JP7386862B2 - Substrate holding jig and plating processing equipment for plating processing - Google Patents

Substrate holding jig and plating processing equipment for plating processing Download PDF

Info

Publication number
JP7386862B2
JP7386862B2 JP2021526118A JP2021526118A JP7386862B2 JP 7386862 B2 JP7386862 B2 JP 7386862B2 JP 2021526118 A JP2021526118 A JP 2021526118A JP 2021526118 A JP2021526118 A JP 2021526118A JP 7386862 B2 JP7386862 B2 JP 7386862B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating
movable piece
main body
body rod
holding jig
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021526118A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPWO2020250935A1 (en
Inventor
聡史 大井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Kohan Co Ltd
Original Assignee
Toyo Kohan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Kohan Co Ltd filed Critical Toyo Kohan Co Ltd
Publication of JPWO2020250935A1 publication Critical patent/JPWO2020250935A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7386862B2 publication Critical patent/JP7386862B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Description

本発明は、めっき処理技術に関し、より詳細には中心に貫通孔を有する円盤状の基板をめっき浴槽内に浸漬してめっき被膜を当該基板上に形成するためのめっき処理用基板保持治具およびめっき処理装置に関する。 The present invention relates to plating technology, and more particularly, to a substrate holding jig for plating and for immersing a disk-shaped substrate having a through hole in the center in a plating bath to form a plating film on the substrate. Related to plating processing equipment.

PCなどに用いられる磁気記録媒体は、その利便性の高さなどから需要が高く、近年では記録密度の著しい向上が図られつつある。
かような磁気記録媒体については、より高い記録密度を実現することが市場から継続して要求されており、そのため磁気記録媒体に用いられる円盤状の基板に対しても今まで以上に薄型で平滑性が高く傷の少ない高品質な基板が求められている。
Magnetic recording media used in PCs and the like are in high demand due to their high convenience, and in recent years, efforts have been made to significantly improve recording density.
The market continues to demand higher recording densities for such magnetic recording media, and as a result, the disk-shaped substrates used in magnetic recording media are becoming thinner and smoother than ever before. There is a demand for high-quality substrates with high durability and few scratches.

この円盤状の基板としては、例えばアルミニウム合金基板やガラス基板などが用いられている。このうちアルミニウム合金基板は、例えば次に示す工程などを経ることによって製造される。すなわち、先ず厚さ1~3mm程度のアルミニウム合金板をドーナツ状に打ち抜き加工して所望の寸法の基板に加工する。次いで、打ち抜かれた基板に対して端部の面取り加工などを施した後、砥石による研削加工を行い、さらにその後に基板表面に無電解NiPめっきを施すことなどが行われている。 As this disc-shaped substrate, for example, an aluminum alloy substrate or a glass substrate is used. Among these, aluminum alloy substrates are manufactured, for example, through the following steps. That is, first, an aluminum alloy plate with a thickness of about 1 to 3 mm is punched into a donut shape to form a substrate of desired dimensions. Next, after chamfering the edges of the punched substrate, grinding is performed using a grindstone, and then electroless NiP plating is applied to the surface of the substrate.

そして無電解NiPめっきにおいては、例えば特許文献1に示されるように、めっき処理用治具で複数の基板を保持し、これら基板を一括してめっき浴槽中へ浸漬させることが行われる。また、特許文献1にも開示されているとおり、基板表面にめっき被膜を効率よく成膜するため、めっき処理用治具を自転や公転をさせながら複数枚の基板に対して無電解NiPめっきを施すことも知られている。 In electroless NiP plating, for example, as shown in Patent Document 1, a plurality of substrates are held in a plating treatment jig, and these substrates are immersed all at once into a plating bath. In addition, as disclosed in Patent Document 1, in order to efficiently form a plating film on the surface of a substrate, electroless NiP plating is performed on multiple substrates while rotating or revolving a plating jig. It is also known to apply

一方で上記しためっき処理用治具をめっき浴槽内で自転や公転をさせる技術では、この治具のうち摺動部分から発生する摩耗粉によって基板表面にノジュールと呼ばれる凸状の欠陥を発生させることがある。
このノジュールが発生すると基板の品質が著しく低下するため、かようなノジュールを如何に抑制するかが重要となる。
On the other hand, with the above-mentioned technology in which the plating processing jig is rotated or revolved within the plating bath, convex defects called nodules are generated on the substrate surface due to abrasion powder generated from the sliding parts of the jig. There is.
When these nodules are generated, the quality of the substrate is significantly degraded, so it is important to know how to suppress such nodules.

この点に関し、例えば特許文献1では、基板の外周縁部を嵌め込む溝の断面をU字状とすることで、基板の外周縁部に発生しやすいノジュールを抑制可能であることが示されている。
また、例えば特許文献2では、基板の内周部の端部に嵌合するリング状溝を周面に設け且つ水平に配置されたスピンドルと、基板の内周部の端部に嵌合し且つスピンドルのリング状溝と実質的に同一ピッチを有するリング状溝を周面に設けたウエイトバーと、を含む表面処理装置が提案されている。
さらに、例えば特許文献3では、ブッシュが周方向に分割された複数の円弧状セグメントと、各セグメントの相互間に介装してブッシュを半径方向に拡大/収縮させる駆動ばねとの組合せからなるディスク基板の把持用治具が開示されている。
Regarding this point, for example, Patent Document 1 shows that by making the cross section of the groove into which the outer periphery of the substrate is fitted into a U-shape, it is possible to suppress nodules that tend to occur on the outer periphery of the substrate. There is.
Further, for example, in Patent Document 2, a spindle that is provided with a ring-shaped groove on the peripheral surface and arranged horizontally and that fits into the end of the inner periphery of the substrate, and a spindle that fits into the end of the inner periphery of the substrate and A surface treatment apparatus has been proposed that includes a weight bar having ring-shaped grooves on its circumferential surface having substantially the same pitch as the ring-shaped grooves of the spindle.
Furthermore, for example, in Patent Document 3, a disk is made up of a combination of a plurality of arc-shaped segments in which the bush is divided in the circumferential direction and a drive spring that is interposed between each segment and expands/contracts the bush in the radial direction. A jig for gripping a substrate is disclosed.

特開2007-169757号公報Japanese Patent Application Publication No. 2007-169757 特開平7-90596号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-90596 特開2001-195730号公報Japanese Patent Application Publication No. 2001-195730

しかしながら、上記した従来のめっき処理用治具では以下に述べる課題があり、未だに改善すべき点があると言える。
すなわち例えば特許文献1においては基板の外周側から保持用シャフトで把持する構成であるため、大型化しない限り保持する基板の数を多くすることが困難であり、一度に大量の基板をめっき処理する能力は高くない。
However, the conventional plating processing jig described above has the following problems, and it can be said that there are still points to be improved.
That is, for example, in Patent Document 1, since the structure is such that a holding shaft grips the substrate from the outer circumferential side, it is difficult to increase the number of substrates to be held unless the size is increased, and it is difficult to plate a large number of substrates at once. His abilities are not high.

また、例えば特許文献2においては基板の中心孔(以後、「内孔」とも称する)にスピンドルおよびウエイトバーを挿入できることから体積当たりで収容可能な基板の数は比較的大きくできる。しかしながらウエイトバーが中心孔の縁と衝突する場合などはウエイトバーが削られて摩耗粉の発塵が促進され、この摩耗粉がめっき被膜中に取り込まれることでノジュールが発生してしまう可能性は否めない。
さらに近年において例えば多層ドライブ化に伴ってHDD用途の基板は薄型化が進んでおり、この厚みが薄くなった基板の処理中における基板揺れなども想定せねばならない。この点に関しては、例えばめっきの均一処理などを目的としてめっき浴中で基板を移動させることがあり、特許文献2で示された構成では基板同士の接触なども発生し得ると言える。
Further, for example, in Patent Document 2, since a spindle and a weight bar can be inserted into a center hole (hereinafter also referred to as an "inner hole") of a substrate, the number of substrates that can be accommodated per volume can be relatively large. However, if the weight bar collides with the edge of the center hole, the weight bar will be scraped and the generation of wear particles will be promoted, and there is a possibility that this wear powder will be incorporated into the plating film and generate nodules. can not deny.
Furthermore, in recent years, for example, substrates for HDDs have become thinner with the advent of multilayer drives, and it is necessary to assume that substrates with reduced thickness may sway during processing. Regarding this point, for example, substrates are sometimes moved in a plating bath for the purpose of uniform plating, and it can be said that in the configuration shown in Patent Document 2, contact between the substrates may occur.

さらに特許文献3では複数のばねを用いてディスク基板の中心孔を強固に把持する点においては基板同士の接触は回避できるかもしれないが、そもそも治具の構造が複雑となってコスト高を招いてしまう。また、この特許文献3に示された構造の把持用治具では、比較的大量の基板を一度に把持することは困難であり、めっき処理の能力としても高いとは言えない。 Furthermore, in Patent Document 3, it may be possible to avoid contact between the substrates by firmly gripping the center hole of the disk substrate using a plurality of springs, but the structure of the jig is complicated in the first place, leading to high costs. I'll be there. Further, with the gripping jig having the structure shown in Patent Document 3, it is difficult to grip a relatively large amount of substrates at once, and it cannot be said that the gripping jig has high plating performance.

本発明は、かような課題を一例として解決することを鑑みてなされたものであり、めっき浴槽中で基板同士が接触せずに比較的多くの基板を把持可能であり、それでいてよりシンプルな構造で基板や治具からの発塵がめっき被膜に取り込まれることによって発生するノジュールを抑制可能なめっき処理用基板保持治具およびめっき処理装置を提供することを目的とする。 The present invention was made in view of solving such problems as an example, and it is possible to grip a relatively large number of substrates without the substrates coming into contact with each other in a plating bath, and yet has a simpler structure. An object of the present invention is to provide a substrate holding jig for plating processing and a plating processing apparatus that can suppress nodules generated when dust from the substrate or the jig is taken into the plating film.

上記課題を解決するため、本発明の一実施形態にかかるめっき処理用基板保持治具は、(1)円盤状基板の内孔へ軸方向に沿って挿入可能な外形長さを有する本体ロッド部と、前記本体ロッド部に対して前記軸方向と交差する交差方向に近接又は離間可能な可動片と、前記可動片を前記本体ロッド部に対して前記交差方向に移動させる移動機構と、を具備し、前記可動片は、前記本体ロッド部に近接して当該本体ロッド部と共に前記円盤状基板の内孔を通過可能な第1の位置と、前記第1の位置よりも交差方向において外側であって、前記めっき処理用基板保持治具における前記外形長さが前記基板の内孔の径よりも大きくなる第2の位置と、に位置付けられることを特徴とする。 In order to solve the above problems, a substrate holding jig for plating processing according to an embodiment of the present invention includes (1) a main body rod portion having an external length that can be inserted into the inner hole of a disk-shaped substrate along the axial direction; a movable piece that can move toward or away from the main body rod in a transverse direction intersecting the axial direction; and a moving mechanism that moves the movable piece in the transverse direction with respect to the main body rod. The movable piece has a first position that is close to the main body rod portion and can pass through the inner hole of the disc-shaped substrate together with the main body rod portion, and a first position that is outside the first position in the cross direction. and a second position where the outer length of the plating substrate holding jig is larger than the diameter of the inner hole of the substrate.

なお、上記した(1)に記載のめっき処理用基板保持治具においては、(2)前記移動機構は、前記可動片の前記交差方向への移動範囲を規定するリミット部を含み、前記リミット部によって前記第1の位置と前記第2の位置とがそれぞれ規定されてなることが好ましい。 In the plating substrate holding jig described in (1) above, (2) the moving mechanism includes a limit section that defines a movement range of the movable piece in the intersecting direction, and the limit section It is preferable that the first position and the second position are respectively defined by the following.

さらに上記した(2)に記載のめっき処理用基板保持治具においては、(3)前記移動機構は前記可動片と前記本体ロッド部の間に配置された弾性部材を含み、前記リミット部はフランジ部を有する笠部材を含み、前記笠部材は、前記フランジ部が前記可動片の内部で前記交差方向に移動するように、その基端が前記本体ロッド部に立設されてなることが好ましい。 Furthermore, in the plating substrate holding jig described in (2) above, (3) the moving mechanism includes an elastic member disposed between the movable piece and the main body rod portion, and the limit portion is attached to a flange. It is preferable that the cap member has a base end erected on the main body rod part so that the flange part moves in the intersecting direction inside the movable piece.

また、上記した(3)に記載のめっき処理用基板保持治具においては、(4)前記リミット部および前記弾性部材からなるユニットが、前記本体ロッド部の軸方向に関して少なくとも2組設けられていることが好ましい。 Further, in the plating substrate holding jig described in (3) above, (4) at least two sets of units each including the limit portion and the elastic member are provided in the axial direction of the main body rod portion. It is preferable.

また、上記した(1)~(4)のいずれかに記載のめっき処理用基板保持治具においては、(5)前記本体ロッド部は、前記円盤状基板を所定の間隙ごとに保持する保持領域と、前記保持領域の両端に配置される端部領域と、を含み、前記交差方向における前記保持領域の断面形状と、前記交差方向における前記端部領域の断面形状は、互いに異なることが好ましい。 Further, in the substrate holding jig for plating processing according to any one of (1) to (4) above, (5) the main body rod portion has a holding area that holds the disk-shaped substrate at predetermined intervals. and end regions disposed at both ends of the holding region, and the cross-sectional shape of the holding region in the intersecting direction and the cross-sectional shape of the end region in the intersecting direction are preferably different from each other.

また、上記した(1)~(5)のいずれかに記載のめっき処理用基板保持治具においては、(6)前記本体ロッド部に対して異なる数の前記可動片が前記移動機構を介して前記交差方向に移動可能に設けられていることが好ましい。
また、上記した(1)~(6)のいずれかに記載のめっき処理用基板保持治具においては、(7)前記本体ロッド部および前記可動片は、前記円盤状基板を所定の間隙ごとに保持する保持領域を含み、前記保持領域において、前記軸方向に沿って延在する芯材と、前記芯材の外面を覆って前記円盤状基板と接触可能な外装樹脂材と、で構成されてなることが好ましい。
Further, in the substrate holding jig for plating processing according to any one of (1) to (5) above, (6) a different number of the movable pieces are connected to the main body rod portion via the moving mechanism. Preferably, it is provided so as to be movable in the intersecting direction.
Further, in the substrate holding jig for plating processing according to any one of (1) to (6) above, (7) the main body rod portion and the movable piece hold the disc-shaped substrate at predetermined intervals. It includes a holding area for holding, and in the holding area, it is composed of a core material extending along the axial direction, and an exterior resin material that covers the outer surface of the core material and is capable of contacting the disk-shaped substrate. It is preferable that

また、上記した(1)~(7)のいずれかに記載のめっき処理用基板保持治具においては、(8)前記本体ロッド部は、前記円盤状基板を所定の間隙ごとに保持する保持領域と、前記保持領域を挟むように前記保持領域の両端に配置された端部領域を含み、前記移動機構は、前記可動片と前記本体ロッド部の一方に形成されたガイド孔と、前記可動片と前記本体ロッド部の他方に形成されて前記ガイド孔に挿入されるガイドピンと、を備え、前記可動片と前記本体ロッド部はそれぞれ前記端部領域を有することが好ましい。
また、上記課題を解決するため、本発明の一実施形態にかかるめっき処理装置は、(9)めっき浴槽内のめっき液中に円盤状基板を浸漬させるめっき処理装置であって、めっき処理前の複数の円盤状基板が並べて載置される載置部と、上記した(1)~(8)のいずれかに記載のめっき処理用基板保持治具をそれぞれ保持可能な一対の軸押さえ部と、を含み、一方の前記軸押さえ部によって前記可動片が前記第1の位置を維持したままで、複数の前記円盤状基板のそれぞれの内孔に前記めっき処理用基板保持治具が挿入され、且つ、前記可動片が前記第2の位置の状態でカローセルに取り付けられることを特徴とする。
なお上記した(9)に記載のめっき処理装置においては、(10)前記カローセルは、前記めっき処理用基板保持治具が搭載される治具取付用軸受け部材を有し、前記治具取付用軸受け部材には、前記めっき処理用基板保持治具が装着される際に前記可動片と前記本体ロッド部の間に挿入される垂直突起が形成され、前記垂直突起が前記可動片と前記本体ロッド部の間に挿入されることによって前記可動片と前記本体ロッド部が互いに離間されることが好ましい。
また、上記課題を解決するため、本発明の一実施形態にかかるめっき処理装置は、(11)めっき処理前の複数の円盤状基板が並べて載置される載置部と、上記(1)~(8)のいずれかに記載のめっき処理用基板保持治具を複数の前記円盤状基板のそれぞれの内孔に出し入れ可能なガイドバーと、を有し、前記ガイドバーは、前記めっき処理用基板保持治具の前記可動片を前記第1の位置で維持するための先端を有することを特徴とする。
Further, in the substrate holding jig for plating processing according to any one of (1) to (7) above, (8) the main body rod portion has holding areas that hold the disk-shaped substrate at predetermined intervals. and end areas disposed at both ends of the holding area so as to sandwich the holding area, and the moving mechanism includes a guide hole formed in one of the movable piece and the main body rod part, and a guide hole formed in one of the movable piece and the main body rod part, and and a guide pin formed on the other side of the main body rod portion and inserted into the guide hole, and it is preferable that the movable piece and the main body rod portion each have the end region.
In addition, in order to solve the above problems, a plating processing apparatus according to an embodiment of the present invention is (9) a plating processing apparatus that immerses a disc-shaped substrate in a plating solution in a plating bath, the plating processing apparatus including: a mounting part on which a plurality of disc-shaped substrates are placed side by side; a pair of shaft holding parts each capable of holding a substrate holding jig for plating processing according to any one of (1) to (8) above; The plating substrate holding jig is inserted into the inner hole of each of the plurality of disc-shaped substrates while the movable piece is maintained at the first position by one of the shaft holding parts, and , the movable piece is attached to the carousel in the second position.
In the plating processing apparatus described in (9) above, (10) the carousel has a jig mounting bearing member on which the plating substrate holding jig is mounted, and the jig mounting bearing member The member is formed with a vertical protrusion that is inserted between the movable piece and the main body rod part when the plating substrate holding jig is attached, and the vertical protrusion is inserted between the movable piece and the main body rod part. It is preferable that the movable piece and the main body rod portion be separated from each other by being inserted between the movable piece and the main body rod portion.
Further, in order to solve the above problems, a plating processing apparatus according to an embodiment of the present invention includes (11) a mounting section on which a plurality of disc-shaped substrates to be plated are placed side by side, and (1) to a guide bar that allows the plating substrate holding jig according to any one of (8) to be inserted into and taken out from the inner hole of each of the plurality of disk-shaped substrates, the guide bar being configured to hold the plating substrate The holding jig is characterized by having a tip for maintaining the movable piece at the first position.

