JP7363521B2 - 発振回路、発振器及び発振回路の動作モード切替方法 - Google Patents

発振回路、発振器及び発振回路の動作モード切替方法 Download PDF

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Description

本発明は、発振回路、発振器及び発振回路の動作モード切替方法に関する。
水晶振動子(圧電振動子)やMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)振動子などの振動子を用いた発振器が開発されている。このような発振器においては、通常の使用時に用いる動作モードの他に、製造時に使用する特殊な動作モード(例えば、検査用の動作モードや設定情報の書き換え用の動作モード)を有する場合がある。
一方、発振器の小型化のためには、端子数を多くはできないので、特殊な動作モード用の専用端子を設けることが難しい場合がある。例えば、特許文献1には、アナログ/デジタル入出力端子を兼用して複数の動作モードで使用するスイッチ回路が開示されている。
特開平9-294021号公報
端子に入力される電位や入力される信号によって発振器の動作モードを切り替える場合には、電源電圧の不安定や落雷、物理的衝撃などの影響によって、誤って動作モードが切り替わるおそれがある。
本発明に係る発振回路の一態様は、
第1動作モード及び第2動作モードを有する発振回路であって、
第1所定信号の入力を検出する検出回路と、
前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを制御する制御回路と、
モード切替許可情報を記憶する不揮発性メモリーと、を備え、
前記制御回路は、
前記第2動作モードにおいて、前記検出回路が前記第1所定信号の入力を検出し、且つ、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、前記第2動作モードから前記第1動作モードに切り替え、
前記第2動作モードにおいて、前記検出回路が前記第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、前記第2動作モードを継続する。
本発明に係る発振器の一態様は、
前記発振回路の一態様と、
前記発振回路に接続された振動子と、を備える。
本発明に係る発振回路の動作モード切替方法の一態様は、
第1動作モード及び第2動作モードを有し、不揮発性メモリーを備える発振回路の動作モード切替方法であって、
前記第2動作モードにおいて、第1所定信号の入力を検出し、且つ、前記不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの
切り替えを許可することを指定する場合に、前記第2動作モードから前記第1動作モードに切り替える工程と、
前記第2動作モードにおいて、前記第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、前記第2動作モードを継続する工程と、を含む。
本実施形態の発振器の斜視図。 本実施形態の発振器の断面図。 本実施形態の発振器の底面図。 本実施形態の発振器の機能ブロック図。 第1実施形態の発振器1の状態遷移を示す図。 発振回路の状態遷移時におけるVC端子及びOUT端子の信号波形の一例を示す図。 発振回路の状態遷移時におけるVC端子及びOUT端子の信号波形の一例を示す図。 第1実施形態における発振回路の動作モード切替方法の手順の一例を示すフローチャート図。 第2実施形態の発振器1の状態遷移を示す図。 第2実施形態における発振回路の状態遷移時におけるVC端子及びOUT端子の信号波形の一例を示す図。 第2実施形態における発振回路の動作モード切替方法の手順の一例を示すフローチャート図。
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
1.第1実施形態
図1、図2及び図3は、本実施形態の発振器1の構造の一例を示す図である。図1は、発振器1の斜視図である。図2は、図1のA-A断面図である。図3は、発振器1の底面図である。
図1、図2及び図3に示すように、発振器1は、発振回路2、振動子3、パッケージ4、リッド5及び複数の外部端子6を含む。本実施形態では、振動子3は、基板材料として水晶を用いた水晶振動子であり、例えば、ATカット水晶振動子や音叉型水晶振動子等である。振動子3は、SAW(Surface Acoustic Wave)共振子やMEMS(Micro Electro
Mechanical Systems)振動子であってもよい。また、振動子3の基板材料としては、水晶の他、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム等の圧電単結晶や、ジルコン酸チタン酸鉛等の圧電セラミックス等の圧電材料、又はシリコン半導体材料等を用いることができる。振動子3の励振手段としては、圧電効果によるものを用いてもよいし、クーロン力による静電駆動を用いてもよい。また、本実施形態では、発振回路2は1チップの集積回路(Integrated Circuit)で実現されている。ただし、発振回路2は、少なくとも一部がディスクリート部品で構成されていてもよい。
パッケージ4は、発振回路2と振動子3とを同一空間内に収容する。具体的には、パッケージ4には、凹部が設けられており、リッド5で凹部を覆うことによって収容室7となる。パッケージ4の内部又は凹部の表面には、発振回路2の2つの端子、具体的には、後述する図4のXI端子及びXO端子と、振動子3の2つの励振電極3a,3bとをそれぞ
