JPH01145392A - イリジウムるつぼ及びその製造方法 - Google Patents
イリジウムるつぼ及びその製造方法Info
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- JPH01145392A JPH01145392A JP30256987A JP30256987A JPH01145392A JP H01145392 A JPH01145392 A JP H01145392A JP 30256987 A JP30256987 A JP 30256987A JP 30256987 A JP30256987 A JP 30256987A JP H01145392 A JPH01145392 A JP H01145392A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、磁気バブルメモリー素子、YAGレーザ−、
表面弾性波素子などの単結晶を、引上げ法により製造す
る際、高周波誘導加熱炉で酸化物を溶融する為に使用す
るイリジウムるつぼ及びその製造方法に関する。
表面弾性波素子などの単結晶を、引上げ法により製造す
る際、高周波誘導加熱炉で酸化物を溶融する為に使用す
るイリジウムるつぼ及びその製造方法に関する。
(従来の技術)
従来、イリジウムるつぼを製造するには、第2図aに示
すイリジウムより成る圧延板材1を切り出して、第2図
すに示す如く底板用円板2と周壁用矩形板3を作り、次
に周壁用矩形板3を第2図Cに示す如く円筒形に成形し
て両端を溶接し、次いでこの円筒体4に第2図dに示す
如く底板周円F1i2を溶接し、然る後溶接部5を仕上
げ研削して、第2図eに示す如くイリジウムるつぼ6を
得ている。
すイリジウムより成る圧延板材1を切り出して、第2図
すに示す如く底板用円板2と周壁用矩形板3を作り、次
に周壁用矩形板3を第2図Cに示す如く円筒形に成形し
て両端を溶接し、次いでこの円筒体4に第2図dに示す
如く底板周円F1i2を溶接し、然る後溶接部5を仕上
げ研削して、第2図eに示す如くイリジウムるつぼ6を
得ている。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで上記の製造方法で得たイリジウムるつぼ6は、
溶接部5に欠陥の存在するものがあり、欠陥の存在する
イリジウムるつぼ6を高周波誘導加熱炉にセットし、酸
化物をイリジウムるつぼ6に入れて高周波誘導加熱炉の
運転により溶解すると、溶解中に溶接部5から液洩れを
発生することが多い。またイリジウムるつぼ6の内面の
溶接部 ゛は研削が困難である為、肉厚が不均一で
あることから、加熱も不均一になり易く、良質の単結晶
が得られにくいとう問題点があった。
溶接部5に欠陥の存在するものがあり、欠陥の存在する
イリジウムるつぼ6を高周波誘導加熱炉にセットし、酸
化物をイリジウムるつぼ6に入れて高周波誘導加熱炉の
運転により溶解すると、溶解中に溶接部5から液洩れを
発生することが多い。またイリジウムるつぼ6の内面の
溶接部 ゛は研削が困難である為、肉厚が不均一で
あることから、加熱も不均一になり易く、良質の単結晶
が得られにくいとう問題点があった。
(発明の目的)
本発明は上記問題点を解決すべくなされたもので、酸化
物゛が溶解中に液洩れを発生することがなく、加熱を均
一にできて、良質の単結晶を得ることのできるイリジウ
ムるつぼ及びその製造方法を提供することを目的とする
ものである。
物゛が溶解中に液洩れを発生することがなく、加熱を均
一にできて、良質の単結晶を得ることのできるイリジウ
ムるつぼ及びその製造方法を提供することを目的とする
ものである。
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決するための本発明のイリジウムるつぼ
は、溶接部分を有しない庭付円筒形で、高さと直径の比
が最大2倍になされていることを特徴とするものである
。
は、溶接部分を有しない庭付円筒形で、高さと直径の比
が最大2倍になされていることを特徴とするものである
。
上記イリジウムるつぼを作る本発明の製造方法は、るつ
ぼ径の最大5倍の径を有する厚さ0.1〜3、5nmの
イリジウム円板を、円柱状金型に押付けて回転し、80
0°C以上の温度に加熱し乍ら絞り加工を施して庇付円
筒体を作り、然る後これの上端周縁を仕上げ切削加工し
て、高さと直径の比が最大2倍のるつぼを作ることを特
徴とするものである。
ぼ径の最大5倍の径を有する厚さ0.1〜3、5nmの
イリジウム円板を、円柱状金型に押付けて回転し、80
0°C以上の温度に加熱し乍ら絞り加工を施して庇付円
筒体を作り、然る後これの上端周縁を仕上げ切削加工し
て、高さと直径の比が最大2倍のるつぼを作ることを特
徴とするものである。
上記本発明のイリジウムるつぼに於いて、高さと直径の
比が最大2倍になされている理由は、2倍を超えると製
作上溶接部分を有しないイリジウムるつぼを絞り加工に
より製作することが困難となるからである。
比が最大2倍になされている理由は、2倍を超えると製
作上溶接部分を有しないイリジウムるつぼを絞り加工に
より製作することが困難となるからである。
また本発明のイリジウムるつぼの製造方法に於いて、る
つぼ径の最大5倍の径を有する厚さ0.1〜3.5mm
のイリジウム円板を用いる理由は、高さと直径の比が最
大2倍となるイリジウムるつぼを作る為で、その場合厚
さが0.11未満では絞り加工の際、底板周縁の曲げ部
分が破れる恐れがあり、3.5mmを超えると絞り加工
が困難となるからである。また絞り加工の際、800°
C以上の温度に加熱する理由は、絞り加工し易いように
イリジウムを軟らかくする為で、800°C未満では絞
り加工が困難となるからである。