本発明によれば、よりシンプルな構造で基板や治具からの発塵を低減することでノジュール発生を抑制しつつ、比較的多くの円盤状基板を保持してめっき浴中に浸漬させることが可能となっている。 According to the present invention, it is possible to hold a relatively large number of disk-shaped substrates and immerse them in a plating bath while suppressing nodule generation by reducing dust generation from substrates and jigs with a simpler structure. It is possible.

第1実施形態におけるめっき処理用基板保持治具の外観斜視図と、特定方向から見た矢視図である。FIG. 1 is an external perspective view of a substrate holding jig for plating processing according to a first embodiment, and a view taken from a specific direction. 可動片が第2の位置にあるときのめっき処理用基板保持治具の側面図である。FIG. 3 is a side view of the plating substrate holding jig when the movable piece is in the second position. 可動片が第1の位置にあるときのめっき処理用基板保持治具の側面図である。FIG. 3 is a side view of the plating substrate holding jig when the movable piece is in the first position. 第1実施形態における可動片の状態遷移を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the state transition of the movable piece in 1st Embodiment. 端部側から見た可動片の状態遷移を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state transition of a movable piece seen from the edge part side. 円盤状基板を保持した状態におけるめっき処理用基板保持治具の模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram of a substrate holding jig for plating processing in a state in which a disk-shaped substrate is held. 第1実施形態におけるめっき処理装置を模式的に示した外観斜視図である。FIG. 1 is an external perspective view schematically showing a plating processing apparatus in a first embodiment. 第1実施形態におけるめっき処理用基板保持治具の保持方法を示したフローチャートである。3 is a flowchart showing a method for holding a substrate holding jig for plating processing in the first embodiment. 第2実施形態におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。FIG. 7 is an external view schematically showing a substrate holding jig for plating processing in a second embodiment. 第3実施形態におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。FIG. 7 is an external view schematically showing a substrate holding jig for plating processing in a third embodiment. 第4実施形態におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。FIG. 7 is an external view schematically showing a substrate holding jig for plating processing in a fourth embodiment. 第5実施形態におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。It is an external view schematically showing a substrate holding jig for plating processing in a fifth embodiment. 第6実施形態におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。FIG. 7 is an external view schematically showing a substrate holding jig for plating processing in a sixth embodiment. 第6実施形態におけるめっき処理用基板保持治具がカローセルに装着される際の状態遷移を示した模式図である。FIG. 7 is a schematic diagram showing a state transition when a plating substrate holding jig according to a sixth embodiment is attached to a carousel. 変形例1におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。7 is an external view schematically showing a substrate holding jig for plating processing in Modification 1. FIG. 変形例2におけるめっき処理用基板保持治具を示した模式図である。7 is a schematic diagram showing a substrate holding jig for plating processing in Modification 2. FIG. 変形例3におけるめっき処理用基板保持治具を示した模式図である。7 is a schematic diagram showing a substrate holding jig for plating processing in Modification 3. FIG. カム機構Cmにおける他の構成例を示した模式図である。It is a schematic diagram which showed the other example of a structure in cam mechanism Cm. 変形例4におけるめっき処理用基板保持治具を模式的に示した外観図である。FIG. 7 is an external view schematically showing a plating substrate holding jig in Modification 4. FIG.

以下、本発明を実施するための実施形態について説明する。なお、以下の説明に用いる図面においては、便宜的にめっき処理用基板保持治具が延在する軸方向をADとし、この軸方向ADと交差する方向(本実施形態では径方向)をRDとして設定している。ただしこれらの方向はあくまでも説明の明瞭化という目的で設定されるものであり、本発明を不当に限定解釈するようなものではない。 Embodiments for implementing the present invention will be described below. In the drawings used in the following explanation, for convenience, the axial direction in which the plating substrate holding jig extends is referred to as AD, and the direction intersecting this axial direction AD (radial direction in this embodiment) is referred to as RD. It is set. However, these directions are set solely for the purpose of clarifying the explanation, and should not be interpreted as unduly limiting the present invention.

≪第1実施形態≫
<めっき処理用基板保持治具100A>
まず図1~図6を適宜参照しつつ、第1実施形態におけるめっき処理用基板保持治具100Aの構成を説明する。
図1などに示されるとおり、本実施形態におけるめっき処理用基板保持治具100は、円盤状基板1の内孔1aに挿入されて、複数の円盤状基板1をめっき浴槽内のめっき液中に浸漬させる機能を有している。かようなめっき処理用基板保持治具100の材質としては、特に制限はなく、例えば主材としてそれぞれ公知の金属材、セラミック、あるいは合成樹脂材などを適用できる。かような主材は、酸およびアルカリに対する高い耐薬品性を有しているものを用いることが好ましく、耐摩耗性、電気絶縁性、機械的強度、加工性などの観点からバランスを見て選択することができる。なお加工性の観点から、上記したうち合成樹脂材や金属材が主材として選択されることが好ましい。より具体的に、上記した合成樹脂としては、例えばポリテトラフル オロエチレン(PTFE)、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、のいずれかおよび/またはこれらの混合材料を用いることができる。また、上記した金属材としては、例えばステンレス(SUS)、チタン(Ti)を用いることができる。また、本実施形態のめっき処理用基板保持治具100は、すべてが単一の材料で構成される必要は必ずしもなく、後述するとおり例えば芯材を金属材(SUSなど)としつつ円盤状基板1との接触部分を上記した合成樹脂材とするなど複合材料として構成されていてもよい。
≪First embodiment≫
<Substrate holding jig for plating process 100A>
First, the configuration of the plating substrate holding jig 100A in the first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 6 as appropriate.
As shown in FIG. 1 and the like, the plating processing substrate holding jig 100 in this embodiment is inserted into the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1, and holds the plurality of disc-shaped substrates 1 in the plating solution in the plating bath. It has a immersion function. There are no particular limitations on the material of such a substrate holding jig 100 for plating processing, and for example, known metal materials, ceramics, synthetic resin materials, etc. can be used as the main material. It is preferable to use a material that has high chemical resistance against acids and alkalis, and the material should be selected with a balance in view of wear resistance, electrical insulation, mechanical strength, workability, etc. can do. In addition, from the viewpoint of workability, it is preferable to select the synthetic resin material or metal material as the main material among the above-mentioned materials. More specifically, as the above-mentioned synthetic resin, for example, any one of polytetrafluoroethylene (PTFE), polyvinylidene fluoride (PVDF), polyether ether ketone (PEEK), and/or a mixed material thereof can be used. Moreover, as the above-mentioned metal material, stainless steel (SUS) and titanium (Ti) can be used, for example. In addition, the plating substrate holding jig 100 of this embodiment does not necessarily need to be made of a single material; for example, the core material is a metal material (SUS, etc.) and the disc-shaped substrate 100 is not necessarily made of a single material. The contact portion may be made of a composite material such as the above-mentioned synthetic resin material.

本実施形態に好適な円盤状基板1は、中心に円形の貫通孔(内孔)を有するガラス製またはアルミニウムなどの金属製の材料で構成された円盤状の部材である。かような円盤状基板1は、厚みが例えば0.3mm~2.0mm程度であり、一般的には直径が2 . 5 インチを超える基板にあっては主にアルミニウム製の基板が用いられ、2.5インチ以下のサイズでは主としてガラス製基板が用いられている。 The disc-shaped substrate 1 suitable for this embodiment is a disc-shaped member made of a metal material such as glass or aluminum and having a circular through hole (inner hole) at the center. Such a disk-shaped substrate 1 has a thickness of, for example, about 0.3 mm to 2.0 mm, and generally has a diameter of about 2.0 mm. For substrates larger than 5 inches, aluminum substrates are mainly used, and for substrates smaller than 2.5 inches, glass substrates are mainly used.

このうちアルミニウム製の円盤状基板1では、例えばアルミニウム素材から打抜いたサブストレートに所要の前処理を施した後、後述するNi-Pめっき液による無電解めっき処理を施して表面にNi-P合金被膜を形成し、さらにその上に強磁性の金属薄膜を積層することなどを経て磁気記録ディスク基板へと形成される。 Among these, for the aluminum disk-shaped substrate 1, for example, a substrate punched from an aluminum material is subjected to the necessary pretreatment, and then subjected to electroless plating treatment using a Ni-P plating solution, which will be described later, to coat the surface with Ni-P. A magnetic recording disk substrate is formed by forming an alloy film and further laminating a ferromagnetic metal thin film thereon.

図1~4などに示すとおり、めっき処理用基板保持治具100Aは、本体ロッド部10A、可動片20Aおよび移動機構30を少なくとも含んで構成されている。
本体ロッド部10Aは、後述する可動片20Aが配置される凹んだ領域が設けられるとともに、円盤状基板1の内孔1aへ軸方向に沿って挿入可能な外形長さを有した棒状の部材である。かような本体ロッド部10Aは、その両端には端部領域ERが設けられ、これら端部領域ERに挟まれるように保持領域SRが配設された形態となっている。換言すれば、本実施形態の本体ロッド部10Aは、円盤状基板1を所定の間隙ごとに保持する保持領域SRと、保持領域SRの両端に配置される端部領域ERと、を含んで構成されている。
As shown in FIGS. 1 to 4, the plating substrate holding jig 100A includes at least a main body rod portion 10A, a movable piece 20A, and a moving mechanism 30.
The main body rod portion 10A is a rod-shaped member that is provided with a recessed area in which a movable piece 20A (described later) is arranged, and has an external length that can be inserted into the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1 along the axial direction. be. The main body rod portion 10A has end regions ER provided at both ends thereof, and a holding region SR arranged between the end regions ER. In other words, the main body rod portion 10A of this embodiment includes a holding region SR that holds the disc-shaped substrate 1 at predetermined intervals, and end regions ER arranged at both ends of the holding region SR. has been done.

端部領域ERは、例えば図7に示すカローセルCに搭載される際に治具取付用軸受け部材(不図示)と接触する領域であり、さらにこの他にも不図示の支持台などに置かれる際に当該支持台と接触する領域であり、これにより円盤状基板1を保持した状態で当該円盤状基板1が接地しないように支持することが可能となっている。また、後述するとおり、端部領域ERは、めっき処理装置のロボットハンドがめっき処理用基板保持治具を把持する際にハンドと接触する部位ともなり得る。
後述するとおり、本発明における各実施形態では、本体ロッド部10と可動片20はそれぞれ上記した端部領域ERを有する構成としてもよい。
なお端部領域ERは、本実施形態では後述する保持領域SRと外形長さが同じ態様となっており、後述するとおりその断面が円形で内部の一部が空洞となった円筒状となっている。なお、端部領域ERと保持領域SRの外形長さは本実施形態と同様に同じであってもよいが、異なっていてもよく、端部領域ERの外形長さはカローセル搭載時の位置決めを容易にする観点で異なっている方が好ましい。
The end region ER is a region that comes into contact with a jig mounting bearing member (not shown) when being mounted on the carousel C shown in FIG. 7, for example, and is also a region that is placed on a support stand (not shown) or the like This is the area that comes into contact with the support stand when the disc-shaped substrate 1 is being held, so that it is possible to support the disc-shaped substrate 1 so that it does not come into contact with the ground. Further, as will be described later, the end region ER may also be a part that comes into contact with the robot hand of the plating processing apparatus when the hand grips the plating substrate holding jig.
As described later, in each embodiment of the present invention, the main body rod portion 10 and the movable piece 20 may each have the above-described end region ER.
In this embodiment, the end region ER has the same external length as the holding region SR, which will be described later, and has a cylindrical shape with a circular cross section and a hollow interior, as described later. There is. Note that the outer lengths of the end region ER and the holding region SR may be the same as in this embodiment, but they may also be different, and the outer length of the end region ER may be determined for positioning when the carousel is mounted. It is preferable to be different from the viewpoint of ease of use.

ここで、本実施形態における「外形長さ」とは、めっき処理用基板保持治具の最外周の径方向の長さのうち最も長い箇所のことをいう。さらに、めっき処理用基板保持治具のディスク搭載方向の断面形状は、真円、方形、楕円、あるいは非対称形状などでもよく、この断面形状はとくに限定されない。したがって、めっき処理用基板保持治具の断面形状が円である場合には径方向の長さはほぼ一様であることから、この場合には上記した「外形長さ」はその外径を意味することとなる。なお以下においては、めっき処理用基板保持治具の断面形状が円である場合を説明するため、特に断りのない限りは「外形長さ」を「外径」として説明する。 Here, the "outer length" in this embodiment refers to the longest part of the radial length of the outermost circumference of the plating substrate holding jig. Furthermore, the cross-sectional shape of the plating substrate holding jig in the disk mounting direction may be a perfect circle, square, ellipse, or asymmetrical shape, and this cross-sectional shape is not particularly limited. Therefore, if the cross-sectional shape of the plating substrate holding jig is circular, the length in the radial direction is almost uniform, so in this case, the above-mentioned "outer length" means its outer diameter. I will do it. In the following description, the case where the cross-sectional shape of the plating substrate holding jig is circular will be described, so unless otherwise specified, "outer length" will be referred to as "outer diameter."

保持領域SRは、軸方向ADにおいて例えば端部領域ERの2倍以上の大きさに設定されている。この保持領域SRには、後述する移動機構30が設置される他、第1収容溝G1と第2収容溝G2が形成されている。
また移動機構30と第1収容溝G1及び第2収容溝G2の配列関係については、図1から明らかなとおり、本実施形態では保持領域SRにおいて移動機構30が両端に位置し、この移動機構30の内側に第1収容溝G1が配置され、最も内側に第2収容溝G2が配置されている。
The holding region SR is set to be, for example, twice or more larger than the end region ER in the axial direction AD. In this holding region SR, a moving mechanism 30, which will be described later, is installed, and a first accommodation groove G1 and a second accommodation groove G2 are also formed.
Regarding the arrangement relationship between the moving mechanism 30, the first accommodation groove G1, and the second accommodation groove G2, as is clear from FIG. The first accommodation groove G1 is arranged inside the housing, and the second accommodation groove G2 is arranged on the innermost side.

第1収容溝G1は、上述のとおり第2収容溝G2よりも外側(端部側)に配置されている。この第1収容溝G1は、不図示のダミー基板を収容する機能を有して構成されている。換言すれば、本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Aは、複数の円盤状基板1の両サイドでダミー基板を保持する機能を有している。 As described above, the first housing groove G1 is arranged outside (on the end side) of the second housing groove G2. This first accommodation groove G1 is configured to have a function of accommodating a dummy substrate (not shown). In other words, the plating substrate holding jig 100A of this embodiment has a function of holding dummy substrates on both sides of the plurality of disk-shaped substrates 1.

