JPH01129497A - 電子機器のlsi素子冷却装置 - Google Patents

電子機器のlsi素子冷却装置

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JPH01129497A
JPH01129497A JP28872587A JP28872587A JPH01129497A JP H01129497 A JPH01129497 A JP H01129497A JP 28872587 A JP28872587 A JP 28872587A JP 28872587 A JP28872587 A JP 28872587A JP H01129497 A JPH01129497 A JP H01129497A
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JP
Japan
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air
temperature
air passage
lsi
air path
Prior art date
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Pending
Application number
JP28872587A
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English (en)
Inventor
Kenichi Nishimura
健一 西村
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 電子機器内部のLSI素子を送風により冷却する電子機
器のり、SI素子冷却装置に関し、電子機器の設置環境
温度範囲の拡大に対応可能とすることを目的とし、 電子機器内に外部より吸気された空気が該電子81器内
の空気通路を流れてLSI素子を冷却する電子機器のL
SI素子冷却装置において、上記空気通路を、仕切り板
により仕切って形成された、空気がLSI素子に触れて
流れる第1の空気通路部と、上記LSI素子に触れずに
流れる第2の空気通路部とよりなる構成とし、上記空気
通路の入口に設けてあり、上記第1の空気通路部を流れ
る空気の流伍を調整する流量調整手段と、上記空気通路
の入口の空気の温度を検出する入口温度センサと、上記
第1の空気通路部の出口の空気の温度を検出する出口温
度センサと、入口温度と出口温度とにより決定される流
1調整鼠に関する設定テーブルを有しており、上記入口
温度センサ及び上記出口温度センサが検出した温度に応
じて、上記設定テーブルを参照して、入口温度又は出口
温度が低下すると上記第1の空気通路部を流れる空気の
流量が減じ、入口温度又は出口温度が上貸プると上記第
1の空気通路部を流れる空気の流五が増すように、上記
流は調整手段を制御する制御手段とを備えて構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子機器の内部のLSI素子を送風により冷却
する電子機器のLSI素子冷却装置に関する。
電子計算機等の電子機器には設置環境湿度範囲があり、
電子機器は上記範囲内の温度に空調された至に設置され
る。
一方、LSI素子については正常な動作を保証する温度
範囲があり、電子機器内のLSI素子についてはその温
度が動作温度範囲内に保たれるように冷却する必要があ
る。
〔従来の技術〕
従来のLSI素子冷却装置を第4図に示す。図中、1は
電子機器本体、2はLSIモジュールである。LSIモ
ジュール2は、回路基板3上に冷却フィン4.5.6付
き(7)181素子7,8.9が実装された構造であり
、電子機器本体1内に縦向きで配されている。
10は吸気ファン、111ま排気ファンである。
12は空気通路である。これらがLSI素子冷却装置1
3を構成する。
電子機器本体1の外部の空気が吸気ファン10により矢
印14で示すように電子機器本体1の内部に吸入される
と共に、電子ti器本体1の内部の空気が矢印15で示
すように排気ファン11により外部に排気される。
吸気ファン10により電子81器本体1内に吸入された
空気は矢印16で示すように空気通路12内を上方に向
かって流れ、冷却フィン4〜6より熱を奪い、発熱して
いるLSI素子7.8.9が空冷される。これによりL
