JPH01139247A - 透明積層体 - Google Patents
透明積層体Info
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- JPH01139247A JPH01139247A JP62298468A JP29846887A JPH01139247A JP H01139247 A JPH01139247 A JP H01139247A JP 62298468 A JP62298468 A JP 62298468A JP 29846887 A JP29846887 A JP 29846887A JP H01139247 A JPH01139247 A JP H01139247A
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- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 30
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- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 5
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Landscapes
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、優れた透明性を有し透明導電膜や透明ガスバ
リヤ−膜等として好適な透明積層体に関するものである
。
リヤ−膜等として好適な透明積層体に関するものである
。
(従来の技術)
従来、透明基体上に透明基体の屈折率より高い屈折率を
有する薄膜を積層した透明積層体が知られている。かか
る透明積層体においては、薄膜の屈折率及び膜厚によっ
て透過率が大きく変化し。
有する薄膜を積層した透明積層体が知られている。かか
る透明積層体においては、薄膜の屈折率及び膜厚によっ
て透過率が大きく変化し。
十分な透明性を有するものではなかった。かかる欠点を
解消するために、たとえば酸化インジウムと酸化スズの
混合物等の透明導電膜では、透明性を上げるために透明
導電膜付与面の逆面に、透明基体の屈折率より低い屈折
率を有する薄膜を付与したものが知られている。また、
AIN、ZnS等の透明ガスバリヤ−膜においては、A
IN、ZnS等の股上に樹脂をコートしたものが知られ
ている。
解消するために、たとえば酸化インジウムと酸化スズの
混合物等の透明導電膜では、透明性を上げるために透明
導電膜付与面の逆面に、透明基体の屈折率より低い屈折
率を有する薄膜を付与したものが知られている。また、
AIN、ZnS等の透明ガスバリヤ−膜においては、A
IN、ZnS等の股上に樹脂をコートしたものが知られ
ている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、これら低い屈折率を有する薄膜を付与し
たもの又は樹脂をコートしたものはこれらの薄膜又は樹
脂を付与するという工程が必要であった。
たもの又は樹脂をコートしたものはこれらの薄膜又は樹
脂を付与するという工程が必要であった。
本発明は上記のような問題点を解消しようとするもので
あって、その目的は上記のような薄膜。
あって、その目的は上記のような薄膜。
樹脂等を付与しなくても十分な透明性を有する透明積層
体を提供することにある。
体を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明者らは、上記のごとき問題点を解決するために鋭
意研究の結果、透明基体上に形成する薄膜の屈折率と膜
厚の関係を特定の範囲にすることにより、優れた透明性
を有する透明積層体が得られることを見出し2本発明に
到達した。
意研究の結果、透明基体上に形成する薄膜の屈折率と膜
厚の関係を特定の範囲にすることにより、優れた透明性
を有する透明積層体が得られることを見出し2本発明に
到達した。
すなわち1本発明は、透明基体上に、透明基体の屈折率
より高い屈折率を有する薄膜を積層した透明積層体にお
いて、薄膜の屈折率nと膜厚dとの積ndが (0,5a−0,125)λ< n d < (0,5
a +0.125)λ(ただし、λは透過する光線の波
長、aは0〜10の整数、nd>O,d及びλの単位は
人) を満足することを特徴とする透明積層体を要旨とするも
のである。
より高い屈折率を有する薄膜を積層した透明積層体にお
いて、薄膜の屈折率nと膜厚dとの積ndが (0,5a−0,125)λ< n d < (0,5
a +0.125)λ(ただし、λは透過する光線の波
長、aは0〜10の整数、nd>O,d及びλの単位は
人) を満足することを特徴とする透明積層体を要旨とするも
のである。
以下1本発明の詳細な説明する。
まず1本発明おける透明基体としては、ガラス板、プラ
スチック板、プラスチックフィルム等の透明基体が挙げ
られる。
スチック板、プラスチックフィルム等の透明基体が挙げ
られる。
本発明の透明積層体は、このような透明基体上に酸化イ
ンジウムと酸化スズの混合物、ZnS。
ンジウムと酸化スズの混合物、ZnS。
AIN膜等の薄膜を形成したものであるが、かかる薄膜
の屈折率nと膜厚dとの積ndが(0,5a−0,12
5)λ< n d < (0,5a +0.125)λ
を満足することが必要である。すなわち、薄膜の屈折率
に応じて薄膜の膜厚を特定の範囲とするものである。好
ましくは、ndが(0,5a −0,06)λ< n
d < (0,5a +0.06) λであり、また
、実用面からaは0〜lOの範囲が好適である。rzf
が上記範囲外では、上限を超える場合も下限を下回る場