ここで、ダミー基板とは、円盤状基板1と外形はほぼ共通するが製品とならない基板を言う。めっき処理用基板保持治具100Aに保持される基板のうち最も外側の基板は、めっき浴中では最も強い液の流れに晒されることから、当該基板に形成されるめっき被膜も均一となりにくい。このような理由から本実施形態ではダミー基板を搭載することが好ましいが、必ずしも必須ではなくダミー基板は無くてもよい。 Here, the dummy substrate refers to a substrate that has almost the same external shape as the disk-shaped substrate 1 but is not used as a product. Since the outermost substrate held by the plating substrate holding jig 100A is exposed to the strongest liquid flow in the plating bath, the plating film formed on the substrate is also difficult to be uniform. For these reasons, it is preferable to mount a dummy board in this embodiment, but it is not always essential and the dummy board may not be provided.

そこで本実施形態では、上記した最も外側の基板にダミー基板を割り当てることで、製品となる円盤状基板1に形成されるめっき被膜の質を向上させることが実現されている。なお本実施形態では第2収容溝G2の両側に計2つの第1収容溝G1を配したが、これに限定されず2つ以上の第1収容溝G1を上記した両側に配してもよい。 Therefore, in this embodiment, by allocating a dummy substrate to the above-mentioned outermost substrate, it is possible to improve the quality of the plating film formed on the disc-shaped substrate 1 that becomes the product. In this embodiment, a total of two first accommodation grooves G1 are arranged on both sides of the second accommodation groove G2, but the present invention is not limited to this, and two or more first accommodation grooves G1 may be arranged on both sides. .

第2収容溝G2は、円盤状基板1を収容するための溝であり、保持領域SR内において軸方向ADに沿って所定の間隙を隔てて複数設けられている。なお第2収容溝G2は、例えば溝の深さや底部につながる斜面の角度などが第1収容溝G1と異なる形状であってもよいし、これらが同じ形状であってもよい。 The second accommodation groove G2 is a groove for accommodating the disk-shaped substrate 1, and a plurality of second accommodation grooves G2 are provided at predetermined intervals in the axial direction AD within the holding region SR. Note that the second accommodation groove G2 may have a shape different from the first accommodation groove G1 in, for example, the depth of the groove and the angle of the slope connected to the bottom, or may have the same shape.

可動片20Aは、上記した本体ロッド部10Aに対して軸方向と交差する交差方向(本実施形態では径方向RD)に近接又は離間することが可能なように構成されている。
より具体的に本実施形態における可動片20Aは、本体ロッド部10Aに近接して当該本体ロッド部10Aと共に円盤状基板1の内孔1aを通過可能な第1の位置P1(図3および図4参照)と、この第1の位置P1よりも交差方向において外側であって、めっき処理用基板保持治具100Aにおける外形長さが基板の内孔の径よりも大きくなる第2の位置P2(図2及び図4参照)と、に位置付けられる機能を有している。
The movable piece 20A is configured to be able to approach or move away from the above-described main body rod portion 10A in an intersecting direction (radial direction RD in this embodiment) intersecting the axial direction.
More specifically, the movable piece 20A in this embodiment is located at a first position P1 (FIGS. 3 and 4 ), and a second position P2 (see Fig. 2 and FIG. 4).

なお本実施形態においては、可動片20Aの少なくとも一方の端部には、テーパー部20tが形成されていることが好ましい。このテーパー部20tは、後述する筒状体150cが挿入された際に当該筒状体150cをガイドする機能を有しており、これにより突っかかることなく筒状体150cによって可動片20Aが第1の位置に移動される。また、テーパー部20tの形成態様については特に制限はなく、上記機能を発揮し得る限りにおいて図示のような種々の形状が例示される。 In this embodiment, it is preferable that a tapered portion 20t is formed at at least one end of the movable piece 20A. This tapered portion 20t has a function of guiding the cylindrical body 150c, which will be described later, when it is inserted, so that the movable piece 20A can be moved by the cylindrical body 150c to the first position without being hit by the cylindrical body 150c. moved to position. Further, there is no particular restriction on the form of the tapered portion 20t, and various shapes as shown in the drawings are exemplified as long as the above function can be achieved.

移動機構30は、上記した可動片20Aを本体ロッド部10Aに対して上記した交差方向(本実施形態では径方向RD)に相対的に移動させる機能を有して構成されている。
図1(b)、図2及び図4などから明らかなとおり、本実施形態における移動機構30は、リミット部31と、弾性部材32と、を含んで構成されている。同図に示すとおり、本実施形態ではリミット部31および弾性部材32からなるユニットが、本体ロッド部10Aの軸方向ADに関して2組設けられている。なおリミット部31および弾性部材32からなるユニットは、1組設けられていることが好ましいが、3組以上の任意の組数だけ設けられていてもよい。また、リミット部31および/または弾性部材32は、ユニットとしてだけでなく、それぞれが任意の数だけ設けられていてもよい。
The moving mechanism 30 is configured to have a function of moving the movable piece 20A described above relative to the main body rod portion 10A in the above-described intersecting direction (radial direction RD in this embodiment).
As is clear from FIGS. 1(b), 2, and 4, the moving mechanism 30 in this embodiment includes a limit portion 31 and an elastic member 32. As shown in the figure, in this embodiment, two units each including a limit portion 31 and an elastic member 32 are provided in the axial direction AD of the main body rod portion 10A. It is preferable that one set of the unit consisting of the limit portion 31 and the elastic member 32 is provided, but an arbitrary number of three or more sets may be provided. Further, the limit portion 31 and/or the elastic member 32 may be provided not only as a unit but also in an arbitrary number.

リミット部31は、可動片20Aの径方向RDへの移動範囲を規定する機能を有している。このリミット部31によって、前記した可動片20Aにおける第2の位置P2が規定されている。
より具体的に図1(b)および図4に示すとおり、本実施形態のリミット部31の具体例としては、フランジ部Fを有する笠部材が例示できる。かような笠部材としては、例えばネジ、リベットなどが好ましい。
The limit portion 31 has a function of defining a movement range of the movable piece 20A in the radial direction RD. This limit portion 31 defines the second position P2 of the movable piece 20A.
More specifically, as shown in FIGS. 1(b) and 4, a specific example of the limit portion 31 of this embodiment is a shade member having a flange portion F. As such a cap member, for example, screws, rivets, etc. are preferable.

図4に示すとおり、本実施形態のリミット部31としての笠部材は、基端側が本体ロッド部10Aに固定されつつ、フランジ部Fを含む上部が可動片20に形成された凹部21に収容されている。このように本実施形態では、リミット部31としての笠部材は、フランジ部Fが可動片20Aの内部(凹部21内)で径方向RDに移動するようにその基端が本体ロッド部10Aに立設されている。
なお図4に示すとおり、本体ロッド部10Aには、凹部21と対応するように基準孔shが設けられている。これにより本体ロッド部10Aと可動片20Aの組立て時に、凹部21とリミット部31との位置合わせが容易となる。
As shown in FIG. 4, the cap member serving as the limit part 31 of this embodiment has its base end fixed to the main body rod part 10A, and its upper part including the flange part F accommodated in the recess 21 formed in the movable piece 20. ing. In this embodiment, the cap member serving as the limit part 31 has its base end standing up against the main body rod part 10A so that the flange part F moves in the radial direction RD inside the movable piece 20A (inside the recess 21). It is set up.
Note that, as shown in FIG. 4, a reference hole sh is provided in the main body rod portion 10A so as to correspond to the recessed portion 21. This facilitates positioning of the recess 21 and the limit portion 31 when assembling the main body rod portion 10A and the movable piece 20A.

そして、可動片20Aが第1の位置P1となるときは可動片20Aの凹部21内でフランジ部Fが相対的に上方へ移動し、可動片20Aが第2の位置P2となるときはフランジ部Fが凹部21の底に接触して引っ掛かった状態となる。かような第2の位置P2の機能面をふまえれば、本実施形態における「第2の位置P2」とは、第1の位置P1よりも径方向外側であって、本体ロッド部10Aと可動片20Aの少なくとも一方が円盤状基板1の内孔1aと接触して円盤状基板1を保持可能な位置であるとも換言できる。さらに第2の位置における状態を鑑みて換言すれば、本実施形態における「第2の位置P2」とは、第1の位置P1よりも径方向外側であって、めっき処理用基板保持治具100における外径の外接円が円盤状基板1の内孔1aの径よりも大きくなるような位置であるとも言える。 When the movable piece 20A is in the first position P1, the flange part F moves relatively upward within the recess 21 of the movable piece 20A, and when the movable piece 20A is in the second position P2, the flange part F contacts the bottom of the recess 21 and becomes caught. Considering the functional aspect of the second position P2, the "second position P2" in this embodiment is located outside the first position P1 in the radial direction and is movable with the main body rod portion 10A. In other words, the position is such that at least one of the pieces 20A is in contact with the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1 and can hold the disc-shaped substrate 1. Furthermore, in other words, considering the state at the second position, the "second position P2" in this embodiment is located outside the first position P1 in the radial direction, and is located at the plating substrate holding jig 100. It can also be said that the position is such that the circumscribed circle of the outer diameter is larger than the diameter of the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1.

弾性部材32は、例えば図4に示すとおり、可動片20Aと本体ロッド部10Aの間に配置されている。より具体的には本体ロッド部10Aと可動片20Aで対向する面にそれぞれ凹部22が形成されており、この一対の凹部22が向かい合うことで弾性部材32の収容空間が形成されている。 For example, as shown in FIG. 4, the elastic member 32 is arranged between the movable piece 20A and the main body rod portion 10A. More specifically, recesses 22 are formed in opposing surfaces of the main body rod portion 10A and the movable piece 20A, and a space for accommodating the elastic member 32 is formed by the pair of recesses 22 facing each other.

かような弾性部材32は、本体ロッド部10Aに対して可動片20Aを離間させるように作用している。そして上述したとおり本実施形態ではリミット部31によって可動片20Aの離間限界が規定されているため、基準状態としては弾性部材32の作用によって可動片20Aが第2の位置P2となるように設定されている。 The elastic member 32 acts to separate the movable piece 20A from the main body rod portion 10A. As described above, in this embodiment, the limit portion 31 defines the separation limit of the movable piece 20A, so the reference state is such that the movable piece 20A is set to the second position P2 by the action of the elastic member 32. ing.

なお本実施形態においては、弾性部材32としてコイルばねを適用しているが、上記した作用を発揮できる限り特に制限はなく、例えばゴムなど他の公知の弾性材を弾性部材32として適用してもよい。
また、本実施形態における移動機構30においては、弾性部材32に比してリミット部31が軸方向ADに関して外側に配設されているが、この態様に限られず弾性部材32の方がリミット部31よりも軸方向ADに関して外側に配設されていてもよい。
In this embodiment, a coil spring is used as the elastic member 32, but there is no particular restriction as long as it can exhibit the above-mentioned effect, and other known elastic materials such as rubber may also be used as the elastic member 32. good.
Further, in the moving mechanism 30 of the present embodiment, the limit portion 31 is disposed on the outside in the axial direction AD compared to the elastic member 32, but the present invention is not limited to this aspect. may be disposed on the outside in the axial direction AD.

<可動片20Aの状態遷移>
次に図5及び図6を用いて、本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Aが円盤状基板1へ挿入されて当該基板を保持する態様について説明する。
すなわち、まず図5(a)に示すとおり、可動片20Aが第1の位置P1にあるときは、めっき処理用基板保持治具100Aの外径(外形長さ)はD3(図3参照)となっている。
<State transition of movable piece 20A>
Next, a mode in which the plating substrate holding jig 100A of this embodiment is inserted into the disk-shaped substrate 1 and holds the substrate will be described using FIGS. 5 and 6.
That is, first, as shown in FIG. 5(a), when the movable piece 20A is at the first position P1, the outer diameter (outer length) of the plating substrate holding jig 100A is D3 (see FIG. 3). It has become.

この外径D3(外形長さ)の大きさは、円盤状基板1の内孔1aの直径よりも小さくなっている。
したがって、例えば後述するとおりロボットハンドなどの機構でこの状態を維持すれば、めっき処理用基板保持治具100Aが複数の円盤状基板1の内孔1aをスムーズに通過することが可能となる。
The size of this outer diameter D3 (outer length) is smaller than the diameter of the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1.
Therefore, for example, if this state is maintained by a mechanism such as a robot hand as described later, the plating substrate holding jig 100A can smoothly pass through the inner holes 1a of the plurality of disc-shaped substrates 1.

次いで、めっき処理用基板保持治具100Aが予め定められた枚数の円盤状基板1とダミー基板の内孔に挿入された後にロボットハンドなどの公知の把持機構で把持し、ガイドバーを切り離し、カローセルCに設置する。すると、図5(b)に示すように、リミット部31と弾性部材32の作用によって可動片20Aが本体ロッド部10Aに対して第2の位置P2を取るように移動し、上記したダミー基板と円盤状基板1はそれぞれ保持領域SR内の第1収容溝G1及び第2収容溝G2に保持収容される(図6参照)。 Next, the plating substrate holding jig 100A is inserted into the inner holes of a predetermined number of disc-shaped substrates 1 and the dummy substrate, and then gripped by a known gripping mechanism such as a robot hand, the guide bar is separated, and the carousel is assembled. Install it on C. Then, as shown in FIG. 5(b), the movable piece 20A moves to take the second position P2 with respect to the main body rod part 10A due to the action of the limit part 31 and the elastic member 32, and the above-mentioned dummy board and The disk-shaped substrate 1 is held and accommodated in the first accommodation groove G1 and the second accommodation groove G2 in the holding area SR, respectively (see FIG. 6).

このとき同図に示すとおり、可動片20Aが第2の位置P2にあるときは、めっき処理用基板保持治具100Aの外径(外形長さ)はD2(図2参照)となっている。この外径(外形長さ)D2の大きさは、円盤状基板1の内孔1aの直径よりも大きくなるように設定されている。また、この外径(外形長さ)D2の大きさは、本体ロッド部10Aの端部領域ERの外径よりも大きくなるように構成されている。 At this time, as shown in the figure, when the movable piece 20A is at the second position P2, the outer diameter (outer length) of the plating substrate holding jig 100A is D2 (see FIG. 2). The size of this outer diameter (outer length) D2 is set to be larger than the diameter of the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1. Further, the outer diameter (outer length) D2 is configured to be larger than the outer diameter of the end region ER of the main body rod portion 10A.

このとき、図5(b)に示すとおり、円盤状基板1の内孔1aは、可動片20A側の第2収容溝G2に接触する状態となっている。換言すれば、本実施形態で円盤状基板1がめっき処理用基板保持治具100Aに収容して保持されるとき(基板収容保持時)に、円盤状基板1の内孔1aに少なくとも可動片20Aと本体ロッド部10Aの一方が接触していればよい(この態様を1点接触又は上部接触と称する)。 At this time, as shown in FIG. 5(b), the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1 is in contact with the second accommodation groove G2 on the movable piece 20A side. In other words, in this embodiment, when the disc-shaped substrate 1 is accommodated and held in the plating substrate holding jig 100A (at the time of housing and holding the substrate), at least the movable piece 20A is inserted into the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1. It is sufficient that one of the main body rod portions 10A is in contact with the other (this aspect is referred to as one-point contact or upper contact).

また、リミット部31による可動片20Aの径方向RDへの移動範囲(クリアランスの幅D1)を調整することで、基板収容保持時に、可動片20Aと本体ロッド部10Aの双方の第2収容溝G2が円盤状基板1の内孔1aに接触する態様(2点接触又は上下接触とも称する)となっていてもよい。これにより、1点接触又は上部接触の場合に比して、円盤状基板1のグラつきがより抑制されるので、めっき浴中においても円盤状基板1同士が接触してしまうことがより回避される。なお、第2の位置P2における収容溝は、最深部(底)の外接円の大きさが円盤状基板1の内孔1a未満であることが好ましい。また、収容溝は2点接触(又は上下接触)のように円盤状基板1の内孔1aに2点以上接触する場合には、この円盤状基板1がめっき液中で回転可能な程度のクリアランスを基板と溝の間に有することが好ましい。すなわち、めっき液中の円盤状基板1は、回転中の接触点の数が変化するような構造となっていてもよい。 In addition, by adjusting the movement range (width D1 of the clearance) of the movable piece 20A in the radial direction RD by the limit part 31, the second accommodation groove G2 of both the movable piece 20A and the main body rod part 10A can be adjusted when the substrate is housed and held. may be in a mode (also referred to as two-point contact or upper and lower contact) in which the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1 comes into contact with the inner hole 1a. As a result, the wobbling of the disc-shaped substrates 1 is more suppressed than in the case of one-point contact or top contact, so it is better possible to prevent the disc-shaped substrates 1 from coming into contact with each other even in the plating bath. Ru. In addition, it is preferable that the size of the circumscribed circle at the deepest part (bottom) of the accommodation groove at the second position P2 is smaller than the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1. In addition, when the accommodation groove contacts the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1 at two or more points such as two-point contact (or upper and lower contact), the clearance is such that the disc-shaped substrate 1 can rotate in the plating solution. It is preferable to have between the substrate and the groove. That is, the disc-shaped substrate 1 in the plating solution may have a structure in which the number of contact points changes during rotation.

