JP7146559B2 - 処理装置および処理方法 - Google Patents

Description

本発明は、電気的特性が互いに異なる複数種類の物質で構成される分散系の分散度を特定するための分散系のインピーダンスを測定する処理を実行する処理装置および処理方法に関するものである。

分散系の分散度を特定する装置として、下記非特許文献１に開示されている装置（実験セット）が知られている。この装置は、ビーカー、一対の電極およびインピーダンスアナライザ等を備えて構成されている。この装置を用いて分散系（リチウムイオンバッテリー用のスラリー）の分散度を特定する際には、ビーカー内に各電極を対向するように配置し、次いで、ビーカー内に分散系を収容する。続いて、インピーダンスアナライザを用いて、分散系のインピーダンス（各電極間のインピーダンス）を測定する。この場合、各電極を介して分散系に供給する測定用信号の周波数を変更しつつ、周波数毎のインピーダンスを測定する。次いで、周波数毎のインピーダンスの測定値に基づいて分散系の分散度を測定する。一例として、次のようにして分散度を測定する。まず、周波数毎の測定値を複素平面上にナイキストプロット（コールコールプロット）して描いたナイキスト線図を取得する。続いて、取得したナイキスト線図と同等のナイキスト線図が描かれる等価回路を推定する。次いで、等価回路を構成する各構成要素の各パラメータのうちの分散度に依存するパラメータの値を分散度として特定する。

「Evaluation of the Electrochemical Characterizations of Lithium-Ion Battery (LIB) Slurry with 10-Parameter Electrical Equivalent Circuit (EEC)」、Journal of The Electrochemical Society 164(2)/A8-A17/(2017)

ところが、上記した従来の装置には、解決すべき以下の課題が存在する。具体的には、従来の装置では、一対の電極間のインピーダンスを測定し、その測定値に基づいて分散系の分散度を特定している。つまり、従来の装置では、電極間における分散系の平均的な分散度を特定している。一方、分散系の分散度が、その分散系の用途に適した分散度であるか否かを評価するには、分散系全体の平均的な分散度だけではなく、分散系における局所的な分散度や局所的な分散度の分布状態を評価する必要がある。しかしながら、従来の装置では、局所的な分散度を特定するのに必要な局所的なインピーダンスを測定することができないため、局所的な分散度を特定したり、局所的な分散度から分散系を評価することが困難となっている。このため、局所的な分散度を特定可能な局所的なインピーダンスを特定する技術の開発が望まれている。

本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、分散系における局所的な分散度を特定可能な局所的なインピーダンスを測定し得る処理装置、および処理方法を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく、請求項１記載の処理装置は、電気的特性が互いに異なる複数種類の物質で構成される分散系の分散度を特定するための当該分散系のインピーダンスを測定する処理を実行する処理装置であって、前記分散系が収容される円筒状の収容容器と、当該収容容器内に配置された複数の電極と、電流供給用の前記電極間に交流電流を供給する電流供給部と、電圧検出用の前記電極間の電圧を検出する電圧検出部と、前記電流供給用の各電極と前記電流供給部とを接続すると共に前記電圧検出用の各電極と前記電圧検出部とを接続する接続切替部と、前記電圧検出部によって検出された電圧値に基づいて前記インピーダンスを測定する処理を実行する処理部とを備え、前記各電極は、前記収容容器の内周面における周方向に沿って互いに離間する３つ以上の領域にそれぞれ配置され、前記電流供給部は、前記交流電流の周波数を変更可能に構成され、前記接続切替部は、前記周波数が変更される毎に、複数の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を前記電流供給用の電極として前記電流供給部に接続させる第１接続処理を１回または当該各領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行すると共に、一対の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を前記電圧検出用の電極として前記電圧検出部に接続させる処理を当該一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を、前記第１接続処理を実行する毎に実行し、前記電圧検出部は、前記各第２接続処理において当該電圧検出部に接続する前記各電極が変更される毎に前記電圧値を検出し、前記処理部は、電流供給部に前記交流電流の周波数を複数回変更させると共に、前記収容容器に収容されている前記分散系内に規定した仮想平面を複数の要素に要素分割した当該要素毎の前記インピーダンスを前記各電圧値に基づいて測定する処理を前記交流電流の周波数が変更される毎に実行して、前記交流電流の周波数毎の前記各要素の前記インピーダンスを測定する。

また、請求項２記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記各電極は、前記各領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい高位置側の各位置および当該高位置側の各位置から当該収容容器の高さ方向に沿って当該底面側に離間して当該底面からの高さが互いに等しい低位置側の各位置にそれぞれ配置された複数の第１電極と、前記各領域の前記各第１電極の間における底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置された複数の第２電極とを備え、前記接続切替部は、前記第１接続処理において、一対の前記領域の一方に配置されている前記各第１電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記各第１電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、前記第２接続処理において、一対の前記領域の一方に配置されている前記第２電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記第２電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する。

また、請求項３記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記各電極は、前記領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置され、前記接続切替部は、前記第１接続処理において、一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、前記第２接続処理において、前記電流供給用の電極が配置されている前記一対の領域を除く他の前記領域のうちの他の一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該他の一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該他の一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する。

また、請求項４記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記各電極は、４つ以上の偶数の前記領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置され、前記接続切替部は、前記第１接続処理において、前記収容容器の中心軸を挟んで対向する一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該対向する一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、前記第２接続処理において、前記電流供給用の電極が配置されている前記対向する一対の領域を除く他の前記領域のうちの一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する。

また、請求項５記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記各電極は、前記領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置され、前記接続切替部は、前記第１接続処理において、１または複数の前記領域にそれぞれ配置されている各前記電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該複数の領域を除く他の複数の前記領域にそれぞれ配置されている各前記電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、前記第２接続処理において、前記電流供給用の電極のうちのいずれか１つの電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該電圧検出用の一方の電極が配置されている前記領域を除く他の前記領域のうちのいずれか１つの領域に配置されている前記電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該いずれか１つの領域を順次変更しつつ複数回実行する。

また、請求項６記載の処理装置は、請求項１から５のいずれかに記載の処理装置において、前記処理部は、前記交流電流の周波数毎の前記各要素の前記インピーダンスに基づいて当該各要素の分散度を特定する処理を実行する。

