JPH01152387A - レーザドツプラ速度計 - Google Patents

レーザドツプラ速度計

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JPH01152387A
JPH01152387A JP16206588A JP16206588A JPH01152387A JP H01152387 A JPH01152387 A JP H01152387A JP 16206588 A JP16206588 A JP 16206588A JP 16206588 A JP16206588 A JP 16206588A JP H01152387 A JPH01152387 A JP H01152387A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。
A産業上の利用分野 B発明の概要 C従来の技術(第6図) D発明が解決しようとする問題点(第6図)E問題点を
解決するための手段(第1図〜第3図)F作用(第1図
) G実施例 (G1)第1の実施例(第1図) (G2)第2の実施例(第2図) (G3)第3の実施例(第3図及び第4図)(G4)第
4の実施例(第5図) (G5)他の実施例 H発明の効果 A産業上の利用分野 本発明はレーザドツプラ速度計に関し、特に被測定対象
からの反射光ビームに生ずるドツプラ効果を利用するも
のである。
B発明の概要 本発明は、レーザドツプラ速度計において、光変調器を
正弦波変調信号によって変調動作させることにより高い
精度で測定結果を得ることができる。
C従来の技術 従来、この種のレーザドツプラ速度計においては、被測
定対象として例えば移動体、振動体、流体等の速度(す
なわち移動体においては移動速度、振動体においては振
動速度、流体においては流速でなる)を測定するように
なされたものがある(電子通信学会研究報告0QE85
−160.25頁〜3o頁)。
すなわち、被測定対象にレーザ光源から得られる光ビー
ムを照射すると、被測定対象の速度に応じて周波数が偏
移した反射光ビームを得ることができる。
従って被測定対象に照射した光ビームに対する反射光ビ
ームの周波数偏移量を測定すれば、被測定対象の速度を
測定することができる。
レーザドツプラ速度計においては、かかる測定原理に基
づいて、レーザ光源から得られる光ビームに対して所定
量だけ周波数偏移した参照光ビームを形成し、当該参照
光ビームを基準にして反射光ビームの周波数偏移量を測
定することにより、被測定対象の速度を測定するように
なされている。
すなわちレーザドツプラ速度計においては、誘電体基板
上に導波路を間に挾んで電極が形成されるようになされ
た光変調器に、レーザ光源から射出された光ビームを入
射して参照光ビームを得ると共に被測定対象に光ビーム
を照射して反射光ビームを得る。
光変調器においては、電極間の印加電圧に応じて導波路
の屈折率が変化することから、入射光ビームに対して印
加電圧に比例して位相が変化した射出光ビームを得るこ
とができる。
従って当該印加電圧v1を次式 %式%(1) の関係式で表されるように、電圧増加率aで単調増加す
るようにすれば、入射光ビームL、の角周波数を値ω、
とおき、振幅値を値E3、比例定数を値にとおいて、次
式 %式%) の関係式で表される値kaだけ周波数が偏移した電界強
度A I (。の参照光ビームを得ることができる。
従って第6図に示すように、電極間に鋸歯状波信号S1
を印加して当該鋸歯状波信号s1の最大電位差V +*
ax及び最小電位差V1,7との間で入射光ビームに対
して参照光ビームの位相差が3600変化するように設
定すれば、鋸歯状波信号S、の繰り返し周波数を角周波
数ω2で表し、振幅値を値E、とおいて、次式 %式%(3) の関係式で表される角周波数ω2だけ周波数が偏移した
電界強度Az(t+の参照光ビームを得ることができる
これに対して反射光ビームは、被測定対象の速度に応じ
て周波数が偏移することから、当該測定光ビーム及び参
照光ビームを光検出素子に入射するようにすれば、当該
光検出素子を介して参照光ビームを形成する際に用いた
鋸歯状波信号の周波数を中心周波数にして、被測定対象
の速度に応じて周波数偏移する周波数変調信号を得るこ
とができる。
かくして、当該光検出素子の出力信号を鋸歯状波信号の
周波数を中心周波数にしてF M (frequenc
y modulation)復調することにより、被測
定対象の速度を測定することができる。
D発明が解決しようとする問題点 ところが、この種のレーザドツプラ速度計においては、
