JPH01144233A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JPH01144233A JPH01144233A JP62303529A JP30352987A JPH01144233A JP H01144233 A JPH01144233 A JP H01144233A JP 62303529 A JP62303529 A JP 62303529A JP 30352987 A JP30352987 A JP 30352987A JP H01144233 A JPH01144233 A JP H01144233A
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Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光ディスクや光磁気ディスク装置等の記録
、再生に用いる光ヘツド装置に関する。
、再生に用いる光ヘツド装置に関する。
従来の光ヘツド装置を第2図に示す。光源である半導体
レーザ1の放射光2は、コリメーティングレンズ3でコ
リメート光4に変換され、ビームスプリッタ5ft透過
し、全反射プリズム6で全反射されて光路を900折り
曲げられ、収束レンズ7でディスク面8に収束される。
レーザ1の放射光2は、コリメーティングレンズ3でコ
リメート光4に変換され、ビームスプリッタ5ft透過
し、全反射プリズム6で全反射されて光路を900折り
曲げられ、収束レンズ7でディスク面8に収束される。
光デイスク面からの反射光は、逆の経路でビームスプリ
ッタ5で反射される。反射された光は172波長板22
で偏光方向を90’回転された後レンズ9で収束光に変
換され、偏光ビームスプリッタ10で互いに直交な偏光
の透過光11と反射光12に分割される。
ッタ5で反射される。反射された光は172波長板22
で偏光方向を90’回転された後レンズ9で収束光に変
換され、偏光ビームスプリッタ10で互いに直交な偏光
の透過光11と反射光12に分割される。
透過光11は2分割光検出器13に入射し、2分割光検
出器13の光検出素子14と15との差信号でプッシュ
プル法によるトラック誤差信号を得る。一方、反射光1
2は、円筒レンズ16によシ非点収差波面となり、4分
割光検出器17によシ、非点収差法によるフォーカス誤
差信号を得る。すなわち、4分割光検出器17の光検出
素子18゜19 、20 、21 O出力電圧’に各A
V(18) 、 V(19)、V(20)、V(21)
と−f、l:、フォーカス誤差信号はV(18)+V
(20)−V(19)−V(21)で得られる。几F信
号は偏光ビームスプリ、りlOで分割した直交する偏光
強度の差信号として得られるので、光検出素子14.1
5の出力1[を各AV(x4)、V(15)、!−する
とRF倍信号V(14) +V(15) −V(1s)
−V(19) −V(20) −、V(21) と
なる。
出器13の光検出素子14と15との差信号でプッシュ
プル法によるトラック誤差信号を得る。一方、反射光1
2は、円筒レンズ16によシ非点収差波面となり、4分
割光検出器17によシ、非点収差法によるフォーカス誤
差信号を得る。すなわち、4分割光検出器17の光検出
素子18゜19 、20 、21 O出力電圧’に各A
V(18) 、 V(19)、V(20)、V(21)
と−f、l:、フォーカス誤差信号はV(18)+V
(20)−V(19)−V(21)で得られる。几F信
号は偏光ビームスプリ、りlOで分割した直交する偏光
強度の差信号として得られるので、光検出素子14.1
5の出力1[を各AV(x4)、V(15)、!−する
とRF倍信号V(14) +V(15) −V(1s)
−V(19) −V(20) −、V(21) と
なる。
上述した従来の・光ヘッド装置は、実用化されているも
のでも大きさが40 X 40 X 30 mm”程度
以上あり、従って重量も重く光デイスク全体の小型化、
軽量化の障害となっていた。
のでも大きさが40 X 40 X 30 mm”程度
以上あり、従って重量も重く光デイスク全体の小型化、
軽量化の障害となっていた。
また、トラ、キング誤差検出にプッシュプル法を採用し
ているため、トラック誤差信号にもとづき収束レンズ8
をアクチュエータ(図示せず)で光軸に垂直な方向に動
かした場合、収束レンズの光軸と、トラ、キング誤差検
出用の2分割光検出器の分割線にずれが生じ、光検出素
子12と13への入射光量がアンバランスになる。この
結果、トラッキング誤差信号に直流オフセットが発生し
、トラッキング諸差制御の制限範囲が狭くなるという欠
点を有していた。又、几F信号、フォーカス誤差信号、
トラック誤差信号の間の干渉があり、サーボが不安定に
なるという問題もあった。
ているため、トラック誤差信号にもとづき収束レンズ8
をアクチュエータ(図示せず)で光軸に垂直な方向に動
かした場合、収束レンズの光軸と、トラ、キング誤差検
出用の2分割光検出器の分割線にずれが生じ、光検出素
子12と13への入射光量がアンバランスになる。この
結果、トラッキング誤差信号に直流オフセットが発生し
、トラッキング諸差制御の制限範囲が狭くなるという欠
点を有していた。又、几F信号、フォーカス誤差信号、