また、請求項７記載の処理方法は、電気的特性が互いに異なる複数種類の物質で構成される分散系の分散度を特定するための当該分散系のインピーダンスを測定する処理を実行する処理方法であって、円筒状の収容容器の内周面における周方向に沿って互いに離間する３つ以上の領域に複数の電極がそれぞれ配置された当該収容容器に前記分散系を収容した状態において、電流供給部から供給される交流電流の周波数を複数回変更させて、当該周波数を変更する毎に、複数の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を電流供給用の電極として前記電流供給部に接続させる第１接続処理を１回または当該各領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行すると共に、一対の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を電圧検出用の電極として電圧検出部に接続させる処理を当該一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を前記第１接続処理を実行する毎に実行し、前記各第２接続処理において前記電圧検出部に接続する前記各電極を変更する毎に当該各電極間の電圧値を当該電圧検出部に検出させ、前記収容容器に収容されている前記分散系内に規定した仮想平面を複数の要素に要素分割した当該要素毎の前記インピーダンスを前記各電圧値に基づいて測定する処理を前記交流電流の周波数が変更される毎に実行して、前記交流電流の周波数毎の前記各要素の前記インピーダンスを測定する。

請求項１，６記載の処理装置および請求項７記載の処理方法によれば、互いに離間する内周面の各領域に電極がそれぞれ配置された収容容器に分散系系を収容した状態において、一対の領域にそれぞれ配置されている電極を電圧検出部に接続させる処理を一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を電流の周波数を複数回変更させる毎に実行して各電極間の電圧値を検出し、各電圧値に基づいて分散系内の仮想平面を要素分割した要素毎のインピーダンスを測定する処理を、交流電流の周波数が変更される毎に実行して、交流電流の周波数毎の各要素のインピーダンスを測定する。このため、この処理装置および処理方法によれば、一対の電極間のインピーダンスを測定する機能のみを有する従来の構成および方法とは異なり、収容容器内の複数箇所において周波数毎に検出した電圧値に基づいて分散系内の仮想平面を要素分割した各要素の分散度（分散系における局所的な分散度）を特定可能な、電流の周波数毎の各要素のインピーダンス（分散系における局所的なインピーダンス）を測定することができる。

また、請求項２，６記載の処理装置では、各領域における高位置側の各位置および高位置側の各位置から底面側に離間する低位置側の各位置にそれぞれ配置された複数の第１電極と、各領域における各第１電極の間の位置にそれぞれ配置された複数の第２電極とを備え、第１接続処理において、一対の領域に配置されている各第１電極を電流供給部に接続させ、第２接続処理において、一対の領域に配置されている各第２電極を電圧検出部に接続させる処理を、一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する。この場合、例えば、底面からの高さが互いに同じ位置に電流供給用の各電極および電圧検出用の各電極が配置されている構成では、各電極の配置位置から混合対象の上面までの距離、すなわち収容容器に収容されている分散系の体積の大小によって分散系内を流れる電流の分布が変化することとなるため、電圧検出部によって検出される電圧値および電圧値に基づいて特定される分散度も分散系の体積の大小の影響を受けることとなる。これに対して、この処理装置では、分散系内における高位置側の第１電極と低位置側の第１電極との間の領域に電流を供給することができるため、高位置側の第１電極の配置位置から分散系の上面までの距離、すなわち収容容器に収容されている分散系の体積の大小に拘わらず、分散系内における高位置側の第１電極の配置位置と低位置側の第１電極の配置位置との間を流れる電流の分布を一定（または、ほぼ一定）に維持することができる。また、この処理装置では、高位置側の第１電極と低位置側の第１電極との間の位置に配置された第２電極を介して電圧値を検出する。したがって、この処理装置によれば、電圧検出部が電圧値を検出する際の、分散系の体積の大小による分散系内を流れる電流の分布の変化の影響を十分に低減することができるため、電圧値を正確に測定することができ、この結果、電流の周波数毎の各要素のインピーダンスを正確に測定することができる。

また、請求項３，６記載の処理装置では、一対の領域にそれぞれ配置されている各電極を電流供給用の電極として電流供給部に接続させる第１接続処理を一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行し、電流供給用の電極が配置されている一対の領域を除く他の領域のうちの他の一対の領域にそれぞれ配置されている電極を電圧検出用の電極として電圧検出部に接続させる処理を他の一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に実行する。このため、この処理装置によれば、収容容器の内周面における周方向に沿って互いに離間するように規定したすべての位置において電圧値を検出することができる。したがって、この処理装置によれば、電圧値を検出する位置の偏りを低減することができる結果、電流の周波数毎の各要素のインピーダンスを正確に測定することができる。

また、請求項４，６記載の処理装置では、収容容器の中心軸を挟んで対向する一対の領域にそれぞれ配置されている各電極を電流供給用の電極として電流供給部に接続させる第１接続処理を対向する一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行し、電流供給用の電極が配置されている対向する一対の領域を除く他の領域のうちの一対の領域にそれぞれ配置されている電極を電圧検出用の電極として電圧検出部に接続させる処理を一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に実行する。このため、この処理装置によれば、中心軸を挟んで対向する一対の領域にそれぞれ配置されている各電極を介して収容容器に収容されている分散系に電流を供給することで、収容容器の中央部に電流を流すことができる結果、収容容器に収容されている分散系の中央部分における各要素のインピーダンスを正確に測定することができる。また、この処理装置によれば、第１接続処理において中心軸を挟んで対向する一対の領域にそれぞれ配置されている各電極を電流供給部に接続させるため、例えば、第１接続処理において隣接する一対の領域にそれぞれ配置されている各電極を電流供給用の電極として電流供給部に接続させる構成と比較して、収容容器の内周面一周に亘って供給位置を変更しつつ電流を供給する際の第１接続処理の実行回数を少なく（半分に）抑えることができるため、電圧値を検出する検出処理の効率を十分に向上させることができる。

また、請求項５，６記載の処理装置では、複数の領域にそれぞれ配置されている各電極を電流供給用の電極として電流供給部に接続させる第１接続処理を各領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行し、電流供給用の電極のうちのいずれか１つの電極とその電極が配置されている領域を除く他の領域のうちのいずれか１つの領域に配置されている電極とを電圧検出部に接続させる処理をいずれか１つの領域を順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に実行する。したがって、この処理装置によれば、一対の電極間に電流を供給する構成と比較して、収容容器に収容されている分散系内に電流を均一に流すことができる。このため、この処理装置によれば、分散系内を流れる電流が不均一なことによって電圧検出部によって検出される電圧値が不正確となる事態を確実に回避することができる結果、電流の周波数毎の各要素のインピーダンスを正確に測定することができる。