<めっき処理装置200>
次に図7(a)及び図8も参照しつつ、本実施形態におけるめっき処理装置200およびこの装置を用いた基板保持方法並びにめっき処理方法について詳述する。
まず図7(a)に示されるとおり、めっき処理装置200は、めっき浴槽内のめっき液中に円盤状基板を浸漬させるめっき処理装置であって、載置部110と軸押さえ部120を少なくとも含み、さらに把持部130およびリフター部140を有して構成されている。
<Plating processing apparatus 200>
Next, the plating processing apparatus 200 of this embodiment, a substrate holding method using this apparatus, and a plating processing method will be described in detail with reference to FIGS. 7(a) and 8.
First, as shown in FIG. 7A, the plating processing apparatus 200 is a plating processing apparatus that immerses a disc-shaped substrate in a plating solution in a plating bath, and includes at least a mounting section 110 and a shaft holding section 120. , further includes a grip part 130 and a lifter part 140.

載置部110は、めっき処理前の複数の円盤状基板1が並べて載置される部材である。
同図からも明らかなとおり、載置部110は、円盤状基板1及び/又はダミー基板を立てた状態(内孔が横を向く状態)で所定の間隙を隔てて載置することが可能なように収容溝部が形成されている。なお上記した円盤状基板1同士の所定の間隙は、第1収容溝G1や第2収容溝G2に対応する大きさに設定されている。
The mounting section 110 is a member on which a plurality of disk-shaped substrates 1 before plating are placed side by side.
As is clear from the figure, the mounting section 110 is capable of mounting the disc-shaped substrate 1 and/or the dummy substrate in an upright state (inner hole facing sideways) with a predetermined gap therebetween. A housing groove portion is formed as shown in FIG. Note that the predetermined gap between the disk-shaped substrates 1 described above is set to a size corresponding to the first accommodation groove G1 and the second accommodation groove G2.

軸押さえ部120は、図7(a)に示すとおり、めっき処理用基板保持治具100Aの両端側に合計2つ配置される。これら一対の軸押さえ部120は、不図示の制御装置の制御の下で、めっき処理用基板保持治具100Aの端部側を把持する機能と、把持しためっき処理用基板保持治具100AをカローセルCに装着する機能と、を有して構成されている。
かような軸押さえ部120の具体例としては、ロボットハンドなど公知の把持機構を適用してもよい。
As shown in FIG. 7(a), a total of two shaft holding parts 120 are arranged at both ends of the plating substrate holding jig 100A. These pair of shaft holding parts 120 have the function of gripping the end side of the plating substrate holding jig 100A under the control of a control device (not shown), and the function of holding the gripped plating substrate holding jig 100A in a carousel. It has the function of being attached to C.
As a specific example of such a shaft holding part 120, a known gripping mechanism such as a robot hand may be applied.

把持部130は、円盤状基板1及び/又はダミー基板の外周面を両側から挟むように把持する機能を有して構成されている。これにより、載置部110に載置された複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板を一括して把持することが可能となっている。 The gripping section 130 is configured to have a function of gripping the outer peripheral surface of the disk-shaped substrate 1 and/or the dummy substrate from both sides. This makes it possible to collectively grip a plurality of disk-shaped substrates 1 and/or dummy substrates placed on the placing section 110.

リフター部140は、電動モータなど公知の動力源を介し、把持部130を鉛直方向に沿って移動させる上下移動機能と、水平方向に沿って移動させる水平移動機能と、を合わせ持つ。なお、これら上下移動機能と水平移動機能とは分離した形態であってもよい。これにより、把持部130で複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板を一括して把持した状態で、例えば一対の軸押さえ部120の間など任意の場所に基板を移動させることが可能となっている。 The lifter part 140 has both a vertical movement function of moving the grip part 130 along the vertical direction and a horizontal movement function of moving the grip part 130 along the horizontal direction, using a known power source such as an electric motor. Note that the vertical movement function and the horizontal movement function may be separated. This makes it possible to move a plurality of disc-shaped substrates 1 and/or dummy substrates to an arbitrary location, such as between a pair of shaft holding parts 120, while holding a plurality of disk-shaped substrates 1 and/or dummy substrates at once with the gripping part 130. ing.

ガイドバー150aは、立設した複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板の内孔にめっき処理用基板保持治具100Aを挿入するための部材である。ガイドバー150aは、公知の駆動機構によって立設した複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板の内孔に対して進退可能に構成されている。 The guide bar 150a is a member for inserting the plating substrate holding jig 100A into the inner hole of the plurality of upright disc-shaped substrates 1 and/or dummy substrates. The guide bar 150a is configured to be movable forward and backward with respect to the inner holes of the plurality of disc-shaped substrates 1 and/or dummy substrates set upright by a known drive mechanism.

後述するとおり、ガイドバー150aは、まず自身が内孔に挿入された後に当該内孔から引き抜かれる動作を行う。そしてガイドバー150aが内孔を離脱する際にめっき処理用基板保持治具100Aを伴うことで、継ぎ目なく入れ替わる形でめっき処理用基板保持治具100Aが内孔に挿入されることになる。
このとき、ガイドバー150aにはめっき処理用基板保持治具100Aを円盤状基板1の内孔を通るような外径に維持する機能を有していてもよい。例えば、図7(b)に示すガイドバー150bの先端を開口した筒状体150cとし、めっき処理用基板保持治具100Aの一端(ガイドバーと接触する側)を第1の位置P1の状態で筒状体150cに挿入するようにしてもよい。このように構成することで、めっき処理用基板保持治具100Aの可動片20Aを第1の位置P1の状態に維持することができる。
なおカローセルCとしては、本実施形態では図示を省略したが、例えば治具取付用のC形軸受部材(不図示)などが配設された公知の形状を適用できる。
As will be described later, the guide bar 150a performs an operation in which it is first inserted into the inner hole and then pulled out from the inner hole. When the guide bar 150a leaves the inner hole, it is accompanied by the plating substrate holding jig 100A, so that the plating substrate holding jig 100A is inserted into the inner hole in a seamless manner.
At this time, the guide bar 150a may have a function of maintaining the outer diameter of the plating substrate holding jig 100A such that it passes through the inner hole of the disc-shaped substrate 1. For example, the tip of the guide bar 150b shown in FIG. 7(b) is made into a cylindrical body 150c with an open end, and one end (the side that contacts the guide bar) of the plating substrate holding jig 100A is placed in the first position P1. It may also be inserted into the cylindrical body 150c. With this configuration, the movable piece 20A of the plating substrate holding jig 100A can be maintained at the first position P1.
Although not shown in the present embodiment, the carousel C may have a known shape in which, for example, a C-shaped bearing member (not shown) for mounting a jig is provided.

次に図8も参照しつつ本実施形態のめっき処理用基板保持治具における基板保持方法について説明する。
まずステップ1では、不図示の供給機構によってめっき処理前の複数の円盤状基板1が載置部110に並べて載置される。このとき図7からも明らかなとおり、複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板は立った状態で並置されている。
Next, a method for holding a substrate in the plating substrate holding jig of this embodiment will be described with reference to FIG. 8 as well.
First, in step 1, a plurality of disk-shaped substrates 1 before plating are placed side by side on the placing section 110 by a supply mechanism (not shown). At this time, as is clear from FIG. 7, the plurality of disc-shaped substrates 1 and/or dummy substrates are arranged side by side in an upright state.

次いでステップ2では、円盤状基板1及び/又はダミー基板の外周を把持する。より具体的には、載置部110に並置された円盤状基板1及び/又はダミー基板に対し、把持部130でこれら基板の外周を把持する。さらに本ステップでは、把持部130が基板の外周を把持した状態でリフター部140が円盤状基板1及び/又はダミー基板をリフトアップする。
これにより、ガイドバー150が挿入可能なように複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板の内孔が直線的に並ぶ。
なおステップ2の状態においては、カローセルCの正面に把持部130で把持された円盤状基板1及び/又はダミー基板が位置付けられ、めっき処理用基板保持治具100Aはまだ内孔に挿入されておらず側方で待機した状態となっている。
Next, in step 2, the outer periphery of the disk-shaped substrate 1 and/or the dummy substrate is gripped. More specifically, the outer peripheries of the disk-shaped substrates 1 and/or dummy substrates juxtaposed on the mounting section 110 are gripped by the gripping section 130 . Further, in this step, the lifter section 140 lifts up the disk-shaped substrate 1 and/or the dummy substrate while the grip section 130 grasps the outer periphery of the substrate.
Thereby, the inner holes of the plurality of disc-shaped substrates 1 and/or dummy substrates are lined up linearly so that the guide bar 150 can be inserted.
Note that in the state of step 2, the disc-shaped substrate 1 and/or the dummy substrate held by the gripping part 130 are positioned in front of the carousel C, and the plating substrate holding jig 100A has not yet been inserted into the inner hole. It is now waiting on the side.

そしてステップ3では、可動片20Aにおける非挿入側のグリップ領域GR(図1参照)を把持する。より具体的には、図7に示す一対の軸押さえ部120のうち紙面右側(ガイドバー150が左側に配置されるので右側が非挿入側となる)の軸押さえ部120によって上記グリップ領域GRがグリップされる。これにより、可動片20Aが本体ロッド部10A側に引き寄せられて、当該可動片20Aが第1の位置P1に位置付けられる。 In step 3, the grip region GR (see FIG. 1) on the non-insertion side of the movable piece 20A is gripped. More specifically, of the pair of shaft retainers 120 shown in FIG. 7, the shaft retainer 120 on the right side in the paper (the right side is the non-insertion side because the guide bar 150 is disposed on the left side) allows the grip region GR to be be gripped. As a result, the movable piece 20A is drawn toward the main body rod portion 10A, and the movable piece 20A is positioned at the first position P1.

またステップ4では、複数の円盤状基板1及び/又はダミー基板(このときのこれら基板を「基板群」とも称する)の内孔と対向するように、基板群における非挿入側の外側(図7では右側の軸押さえ部120よりも右側)でめっき処理用基板保持治具100Aを待機させる。このとき、めっき処理用基板保持治具100Aの端部孔10h(図1参照)は、上記基板群の内孔と対向する位置に位置付けられている。 In addition, in step 4, the outer side of the non-inserted side of the board group (see FIG. 7 In this case, the plating substrate holding jig 100A is placed on standby (to the right of the right shaft holding part 120). At this time, the end hole 10h (see FIG. 1) of the plating substrate holding jig 100A is positioned to face the inner hole of the substrate group.

したがってステップ4まで至った後は、把持部130で基板群のそれぞれの外周が把持されつつ、挿入側からガイドバー150が挿入された場合にはそのままめっき処理用基板保持治具100Aの端部孔10hまで挿入可能な状態となっている。
なお上記したステップ2~4は少なくとも一部が並行して実行されてもよいし、ステップ2とステップ3が逆の順序で実行されてもよい。また、めっき処理用基板保持治具100Aがガイドバー150の進行方向と一致する箇所に配置される場合には、上記ステップ4は省略してもよい。
Therefore, after reaching step 4, while the gripping portion 130 grips the outer periphery of each substrate group, when the guide bar 150 is inserted from the insertion side, the end hole of the plating substrate holding jig 100A is inserted. It is possible to insert up to 10 hours.
Note that at least a portion of steps 2 to 4 described above may be executed in parallel, or steps 2 and 3 may be executed in the reverse order. Furthermore, if the plating substrate holding jig 100A is placed at a location that matches the direction of movement of the guide bar 150, step 4 may be omitted.

次いでステップ5では、ガイドバー150を挿入側(めっき処理用基板保持治具100Aが配置されていない側であり、図7の場合には紙面左側)から基板群の内孔に挿入しつつ、さらにガイドバー150の先端部がめっき処理用基板保持治具100Aの一部(端部孔10h)に挿入される。 Next, in step 5, while inserting the guide bar 150 into the inner hole of the substrate group from the insertion side (the side where the plating substrate holding jig 100A is not arranged, in the case of FIG. 7, the left side of the paper), The tip of the guide bar 150 is inserted into a part (end hole 10h) of the plating substrate holding jig 100A.

そして続くステップ6では、ガイドバー150を引き抜きつつ、めっき処理用基板保持治具100Aをガイドバー150と連動させて基板群の内孔に挿入する。上記のとおりステップ5の時点を経るとガイドバー150の先端部とめっき処理用基板保持治具100Aの端部孔10hは一体化している。したがってガイドバー150が基板群の内孔から引き抜かれる際には、ガイドバー150と連動するめっき処理用基板保持治具100Aも継ぎ目なく上記基板群の内孔に挿入されることが可能となっている。なお、このとき可動片20Aは軸押さえ部120によって第1の位置P1が維持された状態となっているか、又はガイドバーに150によって第1の位置P1が維持された状態となっている。
このように本実施形態では、一方の軸押さえ部120によって可動片20Aが第1の位置P1を維持したままで、ガイドバー150の上記した内孔からの引き抜き動作と連動して複数の円盤状基板のそれぞれの内孔にめっき処理用基板保持治具100Aが挿入される。
In the subsequent step 6, the plating substrate holding jig 100A is inserted into the inner hole of the substrate group in conjunction with the guide bar 150 while pulling out the guide bar 150. As described above, after step 5, the tip of the guide bar 150 and the end hole 10h of the plating substrate holding jig 100A are integrated. Therefore, when the guide bar 150 is pulled out from the inner hole of the substrate group, the plating substrate holding jig 100A that interlocks with the guide bar 150 can also be seamlessly inserted into the inner hole of the substrate group. There is. At this time, the movable piece 20A is maintained at the first position P1 by the shaft holding part 120, or the first position P1 is maintained by the guide bar 150.
In this embodiment, the movable piece 20A maintains the first position P1 by one of the shaft holding parts 120, and moves into a plurality of disk shapes in conjunction with the pulling operation of the guide bar 150 from the inner hole described above. A plating substrate holding jig 100A is inserted into each inner hole of the substrate.

なお本実施形態では、基板群の内孔にめっき処理用基板保持治具100Aを挿入する際にガイドバー150を補助的に用いたが、当該ガイドバー150は必ずしも必須ではなく適宜これを省略してもよい。
続きステップ7では、ステップ3で可動片20Aのグリップ領域GRを把持したまま、一対の軸押さえ部120を駆動してめっき処理用基板保持治具100AをカローセルCに装着する。このとき、例えば一対の軸押さえ部120は、めっき処理用基板保持治具100Aの端部領域ERを把持してもよい。また、ステップ7においてリフター部140を適宜退避させる動作を行ってもよい。めっき処理用基板保持治具100AをカローセルCに装着した後、軸押さえ部120による把持を解除し、可動片20Aを第2の位置P2の状態にすることができる。
In this embodiment, the guide bar 150 is used as an auxiliary when inserting the plating substrate holding jig 100A into the inner hole of the substrate group, but the guide bar 150 is not necessarily essential and may be omitted as appropriate. You can.
Continuing in step 7, the pair of shaft pressers 120 is driven to mount the plating substrate holding jig 100A on the carousel C while gripping the grip region GR of the movable piece 20A in step 3. At this time, for example, the pair of shaft holding parts 120 may grip the end region ER of the plating substrate holding jig 100A. Further, in step 7, the lifter section 140 may be retracted as appropriate. After the plating substrate holding jig 100A is attached to the carousel C, the holding by the shaft holding part 120 is released, and the movable piece 20A can be placed in the second position P2.

したがってステップ7では、可動片20Aが第1の位置P1となった状態で、複数の円盤状基板1を保持しためっき処理用基板保持治具100Aが、一対の軸押さえ部120によってカローセルCに取り付けられる動作が実行される。
なお、本実施形態では可動片20Aが第1の位置P1となった状態でカローセルCに取り付けることを例示したが、可動片20の位置を第1の位置P1から第2の位置P2へと遷移した状態にした後でカローセルCに取り付ける構成としてもよい。
Therefore, in step 7, with the movable piece 20A at the first position P1, the plating substrate holding jig 100A holding the plurality of disc-shaped substrates 1 is attached to the carousel C by the pair of shaft holding parts 120. The specified action is executed.
Note that in this embodiment, the movable piece 20A is attached to the carousel C in a state where it is in the first position P1, but the position of the movable piece 20 may be changed from the first position P1 to the second position P2. It may also be configured to be attached to the carousel C after it is brought into a state where it is.

