JP7489396B2 - 電波吸収体および電波吸収性組成物 - Google Patents

Description

本発明は、電波吸収体および電波吸収性組成物に関する。

電波吸収体としては、電波吸収材料として磁性粉体を含むものが知られている。また、磁性粉体を含む電波吸収体としては、磁性粉体とバインダーとを混合した電波吸収体が挙げられる（特許文献１参照）。

特許第４６７４３８０号

近年、電波を利用する電子機器として、電波を送受信することによって対象物を認識するためのレーダーが注目されている。例えば、車載用レーダーは、電波を送信し、送信した電波が対象物（歩行者、車両等）により反射された電波を受信することによって、対象物の存在、対象物との距離等を認識することができる。自動車の自動運転制御システムは、対象物との衝突を防止するために、レーダーが対象物を認識した結果に基づき、必要に応じて、自動でブレーキを掛けて自動車を停止させたり、対象物との距離を保つために自動で速度を制御することができる。

上記のようにレーダーが認識した結果に基づき各種制御を行うシステムの信頼性を高めるためには、レーダーの性能向上が望まれる。そのために、近年、レーダーの電波送受信ユニットの正面側（外部から入射する電波の入射側）に電波吸収体を設置し、認識精度を向上させることが検討され始めている。

以上に鑑み、本発明の一態様は、レーダーの認識精度向上に寄与し得る電波吸収体を提供することを目的とする。

本発明の一態様は、
磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収体であって、
上記磁性粉体は、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率（σｓ／β）が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体である電波吸収体、
に関する。

また、本発明の一態様は、
磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収性組成物であって、
上記磁性粉体は、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率（σｓ／β）が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体である電波吸収性組成物、
に関する。

一形態では、上記電波吸収体は、上記電波吸収性組成物を成形した成形品であることができる。

一形態では、上記六方晶フェライトは、置換型六方晶フェライトであることができる。

一形態では、上記置換型六方晶フェライトは、下記式１で表される組成を有することができる。
式１：Ａ^１Ｆｅ_{（１２－ｘ）}Ａｌ_ｘＯ_１９
式１中、Ａ^１は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表し、ｘは、１．５０≦ｘ≦８．００を満たす。

一形態では、上記比率（σｓ／β）は、２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下であることができる。

一形態では、上記比率（σｓ／β）は、２４５ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下であることができる。

一形態では、上記六方晶フェライトは、下記式２で表される組成を有する置換型六方晶フェライトであることができる。
式２：Ａ^２Ｆｅ_{（１２－ｙ）}Ａｌ_ｙＯ_１９
式２中、Ａ^２は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表し、ｙは、０．５≦ｙ＜１．５を満たす。

一形態では、式２中、ｙは、０．８≦ｙ≦１．２を満たすことができる。

一形態では、上記比率（σｓ／β）は、３００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上４００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下であることができる。

一形態では、上記電波吸収体は、５０～９０ＧＨｚ帯域電波吸収物品に用いられ得る。

一形態では、上記置換型六方晶フェライトは、置換型六方晶ストロンチウムフェライトであることができる。

一形態では、上記βは、０．１９０ｄｅｇｒｅｅ以下であることができる。

一形態では、上記電波吸収体および／または上記電波吸収性組成物において、上記磁性粉体の体積充填率は、３５体積％以下であることができる。

本発明の一態様によれば、レーダーの認識精度向上に寄与し得る電波吸収体、およびこの電波吸収体の製造のために使用可能な電波吸収性組成物を提供することができる。

［電波吸収体、電波吸収性組成物］
本発明の一態様は、磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収体に関する。上記電波吸収体において、上記磁性粉体は、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率（σｓ／β）が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体である。

また、本発明の一態様は、磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収性組成物に関する。上記電波吸収性組成物において、上記磁性粉体は、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率（σｓ／β）が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体である。

本発明および本明細書において、「電波」とは、３テラヘルツ（ＴＨｚ）以下の周波数の電磁波をいうものとする。電波吸収体は電波吸収性を有する。電波吸収性は、例えば、詳細を後述する透過減衰量および／または反射減衰量によって評価することができ、透過減衰量の値が高いほど、反射減衰量の値が高いほど、または透過減衰量の値および反射減衰量の値が高いほど、より優れた電波吸収性を有するということができる。

本発明および本明細書において、「粉体」とは、複数の粒子の集合を意味する。「集合」とは、集合を構成する粒子が直接接触している形態に限定されず、バインダー等が粒子同士の間に介在している形態も包含される。

レーダーの認識精度向上のためには、レーダーの指向性を高めることが望ましい。更には、不要な電波成分を除去または低減することにより、対象物からの電波をレーダーが選択的に受信する選択性を高めることが望ましい。前者については、電波吸収体の透過減衰量が高いほど好ましく、後者については、電波吸収体の反射減衰量が高いほど好ましい。以上の観点から、レーダーの認識精度向上のためにレーダーの電波送受信ユニットの正面側（外部から入射する電波の入射側）に設置される電波吸収体には、透過減衰量および反射減衰量が共に高いことが望まれる。しかし、磁性粉体とバインダーとを含む従来の電波吸収体では、一般に、透過減衰量を高めようとすると反射減衰量が低下する傾向があり、透過減衰量と反射減衰量とを共に高めることは困難であった。
これに対し本発明者は検討を重ねる中で、磁性粉体とバインダーとを含む電波吸収体において、磁性粉体として詳細を後述する比率σｓ／βが２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体を使用することにより、透過減衰量および反射減衰量を共に高くすることが可能になることを見出すに至った。

ところで、電波吸収体については、電波吸収体に電波が入射する面とは反対の面（いわゆる裏面）に金属層を積層することが行われることがある。このような電波吸収体は、整合型電波吸収体と呼ばれる。整合型電波吸収体は、金属層を設けて位相差吸収を利用することにより反射減衰特性を高めることができる。これに対し、上記電波吸収体は、電波吸収体そのものが優れた反射減衰特性を有することができる。詳しくは、金属層に依らずに高い反射減衰量を示すことができる。裏面に金属層を積層せず使用される電波吸収体は、一般に透過型電波吸収体と呼ばれる。磁性粉体とバインダーとを含む従来の透過型電波吸収体では、一般に、透過減衰量を高めようとすると反射減衰量が低下する傾向があった。これに対し、上記電波吸収体は、金属層に依らずに高い反射減衰量を示すことができ、かつ高い透過減衰量を示すことができる。
本明細書に記載の「金属層」は、金属を含む層であって、電波を実質的に反射する層を意味する。ただし、磁性粉体およびバインダーを含む上記電波吸収体が金属を含む場合、そのような電波吸収体は、上記の金属層には該当しないものとする。ここで、「電波を実質的に反射する」とは、例えば、電波吸収体の裏面に金属層を積層した状態で電波吸収体に電波を入射させたときに入射した電波の９０％以上を反射することを意味する。金属層の形態としては、金属板、金属箔等が挙げられる。例えば、電波吸収体の裏面に蒸着によって形成された金属層が挙げられる。上記電波吸収体は、裏面に金属層を設けずに使用することができる。金属層なしで使用できることは、電波吸収体のリサイクルの観点およびコスト面から好ましい。また、裏面に金属層を積層して使用される電波吸収体は、金属層の劣化、金属層と電波吸収体との剥離等により品質が低下する場合がある。裏面に金属層を設けずに使用できることは、そのような品質低下を生じることがない点でも好ましい。

以下、上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物について、更に詳細に説明する。

＜磁性粉体＞
（σｓ／β）
上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、磁性粉体として、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率（σｓ／β）が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体を含む。

飽和磁化σｓは、質量磁化とも呼ばれ、単位はｅｍｕ／ｇである。１ｅｍｕ／ｇ＝１Ａ・ｍ^２／ｋｇである。磁性粉体の飽和磁化σｓは、振動試料型磁力計を用いて、雰囲気温度２３℃の大気雰囲気下、最大印加磁界５０ｋＯｅおよび磁界掃引速度２５Ｏｅ／ｓの条件にて測定される値とする。１［ｋＯｅ］＝１０^６／４π［Ａ／ｍ］である。

上記βは、六方晶フェライトの粉体をＸ線回折分析することにより求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅である。半値幅は、半値全幅（ＦＷＨＭ；ｆｕｌｌ ｗｉｄｔｈ ａｔ ｈａｌｆ ｍａｘｉｍｕｍ）である。本発明者の検討の結果、六方晶フェライトの回折面の中で、（１０７）面の回折ピークの半値幅βについて求められる比率（σｓ／β）と電波吸収性能との間に相関があることが明らかとなった。本発明および本明細書において、Ｘ線回折分析は、粉末Ｘ線回折装置を用いて、以下の測定条件で行われるものとする。Ｘ線回折スペクトルは、縦軸：ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ（単位：ｃｏｕｎｔｓ）、横軸：回折角（単位：ｄｅｇｒｅｅ（°））のスペクトルとして得られる。Ｘ線回折スペクトルにおいて、（１０７）面の回折ピークは、回折角２θが３２～３３ｄｅｇｒｅｅの範囲（通常、３２．５ｄｅｇｒｅｅ付近）の位置にピークの頂点を有するピークとして検出される。（１０７）面の回折ピークの半値幅は、粉末Ｘ線回折装置に搭載された解析ソフトにより、または公知の算出方法によって、求めることができる。
－測定条件－
Ｘ線源：ＣｕＫα線
〔波長：１．５４Å（０．１５４ｎｍ）、出力：４０ｍＡ、４５ｋＶ〕
スキャン範囲：２５ｄｅｇｒｅｅ＜２θ＜３５ｄｅｇｒｅｅ
スキャン間隔：０．０５ｄｅｇｒｅｅ
スキャンスピード：０．３３ｄｅｇｒｅｅ／ｍｉｎ

飽和磁化σｓは、磁性粉体の磁気特性の一種である。一方、本発明者は、上記βは、六方晶フェライトの粉体を構成する粒子間でのフェライト組成のばらつきを低減することにより小さくすることができると推察している。上記σｓとβとの比率が電波吸収体の電波吸収性能に影響することは、本発明者の鋭意検討の結果、新たに得られた知見である。この知見に基づき本発明者は更に検討を重ねた結果、磁性粉体としてσｓ／βが２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体を使用することによって、磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収体の透過減衰量および反射減衰量を共に高くすることが可能になることを見出すに至った。

