JPH01157480A - 酸化物超電導体の改質方法 - Google Patents
酸化物超電導体の改質方法Info
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- JPH01157480A JPH01157480A JP62314366A JP31436687A JPH01157480A JP H01157480 A JPH01157480 A JP H01157480A JP 62314366 A JP62314366 A JP 62314366A JP 31436687 A JP31436687 A JP 31436687A JP H01157480 A JPH01157480 A JP H01157480A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的J
(産業上の利用分野)
本発明は、酸化物超電導体の臨界温度を向上させるため
の改質方法に関する。
の改質方法に関する。
(従来の技術)
近年、Ba−La−Cu−0系の層状ペロブスカイト型
の酸化物が高い臨界温度を有する可能性のあることが発
表されて以来、各所で酸化物超電導体の研究が行われテ
ィる(7.Phys、B Condensed Mat
ter64、189−193(1986))。その中で
もY−Ba−Cu−0系で代表される酸素欠陥を右する
LnBa2Cu3O7−δ(δは酸素欠陥を表し通常1
以下、Lnは、Y、 La1ScSNd、 Sm、 E
u、 Gd1 ロV、 HO,Er、 Tm、 ybお
よび[Uから選ばれた少なくとも1種の元素:Baの一
部はSrなどで置換可能。)で示される欠陥ペロブスカ
イト型の酸化物超電導体は、臨界温度が90に以上と液
体窒素の沸点以上の高いUUを示ずため非常に有望な材
料として注目されている(Phys、 Rev。
の酸化物が高い臨界温度を有する可能性のあることが発
表されて以来、各所で酸化物超電導体の研究が行われテ
ィる(7.Phys、B Condensed Mat
ter64、189−193(1986))。その中で
もY−Ba−Cu−0系で代表される酸素欠陥を右する
LnBa2Cu3O7−δ(δは酸素欠陥を表し通常1
以下、Lnは、Y、 La1ScSNd、 Sm、 E
u、 Gd1 ロV、 HO,Er、 Tm、 ybお
よび[Uから選ばれた少なくとも1種の元素:Baの一
部はSrなどで置換可能。)で示される欠陥ペロブスカ
イト型の酸化物超電導体は、臨界温度が90に以上と液
体窒素の沸点以上の高いUUを示ずため非常に有望な材
料として注目されている(Phys、 Rev。
Lett、 vol、58 No、9.908−910
)。
)。
このように、Y−Ba−Cu−0系の酸化物超電導体が
液体窒素による冷却で超電導状態を実現できることが発
見されていらい、この液体窒素が従来の冷却材である液
体ヘリウムに比べてはるかに安価であるため、従来の合
金系や化合物系の超電導体では冷却コストが高く、実用
不可能とされていた装置などへも応用することができる
可能性が高まり、これによって各種の分野において酸化
物超電導体を利用する研究が盛んに行われている。
液体窒素による冷却で超電導状態を実現できることが発
見されていらい、この液体窒素が従来の冷却材である液
体ヘリウムに比べてはるかに安価であるため、従来の合
金系や化合物系の超電導体では冷却コストが高く、実用
不可能とされていた装置などへも応用することができる
可能性が高まり、これによって各種の分野において酸化
物超電導体を利用する研究が盛んに行われている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、現状では酸化物超電導体として高臨界温
度を有しているY−Ba−Cu−0系のものにおいても
