JPH01130409A - 透明導電フィルムの遮断膜 - Google Patents
透明導電フィルムの遮断膜Info
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- JPH01130409A JPH01130409A JP62288672A JP28867287A JPH01130409A JP H01130409 A JPH01130409 A JP H01130409A JP 62288672 A JP62288672 A JP 62288672A JP 28867287 A JP28867287 A JP 28867287A JP H01130409 A JPH01130409 A JP H01130409A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、例えば、ベースフィルムに透明導電層を形
成した透明導電フィルムを2反対向させ、その間に絶縁
性流体層(空気層なと)を挟んで重ね合わせて、透明な
タッチパネルを構成するために使用される透明導電フィ
ルムの遮断膜に関する。
成した透明導電フィルムを2反対向させ、その間に絶縁
性流体層(空気層なと)を挟んで重ね合わせて、透明な
タッチパネルを構成するために使用される透明導電フィ
ルムの遮断膜に関する。
「従来の技術」
第8図に示すのは、透明タッチパネルT Pの一例であ
り、柔軟性と透光性を備えたプラスチックからなるベー
スフィルム1の一面に透明導71i +jX 2が形成
された透明導電フィルム3が、該透明導電膜2を向き合
わせて重ね合わせられ、その間にはスペーサ4が設けら
れるとともに密封された空気層5が形成されている。こ
の透明タッチパネルTPは、CRTなどの表示装置のパ
ネルP上に貼付して使用され、そのスイッチの機能か表
示装置により可変表示できろという利点を有している。
り、柔軟性と透光性を備えたプラスチックからなるベー
スフィルム1の一面に透明導71i +jX 2が形成
された透明導電フィルム3が、該透明導電膜2を向き合
わせて重ね合わせられ、その間にはスペーサ4が設けら
れるとともに密封された空気層5が形成されている。こ
の透明タッチパネルTPは、CRTなどの表示装置のパ
ネルP上に貼付して使用され、そのスイッチの機能か表
示装置により可変表示できろという利点を有している。
このようなタッチパネルTPは、繰り返して人の指など
で押圧して使用されるので、ベースフィルムlが摩耗に
対して強くなければならないとともに、ITO(インジ
ウム・錫酸化物)などからなる透明導電膜2の変質を防
ぐために防水性が高くなげればならない。しかし、PE
T(ポリエチレンテレフタレート)やポリイミドなどの
素材は、それ自体が含水性を有しており、これらの水分
が拡散して透明導電膜2を劣化させてしまうので、ベー
スフィルムlと透明導電膜2の間にS jo 2.A
Ito 3゜AINなどの組成を有するセラミックス層
をスパッタリング等により形成して遮断膜層を形成して
いた。
で押圧して使用されるので、ベースフィルムlが摩耗に
対して強くなければならないとともに、ITO(インジ
ウム・錫酸化物)などからなる透明導電膜2の変質を防
ぐために防水性が高くなげればならない。しかし、PE
T(ポリエチレンテレフタレート)やポリイミドなどの
素材は、それ自体が含水性を有しており、これらの水分
が拡散して透明導電膜2を劣化させてしまうので、ベー
スフィルムlと透明導電膜2の間にS jo 2.A
Ito 3゜AINなどの組成を有するセラミックス層
をスパッタリング等により形成して遮断膜層を形成して
いた。
「発明が解決しようとする問題点」
ところで、上記のような遮断膜層に対しては、■水分や
有害なイオンを通さない。
有害なイオンを通さない。
■耐摩耗性、耐食性、耐水性が高く、膜自体が安定であ
る。
る。
■透明導電膜及びベースフィルムの双方との密着性が良