先に説明したように、電波吸収体の透過減衰量と反射減衰量とを共に高めることができれば、この電波吸収体が設置されたレーダーの認識精度向上に寄与し得る。電波吸収体の透過減衰量と反射減衰量とを共に高める観点から、上記六方晶フェライトの粉体のσｓ／βは、２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上である。

一形態では、上記六方晶フェライトの粉体のσｓ／βは、２４２ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることが好ましく、２４５ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることがより好ましく、２４７ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることが更に好ましく、２５０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることが一層好ましく、２５５ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることがより一層好ましく、２６０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることが更に一層好ましい。また、上記六方晶フェライトの粉体のσｓ／βは、例えば、３２０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下、３１５ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下または３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下であることができる。または、上記六方晶フェライトの粉体のσｓ／βは、上記で例示した値を超える値であってもよい。例えば、詳細を後述する式１で表される組成を有する置換型六方晶フェライトの粉体は、上記範囲のσｓ／βを有し得るものとして好ましい。

また、一形態では、上記六方晶フェライトの粉体のσｓ／βは、３００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上であることが好ましい。例えば、詳細を後述する式２で表される組成を有する置換型六方晶フェライトの粉体は、３００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上のσｓ／βを有し得るものとして好ましい。本形態において、上記六方晶フェライトの粉体のσｓ／βは、３００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上４００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下であることがより好ましい。

σｓ／βについて、この値を大きくするための手段の１つとしては、上記六方晶フェライトの粉体をＸ線回折分析することにより求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βの値を小さくすることが挙げられる。この点から、一形態では、βは、０．１９０ｄｅｇｒｅｅ以下であることが好ましく、０．１８８ｄｅｇｒｅｅ以下であることがより好ましく、０．１８５ｄｅｇｒｅｅ以下であることが更に好ましく、０．１８３ｄｅｇｒｅｅ以下であることが一層好ましく、０．１８０ｄｅｇｒｅｅ以下であることがより一層好ましい。また、βは、例えば、０．１３０ｄｅｇｒｅｅ以上、０．１４０ｄｅｇｒｅｅ以上または０．１５０ｄｅｇｒｅｅ以上であることができる。または、βは、上記で例示した値を下回る値であってもよい。ただし、σｓ／βが先に記載した範囲であればよく、βの値は特に限定されるものではない。

σｓ／βの値を大きくするための手段の１つとしては、上記六方晶フェライトの粉体のσｓを大きくすることも挙げられる。この点から、一形態では、σｓは、４２．０ｅｍｕ／ｇ以上であることが好ましく、４２．５ｅｍｕ／ｇ以上であることがより好ましく、４３．０ｅｍｕ／ｇ以上であることが更に好ましい。また、σｓは、例えば、５５．０ｅｍｕ／ｇ以下、５３．０ｅｍｕ／ｇ以下、５２．０ｅｍｕ／ｇ以下または５０．０ｅｍｕ／ｇ以下であることができる。または、σｓは、上記で例示した値を上回る値であってもよい。ただし、σｓ／βが先に記載した範囲であればよく、σｓの値は特に限定されるものではない。

電波吸収体に含まれる磁性粉体のσｓおよびβは、例えば、電波吸収体の作製に使用する磁性粉体について、またはかかる磁性粉体と同一ロットの磁性粉体について、上記測定を行い求めることができる。また、例えば、電波吸収体から公知の方法によって磁性粉体を取り出し、取り出された磁性粉体について上記測定を行うことにより、電波吸収体に含まれる磁性粉体のσｓおよびβを求めることができる。この点は、電波吸収性組成物に含まれる磁性粉体についても同様である。

以下、上記六方晶フェライトの粉体について、更に詳細に説明する。

（六方晶フェライトの構成原子）
本発明および本明細書において、「六方晶フェライトの粉体」とは、Ｘ線回折分析によって、主相として六方晶フェライト型の結晶構造が検出される磁性粉体をいうものとする。主相とは、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが帰属する構造をいう。例えば、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが六方晶フェライト型の結晶構造に帰属される場合、六方晶フェライト型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。Ｘ線回折分析によって単一の構造のみが検出された場合には、この検出された構造を主相とする。六方晶フェライト型の結晶構造は、構成原子として、少なくとも鉄原子、二価金属原子および酸素原子を含む。無置換型六方晶フェライトにおいては、六方晶フェライトの結晶構造を構成する原子は、鉄原子、二価金属原子および酸素原子のみである。これに対し、置換型六方晶フェライトは、六方晶フェライトの結晶構造を構成する原子として、鉄原子、二価金属原子および酸素原子とともに、１種以上の他の原子を含む。この１種以上の他の原子は、通常、六方晶フェライトの結晶構造において鉄の一部を置換する原子である。二価金属原子とは、イオンとして二価のカチオンになり得る金属原子であり、ストロンチウム原子、バリウム原子、カルシウム原子等のアルカリ土類金属原子、鉛原子等を挙げることができる。本発明および本明細書において、「六方晶ストロンチウムフェライトの粉体」とは、六方晶フェライトの結晶構造に含まれる主な二価金属原子がストロンチウム原子であるものをいう。主な二価金属原子とは、六方晶フェライトの結晶構造に含まれる二価金属原子の中で、原子％基準で最も多くを占める二価金属原子をいうものとする。ただし、上記の二価金属原子には、希土類原子は包含されないものとする。本発明および本明細書における「希土類原子」は、スカンジウム原子（Ｓｃ）、イットリウム原子（Ｙ）、およびランタノイド原子からなる群から選択される。ランタノイド原子は、ランタン原子（Ｌａ）、セリウム原子（Ｃｅ）、プラセオジム原子（Ｐｒ）、ネオジム原子（Ｎｄ）、プロメチウム原子（Ｐｍ）、サマリウム原子（Ｓｍ）、ユウロピウム原子（Ｅｕ）、ガドリニウム原子（Ｇｄ）、テルビウム原子（Ｔｂ）、ジスプロシウム原子（Ｄｙ）、ホルミウム原子（Ｈｏ）、エルビウム原子（Ｅｒ）、ツリウム原子（Ｔｍ）、イッテルビウム原子（Ｙｂ）、およびルテチウム原子（Ｌｕ）からなる群から選択される。

置換型六方晶フェライトは、六方晶フェライトの結晶構造を構成する原子として、鉄原子、二価金属原子および酸素原子とともに、１種以上の他の原子を含む。置換原子の種類およびその含有率によって、飽和磁化σｓを制御することができる。かかる原子としては、Ａｌ、ＧａおよびＩｎからなる群から選ばれる１種以上の三価金属原子、ＭｎとＴｉ、ＣｏとＴｉ、ＺｎとＴｉ等の二価と四価の金属原子の組み合わせを挙げることができる。

一形態では、上記磁性粉体は、マグネトプランバイト型（一般に「Ｍ型」と呼ばれる。）の六方晶フェライトの粉体であることができる。マグネトプランバイト型の六方晶フェライトは、鉄を置換する原子を含まない無置換型の場合、組成式：ＡＦｅ_１２Ｏ_１９により表される組成を有する。ここでＡは、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる少なくとも１種の原子を表すことができ、これらの２種以上が任意の割合で含まれる態様も包含される。置換型六方晶フェライトは、好ましくは置換型六方晶ストロンチウムフェライトであることができる。

電波吸収性能の観点から好ましい六方晶フェライトとしては、マグネトプランバイト型の六方晶フェライトの鉄原子の一部がアルミニウム原子に置換された置換型のマグネトプランバイト型六方晶フェライトを挙げることができる。そのような六方晶フェライトの一態様としては、下記式１で表される組成を有する置換型六方晶フェライトを挙げることができる。

式１：Ａ^１Ｆｅ_{（１２－ｘ）}Ａｌ_ｘＯ_１９

式１中、Ａ^１は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子（以下、「Ａ原子」とも記載する。）を表し、１種のみであってもよく、２種以上が任意の割合で含まれていてもよく、粉体を構成する粒子間の組成の均一性向上の観点からは１種のみであることが好ましい。
高周波数帯域での電波吸収性能の観点からは、式１におけるＡ^１は、Ｓｒ、ＢａおよびＣａからなる群から選ばれる１種以上の原子であることが好ましく、Ｓｒであることがより好ましい。

式１中、ｘは、１．５０≦ｘ≦８．００を満たす。高周波数帯域での電波吸収性能の観点から、ｘは１．５０以上であり、１．５０超であることがより好ましく、２．００以上であることが更に好ましく、２．００超であることが一層好ましい。ｘの値が大きいほど、σｓの値が小さくなる傾向がある。また、磁気特性の観点から、ｘは８．００以下であり、８．００未満であることが好ましく、６．００以下であることがより好ましく、６．００未満であることがより好ましい。

式１で表されるマグネトプランバイト型の置換型六方晶フェライトの具体例としては、ＳｒＦｅ_{（９．５８）}Ａｌ_{（２．４２）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（９．３７）}Ａｌ_{（２．６３）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（９．２７）}Ａｌ_{（２．７３）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（９．８５）}Ａｌ_{（２．１５）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（１０．００）}Ａｌ_{（２．００）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（９．７４）}Ａｌ_{（２．２６）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（１０．４４）}Ａｌ_{（１．５６）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（９．７９）}Ａｌ_{（２．２１）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（９．３３）}Ａｌ_{（２．６７）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（７．８８）}Ａｌ_{（４．１２）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（７．０４）}Ａｌ_{（４．９６）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（７．３７）}Ａｌ_{（４．６３）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（６．２５）}Ａｌ_{（５．７５）}Ｏ_１９、ＳｒＦｅ_{（７．７１）}Ａｌ_{（４．２９）}Ｏ_１９、Ｓｒ_{（０．８０）}Ｂａ_{（０．１０）}Ｃａ_{（０．１０）}Ｆｅ_{（９．８３）}Ａｌ_{（２．１７）}Ｏ_１９、ＢａＦｅ_{（９．５０）}Ａｌ_{（２．５０）}Ｏ_１９、ＣａＦｅ_{（１０．００）}Ａｌ_{（２．００）}Ｏ_１９、ＰｂＦｅ_{（９．００）}Ａｌ_{（３．００）}Ｏ_１９等が挙げられる。また、具体例としては、後述の表１に示されている組成を有する置換型六方晶ストロンチウムフェライトも挙げられる。六方晶フェライトの組成は、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析によって確認することができる。確認方法の具体例としては、後述の実施例に記載の方法を挙げることができる。または、電波吸収体を切断する等して断面を露出させた後、露出した断面について、例えばエネルギー分散型Ｘ線分析を行うことによって、電波吸収体に含まれる磁性粉体の組成を確認することもできる。