処理装置１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃの構成を示す構成図である。 収容容器２、電極Ｅおよび撹拌器７の構成を示す斜視図である。 電極Ｅの配置位置を説明する第１の説明図である。 電極Ｅの配置位置を説明する第２の説明図である。 分散媒１００ａおよび分散質１００ｂが分離している状態を模式的に示す状態図である。 分散媒１００ａおよび分散質１００ｂによって分散系２００が構成された状態を示す状態図である。 インピーダンス測定処理５０のフローチャートである。 接続切替部６によって実行される接続処理を説明する第１の説明図である。 接続切替部６によって実行される接続処理を説明する第２の説明図である。 インピーダンス分布特定処理６０のフローチャートである。 処理部９によって実行される分割処理を説明する説明図である。 処理装置１Ａにおける電極Ｅの配置位置を説明する説明図である。 接続切替部６Ａによって実行される接続処理を説明する第１の説明図である。 接続切替部６Ａによって実行される接続処理を説明する第２の説明図である。 接続切替部６Ｂによって実行される接続処理を説明する第１の説明図である。 接続切替部６Ｂによって実行される接続処理を説明する第２の説明図である。 接続切替部６Ｃによって実行される接続処理を説明する第１の説明図である。 接続切替部６Ｃによって実行される接続処理を説明する第２の説明図である。

以下、処理装置および処理方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、図１に示す処理装置１の構成について説明する。処理装置１は、「処理装置」の一例であって、電気的特性が互いに異なる複数種類の物質（例えば、図５に示す分散媒１００ａおよび分散質１００ｂ）で構成される分散系（例えば、図６に示す分散系２００）の分散度を特定するためのインピーダンスＺを測定する処理を実行すると共に、測定したインピーダンスＺに基づいて分散系の分散度を特定する処理を実行可能に構成されている。

なお、分散度は、分散系における分散媒に対する分散質の分散の状態を表すパラメータであって、分散系中において識別可能な分散質の固形粒子の直径（ＪＩＳ Ｋ５６００－２－５の規定に準じた分散度）や、分散系を用いる製品の品質を確保するのに必要な標準的な分散の程度と比較して、特定対象の分散系の分散の程度が、「低い」、「通常」および「高い」との表現で表したものなどがあるが、本願における分散度は、分散系における分散の状態を電気的なパラメータで数値的に表したものいう。

一方、処理装置１は、図１に示すように、収容容器２、複数の電極Ｅ、電流供給部４、検出部５、接続切替部６、撹拌器７、記憶部８、処理部９を備えて構成されている。

収容容器２は、図２に示すように、本体部２ａおよび図外の蓋を備えて円筒状に形成され、例えば、図５に示す分散媒１００ａおよび分散質１００ｂで構成される分散系２００を収容可能に構成されている。

各電極Ｅは、図２～４に示すように、収容容器２の内周面２２における周方向に沿って互いに等間隔に離間する１６個（３つ以上の一例：後述する各例についても同様）の領域Ａ１～Ａ１６（例えば、収容容器２の高さ方向に細長い形状の領域：以下、領域Ａ１～Ａ１６を区別しないときには「領域Ａ」ともいう）における収容容器２の高さ方向に離間した一対の位置にそれぞれ配置された３２個の電極Ｅｆ（第１電極に相当する）と、各領域Ａにおける各電極Ｅｆの間の位置（一例として、各領域Ａにおける各電極Ｅｆ同士を結ぶ線分の中心位置）にそれぞれ配置された１６個の電極Ｅｓ（第２電極に相当する）とで構成されている。この場合、収容容器２の高さ方向の高位置側に配置されている各電極Ｅｆ（以下、高位置側の電極Ｅｆを「電極Ｅｆｈ」ともいう）は、収容容器２の底面２３からの高さが互いに等しい位置（高位置側の位置）にそれぞれ配置され、収容容器２の高さ方向の低位置側に配置されている各電極Ｅｆ（以下、低位置側の電極Ｅｆを「電極Ｅｆｌ」ともいう）は、収容容器２の底面２３からの高さが互いに等しい位置（低位置側の位置）にそれぞれ配置されている。また、各電極Ｅｓは、収容容器２の底面２３からの高さが互いに等しい位置にそれぞれ配置されている。なお、内周面２２の周方向における各領域Ａ同士の間隔が異なる（等間隔ではない）構成を採用することもできる。また、底面２３から各電極Ｅｆｈまでの高さが互いに多少異なったり、底面２３から各電極Ｅｆｌまでの高さが互いに多少異なったり、底面２３から各電極Ｅｓまでの高さが互いに多少異なったりする構成を採用することもできる。

この場合、隣接する一対の領域Ａに配置されている各電極Ｅｆが、接続切替部６によって電流供給部４に接続切り替え（以下、単に「接続」ともいう）されて、電流供給部４から出力される電流Ｉを収容容器２に収容される分散系２００（分散媒１００ａおよび分散質１００ｂ）に供給するための電極Ｅ（電流供給用の一対の電極Ｅ）として機能する。

また、隣接する一対の領域Ａに配置されている各電極Ｅｓが、接続切替部６によって検出部５に接続切り替え（以下、単に「接続」ともいう）されて、各電極Ｅｓ間（電極Ｅｓが配置されている配置位置間）の電圧を検出するための電極Ｅ（電圧検出用の一対の電極Ｅ）として機能する。

電流供給部４は、処理部９の指示に従って電流Ｉ（例えば、交流定電流）を出力して、接続切替部６によって接続される各電極Ｅｆ間（電流供給用の一対の電極Ｅ間）に電流Ｉを供給する。また、電流供給部４は、電流Ｉの周波数を変更可能に構成され、処理部９の指示に従って周波数を変更する。

検出部５は、電圧検出部として機能して、接続切替部６によって接続された一対の電極Ｅｓ間（電圧検出用の一対の電極Ｅ間）の電圧（交流電圧）の電圧値Ｖを検出すると共に、各電極Ｅｓ間の電圧と電流Ｉとの位相差θを検出する。この場合、後述する第２接続処理において、検出部５に接続される一対の電極Ｅｓの組み合わせが複数回変更され、検出部５は、接続される一対の電極Ｅｓの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出する。

