JPS6329240Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6329240Y2 JPS6329240Y2 JP3370582U JP3370582U JPS6329240Y2 JP S6329240 Y2 JPS6329240 Y2 JP S6329240Y2 JP 3370582 U JP3370582 U JP 3370582U JP 3370582 U JP3370582 U JP 3370582U JP S6329240 Y2 JPS6329240 Y2 JP S6329240Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared
- gas
- sample
- component
- detector
- Prior art date
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- Expired
Links
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、サンプルガスを加熱して、その特定
波長の赤外線輻射量を測定することにより、従来
の赤外線ガス分析計において必要とされた赤外線
光源や光源安定化電源を用いない簡単かつ安価な
構成によつて、サンプルガス中の特定成分の濃度
を測定できるようにした赤外線輻射式ガス分析計
を提供するものである。
波長の赤外線輻射量を測定することにより、従来
の赤外線ガス分析計において必要とされた赤外線
光源や光源安定化電源を用いない簡単かつ安価な
構成によつて、サンプルガス中の特定成分の濃度
を測定できるようにした赤外線輻射式ガス分析計
を提供するものである。
従来、ガス濃度の測定には、非分散赤外線吸収
法が多く用いられていた。これは次の式で表わ
されるように、ガスを透過した赤外光が、そのガ
スの濃度とセル長の関数として減少するというラ
ンベルト・ベールの法則を利用したものである。
法が多く用いられていた。これは次の式で表わ
されるように、ガスを透過した赤外光が、そのガ
スの濃度とセル長の関数として減少するというラ
ンベルト・ベールの法則を利用したものである。
Ｉ＝Ioexp(-kcl) …
Ｉ；ガスを透過した後の赤外線の強度
Io；入射光強度
ｋ；定数
ｃ；ガス濃度
ｌ＝セル長
第１図は、非分散赤外線吸収法を用いた従来の
赤外線ガス分析計の一例を示す。図中、１′はタ
ングステンランプ等を用いた赤外線光源、２′は
光量バランサー、３′はサンプルセル、４′は比較
セル、５′は光チヨツパー、６′はコンデンサマイ
クロホン等の赤外検出器である。非分散赤外線吸
収法においては、前述した入射光強度Ioは、図示
の通り赤外線光源１′によつて与えられ、赤外線
光源１′の光量変化が測定誤差となるので、光源
１′の光量を一定に保つための安定化電源が必要
であり、回路構成が複雑かつ高価なものとなつて
いる。殊に、図示のように、光源１′の劣化やセ
ル３′の汚れに起因するドリフトを防ぐための比
較セル４′を備えた２光路方式とした場合、両セ
ル３′，４′の光量を調節するための光学調整が必
要である。
赤外線ガス分析計の一例を示す。図中、１′はタ
ングステンランプ等を用いた赤外線光源、２′は
光量バランサー、３′はサンプルセル、４′は比較
セル、５′は光チヨツパー、６′はコンデンサマイ
クロホン等の赤外検出器である。非分散赤外線吸
収法においては、前述した入射光強度Ioは、図示
の通り赤外線光源１′によつて与えられ、赤外線
光源１′の光量変化が測定誤差となるので、光源
１′の光量を一定に保つための安定化電源が必要
であり、回路構成が複雑かつ高価なものとなつて
いる。殊に、図示のように、光源１′の劣化やセ
ル３′の汚れに起因するドリフトを防ぐための比
較セル４′を備えた２光路方式とした場合、両セ
ル３′，４′の光量を調節するための光学調整が必
要である。
本考案による赤外線輻射式ガス分析計は、これ
らの従来欠点を解消したものであり、サンプルセ
ルと、サンプルガスを加熱するヒーターと、光チ
ヨツパーと、前記ヒーターによつて加熱されたサ
ンプルガスから輻射される赤外線のうち、サンプ
ルガス中の測定対象成分から輻射される特定波長
の赤外線が透過するフイルターと、このフイルタ
ーを透過した赤外線を受光する赤外検出器とを備
え、この赤外検出器で検出した赤外線輻射量から
測定対象成分の濃度を測定すべく構成し、前記サ
ンプルセルの赤外検出器と同じ側及びこれと反対
側の面を、それぞれ対向する赤外線透過窓に形成
した点に特徴がある。
らの従来欠点を解消したものであり、サンプルセ
ルと、サンプルガスを加熱するヒーターと、光チ
ヨツパーと、前記ヒーターによつて加熱されたサ
ンプルガスから輻射される赤外線のうち、サンプ
ルガス中の測定対象成分から輻射される特定波長
の赤外線が透過するフイルターと、このフイルタ
ーを透過した赤外線を受光する赤外検出器とを備
え、この赤外検出器で検出した赤外線輻射量から
測定対象成分の濃度を測定すべく構成し、前記サ
ンプルセルの赤外検出器と同じ側及びこれと反対
側の面を、それぞれ対向する赤外線透過窓に形成
した点に特徴がある。
即ち、赤外活性な気体分子を高温に加熱する
と、その気体分子に特有の波長の赤外光を発す
る。この赤外光の輻射率は、例えば第２図、第３
