JPH01126741A - 計算機システムの診断方法 - Google Patents
計算機システムの診断方法Info
- Publication number
- JPH01126741A JPH01126741A JP62285092A JP28509287A JPH01126741A JP H01126741 A JPH01126741 A JP H01126741A JP 62285092 A JP62285092 A JP 62285092A JP 28509287 A JP28509287 A JP 28509287A JP H01126741 A JPH01126741 A JP H01126741A
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- diagnosis
- computer system
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、計算機システムの診断方法に関するもので
ある。
ある。
第３図は計算機システムの基本的な構成を示す。図にお
いて、１は主記憶装置、２は中央処理装置、３はシステ
ムコンソール、４はワークステーション、５はフレキシ
ブルディスク装置、６は固定ディスク装置、７は時計機
構、８は自動電源ＯＮ１０ Ｆ Ｆ機構である。
いて、１は主記憶装置、２は中央処理装置、３はシステ
ムコンソール、４はワークステーション、５はフレキシ
ブルディスク装置、６は固定ディスク装置、７は時計機
構、８は自動電源ＯＮ１０ Ｆ Ｆ機構である。
つぎに、従来の計算機システムの診断方法を第４図に示
すフローチャートに基づき説明する。。
すフローチャートに基づき説明する。。
まず、計算機システムの電源をＯＮＬ、（ｓ−２１）、
ついで、Ｉ Ｐ Ｌ （ｉｎｉｔｉａｌ ｐｒｏｇｒａ
ｍ １ｏａｄｅｒ）を実施しくＳ−２２）、フレキシブ
ルディスク装置５から、計算機システムを立ち上げるた
めに必要な初期プログラムをロードし、起動する。同時
に、オペレータとの各種パラメータをやりとりするため
のシステムコンソール３およびワークステーション４を
立ち上げる（Ｓ−２３）。そして、計算機システムを診
断するための診断プログラムをロードし、各種診断パラ
メータを設定する。設定後、この診断パラメータに基づ
き計算機システムの一連の診断を実行しくＳ−２４）
、−連の診断が終了すると、計算機システムの電源をＯ
ＦＦする（Ｓ−２５）。
ついで、Ｉ Ｐ Ｌ （ｉｎｉｔｉａｌ ｐｒｏｇｒａ
ｍ １ｏａｄｅｒ）を実施しくＳ−２２）、フレキシブ
ルディスク装置５から、計算機システムを立ち上げるた
めに必要な初期プログラムをロードし、起動する。同時
に、オペレータとの各種パラメータをやりとりするため
のシステムコンソール３およびワークステーション４を
立ち上げる（Ｓ−２３）。そして、計算機システムを診
断するための診断プログラムをロードし、各種診断パラ
メータを設定する。設定後、この診断パラメータに基づ
き計算機システムの一連の診断を実行しくＳ−２４）
、−連の診断が終了すると、計算機システムの電源をＯ
ＦＦする（Ｓ−２５）。
従来の計算機システムの診断方法によると、計算機シス
テムの診断は、立ち上げ時に１回だけ行なっているから
、品質保証が充分でなかった。
テムの診断は、立ち上げ時に１回だけ行なっているから
、品質保証が充分でなかった。
この問題点を解決する方法として、立ち上げ時に診断を
数回性なう方法が提案されている。この方法は電源が自
動的にＯＦＦされるごとに操作者により電源をＯＮさせ
て、電源ＯＮから電源ＯＦＦまでの間に上述の動作を行
わせるものである。
数回性なう方法が提案されている。この方法は電源が自
動的にＯＦＦされるごとに操作者により電源をＯＮさせ
て、電源ＯＮから電源ＯＦＦまでの間に上述の動作を行
わせるものである。
しかし、この方法によると、操作者を必要とし、また、
同一のパラメータに基づく診断結果しか得られないから
、品質保証は充分とは言えなかった。
同一のパラメータに基づく診断結果しか得られないから
、品質保証は充分とは言えなかった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、品質保証を充分に行なえる計算機システムの