い。
い。
■大面積の膜が均一な厚さに作れる、
■可視光の吸収が少ない。
などの特性が要求されろ。
ところが、上記のような組成の遮断膜においては、これ
らの特性を均等に満たすものかなく、遮断膜としての性
能が不充分であり、その結果、ITO膜の劣化を促進す
るという難点があった。
らの特性を均等に満たすものかなく、遮断膜としての性
能が不充分であり、その結果、ITO膜の劣化を促進す
るという難点があった。
「問題点を解決するための手段」
本発明は上記の問題を解決するためになされたもので、
柔軟性及び透光性を有するベースフィルムの面上に透明
導電膜が形成されてなる透明導電フィルムにおいて、上
記ベースフィルムと透明導電膜との間に、Si及びNを
含む組成のセラミックスからなる遮断膜層を形成したも
のである。このセラミックスとしては、SiNxのうち
Xの値を適宜に変化させたものを採用してよいが、特に
、K= 1.0〜1.3の範囲が好適である。また、5
i02等を適宜加えて特性の向上を図ってもよい。被膜
の形成法としては、蒸着、スパッタリング等の周知の技
術が採用されてよい。
柔軟性及び透光性を有するベースフィルムの面上に透明
導電膜が形成されてなる透明導電フィルムにおいて、上
記ベースフィルムと透明導電膜との間に、Si及びNを
含む組成のセラミックスからなる遮断膜層を形成したも
のである。このセラミックスとしては、SiNxのうち
Xの値を適宜に変化させたものを採用してよいが、特に
、K= 1.0〜1.3の範囲が好適である。また、5
i02等を適宜加えて特性の向上を図ってもよい。被膜
の形成法としては、蒸着、スパッタリング等の周知の技
術が採用されてよい。
「実施例」
第1図はタッチパネルTPのベースフィルム1の他面に
、Sl及びNを含むセラミックスからなる遮断膜層6を
スパッタリングにより形成した例を示すもので、以下、
遮断膜層6の物性に関する試験結果を項目ごとに挙げ、
この発明の透明導電フィルムの遮断膜の効果を実証する
。
、Sl及びNを含むセラミックスからなる遮断膜層6を
スパッタリングにより形成した例を示すもので、以下、
遮断膜層6の物性に関する試験結果を項目ごとに挙げ、
この発明の透明導電フィルムの遮断膜の効果を実証する
。
(イ)防水性試験
5i−N組成の遮断膜のITO膜に対する保護機能を確
認するために、第2図に示すように、PUTからなるベ
ースフィルム1(厚さ75μm)の−面に、下記の条件
でスパッタリングを行って遮断膜層6を形成した。
認するために、第2図に示すように、PUTからなるベ
ースフィルム1(厚さ75μm)の−面に、下記の条件
でスパッタリングを行って遮断膜層6を形成した。
■Arガス圧をLX 1O−3Torr。
■N、ガス分圧比[N 2]/[A r]を、(a)
l/40 。
l/40 。
(b)l/20.(c)1/10.(d)l/2に変化
させ、■高周波出力を200Wとし、 ■ターゲットとして金属ンリコンの仮を用いた。
させ、■高周波出力を200Wとし、 ■ターゲットとして金属ンリコンの仮を用いた。
この薄膜における組成比、すなわち組成をSiNxとし
たときのXの値をX線マイクロアナライザによって同定
したところ、それぞれ、(a)0.6.(b)1.0.
(c)1.3.(d)1.3であった。
たときのXの値をX線マイクロアナライザによって同定
したところ、それぞれ、(a)0.6.(b)1.0.
(c)1.3.(d)1.3であった。
また、上記の条件において、
■N2ガス分圧比を、(e)l/40.(Di/10と
し、■ターゲットとして、S isN 4+ S io
t(l wt%)を用いて5i3NtにSiO2が微
屯含まれる薄膜を形成した。このときのXは(e)1.
1.(r)1.3であった。
し、■ターゲットとして、S isN 4+ S io
t(l wt%)を用いて5i3NtにSiO2が微
屯含まれる薄膜を形成した。このときのXは(e)1.