そしてステップ8では予定枚数をカローセルCに設置したか否かが判定され、未だ予定枚数でない場合にはステップ1からの処理を再び実行し、予定枚数に達した場合には設置処理を完了してめっき前処理槽、めっき浴槽及び水洗・乾燥槽中へとカローセルCを移動させる。
なお、本実施形態に好適なめっき浴槽は、1又は複数のカローセルCを内包できる程度の大きさの金属製又は樹脂製の槽である。めっき前処理槽としては、脱脂、酸エッチング、脱スマット、1stジンケート、脱ジンケート、2ndジンケートに使用することができる。めっき浴槽としては、例えば上記した特許文献に開示された浴槽や他の公知の無電解めっき浴槽を適用することができる。本実施形態でめっき浴槽内に貯留されるめっき液は、一例として公知のNi-Pめっき液が適用可能であり、例えば硫酸ニッケル:20g/dm、次亜りん酸ソーダ:20g/dm、酢酸ソーダ:10g/dm、クエン酸ソーダ:10g/dmを含む水溶液などが例示できる。このほか、各工程間の水洗や乾燥でも使用することができ、生産性向上の観点から本発明を全ての工程で使用することが好ましいが、一部の工程のみで使用してもよい。
Then, in step 8, it is determined whether the planned number of sheets has been installed in the carousel C. If the planned number of sheets is not yet, the process from step 1 is executed again, and if the planned number has been reached, the installation process is completed. Carousel C is moved into the plating pretreatment tank, plating bath, and washing/drying tank.
The plating bath suitable for this embodiment is a metal or resin bath having a size that can accommodate one or more carousels C. The plating pretreatment tank can be used for degreasing, acid etching, desmutting, 1st zincate, dezincate, and 2nd zincate. As the plating bath, for example, the bathtub disclosed in the above-mentioned patent documents and other known electroless plating bathtubs can be used. The plating solution stored in the plating bath in this embodiment can be a known Ni-P plating solution, such as nickel sulfate: 20 g/dm 3 , sodium hypophosphite: 20 g/dm 3 , Examples include an aqueous solution containing 10 g/dm 3 of sodium acetate and 10 g/dm 3 of sodium citrate. In addition, it can be used for washing with water and drying between each step, and from the viewpoint of improving productivity, it is preferable to use the present invention in all steps, but it may be used only in some steps.

以上説明した本実施形態におけるめっき処理用基板保持治具100A、めっき処理装置200によれば、可動片20Aが第1の位置P1に在るときに複数の円盤状基板1の内孔1aにめっき処理用基板保持治具100Aを挿入でき、一方で移動機構30を介して可動片20Aが第2の位置P2に在るときは基板同士の接触を抑制しつつ可能な限り少ない接触箇所でこれらの基板を保持することができる。
これにより、たとえ基板の薄肉化が進んで厚みが極薄の基板(例えば厚みが0.635mm、0.6mm、0.5mmや0.38mmなど)となる場合でも、基板の揺れなどが抑制されて基板や治具からのノジュール発生を抑制しつつ、比較的多くの基板をめっき浴に浸漬させることが可能となる。
According to the plating substrate holding jig 100A and the plating processing apparatus 200 in this embodiment described above, when the movable piece 20A is in the first position P1, the inner holes 1a of the plurality of disc-shaped substrates 1 are plated. When the processing substrate holding jig 100A can be inserted and the movable piece 20A is at the second position P2 via the moving mechanism 30, the substrates can be held at as few contact points as possible while suppressing contact between the substrates. Can hold the substrate.
As a result, even if substrates become thinner and become extremely thin (for example, 0.635 mm, 0.6 mm, 0.5 mm, or 0.38 mm thick), shaking of the substrate can be suppressed. This makes it possible to immerse a relatively large number of substrates in the plating bath while suppressing the generation of nodules from the substrates and jigs.

≪第2実施形態≫
<めっき処理用基板保持治具100B>
以下、図9を用いて第2実施形態にかかるめっき処理用基板保持治具100Bを説明する。なお、以下の説明において、第1実施形態と機能および効果が共通する構成については、同じ参照番号を付して適宜その説明は省略する(後述する第3実施形態~第6実施形態および変形例についても同様)。
≪Second embodiment≫
<Substrate holding jig 100B for plating process>
Hereinafter, a substrate holding jig 100B for plating processing according to the second embodiment will be explained using FIG. In the following description, components having functions and effects common to those of the first embodiment will be given the same reference numerals, and the description thereof will be omitted as appropriate. (The same applies to)

上記した第1実施形態においては、リミット部31及び弾性部材32を含んで移動機構30が構成されていた。これに対して本実施形態では、図9に示されるとおり、本体ロッド部10Bと可動片20Bとで相対的に接触しながらスライド移動する一対の傾斜面13a、23aによって、本体ロッド部10Bに対して可動片20Bが近接又は離間する点に特徴がある。 In the first embodiment described above, the moving mechanism 30 includes the limit section 31 and the elastic member 32. On the other hand, in this embodiment, as shown in FIG. 9, the main body rod part 10B and the movable piece 20B have a pair of inclined surfaces 13a and 23a that slide while being in relative contact with each other. The feature is that the movable pieces 20B approach or separate from each other.

すなわち図9(a)に示すとおり、可動片20Bが第1の位置P1に位置付けられるときに、めっき処理用基板保持治具100Bの外径はD3(外形長さ)となる。この状態においては、第1実施形態と同様に、基板群の内孔をめっき処理用基板保持治具100Bが挿入可能となっている。
また、本体ロッド部10Bの傾斜面13aの端部に基準端13bが、可動片20Bの傾斜面23aの端部には基準端23bがそれぞれ形成されており、互いの基準端が接触することで上記した外径D3(外形長さ)の大きさが規定されている。
That is, as shown in FIG. 9A, when the movable piece 20B is positioned at the first position P1, the outer diameter of the plating substrate holding jig 100B becomes D3 (outer length). In this state, similarly to the first embodiment, the plating substrate holding jig 100B can be inserted into the inner hole of the substrate group.
Further, a reference end 13b is formed at the end of the inclined surface 13a of the main body rod portion 10B, and a reference end 23b is formed at the end of the inclined surface 23a of the movable piece 20B. The size of the above-mentioned outer diameter D3 (outer length) is specified.

一方で図9(b)に示すとおり、めっき処理用基板保持治具100Bの外径(外形長さ)がD2となるとき、換言すれば可動片20Bが第2の位置P2に位置付けられるときは、本体ロッド部10Bのうち端(本例では両端)の傾斜面13aに立設された係止フック31b(リミット部31の一形態)が可動片20Bの挿入溝31zに挿入される。これにより可動片20Bが第2の位置P2となるときでも、本体ロッド部10Bに対して可動片20Bが径方向RDへ大きく離脱してしまうことが抑制されている。 On the other hand, as shown in FIG. 9(b), when the outer diameter (outer length) of the plating substrate holding jig 100B is D2, in other words, when the movable piece 20B is positioned at the second position P2, A locking hook 31b (one form of the limit section 31) provided upright on the inclined surface 13a at the end (both ends in this example) of the main body rod section 10B is inserted into the insertion groove 31z of the movable piece 20B. Thereby, even when the movable piece 20B is at the second position P2, the movable piece 20B is prevented from being largely separated from the main body rod portion 10B in the radial direction RD.

なお本体ロッド部10Bに対して可動片20Bを取り付ける際は、図9(a)の状態が確保できるように、可動片20Bの傾斜面23aの一部に切り欠き23dを設ける。
また、このめっき処理用基板保持治具100Bを構成する本体ロッド部10Bや可動片20Bは、例えば切削加工や、3Dプリンターなど3次元造形が可能な公知の手法によって形成することができる。
Note that when attaching the movable piece 20B to the main body rod portion 10B, a cutout 23d is provided in a part of the inclined surface 23a of the movable piece 20B so as to ensure the state shown in FIG. 9(a).
Further, the main body rod portion 10B and the movable piece 20B that constitute the plating substrate holding jig 100B can be formed by, for example, cutting or a known method capable of three-dimensional modeling such as a 3D printer.

以上説明した第2実施形態のめっき処理用基板保持治具100Bによれば、弾性部材32を介さずに本体ロッド部10Bに対する可動片20Bの移動を実現することができる。これにより、第1実施形態と同様の効果を奏することができ、さらに本実施形態によれば弾性部材の経時劣化による交換などの作業を省略することが可能となっている。 According to the plating substrate holding jig 100B of the second embodiment described above, the movable piece 20B can be moved relative to the main body rod portion 10B without using the elastic member 32. Thereby, the same effects as in the first embodiment can be achieved, and furthermore, according to the present embodiment, it is possible to omit operations such as replacement of the elastic member due to deterioration over time.

<めっき処理装置200>
次に本実施形態におけるめっき処理装置200およびこの装置を用いた基板保持方法並びにめっき処理方法について詳述する。なお、第1実施形態と重複する点については説明を省略し、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
<Plating processing apparatus 200>
Next, the plating processing apparatus 200, a substrate holding method using this apparatus, and a plating processing method in this embodiment will be described in detail. Note that descriptions of points that overlap with the first embodiment will be omitted, and only portions that are different from the first embodiment will be described.

本実施形態において、ガイドバー150aは、まず自身が円盤状基板1の内孔1aに挿入された後に当該内孔1aから引き抜かれる動作を行う点で実施形態1と同様であるが、可動片20を第1の位置P1から第2の位置P2へ遷移する態様が異なる。
すなわち本実施形態におけるめっき処理装置200では、めっき処理用基板保持治具が円盤状基板1の内孔1aを通る程度の外形長さに維持する機能として、例えば、めっき処理用基板保持治具100Bが内孔1aに挿入された後、可動片20Bが進行方向に押し込まれることにより可動片20Bが第2の位置P2の状態に遷移するような構成(図9も参照。図10も同様)とすることができる。
In this embodiment, the guide bar 150a is similar to the first embodiment in that it is first inserted into the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1 and then pulled out from the inner hole 1a, but the movable piece 20 The mode of transition from the first position P1 to the second position P2 is different.
That is, in the plating processing apparatus 200 according to the present embodiment, as a function of maintaining the external length of the plating processing substrate holding jig to the extent that it passes through the inner hole 1a of the disc-shaped substrate 1, for example, the plating processing substrate holding jig 100B is used. After the movable piece 20B is inserted into the inner hole 1a, the movable piece 20B is pushed in the direction of movement, thereby transitioning the movable piece 20B to the second position P2 (see also FIG. 9, and the same applies to FIG. 10). can do.

あるいはこれに代えて、図11に示す可動片20Dの形態においては、円盤状基板1の内孔1aにめっき処理用基板保持治具100Dが挿入された後に、可動片20Dを第2の位置P2に遷移するようにロボットハンドなどを用いて遷移させることができる。
このように本実施形態においては、可動片20を第2の位置P2に遷移させた後にカローセルCへ載置することで、めっき処理用基板保持治具100をめっき処理装置200に取り付けることが可能となる。
Alternatively, in the form of the movable piece 20D shown in FIG. The transition can be made using a robot hand or the like so that the transition occurs.
In this embodiment, the plating substrate holding jig 100 can be attached to the plating apparatus 200 by moving the movable piece 20 to the second position P2 and then placing it on the carousel C. becomes.

≪第3実施形態≫
<めっき処理用基板保持治具100C>
以下、図10を用いて第3実施形態にかかるめっき処理用基板保持治具100Cを説明する。上記した第2実施形態においては、係止フック31bが本体ロッド部10Bに対して一体で形成されていた。これに対して本実施形態では、本体ロッド部10Cのうちの傾斜面13aに一対の着脱可能な係止フック31c(リミット部31の一形態)が設けられている点に特徴がある。
≪Third embodiment≫
<Substrate holding jig for plating process 100C>
Hereinafter, a plating processing substrate holding jig 100C according to the third embodiment will be described using FIG. 10. In the second embodiment described above, the locking hook 31b is integrally formed with the main body rod portion 10B. In contrast, the present embodiment is characterized in that a pair of detachable locking hooks 31c (one form of the limit section 31) are provided on the inclined surface 13a of the main body rod section 10C.

このように本体ロッド部の傾斜面に設けられる係止フックは、本体ロッド部と一体的に形成されている形態に限られず、本形態のように本体ロッド部と係止フックとが別体として構成されていてもよい。また、本実施形態において係止フックは一対(2つ)で構成されていてもよいし、3つ以上の任意の数又は単一の係止フックで構成されていてもよい(第2実施形態も同様)。 The locking hook provided on the inclined surface of the main body rod portion in this way is not limited to the form in which it is formed integrally with the main body rod portion, but the main body rod portion and the locking hook may be formed as separate bodies as in this embodiment. may be configured. Further, in this embodiment, the locking hooks may be configured in a pair (two), or may be configured in any number of three or more, or a single locking hook (in the second embodiment (same as well).

≪第4実施形態≫
<めっき処理用基板保持治具100D>
以下、図11を用いて第4実施形態にかかるめっき処理用基板保持治具100Dを説明する。上記した第2実施形態および第3実施形態においては、本体ロッド部と可動片とがそれぞれめっき処理用基板保持治具における一方の端部と他方の端部を構成していた。
≪Fourth embodiment≫
<Substrate holding jig 100D for plating process>
Hereinafter, a substrate holding jig 100D for plating processing according to a fourth embodiment will be described using FIG. 11. In the second and third embodiments described above, the main body rod portion and the movable piece constituted one end and the other end of the plating substrate holding jig, respectively.

これに対して本実施形態では、本体ロッド部10Dがめっき処理用基板保持治具における一方の端部と他方の端部の双方を構成し、可動片20Dは本体ロッド部10Dの凹部13eに埋没されている点に特徴がある。
この態様によれば、上記した各実施形態のめっき処理用基板保持治具100A~Cに比して、めっき処理用基板保持治具100の軸方向ADにおける全長が変わらず安定して支持することなどが可能となっている。
また、図11(b)の状態、すなわち第2の位置P2を維持するために凹部13eのスペースに不図示のスペーサーなどを入れてもよい。
In contrast, in this embodiment, the main body rod portion 10D constitutes both one end and the other end of the substrate holding jig for plating processing, and the movable piece 20D is buried in the recess 13e of the main body rod portion 10D. It is characterized by the fact that it is
According to this aspect, compared to the plating substrate holding jigs 100A to 100C of each of the embodiments described above, the plating substrate holding jig 100 can be stably supported without changing its overall length in the axial direction AD. etc. are now possible.
Further, in order to maintain the state shown in FIG. 11(b), that is, the second position P2, a spacer (not shown) or the like may be inserted into the space of the recess 13e.

≪第5実施形態≫
<めっき処理用基板保持治具100E>
以下、図12を用いて第5実施形態にかかるめっき処理用基板保持治具100Eを説明する。上記した各実施形態においては、保持領域SRにおける部材は樹脂(一例としてPEEK樹脂)により構成されていた。これに対して本実施形態では、本体ロッド部10と可動片20の少なくとも一方における保持領域SRが異なる複数の材料で構成されている点に主とした特徴がある。なお、さらに、本実施形態では、上記保持領域SRの構成に代えて又は加えて、一対の端部領域ER(両端)における構成配列が互いに異なるように構成されている点にも特徴がある。
≪Fifth embodiment≫
<Substrate holding jig 100E for plating process>
Hereinafter, a plating processing substrate holding jig 100E according to a fifth embodiment will be described using FIG. 12. In each of the embodiments described above, the members in the holding region SR were made of resin (for example, PEEK resin). On the other hand, the main feature of this embodiment is that the holding region SR in at least one of the main body rod portion 10 and the movable piece 20 is made of a plurality of different materials. Furthermore, this embodiment is also characterized in that, instead of or in addition to the configuration of the holding region SR, the configuration arrangement in the pair of end regions ER (both ends) is configured to be different from each other.

