JP7372574B2 - 光半導体チップ - Google Patents

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Description

本発明は、光送信器などに用いられる光半導体チップに関する。光通信の大容量化は、基幹ネットワークからアクセス系ネットワークまで進んでいる。光送信器に対しても大容量化、高性能化が求められており、1つの鍵となる技術として光変調器の高速化が求められている。半導体の電界吸収効果を利用した電界吸収型(EA:Electro absorption)光変調器は、レーザ光源からの一定の光を利用する代表的な高速な光変調器の1つである。
図1は、従来技術のEA光変調器チップの構成を示す図である。図1の(a)はEA光変調器部が形成されたEA光変調器チップ10の一部の上面図を、(b)はIb-Ib線で基板を切った断面図を示す。図1の(b)の断面図をまず参照すると、EA光変調器は、n型半導体基板16の上に光吸収層15およびp型半導体層14が形成された導波路構造を持っている。光導波路の両脇は、絶縁層13によって埋め込まれている。図1に示さないレーザ部からの光を、p型半導体層14の上に形成された変調電極12へベースバンド信号(以下、変調信号)を印可して変調する。図1の(a)を参照すると、ワイヤボンディングやバンプなどを経由して変調信号を入力するために、変調電極12から光導波路に概ね垂直に向かって電極を延長し、電極パッド部11が形成される。電極パッド部11は40~100μm角程度のサイズを有し、変調電極12と直結した構造となっている。
電極パッド部11の下部は、半導体絶縁層15より誘電率が低い材料17で埋め込まれており、これにより電極パッド部11の寄生容量を減らす。変調信号が入力される電極パッド部11の寄生容量を減らすことで、10GHzを超える高周波領域でも周波数応答特性、反射特性の劣化を防ぐ。
上述のEA光変調器チップは、光と電気の間で変換機能を有する光半導体の基板上に作製されており、限定はしないが多くの場合は、ウェイファ状の光半導体基板上に作製された複数の回路を切断して、チップとして実現されている。図1に示したようなEA光変調器チップは、光半導体チップとも呼ばれる。
図2は、外部変調方式によるEA光変調器サブアセンブリの構成を示す図である。図2の(a)は、サブアセンブリ20の上面図を、(b)はIIb-IIb線で切ったサブアセンブリ20の断面図を示す。図2の(b)を参照すれば、サブアセンブリ20は、サブキャリア21の上に、RF(無線周波数:Radio Frequency)配線板22および光半導体チップ10が搭載されている。RF配線板22および光半導体チップ10は、終端器集積チップ23によって、金バンプ24a、24b介して接続されている。
図2の(a)を参照すれば、光半導体チップ10は、分布帰還型(DFB:Distributed Feedback)レーザ18および光導波路を備えており、前述の図1では光導波路の変調電極12が形成された光半導体チップ10の一部が示されている。RF配線板22は変調信号が入力されるRFパターン25を備えており、終端器集積チップ23も同様にRFパターンが形成されている。終端器集積チップ23は、変調信号を終端する抵抗26も形成されている。金バンプ24a、終端器集積チップ23、金バンプ24bを経由して、RFパターン25から光半導体チップ10の電極パッド部11までが電気的に接続される。
図3は、従来技術のEA光変調器サブアセンブリの等価回路モデル示す図である。等価回路モデル30は、図2のEA光変調器サブアセンブリ20の全体に対応しており、図1の光半導体チップ10に対応するチップ部等価回路36と、RF配線板22および終端器集積チップ23に対応するその他の等価回路部分とに分けられる。その他の等価回路は、RFパターン25に対応するインピーダンス32および終端抵抗26に対応するインピーダンス34および金バンプのインダクタ成分33からなる。
S. Kanazawa et. al., "Equalizer-free transmission of 100-Gbit/s 4-PAM signal generated by flip-chip interconnection EADFB laser module," 2017年2月15日, JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY, VOL. 35, NO. 4