れ電気的に接続するための不図示の配線が設けられている。また、パッケージ4の内部又は凹部の表面には、発振回路2の各端子とパッケージ4の底面に設けられた各外部端子6とを電気的に接続するための不図示の配線が設けられている。なお、パッケージ4は、発振回路2と振動子3とを同一空間内に収容する構成には限られない。例えば、発振回路2がパッケージの基板の一方の面に搭載され、振動子3が他方の面に搭載される、いわゆるH型のパッケージであってもよい。
振動子3は、その表面及び裏面にそれぞれ金属の励振電極3a,3bを有しており、励振電極3a,3bを含む振動子3の形状や質量に応じた所望の周波数で発振する。
図3に示すように、本実施形態の発振器1は、その底面、具体的には、パッケージ4の裏面に、電源端子である外部端子VDD1,接地端子である外部端子VSS1、発振回路2の周波数を制御する信号が入力される端子である外部端子VC1及び発振信号が出力される出力端子である外部端子OUT1の4個の外部端子6が設けられている。外部端子VDD1には電源電圧が供給され、外部端子VSS1は接地される。
図4は、本実施形態の発振器1の機能ブロック図である。図4に示すように、本実施形態の発振器1は、発振回路2と振動子3とを含む。発振回路2は、外部接続端子として、VDD端子、VSS端子、OUT端子、VC端子、XI端子及びXO端子を有している。VDD端子、VSS端子、OUT端子及びVC端子は、図3に示した発振器1の4個の外部端子6である外部端子VDD1、外部端子VSS1、外部端子OUT1及び外部端子VC1とそれぞれ電気的に接続されている。XI端子は振動子3の一端である励振電極3aと電気的に接続され、XO端子は振動子3の他端である励振電極3bと電気的に接続される。
本実施形態では、発振回路2は、増幅回路10、出力バッファー20、温度補償回路30、温度センサー40、AFC(Automatic Frequency Control)回路50、検出回路60、制御回路70、インターフェース回路80及び記憶部90を含む。なお、発振回路2は、これらの要素の一部を省略又は変更し、あるいは他の要素を追加した構成としてもよい。
発振回路2は、動作モードとして第1動作モード及び第2動作モードを有する。第1動作モードは、インターフェース回路80が不図示の外部装置と通信可能なインターフェースモードである。第2動作モードは、外部端子OUT1から発振信号を出力可能な通常動作モード又は発振器1及び発振回路2の検査を行うためのテストモードである。テストモードとしては、例えば、温度補償回路30から出力される温度補償電圧を外部端子OUT1又は外部端子VC1から出力するテストモード、温度センサー40から出力される温度信号を外部端子OUT1又は外部端子VC1から出力するテストモード、増幅回路10に供給される温度補償電圧を外部端子VC1から入力し、外部端子OUT1から出力される発振信号の周波数を計測するためのテストモード等が挙げられる。
増幅回路10は、XI端子及びXO端子と電気的に接続され、振動子3から出力される信号を増幅素子によって増幅して振動子3に供給し、振動子3を発振させる回路である。増幅素子は、例えば、バイポーラトランジスターであってもよいし、論理反転素子であってもよい。増幅回路10は、レジスター92に記憶されるデータに基づいて、例えば25℃等の基準温度における発振周波数が目標周波数となるように調整される。
増幅回路10が出力する発振信号は出力バッファー20に入力される。出力バッファー20の出力信号はOUT端子及び外部端子OUT1を介して発振器1の外部に出力される。発振回路2の動作モードが第1動作モードのときは、出力バッファー20の出力がハイ
インピーダンスとなる。また、発振回路2の動作モードが第2動作モードのときは、出力バッファー20は、レジスター92に記憶されるデータに基づいて、発振信号を出力するか、出力がローレベル又はハイインピーダンスとなる。また、制御回路70により、出力バッファー20は、外部端子VDD1に電源電圧が供給されてから所定期間は出力がローレベルに固定され、所定期間が終了すると発振信号を出力するように制御される。例えば、所定期間は、増幅回路10が出力する発振信号のパルス数が所定数に達するまでの時間であってもよい。
温度補償回路30は、温度センサー40から出力される温度信号と、温度補償情報102とに基づいて、増幅回路10から出力される発振信号の周波数温度特性を補正するための温度補償電圧を生成し、増幅回路10に供給する。
温度センサー40は、発振回路2の温度を検出し、温度に応じた電圧の温度信号を出力するものであり、例えば、バンドギャップリファレンス回路の温度特性を利用した回路等で実現される。
AFC回路50は、外部端子VC1から入力され、VC端子を介して供給される周波数制御信号の電圧レベルに応じて、増幅回路10の発振周波数を制御するための周波数制御電圧を生成し、増幅回路10に供給する。すなわち、外部端子VC1から入力される周波数制御信号の電圧レベルに応じて、外部端子OUT1から出力される発振信号の周波数が変化する。
検出回路60は、外部端子VC1からの第1所定信号の入力を検出する。第1所定信号は、例えば、所定のパターンのハイレベル及びローレベルを含む所定のデータ長の信号である。検出回路60は、外部端子VC1から入力される信号のハイレベル及びローレベルの各期間に含まれる、増幅回路10から出力される発振信号のパルス数を計測し、所定のパターンと一致する場合に第1所定信号を検出し、第1所定信号を検出したことを示す信号を制御回路70に出力する。
