JPH0112188Y2 - - Google Patents
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- JPH0112188Y2 JPH0112188Y2 JP3370482U JP3370482U JPH0112188Y2 JP H0112188 Y2 JPH0112188 Y2 JP H0112188Y2 JP 3370482 U JP3370482 U JP 3370482U JP 3370482 U JP3370482 U JP 3370482U JP H0112188 Y2 JPH0112188 Y2 JP H0112188Y2
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- Japan
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- cells
- cell
- infrared
- gas
- infrared rays
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 62
- 210000002421 cell wall Anatomy 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、サンプルガス中の特定成分の濃度を
測定する赤外線輻射式ガス分析計に関する。
測定する赤外線輻射式ガス分析計に関する。
従来、ガス濃度の測定には、ランベルト・ベー
ルの法則を利用した非分散赤外線吸収法による分
析計が用いられているが、赤外線光源と光源安定
化電源が必要で、回路構成が複雑かつ高価なもの
となり、又、光源やサンプルセルに起因するドリ
フトを防ぐための比較セルを備えさせる上から、
比較セルとサンプルセルとの光量を調節するため
の光学調節を必要としていた。
ルの法則を利用した非分散赤外線吸収法による分
析計が用いられているが、赤外線光源と光源安定
化電源が必要で、回路構成が複雑かつ高価なもの
となり、又、光源やサンプルセルに起因するドリ
フトを防ぐための比較セルを備えさせる上から、
比較セルとサンプルセルとの光量を調節するため
の光学調節を必要としていた。
そこで、非分散赤外線吸収法による分析計の弧
のような欠点を解消するため、赤外活性な気体分
子が高温になつたときに輻射するガス固有の特定
波長の赤外線輻射量を測定することにより、従来
の赤外線分析計において必要とされた赤外線光源
や光源安定化電源を用いない、簡単かつ安価な構
成によつてサンプルガス中の特定成分の濃度を測
定することができる赤外線輻射式ガス分析計を、
本出願人は別途出願しているところである。
のような欠点を解消するため、赤外活性な気体分
子が高温になつたときに輻射するガス固有の特定
波長の赤外線輻射量を測定することにより、従来
の赤外線分析計において必要とされた赤外線光源
や光源安定化電源を用いない、簡単かつ安価な構
成によつてサンプルガス中の特定成分の濃度を測
定することができる赤外線輻射式ガス分析計を、
本出願人は別途出願しているところである。
しかしながら、前記赤外線輻射式ガス分析計に
おいては、未だ測定精度面で改良の余地がある。
即ち、サンプルガスが高温であることによつて、
赤外線輻射用のセル周囲における空気、チヨツパ
ーなどの背景からの赤外線輻射の影響を相対的に
少なくすることができるものの、セル壁面からの
赤外線輻射やセル窓の汚れ、その他温度変化など
によつて、赤外線検出器が受光する赤外線輻射量
が変化し、このためにゼロ点が変化して、これが
濃度検出の測定誤差要因となることが判つた。
おいては、未だ測定精度面で改良の余地がある。
即ち、サンプルガスが高温であることによつて、
赤外線輻射用のセル周囲における空気、チヨツパ
ーなどの背景からの赤外線輻射の影響を相対的に
少なくすることができるものの、セル壁面からの
赤外線輻射やセル窓の汚れ、その他温度変化など
によつて、赤外線検出器が受光する赤外線輻射量
が変化し、このためにゼロ点が変化して、これが
濃度検出の測定誤差要因となることが判つた。
本考案は、上述の事柄に留意してなされたもの
で、その目的とするところは、上記測定誤差要因
を除去して、濃度測定を高精度で行うことができ
る、使用面で有用な赤外線輻射式ガス分析計を提
供することにある。
で、その目的とするところは、上記測定誤差要因
を除去して、濃度測定を高精度で行うことができ
る、使用面で有用な赤外線輻射式ガス分析計を提
供することにある。
上述の目的を達成するため、本考案に係る赤外
線輻射式ガス分析計は、ほぼ同一の光学的厚みを
有する赤外線輻射式のサンプルセルと比較セルと
を並設し、これら両セルに共通にヒーターを設
け、このヒーターにより前記両セルを同時に加熱
するように構成すると共に、前記サンプルセルに
サンプルガスを供給し、かつ前記サンプルガスか
ら測定対象成分を除去した比較ガスを供給する一
方、前記両セルからの赤外線を受光する1個の赤
外線検出器と前記両セルとの間に、前記測定対象