SI素子7.8.9は共に動作保証温度範囲内の温度に
保たれる。
冷風通路12は一つであり、ここを流れる空気の流伍は
常時一定である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来、電子機器の設置環境温度範囲は一般に10〜32
℃であるが、近年、この温度範囲が例えば10〜40℃
と拡がる傾向にある。
これに対応するためには、LSI素子の動作保2温度範
囲を拡大することが必要とされるが、このことは非常に
困難である。
このため、電子機器の環境温度が従来の温度範囲を越え
て、例えば40℃となった場合に、LSI素子7〜9の
温度が動作保証温度の上限を越えてしまい、LSI素子
7〜9が正常に動作しなくなり、電子機器が誤動作を起
こしてしまう虞れがあるという問題点があった。
なお、ファンio、i1をより強力なものに変更すれば
、冷却装置13の冷却能力が上り、上記の場合には対処
可能とはなるが、環境温度が低目の場合には、LSI素
子7〜9は過剰冷却となって動作保、7温度より低くな
ってしまい、LSI素子7〜9が正常に動作しなくなり
、電子楓器が誤動作を起こしてしまう虞れがある。
本発明は電子機器の設置環境温度範囲の拡大に対応可能
とするLSI1子冷却装置を提供することを目的とする
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、電子機器内に外部より吸気された空気が該電
子機器内の空気通路を流れてLSI素子を冷却する電子
R器のLSI素子冷却装置において、上記空気通路を、
仕切り板により仕切って形成された、空気がLSI1子
に触れて流れる第1の空気通路部と、上記LSI素子に
触れずに流れる第2の空気通路部とよりなる構成とし、
上記空気通路の入口に設けてあり、上記第1の空気通路
部を流れる空気の流通を調整する流8調整子段と、上記
空気通路の入口の空気の温度を検出する入口温度センサ
と、上記第1の空気通路部の出口の空気の温度を検出す
る出口温度センサと、入口温度と出口温度とにより決定
される流量調整吊に関する設定テーブルを有しており、
上記入口温度センサ及び上記出口温度センサが検出した
温度に応じて、上記設定テーブルを参照して、入口温度
又は出口温度が低下すると上記第1の空気通路部を流れ
る空気の流墨が減じ、入口温度又は出口温度が上昇する
と上記第1の空気通路部を流れる空気の流量が増すよう
に、上記流量調整手段を制御する制御手段とを備えて構
成したものである。
〔作用〕
流量調整手段及び制御手段は、設定テーブルを参照して
、入口温度が上昇すると第1の空気通路部内の空気の流
量が多くなるように、且つ出口温度が上昇した場合にも
第1の空気通路部内の空気の流聞が増すように制御する
。また入口温度が降下すると、第1の空気通路部内の空
気の流判が少なくなるように、且つ出口温度が下がった
場合にも第1の空気通路部内の空気の流訂が少なくなる
ように制御する。
これによりLSI素子に対する冷却能力が可変され、電
子機器の設置環境温度範囲が拡大された場合でも、LS
I素子の温度は、動作保証温度範囲の上限温度を越えず
、且つ下限温度を下回らないように制御される。
〔実施例〕
第1図は本発明の電子様器のLSI素子冷却装置の1実
施例を示す。図中、第 図に示す構成部分と実質上対応
する構成部分には同一符号を付す。
電子機器の設置環境温度範囲が10〜40℃と従来に比
べて拡大されており、一方、LSI素子の動作保証温度
範囲が従来と同じく10〜60℃のケースを例にとって
説明する。
20は、LSI素子冷却装置であり、空気通路21と、
空気流囚調整装置22と、空気通路21の入口温度セン
サ23と、上記空気通路21の出口温度センサ24と、
各温度センサ23.24よりの出力に応じて上記装置2
2を制御する制御装置25等より構成される。
空気通路21は、LSIモジュール2(回路基板3)と
電子機器本体1の側壁26との間に仕切り板27が設け
られた構成であり、LSIモジュール2と仕切り板27
との間の第1の空気通路部28と、仕切り板27と側壁
26との間の第2の空気通路部29とよりなる。即ち、
空気通路21は、前記の空気通路12が仕切り板27に
より空気の流れ方向に沿って二つに仕切られ、第1、第
2の空気通路部28.29よりなる構成である。
空気流量調整装置22は、空気通路21の入口35側に
、軸30を中心に回動可能に設【プられているフラップ