ここで光半導体チップ10の等価回路36に着目すると、電極パッド部11に対応する寄生容量38は、図1に示した低誘電率材料17を埋め込むなどの構成により、既に相当に低減されている。光変調器の帯域特性に対しては、光半導体チップ10内の光半導体変調器部の等価回路37の内で、光吸収部15に対応する等価回路35における空乏層容量39が支配的な影響を与える。
光変調器のさらなる高速化、広帯域化を実現するにあたって、光吸収部の空乏層容量によって周波数応答特性、反射特性が制限されていることが新たな問題となっている。本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであって、目的とするところは、より高速化、広帯域化された光変調器を実現することにある。
本発明はこのような目的を達成するために、1つの実施態様は、光半導体チップであって、レーザ光源と、前記レーザ光源に光学的に接続され、第1のタイプの半導体ベース層、光吸収層および第2のタイプの半導体層が順に配置された光導波路の構造を有する光変調器と、変調信号が入力される電極パッド部と、前記第2のタイプの半導体層の上に構成された変調電極と、前記電極パッド部および前記変調電極を接続し、前記光導波路の空乏層容量に対して直列にインダクンスを与える高周波線路部とを備えた光半導体チップである。光半導体チップは、電界吸収型の光変調器として動作できる。
以上説明したように、本発明により高速化、広帯域化された光変調器を実現する。
従来技術の電界吸収型(EA)光変調器チップの構成を示す図である。 外部変調方式によるEA光変調器サブアセンブリの構成を示す図である。 従来技術のEA光変調器サブアセンブリの等価回路モデルを示す図である。 本開示の光半導体チップの構成を示す図である。 本開示のEA光変調器サブアセンブリの等価回路モデルを示す図である。 本開示のEA光変調器サブアセンブリの周波数応答他の図である。 本開示の実施例2の光半導体チップの構成を示す図である。 実施例2の光半導体チップを含むサブアセンブリ構成を示す図である。 実施例2のEA光変調器サブアセンブリの等価回路モデルを示す図である。 実施例2のEA光変調器サブアセンブリの周波数応答特性他の図である。 直列インダクタによる光変調器の広帯域化の効果を説明する図である。
本開示の光半導体チップは、変調信号を入力する電極パッドから光吸収層を含む光導波路上部の変調電極までの間に、高周波線路を備える。高周波線路部のインダクタ成分によって、空乏層容量を相殺する。高周波線路部の直下に低誘電率の材料を埋め込んだり、中空としたりすることによって、さらに寄生容量を減らす。高周波線路部は、直線状のほかジグザグ状(ミアンダ)とすることもできる。光半導体チップ上の電極パッドは、バンプやワイヤボンディングによって、RF線路を含む他の基板と接続することができる。以下の説明では、光半導体チップはEA変調器として動作するため、光半導体チップとEA光変調器チップの2つの用語を交換可能に使用する。
図4は、本開示の光半導体チップすなわちEA光変調器チップの構成を示す図である。従来技術の構成を示した図1と同様に、図4の(a)はEA光変調器部が形成された光半導体チップ40の一部の上面図を、(b)はIVb-IVb線で基板を切った断面図を示す。図4の(b)の断面図を参照すると、EA光変調器は、n型半導体基板46の上に、光吸収層45およびp型半導体層44が形成された光導波路構造を持っている。光導波路の両脇は、絶縁層43によって埋め込まれている。図4に示さないレーザ部からの光を、p型半導体層44の上に形成された変調電極42へ変調信号を印可して変調する。上述の光導波路構造は、図1の従来技術のEA光変調器チップの構成と同じである。従来技術のEA光変調器チップとの相違点は、電極パッド部41と変調電極42の間の構成にある。
図4の(a)を参照すると、ワイヤボンディングやバンプなどを経由して変調信号を入力する電極パッド部41と、変調電極42との間に、高周波線路部48を備える。高周波線路部48は、変調シンボルレートに対応した周波数において、所定の長さまで誘導性インピーダンスとなるような高周波伝送線路である。すなわち、高周波線路部48は、インダクタとして作用する。