また、マグネトプランバイト型の六方晶フェライトの鉄原子の一部がアルミニウム原子に置換された置換型のマグネトプランバイト型六方晶フェライトの一態様としては、下記式２で表される組成を有する置換型六方晶フェライトを挙げることもできる。

式２：Ａ^２Ｆｅ_{（１２－ｙ）}Ａｌ_ｙＯ_１９

式２中、Ａ^２は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表す。式２中のＡ^２については、式１中のＡ^１について先に記載した通りである。

式２中、ｙは、０．５≦ｙ＜１．５を満たす。６０ＧＨｚ近傍（例えば５５～６６ＧＨｚの範囲）の高周波数帯域での電波吸収性能の観点から、ｙは０．５以上であり、０．８超であることが好ましい。ｙの値が大きいほど、σｓの値が小さくなる傾向がある。また、磁気特性の観点から、ｙは１．５未満であり、１．２以下であることが好ましい。式１で表されるマグネトプランバイト型の置換型六方晶フェライトの具体例としては、例えば、後述の表１に示されている組成を有する置換型六方晶ストロンチウムフェライトを挙げることができる。

一形態では、置換型六方晶フェライトの粉体は、結晶相が単相であることができ、複数の結晶相を含むものであることもでき、結晶相が単相であることが好ましく、結晶相が単相であるマグネトプランバイト型の置換型六方晶フェライトの粉体であることがより好ましい。
「結晶相が単相である」場合とは、Ｘ線回折分析において、任意の結晶構造を示す回折パターンが１種類のみ観察される場合をいう。Ｘ線回折分析は、例えば、後述の実施例に記載の方法によって行うことができる。複数の結晶相が含まれる場合、Ｘ線回折分析において、任意の結晶構造を示す回折パターンが２種類以上観察される。回折パターンの帰属には、例えば、国際回折データセンター（ＩＣＤＤ：Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｃｅｎｔｒｅ ｆｏｒ Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ Ｄａｔａ（登録商標））のデータベースを参照できる。例えば、Ｓｒを含むマグネトプランバイト型の六方晶フェライトの回折パターンについては、国際回折データセンター（ＩＣＤＤ）の「００－０３３－１３４０」を参照できる。ただし、鉄原子の一部がアルミニウム原子等の置換原子により置換されていると、ピーク位置は、置換原子を含まない場合のピーク位置からシフトする。

（六方晶フェライトの粉体の製造方法）
六方晶フェライトの粉体の製造方法としては、固相法および液相法が挙げられる。固相法は、複数の固体原料を乾式で混合して得られた混合物を焼成することによって六方晶フェライトの粉体を製造する方法である。これに対し、液相法は、溶液を使用する工程を含む。上記六方晶フェライトの粉体は、固相法または液相法により製造されたものであることができる。固相法により製造された六方晶フェライトの粉体と液相法により製造された六方晶フェライトの粉体とは、容易に区別可能である。例えば、液相法により製造された六方晶フェライトの粉体は、通常、その製法に起因して、ＳＥＭ－ＥＤＸ分析（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ－Ｅｎｅｒｇｙ Ｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅ Ｘ－ｒａｙ Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ）によって、粉体を構成する粒子の表面にアルカリ金属塩の析出物が確認され得る。また、例えば、固相法により製造された六方晶フェライトの粉体を、ＦＥ－ＳＥＭ（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ－Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ ）を用いた粒子の形態観察に付すと、通常、いわゆる不定形の粒子が確認され得る。例えばこのように、固相法により製造された六方晶フェライトの粉体と液相法により製造された六方晶フェライトの粉体とは、容易に区別することができる。一形態では、量産性等の観点から、六方晶フェライトの粉体としては、固相法により製造された六方晶フェライトの粉体が好ましい。

固相法において使用される固体原料としては、鉄原子の化合物およびＡ原子の化合物を挙げることができ、置換型六方晶フェライトの粉体を製造する際には、更に、置換原子の化合物を挙げることができる。これら化合物は、酸化物、炭酸塩等であることができる。
Ａ原子および置換原子については、先に記載した通りである。複数の固体原料の混合比は、所望の六方晶フェライト組成に応じて決定すればよい。複数の固体原料を、同時に混合し、または任意の順序で順次混合し、撹拌することによって、原料混合物を得ることができる。固体原料の撹拌は、市販の撹拌装置または公知の構成の撹拌装置によって行うことができる。ここでの撹拌条件を調整することにより、製造される六方晶フェライトの粉体の（１０７）面の回折ピークの半値幅βを制御することができる。強い撹拌力を加えること（例えば撹拌時の回転数を高くすること）により、βの値は小さくなる傾向がある。また、撹拌時間を長くすることにより、βの値は小さくなる傾向がある。一例として、撹拌時の回転数は３００～３０００ｒｐｍ（ｒｏｔａｔｉｏｎｓ ｐｅｒ ｍｉｎｕｔｅｓ）の範囲とすることができ、撹拌時間は１０分間～９０分間の範囲とすることができる。ただし、撹拌時の回転数および撹拌時間は、使用する撹拌装置の構成に応じて設定すればよく、上記で例示した範囲に限定されるものではない。以上の混合および撹拌は、例えば、室温の大気雰囲気下で行うことができる。本発明および本明細書において、「室温」とは、２０～２７℃の範囲の温度をいうものとする。

上記撹拌後、得られた原料混合物を、焼成することができる。この焼成において、原料混合物の結晶化を進行させることができ、これにより六方晶フェライトの結晶構造を形成することができる。焼成条件としては、例えば、焼成温度は１０００℃～１５００℃の範囲とすることができる。焼成温度は、例えば、焼成が行われる装置内の雰囲気温度（例えば加熱炉の炉内温度）であることができる。焼成時間は１時間～６時間の範囲とすることができる。ただし、上記範囲は例示であって、六方晶フェライトの結晶構造を形成可能な条件下で焼成を行えばよい。焼成は、例えば大気雰囲気下で行うことができる。

焼成においては、原料混合物の粉末に融剤を添加して焼成することも可能である。融剤としては、各種融剤を用いることができ、例えば、ＳｒＣｌ_２・６Ｈ_２Ｏ、ＣａＣｌ_２・２Ｈ_２Ｏ、ＭｇＣｌ_２、ＫＣｌ、ＮａＣｌ、ＢａＣｌ_２・２Ｈ_２Ｏ、Ｎａ_２Ｂ_４Ｏ_７等を挙げることができる。添加量は、原料混合物の粉末１００質量部に対して、例えば０．１～１０質量部が好ましく、より好ましくは０．１～８．０質量部である。

上記焼成前の原料混合物を粉砕工程に付すことができ、および／または、上記焼成後の焼成物を粉砕工程に付すことができる。粉砕工程を行うことにより、六方晶フェライトの粉体を構成する粒子のサイズを調整することができる。粉砕は、乳鉢および乳棒、粉砕機（カッターミル、ボールミル、ビーズミル、ローラーミル、ジェットミル、ハンマーミル、アトライター等）等の公知の粉砕手段によって行うことができる。

得られた六方晶フェライトの粉体は、必要に応じて公知の表面処理剤によって表面処理を行ってもよく、表面処理を行うことなく電波吸収性組成物の調製のために使用することもできる。

表面処理の種類としては、炭化水素油、エステル油、ラノリン等を用いる油剤処理；ジメチルポリシロキサン、メチルハイドロジェンポリシロキサン、メチルフェニルポリシロキサン等によるシリコーン処理；パーフルオロアルキル基含有エステル、パーフルオロアルキルシラン、パーフルオロポリエーテルおよびパーフルオロアルキル基を有する重合体等を用いるフッ素化合物処理；３－メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、３－グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、Ｎ－２－（アミノエチル）－３－アミノプロピルトリメトキシシラン等を用いるシランカップリング剤処理；イソプロピルトリイソステアロイルチタネート、イソプロピルトリス（ジオクチルピロホスフェート）チタネート等を用いるチタンカップリング剤処理；金属石鹸処理；アシルグルタミン酸等を用いるアミノ酸処理；水添卵黄レシチン等を用いるレシチン処理；ポリエチレン処理；メカノケミカル処理；リン酸、亜リン酸、リン酸塩、亜リン酸塩等を用いるリン酸化合物処理；等が挙げられる。

これらの中でも、表面処理としては、リン酸化合物処理が好ましい。六方晶フェライトの粉体に対し、リン酸化合物処理を施すと、粉体を構成する粒子の表面に、高極性の層を厚く形成することができる。粒子の表面に高極性の層が形成されると、粒子同士の疎水的相互作用に起因する凝集を抑制できるため、電波吸収性組成物の粘度上昇をより効果的に抑制することができる。そのため、リン酸化合物処理されている粉体の場合、粉体を多く含むことによる電波吸収性組成物の流動性の低下がより生じ難くなり、ハンドリング性および加工性がより損なわれ難い傾向がある。また、粒子の表面に高極性の層が形成されると、粒子同士の凝集を抑制できることのみならず、粉体とバインダーとの間の親和性をより高めることができるため、バインダー中に粉体をより均一に分散させることができる。そのため、リン酸化合物処理されている粉体を含む電波吸収性組成物により形成される電波吸収体は、電波吸収性能のバラツキがより生じ難い傾向があり、かつ、機械的強度により優れる傾向がある。

リン酸化合物には、リン酸の他に、亜リン酸、次亜リン酸、ピロリン酸、直鎖状のポリリン酸および環状のメタリン酸ならびにこれらの塩が包含される。リン酸化合物が塩の形態の場合、リン酸化合物は、金属塩であることが好ましい。金属塩としては、特に限定されず、例えば、アルカリ金属の塩、アルカリ土類金属の塩等が挙げられる。また、リン酸化合物は、アンモニウム塩であってもよい。

