JPH01123165A - スイープステップ信号発生方法 - Google Patents
スイープステップ信号発生方法Info
- Publication number
- JPH01123165A JPH01123165A JP28034787A JP28034787A JPH01123165A JP H01123165 A JPH01123165 A JP H01123165A JP 28034787 A JP28034787 A JP 28034787A JP 28034787 A JP28034787 A JP 28034787A JP H01123165 A JPH01123165 A JP H01123165A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sweep
- step signal
- last
- clock
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、コンピュータ支援の計測システムにおけるア
ナログスイープ信号出力の際の、スィーブステップ信号
発生方法に関する。
ナログスイープ信号出力の際の、スィーブステップ信号
発生方法に関する。
[従来の技術]
従来より、アナログ回路で構成された被試験対象物に電
圧あるいは電流を与え、そのときの出力を測定し、その
測定出力から被試験対像物の良否を判断することのでき
る、コンピュータ援用の試験vA置がある。
圧あるいは電流を与え、そのときの出力を測定し、その
測定出力から被試験対像物の良否を判断することのでき
る、コンピュータ援用の試験vA置がある。
この試験装置は、第5図に示すように、ホスト・コンピ
ュータを内蔵した主コントローラ51と、ドライバ52
を介して主コントローラ51により駆動し制御される計
測ユニット53より構成される。
ュータを内蔵した主コントローラ51と、ドライバ52
を介して主コントローラ51により駆動し制御される計
測ユニット53より構成される。
計測ユニット53は、被検査物54にアナログ電圧ある
いは電流を与え、また被検査物からの出力電圧あるいは
出力電流を測定することができるようになっている。そ
してこの計測ユニットには、第6図に示すような一定の
傾きを持ったアナログスィーブ電圧を出力する機能があ
り、このような出力を発生させる時には通常法のような
手続きを踏んでいる。
いは電流を与え、また被検査物からの出力電圧あるいは
出力電流を測定することができるようになっている。そ
してこの計測ユニットには、第6図に示すような一定の
傾きを持ったアナログスィーブ電圧を出力する機能があ
り、このような出力を発生させる時には通常法のような
手続きを踏んでいる。
スイープ・スタート電圧からスィーブ・エンド電圧まで
一定のスイープ・ステップ(ΔV)で増加するテーブル
を計測ユニットに内蔵のデータテーブル上に作成すると
共に、これを参照しつつ別途実行テーブルを作成する。
一定のスイープ・ステップ(ΔV)で増加するテーブル
を計測ユニットに内蔵のデータテーブル上に作成すると
共に、これを参照しつつ別途実行テーブルを作成する。
実行テーブルには、スイープモード、スィーブスタート
のテーブルアドレス、スイープラストのテーブルアドレ
ス、およびクロック(これによりスイープ間隔が定まる
)の各値が登録される。
のテーブルアドレス、スイープラストのテーブルアドレ
ス、およびクロック(これによりスイープ間隔が定まる
)の各値が登録される。
このような設定の後、計測ユニットにトリガ命令を与え
ると実行テーブルの内容に従ってスィーブ動作が開始さ
れ、アナログスィーブ電圧出力が開始する。
ると実行テーブルの内容に従ってスィーブ動作が開始さ
れ、アナログスィーブ電圧出力が開始する。
[発明が解決しようとする問題点]
このようなスイープ電圧発生方式において、スイープの
傾き(スイープステップΔVとスィーブ間隔Δt)の異
なるスイープ電圧を発生させる場合にはそれぞれ別々の
テーブルを作成する必要がある。
傾き(スイープステップΔVとスィーブ間隔Δt)の異
なるスイープ電圧を発生させる場合にはそれぞれ別々の
テーブルを作成する必要がある。
しかしメモリ(データテーブル用のメモリとしては例え
ば8にワード)の制約上あまり多くのスィーブテーブル
を作ることはできず(ステップ数の合計がそれぞれ最大
8192までという制限がある)、また異なる態様のス
イープごとに、スィーブの直前にその都度スィーブテー
ブルを作成する必要があり、計測シーケンス内でそのよ
うなスイープテーブル作成処理を行う結果、全体として
の31測速度が低下するという欠点がある。
ば8にワード)の制約上あまり多くのスィーブテーブル
を作ることはできず(ステップ数の合計がそれぞれ最大
8192までという制限がある)、また異なる態様のス
イープごとに、スィーブの直前にその都度スィーブテー
ブルを作成する必要があり、計測シーケンス内でそのよ
うなスイープテーブル作成処理を行う結果、全体として