制御回路70は、発振回路2の動作モードの第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを制御する。具体的には、制御回路70は、第2動作モードにおいて、検出回路60が第1所定信号の入力を検出し、且つ、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、第2動作モードから第1動作モードに切り替える。また、制御回路70は、第2動作モードにおいて、検出回路60が第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、第2動作モードを継続する。
なお、検出回路60は、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に第1所定信号の入力を検出する処理を行い、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、第1所定信号の入力を検出する処理を行わなくてもよい。
インターフェース回路80は、第1動作モードであるインターフェースモードにおいて、外部端子OUT1,VC1を介して不図示の外部装置と通信を行う。具体的には、インターフェース回路80は、外部端子OUT1から入力されてOUT端子を介して供給されるシリアルクロック信号に同期して、外部端子VC1端子から入力されてVC端子を介して供給されるシリアルデータ信号を受信する。インターフェース回路80は、シリアルデータ信号に応じて、記憶部90に対する各種の情報の書き込みや読み出しを行う。
第1動作モードにおいて、インターフェース回路80が外部装置から所定のコマンドを受信した場合、発振回路2の動作モードが第1動作モードから第2動作モードに切り替わる。具体的には、インターフェース回路80は、シリアルデータ信号として所定のコマンドを受信すると、レジスター92に含まれる所定のビットを当該所定のコマンドに応じた値に書き換え、これにより、発振回路2の動作モードが第1動作モードであるシリアルインターフェースモードから第2動作モードである通常動作モード又はテストモードに切り替わる。所定のコマンドが通常動作モードへの遷移を指示するコマンドであれば、発振回路2の動作モードがシリアルインターフェースモードから通常動作モードに切り替わる。また、所定のコマンドがテストモードへの遷移を指示するコマンドであれば、発振回路2の動作モードがシリアルインターフェースモードからテストモードに切り替わる。
本実施形態では、インターフェース回路80は、例えば、IC(Inter-Integrated Circuit)バス等の2線式バスのインターフェース回路であるが、SPI(Serial Peripheral Interface)バス等の3線式バスあるいは4線式バスのインターフェース回路であってもよい。
記憶部90は、各種の情報を記憶する回路であり、レジスター92と、MONOS(Metal Oxide Nitride Oxide Silicon)型メモリーやEEPROM(Electrically Erasable
Programmable Read-Only Memory)等の不揮発性メモリー94とを含む。発振器1の製造工程において、不揮発性メモリー94に、モード切替許可情報101や温度補償情報102等の各種の情報が記憶される。そして、外部端子VDD1に電源電圧が供給されると、不揮発性メモリー94に記憶されている各種の情報はレジスター92に転送され、レジスター92に記憶された各種の情報が適宜各回路に供給される。例えば、不揮発性メモリー94からレジスター92に転送されたモード切替許可情報101は、検出回路60及び制御回路70に供給される。また、不揮発性メモリー94からレジスター92に転送された温度補償情報102は、温度補償回路30に供給される。
図5は、第1実施形態の発振器1の状態遷移を示す図である。また、図6及び図7は、発振回路2の状態遷移時におけるVC端子及びOUT端子の信号波形の一例を示す図である。
図5及び図6に示すように、発振器1の電源がオン、すなわち、外部端子VDD1に電源電圧が供給され、VDD端子の電圧が0Vから上昇して所定の電圧値に達すると、発振回路2は所定期間において初期化を行う。初期化には、不揮発性メモリー94に記憶されている各種の情報のレジスター92への転送、レジスター92に転送された各情報の各回路への供給、増幅回路10の発振動作の起動が含まれる。図6に示すように、初期化が行われる所定期間は、例えば、VDD端子の電圧が所定の電圧値に達する時刻t1から増幅回路10の発振動作が安定した後の所定の時刻t2までの期間である。なお、初期化が行われる所定期間では、増幅回路10から出力される発振信号が安定していないため、出力バッファー20の出力はローレベルに固定される。これにより、OUT端子の電圧もローレベルに固定され、外部端子OUT1から発振信号は出力されない。
図5及び図6に示すように、所定期間における初期化が終了すると、発振回路2の動作モードが初期化から第2動作モードである通常動作モードに切り替わる。これにより、出力バッファー20から発振信号が出力され、図6に示すように、発振信号がOUT端子から出力される。そして、外部端子OUT1から発振信号が出力される。
図5及び図6に示すように、第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合、外部端子