31と、このフラップ31を矢印A+、Δ2方向に回動
させるモータ32どよりなる。フラップ31はモータ3
2が停寸した<D−nに保持される。
フラップ31の矢印A1方向の最大回動位置は実線で示
す位置である。このとき、フラップ31は第1の空気通
路部28の入口33を塞いでいる。
フラップ31の開き角度θは0度である。
空気通路21は、第1の空気通路部28の入口33が完
全に閉じられ、第2の空気通路部2つの入口34が完全
に開いた状態となる。
フラップ31の矢印A2方向の最大回動位置は二点鎖線
で示す位置である。このとき、フラップ31は第2の空
気通路部29の入口34を塞いでいる。フラップ31の
開き角度θは90度である。
空気通路21は、を記とは逆に第2の空気通路部29の
入口34が完全に閉じられ、第1の空気通路部28の入
口33が完全に開いた状態となる。
フラップ31は上記の位置を最大回動位置としてその途
中の適宜回動位置とされる。これにより、第1の空気通
路部28の入口33の開度が可変され、第1の空気通路
部28内を流れる空気の流量(hが可変調整される。
なお吸気ファン10により電子問答本体1内に供給され
る外部の空気の流量をQ1第1の空気通路部28を流れ
る空気の流量をQ、+ 、第2の空気通路部2つを流れ
る空気の流やをQ2とすると、Q=Q+ +02の関係
がある。
入口温度センサ23はリニアサーミスタであり、空気通
路21の入口35に設けてあり、LSI素子7等に向け
られる空気の温度T1を測定する。
出口温度センサ24は同じくリニアサーミスタであり、
第1の空気通路部28の出口36に設けてあり、LSI
素子7〜9及び冷却フィン4〜6に触れて流れてこれら
より熱を奪って温度が上昇した空気の温度T2を測定す
る。
制御装置22には上記温度情報が常時供給されている。
制御装置22は、この温度情報に応じて所定の制御信号
を出力してモータ32を駆動し停止させる。
制御装置22は、マイクロコンピュータで構成しである
次にこのマイクロコンピュータの動作を、第2図を参照
して説明する。
まず、入口温度センサ23よりの温度情報が設置’fM
境温度範囲内か否かを判断する(ステップ40)。
判断結果がNoの場合には、警報を発する(ステップ4
1)。
判断結果がYESの場合には、出口温度センサ24より
の温度情報がLSI素子の動作保&E温度範囲内が否か
を判断する(ステップ42)。
判断結果がNOの場合には、警報を発するくステップ4
3)。
判断結果がYESの場合には、設定テーブルによりフラ
ップ開き角度を決定する(ステップ44〉。
第3図は設定テーブルを示す。
次いで、上記決定に応じた制御信号を出力する(ステッ
プ45)。
次に、上記構成になるLSI素子冷却装置20の動作に
ついて説明する。
吸気ファン10、排気ファン11は定速度で回転してお
り、時間当り流量Qの空気が内部に送り込まれる。この
流f?Qのうち、フラップ310回動位首により定まる
流m Q +が第1の空気通路部28を矢印50で丞す
ように流れ、残りの流量Q2が第2の空気通路部29を
矢印51で示すように流れる。各空気通路部28.29
を通った空気は排気フッ・ン11により外部に排気され
る。
第1の空気通路部28を流れる空気がLSI素子7〜9
を冷Wする。冷却の強さは、空気の流量Q1と入口での
空気の温度により決定され、流tが多い程及び温度が低
い程強い。
例えば、温度下1が25度で温度T2が35度である場
合には、モータ32が上記制御信号により駆動されて、
フラップ31の開き角度θは50度に設定される。
流m Q +はフラップ31の開き角度により決定され
る。
LSI素子7,8.9は冷却されて、動作保証温度笥囲
内のうち略中央の温度Toとされる。
次に[、S1素子7〜9が何らかの原因で更に発熱した
場合の動作について説明する。
LSI素子7へ・9が発熱を更に起こすと、温度■2が
上昇−する。温度T2が45度を越えると、第3図の設
定デー1ルより分かるように、モータ32が制御信号に
より駆動され、フラップ31が更に開いてこの聞き角度
θが60醍とされる。
これにより、人目3:3が聞かれて流ff1O+が増し
、LSI素子7〜5〕は今までより強力に冷却され、上
記温度Toに回復する。
次に電子様器が設置されでいる室の室温が上がった場合
の動作について説明する。
この場合には温度T+ 、T2が上品する。温度T+が
31度を越え、これに伴い温度T2が41度を越えたと