の31測速度が低下するという欠点がある。
本発明の目的は、このような欠点を解消するもので、デ
ーターテーブルを持つだけで広範囲にわたる傾きのスイ
ープに対応することができるスイープステップ信号発生
方法を提供することにある。
ーターテーブルを持つだけで広範囲にわたる傾きのスイ
ープに対応することができるスイープステップ信号発生
方法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
この様な目的を達成するために、本発明では、計測ユニ
ットのデータテーブルに基準となる特定のスイープステ
ップデータを格納し、指定されたスィーブスタート電圧
、スイープ、エンド電圧、スイープステップ(ΔV)お
よびスイープ間隔〈Δt)を基に、参照する前記データ
テーブルのアドレス範囲のトップとラストおよびクロッ
クを求めて実行テーブルに格納し、その後トリが命令が
与えられたとき、前記実行テーブルの各パラメータを基
にして前記データテーブルを参照しつつスィーブステッ
プ信号を発生するようにしたことを特徴とする。
ットのデータテーブルに基準となる特定のスイープステ
ップデータを格納し、指定されたスィーブスタート電圧
、スイープ、エンド電圧、スイープステップ(ΔV)お
よびスイープ間隔〈Δt)を基に、参照する前記データ
テーブルのアドレス範囲のトップとラストおよびクロッ
クを求めて実行テーブルに格納し、その後トリが命令が
与えられたとき、前記実行テーブルの各パラメータを基
にして前記データテーブルを参照しつつスィーブステッ
プ信号を発生するようにしたことを特徴とする。
[実施例]
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
本発明では、基準となるスイープテーブルを作成してお
き、これを参照して所望のスィーブステップ信号を発生
するようにしている。スイープテーブルを参照する際の
ステップ間隔(クロック)Δt、Bよびスイープステッ
プΔVは各スイープごとに決定するが、実際に出力され
るスイープステップ信号はその傾斜だけがこのステップ
間隔ΔtおよびスイープステップΔVに基づいて決定さ
れたちのである。出力信号中の各ステップ自体は前記ス
イープ・テーブルのステップに基づくものである。
き、これを参照して所望のスィーブステップ信号を発生
するようにしている。スイープテーブルを参照する際の
ステップ間隔(クロック)Δt、Bよびスイープステッ
プΔVは各スイープごとに決定するが、実際に出力され
るスイープステップ信号はその傾斜だけがこのステップ
間隔ΔtおよびスイープステップΔVに基づいて決定さ
れたちのである。出力信号中の各ステップ自体は前記ス
イープ・テーブルのステップに基づくものである。
以下第1図に示ずフローを参照して本発明のスイープス
テップ信号発生方法について説明する。
テップ信号発生方法について説明する。
まず、データテーブルを作成する。データテーブルには
、第2図に示すようにアドレス0から8192までに、
−2048から+2047まで1ずつ増加してゆく値と
、・←2047から−2048まで1ずつ減少してゆく
値とが逸れ逸れ格納される。この直は!a終的な出力電
圧値の一1Vから+0.9995Vまでと、 +Q、9995Vから一1vまでにそれぞれ対応してい
る。このテーブルの内容は、あらゆるスイープに共通に
使用される基準テーブルであり、−度設定すれば従来の
ようにスィーブごとに設定変更する必要はない。
、第2図に示すようにアドレス0から8192までに、
−2048から+2047まで1ずつ増加してゆく値と
、・←2047から−2048まで1ずつ減少してゆく
値とが逸れ逸れ格納される。この直は!a終的な出力電
圧値の一1Vから+0.9995Vまでと、 +Q、9995Vから一1vまでにそれぞれ対応してい
る。このテーブルの内容は、あらゆるスイープに共通に
使用される基準テーブルであり、−度設定すれば従来の
ようにスィーブごとに設定変更する必要はない。
次にスイープのトップとラストを決めるスイープスター
ト電圧とスイープエンド電圧、スィーブステップΔVお
よびスィーブ間隔Δtをそれぞれ設定する。
ト電圧とスイープエンド電圧、スィーブステップΔVお
よびスィーブ間隔Δtをそれぞれ設定する。
このスイープスタート電圧とスイープエンド電圧からデ
ータテーブルの参照すべきアドレス範囲のトップとラス
トを次式により求める。
ータテーブルの参照すべきアドレス範囲のトップとラス
トを次式により求める。
トップ−2048x (スィーブスタート電圧)/(レ
ンジのフルスケール値) ラスト−2048x (スィーブラスト電圧)/(レン
ジのフルスケール値) またスィーブステップΔVとスイープ間隔Δtから次式
によりクロックを求める。
ンジのフルスケール値) ラスト−2048x (スィーブラスト電圧)/(レン
ジのフルスケール値) またスィーブステップΔVとスイープ間隔Δtから次式
によりクロックを求める。
クロック=Δ1/(ΔV/ΔV0
ただし、vOは最小分解能(固定値)
