JPH01153945A - 原反検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産−上の１　′ この発明は、紙・フィルム・布等の原反を検査するため
の原反検査装置に関する。

１１飢１虹 従来から各種の印刷エラー検出装置が提案されている。

その印刷エラー検出装置を用いて原反の検査を行うこと
ができる。例えば、本出願人は特願昭６２−１９４３７
６において従来の印刷エラー検出装置を用いた紙質の検
知方法について開示している。

明が　°しようと　る。　１、 印刷エラー検出装置を用いて原反の検査を行う場合に、
次のような問題点がある。

一般に、印刷エラー検出装置は、センサーとして受光素
子を用い受光間を電気信号に変換し、その電気信号を電
子回路で処理することにより印刷エラーの判定を行う。

原反のごく小さな汚れや僅かな色調の変化を検出するた
めには、信号の増幅率を大きくする必要がある。増幅率
を大ぎくすると、センサーの温度ドリフトやノイズの影
響を受は易くなる。

そのため誤動作を起こし易く、信頼性が低下する。従っ
て、増幅率には上限があり、ある稈１■大きな汚れしか
検出することができない。

また、印刷エラー検出装置は、原反の検査に不必要な論
理回路や複雑なメ［リ−を備えているので高価である。

高価な印刷エラー検出装置を原反検査に転用する場合に
は、非常にロス１−高になる。

泣Ｉ’ｌｌ　ａＬ圧追− このような問題点に鑑み、非常に小さな汚れや僅かな色
調の変化を検出することが可能で信頼性が高く、しかも
低コストで装造でさる原反検査装置を提供することがこ
の発明の目的である。

ｆＬｕと１七− ｎＱ述の目的を達成するために、この発明は特許請求の
範囲第１項に記載の原反検査装置を要旨としている。

らＶｕ、を　戸するための− 本発明の原反検査装置は原反を送りながら発光素子から
発光した光を原反表面に照射１）、原反表面に想定した
多数の画素からの反則光を各画素に相当する多数の受光
素子により検出し、受光素子の出力信号を差動増幅器に
入出し、別に設けたしきい値設定器の信号と差動増幅器
の出力信号をコンパレータに入クツｒる（１４成にする
。

丸１１ 以下、図面を参照して本発明の原反検査装置の実施例に
ついて説明する。

原反検査装置はセンサーを備えている。センサーは内部
に複数の受光素子や発光素子を備えていて、発光素子か
ら発光した光を原反にあててその反射光を受光素子で受
けて電気量に変換して印刷面を監視するためのものであ
る。このようなセンサーの内部構造は、特開昭６０−１
２５０７号公報、特開昭６０−５８５３４号公報等に開
示されているような各種の具体例を採用できるが、ここ
では本件発明の特徴に直接関係しないので説明を省略す
る。

第１図は本発明による原反検査装置の実施例の一部分を
示している。

紙（フィルム、布等でもよい）の原反Ａは一定の方向Ｘ
に送られる。原反△の表面の上方にはセンサー１０が設
けであるが、見易くするため受光素子のみを示し、発光
素子は省略した。原反Ａにはレン丈−１０の発光素子か
ら光が照射されている。２０個の受光素子は原反の幅方
向に２列に配置されている。受光素子［）ｉ　、　Ｑｉ
　’　　（ｉ　＝　１〜ｎ　）としてはホトトランジス
タやＣＯＤ等を用いることができる。

原反の画素Ｂｉ及びＢｉ　’　　（ｉ　＝１〜ｎ　＞か
らの反射光は、受光索子Ｄ　ｉ及びＤｉ′に検出される
。なお、画素とは原反表面上に仮想した領域を意味する
。

原反は一定方向Ｘに定速で送られるので、原反表面から
の反射光が次々に受光素子Ｄｉ、Ｄｉ′に検出され、原
反全表面の検査が行われることになる。

第２図は第１図に示した原反検査装δの主要部のブロッ
ク図を示している。

受光素子［）ｉ　、　［）ｉ　’　は原反の画素Ｂｉ、
３ｉ　ｌの状態（汚れのあるなし等）に応じた電気信号
を出力する。ＤｉとＤ　ｉ　ｌからの出力信号は差動増
幅器Ｃ１（ｉ＝１〜ｎ）に送られ、両者の差が所定の増
幅率で増幅される。

差動増幅器Ｃ１の増幅率は任意に調整可能である。。

第３図は差動増幅器Ｃ１からの出力信号の一例を示して
いる。出力信号の大きな変動は画素Ｂｉ　、　Ｂｉ　’
　に汚れが存在していたことを示している。この出力信
号としきい値設定３Ｆで予め設定しであるしきい値とが
コンパレータＥｉ（ｉ＝１〜ｎ）に送られる。

しきい値は、検出したい汚れの大きさ、汚れの濃淡等に
応じて適当な値に設定しておく。

差動増幅器Ｃ１からの出力信号の山（または谷でもよい
）がしきい値（第３図で破線で示した）よりも大きい時
に、コンパレータＥｉは信号１を出力する。第３図に示
した差動増幅器の出力に対応したコンパレータＥｉの出
力波形を第４図に示す。