VC1からVC端子を経由して発振回路2に第1所定信号が入力されると、時刻t3において、発振回路2の動作モードが第2動作モードである通常動作モードから第1動作モードであるインターフェースモードに切り替わる。これにより、出力バッファー20の出力がハイインピーダンスとなり、外部端子OUT1からシリアルクロック信号が入力可能となる。そして、図6に示すように、第1動作モードにおいて、インターフェース回路80は、外部端子OUT1からOUT端子を経由して発振回路2に入力されるシリアルクロック信号に同期して、外部端子VC1からVC端子を経由して発振回路2に入力されるシリアルデータ信号を受信する。
なお、第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合、発振回路2に第1所定信号が入力されても、発振回路2の動作モードは第2動作モードから第1動作モードに切り替わらず、第2動作モードが継続される。
図5及び図7に示すように、発振回路2の動作モードが第1動作モードである場合に、シリアルデータ信号として所定のコマンドが入力されると、当該所定のコマンドに応じて、時刻t4において、発振回路2の動作モードが第1動作モードであるインターフェースモードから第2動作モードである通常動作モード又はテストモードに切り替わる。
図示を省略するが、時刻t4以降も、発振回路2の動作モードが第2動作モードである場合に第1所定信号が入力されると第2動作モードから第1動作モードに切り替わり、発振回路2の動作モードが第1動作モードである場合に所定のコマンドが入力されると第1動作モードから第2動作モードに切り替わる。なお、図5に示すように、発振回路2の動作モードが第1動作モード又は第2動作モードである場合に、発振器1の電源がオフ、すなわち、外部端子VDD1及びVDD端子の電圧が所定の電圧値から低下して0Vに達した後、発振器1の電源がオンした場合も、発振回路2は、初期化の後に第2動作モードに切り替わる。そして、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合は、第1所定信号や所定のコマンドによって第2動作モードと第1動作モードとが切り替わる。
図8は、第1実施形態における発振回路2の動作モード切替方法の手順の一例を示すフローチャート図である。
発振器1の電源がオンすると(工程S10のY)、発振回路2は初期化を開始する(工程S20)。
初期化が行われる所定期間が終了すると(工程S30のY)、発振回路2は動作モードを第2動作モードに切り替える(工程S40)。
第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合(工程S50のN)、発振回路2は動作モードの切り替え処理を終了する。すなわち、これ以降、発振回路2は第2動作モードを継続する。
第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合(工程S50のY)、発振回路2は、第1所定信号を検出すると(工程S60のY)、動作モードを第2動作モードから第1動作モードに切り替える(工程S70)。
第1動作モードにおいて、発振回路2は、所定のコマンドを受信すると(工程S80の
Y)、動作モードを第1動作モードから第2動作モードに切り替え(工程S40)、工程S40~工程S80の処理を繰り返す。
以上に説明した第1実施形態の発振器1では、発振回路2において、制御回路70は、第2動作モードである通常動作モード又はテストモードにおいて、検出回路60が第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、不揮発性メモリー94に記憶されるモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードであるインターフェースモードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、第2動作モードを継続する。したがって、第1実施形態の発振器1によれば、発振回路2において、不意に第1所定信号と同じパターンの信号が入力された場合でも、不揮発性メモリー94に記憶されるモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、第2動作モードから第1動作モードに切り替わらないので、誤って動作モードが切り替わるおそれを低減させることができる。このように、第1実施形態の発振器1は、誤って動作モードが切り替わるおそれを低減させることが可能な発振回路2を備えるので、信頼性を向上させることができる。
また、第1実施形態の発振器1では、発振回路2において、制御回路70は、第2動作モードにおいて、検出回路60が第1所定信号の入力を検出し、且つ、不揮発性メモリー94に記億されるモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、第2動作モードから第1動作モードに切り替える。したがって、第1実施形態の発振器1によれば、発振回路2において、不揮発性メモリー94に記憶されるモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合には、第1所定信号によって第2動作モードから第1動作モードに容易に切り替えることができる。