図に見られるように、温度と気体分子の分圧×セ
ル長で決定され、一定温度、一定のセル長、一定
圧下においては、気体分子の分圧（濃度）の関数
として求めることができる。
と、その気体分子に特有の波長の赤外光を発す
る。この赤外光の輻射率は、例えば第２図、第３
図に見られるように、温度と気体分子の分圧×セ
ル長で決定され、一定温度、一定のセル長、一定
圧下においては、気体分子の分圧（濃度）の関数
として求めることができる。
本考案の赤外線輻射式ガス分析計は、この原理
を応用し、具体化したものである。
を応用し、具体化したものである。
サンプルガス中のCO2濃度を例にとつて上記の
原理を説明すると、次の通りである。
原理を説明すると、次の通りである。
先ず、サンプルガスは、CO2ガスからの輻射量
が検出器の検出感度を満たす程度に加熱され、昇
温する。この場合、CO2分子は、赤外域にいくつ
かのバンドスペクトルを有するが、その中で最も
強い（00゜0）−（00゜1）間の振動・回転遷移で起き
る4.3μｍバンドの輻射輝度のみを測定することが
望ましい。そのためには、赤外検出器の前に中心
波長4.3μｍバンドパスフイルターを置く。そうす
ると、高温に加熱されたサンプルガスから輻射さ
れる赤外光のうち、4.3μｍの赤外光のみが赤外検
出器に受光されるので、赤外検出器からは次式
で表わされる輻射強度NTに比例する電気信号が
出力される。
が検出器の検出感度を満たす程度に加熱され、昇
温する。この場合、CO2分子は、赤外域にいくつ
かのバンドスペクトルを有するが、その中で最も
強い（00゜0）−（00゜1）間の振動・回転遷移で起き
る4.3μｍバンドの輻射輝度のみを測定することが
望ましい。そのためには、赤外検出器の前に中心
波長4.3μｍバンドパスフイルターを置く。そうす
ると、高温に加熱されたサンプルガスから輻射さ
れる赤外光のうち、4.3μｍの赤外光のみが赤外検
出器に受光されるので、赤外検出器からは次式
で表わされる輻射強度NTに比例する電気信号が
出力される。
NT＝∫〓2〓1γ〓τ〓（α〓
Claims (1)
- サンプルセルと、サンプルガスを加熱するヒー
ターと、光チヨツパーと、前記ヒーターにより加
熱されたサンプルガスから輻射される赤外線のう
ち測定対象成分から輻射される赤外線が透過する
フイルターと、このフイルターを透過した赤外線
を受光する赤外検出器とを備え、この赤外検出器
で検出した赤外線輻射量から測定対象成分の濃度
を測定すべく構成したものにおいて、前記サンプ
ルセルの赤外検出器と同じ側及びこれと反対側の
面を、それぞれ対向する赤外線透過窓に形成した
ことを特徴とする赤外線輻射式ガス分析計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3370582U JPS58136759U (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 赤外線輻射式ガス分析計 |
| DE19833307132 DE3307132C2 (de) | 1982-03-09 | 1983-03-01 | Infrarot-Gasanalysator zur Bestimmung mindestens einer Komponente eines Gasgemischs |
| GB8306205A GB2116317B (en) | 1982-03-09 | 1983-03-07 | Infrared radiation gas analyzer |
| US06/473,344 US4499378A (en) | 1982-03-09 | 1983-03-08 | Infrared radiation gas analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3370582U JPS58136759U (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 赤外線輻射式ガス分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58136759U JPS58136759U (ja) | 1983-09-14 |
| JPS6329240Y2 true JPS6329240Y2 (ja) | 1988-08-05 |
Family
ID=30045243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3370582U Granted JPS58136759U (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 赤外線輻射式ガス分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58136759U (ja) |
-
1982
- 1982-03-09 JP JP3370582U patent/JPS58136759U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58136759U (ja) | 1983-09-14 |
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