成分から輻射される赤外線を透過させるフイルタ
ーを設け、更に、前記両セルから輻射される赤外
線を前記赤外線検出器に交互に受光させるチヨツ
パーを設けて、前記両セルからの赤外線の輻射量
の差に基づいて前記測定対象成分の濃度を測定す
るように構成してある。
線輻射式ガス分析計は、ほぼ同一の光学的厚みを
有する赤外線輻射式のサンプルセルと比較セルと
を並設し、これら両セルに共通にヒーターを設
け、このヒーターにより前記両セルを同時に加熱
するように構成すると共に、前記サンプルセルに
サンプルガスを供給し、かつ前記サンプルガスか
ら測定対象成分を除去した比較ガスを供給する一
方、前記両セルからの赤外線を受光する1個の赤
外線検出器と前記両セルとの間に、前記測定対象
成分から輻射される赤外線を透過させるフイルタ
ーを設け、更に、前記両セルから輻射される赤外
線を前記赤外線検出器に交互に受光させるチヨツ
パーを設けて、前記両セルからの赤外線の輻射量
の差に基づいて前記測定対象成分の濃度を測定す
るように構成してある。
上記構成によれば、サンプルセルと比較セルと
が、両セルに共通のヒーターによつて同時に加熱
され、両セル内のサンプルガス、比較ガスが一定
温度に達すると、それらから赤外線が輻射され
る。そして、サンプルセルにおける測定対象成分
から輻射される特定波長の赤外線及びセル壁面、
セル窓などの背景赤外線と、比較セルからのセル
壁面、セル窓などの背景赤外線とが、フイルター
を経て赤外線検出器に交互に受光され、その赤外
線の輻射量の差に基づいて測定対象成分の濃度が
表示機構に表示される。
が、両セルに共通のヒーターによつて同時に加熱
され、両セル内のサンプルガス、比較ガスが一定
温度に達すると、それらから赤外線が輻射され
る。そして、サンプルセルにおける測定対象成分
から輻射される特定波長の赤外線及びセル壁面、
セル窓などの背景赤外線と、比較セルからのセル
壁面、セル窓などの背景赤外線とが、フイルター
を経て赤外線検出器に交互に受光され、その赤外
線の輻射量の差に基づいて測定対象成分の濃度が
表示機構に表示される。
以下、本考案の実施例を、図面に基づいて説明
する。
する。
第1図は本考案に係る赤外線輻射式ガス分析計
の一例を示し、同図において、1はサンプルガス
の入口2と出口3とを有するサンプルセル、4は
サンプルガスから測定対象成分を除いた比較ガス
を封入した比較セルで、サンプルセル1と隣接す
るよう並設されている。両セル1,4の内周面は
共に鏡面に仕上げられており、それぞれの両端に
は赤外線透過材料からなるセル窓1a,1b,4
a,4bが設けてある。そして、これら両セル
1,4のセル長、つまりセル窓1a,1b,4
a,4bの両端にわたる光学的厚みを互いに等し
くしてある。
の一例を示し、同図において、1はサンプルガス
の入口2と出口3とを有するサンプルセル、4は
サンプルガスから測定対象成分を除いた比較ガス
を封入した比較セルで、サンプルセル1と隣接す
るよう並設されている。両セル1,4の内周面は
共に鏡面に仕上げられており、それぞれの両端に
は赤外線透過材料からなるセル窓1a,1b,4
a,4bが設けてある。そして、これら両セル
1,4のセル長、つまりセル窓1a,1b,4
a,4bの両端にわたる光学的厚みを互いに等し
くしてある。
5は両セル1,4に共通に設けられるヒーター
で、このヒーター5により両セル1,4が同時に
加熱されるようにしてある。そして、このヒータ
ー5は、両セル1,4内のガスを100℃以上に加
熱して、ガスから赤外線を輻射させるものであ
り、その周囲には断熱材6が被覆してある。
で、このヒーター5により両セル1,4が同時に
加熱されるようにしてある。そして、このヒータ
ー5は、両セル1,4内のガスを100℃以上に加
熱して、ガスから赤外線を輻射させるものであ
り、その周囲には断熱材6が被覆してある。
7は一方のセル窓1a,4aの近くに設けられ
たスリツト板で、このスリツト板7は両セル1,
4からの赤外線量が相等しくなるような大きさに
してある。
たスリツト板で、このスリツト板7は両セル1,
4からの赤外線量が相等しくなるような大きさに
してある。
8は反射ミラー、9は赤外線検出器で、反射ミ
ラー8によつて反射されてくるサンプルガス及び
比較ガスからの赤外線を受光する。10は測定対
象成分からの特定波長の赤外線及びその波長と同
じ波長のセル1,4などから輻射される干渉赤外
線を透過させるフイルター、11はチヨツパー
で、サンプルガス及び比較ガスからの赤外線を赤
外線検出器9に交互に輻射させるもので、このチ
ヨツパー11の回転に伴つて、赤外線の輻射量に
応じた波長の交流電気信号が赤外線検出器9から
取り出される。
ラー8によつて反射されてくるサンプルガス及び
比較ガスからの赤外線を受光する。10は測定対
象成分からの特定波長の赤外線及びその波長と同
じ波長のセル1,4などから輻射される干渉赤外
線を透過させるフイルター、11はチヨツパー
で、サンプルガス及び比較ガスからの赤外線を赤
外線検出器9に交互に輻射させるもので、このチ
ヨツパー11の回転に伴つて、赤外線の輻射量に