すなわち、図12から理解されるとおり、めっき処理用基板保持治具100Eは、本体ロッド部10Eおよび可動片20Eを備えている。また、めっき処理用基板保持治具100Eは、円盤状基板1を所定の間隙ごとに保持する保持領域SRとこの保持領域SRを挟むように第一端部領域ER1と第二端部領域ER2を含んで構成されている。 That is, as understood from FIG. 12, the plating substrate holding jig 100E includes a main body rod portion 10E and a movable piece 20E. The plating substrate holding jig 100E also includes a holding area SR for holding the disc-shaped substrate 1 at predetermined intervals, and a first end area ER1 and a second end area ER2 sandwiching this holding area SR. It is composed of:

そしてこの保持領域SRに関して、本体ロッド部10Eと可動片20Eの各々は、軸方向ADに沿って延在する芯材IMと、この芯材IMの外面を覆って円盤状基板1と接触可能な外装樹脂材ORと、で構成されている。なお本実施形態では、本体ロッド部10Eと可動片20Eの各々が複合材料(上記芯材IMと外装樹脂材OR)で構成されているが、芯材IMの強度を調整すれば上述のとおり本体ロッド部10と可動片20の少なくとも一方が複合材料で構成されていてもよい。 Regarding this holding region SR, each of the main body rod portion 10E and the movable piece 20E has a core material IM extending along the axial direction AD, and can contact the disk-shaped substrate 1 by covering the outer surface of the core material IM. It is composed of an exterior resin material OR. In this embodiment, the main body rod portion 10E and the movable piece 20E are each made of a composite material (the above-mentioned core material IM and exterior resin material OR), but if the strength of the core material IM is adjusted, the main body can be formed as described above. At least one of the rod portion 10 and the movable piece 20 may be made of a composite material.

芯材IMは、例えばSUS(ステンレス鋼材)や表面処理を施したアルミ材など公知の金属材料やセラミックで形成される。本実施形態の芯材IMは、上記外装樹脂材ORよりも高い強度を有している。また、芯材IMは、本体ロッド部10Eの芯材IMと可動片20Eの芯材IMとが互いに対向するようにそれぞれの外装樹脂材ORに対して内側に配置されている。なお、芯材IMは外装樹脂材ORと軸方向ADにおける長さがほぼ等しく設定されているが、これに限られず例えば外装樹脂材ORよりも軸方向ADの長さが短くなっているなどに互いの異なる長さとなっていてもよい。 The core material IM is made of a known metal material or ceramic, such as SUS (stainless steel material) or surface-treated aluminum material. The core material IM of this embodiment has higher strength than the exterior resin material OR. Moreover, the core material IM is arranged inside the respective exterior resin materials OR so that the core material IM of the main body rod portion 10E and the core material IM of the movable piece 20E face each other. Although the length of the core material IM in the axial direction AD is set to be approximately the same as that of the exterior resin material OR, the length of the core material IM in the axial direction AD is not limited to this, for example, the length of the core material IM in the axial direction AD is set to be shorter than that of the exterior resin material OR. They may have different lengths.

また、本実施形態の芯材IMは、その幅(軸方向と直交する径方向における長さ)が一様となるように軸方向ADに沿って延在している。しかしながら本実施形態の芯材IMは、上記の例に限られず、例えば保持領域SRの中央に向かうにつれて上記した幅が大きくなるなど軸方向ADに沿って幅が変化するように延在していてもよい。 Moreover, the core material IM of this embodiment extends along the axial direction AD so that its width (length in the radial direction perpendicular to the axial direction) is uniform. However, the core material IM of the present embodiment is not limited to the above example, and extends so that the width changes along the axial direction AD, for example, the above-mentioned width increases toward the center of the holding region SR. Good too.

外装樹脂材ORは、上記した芯材IMの外面を覆って円盤状基板1と接触可能に構成されている。かような外装樹脂材ORの材質は、例えばPEEKなど公知の樹脂材を適用できる。また、図12に示すように、外装樹脂材ORと芯材IMは、それぞれの組で分離可能となっている。 The exterior resin material OR is configured to cover the outer surface of the above-mentioned core material IM so as to be able to come into contact with the disc-shaped substrate 1. As the material of such an exterior resin material OR, a known resin material such as PEEK can be used, for example. Moreover, as shown in FIG. 12, the exterior resin material OR and the core material IM can be separated into respective sets.

より具体的に、一方の外装樹脂材ORと芯材IMの組では、外装樹脂材ORと芯材IMとに連結孔33aが形成されるとともに、この連結孔33aの内部にネジなど公知の連結部材33cが設けられる。また、他方の外装樹脂材ORと芯材IMの組においても、上記と同様にして外装樹脂材ORと芯材IMの組が連結孔33bと連結部材33dを介して連結される。
これにより、保持領域SRにおいて、上記した一対の外装樹脂材ORと芯材IMの組がそれぞれで連結されるとともに、一方の外装樹脂材ORと芯材IMの組と他方の外装樹脂材ORと芯材IMの組とが分離可能となっている。
More specifically, in one set of the exterior resin material OR and the core material IM, a connection hole 33a is formed between the exterior resin material OR and the core material IM, and a known connection such as a screw is formed inside this connection hole 33a. A member 33c is provided. Furthermore, in the other pair of exterior resin material OR and core material IM, the pair of exterior resin material OR and core material IM are connected via the connecting hole 33b and the connecting member 33d in the same manner as described above.
As a result, in the holding region SR, the above-mentioned pair of exterior resin material OR and core material IM are connected to each other, and one pair of exterior resin material OR and core material IM is connected to the other exterior resin material OR. The set of core material IM can be separated.

図12に示すとおり、本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Eは、上記保持領域SRを挟むように一対の端部領域(第一端部領域ER1、第二端部領域ER2)を含んで構成されている。また既述した各実施形態で示したように、本実施形態においても、移動機構30は、可動片20Eと本体ロッド部10Eの間に配置された弾性部材32と、この可動片20Eの交差方向への移動範囲を規定するリミット部31と、を備えている。 As shown in FIG. 12, the plating substrate holding jig 100E of this embodiment includes a pair of end regions (a first end region ER1, a second end region ER2) sandwiching the holding region SR. It consists of Moreover, as shown in each of the embodiments described above, in this embodiment as well, the moving mechanism 30 includes an elastic member 32 disposed between the movable piece 20E and the main body rod portion 10E, and a direction in which the movable piece 20E crosses and a limit section 31 that defines a movement range.

また、本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Eでは、第一端部領域ER1の端面において、ガイドバー150aを挿入可能な端部孔10hが形成されている。また、可動片20Eにもこの端部孔10hと連続してガイドバー150aの先端部が収容される収容孔24が形成されている。 Furthermore, in the plating substrate holding jig 100E of this embodiment, an end hole 10h into which the guide bar 150a can be inserted is formed on the end surface of the first end region ER1. Furthermore, an accommodation hole 24 is formed in the movable piece 20E so as to be continuous with the end hole 10h and accommodate the tip of the guide bar 150a.

図12に示すように、例えばガイドバー150aが端部孔10h及び収容孔24に挿入されるときは、ガイドバー150aの先端テーパー部が収容孔24を径方向RDに押し上げることで、上記した一対の本体ロッド部10Eと可動片20Eが互いに移動して近接することになる。一方で例えばガイドバー150aを端部孔10h及び収容孔24から引き抜くと、弾性部材32の作用によって上記した一対の本体ロッド部10Eと可動片20Eが所定のクリアランスを有して互いに離間した状態となる。
なお、本実施形態への理解をより促進させるため、説明の便宜上、この図12のうち下側(可動片20Eが本体ロッド部10Eから離間した状態)の図では、外装樹脂材ORと連結部材33c及び33dが不図示とされている。
As shown in FIG. 12, for example, when the guide bar 150a is inserted into the end hole 10h and the accommodation hole 24, the tapered end portion of the guide bar 150a pushes up the accommodation hole 24 in the radial direction RD, so that the above-mentioned pair The main body rod portion 10E and the movable piece 20E move toward each other. On the other hand, for example, when the guide bar 150a is pulled out from the end hole 10h and the accommodation hole 24, the above-mentioned pair of main body rod portions 10E and movable piece 20E are separated from each other with a predetermined clearance due to the action of the elastic member 32. Become.
In order to facilitate understanding of the present embodiment, for convenience of explanation, the lower side of FIG. 33c and 33d are not shown.

このとき本実施形態では、一方の端部領域(第一端部領域ER1)における弾性部材32とリミット部31の配列は、他方の端部領域(第二端部領域ER2)における弾性部材32とリミット部31の配列と異なるように構成されている。
より具体的に本実施形態では、第一端部領域ER1では弾性部材32よりもリミット部31の方が保持領域SRに対して遠くに配置される一方で、第二端部領域ER2ではリミット部31よりも弾性部材32の方が保持領域SRに対して遠くに配置されている。
At this time, in this embodiment, the arrangement of the elastic member 32 and the limit part 31 in one end region (first end region ER1) is different from that of the elastic member 32 in the other end region (second end region ER2). The arrangement is different from that of the limit section 31.
More specifically, in the present embodiment, in the first end region ER1, the limit portion 31 is disposed farther from the holding region SR than the elastic member 32, while in the second end region ER2, the limit portion 31 is disposed farther from the holding region SR. The elastic member 32 is located further away from the holding region SR than the elastic member 31 is.

このように一方の端部領域と他方の端部領域でリミット部31と弾性部材32の配列と互いに異なるように構成することで、保持領域SRにおける上記クリアランスが軸方向ADに沿ってほぼ一定幅とすることが可能となっている。
なお本実施形態では、収容孔24が形成される側の端部においてリミット部31の方が弾性部材32よりも外側に配置されているが、この形態に限られず収容孔24が形成される側の端部において弾性部材32の方がリミット部31よりも外側に配置されていてもよい。
By configuring the arrangement of the limit part 31 and the elastic member 32 to be different from each other in one end region and the other end region, the above-mentioned clearance in the holding region SR can be maintained at a substantially constant width along the axial direction AD. It is now possible to do so.
Note that in this embodiment, the limit portion 31 is disposed outside the elastic member 32 at the end on the side where the accommodation hole 24 is formed, but the present invention is not limited to this configuration. The elastic member 32 may be disposed outside the limit portion 31 at the end portion of the elastic member 32 .

なお上述のとおり、上記したクリアランスが軸方向ADに沿って安定する(例えば極端に狭くなったりしない)限りにおいて、上記した第一端部領域ER1と第二端部領域ER2とで同じ配列となるようリミット部31と弾性部材32を設置してもよい。
以上説明した本実施形態によれば、上記した各実施形態と同様に、よりシンプルな構造で基板や治具からの発塵を低減することでノジュール発生を抑制しつつ、比較的多くの円盤状基板を保持してめっき浴中に浸漬させることが可能となる。さらに本実施形態では、保持領域SRにおいて異なる材料が用いられた場合にはその強度を高めることができ、上記したクリアランスを軸方向ADに沿って安定させることができる。
As mentioned above, as long as the above-described clearance is stable (for example, not extremely narrow) along the axial direction AD, the above-described first end region ER1 and second end region ER2 will have the same arrangement. Alternatively, a limit portion 31 and an elastic member 32 may be provided.
According to the present embodiment described above, similarly to each of the above-described embodiments, a relatively large number of disc-shaped It becomes possible to hold the substrate and immerse it in the plating bath. Furthermore, in this embodiment, when a different material is used in the holding region SR, its strength can be increased, and the above-described clearance can be stabilized along the axial direction AD.

≪第6実施形態≫
<めっき処理用基板保持治具100F>
以下、図13及び14を用いて第6実施形態にかかるめっき処理用基板保持治具100Fを説明する。上記した各実施形態においては、リミット部31と弾性部材32とによって本体ロッド部10に対する可動片20の近接/離間状態を制御していた。これに対して本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Fでは、リミット部31と弾性部材32を装備せず、このめっき処理用基板保持治具100Fが装着される部材(例えばカローセルC)と協働して本体ロッド部10に対する可動片20の径方向RDへの近接/離間状態を制御する点に主とした特徴がある。
≪Sixth embodiment≫
<Substrate holding jig 100F for plating process>
Hereinafter, a substrate holding jig 100F for plating processing according to a sixth embodiment will be described using FIGS. 13 and 14. In each of the embodiments described above, the limit portion 31 and the elastic member 32 control the proximity/separation state of the movable piece 20 with respect to the main body rod portion 10. On the other hand, the plating substrate holding jig 100F of this embodiment is not equipped with the limit portion 31 and the elastic member 32, and the plating substrate holding jig 100F is attached to a member (for example, carousel C). The main feature is that the movable piece 20 cooperates with the main body rod portion 10 to control the approach/separation state in the radial direction RD.

すなわち、図13から理解されるとおり、めっき処理用基板保持治具100Fは、可動片20Fと本体ロッド部10Fの一方に形成されたガイド孔GHと、この可動片20Fと本体ロッド部10Fの他方に形成されてガイド孔GHに挿入されるガイドピンGPとを備えた移動機構30を含んで構成されている。このように本実施形態における移動機構30は、上記したリミット部31及び弾性部材32は備えておらず、部品点数が少なくシンプルな構成となっている。
一方で同図からも明らかなとおり本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Fでは、本体ロッド部10Fと可動片20Fのそれぞれに端部領域ERが設けられている。換言すれば、これら本体ロッド部10Fと可動片20Fは、その構造上において自力で開閉(互いに離間)できないことから、その代わりとして端部領域ERが本体ロッド部10F側と可動片20F側にそれぞれ設けられている必要がある。
That is, as understood from FIG. 13, the plating substrate holding jig 100F has a guide hole GH formed in one of the movable piece 20F and the main body rod part 10F, and a guide hole GH formed in the other side of the movable piece 20F and the main body rod part 10F. The moving mechanism 30 includes a guide pin GP formed in the guide hole GH and inserted into the guide hole GH. In this way, the moving mechanism 30 in this embodiment does not include the limit portion 31 and the elastic member 32 described above, and has a simple configuration with a small number of parts.
On the other hand, as is clear from the figure, in the plating substrate holding jig 100F of this embodiment, an end region ER is provided in each of the main body rod portion 10F and the movable piece 20F. In other words, because the main body rod part 10F and the movable piece 20F cannot open and close (separate from each other) by themselves due to their structure, the end regions ER are arranged on the main body rod part 10F side and the movable piece 20F side, respectively. Must be provided.

なお、同図からも明らかなとおり、本実施形態における可動片20Fと本体ロッド部10Fは、ガイド孔GHとガイドピンGPを除いて対称構造となっている。したがって、本実施形態ではガイドピンGPを有する側を本体ロッド部10Fと規定しつつガイド孔GHを有する側を可動片20Fとしたが、この規定に限られずガイドピンGPを有する側を可動片20Fとしてもよい。 As is clear from the figure, the movable piece 20F and the main body rod portion 10F in this embodiment have a symmetrical structure except for the guide hole GH and guide pin GP. Therefore, in the present embodiment, the side having the guide pin GP is defined as the main body rod part 10F, and the side having the guide hole GH is defined as the movable piece 20F, but the specification is not limited to this, and the side having the guide pin GP is the movable piece 20F. You can also use it as

このようにめっき処理用基板保持治具100Fではリミット部31と弾性部材32を装備していないため、自身の作用で上記したクリアランスの状態を制御できない。そこで本実施形態では、第二端部領域ER2の端面に端部孔10iを形成するとともに、ガイドバー150bがこの端部孔10iに挿入されることで本体ロッド部10Fと可動片20Fとが近接した状態が維持される構成とした。すなわち本実施形態では、ガイドバー150bの先端は本体ロッド部10Fと可動片20Fとの近接状態(第1の位置)を維持できる形状となっており、本体ロッド部10Fと可動片20Fの端部にそれぞれ形成された凸をまとめて拘束するような凹みを有している。ガイドバー150bの先端形状は、本体ロッド部10Fと可動片20Fの端部を近接状態に維持できる程度に拘束可能な形状であればよく、図7(b)のような筒状や、図13のような凹み状や、先鋭の円柱状で凹みを有するソケットのような形状などであってもよい。さらには、本体ロッド部と可動片の近接状態を維持できる形状であれば種々の形状であってもよく、上記に代えて二股状であってもよい。 As described above, since the plating substrate holding jig 100F is not equipped with the limit portion 31 and the elastic member 32, it cannot control the above-described clearance state by its own action. Therefore, in this embodiment, the end hole 10i is formed in the end surface of the second end region ER2, and the guide bar 150b is inserted into the end hole 10i, so that the main rod portion 10F and the movable piece 20F are brought close to each other. The configuration is such that this state is maintained. That is, in this embodiment, the tip of the guide bar 150b has a shape that allows the main body rod part 10F and the movable piece 20F to maintain a close state (first position), and the end of the main body rod part 10F and the movable piece 20F It has a concavity that collectively restrains the convexities formed on each side. The tip shape of the guide bar 150b may be any shape that can be restrained to the extent that the main body rod portion 10F and the end of the movable piece 20F can be maintained in a close state, and may be a cylindrical shape as shown in FIG. 7(b) or a shape as shown in FIG. It may be a concave shape such as , or a socket-like shape having a sharp cylindrical concave shape. Furthermore, various shapes may be used as long as the main body rod portion and the movable piece can be maintained in a close state, and a bifurcated shape may be used instead of the above.

