JPH01163995A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents

薄膜el素子の製造方法

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JPH01163995A
JPH01163995A JP62321593A JP32159387A JPH01163995A JP H01163995 A JPH01163995 A JP H01163995A JP 62321593 A JP62321593 A JP 62321593A JP 32159387 A JP32159387 A JP 32159387A JP H01163995 A JPH01163995 A JP H01163995A
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thin film
bubbler
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dmcpm
methylcyclo
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Katsuhiko Hirabayashi
克彦 平林
Haruki Ozawaguchi
小沢口 治樹
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は薄膜EL素子の製造方法に係り、特に、高輝度
、高効率、多色の薄膜EL素子を再現性よく製造するこ
とのできる製造方法に関する。
〔従来の技術〕
薄膜EL素子の製造方法としては、従来、電子ビーム(
EB)蒸着法やスパッタリング法が用いられてきていた
が、近年、高品質の素子薄膜を均一にかつ大面積で再現
性よく安価に製造できる方法として、アルキル亜鉛とH
2Sまたはアルキル硫黄などを用いる有機金属気相成長
法(MetalOrganic Chemical V
apor Deposition、以下M。
CVD法と略称する)が注目を集めている。
本発明者等は、先に、MOCVD法により、発光中心原
料用ガスとしてトリカルボニルメチルシクロペンタジェ
ニルマンガン(TCM)を用いて、6000cd / 
m2の高輝度のZnS:Mn薄膜EL素子を実現化して
いる(Jpn、 J、 Appl、 Phys、 Vo
l、25゜1986.p、711)。
また、発光中心用原材料としてTbF3.5LIIC1
13、TmF、を用い、これらをMOCVD反応炉内で
加熱蒸発させるという方法によって、高輝度で高効率の
ZnS : TbFx (緑色)、ZnS:5ICAX
(赤色)、ZnS : TmFx (青色)のEL素子
も実現化している(Jpn、 J、 Appl、 Ph
ys、 Vol、26.1987゜P、1472)。
〔本発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記従来の製造方法には次に述べるよう
な問題点があった。
すなわち、まず1発光中心の原材料としてTCMを用い
た場合については、TCMのカルボニル基が酸素を有す
るため、ZnS膜成長時に膜中に酸素が混入して、輝度
および効率低下の原因となっていた。この欠点を解決す
るために、TCMの代りにジシクロペンタジェニルマン
ガン(DCPM)を用いる試みもなされている(右田、
椎木、金入、山元 1987年春応用物理学会講演予稿
集P、883)が、DCPMは室温で固体で、融点が高
く、蒸気圧が低く、MOCVD装置のバブラーに充填し
てバブリングすることが困難であり、ドーピングの再現
性に欠けるという問題点があった。
すなわち、MOCVD法においては、一般に、液体状の
有機金属化合物にH2をバブリングさせてH2中に有機
金属化合物を蒸発させ、これを反応炉に供給する方法を
とっているが、該有機金属化合物が固体である場合、該
有機金属化合物の表面積によって該有機金属化合物蒸発
量が大きく変化するため、蒸発量を一定に保持すること
が困難である。
また、MOCVD炉内でTbF3、SmCu、、T m
 F 3などを加熱蒸発させる方法については、加熱温
度を精度よく制御しなければならないという問題点があ
った。
本発明の目的は、上記従来技術にみられた問題点を解決
して、高輝度、高効率の薄膜EL素子を再現性よく製造
することのできる製造方法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、発光中心原料用ガスとして、Mn、Tb−