1.(r)1.3であった。
また、比較のために、
■02ガス分圧比[02/Ar]を1740として、■
S Io 2.A I203からなるターゲットをそれ
ぞれ用いて薄膜を形成した(サンプル(g)、(k))
。
S Io 2.A I203からなるターゲットをそれ
ぞれ用いて薄膜を形成した(サンプル(g)、(k))
。
また、
■N、ガス分圧比を1/10として、
■AINからなるターゲットを用いて薄膜を形成した。
(サンプル(k))。
次に、」二足の薄膜(いずれも厚さ200人)の上に、
ITO(インジウム・すず酸化物)からなる透明導電膜
2(厚さ350人)を、 ■ArガスLX to−3Torrとし1■02ガス分
圧比[02]/ [A r]をl/100とし、■高周
波出力を150Wとして形成した。
ITO(インジウム・すず酸化物)からなる透明導電膜
2(厚さ350人)を、 ■ArガスLX to−3Torrとし1■02ガス分
圧比[02]/ [A r]をl/100とし、■高周
波出力を150Wとして形成した。
この透明導電膜2の上にさらに上記■〜■と同じ条件で
実施例と比較例の遮断膜6をそれぞれ形成してサンプル
フィルム7とした。
実施例と比較例の遮断膜6をそれぞれ形成してサンプル
フィルム7とした。
そして、このサンプルフィルム7を透明導電膜2の端部
に電極8を取り付けて耐食処理を施した後、第3図に示
すように、10wt%のNaC1を含有する水に浸漬さ
せて温度60°Cに保持し、ITO膜の抵抗値の経時変
化を調べた。このときの1000時間後の抵抗値の変化
率をまとめて第1表(次頁)に示す。この結果によれば
、5i−N系セラミックスにおける抵抗率変化は、S
io 、、A +、0 、。
に電極8を取り付けて耐食処理を施した後、第3図に示
すように、10wt%のNaC1を含有する水に浸漬さ
せて温度60°Cに保持し、ITO膜の抵抗値の経時変
化を調べた。このときの1000時間後の抵抗値の変化
率をまとめて第1表(次頁)に示す。この結果によれば
、5i−N系セラミックスにおける抵抗率変化は、S
io 、、A +、0 、。
AINに比較してほぼ半分の値であり、防水性、イオン
の透過を防止する能力が高いことが分かる。
の透過を防止する能力が高いことが分かる。
(ロ)密着性試験
指などの抑圧の繰り返しに対する、遮断膜6のベースフ
ィルムlに対する密着性を確認するために、第4図に示
すようなテストフィルム9及び試験装置を使用して密着
性試験を行った。
ィルムlに対する密着性を確認するために、第4図に示
すようなテストフィルム9及び試験装置を使用して密着
性試験を行った。
PETからなるベースフィルムl(厚さ75μm)上に
、(イ)と同じ条件にてスパッタリングを行い、厚さ2
00人の遮断膜6を形成し、この上に(ロ)と同じ条件
で厚さ350人のITOの透明導電膜2を形成した。こ
のようなフィルムを2枚、ITO側を内側としてスペー
サ4を挟んで対向させ、間に空気5を密封して接点を構
成した。これを先端を球面とした鍵10(材質ステンレ
ス、重さ100g。
、(イ)と同じ条件にてスパッタリングを行い、厚さ2
00人の遮断膜6を形成し、この上に(ロ)と同じ条件
で厚さ350人のITOの透明導電膜2を形成した。こ
のようなフィルムを2枚、ITO側を内側としてスペー
サ4を挟んで対向させ、間に空気5を密封して接点を構
成した。これを先端を球面とした鍵10(材質ステンレ
ス、重さ100g。
球面半径2mm)により繰り返し押圧し、対向するI′
I゛0間に直流電圧をかけてオンロスコープIIにより
波形の変化を観察した。そして、この波形が第5図に示
す矩形波から一定の範囲を越えて変化したときの打鍵回
数を密着性の目安とした。この結果を第1表に示す。
I゛0間に直流電圧をかけてオンロスコープIIにより
波形の変化を観察した。そして、この波形が第5図に示
す矩形波から一定の範囲を越えて変化したときの打鍵回
数を密着性の目安とした。この結果を第1表に示す。
この結果にIれば、x=1.o〜13のサンプル(C)
及びS i Otを含むサンプル(b)ないしくf)が
良好であり、AINのほしご2倍の耐用回数を示した。
及びS i Otを含むサンプル(b)ないしくf)が
良好であり、AINのほしご2倍の耐用回数を示した。
(ハ)分光透過性比較実験
ガラス基板の片面に、上記(イ)と同じ条件でスパッタ
リングにより、実施例と比較例の薄膜を1000人の厚
さに形成した。
リングにより、実施例と比較例の薄膜を1000人の厚
さに形成した。
そして、以上の薄膜のそれぞれについて可視光領域の分
光透過率を測定した。その結果を第6図に示す。
光透過率を測定した。その結果を第6図に示す。
このグラフから、シリコン単体をターゲットとしたサン
プル(c)、及びS i3N*十S io2をターゲッ
トとしたサンプル(f’)、(g)、(h)は、可視光
