JP7452797B2 - 計測システム - Google Patents
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Description
上記の工事に関連する技術として、以下の特許文献1と特許文献2とを例示する。特許文献1には、法面をレーザスキャナにより計測することにより地盤形状を計測する手法が開示されている。特許文献2には、法面に打設されたロックボルトの一端に弾性波を印加し、弾性波の伝搬速度に基づいてロックボルトの長さを計る手法が開示されている。
一方、ロックボルト工における出来形計測も、法枠工と同様に、多大な時間や危険性を伴う作業である。
特許文献2の場合、作業者が斜面に形成された法枠に登坂しなければならず、作業者の安全性を確保するという観点において十分な技術ではない。
まず、図1、2を用いて、計測システム100の概要について説明する。
図1は、計測対象である法枠NBの斜視図である。
図2は、計測システム100のブロック図である。
法枠NBは、法枠工法を行う際に法面NMに形成される構造物であり、モルタルやコンクリートによって形成される。
図1に示したように、法枠NBは格子状に形成されている。図1には同じ大きさの格子状に形成された法枠NBを示しているが、法面NMの傾斜などに応じて、枠の大きさおよび形状が異なるものが含まれる場合もある。
ここで、法面NMに設けられた法枠NB(計測対象)を計測するレーザスキャナRSについて説明する。図1に示すようにレーザスキャナRSを地面に設置し、法面NMを見上げるような状態で法面NMに設けられた法枠NBを計測する。レーザスキャナRSの配置は、法枠NBを計測するために適した位置を適宜選択すればよい。また、法枠NBの全てを計測するようにしてもよいし、法枠NBのうち一部を計測するようにしてもよい。法面NMの形状や法枠NBの大きさなどを考慮して、適宜選択すればよい。
計測システム100は、後述する各種の処理を実行可能な情報処理端末である。なお、図示してはいないが、計測システム100は、キーボード、ポインティングデバイスなどの入力装置、演算処理装置、記憶部等を備えている。
データ取得手段110は、法枠NBをレーザスキャナRSで測定して得られる三次元点群データを取得する。
第一解析手段120は、法枠NBに対して予め指定した計測範囲内の三次元点群データに含まれる点群データを第一方向に複数に区切った第一方向点群データを取得し、第一方向点群データに基づいて区切った位置ごとに計測対象の角部を検出する。詳細は後述するが、本明細書においては、「第一方向」とは、地表面に対し、水平方向とする。
第二解析手段130は、法枠NBに対して予め指定した計測範囲内の三次元点群データに含まれる点群データを第一方向と交差する第二方向に複数に区切った第二方向点群データを取得し、第二方向点群データに基づいて区切った位置ごとに計測対象の角部を検出する。詳細は後述するが、本明細書においては、「第二方向」とは、地表面に対し、鉛直方向とする。
なお、「第一方向」を地表面に対し鉛直方向とし、「第二方向」を地表面に対し水平方向としてもよく、第一方向と第二方向とが交差する関係であれば足りる。
第一特定手段140は、第一解析手段120によって検出された計測対象の角部をつないで第二方向に沿った縁部を推定する。
第二特定手段150は、第二解析手段130によって検出された計測対象の角部をつないで第一方向に沿った縁部を推定する。
ポリゴン抽出手段160は、第一特定手段140によって推定された第二方向に沿った縁部による辺と、第二特定手段150によって推定された第一方向に沿った縁部による辺とで形成される閉じたポリゴンCPを抽出する。詳細は後述するが、本明細書においては、第一方向に沿った縁部による辺と第二方向に沿った縁部による辺とで形成される閉じたポリゴンCPは方形の枠体(四角形)である。