トラック誤差信号の間の干渉があり、サーボが不安定に
なるという問題もあった。
さらに、上述した従来の光ヘッドは光学研磨が必要な光
学部品を多数使用することから調整が大変でコスト高に
なるという欠点を有していた。
学部品を多数使用することから調整が大変でコスト高に
なるという欠点を有していた。
本発明の目的は、上記欠点を解消して小型かつ低価格な
光ヘツド装置を提供することにある。
光ヘツド装置を提供することにある。
本発明の光ヘツド装置はレーザ光をビームスプリッタを
介して収束光学系でディスク面に収束して、情報の書込
み読出しをする光ヘツド装置において、前記ビームスプ
リッタで前記光学系の光軸外にと9出した前記ディスク
からの反射光を、特定の偏光を主に反射回折する反射型
格子素子で反射光と回折光に分割し、前記反射型格子素
子の反射光から読出し信号を検出し、前記回折光から焦
点誤差信号及びトラッキング誤差信号を検出するように
したことを特徴とする光ヘツド装置である。
介して収束光学系でディスク面に収束して、情報の書込
み読出しをする光ヘツド装置において、前記ビームスプ
リッタで前記光学系の光軸外にと9出した前記ディスク
からの反射光を、特定の偏光を主に反射回折する反射型
格子素子で反射光と回折光に分割し、前記反射型格子素
子の反射光から読出し信号を検出し、前記回折光から焦
点誤差信号及びトラッキング誤差信号を検出するように
したことを特徴とする光ヘツド装置である。
本発明の作用原理は次の通シである。本発明の光ヘッド
装置では受光系月光学系を軽量・簡略化するために反射
型格子レンズを用いる。
装置では受光系月光学系を軽量・簡略化するために反射
型格子レンズを用いる。
本発明でいう反射型格子レンズは、反射表面が導電性を
有する素子である。例えば、格子表面がアルミニウムや
、金のような導電体でコートされた格子である。
有する素子である。例えば、格子表面がアルミニウムや
、金のような導電体でコートされた格子である。
反射型格子レンズには、1次回折光の他に格子レンズで
直接反射したO次回折光がある。そこでとのO次回折光
を受光してRF倍信号得る。ディスクの読取り信号のう
ち、信号偏光成分は非常に小さい。したがって、RF倍
信号光系に入射する0次回折光には、できるだけ多くの
信号偏光成分が・あることが必要である。つまシ、信号
偏光成分を回折しないような反射格子レンズを用いる必
要がある。そこで、本発明では、波長λに対して格子ピ
ッチdがλ/d;0.5あるいはλ/d′2.1.2ノ
格子を用いることで、これを実現している。
直接反射したO次回折光がある。そこでとのO次回折光
を受光してRF倍信号得る。ディスクの読取り信号のう
ち、信号偏光成分は非常に小さい。したがって、RF倍
信号光系に入射する0次回折光には、できるだけ多くの
信号偏光成分が・あることが必要である。つまシ、信号
偏光成分を回折しないような反射格子レンズを用いる必
要がある。そこで、本発明では、波長λに対して格子ピ
ッチdがλ/d;0.5あるいはλ/d′2.1.2ノ
格子を用いることで、これを実現している。
第3図〜第8図は反射型回折効率のλ/d依存性を示し
たもので、これらは1979年発行のアプライド・オブ
テ、り(Applied 0ptics )誌第18巻
第13号の第2262〜2266頁所載のローエン(E
、G、 Loewen )他著の論文[Efficie
ncyoptimization of rectan
gular groove gra−1+ngs fo
r ure in the visible and
IRro−gions Jに発表さ江たものである。い
ずれも矩形断面の反射型回折格子についての結果である
。格子の矩形溝の幅t a *深さ6hとすると、第3
図〜第6図はa/d=α5で深さ逅第3図でh/d=0
.05.第4図でh/d=0.225.第5図でh/d
= 0.25 、第6図でh/d = 0.2 ’7
5の場合である。第7図〜第8図は、h/d=0.25
で、溝幅aが第7図でa/d=0.333.第8図でa
/d= 0.667の場合である。まず第3図の格子で
は、λ/a>1.2 でp偏光の回折効率はほとんどO
になる。したがってpJA、Fを信号偏光方向とすれば
4.1・ よい。第4図〜第8図の格子では、λ/d=0.5の近
傍でS偏光の回折効率が0になるので、S偏光を信号偏
光方向とすればよい。さらに第6図の格子ではλ/d=
0.48近傍でp偏光の回折効率がほとんどOになるの
でp偏光を信号偏光成分にすることもできる。同様に第
7図の格子でもλ/d#0.4でp偏光が0になるので
、p偏光を信号偏光成分にすることもできる。
たもので、これらは1979年発行のアプライド・オブ
テ、り(Applied 0ptics )誌第18巻
第13号の第2262〜2266頁所載のローエン(E
、G、 Loewen )他著の論文[Efficie
ncyoptimization of rectan
gular groove gra−1+ngs fo
r ure in the visible and
IRro−gions Jに発表さ江たものである。い
ずれも矩形断面の反射型回折格子についての結果である
。格子の矩形溝の幅t a *深さ6hとすると、第3
図〜第6図はa/d=α5で深さ逅第3図でh/d=0