(IVレンジ″の時は
0.49mV )
このようにして求めたトップ、ラストおよびクロックを
実行テーブルに格納する。
実行テーブルに格納する。
スィーブ実行のためのトリガ命令TRIGを与えること
により、前記実行テーブルのパラメータに基づきスィー
ブが開始され、第3図に示ずようなスイープステップ信
号が発生する。
により、前記実行テーブルのパラメータに基づきスィー
ブが開始され、第3図に示ずようなスイープステップ信
号が発生する。
第4図はこのような本発明の方法を実施する4測ユニッ
トの一例を示す構成図である。なお、計測ユニット以外
は従来の構成として示した第5図のものと同等である。
トの一例を示す構成図である。なお、計測ユニット以外
は従来の構成として示した第5図のものと同等である。
第4図において、1はデータテーブル、2は演算処理回
路、3は実行テーブル、4は制御回路、5はディジタル
・アナログ変換回路である。
路、3は実行テーブル、4は制御回路、5はディジタル
・アナログ変換回路である。
演算処理回路2は前記トップ、ラストおよびクロックを
求める際に行う演算処理部である。なお、トップ、ラス
トおよびクロックの演算に必要なスイープスタート電圧
、スイープエンド電圧およびスイープ間隔Δtは、主コ
ントローラ側に設けられたキーボードなどの入力装置か
らオペレータにより入力され、ドライバを経由して計猾
ユニットに入力される。
求める際に行う演算処理部である。なお、トップ、ラス
トおよびクロックの演算に必要なスイープスタート電圧
、スイープエンド電圧およびスイープ間隔Δtは、主コ
ントローラ側に設けられたキーボードなどの入力装置か
らオペレータにより入力され、ドライバを経由して計猾
ユニットに入力される。
演算処理回路2により求められたトップ、ラストおよび
クロックは制御回路4の制御の下に実行テーブル3へ格
納される。
クロックは制御回路4の制御の下に実行テーブル3へ格
納される。
トリガ命令が主コントローラから入力されると、制御回
路4は実行テーブル3のパラメータを基にし、データテ
ーブルを参照しつつスイープステップ信号〈ディジタル
値)を順次発生しする。この値はディジタル・アナログ
変換回路5でアナログ変換されて被検査物(図示せず)
に与えられる。
路4は実行テーブル3のパラメータを基にし、データテ
ーブルを参照しつつスイープステップ信号〈ディジタル
値)を順次発生しする。この値はディジタル・アナログ
変換回路5でアナログ変換されて被検査物(図示せず)
に与えられる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、データテーブル
としては1種類のテーブルを用意するだけでよく、また
スイープの異なるごとに実行テーブルのみ変更すれば目
的とするスィーブステップ信号を発生させることができ
る。
としては1種類のテーブルを用意するだけでよく、また
スイープの異なるごとに実行テーブルのみ変更すれば目
的とするスィーブステップ信号を発生させることができ
る。
またデータテーブルとしては、−2048〜+2047
と+2047〜−2048の2群の簡単なデータ列テー
ブルとなっているため、デバッグ等も容易である。
と+2047〜−2048の2群の簡単なデータ列テー
ブルとなっているため、デバッグ等も容易である。
また、スィーブステップがディジタル・アナログ変換回
路の最小分解能(例えば1vレンジのときは0.49m
V)としであるため、滑らかなスイープ出力が可能であ
る。
路の最小分解能(例えば1vレンジのときは0.49m
V)としであるため、滑らかなスイープ出力が可能であ
る。
第1図は本発明に係るスィーブステップ信号発生方法の
フローを示す図、第2図はデータテーブルを説明するた
めの説明図、第3図はスイープステップ信号のパラメー
タについて説明するための図、第4図は本発明の方法を
実施する計測ユニットの一例を示す構成図、第5図は従
来の試験装置の一例を示寸構成図、@6図はスィーブス
テップ信号に関する説明図である。 1・・・データテーブル、2・・・演算処理回路、3・
・・実行テーブル、4・・・制御回路、5・・・ディジ
タル・アナログ変換回路。 第 4 図 竿 5 ワ 区 ゛で 区
フローを示す図、第2図はデータテーブルを説明するた
めの説明図、第3図はスイープステップ信号のパラメー
タについて説明するための図、第4図は本発明の方法を
実施する計測ユニットの一例を示す構成図、第5図は従
来の試験装置の一例を示寸構成図、@6図はスィーブス
テップ信号に関する説明図である。 1・・・データテーブル、2・・・演算処理回路、3・
・・実行テーブル、4・・・制御回路、5・・・ディジ
タル・アナログ変換回路。 第 4 図 竿 5 ワ 区 ゛で 区
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 コンピュータを内蔵する主コントローラと、ドライバを
介して主コントローラにより駆動される計測ユニットを