また、第1実施形態の発振器1では、発振回路2において、インターフェース回路80が外部装置から所定のコマンドを受信した場合、第1動作モードから第2動作モードに切り替わる。したがって、第1実施形態の発振器1によれば、発振回路2において、不揮発性メモリー94に記憶されるモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合、第1所定信号や所定のコマンドによって第2動作モードと第1動作モードとを容易に切り替えることができる。例えば、第1動作モードであるインターフェースモードにおいて所定の検査用の所定のコマンドを入力して第2動作モードに切り替え、第2動作モードであるテストモードにおいて所定の検査を行い、検査が終了すると第1所定信号を入力して再び第1動作モードに切り替えて他の検査を実施することができる。このように、第1実施形態の発振器1によれば、発振回路2の電源をオンした状態で各種の検査を実施することができるので、検査毎に電源のオン/オフを行うことにより生じる時間のロスがなくなり、検査時間を短縮することができる。
なお、不揮発性メモリー94の各ビットの初期値、例えば0を、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可する値とすることにより、発振器1の出荷前の検査工程では、発振回路2の動作モードを第1動作モードであるインターフェースモードと第2動作モードであるテストモードとを切り替えて発振周波数の調整や各種の検査が可能になる。そして、発振器1の出荷前の検査が終了すると、不揮発性メモリー94の所定のビットに反転する値、例えば1を書き込み、モード切替許可情報101を第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しない値とすることにより、発振器1の出荷後には発振回路2が誤ってテストモードに遷移するリスクが低減される。不揮発性メモリー94をOTP(One Time Programmable)メモリーとすることで、発振器1の出荷後にモード切替許可情報101を書き換えることができなくなり、発振回路2が誤ってテストモードに遷移するリスクがさらに低減される。
2.第2実施形態
第2実施形態の発振器1は、第1実施形態の発振器1に対して、発振回路2の状態遷移が異なり、その他の構成は同様である。以下、第2実施形態の発振器1について、第1実施形態と同様の構成については同じ符号を付し、第1実施形態と同様の説明は省略又は簡略し、主として第1実施形態と異なる内容について説明する。
第2実施形態の発振器1の構造は、図1~図3に示した構造と同じであるため、その図示及び説明を省略する。
また、第2実施形態の発振器1の機能ブロック図は、図4と同じであるため、その図示及び説明を省略する。ただし、第2実施形態では、検出回路60及び制御回路70の機能が第1実施形態と異なる。
検出回路60は、第1実施形態と同様、外部端子VC1からの第2所定信号の入力を検出する。第2所定信号は、第1所定信号とは異なる信号である。第2所定信号は、例えば、所定のパターンのハイレベル及びローレベルを含む所定のデータ長の信号である。検出回路60は、外部端子VC1から入力される信号のハイレベル及びローレベルの各期間に含まれる、増幅回路10から出力される発振信号のパルス数を計測し、所定のパターンと一致する場合に第2所定信号を検出し、第2所定信号を検出したことを示す信号を制御回路70に出力する。
制御回路70は、第1実施形態と同様、発振回路2の動作モードの第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを制御する。具体的には、制御回路70は、第2動作モードにおいて、検出回路60が第1所定信号の入力を検出し、且つ、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、第2動作モードから第1動作モードに切り替える。また、制御回路70は、第2動作モードにおいて、検出回路60が第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、第2動作モードを継続する。
制御回路70は、さらに、発振回路2のVC端子に電源電圧が供給されてから所定期間に、検出回路60が第2所定信号の入力を検出した場合に、モード切替許可情報101によらず、発振回路2の動作モードを第1動作モードに切り替える。
図9は、第2実施形態の発振器1の状態遷移を示す図である。また、図10は、発振回路2の状態遷移時におけるVC端子及びOUT端子の信号波形の一例を示す図である。
図9及び図10に示すように、第1実施形態と同様、発振器1の電源がオン、すなわち、外部端子VDD1に電源電圧が供給され、VDD端子の電圧が0Vから上昇して所定の電圧値に達すると、発振回路2は所定期間において初期化を行う。第1実施形態と同様、図10に示すように、初期化が行われる所定期間は、例えば、VDD端子の電圧が所定の電圧値に達する時刻t1から増幅回路10の発振動作が安定した後の所定の時刻t2までの期間である。
初期化が行われる所定期間に、外部端子VC1からVC端子を経由して発振回路2に第2所定信号が入力されると、モード切替許可情報101によらず、時刻t3において、発振回路2の動作モードが初期化から第1動作モードであるインターフェースモードに切り替わる。これにより、出力バッファー20の出力がハイインピーダンスとなり、外部端子OUT1からシリアルクロック信号が入力可能となる。そして、図10に示すように、第1動作モードにおいて、インターフェース回路80は、外部端子OUT1からOUT端子
を経由して発振回路2に入力されるシリアルクロック信号に同期して、外部端子VC1からVC端子を経由して発振回路2に入力されるシリアルデータ信号を受信する。