、安定してかつ再現性よく実現できる臨界温度は90K
Oη後であり、液体窒素の沸点Cある17にとの差が
10に前後であり、安定して超電導状態を維持するため
にはその差が小さく、さらに高い温度で超電導状態を示
す酸化物超電導体が強く望まれている。
度を有しているY−Ba−Cu−0系のものにおいても
、安定してかつ再現性よく実現できる臨界温度は90K
Oη後であり、液体窒素の沸点Cある17にとの差が
10に前後であり、安定して超電導状態を維持するため
にはその差が小さく、さらに高い温度で超電導状態を示
す酸化物超電導体が強く望まれている。
本発明は、このような従来の事情に対処すべくなされた
もので、酸化物超電導体の臨界温度を高めるための酸化
物超電導体の改質方法を提供することを目的とする。
もので、酸化物超電導体の臨界温度を高めるための酸化
物超電導体の改質方法を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題を解決するための手段)
本発明の酸化物超電導体の改質方法は、酸化物超電導体
の表面にイオンビームを照射してイオンを打込むことに
より、前記酸化物超電導体の結晶構造内に照射損傷を導
入し、臨界温度を向上さ往ることを特徴としている。
の表面にイオンビームを照射してイオンを打込むことに
より、前記酸化物超電導体の結晶構造内に照射損傷を導
入し、臨界温度を向上さ往ることを特徴としている。
酸化物超電導体としては、多数のものが知られているが
、臨界温度の高い、希土類元素含有のペロブスカイト型
の酸化物超電導体への適用が実用的効果が高い。ここで
いう希土類元素を含有しベロアスカイ1〜型構造を有す
る酸化物超電導体は、超電導状態を実現できるものであ
ればよく、たとえばLnBa2Cu3O、−δ系(Ln
はY、 La、 Sc、 Nd。
、臨界温度の高い、希土類元素含有のペロブスカイト型
の酸化物超電導体への適用が実用的効果が高い。ここで
いう希土類元素を含有しベロアスカイ1〜型構造を有す
る酸化物超電導体は、超電導状態を実現できるものであ
ればよく、たとえばLnBa2Cu3O、−δ系(Ln
はY、 La、 Sc、 Nd。
Sm、 Eu、 Gd、 Dy、 No、 Er、 T
m5Yb、 Luなどの希土類元素から選ばれた少なく
とも1種の元素を、δは酸素欠陥を表し通常1以下の数
;BaはSrやCaなどで、Cuの一部はTi5V 、
Cr、 Hn、 Fe、 Co、Ni1Znなどで置
換可能。)などの酸素欠陥を有する欠陥ペロブスカイト
型、5r−La−Cu−0系などの層状ペロブスカイト
型などの広義にペロブスカイト溝造を有する酸化物が例
示される。また、希土類元素も広義の定義とし、5cS
YおよびLa系を含むものとする。代表的な系としては
Y−Ba−Cu−0系のほかに、5c−Ba−Cu−0
系、5r−La−Cu−0系、さらにSrをBa。
m5Yb、 Luなどの希土類元素から選ばれた少なく
とも1種の元素を、δは酸素欠陥を表し通常1以下の数
;BaはSrやCaなどで、Cuの一部はTi5V 、
Cr、 Hn、 Fe、 Co、Ni1Znなどで置
換可能。)などの酸素欠陥を有する欠陥ペロブスカイト
型、5r−La−Cu−0系などの層状ペロブスカイト
型などの広義にペロブスカイト溝造を有する酸化物が例
示される。また、希土類元素も広義の定義とし、5cS
YおよびLa系を含むものとする。代表的な系としては
Y−Ba−Cu−0系のほかに、5c−Ba−Cu−0
系、5r−La−Cu−0系、さらにSrをBa。
Caで置換した系などが挙げられる。
このような酸化物超電導体は、たとえば以下のような方
法により!l造される。
法により!l造される。
まずV、 Ba、 Cuなどのペロブスカイト型酸化物
超電導体の構成元素を充分混合する。混合の際には、Y