応じた波長の交流電気信号が赤外線検出器9から
取り出される。
12は赤外線検出器9からの交流電気信号を増
幅する増幅器であり、その出力側には測定対象成
分の濃度を表示する濃度表示機構14が設けてあ
る。
幅する増幅器であり、その出力側には測定対象成
分の濃度を表示する濃度表示機構14が設けてあ
る。
而して、上記構成によれば、サンプルセル1と
比較セル4とが、両セル1,4に共通のヒーター
5によつて同時に加熱され、両セル1,4内のサ
ンプルガス、比較ガスが一定温度に達すると、そ
れらから赤外線が輻射される。そして、サンプル
セル1における測定対象成分から輻射される特定
波長(CO2濃度を測定する場合においては、例え
ば4.3μmバンド)の赤外線及びセル壁面、セル窓
などの背景赤外線と、比較セル4からのセル壁
面、セル窓などの背景赤外線とが、フイルター1
0を経て赤外線検出器9に交互に受光され、その
赤外線の輻射量の差に基づいて測定対象成分の濃
度が表示機構14に表示される。
比較セル4とが、両セル1,4に共通のヒーター
5によつて同時に加熱され、両セル1,4内のサ
ンプルガス、比較ガスが一定温度に達すると、そ
れらから赤外線が輻射される。そして、サンプル
セル1における測定対象成分から輻射される特定
波長(CO2濃度を測定する場合においては、例え
ば4.3μmバンド)の赤外線及びセル壁面、セル窓
などの背景赤外線と、比較セル4からのセル壁
面、セル窓などの背景赤外線とが、フイルター1
0を経て赤外線検出器9に交互に受光され、その
赤外線の輻射量の差に基づいて測定対象成分の濃
度が表示機構14に表示される。
従つて、背景赤外線を取り除いた精度の高い濃
度検出が行われ、勿論、両セル1,4やセル窓1
a,4aの汚れ、その他温度変化によつて赤外線
輻射量が変化しても、赤外線輻射量の絶対値の差
を基にして精度よく濃度検出を行うことができ
る。
度検出が行われ、勿論、両セル1,4やセル窓1
a,4aの汚れ、その他温度変化によつて赤外線
輻射量が変化しても、赤外線輻射量の絶対値の差
を基にして精度よく濃度検出を行うことができ
る。
尚、上述の実施例においては、サンプルガス及
び比較ガスを一定温度に加熱するようにしてある
が、ガス温度を一定に保つ必要はなく、例えば適
当な温度域にまで加熱するように構成すると共
に、ガス温度を測定する温度計を設けて、温度補
償させるように構成してもよく、又、予め高温に
加熱したガスをセル1に導入するように構成して
もよい。
び比較ガスを一定温度に加熱するようにしてある
が、ガス温度を一定に保つ必要はなく、例えば適
当な温度域にまで加熱するように構成すると共
に、ガス温度を測定する温度計を設けて、温度補
償させるように構成してもよく、又、予め高温に
加熱したガスをセル1に導入するように構成して
もよい。
又、赤外線検出器9やフイルター10として
は、各種公知の構成のものを利用することができ
るのは云うまでもない。そして、フイルター10
を、異なる波長の赤外線を透過させるものに交換
することによつて、各種成分の濃度を検出するこ
とができるものであり、従つて、測定対象成分が
限定されるものではない。
は、各種公知の構成のものを利用することができ
るのは云うまでもない。そして、フイルター10
を、異なる波長の赤外線を透過させるものに交換
することによつて、各種成分の濃度を検出するこ
とができるものであり、従つて、測定対象成分が
限定されるものではない。
第2図は本考案の他の実施例に係る赤外線輻射
式ガス分析計を示し、同図においては、比較セル
4にガスの入口15と出口16とを設けると共
に、入口15にサンプルガス供給管17からの分
岐管18を接続し、この分岐管18に測定対象成
分を除去する除去器19を設け、もつて、比較セ
ル4に、サンプルガスから測定対象成分のみを除
去した比較ガスを供給するようにしたもので、サ
ンプルセル1と比較セル4に同様の干渉成分が含
まれるため、干渉影響を除去することができる。
尚、この第2図において、第1図における部材と
同一部材には同一の符号を付してある。
式ガス分析計を示し、同図においては、比較セル
4にガスの入口15と出口16とを設けると共
に、入口15にサンプルガス供給管17からの分
岐管18を接続し、この分岐管18に測定対象成
分を除去する除去器19を設け、もつて、比較セ
ル4に、サンプルガスから測定対象成分のみを除
去した比較ガスを供給するようにしたもので、サ
ンプルセル1と比較セル4に同様の干渉成分が含
まれるため、干渉影響を除去することができる。
尚、この第2図において、第1図における部材と
同一部材には同一の符号を付してある。
以上説明したように、本考案によれば、サンプ
ルガスから輻射される赤外線と、サンプルガスか
ら測定対象成分を除去した比較ガスから輻射され
る赤外線との差を基にして、測定対象成分の濃度
を測定するものであるから、測定誤差要因となる
背景赤外線や干渉赤外線の影響を受けないで、高
精度で測定対象成分の濃度測定を行うことができ
るようになつた。
ルガスから輻射される赤外線と、サンプルガスか