図9に示すように、第1実施形態と同様、発振回路2の動作モードが第1動作モードである場合に、シリアルデータ信号として所定のコマンドが入力されると、当該所定のコマンドに応じて、発振回路2の動作モードが第1動作モードであるインターフェースモードから第2動作モードである通常動作モード又はテストモードに切り替わる。発振回路2の動作モードが第1動作モードから第2動作モードに切り替わるときのVC端子及びOUT端子の信号波形の一例は図7と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
図9に示すように、第1実施形態と同様、第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合、外部端子VC1からVC端子を経由して発振回路2に第1所定信号が入力されると、発振回路2の動作モードが第2動作モードである通常動作モード又はテストモードから第1動作モードであるインターフェースモードに切り替わる。発振回路2の動作モードが第2動作モードから第1動作モードに切り替わるときのVC端子及びOUT端子の信号波形の一例は図6と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
なお、第1実施形態と同様、第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合、発振回路2に第1所定信号が入力されても、発振回路2の動作モードは第2動作モードから第1動作モードに切り替わらず、第2動作モードが継続される。
第1実施形態では、発振器1の出荷後にはモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定しているため、意図的に発振回路2の動作モードを第1動作モードに遷移させることはできない。これに対して、第2実施形態では、外部装置は、発振器1の電源がオンしてから所定期間に外部端子VC1に第2所定信号を入力することにより、意図的に発振回路2の動作モードを第1動作モードに遷移させることができる。したがって、発振器1の出荷後にも発振回路2の検査を行うことができる。一方、発振器1の電源がオンしてから所定期間に、不意に第2所定信号と同じパターンの信号が外部端子VC1に入力されると発振回路2の動作モードが誤って第1動作モードに遷移してしまう。したがって、不意に第2所定信号と同じパターンの信号が外部端子VC1に入力される確率を低減させるために、第2所定信号のデータ長は、第1所定信号のデータ長よりも大きいことが好ましい。
図11は、第2実施形態における発振回路2の動作モード切替方法の手順の一例を示すフローチャート図である。図11において、図8と同じ工程には同じ符号が付されている。
発振器1の電源がオンすると(工程S10のY)、発振回路2は初期化を開始する(工程S20)。
発振回路2は、初期化が行われる所定期間に第2所定信号を検出しない場合(工程S21のN、かつ、工程S30のY)、動作モードを第2動作モードに切り替える(工程S40)。
第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合(工程S50のN)、発振回路2は動作モードの切り替え処理を終了する。すなわち、これ以降、発振回路2は第2動作モードを継続する。
第2動作モードにおいて、モード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合(工程S50のY)、発振回路2は、第1所定信号を検出すると(工程S60のY)、動作モードを第2動作モードから第1動作モードに切り替える(工程S70)。
また、発振回路2は、初期化が行われる所定期間に第2所定信号を検出した場合(工程S21のY)、動作モードを第1動作モードに切り替える(工程S70)。
第1動作モードにおいて、発振回路2は、所定のコマンドを受信すると(工程S80のY)、動作モードを第1動作モードから第2動作モードに切り替え(工程S40)、工程S40~工程S80の処理を繰り返す。
以上に説明した第2実施形態の発振器1は、第1実施形態の発振器1と同様の構成要素を含むので、第1実施形態と同様の効果を奏する。
さらに、第2実施形態の発振器1では、発振回路2において、制御回路70は、電源電圧が供給されてから所定期間に、検出回路60が第2所定信号の入力を検出した場合に、不揮発性メモリー94に記憶されるモード切替許可情報101によらず第1動作モードに切り替える。したがって、第2実施形態の発振器1によれば、発振回路2において、不揮発性メモリー94に記憶されるモード切替許可情報101が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合でも、電源電圧が供給されてから所定期間に第2所定信号を入力することにより、第1動作モードに切り替えることができる。また、第2実施形態の発振器1によれば、発振回路2において、電源電圧が供給されてから所定期間でなければ第2所定信号が入力されても第1動作モードに切り替わらないので、誤って動作モードが切り替わる可能性も低い。
さらに、第2実施形態の発振器1によれば、第2所定信号のデータ長を第1所定信号のデータ長よりも大きくすることにより、電源電圧が供給されてから所定期間に、不意に第2所定信号と同じパターンの信号が入力されるおそれが低減されるので、誤って第1動作モードに切り替わるおそれを低減させることができる。
3.変形例