リン酸化合物処理では、リン酸化合物を、１種のみ用いてもよく、２種以上用いてもよい。

リン酸化合物処理では、リン酸化合物は、通常、キレート剤、中和剤等と混合して表面処理剤とされる。
リン酸化合物処理では、表面処理剤として、一般に市販されているリン酸化合物を含む水溶液を用いることもできる。
粉体のリン酸化合物処理は、例えば、粉体とリン酸化合物を含む表面処理剤とを混合することにより行うことができる。混合時間、温度等の条件は、目的に応じて、適宜設定すればよい。リン酸化合物処理では、リン酸化合物の解離（平衡）反応を利用して、不溶性のリン酸化合物を、粉体を構成する粒子表面に析出させる。
リン酸化合物処理については、例えば、「表面技術」，第６１巻，第３号，ｐ２１６，２０１０年、または、「表面技術」，第６４巻，第１２号，ｐ６４０，２０１３年の記載を参照することができる。

また、表面処理としては、シランカップリング剤処理も好ましい。
シランカップリング剤としては、加水分解性基を有するシランカップリング剤が好ましい。
加水分解性基を有するシランカップリング剤を用いたシランカップリング剤処理では、シランカップリング剤における加水分解性基が、水により加水分解されてヒドロキシ基となり、このヒドロキシ基がシリカ粒子表面の水酸基と脱水縮合反応することにより、粒子の表面を改質することができる。
加水分解性基としては、アルコキシ基、アシルオキシ基、ハロゲノ基等が挙げられる。

シランカップリング剤は、官能基として疎水性基を有していてもよい。
官能基として疎水性基を有するシランカップリング剤としては、メチルトリメトキシシラン（ＭＴＭＳ）、ジメチルジメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ｎ－プロピルトリメトキシシラン、ｎ－プロピルトリエトキシシラン、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン等のアルコキシシラン；メチルトリクロロシラン、ジメチルジクロロシラン、トリメチルクロロシラン、フェニルトリクロロシラン等のクロロシラン；ヘキサメチルジシラザン（ＨＭＤＳ）；等が挙げられる。
また、シランカップリング剤は、官能基としてビニル基を有していてもよい。
官能基としてビニル基を有するシランカップリング剤としては、メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルメチルジメトキシシラン等のアルコキシシラン；ビニルトリクロロシラン、ビニルメチルジクロロシラン等のクロロシラン；ジビニルテトラメチルジシラザン；等が挙げられる。

シランカップリング剤処理では、シランカップリング剤を、１種のみ用いてもよく、２種以上用いてもよい。

表面処理剤としては、上記の他に、例えば、特開２０１７－４１６２４号公報の段落００６１～００６３に記載の化合物も挙げられる。

表面処理の方法としては、特に限定されず、公知の方法を適用することができる。
表面処理の方法としては、例えば、粉体と表面処理剤等とをヘンシェルミキサー等の混合機を用いて混合する方法、粉体を構成する粒子に対して表面処理剤等を噴霧する方法、表面処理剤等を適当な溶剤に溶解または分散させた表面処理剤等を含む液と、粉体と、を混合した後に溶剤を除去する方法等が挙げられる。

（磁性粉体の体積充填率）
上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、磁性粉体として、以上説明した六方晶フェライトの粉体を含む。上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物において、上記六方晶フェライトの粉体の充填率は、特に限定されるものではない。例えば、一形態では、上記充填率は、体積充填率として、３５体積％以下であることができ、１５～３５体積％の範囲であることもできる。また、他の一形態では、上記体積充填率は、３５体積％以上であることもできる。この場合、体積充填率は、例えば３５～６０体積％の範囲であることができ、３５～５０体積％の範囲であることもできる。体積充填率とは、電波吸収体については、電波吸収体の総体積（１００体積％）に対する体積基準の含有率を意味する。
電波吸収性組成物については、体積充填率とは、固形分（即ち溶剤を除く成分）の総体積（１００体積％）に対する体積基準の含有率を意味する。
磁性粉体の充填率に関して、本発明者の検討によれば、電波吸収体における磁性粉体の充填率を高くすることにより、透過減衰量は高くなる傾向がある。他方、本発明者の検討によれば、磁性粉体とバインダーとを含む従来の電波吸収体では、電波吸収体における磁性粉体の充填率を高くすると、反射減衰量が低下する傾向がある。これに対し、磁性粉体として先に説明した六方晶フェライトの粉体を使用することにより、磁性粉体とバインダーとを含む電波吸収体の透過減衰量と反射減衰量を共に高くすることができる。

電波吸収体における磁性粉体の体積充填率は、例えば、公知の方法によって電波吸収体から磁性粉体を採取し、「（採取された磁性粉体の体積／電波吸収体の総体積）×１００」として求めることができる。ここで電波吸収体の総体積および磁性粉体の体積は、公知の方法によって求めることができる。または、電波吸収体の作製のために使用された電波吸収性組成物の組成が既知の場合には、この既知の組成から電波吸収体における磁性粉体の体積充填率を求めることもできる。
また、電波吸収体における磁性粉体の体積充填率は、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ；Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）により取得される断面ＳＥＭ像を用いて、以下の方法によって求めることもできる。
測定対象の電波吸収体の無作為に定めた位置から一辺５ｍｍの正方形の平面を有する測定用試料を切り出す。切り出した試料から断面観察用試料を作製する。断面観察用試料の作製は、ＦＩＢ（Ｆｏｃｕｓｅｄ Ｉｏｎ Ｂｅａｍ；集束イオンビーム）加工によって行う。作製された断面観察用試料をＳＥＭにより観察し、断面画像（ＳＥＭ像）を撮影する。ＳＥＭとしては、電界放射型走査型電子顕微鏡（ＦＥ（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）－ＳＥＭ）を用いる。ＦＥ－ＳＥＭを用いて、ＦＩＢ加工した断面が上方を向くようにステージに断面観察用試料をセットし、加速電圧１５ｋＶおよび観察倍率３，０００倍の条件にて、視野が３０μｍ×４０μｍの断面ＳＥＭ像を得る。得られた断面ＳＥＭ像を２値化処理し、磁性粉体が占める割合（面積基準）を算出する。
以上の操作を、測定対象の電波吸収体の異なる位置から切り出された５つの測定用試料について行い、得られた５つの値の算術平均として、磁性粉体の体積充填率を求めることができる。なお、必要に応じて断面観察用試料の元素分析を行うことにより、断面ＳＥＭ像における磁性粉体の部分を特定することもできる。
本明細書に記載の他の成分の体積充填率も、上記と同様に求めることができる。

＜バインダー＞
上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、磁性粉体およびバインダーを含む。バインダーは、例えば樹脂であることができ、樹脂としては、熱可塑性樹脂および熱硬化性樹脂が挙げられる。
熱可塑性樹脂としては、アクリル樹脂、ポリアセタール、ポリアミド、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリスチレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリ塩化ビニル、アクリロニトリルとブタジエンとスチレンとの共重合により得られるＡＢＳ（ａｃｒｙｌｏｎｉｔｒｉｌｅ ｂｕｔａｄｉｅｎｅ ｓｔｙｒｅｎｅ）樹脂；アクリロニトリルとスチレンとの共重合により得られるＡＳ（ａｃｒｙｌｏｎｉｔｒｉｌｅ ｓｔｙｒｅｎｅ）樹脂等が挙げられる。
熱硬化性樹脂としては、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、不飽和ポリエステル、ジアリルフタレート樹脂、ウレタン樹脂、シリコン樹脂等が挙げられる。

バインダーは、ゴムであることもできる。ゴムとしては、例えば、磁性粉体との混合性が良好であり、かつ、耐久性、耐候性および耐衝撃性により優れる電波吸収体を製造できるという観点から、ブタジエンゴム、イソプレンゴム、クロロプレンゴム、ハロゲン化ブチルゴム、フッ素ゴム、ウレタンゴム、アクリル酸エステル（例えば、アクリル酸エチル、アクリル酸ブチルおよびアクリル酸２－エチルヘキシル）と他の単量体との共重合により得られるアクリルゴム（略号：ＡＣＭ）、チーグラー触媒を用いたエチレンとプロピレンとの配位重合により得られるエチレン－プロピレンゴム、イソブチレンとイソプレンとの共重合により得られるブチルゴム（略号：ＩＩＲ）、ブタジエンとスチレンとの共重合により得られるスチレンブタジエンゴム（略号：ＳＢＲ）、アクリロニトリルとブタジエンとの共重合により得られるアクリロニトリルブタジエンゴム（略号：ＮＢＲ）、シリコーンゴム等を挙げることもできる。

電波吸収体が、バインダーとしてゴムを含む場合、ゴムに加えて、加硫剤、加硫助剤、軟化剤、可塑剤等の各種添加剤を含んでいてもよい。加硫剤としては、硫黄、有機硫黄化合物、金属酸化物等が挙げられる。

バインダーとしては、例えば、熱可塑性エラストマー（ＴＰＥ；Ｔｈｅｒｍｏｐｌａｓｔｉｃ Ｅｌａｓｔｏｍｅｒ）も挙げられる。熱可塑性エラストマーとしては、オレフィン系熱可塑性エラストマー（ＴＰＯ；Ｔｈｅｒｍｏｐｌａｓｔｉｃ Ｏｌｅｆｉｎｉｃ Ｅｌａｓｔｏｍｅｒ）、スチレン系熱可塑性エラストマー（ＴＰＳ；Ｔｈｅｒｍｏｐｌａｓｔｉｃ Ｓｔｙｒｅｎｉｃ Ｅｌａｓｔｏｍｅｒ）、アミド系熱可塑性エラストマー（ＴＰＡ；Ｔｈｅｒｍｏｐｌａｓｔｉｃ Ｐｏｌｙａｍｉｄｅ Ｅｌａｓｔｏｍｅｒ）、ポリエステル系熱可塑性エラストマー（ＴＰＣ；Ｔｈｅｒｍｏｐｌａｓｔｉｃ Ｃｏｐｏｌｙｅｓｔｅｒ）等が挙げられる。

上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、バインダーを１種のみ含んでいてもよく、２種以上含んでいてもよい。電波吸収体および電波吸収性組成物におけるバインダーの体積充填率は、特に限定されず、例えば、６５体積％以上であることが好ましく、６５体積％以上９２体積％以下であることがより好ましく、６５体積％以上８５体積％以下であることが更に好ましい。上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物がバインダーを２種以上含む場合、体積充填率とは、２種以上のバインダーの合計体積充填率をいうものとする。この点は、他の成分に関する体積充填率についても同様である。