つぼ径の最大5倍の径を有する厚さ0.1〜3.5mm
のイリジウム円板を用いる理由は、高さと直径の比が最
大2倍となるイリジウムるつぼを作る為で、その場合厚
さが0.11未満では絞り加工の際、底板周縁の曲げ部
分が破れる恐れがあり、3.5mmを超えると絞り加工
が困難となるからである。また絞り加工の際、800°
C以上の温度に加熱する理由は、絞り加工し易いように
イリジウムを軟らかくする為で、800°C未満では絞
り加工が困難となるからである。
(作用)
上述の如く本発明のイリジウムるつぼの製造方法では、
イリジウム円板を800°C以上の温度に加熱し乍ら絞
り加工するので、従来室温では脆くて加工できなかった
イリジウムを容易に加工できて、溶接部の無いるつぼを
得ることができる。
イリジウム円板を800°C以上の温度に加熱し乍ら絞
り加工するので、従来室温では脆くて加工できなかった
イリジウムを容易に加工できて、溶接部の無いるつぼを
得ることができる。
またこうして得たイリジウムるつぼは、溶接部を有しな
いので、高周波誘導加熱炉にセットし、イリジウムるつ
ぼ内に酸化物を入れて、高周波誘導加熱炉の運転により
溶解した際、液洩れすることがない。さらに溶接部を有
しないので、肉厚を均一にでき、従って加熱も均一にな
り、良質の単結晶を得ることができる。
いので、高周波誘導加熱炉にセットし、イリジウムるつ
ぼ内に酸化物を入れて、高周波誘導加熱炉の運転により
溶解した際、液洩れすることがない。さらに溶接部を有
しないので、肉厚を均一にでき、従って加熱も均一にな
り、良質の単結晶を得ることができる。
(実施例)
本発明のイリジウムるつぼ及びその製造方法の一実施例
を図によって説明する。第1図aに示す如く一辺200
mで厚さ2Mの方形のイリジウムより成る圧延板材1′
を切り出して、第1図すに示す如く直径170nnのイ
リジウム円板7を作り、次にこのイリジウム円板7を第
1図Cに示す如く旋盤の主軸に取り付けた直径46tm
の円柱状金型8に押付けて回転し、Hz+Ozガスバー
ナ9で直線イリジウム円板7を約1000°Cに加熱し
乍らへら絞り加工を施して、第1図dに示す如く庇付円
筒体10を作り、然る後この庇付円筒体10の上端周縁
を仕上げ切削加工して高さ50mm、内径46腸、厚さ
1.9鵬のイリジウムるつぼ11を作った。
を図によって説明する。第1図aに示す如く一辺200
mで厚さ2Mの方形のイリジウムより成る圧延板材1′
を切り出して、第1図すに示す如く直径170nnのイ
リジウム円板7を作り、次にこのイリジウム円板7を第
1図Cに示す如く旋盤の主軸に取り付けた直径46tm
の円柱状金型8に押付けて回転し、Hz+Ozガスバー
ナ9で直線イリジウム円板7を約1000°Cに加熱し
乍らへら絞り加工を施して、第1図dに示す如く庇付円
筒体10を作り、然る後この庇付円筒体10の上端周縁
を仕上げ切削加工して高さ50mm、内径46腸、厚さ
1.9鵬のイリジウムるつぼ11を作った。
こうして作った本発明のイリジウムるつぼ11は、溶接
部が無い物であるため、従来のような溶接部の欠陥が無
く、従って高周波誘導加熱炉にセットし、イリジウムる
つぼ11内に酸化物例えばYAGを入れて、高周波誘導
加熱炉の運転により溶解した際、液洩れすることが無か
った。また本発明のイリジウムるつぼ11は溶接部が無
く、肉厚が均一であるので、YAGの溶解時加熱が均一
になって、良質の単結晶が得られた。
部が無い物であるため、従来のような溶接部の欠陥が無
く、従って高周波誘導加熱炉にセットし、イリジウムる
つぼ11内に酸化物例えばYAGを入れて、高周波誘導
加熱炉の運転により溶解した際、液洩れすることが無か
った。また本発明のイリジウムるつぼ11は溶接部が無
く、肉厚が均一であるので、YAGの溶解時加熱が均一
になって、良質の単結晶が得られた。
(発明の効果)
以上の説明で判るように本発明のイリジウムるつぼは、
溶接部が無くて、酸化物の溶解中液洩れすることが無く
、また加熱を均一にできて、良質の単結晶を得ることが
できる。
溶接部が無くて、酸化物の溶解中液洩れすることが無く
、また加熱を均一にできて、良質の単結晶を得ることが
できる。
また本発明のイリジウムるつぼの製造方法によれば、上
記の優れたイリジウムるつぼを容易に製造できる。
記の優れたイリジウムるつぼを容易に製造できる。
第1図a乃至eは本発明によるイリジウムるつぼの製造
方法の工程を示す図、第2図a乃至eは従来のイリジウ
ムるつぼの製造方法の工程を示す図である。 出願人 田中貴金属工業株式会社
方法の工程を示す図、第2図a乃至eは従来のイリジウ
ムるつぼの製造方法の工程を示す図である。 出願人 田中貴金属工業株式会社
Claims (2)
- (1)溶接部分を有しない底付円筒形で、高さと直径の
比が最大2倍になされていることを特徴とするイリジウ
ムるつぼ。 - (2)るつぼ径の最大5倍の径を有する厚さ0.1〜3
.5mmのイリジウム円板を、円柱状金型に押付けて回
転し、800℃以上の温度に加熱し乍ら絞り加工を施し
て底付円筒体を作り、然る後これの上端周縁を仕上げ切
削加工して、高さと直径の比が最大2倍のるつぼを作る
ことを特徴とするイリジウムるつぼの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30256987A JPH01145392A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | イリジウムるつぼ及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30256987A JPH01145392A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | イリジウムるつぼ及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01145392A true JPH01145392A (ja) | 1989-06-07 |