波形歪が極めて小さくかつ信号レベルが極めて高い精度
で所定の信号レベルに保持された鋸歯状波信号を形成す
る必要がある。
すなわち、鋸歯状波信号に波形歪が生じたり、その信号
レベルが変化すると、参照光ビームの周波数特性が劣化
して、当該参照光ビームに多くの高調波成分が含まれる
ようになる。
光検出素子を介して得られる周波数変調信号が鋸歯状波
信号を中心周波数として被測定対象の速度に応じて周波
数偏移する周波数変調信号でなることから、このように
高調波成分が生じると、中心周波数に対して多くのKE
N波信号成分が発生することにより測定結果の精度が劣
化する結果になる。
実際上被測定対象が10 (m/5ec)程度の移動速
度の移動体の場合においては、鋸歯状波信号として周波
数が10 (MHz)程度で波高値が数10(V)程度
の鋸歯状波信号を印加する必要がある。
ところが、光変調器の電極に鋸歯状波信号を印加する場
合に、このように周波数及び信号レベルの大きな鋸歯状
波信号を波形歪を生じることなく印加することは実用上
困難で、結局サイドバンドの発生を避は得ない。
さらに、光検出素子を介して得られる周波数変調信号が
鋸歯状波信号の周波数を中心周波数にする周波数変調信
号でなることから、速度の速い被測定対象を測定する場
合においては、その分鋸歯状波信号の周波数を高くする
必要があり、このような場合においては一段と波形歪が
大きくなって測定結果の精度が低下する。従って実用上
この種のレーザドツプラ速度計においては、速度の速い
被測定対象の速度を測定することが困難な問題があった
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、高い精度
で測定結果を得ることができると共に速度が速い被測定
対象の場合でも、その速度を確実に測定することができ
るレーザドツプラ速度計を提案しようとするものである
E問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため第1の発明においては、レ
ーザ光源4から射出された光源用光ビームLAIを被測
定対象3に照射してその反射光によって測定光ビームL
A、を得ると共に、光源用光ビームL A +を光変調
器12に入射して参照光ビームLA3を得、参照光ビー
ムLA3及び測定光ビームLA、を含む合成光を光検出
手段21によって光検出信号S0に変換し、この光検出
信号S0に基づいて被測定対象3の速度を測定するよう
になされたレーザドツプラ速度計DEVにおいて、光変
調器12を正弦波変調信号S2によって変調動作させる
ことにより光検出信号S0に正弦波変調信号S2に対応
する周波数変調信号成分を生じさせる測定光学系DEV
 lと、周波数変調信号成分から測定結果信号を形成す
る測定信号形成回路DEV2とを設けるようにする。
また第2の発明においては、測定信号形成回路DEV2
は、光検出信号S0に基づいて正弦波変調信号S!の角
周波数ωコの奇数倍又は偶数倍の角周波数を有する周波
数変調信号成分を発生させ、この周波数変調信号成分を
復調することにより測定結果信号を形成するようにする
さらに第3の発明においては、測定信号形成回!8DE
V2は、光検出信号S0に基づいて正弦波変調信号Si
の角周波数ω、のM/N倍(M、 Nは整数)の角周波
数を有する周波数変調信号成分を発生させ、この周波数
変調信号成分を復調することにより測定結果信号を形成
するようにする。
F作用 光変調器12を正弦波変調信号S2によって変調動作さ
せるようにしたことにより、従来のように高調波成分が
生じることによって測定精度が劣化するようなおそれを
有効に回避することができる。
G実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
(G1)第1の実施例 第1図において、DEVは全体としてレーザドツプラ速
度計を示し、測定光学系DEV 1及び測定信号形成回
路DEV2を有し、駆動回路2によって駆動されるスピ
ーカ3の振動面を被測定対象として、その振動速度を測
定する。
レーザ光源4から射出された光源用光ビームLA1は誘
電体材料でなる基板5上に形成された導波路6、分岐部
7、導波路8を通って分岐部9に導かれ、導波路10及
び1)によって分岐して光変調器12に入射する。
光変調器12は、基板5上に形成された導波路13を間
に挟んで対向する一対の電極14を有し、導波路13の
一端を導波路1)に接続すると共に、他端を基板5の端
面に形成されたミラ一部15に接続する。
かくして分岐部9で分岐されて光変調器12に入射され