203、BaCO3、CuOなどの酸化物や炭酸塩を原
料として用いることができるほか、炭酸塩以外の焼成後
酸化物に転化する硝酸塩、水酸化物などの化合物を用い
てもよい。さらには共沈法などで得たシュウ酸塩などを
用いてもよい。ペロブスカイト型の酸化物超電導体を構
成する元素は、基本的に化学量論比の組成となるように
混合するが、多少製造条件などとの関係でずれていて・
b構わない。たとえばY−Ba−Cu−0系ではY 1
molに対しBa 2mol 、Cu 3molが標準
組成であるが、実用上はY 1molに対して、Ba
2±0.(illlol 、Cu 3±0゜4m01程
度のずれは問題ない。
超電導体の構成元素を充分混合する。混合の際には、Y
203、BaCO3、CuOなどの酸化物や炭酸塩を原
料として用いることができるほか、炭酸塩以外の焼成後
酸化物に転化する硝酸塩、水酸化物などの化合物を用い
てもよい。さらには共沈法などで得たシュウ酸塩などを
用いてもよい。ペロブスカイト型の酸化物超電導体を構
成する元素は、基本的に化学量論比の組成となるように
混合するが、多少製造条件などとの関係でずれていて・
b構わない。たとえばY−Ba−Cu−0系ではY 1
molに対しBa 2mol 、Cu 3molが標準
組成であるが、実用上はY 1molに対して、Ba
2±0.(illlol 、Cu 3±0゜4m01程
度のずれは問題ない。
そして、前述の原料を混合した後、850℃〜980℃
程度の温度で焼成して結晶化させる。この後、必要に応
じて充分に酸素を供給することが可能な雰囲気中で、3
O0℃〜700℃程度の温度条件下で熱処理するか、ま
たは同様な雰囲気中で3O0℃程瓜まで徐冷することに
より、酸素欠陥δに酸素が導入されて超電導特性が向上
される。
程度の温度で焼成して結晶化させる。この後、必要に応
じて充分に酸素を供給することが可能な雰囲気中で、3
O0℃〜700℃程度の温度条件下で熱処理するか、ま
たは同様な雰囲気中で3O0℃程瓜まで徐冷することに
より、酸素欠陥δに酸素が導入されて超電導特性が向上
される。
本発明の対象となる酸化物超電導体の形状としては、ブ
ロック状の焼結体、酸化物超電導体の圧縮粉体や焼成物
からなる線材、基板などの基体上に形成された酸化物超
電導体薄膜など、各所形状のものが例示されるが、本発
明によって改質可能な範囲が数μm程度であるため、均
一に改質できるという点で酸化物超電導体薄膜に好適し
ている。
ロック状の焼結体、酸化物超電導体の圧縮粉体や焼成物
からなる線材、基板などの基体上に形成された酸化物超
電導体薄膜など、各所形状のものが例示されるが、本発
明によって改質可能な範囲が数μm程度であるため、均
一に改質できるという点で酸化物超電導体薄膜に好適し
ている。
このような酸化物超電導体」膜は、たとえば前述したよ
うな方法により作製した酸化物超電導体の焼結体をター
ゲットや熱蒸発源として用いて、基板上にスパッタ法や
熱蒸着法などによって形成したり、また酸化物超電導体
粉末をペースト化したものや酸化物超電導体を構成する
各金属元素の熱分解性化合物の混合溶液などの塗布・焼
成などにより形成される。
うな方法により作製した酸化物超電導体の焼結体をター
ゲットや熱蒸発源として用いて、基板上にスパッタ法や
熱蒸着法などによって形成したり、また酸化物超電導体
粉末をペースト化したものや酸化物超電導体を構成する
各金属元素の熱分解性化合物の混合溶液などの塗布・焼
成などにより形成される。
本発明にa3いて照射するイオンとしては、酸素、水素
、アルゴン、窒素などが挙げられ、特に打込み後に悪影
響を及ぼさない酸素イオンの使用が好ましい。
、アルゴン、窒素などが挙げられ、特に打込み後に悪影
響を及ぼさない酸素イオンの使用が好ましい。
このようなイオンビームの照射方法としては、たとえば