ら測定対象成分を除去した比較ガスから輻射され
る赤外線との差を基にして、測定対象成分の濃度
を測定するものであるから、測定誤差要因となる
背景赤外線や干渉赤外線の影響を受けないで、高
精度で測定対象成分の濃度測定を行うことができ
るようになつた。
又、サンプルセルと比較セルとを、両セルに共
通のヒーターによつて同時に加熱するようにして
いるので、両セル内のサンプルガスと比較ガスと
を常に同じ温度に加熱することができると共に、
高温度制御が簡単であるといつた測定上きわめて
大きな効果を奏する。
通のヒーターによつて同時に加熱するようにして
いるので、両セル内のサンプルガスと比較ガスと
を常に同じ温度に加熱することができると共に、
高温度制御が簡単であるといつた測定上きわめて
大きな効果を奏する。
第1図は本考案の一実施例に係る赤外線輻射式
ガス分析計の構成図、第2図は他の実施例に係る
赤外線輻射式ガス分析計の構成図である。 1……サンプルセル、4……比較セル、5……
ヒーター、9……赤外線検出器、10……フイル
ター、11……チヨツパー。
ガス分析計の構成図、第2図は他の実施例に係る
赤外線輻射式ガス分析計の構成図である。 1……サンプルセル、4……比較セル、5……
ヒーター、9……赤外線検出器、10……フイル
ター、11……チヨツパー。
Claims (1)
- ほぼ同一の光学的厚みを有する赤外線輻射式の
サンプルセルと比較セルとを並設し、これら両セ
ルに共通にヒーターを設け、このヒーターにより
前記両セルを同時に加熱するように構成すると共
に、前記サンプルセルにサンプルガスを供給し、
かつ前記サンプルガスから測定対象成分を除去し
た比較ガスを供給する一方、前記両セルからの赤
外線を受光する1個の赤外線検出器と前記両セル
との間に、前記測定対象成分から輻射される赤外
線を透過させるフイルターを設け、更に、前記両
セルから輻射される赤外線を前記赤外線検出器に
交互に受光させるチヨツパーを設けて、前記両セ
ルからの赤外線の輻射量の差に基づいて前記測定
対象成分の濃度を測定するように構成してあるこ
とを特徴とする赤外線輻射式ガス分析計。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3370482U JPS58136758U (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 赤外線輻射式ガス分析計 |
DE19833307132 DE3307132C2 (de) | 1982-03-09 | 1983-03-01 | Infrarot-Gasanalysator zur Bestimmung mindestens einer Komponente eines Gasgemischs |
GB8306205A GB2116317B (en) | 1982-03-09 | 1983-03-07 | Infrared radiation gas analyzer |
US06/473,344 US4499378A (en) | 1982-03-09 | 1983-03-08 | Infrared radiation gas analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3370482U JPS58136758U (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 赤外線輻射式ガス分析計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58136758U JPS58136758U (ja) | 1983-09-14 |
JPH0112188Y2 true JPH0112188Y2 (ja) | 1989-04-10 |
Family
ID=30045242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3370482U Granted JPS58136758U (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 赤外線輻射式ガス分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58136758U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0797082B2 (ja) * | 1987-10-06 | 1995-10-18 | 日本電子株式会社 | 赤外放射分光測定方法及び装置 |
-
1982
- 1982-03-09 JP JP3370482U patent/JPS58136758U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58136758U (ja) | 1983-09-14 |
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