.05.第4図でh/d=0.225.第5図でh/d
= 0.25 、第6図でh/d = 0.2 ’7
5の場合である。第7図〜第8図は、h/d=0.25
で、溝幅aが第7図でa/d=0.333.第8図でa
/d= 0.667の場合である。まず第3図の格子で
は、λ/a>1.2 でp偏光の回折効率はほとんどO
になる。したがってpJA、Fを信号偏光方向とすれば
4.1・ よい。第4図〜第8図の格子では、λ/d=0.5の近
傍でS偏光の回折効率が0になるので、S偏光を信号偏
光方向とすればよい。さらに第6図の格子ではλ/d=
0.48近傍でp偏光の回折効率がほとんどOになるの
でp偏光を信号偏光成分にすることもできる。同様に第
7図の格子でもλ/d#0.4でp偏光が0になるので
、p偏光を信号偏光成分にすることもできる。
さらに本発明では、1次回折光でフォース誤差信号音と
9出すために、反射型格子レンズを特性の異る2領域に
分割することにより、その境界線を従来の光ヘツド装置
におけるナイフェツジと等価な作用をさせている。
9出すために、反射型格子レンズを特性の異る2領域に
分割することにより、その境界線を従来の光ヘツド装置
におけるナイフェツジと等価な作用をさせている。
また、トラ、キング誤差信号を取り出すためにコリメー
ティングレンズの光軸と格子レンズが交わる点を中心と
してわずかに離れた位置に異なる格子方向を有する2つ
の領域を反射型格子レンズに形成しておくことにより、
この2つの領域からの回折光強度を比較することでプッ
シュプル法の原理によりトラッキング誤差信号を得るこ
とができる・ すなわち、反射型格子レンズに入射光iRF信号光とフ
ォーカス誤差信号光とトラッキング誤差検出光とに分割
する反射回折型ビームスプリブタの機能を持たせている
。このため部品点数が少くな夕調整が簡単で、かつ小型
・軽量・低価格の光ヘツド装置が得らnる。
ティングレンズの光軸と格子レンズが交わる点を中心と
してわずかに離れた位置に異なる格子方向を有する2つ
の領域を反射型格子レンズに形成しておくことにより、
この2つの領域からの回折光強度を比較することでプッ
シュプル法の原理によりトラッキング誤差信号を得るこ
とができる・ すなわち、反射型格子レンズに入射光iRF信号光とフ
ォーカス誤差信号光とトラッキング誤差検出光とに分割
する反射回折型ビームスプリブタの機能を持たせている
。このため部品点数が少くな夕調整が簡単で、かつ小型
・軽量・低価格の光ヘツド装置が得らnる。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の基本構成を示す斜視図
である。光源1の放射光2は、ビームスプリッタ5を透
過し、コリメーティングレンズ3でコリメート光4に変
換され、全反射プリズム6で全反射さtて光路を90″
折り曲げられ、収束レンズ7で光デイスク面(又は光磁
気ディスク面)8に収束される。ディスク面8からの反
射光は、逆の経路でもどシ、コリメーティングレンズ3
で収束光に変換さn1ビームスプリ、り5で反射される
。反射された光は反射型格子レンズ23により回折され
、光検出器28.29.30.31 。
である。光源1の放射光2は、ビームスプリッタ5を透
過し、コリメーティングレンズ3でコリメート光4に変
換され、全反射プリズム6で全反射さtて光路を90″
折り曲げられ、収束レンズ7で光デイスク面(又は光磁
気ディスク面)8に収束される。ディスク面8からの反
射光は、逆の経路でもどシ、コリメーティングレンズ3
で収束光に変換さn1ビームスプリ、り5で反射される
。反射された光は反射型格子レンズ23により回折され
、光検出器28.29.30.31 。
32.33から成る6分割光検出器34に入射する。O
次回折光は、偏光プリズム24によシ直交する2つの偏
光光に分割され、光検出器25.26から成る2分割光
検出器27に入射する。格子レンズ23には、第5図に
示したλ/d=0.5 のピッチの格子を用い、又、デ
ィスクからの信号偏光方向は、格子レンズ23上ではS
偏光となるように配置しているので、偏光プリズム24
と2分割光検出器27からなる信号受光系へは、信号偏
光光がほぼ100チ到達するので、高いS/N比が得ら
れる。反射型格子レンズ23としてp偏光音信号成分と
するタイプのものを用いる場合は、ビームスプリ、り5
と反射型格子レンズ230間に174波長板を配置して
偏光方向を90’回転すればよい。
次回折光は、偏光プリズム24によシ直交する2つの偏
光光に分割され、光検出器25.26から成る2分割光
検出器27に入射する。格子レンズ23には、第5図に
示したλ/d=0.5 のピッチの格子を用い、又、デ
ィスクからの信号偏光方向は、格子レンズ23上ではS
偏光となるように配置しているので、偏光プリズム24
と2分割光検出器27からなる信号受光系へは、信号偏
光光がほぼ100チ到達するので、高いS/N比が得ら
れる。反射型格子レンズ23としてp偏光音信号成分と
するタイプのものを用いる場合は、ビームスプリ、り5
と反射型格子レンズ230間に174波長板を配置して
偏光方向を90’回転すればよい。
第9図は、第1図の反射型格子レンズ23と6分割光検
出器34.偏光プリズム24、及び2分割光検出器27
との関係を説明するための部分斜視図である。第9図で