計測手段170は、第一特定手段140によって推定された第一方向に沿った縁部による辺と、第二特定手段150によって推定された第二方向に沿った縁部による辺に基づき、計測対象に係る所望の寸法(後述する寸法M1~M5)を計測する。
探索手段180は、ポリゴン抽出手段160によって抽出された閉じたポリゴンCPに対して法線下方向(法面NM方向)に探索し、閉じたポリゴンCPと法面NMまでの寸法を計測する。
表示制御手段190は、計測手段170および探索手段180によって計測された寸法などを表示手段200に表示させる。
表示手段200は、表示制御手段190によって制御されるディスプレイ装置である。なお、図2では、計測システム100が表示手段200を備えるように構成しているが、表示手段200は表示制御手段190からの制御信号などに基づき表示制御されればよく、計測システム100とは別に設けてもよい。
続いて、図3、図4のフローチャートに沿って、図5~図11を用いて計測作業の流れについて説明する。
図3は、法枠の測定手順を示すフローチャートである。
図4は、三次元点群データを解析する処理を示すフローチャートである。
図5は、図1をレーザスキャナで測定した三次元点群データを水平方向にスライスしたことを示す模式図である。
図6は、図1をレーザスキャナで測定した三次元点群データのうち所定の点群データをつないだ模式図である。
図7は、図1をレーザスキャナで測定した三次元点群データ鉛直方向にスライスしたことを示す模式図である。
図8は、図1をレーザスキャナで測定した三次元点群データのうち所定の点群データをつないだ模式図である。
図9は、図1の法枠に対し、閉じたポリゴンを示した模式図である。
図10は、図1の法枠の計測対象の1つである深さ方向を示す模式図である。
図11は、法枠の計測対象を示す図である。
レーザスキャナRSによって生成された三次元点群データは、レーザスキャナRSから直接的に又は他の装置を介して間接的に、計測システム100(データ取得手段110)によって取得される。
これは、取得した三次元点群データから法枠NBの形状が格子状である範囲やレーザスキャナRSからのレーザビームが十分に照射されている範囲など予め決められた測定条件に伴い自動的に指定されるものでもよいし、キーボード、ポインティングシステム(図示しない)などの入力手段によって、作業者が測定対象とする範囲を指定するものでもよい。
ステップS121では、計測範囲内の三次元点群データを地表面に対し水平方向に一定間隔で区切る。図5のラインS1は、水平方向に一定間隔で区切ることを示したラインである。図5には、S1の符号は所定の一ラインにのみ付してある。
ここで、図5に示した地表面に対し水平方向(ラインS1)が本願発明の「第一方向」に相当する。また、図5に示したように、ラインS1を複数設けることが本願発明の「第一方向に複数に区切った」に相当する。
次に、ラインS1ごとに当該ラインに該当する三次元点群データについて、ラインS1に対し90度変化する点を検出するように解析する。図5のラインS1が太実線で示された部分に○で示されている部分がラインS1に対し90度変化する点である。図5より明らかなように、○で示された部分は法枠NBの角に値する。なお、図5には、便宜上、ラインS1に対し90度変化する点を一部の法枠に対してのみ記載したが、実際にはラインS1に対し90度変化する点は法枠NBの角全てに存在する。
なお、三次元点群データを地表面に対し水平方向に一定間隔で区切り、当該区切ったラインS1に対し90度変化する点を検出することが本願発明の「第一解析手段120」が行う処理に相当する。
ここで、図6から明らかなように、法枠NBの鉛直方向の縁部の全ては推定できない。これは、レーザスキャナRSから照射したレーザビームはレーザスキャナRSに対向しない側の面には当たらないので、その面から得られる三次元点群テータがほぼないからである。このような領域については縁部の推定を行わなくてもよい。
なお、第一解析手段120によって検出された法枠NBの角を鉛直方向につなぎ、法枠NBの鉛直方向の縁部を推定することが本願発明の「第一特定手段140」が行う処理に相当する。