合のいずれの場合も反射率が大きくなり、透明性が低下
するので、好ましくない。
の屈折率nと膜厚dとの積ndが(0,5a−0,12
5)λ< n d < (0,5a +0.125)λ
を満足することが必要である。すなわち、薄膜の屈折率
に応じて薄膜の膜厚を特定の範囲とするものである。好
ましくは、ndが(0,5a −0,06)λ< n
d < (0,5a +0.06) λであり、また
、実用面からaは0〜lOの範囲が好適である。rzf
が上記範囲外では、上限を超える場合も下限を下回る場
合のいずれの場合も反射率が大きくなり、透明性が低下
するので、好ましくない。
上記本発明の透明積層体は、透明基体上に形成する薄膜
の膜厚を薄膜を構成する物質に依存する屈折率に応じて
制御して、イオンブレーティング法、スパッタリング法
等の真空薄膜形成法により形成される。薄膜の付着強度
、成膜速度等の点から高周波によるイオンブレーティン
グ法、又はホローカソードガンを用いたイオンブレーテ
ィング法、プラズマ発生装置を用いたイオンビームミキ
シング法、シートプラズマ法等を採用することが望まし
い。
の膜厚を薄膜を構成する物質に依存する屈折率に応じて
制御して、イオンブレーティング法、スパッタリング法
等の真空薄膜形成法により形成される。薄膜の付着強度
、成膜速度等の点から高周波によるイオンブレーティン
グ法、又はホローカソードガンを用いたイオンブレーテ
ィング法、プラズマ発生装置を用いたイオンビームミキ
シング法、シートプラズマ法等を採用することが望まし
い。
また、透明基体と薄膜との付着力を向上させるために、
透明基体の表面にアンカー処理剤を塗布したり、フィル
ム表面に放電処理、化学処理等を施しても良い。また、
透明基体の両面に上記薄膜を付与しても良い。
透明基体の表面にアンカー処理剤を塗布したり、フィル
ム表面に放電処理、化学処理等を施しても良い。また、
透明基体の両面に上記薄膜を付与しても良い。
なお1本発明の透明積層体は、従来の積層体のようにそ
の表面に樹脂等を付与しなくても十分な透明性を有する
が9本発明の透明積層体の薄膜面上にその薄膜の屈折率
より低い屈折率の樹脂をコートするとさらに光の透過率
が上がり、より高い透明性が得られる。
の表面に樹脂等を付与しなくても十分な透明性を有する
が9本発明の透明積層体の薄膜面上にその薄膜の屈折率
より低い屈折率の樹脂をコートするとさらに光の透過率
が上がり、より高い透明性が得られる。
(実施例)
次に1本発明を実施例によって具体的に説明する。
以下の実施例における特性値は次の方法で測定したもの
である。
である。
Tl) 透過率(%)
透明性を評価するために9分光光度計(0菊日立製作所
製: U−3400)により可視光(5500人)の透
過率を測定した。
製: U−3400)により可視光(5500人)の透
過率を測定した。
(2)反射率(%)
反射率を評価するために1分光光度計(■日立製作所型
: U−3400)により可視光(5500人)の15
度反射率を測定した。
: U−3400)により可視光(5500人)の15
度反射率を測定した。
(3)屈折率はエリプソメータで測定し、膜厚は水晶振
動膜厚計で測定した。
動膜厚計で測定した。
実施例1.2.3.4.比較例L 2. 3ポリエチ
レンテレフタレートフイルム(屈折率1.57.透過率
86%、厚み100μm)と、5重量%の酸化スズを含
む酸化インジウムと酸化スズとの混合物(以下、ITO
という)を各所定の位置にセットした真空装置内をI
X 10”Torrまで排気し、しかる後に酸素ガスを
5 X 10−’Torrまで導入した。次に、高周波
プラズマ(13,56MI(z、 50W)を発生させ
。
レンテレフタレートフイルム(屈折率1.57.透過率
86%、厚み100μm)と、5重量%の酸化スズを含
む酸化インジウムと酸化スズとの混合物(以下、ITO
という)を各所定の位置にセットした真空装置内をI
X 10”Torrまで排気し、しかる後に酸素ガスを
5 X 10−’Torrまで導入した。次に、高周波
プラズマ(13,56MI(z、 50W)を発生させ
。
電子銃によりITOペレットを加熱蒸発させて。
3人/Sの成膜速度で屈折率nが1.9のITO薄膜を
1膜厚がそれぞれ1270人 (実施例1)、1450
人(実施例2)、1800人(実施例3)+1990人
(比較例1)。
1膜厚がそれぞれ1270人 (実施例1)、1450
人(実施例2)、1800人(実施例3)+1990人
(比較例1)。
2170人(比較例2)、2350人(比較例3)、2
900人(実施例4)になるように成膜した。
900人(実施例4)になるように成膜した。
得られた透明積層体の透過率2反射率を測定した。得ら
れた結果を第1表に示す。
れた結果を第1表に示す。
実施例5.比較例4
真空装置内の所定の位置に、実施例1と同様のポリエチ
レンテレフタレートフィルム(屈折率1゜57、透過率
86%、厚み100μm)とアルミニュウムを各所定の
位置にセントした真空装置内をlXl0−’Torrま
で排気し、窒素ガスをI X 10−’Torrまで導
入した。次いで、高周波プラズマ(13、56M1lz
、 50W)を発生させ、電子銃によりアルミニュウ
ムペレットを加熱蒸発させてアルミニュウムを窒素プラ
ズマ下で反応させ、3人/Sの成膜速度で屈折率nが2
.0のAIN膜を、膜厚がそれぞれ1375人(実施例
5)、690人(比較例4)となるように成膜した。
レンテレフタレートフィルム(屈折率1゜57、透過率
86%、厚み100μm)とアルミニュウムを各所定の
位置にセントした真空装置内をlXl0−’Torrま
で排気し、窒素ガスをI X 10−’Torrまで導
入した。次いで、高周波プラズマ(13、56M1lz