は、反射型格子レンズ内の分割領域とトラックとの方向
関係を示すために省路線35を介し7て、収束レンズ7
とディスク面8を同時に示しである。
出器34.偏光プリズム24、及び2分割光検出器27
との関係を説明するための部分斜視図である。第9図で
は、反射型格子レンズ内の分割領域とトラックとの方向
関係を示すために省路線35を介し7て、収束レンズ7
とディスク面8を同時に示しである。
反射型格子レンズ23は、4つの反射型格子レンズ領域
から成夛、コリメーティングレンズ3つの光軸と交わる
線38を境に焦点距離と回折方向の異なるA領域反射型
格子レンズ(第1の領域)39とB領域反射型格子レン
ズ(第2の領域)40に分けらnlさらに分割線38上
には、A領域反射型格子レンズ39及びB領域反射型格
子レンズ40と焦点距離、回折方向の異なるC領域反射
型格子レンズ(第3の領域)41、D領域反射型格子レ
ンズ(第4の領域)42がそれぞれ形成されている。A
領域反射型格子レンズ39は格子レンズ面で反射してO
次回折光51の収束点に収束する球面波と6分割光検出
器34の第1分割11147上の点43から発散する球
面波との干渉縞に相当する格子パターンを持つている。
から成夛、コリメーティングレンズ3つの光軸と交わる
線38を境に焦点距離と回折方向の異なるA領域反射型
格子レンズ(第1の領域)39とB領域反射型格子レン
ズ(第2の領域)40に分けらnlさらに分割線38上
には、A領域反射型格子レンズ39及びB領域反射型格
子レンズ40と焦点距離、回折方向の異なるC領域反射
型格子レンズ(第3の領域)41、D領域反射型格子レ
ンズ(第4の領域)42がそれぞれ形成されている。A
領域反射型格子レンズ39は格子レンズ面で反射してO
次回折光51の収束点に収束する球面波と6分割光検出
器34の第1分割11147上の点43から発散する球
面波との干渉縞に相当する格子パターンを持つている。
B領域反射型格子レンズ40は、格子レンズ面で反射し
てO次回折光51の収束点に収束する球面波と6分割光
検吊器34の分割線上の点44から発散する球面波との
干渉縞に相当する格子パターンを持っている。
てO次回折光51の収束点に収束する球面波と6分割光
検吊器34の分割線上の点44から発散する球面波との
干渉縞に相当する格子パターンを持っている。
C領域反射型格子レンズ41は、格子レンズ面で反射し
てO次回新党51の収束点に収束する球面波と、6分割
光検出器の光検出素子33上の点45から発散する球面
波との干渉縞に相当するパターンを持っている。D領域
反射型格子レンズ42は格子レンズ面で反射してO次回
新党51の収束点に収束する球面波と、6分割光検出器
の光検出器、子32上の点46から発散する球面波との
干渉縞に相当するパターンを持っている。第9図では格
子のピッチは配置をわかシやすくするために実際より大
きく書いである。このような格子レンズ23を用いてい
るので、ディスク面8から反射して反射型格子レンズに
入射する光は回折光49,50゜36.37として、6
分割検出器上の点43,44゜45.46に各々収束到
達する。又、回折を受けなかった0次回折新党51は、
偏光プリズム24で直交する2つの偏向光に分割され、
2分割光検出器27上の光検出器25.26に収束到達
する。
てO次回新党51の収束点に収束する球面波と、6分割
光検出器の光検出素子33上の点45から発散する球面
波との干渉縞に相当するパターンを持っている。D領域
反射型格子レンズ42は格子レンズ面で反射してO次回
新党51の収束点に収束する球面波と、6分割光検出器
の光検出器、子32上の点46から発散する球面波との
干渉縞に相当するパターンを持っている。第9図では格
子のピッチは配置をわかシやすくするために実際より大
きく書いである。このような格子レンズ23を用いてい
るので、ディスク面8から反射して反射型格子レンズに
入射する光は回折光49,50゜36.37として、6
分割検出器上の点43,44゜45.46に各々収束到
達する。又、回折を受けなかった0次回折新党51は、
偏光プリズム24で直交する2つの偏向光に分割され、
2分割光検出器27上の光検出器25.26に収束到達
する。
RF倍信号、光検出素子25.26の差信号として得ら
れる。
れる。
第10図は、6分割光検出器34上の回折光の状態を説
明するための図である。第10図(a)はディスク面8
上に光ビームが収束している合焦状態を示す図で、A領
域反射型格子レンズ39からの回折光49およびB領域
反射型格子レンズ40からの回折光50は6分割光検出
器34の第1分割線47上に1第2分割線48をはさん
で各々収束する。第10図(b)はディスク面8が変位
して収束レンズ7から遠ざかったデフォーカス状態の回
折光を示す図である。回折光49.50は6分割光検出
器34の光検出素子30および光検出素子28にそれぞ
れ入射し、光検出素子31および光検出素子29には入
射しない。
明するための図である。第10図(a)はディスク面8
上に光ビームが収束している合焦状態を示す図で、A領
域反射型格子レンズ39からの回折光49およびB領域
反射型格子レンズ40からの回折光50は6分割光検出
器34の第1分割線47上に1第2分割線48をはさん
で各々収束する。第10図(b)はディスク面8が変位