た光ビームは、ミラ一部15で反射された後、再び光変
調器12を通って分岐部9に向かって射出される。この
ようにして光源用光ビームL A tが電極14間を通
過する間に、光変調器12はその位相を偏移させること
により参照光ビームLA、を形成し、これを導波路1)
、分岐部9、導波路8を介して分岐部7に戻して、導波
路20を介してPINホトダイオードでなる光検出素子
21に射出させる。
光変調器12の電極14は駆動回路22に接続され、 
当該駆動回路22に供給される基準信号S、に基づいて
、次式 %式%(4) のように、振幅V、角周波数ω、をもつ信号レベルV 
(tl の正弦波変調信号S2が印加されることにより
、光変調器12が変調動作する。
その結果光変調器12を介して得られる参照光ビームL
A、は、複素振幅E 、 、、、を有し、光源用光ビー
ムL A +の波長を値λ、電極14の間隔及び長さを
それぞれ値d−及びし、基板5の屈折率を値n、電気光
学定数を値rとしたとき、次式で表される値Btを用い
ると共に、初期位相を値φ8、振幅値を値E3とおいた
とき、次式%式%)) で表されるような変化をする。
これに対して導波路lOに導かれた光源用光ビームLA
、は基板5の端面に取り付けられたセルフォックマイク
ロレンズ23を介してスピーカ3の振動面に照射され、
その反射光ビームL A aがセルフォックマイクロレ
ンズ23、導波路10、分岐部9、導波路8を介して分
岐部7に戻った後、導波路20を通って参照光ビームL
 A 3と合成されて光検出素子21に入射される。
従って、スピーカ3における振動面について振幅値を値
A、角周波数を値ω4としたとき変位A (1)を、次
式 %式% の関係式で表すと、測定光ビームLA4の複素振幅E4
(t、は、振幅値をE4として、次式E4+t+ =E4exp (3−((+J+t+A、sinω、t
+φ4))・・・・・・ (8) のように表すことができる。
ここで、振動面の変位A (tl に基づいて測定光ビ
ームLA、に生ずる信号成分は、ドツプラ効果によって
振動面の変位A (tl の変位速度(すなわち変位A
+t+ の微分値)に対応する値になるから、当該信号
成分を初期位相φ4と共にA、sinω4tの項として
表すことができる。ただし、A、=−・4faA   
     ・・・・・・(9)λ 2πfa=ω4         ・・・・・・(10
)である。
従って光検出素子21の出力端には、参照光ビームLA
I及び測定光ビームLA、の合成光を2乗検波したと同
様の光検出信号S0が得られ、これが(6)式及び(8
)式に基づいて、次式5O(t) = l E3+t+ + E4(Ll l ”= (E
、cos(帽t+13,5inω、t+φj)+ E4
.cos(a+1 t + A、sinω4t+φ4)
)2+  (E、5in(ω+t+B、sin ω3 
t + φ;奪)+ E4sin(ω1 t + A、
sinω4t+φ4))z=E3” (cos”(ω、
t+B+sinω3t+φ、)+sin”(ω、を十B
+sinω3t+φ3))+ Ea” (cos”(ω
+j+A+Sinω4t+φ4)+sin”(ω+ t
 + A 1sinω4t+φ4))+2Ex−E4c
os(ω、t +B、sinωxt+φ3)−cos 
(ω、t+A、sinω4t+φ4)+ 2 Ez・E
tsin(ω、 t +B、5in(d3t+φ3)・
5in(ω、t +A、sinω4t+φ4)= Ez
”+ Ea” + 2 F、+・E4cos(B+sinω3 t−A
、sinω4t+Δφ) ・・・・・・ (1)) ただし Δφ=φ2−φ1        ・・・・・・(12
)の関係式で表される信号レベルS。(tlを有する。
このように、光検出信号S0は、振幅値E、及びE4の
2乗和に比例した信号レベルの直流成分(すなわち右辺
第1項及び第2項でなる)に、右辺第3項の交流成分で
なる信号成分を重畳した信号成分をもっている。
そこで、(1))式の右辺第3項について余弦関数部分
だけを抽出して、次式 %式%(13) とおくと、次式 cos(Basinω、It−A、sinω4t+Δφ
)=(os(Blsinω:+1) ・cos(A +sinω4を一Δφ)+5in(B 
1Sinωst) ・5in(A +sinω4を一Δφ)・・・・・・(
14) のように展開することができる。従って(14)式は、
ノイマンの公式に基づいて展開することができ、その結
果(1))式の右辺第3項について当該余弦関数部分は
、次式 %式%) =  (J、)(B、)+2ΣJ z+a(B +)c