電極パッド41および高周波線路部48の直下は、低誘電率材料47で埋め込まれている。これによって、電極パッド41および高周波線路部48における容量性インピーダンス成分をできるだけ小さくすることができる。電極パッド部41および高周波線路部48の直下のすべてを低誘電率材料47で埋め込むのではなく、電極パッド部41直下のみを低誘電率材料47で埋め込み、高周波線路部48直下を中空とすることもできる。このような中空部は、チップ上面のすべての電極を形成後に、高周波線路部48の下の低誘電率の材料47の部分のみを選択的にエッチング除去し、ブリッジ状に高周波線路部48を残すことで形成できる。低誘電率材料47または中空部によって、電極パッド部41および高周波線路部48の容量性インピーダンス成分をさらに小さくすることができる。
したがって本開示の光半導体チップは、レーザ光源と、前記レーザ光源に光学的に接続され、第1のタイプの半導体ベース層46、光吸収層45および第2のタイプの半導体層44が順に配置された光導波路の構造を有する光変調器と、変調信号が入力される電極パッド部41と、前記第2のタイプの半導体層の上に構成された変調電極42と、前記電極パッド部および前記変調電極を接続し、前記光導波路の空乏層容量に対して直列にインダクンスを与える高周波線路部48とを備えたものとして実施できる。
ここで、第1のタイプおよび第2のタイプは上述の光導波路の各部のドーピングのタイプに対応する。図4の例では、第1のタイプはn型半導体であり、第2のタイプはp型半導体であり得る。これらのタイプを逆にすることもできる。半導体ベース層は、光変調器チップを作製する半導体基板に対応する。
図5は、本開示の光半導体チップを含むサブアセンブリの等価回路モデルを示す図である。図4に示した本開示の光半導体チップ40は、電極パッド部41と変調電極42の間の構成が従来技術の光半導体チップ10と異なっている。したがって光半導体チップ40は、図2に示したサブアセンブリと同様の構成によって実装できる。すなわち、図2の従来技術の光半導体チップ10を図4の構成の光半導体チップ40に置き換えて、サブキャリア21の上のRF配線板22、終端器集積チップ23とともに、図2に示したようにサブアセンブリとして実装できる。
図5に示した等価回路50では、RFパターン25に対応するインピーダンス52、終端抵抗26に対応するインピーダンス54および金バンプのインダクタ成分53は、図3の等価回路とそれぞれ同じである。光半導体チップ40に対応するチップ部の等価回路56のみ、図3の従来技術のEA光変調器サブアセンブリの等価回路と異なっている。すなわち半導体チップ40に対応するチップ部の等価回路56において、電極バッド部41の寄生容量58と、光導波路に対応する変調器部の等価回路57の間に、高周波線路部48に対応するインダクタンス55が直列に含まれる。変調器部の等価回路57内の空乏層容量59およびインダクタンス55は直列に接続されている。このため、空乏層容量による容量性インピーダンス59の高周波領域でのインピーダンス減少を、高周波線路部48のインダクタンス55のインピーダンス増加で相殺することが可能となる。これにより、変調入力側からチップを見たリアクタンス成分を概ね一定にすることが可能となり、変調特性の周波数応答特性および反射特性の改善が可能となる。以下、より詳細な実施例について述べる。
図4を再び参照すると、一例を挙げれば本開示の光半導体チップ40は、InP、GaAsまたはSiを基板とすることができる。半導体EA光変調器の長さを75μm、高周波線路部48の信号線路幅を10μm、線路長は150μm、低誘電率材料47の厚さを5μm、比誘電率を2.3とした。電極パッド部は、円形状として直径を60μmとした。低誘電率材料47の例としては、ポリイミドなどの有機材料を利用できる。
図4に示した本開示の光半導体チップ40の光変調器部の周波数応答特性および反射特性を、従来技術と比較するために、図2に示したサブアセンブリの形態で光半導体チップ40を搭載して、EA光変調器としての性能を確認した。比較のために、高周波線路部48が無いこと以外は光半導体チップ40と同じ構造を有する図1に示したEA光変調器チップ10を用いたサブアセンブリも作製した。図2に示したサブアセンブリ20において、RF配線板22および終端器集積チップ23は、窒化アルミ等のセラミック材料または石英板などを利用できる。サブキャリア21としては、窒化アルミ基板などを利用できる。