ここで、図7に示した地表面に対し鉛直方向(ラインS2)が本願発明の「第二方向」に相当する。また、図7に示したように、ラインS2を複数設けることが本願発明の「第二方向に複数に区切った」に相当する。
次に、ラインS2ごとに当該ラインに該当する三次元点群データについて、ラインS2に対し90度変化する点を検出するように解析する。図7のラインS2が太実線で示された部分に○で示されている部分がラインS2に対し90度変化する点である。図7より明らかなように、○で示された部分は法枠NBの角に値する。なお、図7には、便宜上、ラインS2に対し90度変化する点を一部の法枠に対してのみ記載したが、実際にはラインS2に対し90度変化する点は法枠NBの角全てに存在する。
なお、三次元点群データを地表面に対し鉛直方向に一定間隔で区切り、当該区切ったラインS2に対し90度変化する点を検出することが本願発明の「第二解析手段130」が行う処理に相当する。
ここで、図8から明らかなように、法枠NBの水平方向の縁部の全ては推定できない。これは、レーザスキャナRSから照射したレーザビームはレーザスキャナRSに対向しない側の面には当たらないので、その面から得られる三次元点群テータがほぼないからである。このような領域については縁部の推定を行わなくてもよい。
なお、第二解析手段130によって検出された法枠NBの角を水平方向につなぎ、法枠NBの水平方向の縁部を推定することが本願発明の「第二特定手段150」が行う処理に相当する。
また、検出された閉じたポリゴンCPを法面NMまで法線方向に平行に仮想移動させ、法面NMに位置する仮想面を仮想面VPとして図10に示す。図10には、1つの仮想面にのみ符号VPを付してある。
なお、閉じたポリゴンCPを検出することが本願発明の「ポリゴン抽出手段160」が行う処理に相当する。
ここで、三次元点群データに含まれる各点の位置情報は、レーザスキャナRS(正確には、レーザービームの光源)を原点として角度θと距離rによって表現されるものであるが、閉じたポリゴンCPの水平方向に沿った縁部による辺および鉛直方向に沿った縁部による辺をXY座標で表現可能な形式で測定する。このようにすることで、法枠NBの出来形管理における所望の寸法を算出する際にデータとして扱いやすくなるからである。
なお、閉じたポリゴンCPの水平方向に沿った縁部による辺および鉛直方向に沿った縁部による辺を測定することが本願発明の「計測手段170」が行う処理の一つに相当する。
計測すべき寸法は、図9に示した寸法M1~M4、および、図10に示した寸法M5である。
寸法M1~M5について説明する。
図11に示したように基準となる閉じたポリゴンのCP1を形成する辺のうち、図11において(以下、図11の説明では、図において、上側、下側、右側、左側で説明する)上側の辺を第一辺HL1、下側の辺を第三辺HL3とし、閉じたポリゴンCP1の上側の閉じたポリゴンCP2を形成する下側の辺を第二辺HL2とし、閉じポリゴンCP1の下側の閉じたポリゴンCP3を形成する上側の辺を第四辺HL4とし、第一辺HL1と第二辺HL2との間の中心位置を第一中心位置C1、第三辺HL3と第四辺HL4との間の中心位置を第二中心位置C2とする。
また、基準となる閉じたポリゴンのCP1を形成する右側の辺を第五辺VL5、左側の辺を第七辺VL7とし、閉じたポリゴンCP1の右側の閉じたポリゴンCP4を形成する左側の辺を第六辺HL6とし、閉じポリゴンCP1の左側の閉じたポリゴンCP5を形成する右側の辺を第八辺VL8とし、第五辺VL5と第六辺VL6との間の中心位置を第三中心位置C3、第七辺VL7と第八辺VL8との間の中心位置を第四中心位置C4とする。
寸法M1は、第一中心位置C1と第二中心位置C2との間(通芯間距離)である。
寸法M2は、第三中心位置C3と第四中心位置C4との間(通芯間距離)である。
寸法M3は、第一辺HL1と第二辺HL2との間(枠幅)である。
寸法M4は、第五辺VL5と第六辺VL6との間(枠幅)である。