このように、２つの隣接する画素Ｂｉ　、　Ｂｉ′の原
反表面の状態を、ｉ＝１からｉ＝ｎまで比較することに
にす、原反表面所定幅に存在する汚れの存在を検知する
ことができる。

原反は、一方向に送られているので、前述の比較を連続
的に行えば、原反表面所定領域に存在する汚れの存在を
検知できる。

コンパレータＦｉの出力は、出力装置Ｇに送られ、出力
装置は汚れが存在したことをオペレータに知らせる。出
力装置は汚れを検知した受光素子を表示するようにして
もいいし、汚れがあったことのみを表示してもよい。出
力装置にブザー等を設けてもよい。また、出力装置を不
良原反の扱き取り装置に接続し、原反を切断した後で、
汚れのある原反を自動的に抜き取るようにしてもＪ：い
。

この実施例では、原反Ａの送り方向で隣接する２つの画
素について、その反射光を検出したが、原反Ａの幅方向
で隣接する２つの画素について比較を行ってもよい。ま
た、任意の２つの離れた画素について比較を行ってもよ
い。

第５図はこの発明による原反検査装置の他の実施例を示
している。

受光素子Ｄｉ（ｉ＝１〜ｎ）及び［）ｏの配置と受光素
子ＤＯに接続した分配器Ｈが前述の実施例と異なるので
、その点についてのみ説明する。

ｎ個の受光素子が、原反の幅方向に一列に配置しである
。受光素子ＤＯは、１つだけ少し離れた地点に設けであ
る。

受光素子（）０の出力は分配器Ｈに送られる。

分配器Ｈは受光素子ＤＯの出力信号をｎ個の差動増幅器
Ｅｉ　（ｉ＝１〜ｎ）に分配する。

差動増幅器では受光素子Ｄｉからの信号と受光素子ＤＯ
からの信＠（分配器から送られた信号）の差を任意の増
幅率で増幅づる。

画素Ｂ＋　〜Ｂｎ　　（ｉ　＝１〜ｎ　）からの反射光
（受光素子Ｄ１〜［）ｎで検出される）と画素ＢＯから
の反射光（受光素子ＤＯで検出される）とが比較される
ので、画素ＢＯは参照画素としての役割を持つ。

参照画素は第５図では原反の中央部に配置したが、原反
の端部やその他の部分に設けてもかまわない。一連の画
素８１〜ａｎと同列に配置してもよい。

この構成にすると、前述の実施例にくらべて受光素子の
数を少なくできるので製造コストをより低くできる利点
がある。

この参照画素として、送られている原反とは別の固定さ
れた原反Ａｊを用いてもよい。

第７図にこの変形例を示した。他の構成は、第５図に示
した実施例と同じである。

第７図の実施例は、基準とする色調の原反Ａ１の一部を
参照画素ＢＯ′として用い、次々に送られてくる原反の
色調を調べるのに都合がよい。この場合にも、しきい値
をその用途に適合するように設定することが必要である
。もちろん、汚れの検出にも利用できる。

この発明は、前述した実施例に限定されない。例えば、
発光素子はセンサー１０と別に設けてもよい。また、原
反上に想定する画素（受光素子の受光領域）は矩形でな
くてもよい。

泣訓し富力」し 任意の２つの画素（原反上に仮想した領域）からの反射
光を受光素子で検知し、その出力信号を差動増幅器で増
幅することにより、増幅率を上げてもノイズやセンサー
の温度ドリフト等の影響を少なくできる。従って、小さ
な汚れやわずかな色調の違いを確実に検知することがで
きる。また、画素のサイズ（受光素子のサイズ）に比較
し、小さな汚れを確実に検出できる。さらに、従来の印
刷エラー検出装置のように複雑な論理回路やメモリーを
必要としないので製造コストを非常に低くできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による原反検査装置の実施例の一部分を
示ず図、第２図は第１図に示した実施例のブロック図、
第３図は差動増幅器出力信号の１例を示す図、第４図は
第３図の差動増幅器の出力信号に対応するコンパレータ
出力信号を示す図、第５図は本発明による原反検査装置
の他の実施例の一部を示す図、第６図は第５図に示した
実施例のブロック図、第７図は本発明のさらにほかの実
施例の一部を示す図である。 Ｑｏ、Ｑｉｌ［）ｉ’ （ｉ＝１〜ｎ）０．、受光素子 ３ｏ、３ｏ’　、３ｉ１３ｉ’ （ｉ＝１〜ｎ＞、、、画素

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 原反を送りながら発光素子から発光した光を原反表面に
   照射し、原反表面に想定した多数の画素からの反射光を
   各画素に対応する多数の受光素子により検出し、受光素
   子の出力信号を差動増幅器に入力し、別に設けたしきい
   値設定器の信号と差動増幅器の出力信号をコンパレータ
   に入力する構成にした原反検査装置。