os(2m ω3 t ))0cos(Alsinω4
を一Δφ) ・5in(A、sinω4を一Δφ) ・・・・・・ (15) のように展開することができる。
このようにして、光検出素子21から得られる光検出信
号S0には、電極14に印加した正弦波変調信号S2の
角周波数ω、を基本周波数にして、その高調波成分が得
られると共に、当該高調波成分のサイドバンドにスピー
カ3における振動面の振動速度情報が含まれていること
が解る。
この実施例においては、かかる光検出信号S0から基本
周波数成分及びその2倍の周波数成分とを抽出して、振
動速度を測定するようになされている。
すなわちバンドパスフィルタ回路30は、光検出素子2
1の光検出信号S0を受ける中心周波数が正弦波変調信
号S2の角周波数ω、のバンドパスフィルタ回路で構成
され、その結果当該バンドパスフィルタ回路30から得
られる出力信号S。
の信号レベルS。L、は、(1))式及び(14)式か
ら、 S 3 (tl =2J+(B+)Ez・E4sinω、t・5in(A
、sinω、 を−Δφ)=J+(B1)Ez・B4 − Ecos (ωx t  (A+sinω4 t−
Δφ))−cos (ω、t +(A1sinω4t−
Δφ))]・・・・・・(16) になる。
これに対してバンドパスフィルタ回路31は、光検出素
子21の光検出信号S0を受ける中心周波数が正弦波変
調信号S2の角周波数ω3に対して2倍の角周波数2ω
、のバンドパスフィルタ回路で構成され、 その結果バ
ンドパスフィルタ回路31から得られる出力信号S4の
信号レベルS4.、は、(1))式及び(14)式から
、S4+tl =2Jz(B+)Ez・E4cos2ω2t・cos(
A 、sinω4t−Δφ)= J z(B +) E
s・B4 ・[cos (26)s t −(A+sinω4を一
Δφ))十cos (2(a+3t +(A、sinω
4t−Δφ))]・・・・・・(17) になる。
この出力信号S4は乗算回路32において基準信号Sc
を乗算され、その乗算出力信号を中心周波数が正弦波変
調信号S2の角周波数ω3に設定されたバンドパスフィ
ルタ回路33を介して出力信号S、として出力する。
かくして得られる出力信号S、はあたかも中心周波数が
正弦波変調信号8つの2倍の角周波数2ω3でなる信号
成分((17)式)を角周波数ω3に低周波変換したと
同様にして、次式 3式%() で表される信号レベル5Sct、をもっ。
増幅回路35、位相回路36及び増幅回路37、位相回
路38は、それぞれバンドパスフィルタ回路30及び3
3の出力信号S、及びs5の信号しベルが等しくなるよ
うに、当該出力信号S、及びS、を増幅した後、位相合
わせして加算回路39に出力する。
その結果、加算回路39を介して、定数C及びCI  
(CI =2C)を用いて、(16)式及び(18)式
から、次式 S b (L) =C,E、・E4 ・Ccos (ωi t−(A+sinω4t−Δφ)
)−cos (ω、 t + (A 、sinω4を一
Δφ))]+C,E3・E4 、[CO5((173t −(Atsinωa t−Δ
φ))+cos (ω2 j + (AISin(1)
a L−Δφ))]−C1・E3・E4 ・cos(ω3 t −(A、sinω、 t−Δφ)
)・・・・・・ (19) で表される信号レベルS b tt、の出力信号S6を
得ることができる。
かくして(19)式から、出力信号Shにおいては、正
弦波変調信号S2の角周波数ω3を中心周波数にして、
スピーカ3の変位に応じて周波数が偏移した周波数変調
信号が得られることが解る。
この出力信号S6はFM復調回路40によって復調処理
され、これによりスピーカ3の振動面の振動速度に対応
する測定出力をFM復調回路40から出力することがで
きる。
以上の構成において、レーザ光源4から射出された光源
用光ビームLA、は光変調器12において正弦波変調信
号S2によって変調処理され、これにより正弦波状に周
波数が偏移する参照光ビームLA3が形成される。
これに対して、光源用光ビームLA、をスピーカ3の振
動面に照射して得られる反射光ビームLA4は、参照光
ビームLA、と共に光検出素子21に導かれ、その結果
当該光検出素子21から反射光ビームLA、及び参照光
ビームL A xを2乗検波した光検出信号S0が得ら
れる。
この光検出信号S0のうち、 正弦波変調信号S2の角
周波数ω3を中心周波数とした信号成分が、バンドパス
フィルタ回路30、増幅回路35、位相回路36を介し
て加算回路39に入力され、これに対して正弦波変調信
号S2の角周波数ω。
に対して2倍の角周波数2ω、を中心周波数とした信号
