JP2019100915A - 測量装置、測量装置の校正方法および測量装置の校正用プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
(概要)
図1には、発明を利用したレーザースキャナ付きTS(トータルステーション)100の斜視図が示されている。図2には、TS100の正面図が示されている。TS100の機能は、後述するレーザースキャナ109を備えている点、およびTSの機能(レーザー測位部200の機能)とレーザースキャナ109の校正に係る処理を行う機能以外は、通常のTSと同じである。TSの詳細な構造については、例えば特開2009−229192号公報、特開2012―202821号公報に記載されている。
図3には、TS(トータルステーション)100のブロック図が示されている。TS100のトータルステーションとしての基本的な機能は、従来のものと同じである。TS100が従来のトータルステーションと異なるのは、別構成のレーザースキャナ109と複合化されている点、さらにこの複合化されたレーザースキャナ109とTS100が有する測位機能(レーザー測位部200の機能)との間における校正を行う機能を備える点にある。
b = ΔP(Px, Py, Pz)、
A = J、
x = [δPos_x, δPos_y, δPos_z, δroll, δpitch, δyaw]^Tとすると、数2で示される観測方程式が得られる。
図6は、校正処理部110で行なわれる処理の手順の一例を示すフローチャートである。図6の処理を実行するプログラムは、記憶部122や適当な記憶媒体に記憶される。この処理の手順は、動作制御部121により制御されて実行される。
レーザー測位部200の機能を用いて特定した面(第1の面)とレーザースキャナ109が得たスキャン点との離れ量を算出する方法として、レーザースキャンデータに含まれるスキャン点にフィッティングする面を第2の面として求め、第1の面と第2の面の離れ量を算出してもよい。
図6の処理において、ステップS105の処理の代わりに、ステップS104で得た「離れ量」に基づく校正の状態の良否の判定を行ってもよい。この場合、レーザー測位部200とレーザースキャナ109の校正の状態の良否の判定が、校正状態の良否判定部117で行われる。判定の結果は、ディスプレイ18,19に表示される。また、判定の結果をTS100の外部に送信する形態も可能である。
図4に例示する校正用対象面として、曲面を用いることもできる。この場合、予め曲率等の曲面の数学的な状態が既知の曲面を校正用対象面として用意する。この際、該校正用対象面の数学的な構造(例えば、曲面の方程式や詳細な数値情報)は予め既知な情報として取得しておく。
数1〜数4を用いてレーザー測位部200の外部標定要素を修正(最適化)することもできる。この場合、レーザー測位部200の未知パラメータ(δPos_x, δPos_y, δPos_z, δroll, δpitch, δyaw)を求めたら、それを用いて測位点303の再計算および面の方程式の再計算を行う。そして、再度数1〜数4の計算を行う。このサイクルを繰り返して収束条件(未知パラメータが収束する、ΔPが十分小さくなる等)を満たしたところで計算を終了し、レーザー測位部200に係る未知パラメータ(δPos_x, δPos_y, δPos_z, δroll, δpitch, δyaw)の最適値を得る。
本発明は、TSとレーザースキャナを複合化した測量装置において、両者の光学原点を一致させた構成に適用することもできる。仮に、TSとレーザースキャナの光学原点を設計上で一致させ、また部品精度や組み立て精度に留意して製品として仕上げても、レーザースキャナにおける方位検出のタイミングと測位データの取得タイミングのズレや誤差の問題は依然として残る。このため、この装置においてもTSの測位機能とレーザースキャナとの間におけるデータの互換性を担保するための校正処理が必要となる。この際に本発明を利用することができる。
Claims (10)
- 測位対象の視準に利用される光学系と、
前記光学系を介してレーザー光を前記測位対象に照射し、前記測位対象の測位を行うレーザー測位部と、
前記レーザー測位部の測位結果に基づき特定の面の位置を特定する面特定部と、
前記特定の面のレーザースキャンを行うレーザースキャナと、
前記面特定部が位置を特定した前記特定の面と前記レーザースキャナが得た複数のスキャン点それぞれとの離れ量を算出する離れ量算出部と、
前記離れ量に基づき前記レーザー測位部および前記レーザースキャナの少なくとも一方の外部標定要素を算出する外部標定要素算出部と
を備える測量装置。 - 測位対象の視準に利用される光学系と、
前記光学系を介してレーザー光を前記測位対象に照射し、前記測位対象の測位を行うレーザー測位部と、
前記レーザー測位部の測位結果に基づき特定の面の位置を特定する面特定部と、
前記特定の面のレーザースキャンを行うレーザースキャナと、
前記面特定部が位置を特定した前記特定の面と前記レーザースキャナが得た複数のスキャン点それぞれとの離れ量を算出する離れ量算出部と、
前記離れ量に基づき、前記レーザー測位部と前記レーザースキャナの外部標定要素に係る校正の状態の良否を判定する良否判定部を備える測量装置。 - 前記特定の面として、法線ベクトルの異なる複数の面が選択される請求項1または2に記載の測量装置。
- 前記レーザー測位部による前記特定の面の3点以上の点の測位により、前記特定の面の位置が特定される請求項1〜3のいずれか一項に記載の測量装置。
- 前記3点以上の点の分布範囲と前記レーザースキャナのレーザースキャン範囲とは重複する請求項4に記載の測量装置。
- 前記3点以上の点の分布範囲内に前記レーザースキャナのレーザースキャン範囲が設定される請求項4または5に記載の測量装置。
- 前記複数のスキャン点がフィッティングするフィッティング面を求め、前記フィッティング面からの離れ量が規定の値以上であるスキャン点をノイズ点として除去するノイズ除去部を備える請求項1〜6のいずれか一項に記載の測量装置。
- 前記離れ量として、前記面特定部が位置を特定した前記特定の面と前記レーザースキャナが得た複数のスキャン点にフィッティングするフィッティング面との間の距離が採用される請求項1〜7のいずれか一項に記載の測量装置。
- レーザー測位部を用いた特定の面の3点以上の測位により前記特定の面の位置を特定する面特定ステップと、
レーザースキャナにより前記特定の面のレーザースキャンを行うレーザースキャンステップと、
前記位置が特定された前記特定の面と前記レーザースキャンによって得た複数のスキャン点それぞれとの離れ量を算出する離れ量算出ステップと、
前記離れ量に基づき前記レーザー測位部および前記レーザースキャナの少なくとも一方の外部標定要素を算出する外部標定要素算出ステップと
を有する測量装置の校正方法。 - コンピュータに読み取らせて実行するプログラムであって、
コンピュータに
レーザー測位部を用いた特定の面の3点以上の測位により前記特定の面の位置を特定する面特定ステップと、
レーザースキャナにより前記特定の面のレーザースキャンを行うレーザースキャンステップと、
前記位置が特定された前記特定の面と前記レーザースキャンによって得た複数のスキャン点それぞれとの離れ量を算出する離れ量算出ステップと、
前記離れ量に基づき前記レーザー測位部および前記レーザースキャナの少なくとも一方の外部標定要素を算出する外部標定要素算出ステップと
を実行させる測量装置の校正用プログラム。
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