診断方法を得ることを目的とする。
たもので、品質保証を充分に行なえる計算機システムの
診断方法を得ることを目的とする。
Ｃ問題点を解決するための手段〕
この発明に係る計算機システムの診断方法は、電池によ
りバックアップされた時計機構と、自動電源０Ｎ／ＯＦ
Ｆ機構とを有する計算機システムの診断方法であって、
次の（ａ）〜（ｉ）のプロセスをこの順序で備えたもの
である。
りバックアップされた時計機構と、自動電源０Ｎ／ＯＦ
Ｆ機構とを有する計算機システムの診断方法であって、
次の（ａ）〜（ｉ）のプロセスをこの順序で備えたもの
である。
（ａ）電源をＯＮする。
（ｂ）初期プロゲラをロードして起動する。
（ｃ）診断プログラムをロードする。
（ｄ）診断パラメータを設定する。
（ｅ）設定された診断パラメータに基づき、診断を行な
うとともに、診断結果を不揮発性メモリに記録する。
うとともに、診断結果を不揮発性メモリに記録する。
（ｆ）診断回数をインクリメントする。
（ｇ）前記自動電源ＯＮ１０ Ｆ Ｆ機構により、前記
電源をＯＦＦする。
電源をＯＦＦする。
（ｈ）電源ＯＦＦ時から、時計機構により時間を計時し
、所定時間経過後、再び、自動電源ＯＮ１０ Ｆ Ｆ機
構により前記電源をＯＮする。
、所定時間経過後、再び、自動電源ＯＮ１０ Ｆ Ｆ機
構により前記電源をＯＮする。
（ｉ）以後、（ｂ）〜（ｈ）のプロセスを繰り返す。
この発明における計算機システムの診断方法は、電池に
よりバックアップされた時計機構と、自動電源ＯＮ１０
Ｆ Ｆ機構とを有する計算機システムの診断方法であ
って、（イ）電源をＯＮＬ、た後、（ロ）初期プログラ
ムをロードして起動し、（ハ）起動後、診断プログラム
をロードし、（ニ）この診断プログラムロード後、パラ
メータを設定し、（ホ）設定された診断パラメータに基
づき診断を行なうとともに、診断結果を不揮発性メモリ
に記録し、（へ）この記録終了後、診断回数をインクリ
メントし、（ト）その後、自動的に電源をＯＦＦする。
よりバックアップされた時計機構と、自動電源ＯＮ１０
Ｆ Ｆ機構とを有する計算機システムの診断方法であ
って、（イ）電源をＯＮＬ、た後、（ロ）初期プログラ
ムをロードして起動し、（ハ）起動後、診断プログラム
をロードし、（ニ）この診断プログラムロード後、パラ
メータを設定し、（ホ）設定された診断パラメータに基
づき診断を行なうとともに、診断結果を不揮発性メモリ
に記録し、（へ）この記録終了後、診断回数をインクリ
メントし、（ト）その後、自動的に電源をＯＦＦする。
（チ）電源ＯＦＦから所定時間経過後、電源を再びＯＮ
Ｌ／、以後、（ロ）〜（チ）の動作を縁り返す。
Ｌ／、以後、（ロ）〜（チ）の動作を縁り返す。
この実施例の計算機システムは、
第４図に示す一連の流れを制御するためのスケジュール
プログラムと、 中央処理装置等を診断するための一般診断プログラムと
、 前記スケジュールプログラムと診断プログラムを主記憶
装置にロードするためのフレキシブルディスク装置と、 年、月、日、曜日、時、分、秒を自動的にカウントする
電池によりバックアップされた時計機構と、 プログラムにより、計算機システムの電源を自動的にＯ
Ｎ１０ Ｆ Ｆする自動電源０Ｎ／ＯＦＦ機構と を有するものである。
プログラムと、 中央処理装置等を診断するための一般診断プログラムと
、 前記スケジュールプログラムと診断プログラムを主記憶
装置にロードするためのフレキシブルディスク装置と、 年、月、日、曜日、時、分、秒を自動的にカウントする
電池によりバックアップされた時計機構と、 プログラムにより、計算機システムの電源を自動的にＯ
Ｎ１０ Ｆ Ｆする自動電源０Ｎ／ＯＦＦ機構と を有するものである。
第２図は時計機構の値を示す。図において、■は年の値
で、総合診断回数、計算機システムの診断初期判定パラ
メータ、および各種診断パラメータ設定時の診断パラメ
ータテーブルのオフセットアドレス決定用の設定値とし
て用いる。データは「０１」〜「９９」の値が取得でき
、初期値は「０１」である。■は分、秒の値で、乱数デ
ータ発生用の初期値等に用いる。初期値は「０」である
。■は全体を示す値で、診断開始時の時刻、異常発生時
の時刻として用いる。
で、総合診断回数、計算機システムの診断初期判定パラ
メータ、および各種診断パラメータ設定時の診断パラメ