Srsのメチルシクロペンタジェニル化合物を用いるこ
とによって達成することができる。
〔作用〕
シクロペンタジェニル化合物にメチル基を導入すると、
融点が下降し、蒸気圧が上昇し、固体状のものが液体状
となる性質がある。
上記したMn、Tb、Smのメチルシクロペンタジェニ
ル化合物は、従来発光中心用原料として用いられてきた
シクロペンタジェニル化合物のシクロペンタジェニル基
にメチル基を導入したもので、このようにすることによ
ってシクロペンタジェニル化合物の融点が下り、蒸気圧
が上り、固体から液体状態となるため、液体状態でバブ
ラーに充填してバブリングすることが可能となり、従っ
て、ドーピング量の再現性を向上させることができる。
〔実施例〕
実施例 1 主原料としてジメチル亜鉛(D M Z )およびH,
Sを、また、発光中心材料用ガスとしてジメチルシクロ
ペンタジェニルマンガン(((C,H4)CH3]、M
n)(DMCPM)を用い、第1図に示したMOCVD
装置によってZnS:Mn薄膜EL素子を製造した。
供給用ノズル3を、また、基板を加熱するための高周波
加熱装置4を備え、バブラー5内にDMZ。
バブラー6内にDMCPMを充填してなり、さらに、反
応炉1内にSiCを被覆したグラファイトサセプタ7を
設け、その上に薄膜を形成しようとする基板8を配置で
きるようにしたものである。
なお、本装置には、反応系内を真空にするための排気ポ
ンプを設置しである(図示せず)。
ZnS:Mn薄膜形成条件は下記の通りとした。
i 基板8の温度・・・約300℃ ■ 反応炉内真空度・・・約60Torr■ ノズル2
から反応炉1内へのDMZ供給速度−2Xl0−’mo
l/win K ノズル3から反応炉1内へのH2S供給速度−6X
 10−’mol/min なお、DMCPMについては、正確な蒸気圧データがな
いため5次のような条件で供給を行った。
すなわち、DMCPMのバブラー6を150℃、1気圧
に保ち、約300cc/winのH2をバブリングして
供給した。この状態で、DMCPMはやや粘性を有する
液体であり、十分バブリングが可能であった・ また、比較のため、従来用いられてきたジシクロペンタ
ジェニルマンガン(DCPM)を用いた試料も、同様に
して、作製した。
次に、上記のようにして作製したZnS:Mn薄膜につ
いてMn含有量の測定を行った。DMCPMを用いた場
合、約0.4重量%のMnが含有されており、再現性も
良好であった。例えば、この実験を士数回繰り返したが
、Mn含有量は0.4±0.05重重量の範囲内にあっ
た。これに対して、DCPMを用いた場合には、100
0cc / winのH2をバブリングして約0.3重
量%のMnをドーピングすることができだが、その再現
性は悪く、実験を繰り返すに従って、ドーピング量が0
.3重量%から0.1重量%へ漸次減少した。また、バ
ブラ内へのDCPMの充填のし方でドーピング量が大き
く変化するという結果が得られた。
また、上記のようにして作製した膜(膜厚700nm)
をTa、Os絶縁層(膜厚350nm)とSm、O,絶
縁層−(膜厚350nm)とでサンドインチして2重絶
縁構造型の薄膜EL素子を作製して、その輝度−電圧特
性を測定し、第2図に示す結果を得た。DMCPMを用
いた場合には、7000cd/+a” (5kHz)の
高輝度を再現性よく得ることができた。これに対して、
DCPMを用いた場合、7000cd/m2の高輝度を
示すものも得られるが、再現性に乏しかった。
実施例 2 主原料としてDMZおよびH2Sを、また、発光中心原
料用ガスとしてトリスメチルシクロペンタジェニルテル
ビウムCCCC3H4)CH3)、 Tb)(TMCP
Tb)を用い、実施例1の場合と同じ装置により、Zn
S:Tb薄膜EL素子を作製した。
ZnS膜の作製条件は実施例1の場合と同様とし、TM
CPTbの供給は次のような条件で行った。
すなわち、TMCPTbのバブラーを180℃、1気圧
とし、 500cc / minのH2をバブリングし
て供給した。
次に、上記のようにして作製したZnS : Tb薄膜
についてTbの含有量を測定した結果、約4.0重量%
のTbが含有されており、また、再現性も良好な結果が
得られた。例えば、この実験を士数回繰り返したが、T
b含有量は4.0±0.05重量%の範囲内であった。
また、このようにして作製した膜(膜厚700nm)を
Ta2O,絶縁層(膜厚350nI11)とSm、O,
