JPH01121823A - 固体光偏向器 - Google Patents

固体光偏向器

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JPH01121823A
JPH01121823A JP27921387A JP27921387A JPH01121823A JP H01121823 A JPH01121823 A JP H01121823A JP 27921387 A JP27921387 A JP 27921387A JP 27921387 A JP27921387 A JP 27921387A JP H01121823 A JPH01121823 A JP H01121823A
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JP
Japan
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light
intensity
vco
voltage
optical
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JP27921387A
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English (en)
Inventor
Sachiko Ishikawa
幸子 石川
Kenjiro Tamura
田村 憲司郎
Akira Arimoto
昭 有本
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光情報処理装置に係り、特に光ディスクや光カ
ードなどの光情報記録装置における光ピツクアップ、又
はレーザ・プリンタなどに好適な固体光偏向器に関する
〔従来の技術〕
従来(71SAW固体光偏向器は特@@5B −236
165号に記載の固体光ピツクアップに示されるように
、光スポットのトラッキング及びアクセスを行なうもの
である。これは、第8図に示すように、光導波層9表面
にSAW13を励振するくし形電極11をつけており、
VCO57に入力される電圧によってSAWの周波数を
変化させる。先導波層を伝搬する光はSAWによって偏
向され15゜SAWの周波数が変化するに従って偏向角
度がほぼ直線的に変化する。偏向光15は光情報処理装
置における光スポットを作る光として利用され、非偏向
光17は不要であればカットされる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術では、偏向光の強度を一定に保つことにつ
いて配慮されておらず、偏向角度が変化すると光強度が
変化するという問題があった。
このことを具体的に説明する。SAW光偏向器では、第
3図(a)に示されるように、光の偏向角度とSAWの
周波数とはほぼ直線的な関係がある。
一方、偏向光強度は第3図(b) 、 (C)に示され
るように周波数特性をもち、偏向角度によって強度が変
化する。この周波数特性は、電極の形状や個数および、
SAWを励磁するくし形電極に入力される電圧、つまり
vCOの出力電圧レベルの周波数特性等に依存している
。使用帯域を数十m rad程度以上にしようとすると
、偏向光強度は10〜20%程度変化する。この変化は
、光情報処理装置にとっては、信号ノイズや印字ムラと
なって現われる。
本発明の目的は、使用帯域内の偏向光強度を一定にする
ことである。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、非偏向光(又は偏向光の一部)を光検出器
で受け、その検出信号によってくし形電極に入力される
R F (radio frequency)波の電圧
を変化させることによって達成される。
具体的には、くし形電極に入力さ九るRF波の発振回路
であるvco(m圧制御発振器)の出力電圧レベルを光
検出信号によって調整できるような回路をvCOに組み
込み、光検出信号を一定レベルに保つ制御ループを構成
することによって達成される。
上述の調整回路は、非偏向光の強度が減少した場合にv
COの出力レベルを減少させ、逆に、非偏向光の強度が
増大した場合にvCOの出力レベルを増大させるものと
する。
〔作用〕
レーザ光源の出力強度が一定であれば、非偏向光と偏向
光の強度の和は偏向角度によらず一定であるので、偏向
光強度を一定にするためには、偏向光の一部分又は非偏
向光が一定になるようにすればよい。
非偏向光(又は偏向光の一部)を受けた光検出器は光強
度の強弱に対応した電流信号を発生し、その信号はVC
O内のvCo出力レベル調整回路に送られてvCOの出
力レベルを変化させる。すると、IDTに入力されるR
F波の電圧も変化し、SAWの強度が変化し、光の偏向
効率が変化する。
これをまた光検出器で受け、光検出強度がある一定値に
なるように制御をかけることになる。
例えば非偏向光強度が一定レベルより減少(又は増大)
した場合、非偏向光の検出信号は減少(又は増大)する
、このときvCO出力レベル調整回路によりvCO出力
は減少(又は増大)シ。
SAWの強度も減少(又は増大)し、光偏向効率も減少
(又は増大)し、非偏向強度は増大(又は減少)して一
定レベルに近づく。
くし形電極に入力される電圧と偏向光の強度の関係を第
4図に示す1図のように、入力電圧Vの増加に伴なって
偏向光強度ζは増大する。このようにVを変化させるこ
とにより偏向光強度を変化させることができる。
従って偏向光強度は偏向角度が変化しても常に一定レベ
ルとなる。
〔実施例〕