接続切替部６は、図外の複数のスイッチを備えて構成され、処理部９の指示に従って電流供給用の各電極Ｅと電流供給部４とを接続すると共に、処理部９の指示に従って電圧検出用の各電極Ｅと検出部５とを接続する。また、接続切替部６は、各電極Ｅｆ間に供給される電流Ｉ、および検出部５によって電圧値Ｖが検出される各電極Ｅｓ間の電圧を検出部５に出力する。

この場合、接続切替部６は、隣接する一対の領域Ａの一方に配置されている各電極Ｅｆを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子（例えば、図８に示す出力端子４１ａ）に接続させると共に、隣接する一対の領域Ａの他方に配置されている各電極Ｅｆを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子（例えば、同図に示す出力端子４１ｂ）に接続させる第１接続処理を隣接する一対の領域Ａの組み合わせを変更しつつ複数回（この例では、１６回）実行する。

また、接続切替部６は、隣接する一対の領域Ａの一方に配置されている電極Ｅｓを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子（例えば、図８に示す入力端子５１ａ）に接続させると共に、隣接する一対の領域Ａの他方に配置されている電極Ｅｓを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子（例えば、同図に示す入力端子５１ｂ）に接続させる処理を隣接する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ複数回（この例では、１６回）実行する第２接続処理を、第１接続処理を実行する毎に実行する。なお、以下の説明において第１接続処理および第２接続処理を合わせて「接続処理」ともいう。

撹拌器７は、図２に示すように、収容容器２における本体部２ａの底面２３側に配置されて、収容容器２に収容されている分散系２００（分散媒１００ａおよび分散質１００ｂ）を撹拌する。

記憶部８は、処理部９の制御に従い、検出部５によって検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶する。また、記憶部８は、処理部９によって実行される後述するインピーダンス測定処理５０において算出される各種の値を記憶する。また、記憶部８は、インピーダンス測定処理５０において実行されるインピーダンス分布特定処理６０において用いられる閾値εを記憶する。

処理部９は、処理装置１を構成する各部を制御する。また、処理部９は、後述するインピーダンス測定処理５０を実行して、収容容器２に収容されている分散系２００内に規定した仮想平面Ｂを複数のメッシュＤ（要素）に分割（要素分割）した各メッシュＤにおける電流Ｉの周波数毎のインピーダンスＺを測定する。また、処理部９は、後述する分散度特定処理を実行して、電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺに基づいて各メッシュＤの分散度を特定する。

次に、処理装置１を用いて、分散系２００の分散度を特定するためのインピーダンスＺを測定すると共に、測定したインピーダンスＺに基づいて分散系２００の分散度を特定する処理の処理方法について図面を参照して説明する。

まず、図５に示すように、電気的特性が互いに異なる複数種類の物質としての分散媒１００ａおよび分散質１００ｂを収容容器２に収容する。なお、同図および図６では、電極Ｅおよび撹拌器７の図示を省略している。この場合、例えば、電気的特性の一例としての導電率が低い有機溶媒を分散媒１００ａとし、導電率が高い導電性粒子（カーボンブラック等）を分散質１００ｂとする。また、収容容器２に収容した分散媒１００ａおよび分散質１００ｂの上面が各電極Ｅ（電極Ｅｆｈ）の配置位置よりも上方に位置するように、（各電極Ｅが分散媒１００ａおよび分散質１００ｂに浸されるように）分散媒１００ａおよび分散質１００ｂの量を調整する。

続いて、図外の操作部を操作して撹拌器７を作動させて、撹拌を開始させる。これにより、分散媒１００ａに対する分散質１００ｂの分散（分散媒１００ａおよび分散質１００ｂの混合）が開始される。次いで、図６に示すように、予め決められた分散時間（混合時間）が経過して分散系２００が構成された時点で、操作部を操作して撹拌器７を停止させる。

続いて、操作部を操作して、処理部９に対してインピーダンス測定処理５０（図７参照）の実行を指示する。このインピーダンス測定処理５０では、処理部９は、電流供給部４に出力させる電流Ｉの周波数の初期値を予め決められた低い周波数に設定する（ステップ５１）。次いで、処理部９は、検出処理を実行する（ステップ５２）。この検出処理では、処理部９は、まず、接続切替部６に対して接続処理を実行させる。

接続処理では、接続切替部６は、電流供給用の一対の電極Ｅを電流供給部４に接続させる１回目の第１接続処理を実行する。具体的には、接続切替部６は、図８，９に示すように、隣接する一対の領域Ａ（例えば、領域Ａ１，Ａ２）の一方（例えば、領域Ａ１）に配置されている各電極Ｅｆ（電極Ｅｆｈ，Ｅｆｌ）を電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、領域Ａ１，Ａ２の他方（領域Ａ２）に配置されている各電極Ｅｆを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる。

次いで、接続切替部６は、１回目の第２接続処理を実行する。この１回目の第２接続処理では、接続切替部６は、図８，９に示すように、隣接する一対の領域Ａの各組み合わせのうちの１組目（例えば、領域Ａ１，Ａ２）の一方（例えば、領域Ａ１）に配置されている電極Ｅｓを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、領域Ａ１，Ａ２の他方（領域Ａ２）に配置されている電極Ｅｓを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる。

続いて、処理部９は、電流供給部４に対して電流Ｉの出力を指示し、電流供給部４が電流Ｉを出力する。この際に、各領域Ａ１，Ａ２にそれぞれ配置されている電流供給用の各電極Ｅとしての各電極Ｅｆ間に電流Ｉが供給される。次いで、検出部５が、各領域Ａ１，Ａ２にそれぞれ配置されている電圧検出用の各電極Ｅとしての各電極Ｅｆ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出する。続いて、処理部９は、検出部５によって検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

続いて、接続切替部６は、図９に示すように、隣接する一対の領域Ａの各組み合わせのうちの２組目（例えば、領域Ａ２，Ａ３）の一方（例えば、領域Ａ２）に配置されている電極Ｅｓ、および領域Ａ２，Ａ３の他方（領域Ａ３）に配置されている電極Ｅｓを、電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる。続いて、検出部５が、各領域Ａ２，Ａ３の各電極Ｅｆ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９が、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

