JP7500370B2 - 気体供給装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 65
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 63
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000001459 lithography Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 33
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 14
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 2
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/70883—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of optical system
- G03F7/70891—Temperature
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
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Description
図1には、実施形態における気体供給装置10の構成が示されている。また、図12には、気体供給装置10を備えた露光装置の構成が示されている。本明細書および図面においては、水平面をXY平面とするXYZ座標系において方向が示される。一般には、被露光基板である基板Wはその表面が水平面(XY平面)と平行になるように基板ステージ4の上に置かれる。よって以下では、基板Wの表面に沿う平面内で互いに直交する方向をX軸およびY軸とし、X軸およびY軸に垂直な方向をZ軸とする。また、以下では、XYZ座標系におけるX軸、Y軸、Z軸にそれぞれ平行な方向をX方向、Y方向、Z方向という。
図5は、第2実施形態における気体供給装置10の構成を示す図である。なお、以下の説明で特に言及されていない箇所については、第1実施形態と同様である。
上述の第1および第2実施形態では、気体供給装置10のカバー13が全て、第1空間21に含まれているものとして説明した。しかし、カバー13の一部が第1空間21に、一部が第2空間22に位置するよう気体供給装置10が配置されてもよい。図4は、図1の変形例である。図4の例では、カバー13の前端部(すなわち隙間14による流路の入口)は第1空間21に連通している。一方、カバー13の後端部(すなわち隙間14による流路の出口)は、第1空間21と第2空間22とを隔てる壁31より第2空間22側に突出し、第2空間22に連通している。この場合、隙間14を通る気体Gによって回収される熱がそのまま第2空間22に排出されるため、第1空間21内の熱影響を低減するのにより有用である。
図10に、第4実施形態における気体供給装置10の構成例が示される。図10は、露光装置における第1空間21aの全体を空調するために基板ステージ4付近に配置された気体供給装置10の例を示す図である。気体供給装置10は、図12および図7にも示したように、吹出口11から第1計測器8aの計測光の光路である第1光路34aの上に延びて、吹出口11から吹き出された気体Gを第1光路34aへ導くように形成された筐体12c(第2筐体)を有する。
上述の図7や図9等で示した気体供給装置の構成例は、露光装置における第1空間21aの全体を空調するために基板ステージ4付近に配置された気体供給装置10に関して説明した。ただし、これらの構成は、露光装置における第1空間21bの全体を空調するために原版ステージ3付近に配置された気体供給装置10についても同様に適用することができる。
本発明の実施形態における物品製造方法は、例えば、半導体デバイス等のマイクロデバイスや微細構造を有する素子等の物品を製造するのに好適である。本実施形態の物品製造方法は、上記のリソグラフィ装置(露光装置やインプリント装置、描画装置など)を用いて基板に原版のパターンを転写することによりパターン形成を行う工程と、かかる工程でパターンが転写された基板を加工する工程とを含む。更に、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等)を含む。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
Claims (15)
- 気体の吹出口を構成する筐体と、
前記筐体との間に隙間を設けて前記筐体を覆うカバーと、
を備え、
前記カバーは、前記吹出口から吹き出された気体を通過させる開口部を有し、
前記吹出口を正面からみたときの平面視において、前記開口部は、前記吹出口より小さく、かつ、前記吹出口の領域に収まる位置にあり、
前記カバーは、前記平面視において前記吹出口の一部および前記筐体の第1面と対向し前記開口部を形成する第1部分と、前記第1部分から延びて、前記筐体の前記第1面とは異なる第2面と対向する第2部分とを有し、
前記第1部分は、前記吹出口から吹き出された気体の一部を前記隙間に導き、前記隙間は、前記第1部分によって導かれた気体の流路を構成している、
ことを特徴とする気体供給装置。 - 前記隙間は、前記第1面と前記第1部分との間と、前記筐体の前記第2面と前記第2部分との間と、に設けられている、ことを特徴とする請求項1に記載の気体供給装置。
- 前記隙間は、前記第1面と前記第1部分との間に設けられ、前記筐体の前記第2面と前記第2部分との間には設けられていない、ことを特徴とする請求項1に記載の気体供給装置。
- 前記カバーは、前記第1部分から前記吹出口の内部に延びて、前記第1面および前記第2面とは異なる前記筐体の第3面と対向する第3部分を更に有する、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の気体供給装置。
- 前記隙間を流れる気体の流量を調整する調整部を更に有する、ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の気体供給装置。
- 基板にパターンを形成するリソグラフィ装置であって、
前記基板を保持して移動する基板ステージと、
計測光を射出し、前記基板ステージで反射された計測光によって前記基板ステージの位置を計測する計測器と、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の気体供給装置と、
を有し、
前記気体供給装置は、前記吹出口から前記開口部を介して吹き出された気体を、前記基板ステージおよび前記計測器を含む第1空間に供給するように配置されている、ことを特徴とするリソグラフィ装置。 - 原版を用いて基板にパターンを形成するリソグラフィ装置であって、
前記原版を保持して移動する原版ステージと、
計測光を射出し、前記原版ステージで反射された計測光によって前記原版ステージの位置を計測する計測器と、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の気体供給装置と、
を有し、
前記気体供給装置は、前記吹出口から前記開口部を介して吹き出された気体を、前記原版ステージおよび前記計測器を含む第1空間に供給するように配置されている、ことを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記第1空間内の気体の少なくとも一部を、前記第1空間とは隔てられた第2空間に排出する排気機構を更に有する、ことを特徴とする請求項6または7に記載のリソグラフィ装置。
- 前記気体供給装置は、前記第1空間に配置されており、前記排気機構は、前記流路を通った気体を前記第2空間に排出する、ことを特徴とする請求項8に記載のリソグラフィ装置。
