JP7466197B2 - 異常解析装置、製造システム、異常解析方法及びプログラム - Google Patents
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Description
上述したように、工場などの製造現場において、複数の製造装置が互いに通信を行うことで、互いに協働して製造物を製造している。このため、当該通信に対して外部から悪意のある攻撃などを受けた場合には、各製造装置への負荷の増加、又は、製造装置の故障などが起こり得るので、製造物の生産性が低下する恐れがある。したがって、製造システムの内部ネットワークを介した通信のセキュリティを高めることが求められる。例えば、内部ネットワークに対する不正アクセスの防止などの対策を行うことが求められる。
まず、実施の形態に係る製造システムの概要について、図1を用いて説明する。図1は、本実施の形態に係る製造システム10の構成を示すブロック図である。
以上、1つ又は複数の態様に係る異常解析装置、異常解析方法及び製造システムなどについて、実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、これらの実施の形態に限定されるものではない。本開示の主旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したもの、及び、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本開示の範囲内に含まれる。
20 制御装置
30、32、34 製造装置
100 異常解析装置
110 全体情報取得部
120 個別情報取得部
130 記憶部
140 全体異常度算出部
150 判定部
160 個別異常度算出部
170 決定部
180 出力部
Claims (10)
- 複数の構成要素が動作することで製造物を製造する製造システムの異常を解析する異常解析装置であって、
前記製造システムの全体の特徴量を示す全体情報を取得する全体情報取得部と、
前記全体情報を統計処理することによって、前記製造システムの全体の異常度である全体異常度を算出する全体異常度算出部と、
前記複数の構成要素の各々の特徴量を示す個別情報を取得する個別情報取得部と、
前記個別情報を統計処理することによって、前記複数の構成要素の各々の異常度である個別異常度を算出する個別異常度算出部と、
前記個別異常度算出部によって算出された複数の個別異常度のうち、最大の個別異常度に対応する構成要素を異常構成要素として決定する決定部と、
前記全体異常度が閾値を超えるか否かを判定する判定部とを備え、
前記個別異常度算出部は、前記判定部によって前記全体異常度が前記閾値を超えたと判定された場合に、前記個別異常度を算出する
異常解析装置。 - 前記全体異常度算出部は、さらに、前記全体異常度が前記閾値を超えたと判定された場合に、前記全体情報から、前記異常構成要素の特徴量を除いた部分情報を統計処理することによって、前記製造システムから前記異常構成要素を除いた部分システムの異常度である部分異常度を算出し、
前記判定部は、さらに、前記部分異常度が前記閾値を超えるか否かを判定し、
前記決定部は、さらに、前記部分異常度が前記閾値を超えたと判定された場合に、前記複数の個別異常度から前記異常構成要素に対応する個別異常度を除いた残りの個別異常度のうち、最大の個別異常度に対応する構成要素を前記異常構成要素として決定する
請求項1に記載の異常解析装置。 - 前記全体異常度算出部、及び、前記決定部は、前記判定部によって前記部分異常度が前記閾値を超えると判定されなくなるまで、前記部分異常度の算出及び前記異常構成要素の決定を繰り返す
請求項2に記載の異常解析装置。 - さらに、
前記異常構成要素を特定するための情報を出力する出力部を備える
請求項2又は3に記載の異常解析装置。 - 前記全体異常度算出部は、所定期間毎に前記全体異常度を算出し、
前記判定部は、前記所定期間毎の前記全体異常度が前記閾値を超えるか否かを判定し、
前記個別異常度算出部は、前記判定部によって前記全体異常度が前記閾値を超えたと判定された期間のみの前記個別異常度を算出し、前記判定部によって前記全体異常度が前記閾値を超えたと判定されなかった期間の前記個別異常度を算出しない
請求項1~4のいずれか1項に記載の異常解析装置。 - 前記製造システムは、
前記製造物を製造する1以上の製造装置と、
前記1以上の製造装置と通信し、前記1以上の製造装置を制御する制御装置とを備え、
前記複数の構成要素のうちの1つは、前記1以上の製造装置のうちの1つと前記制御装置との通信である
請求項1~5のいずれか1項に記載の異常解析装置。 - 前記製造システムは、前記製造物を製造する1以上の製造装置を備え、
前記複数の構成要素の少なくとも1つは、前記1以上の製造装置である
請求項1~5のいずれか1項に記載の異常解析装置。 - 複数の構成要素が動作することで製造物を製造する製造システムであって、
請求項1~7のいずれか1項に記載の異常解析装置を備える
製造システム。 - 複数の構成要素が動作することで製造物を製造する製造システムの異常を解析する、コンピュータによって実行される異常解析方法であって、
前記製造システムの全体の特徴量を示す全体情報を取得し、
前記全体情報を統計処理することによって、前記製造システムの全体の異常度である全体異常度を算出し、
前記複数の構成要素の各々の特徴量を示す個別情報を取得し、
前記個別情報を統計処理することによって、前記複数の構成要素の各々の異常度である個別異常度を算出し、
算出された複数の個別異常度のうち、最大の個別異常度に対応する構成要素を異常構成要素として決定し、
前記全体異常度が閾値を超えるか否かを判定し、
前記個別異常度の算出では、前記全体異常度が前記閾値を超えたと判定された場合に、前記個別異常度を算出する
異常解析方法。 - 請求項9に記載の異常解析方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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