以下1本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図は本発明による固体光偏向器を示す。
光偏向素子は、基板7の上に圧電性の光導波層9が設け
られており、この光導波層9の上にくし形電極11が設
けられている。先導波層の圧電性がかなり小さい場合・
は、電極11の下に部分的に圧電性薄膜をつける。くシ
形電極11は、整合回路61を介してVCO(電圧制御
発振器)57の出力端子59に結合されている。VCO
57の出力周波数は第2図に示すようにvCOの入力電
圧端子53に入力される電圧によって定まる。光走査信
号101が入力電圧端子53に入力されるとVCO57
からある周波数のRF(radio frequenc
y)信号が出力され、その信号がくし形電極11に加わ
ると、光導波層9に同じ周波数のSAW(表面弾性波)
13が励振される。光導波層9を通る光10はSAW1
3によりB ragg回折をし、偏向光15と非偏向光
17とに分かれる。偏向光15の偏向角度は第3図(a
)に示すようにSAW13の周波数を変化させることに
より、連続的に変化する。導波光は光導波層9の端面か
ら出射した後シリンダレンズ19によりコリメートされ
る。シリンダレンズ19はNA(gfJ口数)0.15
程度までの球面収差を補正したものを使う。その後レン
ズ21焦点面で偏向光15と非偏向光17は異なるスポ
ットを結ぶため、非偏向光17をミラー23によって偏
向光15と分離して取り出し、レンズ25を介して光検
出器27に入射させる。光検出器27の出力はVCO5
7のゲイン調整端子55に入力される。非偏向光15は
再びレンズ29によってコリメートされ、目的に応じた
用途に使われる。まず、vcoのゲインが一定の場合に
ついて第3図(b) 、 (c)にSAWの周波数と偏
向光強度の関係の一例を示す、この特性は主に電極の形
式による。これらの図かられかるように、使用する帯域
内で偏向光強度は5%〜20%程度変化する。
一方、VCO57のゲイン、つまりくし形電極11に入
力する電圧が変化すると、光偏向強度ζは第4図に示す
ようにsin”(V Xconst)に従って変化する
。第4図には偏向角度が01およびθ2である2種類の
場合を示している。偏向光15の強度を常に使用帯域内
の最低強度ζCと等しくするためにはvCOのゲインを
■θヱのとき太きく (Vz)、■02のとき小さく(
Vz)すればよい、VCOにゲイン調整端子を設けた回
路の一実施例を第5図に示す、VCO57は、入力端子
53に入る信号が発振回路77に合うレベルになるよう
に信号レベル変換75を介して発振回路77に入り、R
F信号83が出力される。これはD B M (Dou
bleBalanced Nadulaton) 79
でゲインgaされ、増幅器81を通して出力端子59か
ら出力する。
08M79は、ゲイン調整端子55から入力される電流
11によって08M79の入力信号83に対する出力信
号85の減衰率が第6図に示すように変化するものであ
る。第1図に示す光検出器27からの信号が一定レベル
よりも増加した時。
VCO57のゲイン調整端子55に入力される電流は増
加、し、08M79の減衰率は小さくなり。
従って、VCO57のゲインは大きくなり、光偏向効率
は増加して非偏向光強度は小さくなるため、光検出器2
7の信号は小さくなる。この制御ループは光検出器27
の信号が一定レベルに達するまで続けられる。使用する
VC:057は十分応答速度の速いものとする。
また、非偏向光17を用いずに偏向光15の一部を光検
出器27に導いて逆の極性により偏向光15を一定にす
ることもできる。
次に、本発明の他の一実施例を第7図により説明する。
本実施例は光ディスク・システムに組み込まれた固体光
偏向器を示す。
半導体レーザ1から出た光はカップリング・レンズ3に
より平行光にコリメートされ、光導波層9の上におかれ
たプリズム・カプラ5により光導波層9の中に導かれる
。光導波WJ9は誘電体結晶7の表面に設けられており
、光導波層9の表面には、SAW13を励振するための
くし形電極11がつけられている。導波光はSAW13
により偏向光15と非偏向光17とに分れる0分離角度
は5〜25mrad程度である。偏向光15及び非偏向
光17は導波層端面から出射され、シリンダ・レンズ1
9により平行光にされ、レンズ21の焦点面において非
偏向光17はミラー23とレンズ25により光検出器2
7に導かれる。偏向光15はレンズ29で平行になり、
回折格子31により3方向に分離され、偏光ビームスプ
リッタ33.1/4波長板、ミラー37.対物レンズ3
9を通って光デイスク73上で3つのスポットを結ぶ。
光ディスクから反射した光は対物レンズ39、ミラー3
7.1/4波長板35を通り、往路の光と偏光が90’
ずれており、偏光ビームスプリッタ33により反射され
てレンズ43およびシリンダ・レンズ45により6分割
光検出器47に導かれる。回折格子31により作られた
3スポツトのうち、中心スポット(透過光)は信号読み
取りおよび自動焦点信号検出に用いられる。読み取り信
号はコンピュータ71に送られる。自動焦点誤差信号は
対物レンズ39を上下に動かすためのボオイス・コイル
41を駆動するドライバ67に送られる0回折格子31
による±1次回折光は光デイスク上でトラック73をは
さんで左右斜めの位置にスポットを結び、6分割光検出
器の左右2つの検出部49および51に導かれ、その出
力の差がトラッキング・エラー信号となる。トラッキン
グ・エラー信号はVCO(電圧制御発振器)57の電圧
入力端子53に送られ、この入力電圧によってvCO出
力端子59から発生する波の周波数が、第2図に示すよ
うに定まる。vcoの出力波は整合回路61を介してく