以下、同様にして、接続切替部６は、図９に示す３組目～１６組目の一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅｓを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６は、この処理を隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１６回実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅｓの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９は、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、１回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６は、２回目の第１接続処理を実行する。この場合、接続切替部６は、図９に示すように、１回目の第１接続処理において電流供給部４に接続した各電極Ｅｆが配置されている領域Ａ１，Ａ２とは異なる組み合わせの隣接する一対の領域Ａ（例えば、領域Ａ２，Ａ３）にそれぞれ配置されている各電極Ｅｆを電流供給用の各電極Ｅとして電流供給部４の各出力端子４１ａ，４１ｂにそれぞれ接続させる。

続いて、接続切替部６は、２回目の第２接続処理を実行する。この場合、接続切替部６は、この２回目の第２接続処理において、上記した１回目の第２接続処理と同様にして、図９に示す１組目～１６組目の一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅｓを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせ（この例では、合計で１６の組み合わせ）を順次変更しつつ複数回（この例では、合計で１６回）実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅｓの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９は、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、２回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６は、図９に示す３回目～１６回目の第１接続処理を、一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６は、第１接続処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１６回実行する。また、接続切替部６は、上記した第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に（つまり、１６回）実行し、各第２接続処理において、１組目～１６組目の隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅｓを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１６回実行する。つまり、この例では、接続切替部６は、一対の電極Ｅｓを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を合計で２５６回（１６回の第２接続処理×１回の第２接続処理毎に１６回）実行する。また、検出部５は、各第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅｓが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９は、検出された各電圧値Ｖおよび位相差θ（２５６種類の電圧値Ｖおよび位相差θ）を記憶部８に記憶させる。以上により、検出処理が終了する。

次いで、処理部９は、図１０に示すインピーダンス分布特定処理６０を実行して（インピーダンス測定処理５０のステップ５３：図７参照）、分散系２００内における局所的なインピーダンスＺの分布の特定、つまり分散系２００内を複数の要素に要素分割した各要素のインピーダンスＺの測定を行う。このインピーダンス分布特定処理６０では、処理部９は、まず、分割処理を実行する（ステップ６１）。分割処理では、処理部９は、図６に示すように、収容容器２に収容されている分散系２００内において、収容容器２の中心軸２１に直交する仮想平面Ｂを規定する。続いて、処理部９は、図１１に示すように、予め決められたアルゴリズムに従い、予め決められた平面形状（一例として、三角形）の複数のメッシュＤ（要素）で仮想平面Ｂを分割（要素分割）する。

次いで、処理部９は、電圧検出用の各電極Ｅが配置されている領域Ａの位置、またはその位置の近傍の位置における電圧値の理論値を算出する（以下、電圧値の理論値を「電圧値Ｖｃ」ともいう）。具体的には、処理部９は、上記した分割処理で分割した各メッシュＤに１つずつ割り当てた仮想的な各インピーダンス素子を接続して構成した等価回路を作成するモデル化を実行する（ステップ６２）。なお、以下の説明において、メッシュＤの総数をｎ個としたときの各メッシュＤを「メッシュＤ１～Ｄｎ」ともいい、メッシュＤ１～Ｄｎに１つずつ割り当てた各インピーダンス素子のインピーダンスＺをそれぞれ「インピーダンスＺ１～Ｚｎ」ともいう。

続いて、処理部９は、作成した等価回路における各インピーダンス素子同士の各接続点のうちの、電圧検出用の各電極Ｅが配置されている領域Ａに位置する接続点、または、その領域Ａに最も近い接続点（以下、これらの接続点を「接続点Ｐ」ともいう）における電圧値Ｖｃを算出する数式として、上記した等価回路を構成する各インピーダンス素子のインピーダンスＺ１～Ｚｎ、およびインピーダンスＺ１～Ｚｎに対応する位相差θ１～θｎをパラメータ（変数）として含む数式（以下、この数式を「Ｖｃ（Ｚ１～Ｚｎ，θ１～θｎ）」と表す）を作成する（ステップ６３）。

次いで、処理部９は、上記の数式Ｖｃ（Ｚ１～Ｚｎ，θ１～θｎ）に代入するインピーダンスＺ１～Ｚｎ（以下、代入するインピーダンスＺ１～Ｚｎを「代入インピーダンスＺｐ１～Ｚｐｎ」ともいう）、および位相差θ１～θｎ（以下、代入する位相差θ１～θｎを「代入位相差θｐ１～θｐｎ」ともいう）の各初期値を設定する（ステップ６４）。この場合、初期値として設定する代入インピーダンスＺｐ１～Ｚｐｎおよび代入位相差θｐ１～θｐｎは、任意の値に設定することができる。一例として、十分な分散時間（混合時間）をかけて分散媒１００ａに分散質１００ｂを分散させた分散系２００について想定されるその分散系２００の複素誘電率に、各メッシュＤの面積を乗じた値を代入インピーダンスＺｐ１～Ｚｐｎの初期値として採用することができる。また、一例として、記憶部８に記憶されている位相差θ（上記した検出処理において検出した各位相差θ）のうちの、各メッシュＤに最も近い領域Ａにおける位相差θを代入位相差θｐ１～θｐｎの初期値として採用することができる。

続いて、処理部９は、代入インピーダンスＺｐ１～Ｚｐｎおよび代入位相差θｐ１～θｐｎの初期値を数式Ｖｃ（Ｚ１～Ｚｎ，θ１～θｎ）に代入して、各接続点Ｐにおける各電圧値Ｖｃを算出する（ステップ６５）。

次いで、処理部９は、記憶部８に記憶されている各電圧値Ｖを読み出す。次いで、処理部９は、各領域Ａにおける電圧値Ｖと、各領域Ａにそれぞれ対応する接続点Ｐにおける電圧値Ｖｃとの差分値を算出する。続いて、処理部９は、算出した各差分値の二乗和を算出し、さらに、算出した二乗和の平均値（二乗和を一対の領域Ａの組み合わせの数で除した値）を算出する。ここで、このようにして算出した値は、代入インピーダンスＺｐ１～Ｚｐｎおよび代入位相差θｐ１～θｐｎによって変化する関数ということができ、以下、この関数を評価関数Ｊと表す（ステップ６６）。なお、評価関数Ｊ、および一対の領域Ａの組み合わせ毎に算出した電圧値Ｖと電圧値Ｖｃとの差分値の二乗和の関係は次の式（１）で表される。
J＝Σ[i∈Surface]{Vi－Vci(Zp1～Zpn,θ1～θn)}^２／N・・・式（１）
この場合、式（１）において、「i」は、各電圧値Ｖおよび各電圧値Ｖｃに対してそれぞれ１から順番に付された番号（上記例では、１～２５６）を意味し、「Σ[i∈Surface]」は、全ての{Vi－Vci(Zp1～Zpn,θ1～θn)}^２を加算することを意味する。また、「Ｎ」は、すべての電圧値Ｖの数（上記例では、２５６）を意味する。