すると、モータ32が制御信号により駆動され、フラッ
プ31の開き角度θは80度とされる。
これにより、流m Q 1が増し、LSI素子7〜9は
、動作保証温度範囲の上品を越えないように冷却される
次に室温が逆に低下した場合の動作について説明する。
この場合には温度T+ 、T2が下陣する。温度T1が
20度以下となり、これに伴い温a T 2が30度以
下となった場合には、モータ32が制御信号により駆動
され、フラップ31が閉じる方向に回動されて開ぎ角度
θが10度とされる。
これにより、入口33が絞られて流Ei Q +が減り
、LSI素子7〜9が過剰に冷却されることが回避され
る。
大半の流ffi Q 2は、第2の空気通路部29を流
れる。
〔発明の効果〕
以上説明した様に、本発明によれば、電子機器の設置環
境温度範囲が拡大された場合でも、LSI素子の温度を
動作保証温度範囲内の温度に制御することが出来、然し
て電子機器の設置環境温度の拡大に対応することが出来
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例になる電子機器のLSI素子
冷却装置を示す図、 第2図は第1図中、制御装置の動作を示すフローチャー
ト、 第3図は設定テーブルを示す図、 第4図は従来の電子殿器のLSI素子冷却装置を示す図
である。 図において、 1は電子機器本体、 2はLSIモジ1−ル、 3は回路基板、 4〜6は冷却フィン、 7へ・9はLSI素子、 10は吸気ファン、 11は排気ファン、 20はLSI素子冷却装置、 21は空気通路、 22は空気流量調整装置、 23は入口温度センサ、 24は出口温度センサ、 25は制御装置、 27は仕切り板、 28は第1の空気通路部、 29は第2の空気通路部、 31はフラップ、 32はモータ 33.34.35は入口、 36は出口 を示す。 虫ζ!図士の酔)布r外転−tneyAT!社早ごfy
ローイミャート42図 装定〒−7゛ルg示す図 43図 第4して

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  電子機器(1)内に外部より吸気された空気が該電子
    機器内の空気通路(12,21)を流れてLSI素子(
    7〜9)を冷却する電子機器のLSI素子冷却装置にお
    いて、 上記空気通路(21)を、仕切り板により仕切って形成
    された、空気がLSI素子に触れて流れる第1の空気通
    路部(28)と、上記LSI素子に触れずに流れる第2
    の空気通路部(29)とよりなる構成とし、 上記空気通路の入口(35)に設けてあり、上記第1の
    空気通路部(28)を流れる空気の流量(Q_1)を調
    整する流量調整手段(22)と、上記空気通路の入口の
    空気の温度(T_1)を検出する入口温度センサ(23
    )と、 上記第1の空気通路部(28)の出口の空気の温度(T
    _2)を検出する出口温度センサ(24)と、 入口温度と出口温度とにより決定される流量調整量に関
    する設定テーブル(第3図)を有しており、上記入口温
    度センサ(23)及び上記出口温度センサ(24)が検
    出した温度(T_1,T_2)に応じて、上記設定テー
    ブルを参照して、入口温度又は出口温度が低下すると上
    記第1の空気通路部(28)を流れる空気の流量(Q_
    1)が減じ、入口温度又は出口温度が上昇すると上記第
    1の空気通路部(28)を流れる空気の流量(Q_1)
    が増すように、上記流量調整手段を制御する制御手段(
    25)とを備えてなることを特徴とする電子機器のLS
    I素子冷却装置。
JP28872587A 1987-11-16 1987-11-16 電子機器のlsi素子冷却装置 Pending JPH01129497A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997048261A1 (de) * 1996-06-14 1997-12-18 Knürr-Mechanik Für Die Elektronik Ag Geräteschrank für elektrische und elektronische systeme
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