して収束レンズ7から遠ざかったデフォーカス状態の回
折光を示す図である。回折光49.50は6分割光検出
器34の光検出素子30および光検出素子28にそれぞ
れ入射し、光検出素子31および光検出素子29には入
射しない。
第10図(C)はディスク面8が変位した収束レンズ7
に近づいたデフォーカス状態の回折光を示す図である。
に近づいたデフォーカス状態の回折光を示す図である。
回折光49.50は6分割光検出器34上の光検出素子
31と光検出素子29にそれぞれ入射し、光検出素子3
0と光検出素子28には入射しない。したがって、6分
割光検出器34の中央の4光検出素子31.28.30
.29の出力81 ’182 * 83 v 84とす
nば、焦点誤差信号は、(Ss + 84 ) −、(
St + as )から得られる。
31と光検出素子29にそれぞれ入射し、光検出素子3
0と光検出素子28には入射しない。したがって、6分
割光検出器34の中央の4光検出素子31.28.30
.29の出力81 ’182 * 83 v 84とす
nば、焦点誤差信号は、(Ss + 84 ) −、(
St + as )から得られる。
一方、トラッキング誤差信号は、ディスク面8上の絞シ
込みスボ、トがトラックの中心からずれると、もどり光
の強度分布がアンバランスになることを利用する。格子
レンズ23のC領域反射型格子レンズ41の中心とD領
域反射型格子レンズ42の中心を結ぶ線が収束レンズの
光軸と反射型格子レンズが交わる点を含み、かつ、ディ
スクのトラ、キング誤差方向と平行になるようにしてお
く。トラック誤差が発生するとC領域反射型格子レンズ
41に入射する光量とD領域反射型格子レンズ42に入
射する光量に差が生じる。この光量差は、6分割光検出
器34の2つの光検出器32゜33の出力差として検出
することができ、この信号の正負によシ、トラッキング
誤差方向も検知することができる。
込みスボ、トがトラックの中心からずれると、もどり光
の強度分布がアンバランスになることを利用する。格子
レンズ23のC領域反射型格子レンズ41の中心とD領
域反射型格子レンズ42の中心を結ぶ線が収束レンズの
光軸と反射型格子レンズが交わる点を含み、かつ、ディ
スクのトラ、キング誤差方向と平行になるようにしてお
く。トラック誤差が発生するとC領域反射型格子レンズ
41に入射する光量とD領域反射型格子レンズ42に入
射する光量に差が生じる。この光量差は、6分割光検出
器34の2つの光検出器32゜33の出力差として検出
することができ、この信号の正負によシ、トラッキング
誤差方向も検知することができる。
回折素子である反射型格子レンズを用いたフォーカス誤
差検出、トラッキング誤差検出では、半導体レーザの波
長が変動すると回折角が変化し、光検出器上の回折光の
位置ずれが生じるため、光源である半導体レーザの発振
波長変動に対する対策が必要であるが、本発明ではこの
点に関して次のような解決策が講じられている。6分割
光検出器34上では、第1分割線47に平行な方向、及
び直交する方向の2方向く分けて考察する。第1分割線
47に平行な方向の位置変動については第1分割線47
上に越えるか、又は光検出器からはずれない限9問題は
ない。第1分割線に直交する方向の位置変動については
、6分割光検出器34の中央の4光検出素子28,29
,30,31(7)出力が変化するので注意が必要であ
るが、本発明の反射型格子レンズA、B領域は、この方
向の空間周波敷金はとんど持たないので、仁の方向の回
折光の位置変動は無視できる。
差検出、トラッキング誤差検出では、半導体レーザの波
長が変動すると回折角が変化し、光検出器上の回折光の
位置ずれが生じるため、光源である半導体レーザの発振
波長変動に対する対策が必要であるが、本発明ではこの
点に関して次のような解決策が講じられている。6分割
光検出器34上では、第1分割線47に平行な方向、及
び直交する方向の2方向く分けて考察する。第1分割線
47に平行な方向の位置変動については第1分割線47
上に越えるか、又は光検出器からはずれない限9問題は
ない。第1分割線に直交する方向の位置変動については
、6分割光検出器34の中央の4光検出素子28,29
,30,31(7)出力が変化するので注意が必要であ
るが、本発明の反射型格子レンズA、B領域は、この方
向の空間周波敷金はとんど持たないので、仁の方向の回
折光の位置変動は無視できる。
トラッキング誤差検出方式としてプッシュプル方式を採
用し、誤差修正のために収束レンズを動かす方法では、
誤差検出側の光学系の光軸とレンズ側の光軸にず詐が生
じ、トラック誤差検出用光検出器への入射光量差が発生
するため誤差信号にオフセットが生じる。この問題点を
解決するために、本発明では次のような対策を講じてい
る。C領域、D領域の反射型格子レンズ41.42は、
光軸について対称で等しい面積に入射する光を検出する
ように配置されている。したがって、誤差検出系光軸に
対して収束レンズ光軸がトラックに垂直方向にずれた場
合も、C領域、D領域の反射型格子レンズ41.42に
入射する光量に変化はなく、トラック誤差オフセットの
発生は抑制される。
用し、誤差修正のために収束レンズを動かす方法では、
誤差検出側の光学系の光軸とレンズ側の光軸にず詐が生
じ、トラック誤差検出用光検出器への入射光量差が発生