上記の各実施形態では、発振回路2の第1動作モードが通常動作モード又はテストモードであるが、第1動作モードは、外部端子OUT1がハイインピーダンスとなるモード、外部端子OUT1がローレベル又はハイレベルに固定されるモード、発振回路2が発振動作を停止するモード等であってもよい。
また、上記の各実施形態では、発振回路2に対して、OUT端子からシリアルクロック信号が入力され、VC端子からシリアルデータ信号が入力されるが、VC端子からシリアルクロック信号が入力され、OUT端子からシリアルデータ信号が入力されてもよい。また、シリアルクロック信号やシリアルデータ信号が入力される端子は、これら以外の端子であってもよい。
また、上記の各実施形態の発振器1は、VC-TCXO(Voltage Controlled Temperature Compensated Crystal Oscillator)等の温度補償機能及び周波数制御機能を有する発振器であるが、SPXO(Simple Packaged Crystal Oscillator)等の温度補償機能及び周波数制御機能を有さないシンプルな発振器、TCXO(Temperature Compensated Crystal Oscillator)等の温度補償機能を有する発振器、VCXO(Voltage Controlled Crystal Oscillator)等の周波数制御機能を有する発振器、OCXO(Oven Controlled C
rystal Oscillator)等の温度制御機能を有する発振器などであってもよい。
本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
上述した実施形態および変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成、例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
上述した実施形態および変形例から以下の内容が導き出される。
発振回路の一態様は、
第1動作モード及び第2動作モードを有する発振回路であって、
第1所定信号の入力を検出する検出回路と、
前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを制御する制御回路と、
モード切替許可情報を記憶する不揮発性メモリーと、を備え、
前記制御回路は、
前記第2動作モードにおいて、前記検出回路が前記第1所定信号の入力を検出し、且つ、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、前記第2動作モードから前記第1動作モードに切り替え、
前記第2動作モードにおいて、前記検出回路が前記第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、前記第2動作モードを継続する。
この発振回路では、不意に第1所定信号と同じパターンの信号が入力された場合でも、不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、第2動作モードから第1動作モードに切り替わらない。したがって、この発振回路によれば、誤って動作モードが切り替わるおそれを低減させることができる。また、この発振回路によれば、不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合には、第1所定信号によって第2動作モードから第1動作モードに容易に切り替えることができる。
前記発振回路の一態様において、
前記検出回路は、前記第1所定信号とは異なる第2所定信号の入力をさらに検出し、
前記制御回路は、
電源電圧が供給されてから所定期間に、前記検出回路が前記第2所定信号の入力を検出した場合に、前記モード切替許可情報によらず前記第1動作モードに切り替えてもよい。
この発振回路によれば、不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合でも、電源電圧が供給されてから所定期間に第2所定信号を入力することにより、第1動作モードに切り替えることができる。また、この発振回路によれば、電源電圧が供給されてから所定期間
でなければ第2所定信号が入力されても第1動作モードに切り替わらないので、誤って動作モードが切り替わる可能性も低い。
前記発振回路の一態様において、
前記第2所定信号のデータ長は、前記第1所定信号のデータ長よりも大きくてもよい。
この発振回路によれば、電源電圧が供給されてから所定期間に、不意に第2所定信号と同じパターンの信号が入力されるおそれが低減されるので、誤って第1動作モードに切り替わるおそれを低減させることができる。
前記発振回路の一態様は、
インターフェース回路を備え、
前記第1動作モードは、前記インターフェース回路が外部装置と通信可能なインターフェースモードであり、
前記第2動作モードは、発振信号を出力可能な通常動作モード又は前記発振回路の検査を行うためのテストモードであってもよい。
この発振回路によれば、通常動作モード又は検査モードからインターフェースモードに誤って切り替わるおそれを低減させることができる。
前記発振回路の一態様は、
前記第1動作モードにおいて、前記インターフェース回路が前記外部装置から所定のコマンドを受信した場合、前記第1動作モードから前記第2動作モードに切り替わってもよい。
この発振回路によれば、不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合、第1所定信号や所定のコマンドによって第2動作モードと第1動作モードとを容易に切り替えることができる。
発振器の一態様は、
前記発振回路の一態様と、