- 前記流路の出口が前記排気機構と接続されている、ことを特徴とする請求項9に記載のリソグラフィ装置。
- 前記流路の入口は前記第1空間に連通し、前記流路の出口は前記第1空間とは隔てられた第2空間に連通している、ことを特徴とする請求項6または7に記載のリソグラフィ装置。
- 前記第1空間と第2空間とを隔てる壁を有し、
前記気体供給装置は、前記第2空間に配置されており、前記壁に形成された開口を介して前記第1空間に気体を供給する、
ことを特徴とする請求項6または7に記載のリソグラフィ装置。 - 前記筐体は、前記吹出口から前記計測光の光路の上に延びて、前記吹出口から吹き出された気体を前記光路へ導くように形成された第2筐体を含み、
前記カバーが、前記光路と前記第2筐体との間の高さ位置において更に配置される、
ことを特徴とする請求項6または7に記載のリソグラフィ装置。 - 前記気体供給装置は、空調機によって温度調節がされた気体を前記第1空間に供給する、ことを特徴とする請求項6乃至13のいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。
- 請求項6乃至14のいずれか1項に記載のリソグラフィ装置を用いて基板にパターン形成を行う工程と、
前記パターン形成がなされた前記基板の加工を行う工程と、
を有し、前記加工がなされた前記基板から物品を製造する、ことを特徴とする物品製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020156623A JP7500370B2 (ja) | 2020-09-17 | 2020-09-17 | 気体供給装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法 |
KR1020210105105A KR20220037336A (ko) | 2020-09-17 | 2021-08-10 | 기체공급 장치, 리소그래피 장치, 및 물품제조 방법 |
CN202111071545.8A CN114200779A (zh) | 2020-09-17 | 2021-09-14 | 气体供给装置、光刻装置以及物品制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020156623A JP7500370B2 (ja) | 2020-09-17 | 2020-09-17 | 気体供給装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022050170A JP2022050170A (ja) | 2022-03-30 |
JP7500370B2 true JP7500370B2 (ja) | 2024-06-17 |
Family
ID=80646033
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020156623A Active JP7500370B2 (ja) | 2020-09-17 | 2020-09-17 | 気体供給装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7500370B2 (ja) |
KR (1) | KR20220037336A (ja) |
CN (1) | CN114200779A (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000091192A (ja) | 1998-09-09 | 2000-03-31 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP2001250759A (ja) | 2000-03-06 | 2001-09-14 | Canon Inc | 露光装置 |
JP2005353967A (ja) | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Canon Inc | 半導体製造装置 |
JP2006308996A (ja) | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光装置 |
JP2017120340A (ja) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | キヤノン株式会社 | 露光装置、および物品の製造方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0982626A (ja) | 1995-09-12 | 1997-03-28 | Nikon Corp | 投影露光装置 |
JP5984413B2 (ja) | 2012-02-06 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 露光装置、ステージ装置およびデバイス製造方法 |
KR20150095503A (ko) | 2014-02-13 | 2015-08-21 | 한국전자통신연구원 | 빔 기지국 연결 방법 및 장치 |
-
2020
- 2020-09-17 JP JP2020156623A patent/JP7500370B2/ja active Active
-
2021
- 2021-08-10 KR KR1020210105105A patent/KR20220037336A/ko unknown
- 2021-09-14 CN CN202111071545.8A patent/CN114200779A/zh active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000091192A (ja) | 1998-09-09 | 2000-03-31 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP2001250759A (ja) | 2000-03-06 | 2001-09-14 | Canon Inc | 露光装置 |
JP2005353967A (ja) | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Canon Inc | 半導体製造装置 |
JP2006308996A (ja) | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光装置 |
JP2017120340A (ja) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | キヤノン株式会社 | 露光装置、および物品の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2022050170A (ja) | 2022-03-30 |
KR20220037336A (ko) | 2022-03-24 |
CN114200779A (zh) | 2022-03-18 |
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RD01 | Notification of change of attorney |
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|
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A621 | Written request for application examination |
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