次いで、処理部９は、記憶部８から閾値εを読み出して、算出した評価関数Ｊと閾値εとを比較し、評価関数Ｊが閾値ε未満か否か（比較結果が予め規定された規定条件を満たしているか否か）を判別する（ステップ６７）。ここで、閾値εは、評価関数Ｊが収束に向かっているか否かを判断するための値であって、この閾値εが「０」に近いほど、各メッシュＤのインピーダンスＺが高い精度で特定されることを意味している。この場合、処理部９は、ステップ６７において、評価関数Ｊが閾値ε以上（評価関数Ｊが閾値ε未満ではない）と判別したときには、代入インピーダンスＺｐ１～Ｚｐｎおよび代入位相差θｐ１～θｐｎを変更して（ステップ６８）、上記したステップ６５～ステップ６７を実行する。以下、処理部９は、ステップ６７において、評価関数Ｊが閾値ε以上と判別したときには、ステップ６５～ステップ６７を繰り返して実行する。

一方、処理部９は、ステップ６７において、評価関数Ｊが閾値ε未満であると判別したときには、その時点において数式Ｖｃ（Ｚ１～Ｚｎ，θ１～θｎ）に代入した代入インピーダンスＺｐ１～ＺｐｎをインピーダンスＺ１～Ｚｎとして決定して、その時点の電流Ｉの周波数と共に（インピーダンスＺ１～Ｚｎと周波数とを対応付けて）記憶部８に記憶させて（ステップ６９）、インピーダンス分布特定処理６０（インピーダンス測定処理５０のステップ５３）を終了する。

続いて、処理部９は、電流供給部４から出力されている電流Ｉの周波数が予め規定された規定周波数に達しているか否かを判定する（インピーダンス測定処理５０のステップ５４）。この場合、処理部９は、電流Ｉの周波数が規定周波数に達していないときには、電流供給部４に周波数の変更（この例では、上昇）を指示し（ステップ５５）、次いで、上記したステップ５２～５４を実行する。以下、処理部９は、ステップ５４において電流Ｉの周波数が規定周波数に達したと判定するまで、ステップ５２～５５を繰り返して実行する。続いて、処理部９は、ステップ５４において電流Ｉの周波数が規定周波数に達したと判定したときには、インピーダンス測定処理５０を終了する。以上により、各メッシュＤにおける周波数毎のインピーダンスＺの測定（各周波数における分散系２００内の局所的なインピーダンスＺの分布の特定）が完了する。

次いで、各メッシュＤにおける分散度（分散系２００の局所的な分散度の分布）を特定するときには、操作部を操作して、分散度特定処理の実行を指示する。この分散度特定処理では、処理部９は、一例として、次の手順で各メッシュＤにおける分散度を特定する。まず、処理部９は、電流Ｉの周波数毎の各インピーダンスＺを記憶部８から読み出す。続いて、処理部９は、各メッシュＤのうちの１つのメッシュＤにおける周波数毎のインピーダンスＺを複素平面上にナイキストプロット（コールコールプロット）して描いたナイキスト線図を取得する。次いで、処理部９は、取得したナイキスト線図と同等のナイキスト線図が描かれる等価回路を特定する。続いて、処理部９は、特定した等価回路を構成する各構成要素（例えば、ＣＰＥ（constant phase element）、抵抗、コンデンサ等）の各パラメータのうちの分散度に依存するパラメータ（例えば、インピーダンス、抵抗値および容量等のうちの１つ以上、またはこれらの組み合わせ（積や和））の値を分散度として特定する。同様にして、処理部９は、他の各メッシュＤの分散度を特定する。次いで、処理部９は、特定した分散度を記憶部８に記憶させると共に図外の表示部に表示させて分散度特定処理を終了する。

なお、特定された各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値よりも小さいと判断したときには、撹拌器７を作動させて分散系２００をさらに撹拌した後に、上記したインピーダンス測定処理５０および分散度特定処理を処理部９に実行させる工程を繰り返すことで、各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値となるように分散系２００の分散度を高めることができる。

このように、この処理装置１および処理方法によれば、互いに離間する内周面２２の各領域Ａに電極Ｅがそれぞれ配置された収容容器２に分散系２００系を収容した状態において、一対の領域Ａにそれぞれ配置されている電極Ｅを検出部５に接続させる処理を一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を電流Ｉの周波数を複数回変更させる毎に実行して各電極Ｅ間の電圧値Ｖを検出し、各電圧値Ｖに基づいて分散系２００内の仮想平面Ｂを複数に分割したメッシュＤ毎のインピーダンスＺを測定する処理を、交流電流の周波数が変更される毎に実行して、交流電流の周波数毎の各要素のインピーダンスを測定する。このため、この処理装置１および処理方法によれば、一対の電極間のインピーダンスを測定する機能のみを有する従来の構成および方法とは異なり、収容容器２内の複数箇所において周波数毎に検出した電圧値Ｖに基づいて分散系２００内の仮想平面Ｂを分割した各メッシュＤの分散度（分散系２００における局所的な分散度）を特定可能な、電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺ（分散系２００における局所的なインピーダンスＺ）を測定することができる。