備え、計測ユニットにおいてスイープステップ信号を発
生させかつこれをディジタル・アナログ変換して出力し
、これを被検査物に与えたときの被検査物からの出力を
計測ユニットを介して測定し、その測定値より被検査物
の良否等を判別する試験装置において、 計測ユニットのデータテーブルに基準となる特定のスイ
ープステップデータを格納し、 指定されたスイープスタート電圧、スイープエンド電圧
、スイープステツプ(ΔV)およびスイープ間隔(Δt
)を基に、参照する前記データテーブルのアドレス範囲
のトップとラストおよびクロックを求めて実行テーブル
に格納し、 その後トリガ命令が与えられたとき、前記実行テーブル
の各パラメータを基にして前記データテーブルを参照し
つつスイープステップ信号を発生するようにしたことを
特徴とするスイープステツプ信号発生方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28034787A JPH01123165A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | スイープステップ信号発生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28034787A JPH01123165A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | スイープステップ信号発生方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01123165A true JPH01123165A (ja) | 1989-05-16 |
JPH0567914B2 JPH0567914B2 (ja) | 1993-09-27 |
Family
ID=17623741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28034787A Granted JPH01123165A (ja) | 1987-11-06 | 1987-11-06 | スイープステップ信号発生方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01123165A (ja) |
-
1987
- 1987-11-06 JP JP28034787A patent/JPH01123165A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0567914B2 (ja) | 1993-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5642300A (en) | Precision voltage/current/power source | |
JP2720970B2 (ja) | 測定器 | |
JPH01123165A (ja) | スイープステップ信号発生方法 | |
JP3992665B2 (ja) | 三相交流負荷模擬装置 | |
JPH0241077B2 (ja) | ||
JPH0712852A (ja) | 波形生成機能付き波形測定装置 | |
JPH04363675A (ja) | Icテスト装置 | |
JPS61125601A (ja) | ポテンシオメ−タを有する制御装置 | |
JPH01191069A (ja) | 表面電荷測定装置 | |
JP2672690B2 (ja) | 半導体デバイスの試験方法 | |
JPS5866066A (ja) | ディジタル電圧計 | |
JPS5815866Y2 (ja) | 校正装置 | |
JPS6132634B2 (ja) | ||
SU1709261A1 (ru) | Способ поверки вольтметров среднеквадратического значени | |
SU1205033A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров комплексного двухполюсника | |
JPH06222107A (ja) | ヒステリシス幅の測定方法 | |
JP2001281292A (ja) | Ic試験装置における電圧発生器の校正方法・電圧発生器の校正装置 | |
JPH0821867B2 (ja) | 計測器の計測値変換装置 | |
JPS6050417A (ja) | 工業計器自動試験装置 | |
JPS61155864A (ja) | 電子ビ−ムによる電圧測定装置 | |
JPS62298769A (ja) | 電圧自動測定装置 | |
JPS621324A (ja) | D/aコンバ−タのリニアリテイ評価方法 | |
JPH0528327B2 (ja) | ||
JPH0567971A (ja) | 履歴用記憶回路を備えたa/d変換器用測定装置 | |
JPS62288582A (ja) | 接合容量測定システム |