JPH01123427A - 樹脂封止形の半導体装置 - Google Patents
樹脂封止形の半導体装置Info
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- JPH01123427A JPH01123427A JP28161087A JP28161087A JPH01123427A JP H01123427 A JPH01123427 A JP H01123427A JP 28161087 A JP28161087 A JP 28161087A JP 28161087 A JP28161087 A JP 28161087A JP H01123427 A JPH01123427 A JP H01123427A
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- 229920005989 resin Polymers 0.000 title description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 title description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 25
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
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- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体素子等を樹脂封止する樹脂封止形の半
導体装置に関する。
導体装置に関する。
従来、この種樹脂封止形の半導体装置は第2図に示すよ
うに構成されている。これを同図に基づいて概略説明す
ると、同図において、符号1で示すものはアイランド2
上に接合されその縁部に多数の電極3を有する半導体素
子、4はこの半導体素子1の周囲に設けられ例えばAu
等のワイヤ5によって前記電極3に接続する外部リード
、6はこの外部リード4の一部、前記ワイヤ5.前記ア
イランド2および前記半導体素子1を樹脂封止するパッ
ケージ本体である。
うに構成されている。これを同図に基づいて概略説明す
ると、同図において、符号1で示すものはアイランド2
上に接合されその縁部に多数の電極3を有する半導体素
子、4はこの半導体素子1の周囲に設けられ例えばAu
等のワイヤ5によって前記電極3に接続する外部リード
、6はこの外部リード4の一部、前記ワイヤ5.前記ア
イランド2および前記半導体素子1を樹脂封止するパッ
ケージ本体である。
ところで、このよう・に構成された樹脂封止形の半導体
装置においては、半導体素子1の取付時のずれを考慮す
るとアイランド2のサイズをチップサイズより0.2
tm以上大きい寸法に設定する必要があり、また外部リ
ード4の先端とアイランド2間の距離をリードフレーム
の製作加工上リード厚と同等か、あるいはそれ以上の寸
法に設定する必要があり、さらにはリード抜は止め、ワ
イヤリング性、この他外部リード4の周囲から浸入する
湿気によって起こる耐湿性低下の防止すること等を考慮
するとパッケージ本体6内の外部リード4の長さを0.
6511以上の寸法に設定する必要がある。
装置においては、半導体素子1の取付時のずれを考慮す
るとアイランド2のサイズをチップサイズより0.2
tm以上大きい寸法に設定する必要があり、また外部リ
ード4の先端とアイランド2間の距離をリードフレーム
の製作加工上リード厚と同等か、あるいはそれ以上の寸
法に設定する必要があり、さらにはリード抜は止め、ワ
イヤリング性、この他外部リード4の周囲から浸入する
湿気によって起こる耐湿性低下の防止すること等を考慮
するとパッケージ本体6内の外部リード4の長さを0.
6511以上の寸法に設定する必要がある。
したがって、通常この種樹脂封止形の半導体装置に用い
られる外部リード4の厚さは0.25flであるから、
パッケージ本体6内に収納可能なチップサイズの最大幅
方向寸法はパッケージ本体6の幅方向寸法から2鶴程度
差し引いた寸法となる。
られる外部リード4の厚さは0.25flであるから、
パッケージ本体6内に収納可能なチップサイズの最大幅
方向寸法はパッケージ本体6の幅方向寸法から2鶴程度
差し引いた寸法となる。
ところが、従来の樹脂封止形の半導体装置においては、
近年の半導体素子1の高機能化および高集積度化に伴い
、チップサイズが大きくなる傾向がある。このため、同
一の機能をもつ半導体装置(例えばDIPrデュアル・
インライン・パフケージJ、ZIPrジクザグ・インラ
イン・パッケージ」形の半導体装置)であっても、外部
リードの導出方向が異なると、各内部電極の配列を変更
しない限りパッケージ本体6の外形寸法が大きくなって
半導体装置が大型化するという問題があった。すなわち
、例えば外部リードの導出方向が一方側のみに突出する
半導体装置である場合には、リードを半導体素子1の周
囲に引き回す必要が生じるからである。
近年の半導体素子1の高機能化および高集積度化に伴い
、チップサイズが大きくなる傾向がある。このため、同
一の機能をもつ半導体装置(例えばDIPrデュアル・
インライン・パフケージJ、ZIPrジクザグ・インラ
イン・パッケージ」形の半導体装置)であっても、外部
リードの導出方向が異なると、各内部電極の配列を変更
しない限りパッケージ本体6の外形寸法が大きくなって
半導体装置が大型化するという問題があった。すなわち
、例えば外部リードの導出方向が一方側のみに突出する
半導体装置である場合には、リードを半導体素子1の周
囲に引き回す必要が生じるからである。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、外部リ
ードの導出方向が一方側のみに突出する場合にパッケー
ジ本体の幅方向寸法を小さい寸法に設定することができ
、もって装置の小型化を図ることができる樹脂封止形の
半導体装置を提供するものである。
ードの導出方向が一方側のみに突出する場合にパッケー
ジ本体の幅方向寸法を小さい寸法に設定することができ
、もって装置の小型化を図ることができる樹脂封止形の
半導体装置を提供するものである。
本発明に係る樹脂封止形の半導体装置は、パッケージ本
体によって封止され多数の電極を有する半導体素子と、
この半導体素子上に設けられた絶縁基板と、この絶縁基
板上に設けられ前記電極に接続する多数のリードとを備
え、これらリードのうち一部のリードを前記絶縁基板の
表裏両面側に位置する2つのリードによって構成し、こ
れら両リードを接続子によって接続したものである。