ータテーブルのオフセットアドレス決定用の設定値とし
て用いる。データは「０１」〜「９９」の値が取得でき
、初期値は「０１」である。■は分、秒の値で、乱数デ
ータ発生用の初期値等に用いる。初期値は「０」である
。■は全体を示す値で、診断開始時の時刻、異常発生時
の時刻として用いる。
次に、第１図に示すフローチャートに基づき計算機シス
テムの診断方法を説明する。
テムの診断方法を説明する。
時計機構の初期設定（年＝０１、月：＊＊、日：＊＊、
時７分７秒：０）を行ない（ｓ−１）、ＩＰＬ装置の設
定（Ｓ−２）、ＩＰＬ実施（Ｓ−３）後、時計機構の値
が読み込まれる（Ｓ−４）。設定された年の値が「０１
」であるから（Ｓ−５）、計算機システムの診断開始と
みなされ、診断時、フレキシブルディスク装置の診断時
における各種ＬＯＧを書き込む領域が初期設定される（
Ｓ−６）。ついで、診断パラメータが設定される。各種
診断パラメータがテーブル形式である場合は、年の値が
このテーブルのオフセット値として利用される。他方、
乱数データを作成する場合は、分、秒の値が乱数発生の
初期値として設定される。そして、診断パラメータが設
定されると、診断開始時刻、診断パラメータ情報がＬＯ
Ｇとしてフレキシブルディスク装置に書き込まれる（Ｓ
−７）。
時７分７秒：０）を行ない（ｓ−１）、ＩＰＬ装置の設
定（Ｓ−２）、ＩＰＬ実施（Ｓ−３）後、時計機構の値
が読み込まれる（Ｓ−４）。設定された年の値が「０１
」であるから（Ｓ−５）、計算機システムの診断開始と
みなされ、診断時、フレキシブルディスク装置の診断時
における各種ＬＯＧを書き込む領域が初期設定される（
Ｓ−６）。ついで、診断パラメータが設定される。各種
診断パラメータがテーブル形式である場合は、年の値が
このテーブルのオフセット値として利用される。他方、
乱数データを作成する場合は、分、秒の値が乱数発生の
初期値として設定される。そして、診断パラメータが設
定されると、診断開始時刻、診断パラメータ情報がＬＯ
Ｇとしてフレキシブルディスク装置に書き込まれる（Ｓ
−７）。
その後、計算機システムの実際の診断が開始され、診断
中、異常が発生した場合は、その情報と時計機構の値が
ＬＯＧとしてフレキシブルディスク装置に書き込まれ（
Ｓ−８） 、書き込み後、診断は続行される（Ｓ−９）
。
中、異常が発生した場合は、その情報と時計機構の値が
ＬＯＧとしてフレキシブルディスク装置に書き込まれ（
Ｓ−８） 、書き込み後、診断は続行される（Ｓ−９）
。
一連の診断が終了すると、時計機構の年の値のみが＋１
され（Ｓ−１０）、自動電源０Ｎ／ＯＦＦ機構に、現在
の時刻＋３分が設定される（Ｓ−１１）。ついで、自動
電源ＯＦＦ命令が発令され、この命令に従い計算機シス
テムの電源がＯＦＦされる（Ｓ−１２、Ｓ−１３）。そ
して、３分が経過すると、自動的に計算機システムの電
源がＯＮされ、以後、上記Ｓ−３〜５−１３の一連の動
作が縁り返される。
され（Ｓ−１０）、自動電源０Ｎ／ＯＦＦ機構に、現在
の時刻＋３分が設定される（Ｓ−１１）。ついで、自動
電源ＯＦＦ命令が発令され、この命令に従い計算機シス
テムの電源がＯＦＦされる（Ｓ−１２、Ｓ−１３）。そ
して、３分が経過すると、自動的に計算機システムの電
源がＯＮされ、以後、上記Ｓ−３〜５−１３の一連の動
作が縁り返される。
なお、この実施例では、時計機構の値を初期設定し、そ
の後、各種診断パラメータの取得を時計機構を利用して
行なう例を説明したが、フレキシブルディスク装置等の
ｌＰＬＬ、プログラムをロードできる媒体の所定の領域
に、この実施例と同様の情報により更新していくように
しても、同様の効果を奏することができる。
の後、各種診断パラメータの取得を時計機構を利用して
行なう例を説明したが、フレキシブルディスク装置等の
ｌＰＬＬ、プログラムをロードできる媒体の所定の領域
に、この実施例と同様の情報により更新していくように
しても、同様の効果を奏することができる。
（発明の効果）
以上説明したように、この発明によれば、自動的に電源
をＯＮ１０ Ｆ Ｆするととともに、毎回異る診断パラ
メータにより診断結果を得る構成にしたので、品質を充
分保証できる計算機システムの診断方法を得ることがで
きるという効果がある。
をＯＮ１０ Ｆ Ｆするととともに、毎回異る診断パラ