また、この処理装置１および処理方法では、各領域Ａにおける高位置側の各位置および高位置側の各位置から底面側に離間する低位置側の各位置にそれぞれ配置された複数の電極Ｅｆと、各領域Ａにおける各電極Ｅｆの間の位置にそれぞれ配置された複数の電極Ｅｓとを備え、第１接続処理において、一対の領域Ａに配置されている各電極Ｅｆを電流供給部４に接続させ、第２接続処理において、一対の領域Ａに配置されている各電極Ｅｓを検出部５に接続させる処理を、一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する。この場合、例えば、底面２３からの高さが互いに同じ位置に電流供給用の各電極Ｅおよび電圧検出用の各電極Ｅが配置されている構成では、各電極Ｅの配置位置から分散系２００の上面までの距離、すなわち収容容器２に収容されている分散系２００の体積の大小によって分散系２００内を流れる電流Ｉの分布が変化することとなるため、検出部５によって検出される電圧値Ｖおよび電圧値Ｖに基づいて特定される分散度も分散系２００の体積の大小の影響を受けることとなる。これに対して、この処理装置１および処理方法では、分散系２００内における高位置側の電極Ｅｆと低位置側の電極Ｅｆとの間の領域に電流Ｉを供給することができるため、高位置側の電極Ｅｆの配置位置から分散系２００の上面までの距離、すなわち収容容器２に収容されている分散系２００の体積の大小に拘わらず、分散系２００内における高位置側の電極Ｅｆの配置位置と低位置側の電極Ｅｆの配置位置との間を流れる電流Ｉの分布を一定（または、ほぼ一定）に維持することができる。また、この処理装置１および処理方法では、高位置側の電極Ｅｆと低位置側の電極Ｅｆとの間の位置に配置された電極Ｅｓを介して電圧値Ｖを検出する。したがって、この処理装置１および処理方法によれば、検出部５が電圧値Ｖを検出する際の、分散系２００の体積の大小による分散系２００内を流れる電流Ｉの分布の変化の影響を十分に低減することができるため、電圧値Ｖを正確に測定することができ、この結果、電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺを正確に測定することができる。

次に、「処理装置」他の一例としての図１に示す処理装置１Ａおよび処理装置１Ａを用いる処理方法について説明する。なお、以下の説明において、上記した処理装置１および処理方法と同様の構成要素および動作等については、同じ符号を付して、重複する説明を省略する。

この処理装置１Ａでは、図１２に示すように、各領域Ａにおける底面２３からの高さが互いに同じ位置に、電極Ｅが１つずつ配置されている。なお、底面２３から各電極Ｅまでの高さが互いに多少異なる構成を採用することもできる。また、処理装置１Ａは、図１に示すように、上記した接続切替部６に代えて接続切替部６Ａを備えると共に、上記した処理部９に代えて処理部９Ａを備えて構成されている。また、この処理装置１Ａでは、接続切替部６Ａが、処理部９Ａの指示に従って電流供給用の各電極Ｅと電流供給部４とを接続すると共に、処理部９Ａの指示に従って電圧検出用の各電極Ｅと検出部５とを接続する。

また、接続切替部６Ａは、図１３，１４に示すように、隣接する一対の領域Ａの一方に配置されている電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、隣接する一対の領域Ａの他方に配置されている電極Ｅを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる第１接続処理を、隣接する一対の領域Ａの組み合わせを変更しつつ複数回（この例では、１６回）実行する。

また、接続切替部６Ａは、図１３，１４に示すように、電流供給用の電極Ｅが配置されている一対の領域Ａを除く他の領域Ａのうちの隣接する他の一対の領域Ａの一方に配置されている電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、隣接する他の一対の領域Ａの他方に配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる処理を隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回（この例では、１３回）実行する第２接続処理を、第１接続処理を実行する毎に実行する。

また、この処理装置１Ａでは、検出部５が各第２接続処理において接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出する。

この処理装置１Ａを用いて、上記した分散系２００の分散度を特定するためのインピーダンスＺを測定すると共に、測定したインピーダンスＺに基づいて分散系２００の分散度を特定する際には、分散媒１００ａおよび分散質１００ｂを収容容器２の本体部２ａに収容し（図５参照）、続いて、操作部を操作して撹拌器７を作動させて、撹拌を開始させる。次いで、予め決められた分散時間が経過して分散系２００（図６参照）が構成された時点で、操作部を操作して撹拌器７を停止させる。

続いて、操作部を操作して、処理部９Ａに対してインピーダンス測定処理５０（図７参照）の実行を指示する。このインピーダンス測定処理５０では、処理部９Ａは、電流供給部４に出力させる電流Ｉの周波数の初期値（低い周波数）を設定する（ステップ５１）。次いで、処理部９Ａは、検出処理を実行する（ステップ５２）。この検出処理では、処理部９Ａは、まず、接続切替部６Ａに対して接続処理を実行させる。

接続処理では、接続切替部６Ａは、電流供給用の一対の電極Ｅを電流供給部４に接続させる１回目の第１接続処理を実行する。具体的には、接続切替部６Ａは、図１３，１４に示すように、隣接する一対の領域Ａ（例えば、領域Ａ１，Ａ２）の一方（例えば、領域Ａ１）に配置されている電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、隣接する一対の領域Ａの他方（領域Ａ２）に配置されている電極Ｅを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる。

続いて、接続切替部６Ａは、１回目の第２接続処理を実行する。この１回目の第２接続処理では、接続切替部６Ａは、図１３，１４に示すように、電流供給用の電極Ｅが配置されている一対の領域Ａを除く他の領域Ａ（この例では、領域Ａ３～Ａ１６）のうちの隣接する一対の領域Ａの各組み合わせのうちの１組目（例えば、領域Ａ３，Ａ４）の一方（例えば、領域Ａ３）に配置されている電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、領域Ａ３，Ａ４の他方（領域Ａ４）に配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる。

次いで、処理部９Ａは、電流供給部４に対して電流Ｉの出力を指示し、電流供給部４が電流Ｉを出力する。この際に、各領域Ａ１，Ａ２にそれぞれ配置されている各電極Ｅ間に電流Ｉが供給される。続いて、検出部５が、領域Ａ３，Ａ４にそれぞれ配置されている各電極Ｅ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９Ａが、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

次いで、接続切替部６Ａは、図１４に示すように、隣接する一対の領域Ａの各組み合わせのうちの２組目（例えば、領域Ａ４，Ａ５）の一方（例えば、領域Ａ４）に配置されている電極Ｅ、および領域Ａ４，Ａ５の他方（領域Ａ５）に配置されている電極Ｅを、電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる。続いて、検出部５が、各領域Ａ４，Ａ５の各電極Ｅ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９Ａが、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

以下、同様にして、接続切替部６Ａは、図１４に示す３組目～１３組目の隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ａは、１回の第２接続処理において、この処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１３回実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ａは、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、１回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６Ａは、２回目の第１接続処理を実行する。この場合、接続切替部６Ａは、図１４に示すように、１回目の第１接続処理において電流供給部４に接続した各電極Ｅが配置されている領域Ａ１，Ａ２とは異なる組み合わせの隣接する一対の領域Ａ（例えば、領域Ａ２，Ａ３）にそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の各電極Ｅとして電流供給部４の各出力端子４１ａ，４１ｂにそれぞれ接続させる。