体によって封止され多数の電極を有する半導体素子と、
この半導体素子上に設けられた絶縁基板と、この絶縁基
板上に設けられ前記電極に接続する多数のリードとを備
え、これらリードのうち一部のリードを前記絶縁基板の
表裏両面側に位置する2つのリードによって構成し、こ
れら両リードを接続子によって接続したものである。
本発明においては、絶縁基板を介してリードを交差させ
ることができる。
ることができる。
第1図(a)および(b)は本発明に係る樹脂封止形の
半導体装置を示す平面図と断面図で、同図において第2
図と同一の部材については同一の符号を付し、詳細な説
明は省略する。同図において、符号11は矩形状の絶縁
基板で、例えばポリイミド系の有機材料からなり、前記
電極3の内側に位置し前記半導体素子1の面上に例えば
エポキシ系接着剤12によって設けられている。13は
チップ表面保護用の被膜で、1μm以上の厚さを有する
ポリイミド系の有機材料からなり、前記半導体素子1上
に形成されている。14は前記電極3および外部リード
15に接続する内部リードで、前記絶縁基板11にエポ
キシ系接着剤16によって設けられている。これら内部
リード14のうち一部の内部リード14は前記絶縁基板
11の表裏両面側に位置する2つの内部リード14a、
14bによって構成されており、これら側内部リードは
前記絶縁基板11を挿通する接続子17によって接続さ
れている。なお、18は前記絶縁基板11に前記半導体
素子1を接合するエポキシ系接着剤である。
半導体装置を示す平面図と断面図で、同図において第2
図と同一の部材については同一の符号を付し、詳細な説
明は省略する。同図において、符号11は矩形状の絶縁
基板で、例えばポリイミド系の有機材料からなり、前記
電極3の内側に位置し前記半導体素子1の面上に例えば
エポキシ系接着剤12によって設けられている。13は
チップ表面保護用の被膜で、1μm以上の厚さを有する
ポリイミド系の有機材料からなり、前記半導体素子1上
に形成されている。14は前記電極3および外部リード
15に接続する内部リードで、前記絶縁基板11にエポ
キシ系接着剤16によって設けられている。これら内部
リード14のうち一部の内部リード14は前記絶縁基板
11の表裏両面側に位置する2つの内部リード14a、
14bによって構成されており、これら側内部リードは
前記絶縁基板11を挿通する接続子17によって接続さ
れている。なお、18は前記絶縁基板11に前記半導体
素子1を接合するエポキシ系接着剤である。
このように構成された樹脂封止形の半導体装置において
は、絶縁基板11を介して多数の内部リード14を交差
させることができる。
は、絶縁基板11を介して多数の内部リード14を交差
させることができる。
したがって、外部リード15の導出方向が一方側のみに
突出する半導体装置であっても、外部リード15を半導
体素子1の周囲に引き回す必要がな(なり、パッケージ
本体6のリード並列方向を小さい寸法に設定することが
できる。
突出する半導体装置であっても、外部リード15を半導
体素子1の周囲に引き回す必要がな(なり、パッケージ
本体6のリード並列方向を小さい寸法に設定することが
できる。
また、半導体素子1上の被膜13によってチップ取付時
に半導体素子1と絶縁基板11との間に生じる空洞によ
って起きる耐湿性劣化を防止することもできる。
に半導体素子1と絶縁基板11との間に生じる空洞によ
って起きる耐湿性劣化を防止することもできる。
さらに、本発明においては、絶縁基板11上に内部リー
ド14の一部を取り付けるものであるため、ワイヤボン
ディング時の衝撃によるチップへの損傷を防止すること
ができる。
ド14の一部を取り付けるものであるため、ワイヤボン
ディング時の衝撃によるチップへの損傷を防止すること
ができる。
なお、本実施例においては、内部リード14と電極3を
ワイヤ5によって接続する例を示したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、電極3に内部リード14を
直接接続するものでも実施例と同様の効果を奏する。
ワイヤ5によって接続する例を示したが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、電極3に内部リード14を
直接接続するものでも実施例と同様の効果を奏する。
以上説明したように本発明によれば、パッケージ本体に
よって封止され多数の電極を有する半導体素子と、この
半導体素子上に設けられた絶縁基板と、この絶縁基板上
に設けられ電極に接続する多数のリードとを備え、これ
らリードのうち一部のリードを絶縁基板p表裏両面側に
位置する2つのリードによって構成し、これら両リード
を接続子によって接続したので、絶縁基板を介してリー
ドを交差させることができる。したがって、外部リード
の導出方向が一方側のみに突出する半導体装置であって
も、外部リードを半導体素子の周囲に引き回す必要がな
くなるから、パッケージ本体のリード並列方向を小さい
寸法に設定することができ、装置の小型化を図ることが
できる。
よって封止され多数の電極を有する半導体素子と、この
半導体素子上に設けられた絶縁基板と、この絶縁基板上
に設けられ電極に接続する多数のリードとを備え、これ
らリードのうち一部のリードを絶縁基板p表裏両面側に
位置する2つのリードによって構成し、これら両リード
を接続子によって接続したので、絶縁基板を介してリー
ドを交差させることができる。したがって、外部リード
の導出方向が一方側のみに突出する半導体装置であって
も、外部リードを半導体素子の周囲に引き回す必要がな
くなるから、パッケージ本体のリード並列方向を小さい
寸法に設定することができ、装置の小型化を図ることが
できる。
第1図(a)および世)は本発明に係る樹脂封止形の半
導体装置を示す平面図と断面図、第2図は従来の樹脂封
止形の半導体装置を示す平面図である。 1・・・・半導体素子、3・・・・電極、5・・・・ワ
イヤ、6・・・・パッケージ本体、11・・・・絶縁基
板、14.14a、14b・・・・内部リード、15・
・ ・ ・外部リード、17 ・・・・接続子。 代 理 人 大 岩 増 雄 第1図 (b) 第2図
導体装置を示す平面図と断面図、第2図は従来の樹脂封
止形の半導体装置を示す平面図である。 1・・・・半導体素子、3・・・・電極、5・・・・ワ
イヤ、6・・・・パッケージ本体、11・・・・絶縁基
板、14.14a、14b・・・・内部リード、15・
・ ・ ・外部リード、17 ・・・・接続子。 代 理 人 大 岩 増 雄 第1図 (b) 第2図
Claims (1)
- パッケージ本体によって封止され多数の電極を有する