＜添加剤＞
上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、磁性粉体およびバインダーを含み、任意に１種以上の添加剤を任意の割合で含んでいてもよく、含まなくてもよい。添加剤としては、酸化防止剤、光安定剤、分散剤、分散助剤、防黴剤、帯電防止剤、可塑剤、衝撃性向上剤、結晶核剤、滑剤、界面活性剤、顔料、染料、充填剤、離型剤（脂肪酸、脂肪酸金属塩、オキシ脂肪酸、脂肪酸エステル、脂肪族部分鹸化エステル、パラフィン、低分子量ポリオレフィン、脂肪酸アミド、アルキレンビス脂肪酸アミド、脂肪族ケトン、脂肪酸低級アルコールエステル、脂肪酸多価アルコールエステル、脂肪酸ポリグリコールエステル、変性シリコーン等）、加工助剤、防曇剤、ドリップ防止剤、防菌剤等が挙げられる。他の添加剤は、１つの成分が２つ以上の機能を担うものであってもよい。

（酸化防止剤）
一形態では、好ましい添加剤としては、酸化防止剤を挙げることができる。
酸化防止剤としては、特に限定されず、公知の酸化防止剤を用いることができる。
酸化防止剤の例については、例えば、シーエムシー発行の、大勝靖一監修“高分子安定化の総合技術－メカニズムと応用展開－”に記載がある。この記載は、参照により本明細書に取り込まれる。
酸化防止剤の種類としては、フェノール系酸化防止剤、アミン系酸化防止剤、リン系酸化防止剤、イオウ系酸化防止剤等が挙げられる。
酸化防止剤としては、フェノール系酸化防止剤および／またはアミン系酸化防止剤と、リン系酸化防止剤および／またはイオウ系酸化防止剤とを併用することが好ましい。

フェノール系酸化防止剤としては、ＡＤＥＫＡ社のアデカスタブ ＡＯ－２０、アデカスタブ ＡＯ－３０、アデカスタブ ＡＯ－４０、アデカスタブ ＡＯ－５０、アデカスタブ ＡＯ－６０、アデカスタブ ＡＯ－８０、アデカスタブ ＡＯ―３３０、ＢＡＳＦジャパン（株）のＩＲＧＡＮＯＸ １０１０、ＩＲＧＡＮＯＸ １０３５、ＩＲＧＡＮＯＸ １０７６、ＩＲＧＡＮＯＸ １０９８、ＩＲＧＡＮＯＸ １１３５、ＩＲＧＡＮＯＸ １３３０、ＩＲＧＡＮＯＸ １７２６、ＩＲＧＡＮＯＸ ２４５、ＩＲＧＡＮＯＸ ２５９、ＩＲＧＡＮＯＸ ３１１４、ＩＲＧＡＮＯＸ ５６５等が挙げられる。なお、上記の「アデカスタブ」および「ＩＲＧＡＮＯＸ」は、いずれも登録商標である。

アミン系酸化防止剤としては、三共ライフテック（株）のサノール ＬＳ－７７０、サノール ＬＳ－７６５、サノール ＬＳ－２６２６、ＡＤＥＫＡ社のアデカスタブ ＬＡ－７７、アデカスタブ ＬＡ－５７、アデカスタブ ＬＡ－５２、アデカスタブ ＬＡ－６２、アデカスタブ ＬＡ－６３、アデカスタブ ＬＡ－６７、アデカスタブ ＬＡ－６８、アデカスタブ ＬＡ－７２、ＢＡＳＦジャパン（株）のＴＩＮＵＶＩＮ １２３、ＴＩＮＵＶＩＮ １４４、ＴＩＮＵＶＩＮ ６２２、ＴＩＮＵＶＩＮ ７６５、ＴＩＮＵＶＩＮ ９４４等が挙げられる。なお、上記の「アデカスタブ」および「ＴＩＮＵＶＩＮ」は、いずれも登録商標である。
また、酸化防止剤としては、ラジカルをクエンチすることができるアミン系化合物を用いることもできる。このようなアミン系化合物としては、ポリエチレングリコールビスＴＥＭＰＯ〔シグマアルドリッチ社〕、セバシン酸ビスＴＥＭＰＯ等が挙げられる。なお、「ＴＥＭＰＯ」は、テトラメチルピペリジン－１－オキシルの略称である。

リン系酸化防止剤としては、ＡＤＥＫＡ社のアデカスタブ ＰＥＰ－８、アデカスタブ ＰＥＰ－３６、アデカスタブ ＨＰ－１０、アデカスタブ ２１１２、ＢＡＳＦジャパン（株）のＩＲＧＡＦＯＳ １６８等が挙げられる。なお、上記の「アデカスタブ」および「ＩＲＧＡＦＯＳ」は、いずれも登録商標である。

イオウ系酸化防止剤としては、ＡＤＥＫＡ社のアデカスタブ ＡＯ－４１２Ｓ、アデカスタブ ＡＯ－５０３Ｓ等が挙げられる。なお、上記の「アデカスタブ」は、登録商標である。

上記の中でも、フェノール系酸化防止剤としては、アデカスタブ ＡＯ－２０、アデカスタブ ＡＯ－６０、アデカスタブ ＡＯ―８０およびＩＲＧＡＮＯＸ １０１０からなる群より選ばれる少なくとも１種が好ましく、アミン系酸化防止剤としては、アデカスタブ ＬＡ－５２が好ましく、リン系酸化防止剤としては、アデカスタブ ＰＥＰ－３６が好ましく、イオウ系酸化防止剤としては、アデカスタブ ＡＯ－４１２Ｓが好ましい。
上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、酸化防止剤を含む場合、酸化防止剤を１種のみ含んでいてもよく、２種以上含んでいてもよい。

上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物が酸化防止剤を含む場合、電波吸収体および電波吸収性組成物における酸化防止剤の含有量は、特に限定されず、例えば、バインダーの分解抑止と酸化防止剤のブリード抑止との両立の観点から、バインダー１００質量部に対して、０．１質量部～１０質量部であることが好ましく、０．５質量部～５質量部であることがより好ましい。

（光安定剤）
一形態では、好ましい添加剤としては、光安定剤を挙げることができる。
光安定剤としては、ＨＡＬＳ（即ち、ヒンダードアミン系光安定剤（Ｈｉｎｄｅｒｅｄ Ａｍｉｎｅ Ｌｉｇｈｔ Ｓｔａｂｉｌｉｚｅｒ））、紫外線吸収剤、一重項酸素クエンチャー等が挙げられる。
ＨＡＬＳは、高分子量のＨＡＬＳであってもよく、低分子量のＨＡＬＳであってもよく、高分子量のＨＡＬＳと低分子量のＨＡＬＳとの組み合わせであってもよい。

上記電波吸収体および上記電波吸収性組成物は、光安定剤を含む場合、光安定剤を１種のみ含んでいてもよく、２種以上含んでいてもよい。

－高分子量のＨＡＬＳ－
本発明および本明細書において、「高分子量のＨＡＬＳ」とは、重量平均分子量が１０００を超えるヒンダードアミン系光安定剤を意味する。
高分子量のＨＡＬＳとしては、オリゴマー型のＨＡＬＳであるポリ［６－（１，１，３，３－テトラメチルブチル）イミノ－１，３，５－トリアジン－２，４－ジイル］［（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）イミノ］ヘキサメチレン［（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）イミノ］、コハク酸ジメチル－１－（２－ヒドロキシエチル）－４－ヒドロキシ－２，２，６，６－テトラメチルピペリジン重縮合物等が挙げられる。
高分子量のＨＡＬＳの市販品の例としては、ＢＡＳＦジャパン（株）のＣＨＩＭＡＳＳＯＲＢ ９４４ＬＤ、ＴＩＮＵＶＩＮ ６２２ＬＤ等が挙げられる。なお、上記の「ＣＨＩＭＡＳＳＯＲＢ」および「ＴＩＮＵＶＩＮ」は、いずれも登録商標である。

本発明および本明細書における重量平均分子量（Ｍｗ）は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）により測定した値である。ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）を用いる測定は、測定装置として、ＨＬＣ（登録商標）－８２２０ＧＰＣ〔東ソー（株）製〕を用い、カラムとして、ＴＳＫｇｅｌ（登録商標）Ｓｕｐｅｒ ＨＺＭ－Ｍ〔４．６ｍｍＩＤ×１５ｃｍ、東ソー（株）製〕、Ｓｕｐｅｒ ＨＺ４０００〔４．６ｍｍＩＤ×１５ｃｍ、東ソー（株）製〕、Ｓｕｐｅｒ ＨＺ３０００〔４．６ｍｍＩＤ×１５ｃｍ、東ソー（株）製〕、Ｓｕｐｅｒ ＨＺ２０００〔４．６ｍｍＩＤ×１５ｃｍ、東ソー（株）製〕をそれぞれ１本、直列に連結したものを用い、溶離液として、ＴＨＦ（テトラヒドロフラン）を使用できる。
測定条件としては、試料濃度を０．２質量％、流速を０．３５ｍＬ／ｍｉｎ、サンプル注入量を１０μＬ、および測定温度を４０℃とすることができ、検出器としては示差屈折率（ＲＩ）検出器を用いることができる。
検量線は、東ソー（株）製の「標準試料ＴＳＫ ｓｔａｎｄａｒｄ，ｐｏｌｙｓｔｙｒｅｎｅ」：「Ｆ－４０」、「Ｆ－２０」、「Ｆ－４」、「Ｆ－１」、「Ａ－５０００」、「Ａ－２５００」、および「Ａ－１０００」を用いて作製できる。

上記電波吸収体が高分子量のＨＡＬＳを含む場合、電波吸収体における高分子量のＨＡＬＳの含有率は、特に限定されず、例えば、電波吸収体の全質量に対して、０．２質量％～１０質量％であることが好ましい。
上記電波吸収体における高分子量のＨＡＬＳの含有率を、電波吸収体の全質量に対して０．２質量％以上とすることは、耐候性向上の観点から好ましい。
上記電波吸収体における高分子量のＨＡＬＳの含有率が電波吸収体の全質量に対して１０質量％以下であると、機械的強度の低下、および、ブルーミングの発生を抑制できる傾向がある。