メータにより診断結果を得る構成にしたので、品質を充
分保証できる計算機システムの診断方法を得ることがで
きるという効果がある。
第１図は計算機システムの診断方法フローチャート、第
２図は時計機構の値を示す図、第３図は計算機システム
の基本的構成を示すブロック図、第４図は従来における
計算機システムの診断方法フローチャートである。
２図は時計機構の値を示す図、第３図は計算機システム
の基本的構成を示すブロック図、第４図は従来における
計算機システムの診断方法フローチャートである。
Claims (3)
- （１）電池によりバックアップされた時計機構と、自動
電源ＯＮ／ＯＦＦ機構とを有する計算機システムの診断
方法であって、次の（ａ）〜（ｉ）のプロセスをこの順
序で備えたことを特徴とする計算機システムの診断方法
。 （ａ）電源をＯＮする。 （ｂ）初期プログラムをロードして起動する。 （ｃ）診断プログラムをロードする。 （ｄ）診断パラメータを設定する。 （ｅ）設定された診断パラメータに基づき、診断を行な
うとともに、診断結果を不揮発性メモリに記録する。 （ｆ）診断回数をインクリメントする。 （ｇ）前記自動電源ＯＮ／ＯＦＦ機構により、前記電源
をＯＦＦする。 （ｈ）電源ＯＦＦ時から、時計機構により時間を計時し
、所定時間経過後、再び、自動電源ＯＮ／ＯＦＦ機構に
より前記電源をＯＮする。 （ｉ）以後、（ｂ）〜（ｈ）のプロセスを繰り返す。 - （２）前記（ｄ）のプロセスにおける診断パラメータの
設定は、前記時計機構により計時された時間のうち分、
秒を乱数発生の初期値として得られる乱数に基づいて行
なわれることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
計算機システムの診断方法。 - （３）前記（ｄ）のプロセスにおける診断パラメータの
設定は、前記時計機構によりカウントされる診断回数に
基づいて行なわれることを特徴とする特許請求の範囲第
１項または第２項記載の計算機システムの診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62285092A JPH01126741A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 計算機システムの診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62285092A JPH01126741A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 計算機システムの診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01126741A true JPH01126741A (ja) | 1989-05-18 |
Family
ID=17687027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62285092A Pending JPH01126741A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | 計算機システムの診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01126741A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012098856A (ja) * | 2010-11-01 | 2012-05-24 | Nec Fielding Ltd | 電源スイッチ押下装置、電源スイッチ押下方法およびプログラム |
-
1987
- 1987-11-11 JP JP62285092A patent/JPH01126741A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012098856A (ja) * | 2010-11-01 | 2012-05-24 | Nec Fielding Ltd | 電源スイッチ押下装置、電源スイッチ押下方法およびプログラム |
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