半導体素子と、この半導体素子上に設けられた絶縁基板
と、この絶縁基板上に設けられ前記電極に接続する多数
のリードとを備え、これらリードのうち一部のリードを
前記絶縁基板の表裏両面側に位置する2つのリードによ
って構成し、これら両リードを接続子によって接続した
ことを特徴とする樹脂封止形の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28161087A JPH01123427A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | 樹脂封止形の半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28161087A JPH01123427A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | 樹脂封止形の半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01123427A true JPH01123427A (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=17641535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28161087A Pending JPH01123427A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | 樹脂封止形の半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01123427A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5198883A (en) * | 1988-08-06 | 1993-03-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having an improved lead arrangement and method for manufacturing the same |
FR2688629A1 (fr) * | 1992-03-10 | 1993-09-17 | Thomson Csf | Procede et dispositif d'encapsulation en trois dimensions de pastilles semi-conductrices. |
EP0503201A3 (ja) * | 1990-12-20 | 1994-03-16 | Toshiba Kk | |
US5327009A (en) * | 1992-05-22 | 1994-07-05 | Nec Corporation | Miniaturized integrated circuit package |
US5847448A (en) * | 1990-12-11 | 1998-12-08 | Thomson-Csf | Method and device for interconnecting integrated circuits in three dimensions |
-
1987
- 1987-11-06 JP JP28161087A patent/JPH01123427A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5198883A (en) * | 1988-08-06 | 1993-03-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having an improved lead arrangement and method for manufacturing the same |
US5847448A (en) * | 1990-12-11 | 1998-12-08 | Thomson-Csf | Method and device for interconnecting integrated circuits in three dimensions |
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US5473514A (en) * | 1990-12-20 | 1995-12-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having an interconnecting circuit board |
US5613295A (en) * | 1990-12-20 | 1997-03-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having an interconnecting circuit board and method for manufacturing same |
US5646830A (en) * | 1990-12-20 | 1997-07-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having an interconnecting circuit board |
US5715147A (en) * | 1990-12-20 | 1998-02-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having an interconnecting circuit board |
FR2688629A1 (fr) * | 1992-03-10 | 1993-09-17 | Thomson Csf | Procede et dispositif d'encapsulation en trois dimensions de pastilles semi-conductrices. |
US5400218A (en) * | 1992-03-10 | 1995-03-21 | Thomson-Csf | Device for the 3D encapsulation of semiconductor chips |
US5327009A (en) * | 1992-05-22 | 1994-07-05 | Nec Corporation | Miniaturized integrated circuit package |
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