全域に亙って極めて透明な膜が得られ、透明導電フィル
ムに用いても問題かないことが分かった。
プル(c)、及びS i3N*十S io2をターゲッ
トとしたサンプル(f’)、(g)、(h)は、可視光
全域に亙って極めて透明な膜が得られ、透明導電フィル
ムに用いても問題かないことが分かった。
(ニ)硬度試験
指などの押圧の繰り返しに対する耐II耗性を確認する
ために、硬度試験を行った。
ために、硬度試験を行った。
Siウェーハの短冊(厚さ5mm、幅40mm)の−面
に上記(イ)と同様の条件でスパッタリングを行って薄
膜(厚さ1000人)を形成し、実施例及び比較例の試
験片を作成した。
に上記(イ)と同様の条件でスパッタリングを行って薄
膜(厚さ1000人)を形成し、実施例及び比較例の試
験片を作成した。
これらのサンプルについてヌープ硬さ試験を行った結果
を、第1表にまとめて示す。これによれば、SiNxの
組成を有する被膜は、窒素ガス分圧比が高いもの及び低
いもの(サンプル(a))を除いて硬度が2000に9
/ mm2以上てあり、5iOz、Al2O3、AIN
などに比べて高く、良好な耐摩耗性が確認された。
を、第1表にまとめて示す。これによれば、SiNxの
組成を有する被膜は、窒素ガス分圧比が高いもの及び低
いもの(サンプル(a))を除いて硬度が2000に9
/ mm2以上てあり、5iOz、Al2O3、AIN
などに比べて高く、良好な耐摩耗性が確認された。
以上述べたように、S+ Nの2元素を含む薄膜は、
プラスチックフィルム及びITO膜に対する密着性、防
水性、透光性、硬度など、いずれら透明導電フィルムの
遮断膜として好適な特性を備えている。
プラスチックフィルム及びITO膜に対する密着性、防
水性、透光性、硬度など、いずれら透明導電フィルムの
遮断膜として好適な特性を備えている。
なお、上記においては、S i、Nを含む組成のセラミ
ックス膜をスパッタリングにより形成したが、蒸着法そ
の他適宜の方法を採用してよい。
ックス膜をスパッタリングにより形成したが、蒸着法そ
の他適宜の方法を採用してよい。
また、上記のように、この遮断膜は、耐摩耗性、ベース
フィルムへの密着性、防水性に優れているので、ベース
フィルムと透明導電膜の間のみでなく、第7図に示すよ
うに、ベースフィルムの透明導電膜か形成されている面
と反対側の面、すなわち、′タッチパネルの表面側に形
成すれば、ベースフィルム自体及゛びその内側の透明導
電膜を人間の指による摩耗や、lモに含まれる水分や有
害なイオンから保護し、その変質を防いで、表示装置の
表示面が見にくくなることを防止することができる。
フィルムへの密着性、防水性に優れているので、ベース
フィルムと透明導電膜の間のみでなく、第7図に示すよ
うに、ベースフィルムの透明導電膜か形成されている面
と反対側の面、すなわち、′タッチパネルの表面側に形
成すれば、ベースフィルム自体及゛びその内側の透明導
電膜を人間の指による摩耗や、lモに含まれる水分や有
害なイオンから保護し、その変質を防いで、表示装置の
表示面が見にくくなることを防止することができる。
「発明の効果」
以上述べたように、この発明は、柔軟性及び透光性を存
するベースフィルムの面上に透明導電膜が形成されてな
る透明導電フィルムにおいて、上記ベースフィルムと透
明導電膜の間に、S i、Nの元素を含むセラミックス
からなる遮断膜層を形成したものであり、遮断膜層の防
水性が高いので、ベースフィルム自体に含まれる水分、
人間の汗に含まれる水分や有害なイオンの浸透を防ぎ、
ITOなどの透明導電膜の寿命を延長することができ、
また、ベースフィルムと透明導電膜双方への密着性が高
いので、操作による両者の剥離を防ぎ、透明導電フィル
ムとしての寿命をも延長することかできるという優れた
効果を奏するものである。
するベースフィルムの面上に透明導電膜が形成されてな
る透明導電フィルムにおいて、上記ベースフィルムと透
明導電膜の間に、S i、Nの元素を含むセラミックス
からなる遮断膜層を形成したものであり、遮断膜層の防
水性が高いので、ベースフィルム自体に含まれる水分、
人間の汗に含まれる水分や有害なイオンの浸透を防ぎ、
ITOなどの透明導電膜の寿命を延長することができ、
また、ベースフィルムと透明導電膜双方への密着性が高
いので、操作による両者の剥離を防ぎ、透明導電フィル
ムとしての寿命をも延長することかできるという優れた
効果を奏するものである。
第1図はこの発明の方法により製造された透明導電フィ
ルムの遮断膜をタッチパネルに適用した例を示す断面図
、第2図は防水性試験の試験用サンプルを示す断面図、
第3図は防水性試験の方法を示す図、第4図は密着性の
試験方法を示す図、第5図は密着性試験の電極間の電圧
波形を示すグラフ、第6図は分光透過性を示すグラフ、
第7図はこの発明の他の実職例のタッチパネルの透明導