成分がバンドパスフィルタ回路31において抽出され、
乗算回路32において角周波数ω3に低周波変換された
後バンドパスフィルタ回路33、増幅回路37及び位相
回路38を介して加算回路39に入力される。
その結果加算回路39を介して、正弦波変調信号S2の
角周波数ω3を中心周波数にして、スピーカ3の振動面
の変位に応じて周波数が偏移する周波数変調信号でなる
出力信号S6が得られ、FM復調回路40において復調
されることにより、スピーカ3の振動面の振動速度に対
応する測定出力を得ることができる。
以上の構成によれば、鋸歯状波信号に代えて正弦波変調
信号S2によって光変調器12を変調動作させて被測定
対象の速度を測定するようにしたことにより、従来避は
得なかった鋸歯状波信号の波形歪が原因になって生じる
測定精度の劣化を有効に回避することができる。
さらに正弦波変調信号S2を用いたことにより、当該正
弦波変調信号S2においては周波数を高くしても波形歪
の発生を有効に回避することができるので、被測定対象
の速度が速い場合には、単に周波数を高くするだけで、
測定精度を劣化させることなく速度を測定することがで
きる。
さらに鋸歯状波信号においては、波形歪がなくしかも高
い精度で信号レベルを維持するために、米麦調器12と
して駆動回路の構成が複雑なものを適用する必要がある
のに対して、上述の構成によれば、正弦波変調信号S2
を用いるようにしたことにより、駆動回路及び光検出素
子から得られる出力信号の信号処理回路の構成を一段と
簡略化し得る。
(G2)第2の実施例 第1図との対応部分に同一符号を付して示す第2図は、
本発明の第2の実施例を示し、光検出信号S0をバンド
パスフィルタ回路50に与えることにより、正弦波変調
信号S2の角周波数ω、の信号成分と、当該角周波数ω
、の2倍の角周波数2ω、の信号成分とを抽出して信号
処理するようにしたものである。
かくしてバンドパスフィルタ回路50の出力端には、上
述の(16)式及び(17)式によって求めることがで
きた信号成分S、。、及びS 4 (Llに基づいて、
次式 %式%( ))] の関係式で表される信号レベルS、。、の出力信号S、
を得ることができる。
この場合増幅回路51及び位相回路52は、基準信号S
Cを増幅すると共にその位相を調整することにより、振
幅値A、及び位相差φ、を用いて、次式 %式%(21) の関係式で表される信号レベルS B (t+の出力信
号S、を形成する。
また逓倍回路53、増幅回路54及び位相回路55は、
基準信号SCを2J倍した後、増幅すると共にその位相
を調整することにより、 振幅値A6及び位相差φ6を
用いて、次式 3式%(22) の関係式で表される信号レベルS、。、の出力信号S、
を形成する。
乗算回路56は、位相回路52及び55から出力される
出力信号S8及びS、を合成してバンドパスフィルタ回
路50の出力信号S7に乗算し、その乗算出力信号をバ
ンドパスフィルタ回路33を介してFM復調回路40に
出力する。
その結果乗算回路56から得られる乗算出力信号のうち
、正弦波変調信号S2の角周波数ω、と等しい中心周波
数の信号成分が抽出されてFM復調回路40に入力され
る。
すなわち、バンドパスフィルタ回路33の出力端には、
(20)式の右辺第1項で表される角周波数ω、の信号
成分と(22)式で表される角周波数ω、の信号成分と
を乗算した結果得られる信号成分のうちの中心周波数ω
3の信号成分と、(20)式の右辺第2項で表される角
周波数ω、の信号成分と(21)式で表される角周波数
ω3の信号成分とを乗算した結果得られる信号成分のう
ちの中心周波数ω、の信号成分との和信号S1゜が得ら
れる。
従ってバンドパスフィルタ回路33の出力信号S1゜と
じて、 S + o (t+ =AS・Jz(B+)Ea・E4 ・C03(C3t−φ5)cos(A +sinω4を
一Δφ)−A b・J + (B I)−E 3・E4
・5in(ωzt−φh)sin(A +sinω4を
一Δφ)=−A、・Jz(B+)Ex・E4 ・[cos (C3を一φS −(A 、sinω、を−Δφ)) +cos (ω、を一φ5 + (A +sinω、を一Δφ))]−−A6・Jl
(Bl)E3・E4 °[cos  (C3を一φ。
−(A、sinω4を一Δφ)) +CO5(C3t−φ。
+(A+sinω4t−Δφ))] ・・・・・・ (23) の関係式で表される信号レベルS1゜+1)の出力信号
S1゜を得ることができる。
従って増幅回路51及び54の利得を所定の利得に設定
して、次式 %式%(24) の関係式が得られるように出力信号S、及びS。