－低分子量のＨＡＬＳ－
本発明および本明細書において、「低分子量のＨＡＬＳ」とは、分子量が１０００以下（好ましくは９００以下、より好ましくは６００～９００）であるヒンダードアミン系光安定剤を意味する。
低分子量のＨＡＬＳとしては、トリス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）ベンゼン－１，３，５－トリカルボキシレート、トリス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）－２－アセトキシプロパン－１，２，３－トリカルボキシレート、トリス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）－２－ヒドロキシプロパン－１，２，３－トリカルボキシレート、トリス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）トリアジン－２，４，６－トリカルボキシレート、トリス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）ブタン－１，２，３－トリカルボキシレート、テトラキス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）プロパン－１，１，２，３－テトラカルボキシレート、テトラキス（２，２，６，６－テトラメチル－４－ピペリジル）１，２，３，４－ブタンテトラカルボキシレート、テトラキス（１，２，２，６，６－ペンタメチル－４－ピペリジル）１，２，３，４－ブタンテトラカルボキシレート、２－（３，５－ジ－ｔ－ブチル－４－ヒドロキシベンジル）－２－ｎ－ブチルマロン酸ビス（１，２，２，６，６－ペンタメチル－４－ピペリジル）等が挙げられる。
低分子量のＨＡＬＳの市販品の例としては、ＡＤＥＫＡ社のアデカスタブ ＬＡ－５７、アデカスタブ ＬＡ－５２、ＢＡＳＦジャパン（株）のＴＩＮＵＶＩＮ １４４等が挙げられる。なお、上記の「アデカスタブ」および「ＴＩＮＵＶＩＮ」は、いずれも登録商標である。

上記電波吸収体が低分子量のＨＡＬＳを含む場合、電波吸収体における低分子量のＨＡＬＳの含有率は、特に限定されず、例えば、電波吸収体の全質量に対して、０．２質量％～１０質量％であることが好ましい。
上記電波吸収体における低分子量のＨＡＬＳの含有率を、電波吸収体の全質量に対して０．２質量％以上とすることは、耐候性向上の観点から好ましい。
上記電波吸収体における低分子量のＨＡＬＳの含有率が電波吸収体の全質量に対して１０質量％以下であると、機械的強度の低下、および、ブルーミングの発生を抑制できる傾向がある。

－紫外線吸収剤－
紫外線吸収剤としては、２－（２’－ヒドロキシ－３’，５’－ジ－ｔ－ブチルフェニル）ベンゾトリアゾール、２－（３，５－ジ－ｔ－アミル－２－ヒドロキシフェニル）ベンゾトリアゾール、２－（２’－ヒドロキシ－５’－メチル－フェニル）ベンゾトリアゾール、２－（２’－ヒドロキシ－５’－ｔ－オクチルフェニル）ベンゾトリアゾール、２－（２’－ヒドロキシ－３’，５’－ジ－ｔ－アミルフェニル）ベンゾトリアゾール、２－〔２’－ヒドロキシ－３’－（３’’，４’’，５’’，６’’－テトラヒドロ－フタルイミドメチル）－５’－メチルフェニル〕ベンゾトリアゾール、２，２’－メチレンビス〔４－（１，１，３，３－テトラメチルブチル）－６－（２Ｈ－ベンゾトリアゾール－２－イル）フェノール〕、２－〔２－ヒドロキシ－３，５－ビス（α，α－ジメチルベンジル）フェニル〕－２Ｈ－ベンゾトリアゾール、２－（２－ヒドロキシ－４－オクチルオキシフェニル）－２Ｈ－ベンゾトリアゾール、２－（２Ｈ－ベンゾトリアゾール－２－イル）－４－メチル－６－（３，４，５，６－テトラヒドロフタルイミジルメチル）フェノール等のベンゾトリアゾール系紫外線吸収剤、２－ヒドロキシ－４－メトキシベンゾフェノン、２，４－ジヒドロキシベンゾフェノン、２，２’－ジヒドロキシ－４－メトキシベンゾフェノン、２，２’－ジヒドロキシ－４，４’－ジメトキシベンゾフェノン、２－ヒドロキシ－４－ｎ－オクトキシベンゾフェノン、２，２’，４，４’－テトラヒドロキシベンゾフェノン、４－ドデシロキシ－２－ヒドロキシベンゾフェノン、３，５－ジ－ｔ－ブチル－４－ヒドロキシベンゾイル安息酸ｎ－ヘクサデシルエステル、１，４－ビス（４－ベンゾイル－３－ヒドロキシフェノキシ）ブタン、１，６－ビス（４－ベンゾイル－３－ヒドロキシフェノキシ）ヘキサン等のベンゾフェノン系紫外線吸収剤、エチル－２－シアノ－３，３－ジフェニルアクリレートに代表されるシアノアクリレート系紫外線吸収剤などが挙げられる。
紫外線吸収剤の市販品の例としては、ＢＡＳＦジャパン（株）のＴＩＮＵＶＩＮ ３２０、ＴＩＮＵＶＩＮ ３２８、ＴＩＮＵＶＩＮ ２３４、ＴＩＮＵＶＩＮ １５７７、ＴＩＮＵＶＩＮ ６２２、ＩＲＧＡＮＯＸシリーズ、ＡＤＥＫＡ社のアデカスタブ ＬＡ３１、シプロ化成（株）のＳＥＥＳＯＲＢ １０２、ＳＥＥＳＯＲＢ １０３、ＳＥＥＳＯＲＢ ５０１等が挙げられる。なお、上記の「ＴＩＮＵＶＩＮ」、「ＩＲＧＡＮＯＸ」、「アデカスタブ」、および「ＳＥＥＳＯＲＢ」は、いずれも登録商標である。

上記電波吸収体が紫外線吸収剤を含む場合、電波吸収体における紫外線吸収剤の含有率は、特に限定されず、例えば、電波吸収体の全質量に対して、０．２質量％～１０質量％であることが好ましい。
上記電波吸収体における紫外線吸収剤の含有率を、電波吸収体の全質量に対して０．２質量％以上とすることことは、耐候性向上の観点から好ましい。
上記電波吸収体における紫外線吸収剤の含有率が電波吸収体の全質量に対して１０質量％以下であると、機械的強度の低下、および、ブルーミングの発生を抑制できる傾向がある。

－一重項酸素クエンチャー－
上記電波吸収体が一重項酸素クエンチャーを含む場合、電波吸収体における一重項酸素クエンチャーの含有率は、特に限定されず、例えば、電波吸収体の全質量に対して、０．２質量％～１０質量％であることが好ましい。
上記電波吸収体における一重項酸素クエンチャーの含有率を、電波吸収体の全質量に対して０．２質量％以上とすることは、耐候性向上の観点から好ましい。
上記電波吸収体における一重項酸素クエンチャーの含有率が電波吸収体の全質量に対して１０質量％以下であると、機械的強度の低下、および、ブルーミングの発生を抑制できる傾向がある。

上記電波吸収体は、光安定剤を含む場合、光安定剤を１種のみ含んでいてもよく、２種以上含んでいてもよい。

＜電波吸収性組成物および電波吸収体の製造方法＞
上記電波吸収性組成物および上記電波吸収体の製造方法は、特に限定されない。上記電波吸収性組成物は、上記磁性粉体と、バインダーと、必要に応じて、溶剤、添加剤等とを用いて、公知の方法により製造できる。例えば、上記電波吸収体は、上記電波吸収性組成物を成形した成形品であることができる。上記電波吸収性組成物は、例えば、上記磁性粉体およびバインダー、更に必要に応じて、溶剤、添加剤等を混合した混合物を、加熱しながら混練して混練物として調製することができる。混練物は、例えば、塊状、ペレット等の任意の形状で得ることができる。混練物を、押し出し成形、プレス成形、射出成形、インモールド成形等の公知の成形方法によって所望の形状に成形することにより、電波吸収体（成形品）を得ることができる。電波吸収体の形状は特に限定されず、板状、線形状等の任意の形状であることができる。「板状」には、シート状およびフィルム状が包含される。板状の電波吸収体は、電波吸収板、電波吸収シート、電波吸収フィルム等と呼ぶこともできる。上記電波吸収体は、単一組成の電波吸収体（例えば、単層の電波吸収板）であってもよく、組成が異なる２種以上の部分の組み合わせ（例えば積層体）であってもよい。また、上記電波吸収体は、平面形状を有するものであってもよく、立体形状を有するものであってもよく、平面形状を有する部分と立体形状を有する部分との組み合わせであってもよい。平面形状は、例えば、シート状、フィルム状等の形状が挙げられる。立体形状としては、例えば、筒状（円筒状、角筒状等）、ホーン状、箱状（例えば、面の少なくとも１つが開放されている）等が挙げられる。

例えば、電波吸収体の厚みは、取扱いの容易性の観点からは、２０ｍｍ以下であることが好ましく、１０ｍｍ以下であることがより好ましく、５ｍｍ以下であることが更に好ましい。機械的特性の観点からは、厚みは１ｍｍ以上であることが好ましく、２ｍｍ以上であることがより好ましい。電波吸収体の厚みを調整することにより、例えば後述の透過減衰量を調整することができる。なお電波吸収体が積層体である場合、厚みとは、積層体を構成する電波吸収体の合計厚みをいうものとする。電波吸収体の厚みは、デジタル測長機を用いて測定される値であり、具体的には、無作為に選択した９箇所において測定された測定値の算術平均である。

電波吸収性組成物は、溶剤を含んでもよく、含まなくてもよい。電波吸収性組成物が溶剤を含む場合、溶剤としては、特に限定されず、例えば、水、有機溶剤、または水と有機溶剤との混合溶剤が挙げられる。
有機溶剤としては、メタノール、エタノール、ｎ－プロパノール、ｉ－プロパノール、メトキシプロパノール等のアルコール類、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、テトラヒドロフラン、アセトニトリル、酢酸エチル、トルエン等が挙げられる。これらの中でも、溶剤としては、乾燥速度の観点から、ケトン類が好ましく、シクロヘキサノンがより好ましい。電波吸収性組成物が溶剤を含む場合、組成物における溶剤の含有率は、特に限定されず、電波吸収体の製造方法に応じて決定すればよい。

上記電波吸収性組成物は、上記成分を混合することにより調製できる。混合方法は特に限定されず、例えば、撹拌により混合する方法が挙げられる。撹拌手段としては、公知の撹拌装置を用いることができる。例えば、撹拌装置としては、パドルミキサー、インペラーミキサー等のミキサーが挙げられる。撹拌時間は、撹拌装置の種類、電波吸収性組成物の組成等に応じて設定すればよい。