寸法M5は、法枠NBの縁部と法面NMとの間(枠深さ)である。
この探索距離がM5、すなわち、法枠NBの縁部と法面NMとの間(枠深さ)である。このように測定することで、法枠NBの正確な枠深さを測定することができる。
ここで、閉じたポリゴンCPから法面NBまで法線方向に探索する際には、閉じたポリゴンCPの縁部から法面NMまで法線方向に探索することが望ましい。このように測定することで、法枠NBの正確な枠深さを測定することができる。
また、閉じたポリゴンCPから法面NMまで法線方向に探索し、探索距離を測定することが本願発明の「計測手段170」および「探索手段180」が行う処理に相当する。
なお、寸法M1~M4を測定することが本願発明の「計測手段170」が行う処理に相当する。
次に、表示制御手段190によって表示手段200に表示される内容について説明する。
表示制御手段190は、ステップS140で測定された各閉じたポリゴンCPの水平方向に沿った縁部による辺および鉛直方向に沿った縁部による辺に基づき、法枠NBおよび法面NMを表示手段200に表示する。そして、作業者がキーボードやポインティングデバイスなどの入力手段を用いて所定の縁部から縁部を指定すると、指定した範囲の寸法を計測手段170の計測結果に基づき表示手段200に表示する。この際、計測手段170の計測結果は図示しない記憶手段に記憶されているデータから取得して表示手段200に表示させてもよいし、入力手段によって指定されたことにより、計測手段170で計測したデータを表示手段200に表示させてもよい。
このようにすることで、作業者が必要とする計測結果を容易に確認することができる。
本発明の実施は、上述の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形、改良等が可能である。
例えば、図2に図示した計測システム100の構成は、本発明の目的を達成する範囲において変更可能であり、不図示の新たな構成を追加してもよく、図示した構成の一部を省いてもよい。
本実施形態は、次のような技術思想を包含する。
(1)レーザスキャナを用いて法面に設けられた計測対象を計測する計測システムであって、前記レーザスキャナによる前記法面の測定結果である三次元点群データを取得するデータ取得手段と、前記三次元点群データを第一方向に複数に区切った第一方向点群データを取得し、前記第一方向点群データに基づいて区切った位置ごとに前記計測対象の角部を検出する第一解析手段と、前記第一解析手段によって検出された前記計測対象の角部をつないで前記第一方向に交差する第二方向に沿った縁部を推定する第一特定手段と、前記第二方向に複数に区切った第二方向点群データを取得し、前記第二方向点群データに基づいて区切った位置ごとに前記計測対象の角部を検出する第二解析手段と、前記第二解析手段によって検出された前記計測対象の角部をつないで前記計測対象の前記第一方向に沿った縁部を推定する第二特定手段と、前記第一特定手段および前記第二特定手段によって推定された前記計測対象の縁部に基づき、前記計測対象に係る所望の寸法を計測する計測手段と、を備えることを特徴とする計測システム。
(2)前記計測対象は、前記第一特定手段によって推定された前記第二方向に沿った縁部による辺と、前記第二特定手段によって推定された前記第一方向に沿った縁部による辺と、を有する方形の枠体であり、前記第一方向または前記第二方向の何れかは鉛直方向であることを特徴とする(1)に記載の計測システム。
(3)前記第一特定手段によって推定された前記第二方向に沿った縁部による辺と、前記第二特定手段によって推定された前記第一方向に沿った縁部による辺とで形成される閉じたポリゴンを抽出するポリゴン抽出手段をさらに備え、前記計測手段は、前記閉じたポリゴンを形成する前記第一方向に沿った縁部による辺と前記第二方向に沿った縁部による辺の長さ寸法のそれぞれを計測することを特徴とする(1)または(2)に記載の計測システム。