、 50W)を発生させ、電子銃によりアルミニュウ
ムペレットを加熱蒸発させてアルミニュウムを窒素プラ
ズマ下で反応させ、3人/Sの成膜速度で屈折率nが2
.0のAIN膜を、膜厚がそれぞれ1375人(実施例
5)、690人(比較例4)となるように成膜した。
得られた透明積層体の透過率2反射率を測定した。得ら
れた結果を第1表に示す。
れた結果を第1表に示す。
実施例6.比較例5
真空装置内の所定の位置に、実施例1と同様のポリエチ
レンテレフタレートフィルム(屈折率1゜57、透過率
86%、厚み100 p m)とZnSを各所定の位置
にセントした真空装置内をI X 10−’Torrま
で排気し、ArガスをI X 10− ’Torr導入
し、高周波プラズマ(13,56MHz、 50W)を
発生させ、電子銃によりZnSペレットを加熱蒸発させ
て、3人/S成膜速度で屈折率nが2.3のZnS膜を
、膜厚がそれぞれ1195人(実施例6)、600人(
比較例5)となるように成膜した。
レンテレフタレートフィルム(屈折率1゜57、透過率
86%、厚み100 p m)とZnSを各所定の位置
にセントした真空装置内をI X 10−’Torrま
で排気し、ArガスをI X 10− ’Torr導入
し、高周波プラズマ(13,56MHz、 50W)を
発生させ、電子銃によりZnSペレットを加熱蒸発させ
て、3人/S成膜速度で屈折率nが2.3のZnS膜を
、膜厚がそれぞれ1195人(実施例6)、600人(
比較例5)となるように成膜した。
得られた透明積層体の透過率1反射率を測定した。得ら
れた結果を第1表に示す。
れた結果を第1表に示す。
第1表
第1表から明らかなように1本発明の透明積層体は、優
れた透過率を示していて良好な透明性を有している。こ
れに対して、比較例の積層体は透明性に劣っている。
れた透過率を示していて良好な透明性を有している。こ
れに対して、比較例の積層体は透明性に劣っている。
(発明の効果)
本発明の透明積層体は、上記のように薄膜の屈折率nと
膜厚dとの積ndが特定の範囲にあるので、優れた透明
性を有するものである。かかる透明積層体は、ITO膜
等からなる透明導電膜として、またZnS、AffN膜
等からなるガスバリヤ−膜等として好適に利用すること
ができる。
膜厚dとの積ndが特定の範囲にあるので、優れた透明
性を有するものである。かかる透明積層体は、ITO膜
等からなる透明導電膜として、またZnS、AffN膜
等からなるガスバリヤ−膜等として好適に利用すること
ができる。
Claims (4)
- (1)透明基体上に、透明基体の屈折率より高い屈折率
を有する薄膜を積層した透明積層体において、薄膜の屈
折率nと膜厚dとの積ndが (0.5_a−0.125)λ<nd<(0.5_a+
0.125)λ(ただし、λは透過する光線の波長、a
は0〜10の整数、nd>0、d及びλの単位はÅ) を満足することを特徴とする透明積層体。 - (2)薄膜が酸化インジウムと酸化スズの、混合物から
なる特許請求の範囲第1項記載の透明積層体。 - (3)薄膜がZnSからなる特許請求の範囲第1項記載
の透明積層体。 - (4)薄膜がAlNからなる特許請求の範囲第1項記載
の透明積層体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62298468A JPH01139247A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 透明積層体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62298468A JPH01139247A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 透明積層体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01139247A true JPH01139247A (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=17860096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62298468A Pending JPH01139247A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 透明積層体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01139247A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5546172A (en) * | 1993-11-19 | 1996-08-13 | Fujitsu Limited | Transfer omission detector in tranfer unit for image forming apparatus |
-
1987
- 1987-11-26 JP JP62298468A patent/JPH01139247A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5546172A (en) * | 1993-11-19 | 1996-08-13 | Fujitsu Limited | Transfer omission detector in tranfer unit for image forming apparatus |
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