上記電波吸収体の製造方法の一形態としては、先に例示したような公知の成形方法によって上記電波吸収性組成物を所望の形状に成形する方法を挙げることができる。
また、上記電波吸収体の製造方法の他の一形態としては、上記電波吸収性組成物を支持体に塗布し、電波吸収層として電波吸収体を製造する方法を挙げることができる。ここで使用される支持体は、電波吸収体が電波吸収性を付与すべき物品に組み込まれる前に除去されてもよく、除去せずに電波吸収体とともに物品に組み込まれてもよい。

支持体としては、特に限定されず、公知の支持体を用いることができる。支持体としては、例えば、金属板（アルミニウム、亜鉛、銅等の金属の板）、ガラス板、プラスチックシート〔ポリエステル（ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート等）、ポリエチレン（直鎖状低密度ポリエチレン、低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン等）、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリスルホン、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニトリル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルイミド、ポリエーテルスルホン、ポリビニルアセタール、アクリル樹脂等のシート〕、上記で金属板について例示した金属がラミネートされまたは蒸着されたプラスチックシート等が挙げられる。プラスチックシートは、二軸延伸されていることが好ましい。支持体の形状、構造、サイズ等は、適宜選択できる。 支持体の形状としては、例えば、板状が挙げられる。支持体の構造は、単層構造であってもよいし、２層以上の積層構造であってもよい。支持体のサイズは、電波吸収体のサイズ等に応じて適宜選択できる。支持体の厚みは、通常、０．０１ｍｍ～１０ｍｍ程度であり、例えば、取り扱い性の観点から、０．０２ｍｍ～３ｍｍであることが好ましく、０．０５ｍｍ～１ｍｍであることがより好ましい。

支持体上に上記電波吸収性組成物を塗布する方法は、特に限定されず、例えば、ダイコーター、ナイフコーター、アプリケーター等を用いる方法が挙げられる。上記電波吸収性組成物を塗布して形成された塗布膜を乾燥させる方法は、特に限定されず、例えば、オーブン等の公知の加熱装置を用いる方法が挙げられる。乾燥温度および乾燥時間は、特に限定されない。一例としては、乾燥温度は７０℃～９０℃の範囲であることができ、乾燥時間は１時間～３時間の範囲であることができる。

上記電波吸収体は、電波吸収性を付与することが望まれる各種物品に組み込むことができる。例えば、板状の電波吸収体は、そのまま、または任意の部分で湾曲させる等して任意の形態で物品に組み込むことができる。また、射出成形等により所望の形状に調整して物品に組み込むこともできる。

優れた電波吸収性能を有する電波吸収体は、レーダーの認識精度向上のために有用である。電波吸収性能の指標の一例としては、透過減衰量を挙げることができる。レーダーの認識精度向上のためには、レーダーの指向性を高めることが望ましい。透過減衰量が高いことは、レーダーの指向性向上に寄与し得る。レーダーの指向性向上の観点からは、上記電波吸収体の透過減衰量は、８．０ｄＢ以上であることが好ましく、８．５ｄＢ以上であることがより好ましく、９．０ｄＢ以上であることが更に好ましく、１０．０ｄＢ以上であることが一層好ましい。また、上記電波吸収体の透過減衰量は、例えば、１５．０ｄＢ以下、１４．５ｄＢ以下、１４．０ｄＢ以下、１３．５ｄＢ以下、１３．０ｄＢ以下、１２．５ｄＢ以下または１２．０ｄＢ以下であることができる。ただし、レーダーの指向性向上の観点からは、電波吸収体の透過減衰量が高いことは好ましい。したがって、上記電波吸収体の透過減衰量は、上記で例示した値を上回ってもよい。
更に、レーダーの認識精度向上のためには、不要な電波成分を電波吸収体によって除去または低減することにより、対象物からの電波をレーダーが選択的に受信する選択性を高めることが望ましい。反射減衰量が高いことは、不要な電波成分を除去または低減することに寄与し得る。この点から、上記電波吸収体の反射減衰量は、８．０ｄＢ以上であることが好ましく、８．５ｄＢ以上であることがより好ましく、９．０ｄＢ以上であることが更に好ましく、１０．０ｄＢ以上であることが一層好ましい。また、上記電波吸収体の反射減衰量は、例えば、１８．０ｄＢ以下、１７．５ｄＢ以下、１７．０ｄＢ以下、１６．５ｄＢ以下、１６．０ｄＢ以下、１５．５ｄＢ以下または１５．０ｄＢ以下であることができる。ただし不要な電波成分を除去または低減する観点からは、電波吸収体の反射減衰量が高いことは好ましい。したがって、上記電波吸収体の反射減衰量は、上記で例示した値を上回ってもよい。

ところで、近年注目されているレーダーである車載用レーダーは、ミリ波の周波数帯域の電波を利用するレーダーである。ミリ波とは、３０ＧＨｚ～３００ＧＨｚの周波数の電磁波である。上記電波吸収体は、電波の周波数、即ち３テラヘルツ（ＴＨｚ）以下の周波数帯域にある１つ以上の周波数について、上記範囲の透過減衰量および反射減衰量を示すことが好ましい。上記電波吸収体が上記範囲の透過減衰量および反射減衰量を示す周波数は、車載用レーダーの認識精度向上のための有用性の観点からは、ミリ波の周波数帯域、即ち３０ＧＨｚ～３００ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数であることが好ましく、６０ＧＨｚ～９０ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数であることがより好ましく、７５ＧＨｚ～８５ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数であることが更に好ましい。一例として、上記電波吸収体は、周波数７６．５ＧＨｚにおける透過減衰量および周波数７６．５ＧＨｚにおける反射減衰量が上記範囲の電波吸収体であることができる。かかる電波吸収体は、車載用のミリ波レーダーのサイドローブ低減のために、車載用レーダーにおいて、電波送受信ユニットの正面側（外部から入射する電波の入射側）に組み込む電波吸収体として好適である。

また、上記電波吸収体が上記範囲の透過減衰量および反射減衰量を示す周波数は、モーションセンサー等の無線技術分野で用いられる電波吸収物品の認識精度向上のための有用性の観点からは、ミリ波の周波数帯域、即ち３０ＧＨｚ～３００ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数であることが好ましく、５０ＧＨｚ～９０ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数であることがより好ましく、５５ＧＨｚ～６６ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数であることが更に好ましい。一例として、上記電波吸収体は、周波数６０．０ＧＨｚにおける透過減衰量および周波数６０．０ＧＨｚにおける反射減衰量が上記範囲の電波吸収体であることができる。そのような電波吸収体は、携帯電話内部センサー、生体情報センサー等の無線機器において不要電波を除去することによって認識精度を向上させるための電波吸収体として好適である。かかる電波吸収体は、例えば、５５～６６ＧＨｚ帯域電波吸収物品に好適に使用され得る。電波吸収物品とは、１つ以上の周波数の電波に対する電波吸収性を有する物品であって、この物品の少なくとも一部として電波吸収体を組み込むことによって、上記電波吸収性がもたらされ得る。５５～６６ＧＨｚ帯域電波吸収物品とは、５５～６６ＧＨｚの周波数帯域にある１つ以上の周波数の電波に対する電波吸収性を有する物品である。かかる物品としては、例えば、上記の各種無線機器を挙げることができる。そのような電波吸収物品に上記電波吸収体を組み込むことによって、不要電波を除去して認識精度を向上させることができる。

本発明および本明細書における「透過減衰量」とは、自由空間法により、入射角度を０°として、雰囲気温度１５～３５℃の測定環境下においてＳパラメータの測定を行い、ＳパラメータのＳ２１として求められる値である。「反射減衰量」とは、同様の測定により、ＳパラメータのＳ１１として求められる値である。測定は、公知のベクトルネットワークアナライザおよびホーンアンテナを使用して行うことができる。測定方法の具体例としては、後述の実施例に記載の方法を挙げることができる。

以下に、本発明を実施例に基づき説明する。ただし本発明は実施例に示す実施形態に限定されるものではない。以下に記載の工程および評価は、特記しない限り、雰囲気温度２３℃±１℃の大気雰囲気下において行った。

［磁性粉体１～１２の作製および評価］
＜磁性粉体の作製＞
炭酸ストロンチウム〔ＳｒＣＯ_３〕、α－酸化鉄（ＩＩＩ）〔α－Ｆｅ_２Ｏ_３〕、および酸化アルミニウム〔Ａｌ_２Ｏ_３〕を、式１中のｘの値または式２中のｙの値が表１に示す値となる組成の六方晶フェライトが得られる割合で混合し、アイリッヒインテンシブミキサー（アイリッヒ社製型式ＥＬ１）を用いて表１に記載の条件で撹拌して原料混合物を得た。
磁性粉体１～７については、次いで、得られた原料混合物に対し、カッターミル粉砕機として、大阪ケミカル社製ワンダークラッシャーＷＣ－３を使用し、この粉砕機の可変速度ダイアルを「３」に設定して６０秒間粉砕処理を施し、粉砕物を得た。得られた粉砕物をマッフル炉の中に入れ、大気雰囲気下において、炉内の温度を１１００℃に設定し、４時間焼成することにより、磁性粉体１～７を得た。
磁性粉体８～１２については、原料混合物に対して５質量％の塩化ストロンチウム６水和物〔ＳｒＣｌ_２・６Ｈ_２Ｏ〕を更に添加し、炉内温度を１２００℃に変更した以外は同様にして磁性粉体の作製を行い、磁性粉体８～１２を得た。

＜結晶構造の確認＞
上記の各磁性粉体を構成する磁性体の結晶構造を、Ｘ線回折分析により確認した。測定装置としては、粉末Ｘ線回折装置であるＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ社のＸ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏを使用した。測定条件を以下に示す。
－測定条件－
Ｘ線源：ＣｕＫα線
〔波長：１．５４Å（０．１５４ｎｍ）、出力：４０ｍＡ、４５ｋＶ〕
スキャン範囲：２０ｄｅｇｒｅｅ＜２θ＜７０ｄｅｇｒｅｅ
スキャン間隔：０．０５ｄｅｇｒｅｅ
スキャンスピード：０．７５ｄｅｇｒｅｅ／ｍｉｎ