の信号レベルSa+t+及びS q (Llを所定の値
に設定すると共に位相回路52及び55の移相量を調整
して、次式 %式% の関係式が得られるように出力信号Sa及びS。
の位相差を所定の値に設定することにより、(23)式
から、次式 S + a +t> ==A、・JZ(Bl)E3・E4 ・C08(ω!t+A、sinω4t+φ、6−Δφ)
・・・・・・(26) の関係式で表される信号レベル310(t)の出力信号
310を得ることができる。
かくして、正弦波変調信号S2の角周波数ω3を中心周
波数にして振動面の変位に応じて周波数が偏移する周波
数変調信号を得ることができ、FM復調回路40を介し
て復調することにより、振動面の振動速度を測定するこ
とができる。
第2図の構成によれば、第1の実施例の場合と同様の効
果を得ることができ、かくするにつき、正弦波変調信号
S2の角周波数ω、を中心周波数とした信号成分と、そ
の2倍の角周波数2ω3を有する信号成分とに分離しな
くても良い分、全体としての構成を簡易化し得る。
(G3)第3の実施例 第2図との対応部分に同一符号を付して示す第3図は、
本発明の第3の実施例を示す。この場合乗算回路56に
は、基準信号S、を1/2逓降回路61.増幅回路62
、位相回路63を介して得られる出力信号31)を、バ
ンドパスフィルタ回路50から得られる出力信号s、(
(20)式)を乗算する。
ここで1/2逓降回路61は基準信号Scの角周波数を
172に逓降することにより、出力信号S、として次式 %式%( のように角周波数がω、/2、振幅A7及び位相差φ7
の出力信号S、を得る。
その結果乗算回路56の出力端には次式3式%() ))] ))] −(A+sinω4t−Δφ)) +cos (−ω3t + (A 、sinω4t−Δ
φ)一φ7)コ A?J2(Bl)E3・E4 +(A+sinω4を一Δφ)) 一φ、)コ ” A ? J z (B + ) E 3・E4−(
A+sinω4を一Δφ)) +cos (二ω:+t  (A+sinω4を一Δφ
)一φ7) ] ” A 7 J z (B + ) E 3・E4+(
A、sinω4t−Δφ)) +cos  (−ω3 t + (A +Sinω4を
一Δφ)一φ、)] ・・・・・・ (28) のように、正弦波変調信号S2の角周波数ω3に対して
3/2倍の角周波数3ω3/2の信号成分を含んでなる
出力信号S1□が得られる。
この出力信号SI□のうち、角周波数3ω、/2の信号
成分は、当該角周波数を中心周波数とするバンドパスフ
ィルタ回路64において抽出され、これによりバンドパ
スフィルタ回路64の出力端に次式 %式% : )] )] で表される出力信号Sllを得る。
ここでパラメータについて、 J +(B +) = 
J z(Bl)、かつφ、=0、π、2π、3π・・・
・・・のように選定すれば、(29)式は Exs<t+ =AtJ+(B+)E:+・E4 ・cos (−ω3t−(A+sinω4t−Δφ))
・・・・・・(30) のように簡略化した数式によって表現できる。
因にJ l(B l) = J 2(B I)の条件は
、第4図から明らかなように、B+=2.6においてこ
の条件が成り立つことが解る。
ところがB1の値は(5)式で表されるように、正弦波
変調信号S2の電圧振幅Vによって決まるような関係を
もっている。
従って正弦波変調信号S2の振幅Vを調整することによ
ってB、 =2.6  (従ってJ、(Bl)=J2(
B 、))になるように駆動回路22を調整すれば、(
30)式によって表されるように、中心周波数が3ω3
/2の周波数変調信号形式の出力信号をバンドパスフィ
ルタ回路64から得ることができ、これによりFM復調
回路40において、スピーカ3の振動面の振動速度を表
す測定信号を容易に復調することができる。
なお、出力信号S13を得るにつき、その位相差φフを
φ7=0、π、2π、3π・・・・・・に選定するよう
にしたことに代え、φ7=π/2.3π/2.5π/2
・・・・・・のように選定しても(30)式について上
述したと同様の周波数変調信号形式の出力信号S13を
得ることができる。
(G4)第4の実施例 第1図〜第3図の実施例においては、誘電体材料基板5
上に形成した光学素子を用いてドツプラ信号を含んでな
る光検出信号S0を得るようにした測定光学系を適用し
たが、これに代え、第5図に示すような構成のトワイマ
ングリーン型干渉計を通用しても良い。
第5図の構成の検出装置は、第1図との対応部分に同一
符号を付して示すように、レーザ光源4から射出された