するため誤差信号にオフセットが生じる。この問題点を
解決するために、本発明では次のような対策を講じてい
る。C領域、D領域の反射型格子レンズ41.42は、
光軸について対称で等しい面積に入射する光を検出する
ように配置されている。したがって、誤差検出系光軸に
対して収束レンズ光軸がトラックに垂直方向にずれた場
合も、C領域、D領域の反射型格子レンズ41.42に
入射する光量に変化はなく、トラック誤差オフセットの
発生は抑制される。
本実施例では、6分割光検出器34の第1分割線47は
ディスクトラック方向と垂直であるが、6分割光検出器
34の配置は、反射型格子レンズへの入射光の光軸を中
心にして、第1図に示した配置から、反射型格子レンズ
23の分割線38と共に任意の角度だけ回転させた配置
も可能である。
ディスクトラック方向と垂直であるが、6分割光検出器
34の配置は、反射型格子レンズへの入射光の光軸を中
心にして、第1図に示した配置から、反射型格子レンズ
23の分割線38と共に任意の角度だけ回転させた配置
も可能である。
又、トラック誤差検出用の光検出器32.33の配置は
、C領域反射型格子レンズ41からの回折光37とD領
域反射型格子レンズ42からの回折光36を分離して独
立に検出できれば任意圧することができる。
、C領域反射型格子レンズ41からの回折光37とD領
域反射型格子レンズ42からの回折光36を分離して独
立に検出できれば任意圧することができる。
第11図は、本発明の第2の実施例の反射型格子レンズ
52を示す図で、第1の実施例に対して反射型格子レン
ズの境界[38に一90’回転したものである。6分割
光検出器との関係は、第1の実施例と全く同じで第9図
に示すよう〈反射型格子レンズ39,40の回折光が6
分割光検出器上の収束点43.44に収束し、反射型格
子レンズ41.42の回折光が6分割光検出器上の収束
点45.46に収束する動作は第1の実施例と全く同じ
である。
52を示す図で、第1の実施例に対して反射型格子レン
ズの境界[38に一90’回転したものである。6分割
光検出器との関係は、第1の実施例と全く同じで第9図
に示すよう〈反射型格子レンズ39,40の回折光が6
分割光検出器上の収束点43.44に収束し、反射型格
子レンズ41.42の回折光が6分割光検出器上の収束
点45.46に収束する動作は第1の実施例と全く同じ
である。
第12図は、本発明の第3の実施例の反射型格子レンズ
を示す図で、反射型格子レンズ53は2つの境界線55
.56により4つの領域に分割されておシ、第1の実施
例のA、B、C,D領域に相当するのが、57,58,
59,60である。
を示す図で、反射型格子レンズ53は2つの境界線55
.56により4つの領域に分割されておシ、第1の実施
例のA、B、C,D領域に相当するのが、57,58,
59,60である。
したがってトラ、夕方向を図に示す54の矢印方向に設
定することで第1の実施例と同じ動作が得られる。
定することで第1の実施例と同じ動作が得られる。
本発明の光ヘツド装置は、受光系部分の光学部品が反射
型格子レンズと偏光プリズムだけでよく、これまで多数
の部品を使っていた光ヘツド装置の部品を大幅に削減す
ることが可能であシ、これまで光デイスク装置全体の小
型化のネ、りとなっていた光ヘッドのサイズを縮小する
ことが可能となる。また、本発明に用いる反射型格子レ
ンズは表面凹凸型の素子であるので、金型を作製すれば
熱プレス法、あるいはフォトポリマー法等によシ、レプ
リカが容易に得られるので、安価に量産することができ
る。又、本発明では、トラ、キング信号を得るための領
域(C、D領域)を設けているので、上で説明したよう
に収束レンズの移動によるトラックオフセットが生じな
い。さらに本発明では、RF倍信号誤差信号は、反射型
格子レンズヲヒームスプリツタとして分離されているの
で、信号量干渉が小さく、サーボも安定である3、
型格子レンズと偏光プリズムだけでよく、これまで多数
の部品を使っていた光ヘツド装置の部品を大幅に削減す
ることが可能であシ、これまで光デイスク装置全体の小
型化のネ、りとなっていた光ヘッドのサイズを縮小する
ことが可能となる。また、本発明に用いる反射型格子レ
ンズは表面凹凸型の素子であるので、金型を作製すれば
熱プレス法、あるいはフォトポリマー法等によシ、レプ
リカが容易に得られるので、安価に量産することができ
る。又、本発明では、トラ、キング信号を得るための領
域(C、D領域)を設けているので、上で説明したよう
に収束レンズの移動によるトラックオフセットが生じな
い。さらに本発明では、RF倍信号誤差信号は、反射型
格子レンズヲヒームスプリツタとして分離されているの
で、信号量干渉が小さく、サーボも安定である3、
第1図は本発明の第1の実施例を示す斜視図、第2図は
従来の光ヘッド装置の一例を示す斜視図、第3図〜第8
図は反射型格子のλ/4に対する回折効率を示す図、第
9図は第1図の実施例の部分斜視図、第10図は6分割
光検出器上の回折光の状態を説明するための図、第11
図は本発明の第2の実施例の格子レンズを示す図、第1
2図は本発明の第3の実施例の格子レンズを示す図であ
る。 l・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・放射ビー