前記発振回路に接続された振動子と、を備える。
この発振器によれば、誤って動作モードが切り替わるおそれを低減させることが可能な発振回路を備えるので、信頼性を向上させることができる。
発振回路の動作モード切替方法の一態様は、
第1動作モード及び第2動作モードを有し、不揮発性メモリーを備える発振回路の動作モード切替方法であって、
前記第2動作モードにおいて、第1所定信号の入力を検出し、且つ、前記不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、前記第2動作モードから前記第1動作モードに切り替える工程と、
前記第2動作モードにおいて、前記第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、前記第2動作モードを継続する工程と、を含む。
この発振回路の動作モード切替方法では、発振回路に不意に第1所定信号と同じパターンの信号が入力された場合でも、不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が第
2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、発振回路の動作モードが第2動作モードから第1動作モードに切り替わらない。したがって、この発振回路の動作モード切替方法によれば、誤って発振回路の動作モードが切り替わるおそれを低減させることができる。また、この発振回路の動作モード切替方法によれば、不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が第2動作モードから第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合には、発振回路の動作モードを第1所定信号によって第2動作モードから第1動作モードに容易に切り替えることができる。
1…発振器、2…発振回路、3…振動子、3a…励振電極、3b…励振電極、4…パッケージ、5…リッド、6…外部端子、7…収容室、10…増幅回路、20…出力バッファー、30…温度補償回路、40…温度センサー、50…AFC回路、60…検出回路、70…制御回路、80…インターフェース回路、90…記憶部、92…レジスター、94…不揮発性メモリー、101…モード切替許可情報、102…温度補償情報

Claims (7)

  1. 第1動作モード及び第2動作モードを有する発振回路であって、
    第1所定信号の入力を検出する検出回路と、
    前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを制御する制御回路と、
    モード切替許可情報を記憶する不揮発性メモリーと、を備え、
    前記制御回路は、
    前記第2動作モードにおいて、前記検出回路が前記第1所定信号の入力を検出し、且つ、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、前記第2動作モードから前記第1動作モードに切り替え、
    前記第2動作モードにおいて、前記検出回路が前記第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、前記第2動作モードを継続する、発振回路。
  2. 前記検出回路は、前記第1所定信号とは異なる第2所定信号の入力をさらに検出し、
    前記制御回路は、
    電源電圧が供給されてから所定期間に、前記検出回路が前記第2所定信号の入力を検出した場合に、前記モード切替許可情報によらず前記第1動作モードに切り替える、請求項1に記載の発振回路。
  3. 前記第2所定信号のデータ長は、前記第1所定信号のデータ長よりも大きい、請求項2に記載の発振回路。
  4. インターフェース回路を備え、
    前記第1動作モードは、前記インターフェース回路が外部装置と通信可能なインターフェースモードであり、
    前記第2動作モードは、発振信号を出力可能な通常動作モード又は前記発振回路の検査を行うためのテストモードである、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発振回路。
  5. 前記第1動作モードにおいて、前記インターフェース回路が前記外部装置から所定のコマンドを受信した場合、前記第1動作モードから前記第2動作モードに切り替わる、請求項4に記載の発振回路。
  6. 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の発振回路と、
    前記発振回路に接続された振動子と、を備える、発振器。
  7. 第1動作モード及び第2動作モードを有し、不揮発性メモリーを備える発振回路の動作モード切替方法であって、
    前記第2動作モードにおいて、第1所定信号の入力を検出し、且つ、前記不揮発性メモリーに記憶されるモード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可することを指定する場合に、前記第2動作モードから前記第1動作モードに切り替える工程と、
    前記第2動作モードにおいて、前記第1所定信号の入力を検出しない場合、及び、前記モード切替許可情報が前記第2動作モードから前記第1動作モードへの切り替えを許可しないことを指定する場合には、前記第2動作モードを継続する工程と、を含む、発振回路の動作モード切替方法。
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