上記Ｘ線回折分析の結果、磁性粉体１～１２は、マグネトプランバイト型の結晶構造を有しており、マグネトプランバイト型以外の結晶構造を含まない単相のマグネトプランバイト型六方晶フェライトの粉体であることが確認された。

＜組成の確認＞
上記の各磁性粉体を構成する磁性体の組成を、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析により確認した。具体的には、以下の方法により確認した。
磁性粉体１２ｍｇと濃度４ｍｏｌ／Ｌの塩酸水溶液１０ｍＬとを入れた容器（ビーカー）を、設定温度１２０℃のホットプレート上に３時間保持し、溶解液を得た。得られた溶解液に純水３０ｍＬを加えた後、フィルタ孔径０．１μｍのメンブレンフィルタを用いてろ過した。このようにして得られたろ液の元素分析を、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置〔島津製作所製ＩＣＰＳ－８１００〕を用いて行った。得られた元素分析の結果に基づき、鉄原子１００原子％に対する各原子の含有率を求めた。そして、得られた含有率に基づき、磁性体の組成を確認した。その結果、磁性粉体１～７の組成が、式１中のＡがＳｒであり、ｘが表１に示す値の組成であることが確認された。

＜飽和磁化σｓの測定＞
測定装置として、玉川製作所社製振動試料型磁力計（型番：ＴＭ－ＴＲＶＳＭ５０５０－ＳＭＳＬ型）を用い、雰囲気温度２３℃の大気雰囲気下、最大印加磁界５０ｋＯｅおよび磁界掃引速度２５Ｏｅ／ｓの条件にて、上記の各磁性粉体について、印加した磁界に対する磁性粉体の磁化の強度を測定した。測定結果から、磁性粉体の磁界（Ｈ）－磁化（Ｍ）曲線を得た。得られた磁界（Ｈ）－磁化（Ｍ）曲線に基づき、飽和磁化σｓ（単位：ｅｍｕ／ｇ）を求めた。

＜（１０７）面の回折ピークの半値幅βの測定＞
測定装置としては、粉末Ｘ線回折装置であるＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ社のＸ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏを使用して、以下の測定条件により、上記の各磁性粉体について、Ｘ線回折スペクトルを得た。各磁性粉体について得られたＸ線回折スペクトルでは、約３２．５ｄｅｇｒｅｅの位置にピークの頂点を有するピークとして、（１０７）面の回折ピークが確認された。各磁性粉体について、上記の粉末Ｘ線回折装置に搭載された解析ソフト（ＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ社のＨｉｇｈＳｃｏｒｅ Ｐｌｕｓ）により、（１０７）面の回折ピークの半値幅βを求めた。
－測定条件－
Ｘ線源：ＣｕＫα線
〔波長：１．５４Å（０．１５４ｎｍ）、出力：４０ｍＡ、４５ｋＶ〕
スキャン範囲：２５ｄｅｇｒｅｅ＜２θ＜３５ｄｅｇｒｅｅ
スキャン間隔：０．０５ｄｅｇｒｅｅ
スキャンスピード：０．３３ｄｅｇｒｅｅ／ｍｉｎ

＜σｓ／β＞
上記の各磁性粉体について、上記方法で求めたσｓとβから、比率（σｓ／β）を算出した。

［実施例１～１１、比較例１、２］
＜電波吸収体の作製＞
表１に示す磁性粉体を、電波吸収性組成物における磁性粉体の体積充填率が表１に示す値となる量でバインダー（オレフィン系熱可塑性エラストマー（ＴＰＯ）〔三井化学社製ミラストマー（登録商標）７０３０ＮＳ〕）とともに混練機（東洋精機製作所社製ラボプラストミル）に導入し、混練機の設定温度を２００℃として２０分間混練し、電波吸収体形成用組成物（塊状の混練物）を得た。
得られた電波吸収体形成用組成物を、加熱プレス機を用いてプレス成形し、一辺の長さ１００ｍｍの正方形の平面を有する板状の成形品として電波吸収体（電波吸収シート）を得た。
実施例および比較例の各電波吸収体について、デジタル測長機〔ミツトヨ社製Ｌｉｔｅｍａｔｉｃ（登録商標）ＶＬ－５０Ａ〕を使用して無作為に選択した９箇所において測定された測定値の算術平均として、厚みを求めた。上記の電波吸収体の厚みは、いずれも２ｍｍであった。

＜透過減衰量および反射減衰量＞
以下の方法により、上記の各電波吸収体の透過減衰量（単位：ｄＢ）および反射減衰量（単位：ｄＢ）を測定した。

（実施例１～６、比較例１、２）
測定装置として、ｋｅｙｓｉｇｈｔ社のベクトルネットワークアナライザ（製品名：Ｎ５２２５Ｂ）およびキーコム社のホーンアンテナ（製品名：ＲＨ１２Ｓ２３）を用い、自由空間法により、入射角度を０°とし、掃引周波数を６０ＧＨｚ～９０ＧＨｚとして、上記の各電波吸収体の一方の平面を入射側に向けて、Ｓパラメータの測定を行い、７６．５ＧＨｚの周波数におけるＳパラメータのＳ２１を透過減衰量とし、７６．５ＧＨｚの周波数におけるＳパラメータのＳ１１を反射減衰量とした。

（実施例７～１１）
掃引周波数を５５ＧＨｚ～９０ＧＨｚとした点以外は上記と同様にしてＳパラメータの測定を行い、６０．０ＧＨｚの周波数におけるＳパラメータのＳ２１を透過減衰量とし、６０．０ＧＨｚの周波数におけるＳパラメータのＳ１１を反射減衰量とした。

以上の結果を、表１に示す。

表１に示す結果から、実施例１～１１の電波吸収体が、透過減衰量および反射減衰量が共に高く、レーダー、モーションセンサー等の各種電波吸収物品の認識精度向上に寄与し得る電波吸収体であることが確認できる。

本発明の一態様は、自動車の自動運転制御等の各種自動運転制御を行う技術分野およびモーションセンサー等の無線技術分野において有用である。

Claims (23)

1. 磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収体であって、
   前記磁性粉体の体積充填率が３０体積％以上３５体積％以下であり、かつ
   前記磁性粉体は、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率、σｓ／β、が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体である電波吸収体。
2. 前記六方晶フェライトは、置換型六方晶フェライトである、請求項１に記載の電波吸収体。
3. 前記置換型六方晶フェライトは、下記式１で表される組成を有する、請求項２に記載の電波吸収体；
   式１：Ａ^１Ｆｅ_{（１２－ｘ）}Ａｌ_ｘＯ_１９
   式１中、Ａ^１は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表し、ｘは、１．５０≦ｘ≦８．００を満たす。
4. 前記置換型六方晶フェライトは、置換型六方晶ストロンチウムフェライトである、請求項２または３に記載の電波吸収体。
5. 前記比率、σｓ／β、は、２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下である、請求項１～４のいずれか１項に記載の電波吸収体。
6. 前記比率、σｓ／β、は、２４５ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下である、請求項１～５のいずれか１項に記載の電波吸収体。
7. 前記六方晶フェライトは、下記式２で表される組成を有する置換型六方晶フェライトである、請求項１に記載の電波吸収体；
   式２：Ａ^２Ｆｅ_{（１２－ｙ）}Ａｌ_ｙＯ_１９
   式２中、Ａ^２は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表し、ｙは、０．５≦ｙ＜１．５を満たす。
8. 式２中、ｙは、０．８≦ｙ≦１．２を満たす、請求項７に記載の電波吸収体。
9. 前記置換型六方晶フェライトは、置換型六方晶ストロンチウムフェライトである、請求項７または８に記載の電波吸収体。
10. 前記比率、σｓ／β、は、３００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上４００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下である、請求項７～９のいずれか１項に記載の電波吸収体。
11. ５０～９０ＧＨｚ帯域電波吸収物品に用いられる、請求項７～１０のいずれか１項に記載の電波吸収体。
12. 前記βは、０．１９０ｄｅｇｒｅｅ以下である、請求項１～１１のいずれか１項に記載の電波吸収体。
13. 磁性粉体およびバインダーを含む電波吸収性組成物であって、
    前記磁性粉体の体積充填率が３０体積％以上３５体積％以下であり、かつ
    前記磁性粉体は、飽和磁化σｓとＸ線回折分析により求められる（１０７）面の回折ピークの半値幅βとの比率、σｓ／β、が２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上の六方晶フェライトの粉体である電波吸収性組成物。
14. 前記六方晶フェライトは、置換型六方晶フェライトである、請求項１３に記載の電波吸収性組成物。
15. 前記置換型六方晶フェライトは、下記式１で表される組成を有する、請求項１４に記載の電波吸収性組成物；
    式１：Ａ^１Ｆｅ_{（１２－ｘ）}Ａｌ_ｘＯ_１９
    式１中、Ａ^１は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表し、ｘは、１．５０≦ｘ≦８．００を満たす。
16. 前記置換型六方晶フェライトは、置換型六方晶ストロンチウムフェライトである、請求項１４または１５に記載の電波吸収性組成物。
17. 前記比率、σｓ／β、は、２４０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下である、請求項１３～１６のいずれか１項に記載の電波吸収性組成物。
18. 前記比率、σｓ／β、は、２４５ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上３１０ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下である、請求項１３～１７のいずれか１項に記載の電波吸収性組成物。
19. 前記六方晶フェライトは、下記式２で表される組成を有する置換型六方晶フェライトである、請求項１３に記載の電波吸収性組成物；
    式２：Ａ^２Ｆｅ_{（１２－ｙ）}Ａｌ_ｙＯ_１９
    式２中、Ａ^２は、Ｓｒ、Ｂａ、ＣａおよびＰｂからなる群から選ばれる１種以上の原子を表し、ｙは、０．５≦ｙ＜１．５を満たす。
20. 式２中、ｙは、０．８≦ｙ≦１．２を満たす、請求項１９に記載の電波吸収性組成物。
21. 前記置換型六方晶フェライトは、置換型六方晶ストロンチウムフェライトである、請求項１９または２０に記載の電波吸収性組成物。
22. 前記比率、σｓ／β、は、３００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以上４００ｅｍｕ・ｇ^－１・ｄｅｇｒｅｅ^－１以下である、請求項１９～２１のいずれか１項に記載の電波吸収性組成物。
23. 前記βは、０．１９０ｄｅｇｒｅｅ以下である、請求項１３～２２のいずれか１項に記載の電波吸収性組成物。