ム、3・・・・・・コリメーティングレンズ、4・・・
・・−コリメートビーム、5・・・・・・ビームスプリ
、り、6・・・・・・全反射プリズム、7・・・・・・
収束レンズ、8・・・・・・光デイスク面、9・・・・
・・レンズ、10・・・・・・偏光ビームスプリッタ、
11・・・・・・透過光、12−・・・・・反射光、1
3,27・・・・・・2分割光検出器、14,15,1
8,19,20゜21.25,26,28,29,30
,31,32゜33・・・・・・光検出素子、16・・
・・・・円筒レンズ、17・・・4分割光検出器、23
,39,40,41,42゜格子レンズ、24・・−・
・・偏光プリズム、34・・・・・・6分割光検出器、
35・・・・・・省路線、36,37,49゜5o・・
・・・・回折光、38.55.56・・・・・・境界線
、43.44,45,46・−・・・・収束点、47・
・・・・・第1分割線、48・・・・・・第2分割線、
51・・・・・・O次回新党、54・・・・・・トラッ
ク方向を示す矢印。 代理人 弁理士 内 原 晋 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8困 第9図 2分子ll尤倹ど器 第10図 第11図 第12図
従来の光ヘッド装置の一例を示す斜視図、第3図〜第8
図は反射型格子のλ/4に対する回折効率を示す図、第
9図は第1図の実施例の部分斜視図、第10図は6分割
光検出器上の回折光の状態を説明するための図、第11
図は本発明の第2の実施例の格子レンズを示す図、第1
2図は本発明の第3の実施例の格子レンズを示す図であ
る。 l・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・放射ビー
ム、3・・・・・・コリメーティングレンズ、4・・・
・・−コリメートビーム、5・・・・・・ビームスプリ
、り、6・・・・・・全反射プリズム、7・・・・・・
収束レンズ、8・・・・・・光デイスク面、9・・・・
・・レンズ、10・・・・・・偏光ビームスプリッタ、
11・・・・・・透過光、12−・・・・・反射光、1
3,27・・・・・・2分割光検出器、14,15,1
8,19,20゜21.25,26,28,29,30
,31,32゜33・・・・・・光検出素子、16・・
・・・・円筒レンズ、17・・・4分割光検出器、23
,39,40,41,42゜格子レンズ、24・・−・
・・偏光プリズム、34・・・・・・6分割光検出器、
35・・・・・・省路線、36,37,49゜5o・・
・・・・回折光、38.55.56・・・・・・境界線
、43.44,45,46・−・・・・収束点、47・
・・・・・第1分割線、48・・・・・・第2分割線、
51・・・・・・O次回新党、54・・・・・・トラッ
ク方向を示す矢印。 代理人 弁理士 内 原 晋 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8困 第9図 2分子ll尤倹ど器 第10図 第11図 第12図
Claims (1)
- レーザ光をビームスプリッタを介して収束光学系でディ
スク面に収束して、情報の書込み読出しをする光ヘッド
装置において、特定の偏光を反射・回折して、前記ビー
ムスプリッタで前記収束光学系の光軸外にとり出した前
記ディスクからの反射光を反射光と回折光に分割する、
異なる特性の複数の領域から成る反射型格子素子と、前
記反射型格子素子の反射光から読出し信号を検出する検
出系と、前記回折光から焦点誤差信号及びトラッキング
誤差信号を検出する検出系とを備えていることを特徴と
する光ヘッド装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62303529A JPH01144233A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 光ヘッド装置 |
DE88119870T DE3887657T2 (de) | 1987-11-30 | 1988-11-29 | Optischer Kopf. |
EP88119870A EP0318912B1 (en) | 1987-11-30 | 1988-11-29 | An optical head |
US07/277,735 US5036504A (en) | 1987-11-30 | 1988-11-30 | Optical head using a reflection grating |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62303529A JPH01144233A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 光ヘッド装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01144233A true JPH01144233A (ja) | 1989-06-06 |
Family
ID=17922087