他方で、例えば本体ロッド部10Fに対して可動片20Fを離間させるときは、他の部材と協働することとなっている。かような他の部材としては、上記しためっき処理装置のうちカローセルCが例示できる。
すなわち、図14に示すように、本実施形態におけるカローセルCは、本実施形態のめっき処理用基板保持治具100Fにおける端部領域ERを拘束する治具取付用軸受け部材12を備えている。
On the other hand, when moving the movable piece 20F away from the main body rod portion 10F, for example, it is supposed to cooperate with other members. An example of such another member is the carousel C of the above-mentioned plating processing apparatus.
That is, as shown in FIG. 14, the carousel C in this embodiment includes a jig attachment bearing member 12 that restrains the end region ER of the plating substrate holding jig 100F of this embodiment.

かような治具取付用軸受け部材12は、同図に示すとおり、軸受12aと押し付け部材12bを含んで構成されている。なお、この治具取付用軸受け部材12の構造は、国際公開WO2018/083914号に開示されたカローセル13に設けられる治具取付用軸受け部材12と同様となっている。従って、カローセルCへの治具取付用軸受け部材12の取り付け態様やこの治具取付用軸受け部材12の詳細構造については、上記したWO2018/083914号の内容を参照することができる。 As shown in the figure, such a jig mounting bearing member 12 includes a bearing 12a and a pressing member 12b. The structure of this jig attachment bearing member 12 is similar to the jig attachment bearing member 12 provided in the carousel 13 disclosed in International Publication WO 2018/083914. Therefore, regarding the attachment manner of the jig attachment bearing member 12 to the carousel C and the detailed structure of the jig attachment bearing member 12, reference can be made to the contents of WO2018/083914 mentioned above.

そして図14に示すように、円盤状基板1をめっき浴槽に浸漬するためのめっき処理装置(カローセルC)にめっき処理用基板保持治具100Fが装着される際は、可動片20Fと本体ロッド部10Fの間に、当該めっき処理装置の治具取付用軸受け部材12に形成された垂直突起VPが挿入されることによって、可動片20Fと本体ロッド部10Fとが互いに離間される。
なお、めっき処理用基板保持治具100Fの本体ロッド部10Fと可動片20Fの少なくとも一方には、治具取付用軸受け部材12の垂直突起VPの先端が本体ロッド部10Fと可動片20Fとの間に挿入されるのをガイドするためのガイド傾斜面を有していることが好ましく、本体ロッド部10Fと可動片20Fの双方に上記したガイド傾斜面が形成されていることがより好ましい。
As shown in FIG. 14, when the plating substrate holding jig 100F is attached to the plating processing apparatus (carousel C) for immersing the disc-shaped substrate 1 in the plating bath, the movable piece 20F and the main body rod part 10F, the vertical protrusion VP formed on the jig attachment bearing member 12 of the plating processing apparatus is inserted, so that the movable piece 20F and the main body rod portion 10F are separated from each other.
Note that at least one of the main body rod portion 10F and the movable piece 20F of the plating substrate holding jig 100F has a tip of the vertical projection VP of the jig mounting bearing member 12 between the main body rod portion 10F and the movable piece 20F. It is preferable that the main body rod portion 10F and the movable piece 20F have the above-mentioned guide inclined surfaces formed on both the main body rod portion 10F and the movable piece 20F.

このとき、図14(c)からも理解されるとおり、本体ロッド部10Fと可動片20Fとの間のクリアランスの幅D1は、垂直突起VPの幅で規定されることになる。また、本体ロッド部10Fと可動片20Fとの間に垂直突起VPが挿入されるに従って本体ロッド部10Fと可動片20Fとが互いに離間することになり、これによりめっき処理用基板保持治具100Fの第1収容溝G1内で円盤状基板1を保持することが可能となっている。
また、治具取付用軸受け部材12に装着されためっき処理用基板保持治具100Fは、本体ロッド部10Fと可動片20Fのそれぞれに接する押しつけ部材12bによって垂直突起VP側に押し付けられることで、上記したクリアランスの幅D1が保たれる。
At this time, as understood from FIG. 14(c), the width D1 of the clearance between the main body rod portion 10F and the movable piece 20F is defined by the width of the vertical projection VP. Further, as the vertical protrusion VP is inserted between the main body rod part 10F and the movable piece 20F, the main body rod part 10F and the movable piece 20F are separated from each other, and this causes the plating substrate holding jig 100F to move away from the main body rod part 10F and the movable piece 20F. It is possible to hold the disc-shaped substrate 1 within the first accommodation groove G1.
Further, the plating substrate holding jig 100F attached to the jig mounting bearing member 12 is pressed against the vertical projection VP side by the pressing member 12b in contact with the main body rod portion 10F and the movable piece 20F, respectively. The clearance width D1 is maintained.

ここで本実施形態におけるめっき処理装置への着脱動作について、図8を用いて実施形態1と異なるところのみを説明する。
ステップ6において、ガイドバーをめっき処理用基板保持治具100Fの端部から外す場合、グリップ領域GRを軸押さえ部120によって第1の位置P1(本体ロッド部10Fと可動片20Fが近接)の状態に維持できるように把持した後に、ガイドバーをめっき処理用基板保持治具100Fの端部から離れるように動作する。
Here, regarding the attachment/detachment operation to the plating processing apparatus in this embodiment, only the differences from Embodiment 1 will be explained using FIG.
In step 6, when removing the guide bar from the end of the plating substrate holding jig 100F, the grip region GR is moved to the first position P1 (the main body rod part 10F and the movable piece 20F are close to each other) by the shaft holding part 120. After gripping the plating substrate holding jig 100F, the guide bar is moved away from the end of the plating substrate holding jig 100F.

また、ステップ7においてめっき処理用基板保持治具100FをカローセルCに装着する場合、本体ロッド部10Fと可動片20Fが徐々に離間することを許容する程度に把持している必要がある。一方、めっき処理用基板保持治具100FをカローセルCから離脱させた後は、軸押さえによって第1の位置P1の状態を維持し、ガイドバーの装着を待つ。
軸押さえ部120は、めっき処理用基板保持治具100Fを把持する力を適宜制御できることが好ましく、めっき処理用基板保持治具100Fを第1の位置P1の状態に維持するための補助的な動作をしてもよい。
Furthermore, when mounting the plating substrate holding jig 100F on the carousel C in step 7, it is necessary to grip it to the extent that the main body rod portion 10F and the movable piece 20F are allowed to gradually separate. On the other hand, after the plating substrate holding jig 100F is removed from the carousel C, it is maintained at the first position P1 by holding the shaft and waits for the guide bar to be attached.
It is preferable that the shaft holding part 120 can appropriately control the force with which it grips the substrate holding jig 100F for plating processing, and performs an auxiliary operation to maintain the substrate holding jig 100F for plating processing in the state of the first position P1. You may do so.

なお上記で説明した実施形態は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。以下、本発明に適用が可能な変形例について説明する。
<変形例1>
図15に上記各実施形態に適用が可能な変形例1に係るめっき処理用基板保持治具を示す。上記各実施形態では端部領域ERの断面は保持領域SRと同様の円形であったが、この形態に限られず端部領域ERは断面が多角形状であってもよい。なお、本変形例1では、めっき処理用基板保持治具の端部領域ERは断面が六角形状となっているが、上記した断面が四角形状や三角形状であってもよい。
このようにめっき処理用基板保持治具においては、径方向RDにおける保持領域SRの断面形状と、径方向RDにおける端部領域ERの断面形状とを、互いに異なるように構成してもよい。
Note that the embodiment described above can be modified in various ways without departing from the spirit of the present invention. Modifications applicable to the present invention will be described below.
<Modification 1>
FIG. 15 shows a substrate holding jig for plating processing according to Modification 1 that can be applied to each of the above embodiments. In each of the embodiments described above, the cross section of the end region ER is circular like the holding region SR, but the cross section of the end region ER is not limited to this shape, and the cross section of the end region ER may be polygonal. Note that in Modification 1, the end region ER of the plating substrate holding jig has a hexagonal cross section, but the cross section may also be square or triangular.
In this way, in the substrate holding jig for plating processing, the cross-sectional shape of the holding region SR in the radial direction RD and the cross-sectional shape of the end region ER in the radial direction RD may be configured to be different from each other.

<変形例2>
図16に上記各実施形態や変形例1に適用が可能な変形例2に係るめっき処理用基板保持治具を示す。すなわち本体ロッド部と可動片とは必ずしも1対1の関係である必要はなく、本例に示すように1対多、又は複数対複数の関係を有していてもよい。
より具体的には、図16(a)に示すように、本体ロッド部10に対して異なる数の可動片20が移動機構30を介して径方向RDに移動可能に設けられていてもよい。なお同図においては可動片20の数の方が本体ロッド部10の数よりも大きいが、その逆の構成となっていてもよい。
<Modification 2>
FIG. 16 shows a plating substrate holding jig according to a second modification that can be applied to each of the above embodiments and the first modification. That is, the main body rod portion and the movable piece do not necessarily have to have a one-to-one relationship, but may have a one-to-many relationship or a plurality-to-many relationship as shown in this example.
More specifically, as shown in FIG. 16(a), different numbers of movable pieces 20 may be provided to the main body rod portion 10 so as to be movable in the radial direction RD via the movement mechanism 30. In the figure, the number of movable pieces 20 is greater than the number of main body rod portions 10, but the configuration may be reversed.

また、図16(b)に示すように、リミット部31と弾性部材32の機能が一体化された移動機構30(フランジを有するゴム等で構成された弾性伸縮片31x)が用いられていてもよい。
また、図16(c)に示すように、可動片20が、リミット部31と弾性部材32の機能が一体化された他の形態の移動機構30(リング状ゴム31y)を介して連環される構成となっていてもよい。なおこの形態においては、図示していない本体ロッド部10が可動片20と接続されており、複数の可動片20のみが移動機構30(リング状ゴム31y)を介して連環される構成となっていてもよい。
Further, as shown in FIG. 16(b), even if a moving mechanism 30 (elastic stretchable piece 31x made of rubber or the like having a flange) in which the functions of the limit part 31 and the elastic member 32 are integrated is used. good.
Further, as shown in FIG. 16(c), the movable piece 20 is linked via another type of moving mechanism 30 (ring-shaped rubber 31y) in which the functions of the limit part 31 and the elastic member 32 are integrated. It may be configured as follows. In this embodiment, the main body rod portion 10 (not shown) is connected to the movable pieces 20, and only the plurality of movable pieces 20 are linked via the moving mechanism 30 (ring-shaped rubber 31y). You can.

<変形例3>
図17に変形例3に係るめっき処理用基板保持治具を示す。
上記した各実施形態や変形例では可動片20が平行移動を行う形態を例示していたが、本変形例のように可動片20は平行移動以外の移動形態であってもよい。
すなわち図17(a)に示すように、本変形例3における可動片20は、上記した第1の位置P1に位置付けられており、その基端部が軸支持部20pを基点に旋回が可能なように軸支持されている。このとき可動片20の基端部は、弾性部材32(本例ではバネ)によって第1の位置P1の状態が維持されるように付勢されている。
<Modification 3>
FIG. 17 shows a substrate holding jig for plating processing according to Modification 3.
In each of the embodiments and modifications described above, the movable piece 20 moves in parallel, but as in this modification, the movable piece 20 may move in a form other than parallel movement.
That is, as shown in FIG. 17(a), the movable piece 20 in the present modification 3 is positioned at the above-described first position P1, and its base end can pivot around the shaft support 20p. It is axially supported. At this time, the base end portion of the movable piece 20 is urged by an elastic member 32 (a spring in this example) so as to maintain the state at the first position P1.

そして本変形例3における可動片20の先端部は、半径方向における大きさが徐々に拡大するように構成されている。これにより、図17(b)に示すように、カム機構Cm(移動機構30)が周方向(軸周り)に回転すると、このカム機構Cmによって上記先端部が上記した交差方向に移動して第2の位置P2に位置付けられることが可能となっている。
このように本変形例では移動機構30の一例であるカム機構Cmによって可動片20の先端部が旋回することで、上記した第2の位置P2となって円盤状基板1を保持することが可能となる。なおカム機構Cmが図17(a)の状態となると、上記した弾性部材32によって可動片20は第1の位置P1に戻されることとなる。
The distal end portion of the movable piece 20 in Modification 3 is configured such that the size in the radial direction gradually increases. As a result, as shown in FIG. 17(b), when the cam mechanism Cm (moving mechanism 30) rotates in the circumferential direction (around the axis), the cam mechanism Cm moves the tip in the above-mentioned cross direction. 2 position P2.
In this modification, the distal end of the movable piece 20 is rotated by the cam mechanism Cm, which is an example of the moving mechanism 30, so that the disk-shaped substrate 1 can be held at the second position P2 described above. becomes. Note that when the cam mechanism Cm is in the state shown in FIG. 17(a), the movable piece 20 is returned to the first position P1 by the elastic member 32 described above.

なお変形例3における移動機構30としてのカム機構Cmは1つのみ図示されているが、本発明はこの形態に限られるものではない。
すなわち図18(a)に示すとおり、めっき処理用基板保持治具の軸周り(周方向)において複数のカム機構Cmが設けられていてもよい。同図に示す形態では、軸周りで合計2つのカム機構Cmが配置されており、このカム機構Cmに対応して2つの可動片20がそれぞれその先端部が旋回可能なように基端部が軸支持されている。
Note that although only one cam mechanism Cm as the moving mechanism 30 in Modification 3 is illustrated, the present invention is not limited to this form.
That is, as shown in FIG. 18(a), a plurality of cam mechanisms Cm may be provided around the axis (circumferential direction) of the plating substrate holding jig. In the form shown in the figure, a total of two cam mechanisms Cm are arranged around the shaft, and corresponding to the cam mechanisms Cm, two movable pieces 20 each have their proximal ends so that their distal ends can pivot. Axially supported.

さらに上記した移動機構30としてのカム機構Cmは、めっき処理用基板保持治具の中心軸を基準として回転するように構成されていたが、本発明はこの形態に限られるものではない。
すなわち図18(b)に示すとおり、カム機構Cmがめっき処理用基板保持治具の径方向に向けて直線移動する形態であってもよい。この場合、同図に示す例では可動片20が複数設置されているが、いずれか一方のみ設置される形態であってもよい。
また、図18(b)に示すとおり、可動片20を第2の位置P2に移動するためには、ガイドバー150によってカム機構Cmを回転させるようにしてもよい。例えば、カム機構Cmの挿入側表面にプラス形状の溝を形成し、ガイドバー150の先端をその溝に合うようプラスの凸形状とすることでカム機構Cmを回転させることができる。
Furthermore, although the cam mechanism Cm as the above-mentioned moving mechanism 30 was configured to rotate with respect to the central axis of the plating substrate holding jig, the present invention is not limited to this form.
That is, as shown in FIG. 18(b), the cam mechanism Cm may move linearly in the radial direction of the plating substrate holding jig. In this case, in the example shown in the figure, a plurality of movable pieces 20 are installed, but only one of them may be installed.
Further, as shown in FIG. 18(b), in order to move the movable piece 20 to the second position P2, the cam mechanism Cm may be rotated by the guide bar 150. For example, the cam mechanism Cm can be rotated by forming a plus-shaped groove on the insertion side surface of the cam mechanism Cm and making the tip of the guide bar 150 have a plus-shaped convex shape to match the groove.

<変形例4>
図19に変形例4に係るめっき処理用基板保持治具を示す。
上記した第2実施形態~第4実施形態におけるめっき処理用基板保持治具では、可動片20が軸方向に沿った移動成分も有するため、第1の位置P1と第2の位置P2とで収容溝の位置がシフトする構成となっていた。
<Modification 4>
FIG. 19 shows a substrate holding jig for plating processing according to modification 4.
In the substrate holding jig for plating processing in the second to fourth embodiments described above, since the movable piece 20 also has a movement component along the axial direction, it is accommodated at the first position P1 and the second position P2. The structure was such that the position of the groove shifted.

これに対して本変形例4における可動片20は、第1の位置P1と第2の位置P2との移動経路において径方向RDへの移動のみで軸方向に沿った移動成分は含まない。そして本変形例における移動機構30としてのカム機構Cmは、カム本体cbと、このカム本体cbに形成されて上記したリミット部31を兼用するカム溝cgと、このカム溝cg内を移動可能なカムピンcpと、このカムピンcpに連結されたカムシャフトcsとを含んで構成されている。
なおカム本体cbは、軸方向に沿って直線的な移動が可能となるように、本体ロッド部10内の規制溝(不図示)などで径方向への移動が制限されている。
In contrast, the movable piece 20 in Modification 4 moves only in the radial direction RD in the movement path between the first position P1 and the second position P2, and does not include a movement component along the axial direction. The cam mechanism Cm as the moving mechanism 30 in this modification includes a cam body cb, a cam groove cg formed in the cam body cb and also serving as the above-mentioned limit part 31, and a cam mechanism Cm that is movable within the cam groove cg. It is configured to include a cam pin CP and a camshaft CS connected to the cam pin CP.
The movement of the cam body cb in the radial direction is restricted by a restriction groove (not shown) in the main body rod portion 10 so that the cam body cb can move linearly along the axial direction.