(4)前記ポリゴン抽出手段によって抽出された前記閉じたポリゴンに対する法線下方向に探索して前記法面の位置を特定する探索手段をさらに備え、前記計測手段は、前記探索手段が前記法面の位置を特定するまでの探索距離を、前記計測対象の深さ寸法として計測することを特徴とする(3)に記載の計測システム。
(5)前記計測対象には、格子状に形成された法枠が含まれ、前記ポリゴン抽出手段は、基準となる法枠の内側に相当する基準の前記閉じたポリゴンと、前記第一方向または前記第二方向のうち少なくとも一方に沿って隣接する両隣の法枠それぞれの内側に相当する他の前記閉じたポリゴンと、を抽出し、前記計測手段は、当該基準の閉じたポリゴンを形成する第一辺と、当該基準の閉じたポリゴンの中心から視て前記第一辺の方向に隣接している前記他の閉じたポリゴンを形成する辺のうち前記第一辺と略平行でありかつ前記第一辺に最も近い第二辺と、の差を法枠の枠幅の寸法として計測することを特徴とする(3)または(4)に記載の計測システム。
(6)前記計測対象には、格子状に形成された法枠が含まれ、前記ポリゴン抽出手段は、基準となる法枠の内側に相当する基準の前記閉じたポリゴンと、前記第一方向または前記第二方向のうち少なくとも一方に沿って隣接する両隣の法枠それぞれの内側に相当する他の前記閉じたポリゴンと、を抽出し、前記計測手段は、当該基準の閉じたポリゴンを形成する第一辺と、当該基準の閉じたポリゴンの中心から視て前記第一辺の方向に隣接している前記他の閉じたポリゴンを形成する辺のうち前記第一辺と略平行でありかつ前記第一辺に最も近い第二辺と、の間の中心である第一中心位置を特定し、当該基準の閉じたポリゴンを形成し前記第一辺に対向している第三辺と、当該基準の閉じたポリゴンの中心から視て前記第三辺の方向に隣接している前記他の閉じたポリゴンを形成する辺のうち前記第三辺と略平行でありかつ前記第三辺に最も近い第四辺と、の間の中心である第二中心位置を特定し、前記第一中心位置と前記第二中心位置との差を通芯間の寸法として計測することを特徴とする(3)から(5)のいずれか一つに記載の計測システム。
(7)表示手段と、前記表示手段を表示制御する表示制御手段と、を備え、前記表示制御手段は、前記第一特定手段および前記第二特定手段によって推定された前記計測対象の縁部および前記法面を示す画像を前記表示手段に表示制御し、前記表示手段に表示された前記第一特定手段および前記第二特定手段によって推定された前記計測対象の縁部および前記法面を示す画像に対し、作業者が入力操作を行える入力手段をさらに備え、前記入力手段によって、所定の縁部から縁部を指定することにより、指定した範囲の寸法を前記計測手段の計測結果に基づき表示することを特徴とする(1)から(6)のいずれか一つに記載の計測システム。
110 データ取得手段
120 第一解析手段
130 第二解析手段
140 第一特定手段
150 第二特定手段
160 ポリゴン抽出手段
170 計測手段
180 探索手段
190 表示制御手段
200 表示手段
CP 閉じたポリゴン
NB 法枠
NM 法面
RS レーザスキャナ
S1 ライン
S2 ライン
Claims (7)
- レーザスキャナを用いて法面に設けられた計測対象を計測する計測システムであって、
前記レーザスキャナによる前記法面の測定結果である三次元点群データを取得するデータ取得手段と、
前記三次元点群データを第一方向に複数に区切った第一方向点群データを取得し、前記第一方向点群データに基づいて区切った位置ごとに前記計測対象の角部を検出する第一解析手段と、
前記第一解析手段によって検出された前記計測対象の角部をつないで前記第一方向に交差する第二方向に沿った縁部を推定する第一特定手段と、
前記第二方向に複数に区切った第二方向点群データを取得し、前記第二方向点群データに基づいて区切った位置ごとに前記計測対象の角部を検出する第二解析手段と、
前記第二解析手段によって検出された前記計測対象の角部をつないで前記計測対象の前記第一方向に沿った縁部を推定する第二特定手段と、