通常のイオン銃による打込みが利用できる。これは、た
とえば1G’ Torr程度の真空状態とした容器内に
、適当なイオン源より目的とするイオンのガスを導入し
、これに磁場を印加することによって低電圧放電を起こ
qt!てプラズマ化し、このプラズマから引出し・収束
レンズなどによってビーム状のイオンを引出し、このイ
オンビームを照射するものである。
通常のイオン銃による打込みが利用できる。これは、た
とえば1G’ Torr程度の真空状態とした容器内に
、適当なイオン源より目的とするイオンのガスを導入し
、これに磁場を印加することによって低電圧放電を起こ
qt!てプラズマ化し、このプラズマから引出し・収束
レンズなどによってビーム状のイオンを引出し、このイ
オンビームを照射するものである。
このようにして、酸化物超電導体表面にイオンを打込む
ことにより、結晶構造中に照q」損傷を導入され、すな
わち結晶中のCu−0結合の一部が切断され、格子振動
が大きくなり、臨界温度が向上する。
ことにより、結晶構造中に照q」損傷を導入され、すな
わち結晶中のCu−0結合の一部が切断され、格子振動
が大きくなり、臨界温度が向上する。
本発明においては、イオン照射時の酸化物超電導体のW
Uが高くなるとイオン照射によって切断されたCu−0
結合が復元し、改質効果が低下するため、照射時の温度
は100に〜3O0に程度に制御lIlづる必要がある
。
Uが高くなるとイオン照射によって切断されたCu−0
結合が復元し、改質効果が低下するため、照射時の温度
は100に〜3O0に程度に制御lIlづる必要がある
。
また、イオンビームの入射エネルギーは、50keV〜
500kOVの範囲となるように調整することが好まし
い。イオンの打込みmは、1×1015個/d〜lX1
018個/Cぜの範囲で行うことが好ましい。
500kOVの範囲となるように調整することが好まし
い。イオンの打込みmは、1×1015個/d〜lX1
018個/Cぜの範囲で行うことが好ましい。
このイオンの打込み苗がlX1015個未満であるとC
u−0結合の切断による改質効果が充分に得られず、ま
たlX1018個/ cjを超えるとイオンの打込みに
よってCu−0結合を切断したものが、元の状態に復元
してしまい、改質効果が得られなくなるためである。
u−0結合の切断による改質効果が充分に得られず、ま
たlX1018個/ cjを超えるとイオンの打込みに
よってCu−0結合を切断したものが、元の状態に復元
してしまい、改質効果が得られなくなるためである。
(作 用)
上述したように酸化物超電導体表面にイオンを打込むこ
とにより、照射損傷、すなわち結晶中のCu−0結合の
一部が切断される。この切断は、Cu−0結合のうちの
結合エネルギーの低いa軸およびb軸上のCu−0結合
に選択的に発生する。これにより、超電導電流を流すC
面内のCu−0結合が1次元または2次元の低次元構造
となり、このC面内のCu−0結合の格子振動が大きく
なって臨界温度が向上する。また、本発明の方法におい
ては、このような照射損傷をイオンの打込みによって導
入しているので、作業性もよく、他への汚染などの心配
もない。
とにより、照射損傷、すなわち結晶中のCu−0結合の
一部が切断される。この切断は、Cu−0結合のうちの
結合エネルギーの低いa軸およびb軸上のCu−0結合
に選択的に発生する。これにより、超電導電流を流すC
面内のCu−0結合が1次元または2次元の低次元構造
となり、このC面内のCu−0結合の格子振動が大きく
なって臨界温度が向上する。また、本発明の方法におい
ては、このような照射損傷をイオンの打込みによって導
入しているので、作業性もよく、他への汚染などの心配
もない。
(実施例)
次に、本発明の実施例について説明する。
実施例
まず、BaC03粉末2n+o I、Y2O3粉末0.
