための検出装置の等価回
路図、第2図は本発明の座標検出装置の原理を説
明するための検出装置の等価回路図、第3図は本
発明の座標検出装置の一実施例を示す回路図、第
4図は本発明の座標検出装置の他の実施例を示す
切換部分の回路図、第5図は第4図の他の変形例
を示すダイオード群とパネル接続部分の回路図で
ある。 1……抵抗膜、2……抵抗膜一側端、3……抵
抗膜他端、4……指示点、5……出力端子、6…
…オペアンプ、7……接地、8……インピーダン
ス、9……容量可変デイジタル発振器、10……
パネル幅測定器、12,13……浮遊容量、14
……パネル、15X,23X……第1のダイオー
ド群、15X′,23X′……第2のダイオード群、
16Y,24Y……第3のダイオード群、16
Y′,24Y′……第4のダイオード群、17……
第1のスイツチ、18……第2のスイツチ、19
……変換回路、20……制御装置、21……第3
のスイツチ、22……第4のスイツチ、S1……第
1のスイツチ手段、S2……第2のスイツチ手段、
LA……第1のライン、LB……第2のライン、
D1x,D1x′,D2x,D2x′,D3x,D3x′,D4x,D4x′,
D5x,D5x′,D6x,D6x′……ダイオード、25…
…スイツチ手段、S3〜S10……スイツチ、Vp……
第1電圧源、VN……第2の電圧源。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板上に抵抗膜を形成した座標入力用のパネ
    ル手段と、該パネル手段の適宜位置を指示したと
    きに該パネルのX軸方向あるいはY軸方向に接続
    したダイオード群を順バイアスあるいは逆バイア
    スするためのバイアス切換手段と、前記パネル手
    段のX軸あるいはY軸方向に接続したダイオード
    群間の電圧を一定の条件に保つバツフア手段と、
    該バツフア手段に接続されて、該バツフア手段の
    両端を交互に切り換える切換手段と、該切換手段
    によつて切り換えられた上記バツフア手段の一端
    よりみたインピーダンスを検出する検出手段と、
    該検出手段の出力値に基づいてパネル手段の指示
    位置を演算する制御手段とを具備することを特徴
    とする座標検出装置。 2 前記パネル手段に接続したダイオード群は同
    方向に直列に接続した2個のダイオードを1単位
    として構成され、該1単位のダイオード群のカソ
    ードどうし、及びアノードどうしを共通接続し、
    該パネル手段のXまたはY軸方向の座標検出を行
    う方向では上記ダイオード群のアノードどうしと
    カソードどうしを共通接続した出力を座標検知の
    ためのバツフア手段に接続し、座標検出を行わな
    いXまたはY軸方向の上記ダイオード群のアノー
    ドどうしとカソードどうしを共通接続して逆バイ
    アスさせるように構成してなることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の座標検出装置。
JP59037915A 1984-02-29 1984-02-29 座標検出装置 Granted JPS60181914A (ja)

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