光半導体チップ40の光導波路は、n型InP基板46上に、InGaAsPの量子井戸構造で構成される光吸収層45、p型InPによるp型半導体層44を順次形成した構成となっている。これらの光導波路の各部構成は一例であって、上述のようにEA光変調器のレーザおよび光導波路を作製するために、InP、GaAsまたはSi等を基板として様々な構成が可能である。また図4の光半導体チップ40の構成では基板側をn型半導体としたが、基板側をp型半導体とすることもできる。電極パッド部41には、外部からRF配線板22を経由して、変調電極42にDCバイアス電圧(-0.5~-2.5V)と変調信号(0.5~2.0 Vpp)の両方を重畳して印可した。
図2に示した光半導体チップを搭載した実装形態をサブアセンブリと呼ぶのは、光送信器、光伝送装置などの最終的な装置に対して、図2のサブアセンブリ20をさらに搭載するためである。サブアセンブリ20は、外部変調方式によるEA光変調器を含む光送信器などを実現するための、中間的な機能ブロック形態を示す。サブアセンブリは、単にアセンブリやモジュールなどと呼ぶこともできる。
図6は、本開示の光半導体チップを含むサブアセンブリの周波数応答特性および反射特性を示す図である。図6の(a)は電気/光応答(E/O応答)の周波数特性を、図6の(b)は入力電気信号の反射(リターンロス)をそれぞれdBで示している。いずれも、光コンポーネント・アナライザなどによって取得できる。図6の(a)によれば、従来技術のEA光変調器チップを使ったサブアセンブリの3dB帯域が58.3 GHzであった。これに対して、図4の光半導体チップを使った場合では61.6 GHzとなり、帯域幅が3GHz程度改善している。また図6の(b)の反射特性についても、従来技術の構成の場合では70GHzまでの範囲で最大-7dB程度まで反射損失(反射レベル)が増加していた。これに対して図4の光半導体チップを使用した構成の場合では、最大でも-9dB程度に反射損失が抑えられている。図6の各図から、変調信号を入力する電極パッドから光吸収層を含む光導波路上部の変調電極の間に、高周波線路を備えた構成によって、EA光変調器の周波数応答特性および反射特性が改善されることを確認できた。
次の光半導体チップの実施例では、高周波線路部として直線状の高周波導波路に代えて、ミアンダ構造を利用した例を示す。
図7は、本開示の実施例2の光半導体チップの構成を示す図である。図7の(a)はEA光変調器部が形成された光半導体チップ70の一部の上面図を、図7の(b)はVIIb-VIIb線で基板を切った断面図を示す。図7の(b)の断面図を参照すると、光半導体チップ70は、n型半導体基板76の上に、光吸収層75およびp型半導体層74が形成された光導波路構造を持っている。光導波路の両側は、絶縁層73によって埋め込まれている。変調電極72に対して、電極パッド部71がより高くなるよう絶縁層で埋め込んでいる。図7に示さないレーザ部(例えばDFBレーザ)からの光を、p型半導体層74の上に形成された変調電極72へ印可する変調信号によって変調する。光半導体チップ70の上述の光導波路構造は、両側の絶縁層73の構成を除いて図4の光半導体チップ40の構造と同じである。図4の半導体チップ40との大きな相違点は、電極パッド部71と変調電極72との間の構成にある。
本実施例では、電極パッド部71と変調電極72の間をジグザグ状のミアンダ配線77で接続している。図7の光半導体チップ70では、EA光変調器すなわち変調電極72の長さを75μmに、高周波線路部を0.06nHのインダクタとなるミアンダ配線77とした。電極パッド部71およびミアンダ配線77の下の絶縁層73の厚さは、光変調器を構成する光導波路の上面よりも高く10μmとして、電極パッド部71などによって生じる寄生容量を減らした。実施例1では金バンプを使用したいわゆるフリップチップ実装の例を示したが、本実施例では、サブアセンブリにおいてワイヤボンディングを領域78に接続し、電極パッド部71に変調信号を入力する構成とした。