光ビームL A sをハーフミラ−構成のビームスプリ
ッタ71において振動子72の方向に折り曲げ、振動子
72において反射された反射光ビームLA、をビームス
プリッタ71を透過させて参照光ビームLA、として光
検出素子21に入射する。
光源4の光ビームLAsのうちビームスプリッタ71を
透過した光は被観測対象としてのスピーカ3に入射し、
その振動面から反射した反射光ビームLA、がビームス
プリッタ71において光検出素子21の方向に折り曲げ
られて測定光ビームLA9として光検出素子21に入射
する。
第5図の構成において、振動子72を駆動回路22の正
弦波変調信号S2によって振動させると、その振動面が
次式 %式%(31) のように、正弦波変調信号S2の角周波数ω、で変化す
るような偏移Ji D (Ll で変位する。
その結果参照光ビームLA?は、 E It IL) =E、exp(j・(ω、t+Dsinω、t+φ6)
)・・・・・・(32) のように光′rA4の光ビームLAS角周波数ω、の成
分と、正弦波変調信号S2の角周波数ω3の信号成分と
、初期位相φ8、振幅値EIlによって駆動振幅Es(
t)によって表すことができるような変化を呈する。
(31)式及び(32)式の関係は、第1図の検出装置
において(4)式及び(6)式について上述した関係と
等価な関係をもっている。
これに加えてスピーカの振動面からの反射光ビームLA
、及び測定光ビームLA9の関係は、第1図の検出装置
において(7)式及び(8)式について上述したと等価
な関係をもっている。
かくして第5図の構成の検出装置は、原理上第1図〜第
3図について上述した構成の検出装置と等価な方角的な
機能をもっており、従って第4の実施例においても、第
1図〜第3図について上述したと同様の作用効果を得る
ことができる。
(G5)他の実施例 1))  第1図及び第2図の実施例においては、光検
出素子21の光検出信号から正弦波変調信号S2の角周
波数ω、をもつ信号成分と、その2倍の角周波数2ω、
をもつ信号成分上を抽出して信号処理する場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、例えば2倍の角周波
数2ω、の信号成分と、3倍の角周波数3ω、の信号成
分とを抽出して信号処理しても良く、要は正弦波変調信
号S2の角周波数ω3に対して、奇数倍の角周波数ω3
.3ω1.5ω、・・・・・・をもつ信号成分と、偶数
倍の角周波数2ω3.4ω、・・・・・・をもつ信号成
分とを併せて信号処理すれば良い。
(2)第1図〜第3図の実施例においては、1つの基板
5上にレーザ光源4から得られる入射光ビームLA、を
分岐及び合成する分岐部7.9及び導波路6.10.1
).20と、光変調器12とを一体に構成した場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、別体に構成する
ようにしても良い。
(3)第1図〜第3図の実施例においては、導波路を間
に挟んで一対の電極14を対向するようになされた光変
調器12を用い、また第5図の実施例においては、振動
子72を光変調器として用いた場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、要は正弦波変調信号S2を印加
してそれに応じて正弦波状に周波数が偏移するような変
調光を得ることができるような光変調器を広く適用する
ことができる。
(4)  上述においては本発明を、スピーカ3の振動
面の振動速度を測定する場合に通用した実施例について
述べたが、本発明はこれに限らず移動物体の移動速度、
流体の流速等ドツプラ効果を利用して速度を測定するよ
うになされたレーザドツプラ速度計に広く通用すること
ができる。
(5)第2図及び第3図の実施例において、乗算回路5
6に角周波数ω、及びω4の信号成分を含んだ出力信号
S7を入力するにつき、バンドパスフィルタ回路50に
よって他の角周波数の信号成分を除去するようにしたが
、これに代え、バンドパスフィルタ回路50を省略して
検出信号S0を直接乗算回路56に入力するようにして
も、上述の場合と同様の効果を得ることができる。
H発明の効果 上述のように本発明によれば、光変調器を正弦波変調信
号によって変調動作させることにより、周波数が正弦波
状に偏移する参照光ビームを形成し、この参照光ビーム
に基づいて被測定対象の速度を測定するようにしたこと
により、簡易な構成で精度の高い測定結果を得ることが
できると共に、速度の速い測定対象でも確実に速度を測