Family
ID=17910559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30256987A Pending JPH01145392A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | イリジウムるつぼ及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01145392A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006205200A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | イリジウム又はイリジウム合金るつぼの製造方法 |
JP2007240037A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Ulvac Materials Inc | 金属坩堝 |
WO2022140807A1 (de) * | 2020-12-29 | 2022-07-07 | Fametec Gmbh | Verfahren zur herstellung eines einkristallinen kristalls, insbesondere eines saphirs |
WO2022140806A1 (de) * | 2020-12-29 | 2022-07-07 | Fametec Gmbh | Vorrichtung zum züchten eines künstlich hergestellten einkristalls, insbesondere eines saphir-einkristalls |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57127527A (en) * | 1981-02-02 | 1982-08-07 | Tokyo Tungsten Co Ltd | Method and apparatus for drawing of difficultly weldable metallic plate |
JPS57156400A (en) * | 1981-03-23 | 1982-09-27 | Hitachi Metals Ltd | Crucible for preparing single crystal |
JPS5832099A (ja) * | 1981-08-21 | 1983-02-24 | Hitachi Metals Ltd | 単結晶の製造方法 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP30256987A patent/JPH01145392A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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WO2022140807A1 (de) * | 2020-12-29 | 2022-07-07 | Fametec Gmbh | Verfahren zur herstellung eines einkristallinen kristalls, insbesondere eines saphirs |
WO2022140806A1 (de) * | 2020-12-29 | 2022-07-07 | Fametec Gmbh | Vorrichtung zum züchten eines künstlich hergestellten einkristalls, insbesondere eines saphir-einkristalls |
AT524601A1 (de) * | 2020-12-29 | 2022-07-15 | Fametec Gmbh | Vorrichtung zum Züchten eines künstlich hergestellten Einkristalls, insbesondere eines Saphir-Einkristalls |
AT524600A1 (de) * | 2020-12-29 | 2022-07-15 | Fametec Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines einkristallinen Kristalls, insbesondere eines Saphirs |
AT524601B1 (de) * | 2020-12-29 | 2023-04-15 | Fametec Gmbh | Vorrichtung zum Züchten eines künstlich hergestellten Einkristalls, insbesondere eines Saphir-Einkristalls |
AT524600B1 (de) * | 2020-12-29 | 2023-05-15 | Fametec Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines einkristallinen Kristalls, insbesondere eines Saphirs |
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