図8は、実施例2のEA光変調器チップを含むサブアセンブリの構成を示す図である。図8の(a)は、サブアセンブリ80の上面図を、(b)はVIIIb-VIIIb線で切ったサブアセンブリ80の断面図を示す。図2の(b)を参照すれば、サブアセンブリ20は、サブキャリア81の上に、RF配線板82、光半導体チップ70-1および終端器集積チップ83が搭載されている。RF配線板82、光半導体チップ70-1、終端器集積チップ83は、それぞれワイヤ84-1~84-3によって接続されている。光半導体チップ70-1は、例えばDFBレーザ18および光導波路を備えており、前述の図7に示したEA光変調器チップ70は、光半導体チップ70-1の一部として、点線の矩形領域70で示されている。
RF配線板82は変調信号が入力されるRFパターン85を備えており、終端器集積チップ83は、変調信号を終端する抵抗86が形成されている。RFパターン85と、光半導体チップ70-1の電極パッド71が、ワイヤ84-1で接続される。また電極パッド71と、終端器集積チップ23の抵抗86の一端がワイヤ84-2で接続され、抵抗86のもう一端がワイヤ84-3で接地される。
図9は、実施例2のEA光変調器チップを含む図8のサブアセンブリの等価回路モデルを示す図である。等価回路90は、図5に示した実施例1のサブアセンブリの等価回路50と比較すると、高周波線路部77がミアンダとなり、金バンプに代えてワイヤ84-1~84-3によって接続される点で異なっている。光半導体チップ70-1に対応するチップ部の等価回路96を除いた部分には、RF配線板82に対応する等価回路92、終端器集積チップ83に対応する等価回路94、および3本のワイヤ84-1~84-3に対応するインダクタ100、101、102が含まれる。チップ部の等価回路96は、寄生容量98、ミアンダに対応するインダクタ93および光変調器部の光導波路に対応する等価回路97が含まれる。等価回路97には、空乏層容量99が含まれており、周波数応答特性、反射特性を制限していた。
図10は、実施例2のEA光変調器チップを含むサブアセンブリの周波数応答特性および反射特性を示す図である。図10の(a)はE/O応答の周波数特性を、図10の(b)は入力電気信号の反射をそれぞれdBで示している。図1の従来技術のEA光変調器チップ10を図8と同様にワイヤボンディングを使用して搭載した場合のサブアセンブリの周波数特性も示している。図10の(a)によれば、従来技術のEA光変調器チップを使ったサブアセンブリの3dB帯域が53.2 GHzであった。これに対して、図7の実施例2の光半導体チップを使った場合では55GHzとなり、帯域幅が1.8 GHz程度改善している。また図10の(b)の反射特性についても、従来技術の構成の場合では70GHzまでの範囲で最大-5dB程度まで反射損失(反射レベル)が増加していた。これに対して図7の光半導体チップを使用した構成の場合では、最大でも-6dB程度に反射損失が抑えられている。図10の各図から、変調信号を入力する電極パッドから光吸収層を含む光導波路上部の変調電極の間に、ミアンダによる高周波線路を備えた構成によって、EA光変調器の周波数応答特性および反射特性が改善されることが確認できた。さらに絶縁層を電極パッド部および高周波線路の直下の絶縁層を厚く構成して、寄生容量を減らすことも効果的である。
尚、インダクタンス成分を直列に付加することによる3dB帯域幅の改善量は、レーザ部(変調電極)の長さに依存することも確認されている。図11に示したE/O応答の結果は、EA長(変調電極の長さ)を75μmとした場合の例を示した。例えば、EA長がより短い場合は、インダクタンス最適値は、より小さい値に変化する。従来技術のEA変調器チップにおける電極パッド部から変調電極に至る構成は、不要なインダクタンス、容量をできる限り低減し、かつワイヤボンディングに十分な電極構造を確保するためのものである。したがって、電極パッド部と変調電極との間の距離はできるだけ短く、最大でも30μm以下に抑えられていた。本開示のEA変調器チップでは、高周波線路部が、変調入力側から見て変調器部に対して直列に付加されるインダクタ(誘導性リアクタンス)として作用する点で、従来技術と相違している点に留意されたい。
上述のように、EA光変調器チップにおける電極パッドと、光変調器として機能する光導波路上の変調電極との間で、直列に高周波線路部のインダクタ成分を備えることで、光導波路の空乏層容量を相殺する。このインダクタ成分は、例えば変調信号の周波数(例えばシンボル周波数)において、所定の特性インピーダンスとなるような線路幅を持っていれば、線路幅に限定は無い。また、高周波線路部のインピーダンスが誘導性リアクタンスとなるような線路長の範囲であれば良い。光導波路における寄生容量を減らすため、直列にインダクタンスを付加するためには、高周波線路部48、77の幅は細い方が好ましいが、ミクロン以下では電極の物理的な強度の問題がある。したがって、好ましくは電極パッド部71の直径以下であって、1μm以上の範囲が良い。