定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は本発明によるレーザドツプラ
速度計の第1、第2、第3の実施例を示す路線的系統図
、第4図は第3図の実施例における設定条件の説明に供
する信号波形図、第5図は本発明の第4の実施例を示す
路線的系統図、第6図は従来技術の説明に供する信号波
形図である。 3・・・・・・スピーカ、4・・・・・・レーザ光源、
5・・・・・・基板、6.8.10.1).13.20
・・・・・・導波路、7.9・・・・・・分岐部、12
・・・・・・光変調器、21・・・・・・光検出素子、
30.31.33.50・・・・・・バンドパスフィル
タ回路、32.56・・・・・・乗算回路、35.37
.51.54.62・・・・・・増幅回路、36.38
.52.55.63・・・・・・位相回路、40・・・
・・・FM復調回路、53・・・・・・逓倍回路、61
・・・・・・逓降回路、DEV・・・・・・レーザドツ
プラ速度計。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザ光源から射出された光源用光ビームを被測
    定対象に照射してその反射光によつて測定光ビームを得
    ると共に、上記光源用光ビームを光変調器に入射して参
    照光ビームを得、上記参照光ビーム及び測定光ビームを
    含む合成光を光検出手段によつて光検出信号に変換し、
    上記光検出信号に基づいて上記被測定対象の速度を測定
    するようになされたレーザドップラ速度計において、 上記光変調器を正弦波変調信号によつて変調動作させる
    ことにより上記光検出信号に上記正弦波変調信号に対応
    する周波数変調信号成分を生じさせる測定光学系と、 上記周波数変調信号成分から測定結果信号を形成する測
    定信号形成回路と を具えることを特徴とするレーザドップラ速度計。
  2. (2)上記測定信号形成回路は、上記光検出信号に基づ
    いて上記正弦波変調信号の角周波数の奇数倍又は偶数倍
    の角周波数を有する上記周波数変調信号成分を発生させ
    、上記周波数変調信号成分を復調することにより上記測
    定結果信号を形成することを特徴とする特許請求の範囲
    第1項に記載のレーザドップラ速度計。
  3. (3)上記測定信号形成回路は、上記光検出信号に基づ
    いて上記正弦波変調信号の角周波数のM/N倍(M、N
    は整数)の角周波数を有する上記周波数変調信号成分を
    発生させ、上記周波数変調信号成分を復調することによ
    り上記測定結果信号を形成する ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のレーザ
    ドップラ速度計。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08292266A (ja) * 1995-04-21 1996-11-05 Sony Corp 速度センサヘッド及び速度計測装置
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57192833A (en) * 1981-05-25 1982-11-27 Nippon Steel Corp Method of detecting vibration of object to be measured using coherent light

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57192833A (en) * 1981-05-25 1982-11-27 Nippon Steel Corp Method of detecting vibration of object to be measured using coherent light

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02154189A (ja) * 1988-12-06 1990-06-13 Omron Tateisi Electron Co 導波型速度センサ
JPH08292266A (ja) * 1995-04-21 1996-11-05 Sony Corp 速度センサヘッド及び速度計測装置
JPH0954159A (ja) * 1995-08-18 1997-02-25 Sony Corp レーザドップラー速度計

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