5m01、CuO粉末3mo +を充分混合して、90
0℃、10時間の条件で焼成して反応させ、さらにこの
焼成物を酸素雰囲気中で800℃、24時間の条件で熱
処理して散水空席に酸素を導入してY−Ba−Cu−0
系酸化物用11体の焼結体を作製した。
5m01、CuO粉末3mo +を充分混合して、90
0℃、10時間の条件で焼成して反応させ、さらにこの
焼成物を酸素雰囲気中で800℃、24時間の条件で熱
処理して散水空席に酸素を導入してY−Ba−Cu−0
系酸化物用11体の焼結体を作製した。
次いで、この酸化物超電導体の焼結体をターゲットとし
て用いて、部分安定化ジルコニアからなる基板上にスパ
ッタリングにより成膜した後、この基板を酸素雰囲気中
で900℃× 1時間+500℃×10分間の条件で焼
成して、酸化物超電導体薄膜を作製した。得られた薄膜
の厚さは、5μmであった。
て用いて、部分安定化ジルコニアからなる基板上にスパ
ッタリングにより成膜した後、この基板を酸素雰囲気中
で900℃× 1時間+500℃×10分間の条件で焼
成して、酸化物超電導体薄膜を作製した。得られた薄膜
の厚さは、5μmであった。
この酸化物超電導体薄膜の超電導特性を測定したところ
、抵抗率が零となる温度は90にであった。
、抵抗率が零となる温度は90にであった。
次に、この酸化物超電導体薄膜に酸素イオンビームを入
射エネルギー200keVに調整しで照射し、酸化物超
電導体薄膜内に酸素イオンを1.0X1016個/Cノ
打込んだ。
射エネルギー200keVに調整しで照射し、酸化物超
電導体薄膜内に酸素イオンを1.0X1016個/Cノ
打込んだ。
このようにして酸素イオンを打込んだ酸化物超電導体薄
膜の抵抗率が零となる温度を測定したところ、120に
と約3O%強向上していた。
膜の抵抗率が零となる温度を測定したところ、120に
と約3O%強向上していた。
[発明の効果]
以上の実施例からも明らかなように、本発明の酸化物超
電導体の改質方法によれば、酸化物超電導体表面にイオ
ンを所定量打込むことによって、結晶中のCu−0結合
を選択的に切断することが可能となり、これにより臨界
IIIが向上する。このように、臨界温度をより高くす
ることによって、液体窒素の沸点との差が大きくなり、
より安定して超電導状態が利用できるようになる。
電導体の改質方法によれば、酸化物超電導体表面にイオ
ンを所定量打込むことによって、結晶中のCu−0結合
を選択的に切断することが可能となり、これにより臨界
IIIが向上する。このように、臨界温度をより高くす
ることによって、液体窒素の沸点との差が大きくなり、
より安定して超電導状態が利用できるようになる。
出願人 株式会社 東芝
代理人 弁理士 須 山 佐 −
Claims (8)
- (1)酸化物超電導体の表面にイオンビームを照射して
イオンを打込むことにより、前記酸化物超電導体の結晶
構造内に照射損傷を導入し、臨界温度を向上させること
を特徴とする酸化物超電導体の改質方法。 - (2)前記イオンビームの入射エネルギーが、50ke
V〜500keVの範囲であることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の酸化物超電導体の改質方法。 - (3)前記イオンの打込み量が、1×10^1^5個/
cm^2〜1×10^1^8個/cm^2であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の酸化物超電導体
の改質方法。 - (4)前記イオンが、酸素イオンであることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の酸化物超電導体の改質方
法。 - (5)前記酸化物超電導体が、酸化物超電導体薄膜であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の酸化物
超電導体の改質方法。 - (6)前記酸化物超電導体は、希土類元素を含有するペ
ロブスカイト型の酸化物超電導体であることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の酸化物超電導体の改質方
法。 - (7)前記酸化物超電導体は、希土類元素、Baおよび
Cuを原子比で実質的に1:2:3の割合いで含有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の酸化物超
電導体の改質方法。 - (8)前記酸化物超電導体は、LnBa_2Cu_3O
_7_−_δ(Lnは希土類元素から選ばれた少なくと
も1種の元素を、δは酸素欠陥を表す。)で示される酸
素欠陥型ペロブスカイト構造を有する酸化物超電導体で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の酸化
物超電導体の改質方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62314366A JPH01157480A (ja) | 1987-12-11 | 1987-12-11 | 酸化物超電導体の改質方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62314366A JPH01157480A (ja) | 1987-12-11 | 1987-12-11 | 酸化物超電導体の改質方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01157480A true JPH01157480A (ja) | 1989-06-20 |
Family
ID=18052470
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62314366A Pending JPH01157480A (ja) | 1987-12-11 | 1987-12-11 | 酸化物超電導体の改質方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01157480A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8182862B2 (en) * | 2003-06-05 | 2012-05-22 | Superpower Inc. | Ion beam-assisted high-temperature superconductor (HTS) deposition for thick film tape |
-
1987
- 1987-12-11 JP JP62314366A patent/JPH01157480A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8182862B2 (en) * | 2003-06-05 | 2012-05-22 | Superpower Inc. | Ion beam-assisted high-temperature superconductor (HTS) deposition for thick film tape |
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