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62303529A Pending JPH01144233A (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01144233A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5296694A (en) * | 1992-03-31 | 1994-03-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pick-up head apparatus with optical means having polarization anisotropy |
JPH0773479A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-03-17 | Fujitsu Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
US5559767A (en) * | 1993-12-27 | 1996-09-24 | Nec Corporation | Apparatus for detecting a focus error and a tracking error of an optical head |
US5742572A (en) * | 1993-06-21 | 1998-04-21 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus which detects focal error |
US5751681A (en) * | 1997-03-17 | 1998-05-12 | Nec Corporation | Tracking signal detection with a photodetector receiving one of a ∓1st-order polarized light |
US5793725A (en) * | 1993-06-21 | 1998-08-11 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus having a composite prism with a plurality of emission surfaces |
US6185166B1 (en) | 1993-06-21 | 2001-02-06 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP62303529A patent/JPH01144233A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5296694A (en) * | 1992-03-31 | 1994-03-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical pick-up head apparatus with optical means having polarization anisotropy |
JPH0773479A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-03-17 | Fujitsu Ltd | 光学的情報記録再生装置 |
US5742572A (en) * | 1993-06-21 | 1998-04-21 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus which detects focal error |
US5793725A (en) * | 1993-06-21 | 1998-08-11 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus having a composite prism with a plurality of emission surfaces |
US6185166B1 (en) | 1993-06-21 | 2001-02-06 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus |
US6339564B2 (en) | 1993-06-21 | 2002-01-15 | Fujitsu Limited | Optical information recording/reproducing apparatus |
US5559767A (en) * | 1993-12-27 | 1996-09-24 | Nec Corporation | Apparatus for detecting a focus error and a tracking error of an optical head |
US5751681A (en) * | 1997-03-17 | 1998-05-12 | Nec Corporation | Tracking signal detection with a photodetector receiving one of a ∓1st-order polarized light |
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