JPS5815866Y2 - 校正装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、被試験器のリニアリティ特性を自動検査する
校正装置に関するもので、検査時間のスピードアップ化
が計られたこの種の校正装置を提供することを目的とす
る。

第１図は本考案装置の使用状態を示す構成説明図である
。

第１図において、１０は本考案に係る校正装置、２０は
被試験器である。

校正装置１０において、１１は例えばテンキー（Ｔｅｎ
Ｋｅｙ ）よりなる設定入力部、１２は例えばＬＥＤ
よりなる表示部、１３はプリンタよりなる印字部、１４
は記憶、演算、制御機能を有する制御部、１５は電圧、
電流或いは圧力等を発生する信号発生部、１６は信号測
定部、１７は信号出力端子、１８は信号入力端子である
。

設定入力部１１．表示部１２、印字部１３、信号発生部
１５および信号測定部１６はそれぞれ制御部１４に接続
されている。

信号発生部１５の出力端は出力端子１７に接続され、信
号測定部１６の入力端は入力端子１Ｂに接続されている
。

設定入力部１１のキイ入力により、被試験器２０の入力
の種類、レンジ、スパン、分割数、許容誤差および被試
験器２０の出力の種類等が設定される。

制御部１４には設定入力部１１のキイ入力に従って発生
部１５、表示部１２、印字部１３及び測定部１６等を制
御するプログラムが組込まれている。

被試験器２０はその入力端子２１に印加される入力に応
じた出力を出力端子２２に発生するもので、例えば工業
計器に用いられる差圧伝送器等がこれに該当する。

この試験器の入力端子２１は校正装置１０の信号出力端
子１７に、又出力端子２２は信号入力端子１８に接続さ
れている。

このような構成の装置において、被試験器２０のリニア
リティ試験を行なう場合には、設定入力部１１のキイ入
力によりスパンを何等分かに分割する分割数を設定する
。

例えば４分割に設定すると、制御部１４はあらかじめ組
込まれた４分割のプログラムにしたがって動作し、その
結果信号発生部１５は第２図の実線の如＜０％、２５φ
。

５０φ、７５φ、１００φにおいてステップ状に変化す
る信号を出力し、このステップ信号は被試験器２０に与
えられる。

被試験器２０はそのステップ入力に対応した信号を端子
２２から出力し、その出力は信号測定部１６で測定され
たのち制御部１４を介して表示部１２又は印字部１３に
与えられてその値が表示又は印字される。

これにより、被試験器２０のリニアリティ特性が校正さ
れる。

第４図はリニアリティ校正装置の従来例を示すものであ
る。

第４図において、３０はデスクトップコンピュータ、３
１は電圧発生器、４０はディジタル電圧計、２０は被試
験器である。

この装置は、デスクトップコンピュータ３０のプログラ
ムとして一定時間毎に電圧発生器３１でステップ状の電
圧を発生させ、そのときの被試験器２０の出力をディジ
タル電圧計４０で読み取ることにより、被試験器２０の
リニアリティを校正するようにしたものである。

このような装置は校正する都度、各機器を接続してシス
テムとして構成される。

このようなりニアリテイ試験において、被試験器２０に
スパンのＯφの信号を与え、それに対する被試験器２０
の出力が定常状態になるまで、すなわち、ある誤差範囲
内におちつくまで待ってから被試験器２０の出力を測定
する。

そして、その後にスパンの２５咎の信号を与えて次のス
テップに移る。

この場合、第４図に示す従来の装置においては１つのス
テップから次のステップに移る時間はどのステップにお
いても一定になるようにしてあり、この時間は各区間の
ステップにおける応答時間で最大のものを選ぶ必要があ
った。

その結果、応答時間の短いステップではムダ時間がでて
、校正に時間がかかる欠点があった。

第２図の点線はこの状態を示すもので、スパンのｏ％の
信号を与えた場合の応答時間が一番長く、その応答時間
に見合ったステップ区間の時間をＴとすると、各区間と
もＴ時間に選ばれている。

その結果、応答時間の短い２５φ、５０％、７５饅、の
区間においてはそれぞれむだ時間ＪＴが生じることにな
る。

本考案はこの点を改良するためになされたものである。

即ち、本考案では各試験器２０にスパンのＯ饅、２５多
、５０饅、７５饅、１００φのステップ入力を与えたと
き、各入力に対して信号測定器１６を介して得られる被
試験器２０の出力を制御部１４で常時モニタするように
なっている。

そして、制御部１４はその測定値がその直前に測定した
ときの値と同じか、或いは所定の誤差範囲内におさまっ
ているかを判定し、所定の誤差範囲内におさまっていれ
ばこれを被試験器２０の出力が定常状態に入ったと見做
して、制御部１４は次のステップに移る信号を信号発生
部１５に与える。

この状態を第３図に示す。

第３図において、点線及び実線はスパンの４分割点にお
ける被試験器２０の応答状態及びその応答に対して信号
発生部１５が出力するステップ信号を示すもので、各ス
テップ区間の時間が可変であり、応答時間が短い場合は
それに応じてステップ区間の時間はＴ１゜Ｔ２．Ｔ３の
如く自動的に可変する。

これによって、従来装置の如くムダ時間がなく、その結
果短時間でリニアリティ試験を行なうことができる。

なお、被試験器２０の応答特性が一次遅れ系であれば、
上記の如くその直前のデータとの比較で定常状態に入っ
たかどうかの見分けがつくが。

リンキングなどを含む２次以上の遅れ系の場合には数回
前進のデータを参考にして定常状態に入ったかどうかを
見分けるようにすればよい。

以上説明した如く本考案によれば検査時間のスピードア
ップ化が計られたリニアリティ校正装置を簡単な校正に
よって得ることができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本考案装置の使用状態を示すブロック図、第２
図及び第３図は第１図装置の動作を説明するための図、
第４図は従来の装置の一例を示す図である。 １０・・・・・・試験装置、１１・・・・・・設定入力
部、１２・・・・・・表示部、１３・・・・・・印字部
、１４・・・・・・制御部、１５・・・・・・信号発生
部、１６・・・・・・信号測定部、２０・・・・・・被
試験器。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 被試験器の試験条件を設定する設定入力部、被試験器の
   リニアリティ試験結果を印字する印字部、被試験器の入
   力分割点があらかじめ記憶されているメモリを有し前記
   設定入力部の設定入力によって前記分割点が読み出され
   る制御部、この制御部によって制御され前記分割点に応
   じた信号を発生しその発生信号が被試験器に与えられる
   信号発生部、被試験器の出力が与えられその値が前記制
   御部を通じて前記印字部で印加される信号測定部を具備
   した装置において、前記制御部に信号測定部の出力を常
   時モニタしておきその測定値をその直前の測定値又は数
   回前進のデータと比較して所定の誤差範囲内であればこ
   れを定常状態とみなして次の分割点にステップしてその
   分割点に応じた信号を前記信号発生部で発生させる機能
   を付加したことを特徴とする校正装置。