そして図19(a)に示すとおり、可動片20を第1の位置P1に位置付ける際には、ガイドバー150dの凸状先端部150eを本体ロッド部10の端部から挿入することで、可動片20が本体ロッド部10内に収容された状態となる。
一方で図19(b)に示すとおり、可動片20を第2の位置P2に位置付ける際には、ガイドバー150dの凸状先端部150eを本体ロッド部10の端部から離脱させる。
これにより、弾性部材32に付勢されたカム本体cbの移動に追従してカムピンcpがカム溝cgを移動し、可動片20が本体ロッド部10から径方向RDへ向けて離脱する状態となる。
以上説明した変形例1~4においても、上記した実施形態と同様な効果を奏することが可能となっている。
As shown in FIG. 19(a), when positioning the movable piece 20 at the first position P1, the movable piece 20 is inserted by inserting the convex tip 150e of the guide bar 150d from the end of the main body rod part 10. 20 is housed within the main body rod portion 10.
On the other hand, as shown in FIG. 19(b), when the movable piece 20 is positioned at the second position P2, the convex tip 150e of the guide bar 150d is separated from the end of the main body rod portion 10.
As a result, the cam pin cp moves in the cam groove cg following the movement of the cam body cb biased by the elastic member 32, and the movable piece 20 becomes detached from the main body rod portion 10 in the radial direction RD. .
Modifications 1 to 4 described above can also achieve the same effects as the embodiment described above.

なお、上記した実施形態では、可動片20の断面形状が真円を一部切り取った(分割)した円弧となるように構成しているが、本体ロッド部10や可動片20の断面形状は必ずしも真円を切り取った円弧となっておらずともよい。すなわち本発明の本体ロッド部や可動片の断面形状は、楕円や蒲鉾形あるいは船底形など真円でない円弧状など、外周や溝底の少なくとも一部において直線が含まれる曲線形状となっていてもよい。
これにより、例えば可動片20Aの断面形状が蒲鉾形の場合には1方向の移動で合計2箇所(2方向)での円盤状基板1の保持が可能となる。
In the embodiment described above, the cross-sectional shape of the movable piece 20 is configured to be an arc obtained by cutting out (dividing) a part of a perfect circle, but the cross-sectional shape of the main body rod portion 10 and the movable piece 20 is not necessarily the same. It does not have to be an arc cut out of a perfect circle. That is, the cross-sectional shape of the main body rod portion and movable piece of the present invention may be a curved shape that includes a straight line in at least a portion of the outer periphery or groove bottom, such as an arc shape that is not a perfect circle, such as an ellipse, a semicircle shape, or a boat bottom shape. good.
Thereby, for example, when the cross-sectional shape of the movable piece 20A is a semi-cylindrical piece, it is possible to hold the disc-shaped substrate 1 at a total of two locations (two directions) by moving in one direction.

また、上記実施形態では、円盤状基板1の用途としてHDD向けの磁気ディスク(磁気記録媒体)を例にして説明したが、磁気ディスク以外の他の用途に適用してもよい。この場合、その用途に即してめっき浴槽内のめっき液が変更されることは言うまでもない。
また、第1実施形態では可動片20Aの少なくとも一方の端部にテーパー部20tが形成されていることが好ましいとしたが、第2実施形態以降においても同様である。
Further, in the above embodiment, the use of the disk-shaped substrate 1 has been explained using a magnetic disk (magnetic recording medium) for HDD as an example, but it may be applied to other uses other than magnetic disks. In this case, it goes without saying that the plating solution in the plating bath is changed depending on the application.
Further, in the first embodiment, it is preferable that the tapered portion 20t is formed at at least one end of the movable piece 20A, but the same applies to the second and subsequent embodiments.

以上説明したように、本発明のめっき処理用基板保持治具およびめっき処理装置は、各種めっき処理される基板の製造に適しており、幅広い分野の産業への適用が可能である。 As described above, the plating substrate holding jig and plating apparatus of the present invention are suitable for manufacturing substrates to be plated in various ways, and can be applied to a wide range of industries.

1 基板
10 本体ロッド部
20 可動片
30 移動機構
100 めっき処理用基板保持治具
110 載置部
120 軸押さえ部
130 把持部
140 リフター部
150 ガイドバー
200 めっき処理装置

1 Substrate 10 Main body rod part 20 Movable piece 30 Moving mechanism 100 Plating processing substrate holding jig 110 Placing part 120 Shaft holding part 130 Gripping part 140 Lifter part 150 Guide bar 200 Plating processing apparatus

Claims (11)

円盤状基板の内孔へ軸方向に沿って挿入可能な外形長さを有する本体ロッド部と、
前記本体ロッド部に対して前記軸方向と交差する交差方向に近接又は離間可能な可動片と、
前記可動片を前記本体ロッド部に対して前記交差方向に移動させる移動機構と、を具備し、
前記可動片は、
前記本体ロッド部に近接して当該本体ロッド部と共に前記円盤状基板の内孔を通過可能な第1の位置と、
前記第1の位置よりも交差方向において外側であって、前記めっき処理用基板保持治具における前記外形長さが前記基板の内孔の径よりも大きくなる第2の位置と、
に位置付けられることを特徴とするめっき処理用基板保持治具。
a main body rod portion having an external length that can be inserted into the inner hole of the disc-shaped substrate along the axial direction;
a movable piece that can approach or move away from the main body rod portion in a cross direction that intersects the axial direction;
a moving mechanism that moves the movable piece in the cross direction with respect to the main body rod portion,
The movable piece is
a first position that is close to the main body rod portion and can pass through the inner hole of the disc-shaped substrate together with the main body rod portion;
a second position which is outside the first position in the cross direction and where the external length of the plating substrate holding jig is larger than the diameter of the inner hole of the substrate;
A substrate holding jig for plating processing, characterized in that it is positioned as
前記移動機構は、前記可動片の前記交差方向への移動範囲を規定するリミット部を含み、
前記リミット部によって前記第1の位置と前記第2の位置とがそれぞれ規定されてなる請求項1に記載のめっき処理用基板保持治具。
The moving mechanism includes a limit portion that defines a movement range of the movable piece in the intersecting direction,
The substrate holding jig for plating processing according to claim 1, wherein the first position and the second position are each defined by the limit portion.
前記移動機構は前記可動片と前記本体ロッド部の間に配置された弾性部材を含み、
前記リミット部はフランジ部を有する笠部材を含み、
前記笠部材は、前記フランジ部が前記可動片の内部で前記交差方向に移動するように、その基端が前記本体ロッド部に立設されてなる請求項に記載のめっき処理用基板保持治具。
The moving mechanism includes an elastic member disposed between the movable piece and the main body rod portion,
The limit part includes a cap member having a flange part,
3. The plating substrate holding jig according to claim 2 , wherein the cap member has a base end erected on the main body rod portion so that the flange portion moves in the cross direction inside the movable piece. Ingredients.
前記リミット部および前記弾性部材からなるユニットが、前記本体ロッド部の軸方向に関して少なくとも2組設けられている請求項3に記載のめっき処理用基板保持治具。 4. The substrate holding jig for plating processing according to claim 3, wherein at least two units including the limit portion and the elastic member are provided in the axial direction of the main body rod portion. 前記本体ロッド部は、前記円盤状基板を所定の間隙ごとに保持する保持領域と、前記保持領域の両端に配置される端部領域と、を含み、
前記交差方向における前記保持領域の断面形状と、前記交差方向における前記端部領域の断面形状は、互いに異なる請求項1~4のいずれか一項に記載のめっき処理用基板保持治具。
The main body rod portion includes a holding area that holds the disc-shaped substrate at predetermined intervals, and end areas disposed at both ends of the holding area,
5. The substrate holding jig for plating processing according to claim 1, wherein a cross-sectional shape of the holding region in the cross direction and a cross-sectional shape of the end region in the cross direction are different from each other.
前記本体ロッド部に対して異なる数の前記可動片が前記移動機構を介して前記交差方向に移動可能に設けられている請求項1~5のいずれか一項に記載のめっき処理用基板保持治具。 The substrate holding jig for plating processing according to any one of claims 1 to 5, wherein a different number of the movable pieces are provided to be movable in the intersecting direction via the moving mechanism with respect to the main body rod part. Ingredients. 前記本体ロッド部および前記可動片は、
前記円盤状基板を所定の間隙ごとに保持する保持領域を含み、
前記保持領域において、前記軸方向に沿って延在する芯材と、前記芯材の外面を覆って前記円盤状基板と接触可能な外装樹脂材と、で構成されてなる、
請求項1~6のいずれか一項に記載のめっき処理用基板保持治具。
The main body rod portion and the movable piece are
including a holding area that holds the disc-shaped substrate at predetermined intervals;
In the holding area, the holding area includes a core material extending along the axial direction, and an exterior resin material that covers the outer surface of the core material and is capable of contacting the disk-shaped substrate.
The substrate holding jig for plating processing according to any one of claims 1 to 6.
前記本体ロッド部は、前記円盤状基板を所定の間隙ごとに保持する保持領域と、前記保持領域を挟むように前記保持領域の両端に配置された端部領域を含み、
前記移動機構は、前記可動片と前記本体ロッド部の一方に形成されたガイド孔と、前記可動片と前記本体ロッド部の他方に形成されて前記ガイド孔に挿入されるガイドピンと、を備え、
前記可動片と前記本体ロッド部はそれぞれ前記端部領域を有する、
請求項1~7のいずれか一項に記載のめっき処理用基板保持治具。
The main body rod portion includes a holding area that holds the disk-shaped substrate at predetermined intervals , and end areas arranged at both ends of the holding area so as to sandwich the holding area,
The moving mechanism includes a guide hole formed in one of the movable piece and the main body rod portion, and a guide pin formed in the other of the movable piece and the main body rod portion and inserted into the guide hole,
the movable piece and the main body rod each have the end region;
A substrate holding jig for plating processing according to any one of claims 1 to 7 .
めっき浴槽内のめっき液中に円盤状基板を浸漬させるめっき処理装置であって、
めっき処理前の複数の円盤状基板が並べて載置される載置部と、
請求項1~8のいずれか一項に記載のめっき処理用基板保持治具をそれぞれ保持可能な一対の軸押さえ部と、を含み、
前記可動片が前記第1の位置を維持したままで、複数の前記円盤状基板のそれぞれの内孔に前記めっき処理用基板保持治具が挿入され、且つ、
前記可動片が前記第2の位置の状態でカローセルに取り付けられることを特徴とするめっき処理装置。
A plating processing apparatus that immerses a disc-shaped substrate in a plating solution in a plating bath,
a mounting section on which a plurality of disk-shaped substrates before plating are placed side by side;
A pair of shaft holding parts each capable of holding a substrate holding jig for plating processing according to any one of claims 1 to 8,
The plating substrate holding jig is inserted into each inner hole of the plurality of disk-shaped substrates while the movable piece maintains the first position, and
A plating processing apparatus, wherein the movable piece is attached to the carousel in the second position.
前記カローセルは、前記めっき処理用基板保持治具が搭載される治具取付用軸受け部材を有し、
前記治具取付用軸受け部材には、前記めっき処理用基板保持治具が装着される際に前記可動片と前記本体ロッド部の間に挿入される垂直突起が形成され、
前記垂直突起が前記可動片と前記本体ロッド部の間に挿入されることによって前記可動片と前記本体ロッド部が互いに離間される、
請求項9に記載のめっき処理装置。
The carousel has a jig mounting bearing member on which the plating substrate holding jig is mounted,
The jig mounting bearing member is formed with a vertical protrusion that is inserted between the movable piece and the main body rod portion when the plating substrate holding jig is mounted,
The vertical protrusion is inserted between the movable piece and the main body rod, so that the movable piece and the main body rod are separated from each other.
The plating processing apparatus according to claim 9.
めっき処理前の複数の円盤状基板が並べて載置される載置部と、
請求項1~8のいずれか一項に記載のめっき処理用基板保持治具を複数の前記円盤状基板のそれぞれの内孔に出し入れ可能なガイドバーと、を有し、
前記ガイドバーは、前記めっき処理用基板保持治具の前記可動片を前記第1の位置で維持するための先端を有することを特徴とするめっき処理装置。
a mounting section on which a plurality of disk-shaped substrates before plating are placed side by side;
A guide bar that allows the plating substrate holding jig according to any one of claims 1 to 8 to be inserted into and taken out from the inner hole of each of the plurality of disc-shaped substrates,
A plating processing apparatus, wherein the guide bar has a tip for maintaining the movable piece of the plating substrate holding jig at the first position.
JP2021526118A 2019-06-14 2020-06-10 Substrate holding jig and plating processing equipment for plating processing Active JP7386862B2 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019111053 2019-06-14
JP2019111053 2019-06-14
PCT/JP2020/022861 WO2020250935A1 (en) 2019-06-14 2020-06-10 Jig for holding substrates for plating treatment use, and plating treatment device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2020250935A1 JPWO2020250935A1 (en) 2020-12-17
JP7386862B2 true JP7386862B2 (en) 2023-11-27

Family

ID=73781414

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021526118A Active JP7386862B2 (en) 2019-06-14 2020-06-10 Substrate holding jig and plating processing equipment for plating processing

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP7386862B2 (en)
TW (1) TW202129635A (en)
WO (1) WO2020250935A1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000169964A (en) 1998-10-02 2000-06-20 Sumitomo Special Metals Co Ltd Supplying member for surface treatment, holder for surface treatment, surface treatment method as well as surface treatment apparatus
JP2002038275A (en) 2000-07-25 2002-02-06 Mitsubishi Materials Corp Disk support
JP2005089773A (en) 2003-09-12 2005-04-07 Fujitsu Ltd Electroless plating apparatus, and plating film manufacturing method using the apparatus

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3091050B2 (en) * 1993-04-28 2000-09-25 富士電機株式会社 Support for disk-shaped substrate
JPH0790596A (en) * 1993-09-10 1995-04-04 Mitsubishi Chem Corp Surface treating device and surface treatment
JPH11335857A (en) * 1998-05-27 1999-12-07 Nippon Light Metal Co Ltd Temporary placement disk for plating and plating of aluminum disk

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000169964A (en) 1998-10-02 2000-06-20 Sumitomo Special Metals Co Ltd Supplying member for surface treatment, holder for surface treatment, surface treatment method as well as surface treatment apparatus
JP2002038275A (en) 2000-07-25 2002-02-06 Mitsubishi Materials Corp Disk support
JP2005089773A (en) 2003-09-12 2005-04-07 Fujitsu Ltd Electroless plating apparatus, and plating film manufacturing method using the apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2020250935A1 (en) 2020-12-17
TW202129635A (en) 2021-08-01
WO2020250935A1 (en) 2020-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7322098B2 (en) Method of simultaneous two-disk processing of single-sided magnetic recording disks
US7687951B2 (en) Fluid dynamic bearing device and motor equipped with the same
US8215843B2 (en) Fluid dynamic bearing device
US20020164096A1 (en) Hydrodynamic bearing, hydrodynamic bearing apparatus, fabrication method of hydrodynamic bearing and bearing surface working method
JP2005336612A (en) Method and apparatus for applying voltage to substrate during plating
JP7386862B2 (en) Substrate holding jig and plating processing equipment for plating processing
CN114242447B (en) Winding pin head of network filter
JP2007066390A (en) Substrate for magnetic recording medium and method for manufacturing substrate for magnetic recording medium
US8707810B2 (en) Leadscrew drive with annular-shell leadscrew
JPH1135189A (en) Film type gripping member, manufacture thereof, gripping rotational member and manufacture thereof
JP7034083B2 (en) Plating jig and plating equipment
JP4642686B2 (en) Sliding bearing manufacturing method
JP4273334B2 (en) Plating jig, plating method, and ring-shaped plated product
KR20090128860A (en) Fabricating method of lead screw, lead screw and stepping motor using the same
WO2005095678A2 (en) Electroplating system and method
JP2006195360A (en) Conductive roller and method for manufacturing conductive roller
TWI796470B (en) Plating support for substrates for hard disks
CN220774280U (en) Water pipe guiding device of ion implanter and ion implanter
JP4633591B2 (en) Plain bearing
JP5371731B2 (en) Film forming method, substrate rotating apparatus, and vacuum processing apparatus
JP2007071375A (en) Method of manufacturing bearing member
JP2788711B2 (en) Optical pickup device
JP2007169757A (en) Tool for plating treatment
JP2007085391A (en) Slide bearing
JP2001297488A (en) Method for forming stamper

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230123

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230711

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230824

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231031

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231114

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7386862

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150