電フィルムの構造を示す断面図、第8図は従来のタッチ
パネルの透明導電フィルムの構造を示す断面図である。 1・・・・・・ベースフィルム、2・・・・・透明導電
膜、3・・・・・透明導電フィルム、6・・・・・遮断
膜。
ルムの遮断膜をタッチパネルに適用した例を示す断面図
、第2図は防水性試験の試験用サンプルを示す断面図、
第3図は防水性試験の方法を示す図、第4図は密着性の
試験方法を示す図、第5図は密着性試験の電極間の電圧
波形を示すグラフ、第6図は分光透過性を示すグラフ、
第7図はこの発明の他の実職例のタッチパネルの透明導
電フィルムの構造を示す断面図、第8図は従来のタッチ
パネルの透明導電フィルムの構造を示す断面図である。 1・・・・・・ベースフィルム、2・・・・・透明導電
膜、3・・・・・透明導電フィルム、6・・・・・遮断
膜。
Claims (3)
- (1)柔軟性及び透光性を有するベースフィルムの面上
に透明導電膜が形成されてなる透明導電フィルムにおい
て、上記ベースフィルムと透明導電膜の間には、Si及
びNを含むセラミックスからなる遮断膜層が形成されて
いることを特徴とする透明導電フィルムの遮断膜。 - (2)上記遮断膜層の組成はSiNx(x=1.0〜1
.3)であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の透明導電フィルムの遮断膜。 - (3)上記遮断膜層はスパッタリングにより形成されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2
項記載の透明導電フィルムの遮断膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62288672A JPH01130409A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 透明導電フィルムの遮断膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62288672A JPH01130409A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 透明導電フィルムの遮断膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01130409A true JPH01130409A (ja) | 1989-05-23 |
Family
ID=17733187
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62288672A Pending JPH01130409A (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 透明導電フィルムの遮断膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01130409A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007080738A1 (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 透明導電膜および透明導電膜の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52116896A (en) * | 1976-03-29 | 1977-09-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Electrode plate and its preparation |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP62288672A patent/JPH01130409A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52116896A (en) * | 1976-03-29 | 1977-09-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Electrode plate and its preparation |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007080738A1 (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 透明導電膜および透明導電膜の製造方法 |
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