絶縁層(膜厚350nm)とでサンドイッチして2重絶
縁構造型の薄膜EL素子を作製し、輝度を測定した結果
、2000cd/ m2(1kHz)  (緑色)の高
輝度が再現性よく得られた。
実施例 3 発光中心原料ガスとしてトリスメチルシクロペンタジェ
ニルツリウム(((c s H4)CH3)38 m)
(TMCPSm)を用い、他は実施例2と同様条件でz
nS:5I11薄膜EL素子を作製したところ、輝度1
000cd/m”の赤色発光を再現性よく得ることがで
きた。
実施例 4 発光中心原料ガスとしてトリスメチルシクロペンタジェ
ニルツリウム(((C5H,)CH,)、 Tm)(T
 M CP Tm)を用い、他は実施例2と同様条件で
ZnS:Tm薄膜EL素子を作製したところ、1ocd
/m2の輝度を再現性よく得ることができた。
なお、同様の実験を、主原料としてジメチル亜鉛とジエ
チル硫黄を用いたZnS発光層作製について行った場合
およびジメチル亜鉛とH2S5あるいはジエチルセレン
を用いてZn5e発光層作製について行った場合にも、
全く同様の結果が得られた。
〔発明の効果〕
以上述べてきたように、気相成長法による薄膜EL素子
の製造において、本発明の製造方法を用いること、すな
わち、発光中心原料用のガスとして、従来用いられてき
たシクロペンタジェニル化合物例えばDCPMなどの代
りに、シクロペンタジェニル基にメチル基を導入した化
合物、例えばD M CP M 、 T M CP T
 b 、 T M CP S mあるいはT M CP
 T mを使用する方法を用いることによって、従来技
術の有していた問題点を解決して、ド°  −ピングの
再現性を向上させ、高輝度、高効率。
多色の薄膜EL素子を再現性よく製造できる方法を提供
することができた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明で用いたMOCvD装置の概略図、第2
図は本発明の方法によって作製したZnS:Mn薄膜E
L素子の輝度−電圧特性図である。 1・・・反応炉      2・・・DMZ供給ノズル
3・・・H,S供給ノズル 4・・・DMZ用バブラー
5・・・DMCPM用バブラー 6・・・SiC被覆グラファイトサセプタ8・・・基板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.有機亜鉛化合物ガスと硫黄化合物ガスまたはセレン
    化合物ガスとを反応炉内で反応させ、同時に発光中心の
    原料となるガスを導入して発光中心のドーピングを行う
    気相成長法による薄膜EL素子の製造において、発光中
    心の原料となるガスとして、発光中心となる元素のメチ
    ルシクロペンタジエニル化合物を用いることを特徴とす
    る薄膜EL素子の製造方法。
  2. 2.上記メチルシクロペンタジエニル化合物がジメチル
    シクロペンタジエニルマンガン(〔(C_5H_4)C
    H_3〕_2Mn)、トリスメチルシクロペンタジエニ
    ルテルビウム(〔(C_5H_4)CH_3〕_3Tb
    )、トリスメチルシクロペンタジエニルサマリウム(〔
    (C_5H_4)CH_3〕_3Sm)あるいはトリス
    メチルシクロペンタジエニルツリウム(〔(C_5H_
    4)CH_3〕_3Tm)であることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の薄膜EL素子の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5074201A (en) * 1989-05-12 1991-12-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus for manufacturing tonyu and tofu
US5496582A (en) * 1993-08-30 1996-03-05 Nippondenso Co., Ltd. Process for producing electroluminescent device
US6004618A (en) * 1994-04-26 1999-12-21 Nippondenso., Ltd. Method and apparatus for fabricating electroluminescent device

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