し形電極11に入力される。半導体レーザ1の駆動は、
光情報の書き込みの時はコンピュータ71からパルス発
振器63を介してレーザドライバ65に送られる信号に
よってなされる。光情報の読み込みの時は書き込み時よ
りも低出力で連続発振させるようにコンピュータからレ
ーザドライバに信号が送られる。
また、書き込み/読み出しのモード変換時には、以下に
示すようにコンピュータ71からvCO57に定電圧を
送って半導体レーザの波長変化に対するSAW光偏向器
の色収差を補正する。以下にこのことを説明する。光情
報装置による情報の読み出し時と書き込み時には半導体
レーザの出力パワが異なるため、波長も数nm変化する
。このためにSAW光偏向素子による光の偏向角度は0
.1〜1mrad程度変化するため、光デイスク上の光
スポットが数μmトラックと直角方向にずれてしまう、
そこで、読み出し/書き込みのモード変換時にコンピュ
ータ71により半導体レーザーの発振出力を変化させる
と同時にVCOの出力周波数fをΔfだけ変化させるよ
うにVCOの電圧入力端子53にコンピュータ71から
信号を送ることにより光スポットを同じ位置に保つこと
ができる。Δfは次式で与えられる。
Δλ Δf=−−f λ ここでΔλはモード変化時の波長変化であり、λは変化
前の光源の波長である。VCOは電圧入力端子に入力さ
れる電圧により出力波数fが変化するので、上のように
してモード変化時の色収差を補正できる。
VCO57のゲイン調整とそれによる偏向光強度の安定
化については上述の実施例と同じに行なう。
第9図は1本発明の他の実施例を示し1wI膜中に光検
出素子107を作りつけ、更に半導体レーザ1.導波路
レンズ103及び105とを作りつけた光集積化素子の
実施例である。
半導体レーザ1から出た一定光量の光は導波路レンズ1
03により平行光になり、くシ形電極11から励振され
るSAW13により偏向光と非偏向光とを生じ、導波路
レンズ105の焦点において2点に分離される。非偏向
光111の焦点スポットには光検出素子107が作られ
ており、その検出信号はVCO57の出力レベル調整端
子55に送られてSAWの強度を調整して非偏向光強度
を一定に保つ、偏向光113は端面又は導波層と外部の
カップリング素子(グレーティング又はプリズム等)に
よって外部に出力される。偏向角度は光走査信号101
によって変化する。光走査信号101が入力電圧端子5
3に送られると、その信号によって定まる周波数fのR
F波が出力端子59から整合回路61を介してくし形電
極11に送られ1周波数fのSAW13が励振されて、
光を偏向する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、固体光偏向器の偏向光強度が使用帯域
内で一定と、なる、この固体光偏向器を光ディスク等の
光情報入出力装置に用いた場合は。
信号レベルが一定に安定化し、信頼性が向上する。
又、レーザプリンタ装置に用いた場合には、印刷強度ム
ラをなくすことができる。いずれの場合も、従来は偏向
光強度が使用帯域内で5〜20%程度変化したものが、
本発明によって1%程度以内の変化に押さえることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の固体光偏向器の斜視図、第
2図はvCOの入出力特性図、第3図はSAWの周波数
と光偏向角度の特性図、第4図は光偏向角度と偏向光強
度の特性図である。第5図はvCOの構成図、第6図は
DBMの減衰特性を示す図、第7図は本発明を光デイス
クシステムに応用し九−実施例の全体図、第8図は従来
の固体光偏向器の構成図、第9図は本発明を光集積化素
子に適用した一実施例を示す図である。 9・・・光導波層、11・・・くし形電極、13・・・
SAW、15・・・偏向光、17・・・非偏向光、27
・・・光検出器、55・・・vCoゲイン調整端子、5
7・・・VCO0第 1 口 、57・・・VCO δO・・・偏部光。 第 4 口 早 2 口 入力電圧(V、) 第 3 口 (b、) 尤偏勺角漫  (ガとαd〕 九備前角度 (γはd) 乎 5 口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、光導波層と、該光導波層の表面に設けられSAW(
    表面弾性波)を励振して該光導波層中を通過するレーザ
    光を偏向する光偏向素子と、上記SAWの周波数を電圧
    によつて制御する電圧制御発振器とからなる固体光偏向
    器において、上記光偏向素子により非偏向光の光強度を
    検出する光検出器と、該光検出器の検出信号によつて上
    記電圧制御発振器の出力電圧が変化する電気回路とを設
    けて、上記光偏向素子の必要な角度帯域内で上記偏向光
    又は非偏向光の強度が一定であるようにしたことを特徴
    とする固体光偏向器。
JP27921387A 1987-11-06 1987-11-06 固体光偏向器 Pending JPH01121823A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147435A (ja) * 1985-12-20 1987-07-01 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147435A (ja) * 1985-12-20 1987-07-01 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡

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