本開示のEA光変調器チップでは、光半導体チップに対応する等価回路56、96において、電極パッド部41、71の寄生容量58、98と、光導波路に対応する変調器部の等価回路57、97の間に、インダクタンス55、93が直列に含まれる。変調器部の等価回路57、97内の空乏層容量59、99およびインダクタンス55、93は直列に接続される。このため、リアクタンス成分が相殺して、空乏層容量の容量性インピーダンス59、99による高周波特性の劣化を抑えることができる。直列のインダクタンスの効果は、次のシミュレーションでも確認できる。
図11は、直列インダクタによる変調器の広帯域化の効果を説明する図である。図11は、図に示したミアンダによる高周波線路部を持つEA光変調器チップを、図2に示したようなフリップチップによってサブアセンブリを構成した場合、インダクタがE/O応答の周波数特性に与える影響をシミュレーションした。点線の0pHは、高周波線路部を含まない従来技術の構造に対応する。インダクタンスが60~100pH付近で、3dB帯域は最大となり、170pH付近では、従来技術の構造と同等の帯域特性となることがわかる。さらにインダクタンスを200pHまで増やすと、逆に、高周波線路部を適用しない場合よりも帯域が劣化することもわかる。したがって、InP基板で構成した光変調器においては、高周波線路部によって付加するインダクタンスは、概ね170pH(0.17nH)以下であるのが好ましい。高周波線路部によって付加するインダクタンス成分を、光変調器の構成に対応した光導波路の空乏層容量に応じて選択して、EA光変調器の変調帯域を最大化できることがシミュレーションからも確認された。
以上詳細に述べた通り、本開示の光半導体チップの構成によって、より高速化、広帯域化された光変調器を実現することができる。
本発明は、一般的に光通信システムに利用することができる。
10、40、70 光半導体チップ
11、41、71 電極パッド部
12、42、72 変調電極
13、43、73 絶縁層
14,44,74 p型半導体層
15、45、75 光吸収層(活性層)
16,46,76 n型半導体基板
17、47 低誘電率材料
20、80 サブアセンブリ
21、81 サブキャリア
22、82 RF配線板
23、83 終端器集積チップ
38、58、98 寄生容量
39、59、99 空乏層容量
48、77 高周波線路部
49 中空部

Claims (5)

  1. レーザ光源と、
    前記レーザ光源に光学的に接続され、第1のタイプの半導体ベース層、光吸収層および第2のタイプの半導体層が順に配置された光導波路の構造を有する光変調器と、
    変調信号が入力される電極パッド部と、
    前記第2のタイプの半導体層の上に構成された変調電極と、
    前記電極パッド部および前記変調電極を接続し、前記光導波路の空乏層容量に対して直列にインダクンスを与える高周波線路部と
    を備え、
    前記高周波線路部および前記電極パッド部の下部は、前記半導体ベース層の誘電率よりも低い誘電率を有する材料であり、
    前記高周波線路部はミアンダ配線であって、前記材料の高さは、前記光導波路の上面よりも高い
    ことを特徴とする光半導体チップ。
  2. 前記高周波線路部の線路幅は、前記電極パッド部の幅よりも狭いことを特徴とする請求項1に記載の光半導体チップ。
  3. 前記高周波線路部のインダクタンス量が0.17nH以下であることを特徴とする請求項1に記載の光半導体チップ。
  4. 前記レーザ光源は、分布帰還型(DFB)レーザであることを特徴とする請求項1乃至いずれかに記載の光半導体チップ。
  5. 請求項1乃至いずれかに記載の光半導体チップと、
    終端器を集積化したチップと、
    前記変調信号を導く配線基板と
    を備えたことを特徴とする光変調器アセンブリ。
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