JP7344514B2 - 均一性出力装置、均一性出力方法及びプログラム - Google Patents
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Description
まず、図1及び図2を参照しながら本実施形態に係る均一性出力装置1について説明する。
次に、図3を参照しながらスラリーXcにおける粒子の粒子径の均一性を出力する均一性出力処理について説明する。
次に、図4及び図5を参照しながら均一性出力処理における線図作成・均一性判断処理(ステップS2)について説明する。
次に、図6、図7A及び図7Bを参照しながら均一性判断処理(ステップS23)について説明する。
次に、図8、図9A及び図9Bを参照しながら変形例の均一性判断処理(ステップS23)について説明する。この変形例では、上述した実施形態と同様の点については説明を省略し、主に上述した実施形態と異なる点について説明する。
2 電極
3 均一性出力装置本体
31 測定部
32 記憶部
33 操作部
34 表示部
35 処理部
X 液槽
Xa 液体
Xb 固体物質
Xc スラリー
Claims (7)
- 液体に不溶性の固体物質が混合された混合液における粒子の粒子径の均一性を出力する均一性出力装置であって、
周波数を段階的に変化させる交流信号を前記混合液に印加する電極と、
周波数を段階的に変化させる前記交流信号が前記混合液に印加された際に前記混合液に流れる応答信号に基づいて前記混合液のインピーダンスを測定する測定手段と、
段階的に変化する前記周波数に応じて前記測定手段において測定されたインピーダンスに基づいて、抵抗器とコンデンサとの並列回路を要素として含む粒子等価回路解析を実行することにより、前記均一性を判断する処理手段と、を備える、
均一性出力装置。 - 請求項1に記載の均一性出力装置であって、
前記処理手段は、前記インピーダンスに基づいて取得された実測ナイキスト線図が前記粒子等価回路解析の実行によって取得された単一の前記並列回路に対応する半円の基準ナイキスト線図に近いほど、前記均一性が高いと判断する、
均一性出力装置。 - 請求項2に記載の均一性出力装置であって、
前記処理手段は、前記基準ナイキスト線図に対する前記実測ナイキスト線図の近似度があらかじめ設定された所定の近似度閾値以上であるとき、前記粒子の粒子径が均一であると判断する、
均一性出力装置。 - 請求項1に記載の均一性出力装置であって、
前記処理手段は、前記インピーダンスに基づいて取得された実測ナイキスト線図に対応する前記粒子等価回路解析の実行によって取得された前記並列回路の数が少ないほど、前記均一性が高いと判断する、
均一性出力装置。 - 請求項4に記載の均一性出力装置であって、
前記処理手段は、前記並列回路の数があらかじめ設定された所定の数閾値以下であるとき、前記粒子の粒子径が均一であると判断する、
均一性出力装置。 - 液体に不溶性の固体物質が混合された混合液における粒子の粒子径の均一性を出力する均一性出力方法であって、
周波数を段階的に変化させる交流信号を前記混合液に印加し、周波数を段階的に変化させる前記交流信号を前記混合液に印加した際に前記混合液に流れる応答信号に基づいて前記混合液のインピーダンスを測定するステップと、
段階的に変化する前記周波数に応じて測定されたインピーダンスに基づいて、抵抗器とコンデンサとの並列回路を要素として含む粒子等価回路解析を実行することにより、前記均一性を判断するステップと、を含む、
均一性出力方法。 - 液体に不溶性の固体物質が混合された混合液における粒子の粒子径の均一性の出力をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記コンピュータに、
周波数を段階的に変化させる交流信号を前記混合液に印加し、周波数を段階的に変化させる前記交流信号を前記混合液に印加した際に前記混合液に流れる応答信号に基づいて前記混合液のインピーダンスを測定するステップと、
段階的に変化する前記周波数に応じて測定されたインピーダンスに基づいて、抵抗器とコンデンサとの並列回路を要素として含む粒子等価回路解析を実行することにより、基準ナイキスト線図に基づいて前記均一性を判断するステップと、を実行させる、
プログラム。
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