前記第一特定手段および前記第二特定手段によって推定された前記計測対象の縁部に基づき、前記計測対象に係る所望の寸法を計測する計測手段と、
を備えることを特徴とする計測システム。 - 前記計測対象は、前記第一特定手段によって推定された前記第二方向に沿った縁部による辺と、前記第二特定手段によって推定された前記第一方向に沿った縁部による辺と、を有する方形の枠体であり、
前記第一方向または前記第二方向の何れかは鉛直方向であることを特徴とする請求項1に記載の計測システム。 - 前記第一特定手段によって推定された前記第二方向に沿った縁部による辺と、前記第二特定手段によって推定された前記第一方向に沿った縁部による辺とで形成される閉じたポリゴンを抽出するポリゴン抽出手段をさらに備え、
前記計測手段は、前記閉じたポリゴンを形成する前記第一方向に沿った縁部による辺と前記第二方向に沿った縁部による辺の長さ寸法のそれぞれを計測することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の計測システム。 - 前記ポリゴン抽出手段によって抽出された前記閉じたポリゴンに対する法線下方向に探索して前記法面の位置を特定する探索手段をさらに備え、
前記計測手段は、前記探索手段が前記法面の位置を特定するまでの探索距離を、前記計測対象の深さ寸法として計測することを特徴とする請求項3に記載の計測システム。 - 前記計測対象には、格子状に形成された法枠が含まれ、
前記ポリゴン抽出手段は、基準となる法枠の内側に相当する基準の前記閉じたポリゴンと、前記第一方向または前記第二方向のうち少なくとも一方に沿って隣接する両隣の法枠それぞれの内側に相当する他の前記閉じたポリゴンと、を抽出し、
前記計測手段は、
当該基準の閉じたポリゴンを形成する第一辺と、当該基準の閉じたポリゴンの中心から視て前記第一辺の方向に隣接している前記他の閉じたポリゴンを形成する辺のうち前記第一辺と略平行でありかつ前記第一辺に最も近い第二辺と、の差を法枠の枠幅の寸法として計測することを特徴とする請求項3または請求項4に記載の計測システム。 - 前記計測対象には、格子状に形成された法枠が含まれ、
前記ポリゴン抽出手段は、基準となる法枠の内側に相当する基準の前記閉じたポリゴンと、前記第一方向または前記第二方向のうち少なくとも一方に沿って隣接する両隣の法枠それぞれの内側に相当する他の前記閉じたポリゴンと、を抽出し、
前記計測手段は、
当該基準の閉じたポリゴンを形成する第一辺と、当該基準の閉じたポリゴンの中心から視て前記第一辺の方向に隣接している前記他の閉じたポリゴンを形成する辺のうち前記第一辺と略平行でありかつ前記第一辺に最も近い第二辺と、の間の中心である第一中心位置を特定し、
当該基準の閉じたポリゴンを形成し前記第一辺に対向している第三辺と、当該基準の閉じたポリゴンの中心から視て前記第三辺の方向に隣接している前記他の閉じたポリゴンを形成する辺のうち前記第三辺と略平行でありかつ前記第三辺に最も近い第四辺と、の間の中心である第二中心位置を特定し、
前記第一中心位置と前記第二中心位置との差を通芯間の寸法として計測することを特徴とする請求項3から請求項5のいずれか一項に記載の計測システム。 - 表示手段と、
前記表示手段を表示制御する表示制御手段と、を備え、
前記表示制御手段は、前記第一特定手段および前記第二特定手段によって推定された前記計測対象の縁部および前記法面を示す画像を前記表示手段に表示制御し、
前記表示手段に表示された前記第一特定手段および前記第二特定手段によって推定された前記計測対象の縁部および前記法面を示す画像に対し、作業者が入力操作を行える入力手段をさらに備え、
前記入力手段によって、所定の縁部から縁部を指定することにより、指定した範囲の寸法を前記計測手段の計測結果に基づき表示することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の計測システム。
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