続いて、接続切替部６Ａは、２回目の第２接続処理を実行する。この場合、接続切替部６Ａは、この２回目の第２接続処理において、上記した１回目の第２接続処理と同様にして、図１４に示す１組目～１３組目の隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせ（この例では、合計で１３の組み合わせ）を順次変更しつつ複数回（この例では、合計で１３回）実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ａは、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、２回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６Ａは、図１４に示す３回目～１６回目の第１接続処理を、隣接する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ａは、第１接続処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１６回実行する。また、接続切替部６Ａは、上記した第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に（つまり、１６回）実行し、各第２接続処理において、１組目～１３組目の隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１３回実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ａは、一対の電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を合計で２０８回（１６回の第２接続処理×１回の第２接続処理毎に１３回）実行する。また、検出部５は、各第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ａは、検出された各電圧値Ｖおよび各位相差θ（２０８種類の電圧値Ｖおよび位相差θ）を記憶部８に記憶させる。以上により、検出処理が終了する。

続いて、処理部９Ａは、上記したインピーダンス分布特定処理６０（図１０参照）を実行して（インピーダンス測定処理５０のステップ５３：図７参照）、分散系２００内の仮想平面Ｂを分割した各メッシュＤのインピーダンスＺの測定（分散系２００内における局所的なインピーダンスＺの分布の特定）を行う。

次いで、処理部９Ａは、電流Ｉの周波数が規定周波数に達するまで周波数を順次上昇させつつインピーダンス測定処理５０のステップ５２～５５を繰り返して実行する。以上により、各メッシュＤにおける周波数毎のインピーダンスＺの測定（各周波数における分散系２００内の局所的なインピーダンスＺの分布の特定）が完了する。

続いて、各メッシュＤにおける分散度（分散系２００の局所的な分散度の分布）を特定するときには、操作部を操作して、分散度特定処理の実行を指示する。これに応じて、処理部９Ａは、上記した分散度特定処理を実行して各メッシュＤの分散度を特定し、特定した分散度を記憶部８に記憶させると共に図外の表示部に表示させる。

なお、特定された各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値よりも小さいと判断したときには、撹拌器７を作動させて分散系２００をさらに撹拌した後に、上記したインピーダンス測定処理５０および分散度特定処理を処理部９Ａに実行させる工程を繰り返すことで、各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値となるように分散系２００の分散度を高めることができる。

このように、この処理装置１Ａおよび処理方法では、一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の電極Ｅとして電流供給部４に接続させる第１接続処理を一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ複数回実行し、電流供給用の電極Ｅが配置されている一対の領域Ａを除く他の領域Ａのうちの他の一対の領域Ａにそれぞれ配置されている電極Ｅを電圧検出用の電極Ｅとして検出部５に接続させる処理を他の一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に実行する。このため、この処理装置１Ａおよび処理方法によれば、収容容器２の内周面２２における周方向に沿って互いに離間するように規定したすべての位置において電圧値Ｖを検出することができる。したがって、この処理装置１Ａおよび処理方法によれば、電圧値Ｖを検出する位置の偏りを低減することができる結果、電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺを正確に測定することができる。

次に、「処理装置」他の一例としての図１に示す処理装置１Ｂおよび処理装置１Ｂを用いる処理方法について説明する。

この処理装置１Ｂでは、図１２に示すように、１６個（４つ以上の偶数の一例）の各領域Ａにおける底面２３からの高さが互いに同じ位置に、電極Ｅが１つずつ配置されている。なお、底面２３から各電極Ｅまでの高さが互いに多少異なる構成を採用することもできる。また、処理装置１Ｂは、図１に示すように、上記した接続切替部６に代えて接続切替部６Ｂを備えると共に、上記した処理部９に代えて処理部９Ｂを備えて構成されている。また、この処理装置１Ｂでは、接続切替部６Ｂが、処理部９Ｂの指示に従って電流供給用の各電極Ｅと電流供給部４とを接続すると共に、処理部９Ｂの指示に従って電圧検出用の各電極Ｅと検出部５とを接続する。

また、接続切替部６Ｂは、図１５，１６に示すように、収容容器２の中心軸２１を挟んで対向する一対の領域Ａの一方に配置されている電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、対向する一対の領域Ａの他方に配置されている電極Ｅを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる第１接続処理を対向する一対の領域Ａの組み合わせを変更しつつ複数回（この例では、８回）実行する。

また、接続切替部６Ｂは、図１５，１６に示すように、電流供給用の電極Ｅが配置されている対向する一対の領域Ａを除く他の領域Ａのうちの隣接する一対の領域Ａの一方に配置されている電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、隣接する一対の領域Ａの他方に配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる処理を隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回（この例では、１２回）実行する第２接続処理を、第１接続処理を実行する毎に実行する。

また、この処理装置１Ｂでは、検出部５が各第２接続処理において接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出する。

この処理装置１Ｂを用いて、上記した分散系２００の分散度を特定するためのインピーダンスＺを測定すると共に、測定したインピーダンスＺに基づいて分散系２００の分散度を特定する際には、分散媒１００ａおよび分散質１００ｂを収容容器２の本体部２ａに収容し（図５参照）、次いで、操作部を操作して撹拌器７を作動させて、撹拌を開始させる。続いて、予め決められた分散時間が経過して分散系２００（図６参照）が構成された時点で、操作部を操作して撹拌器７を停止させる。

次いで、操作部を操作して、処理部９Ｂに対してインピーダンス測定処理５０（図７参照）の実行を指示する。このインピーダンス測定処理５０では、処理部９Ｂは、電流供給部４に出力させる電流Ｉの周波数の初期値（低い周波数）を設定する（ステップ５１）。続いて、処理部９Ｂは、検出処理を実行する（ステップ５２）。この検出処理では、処理部９Ｂは、まず、接続切替部６Ｂに対して接続処理を実行させる。

接続処理では、接続切替部６Ｂは、電流供給用の一対の電極Ｅを電流供給部４に接続させる１回目の第１接続処理を実行する。具体的には、接続切替部６Ｂは、図１５，１６に示すように、収容容器２の中心軸２１を挟んで対向する一対の領域Ａ（例えば、領域Ａ１，Ａ９）の一方（例えば、領域Ａ１）に配置されている電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、対向する一対の領域Ａの他方（領域Ａ９）に配置されている電極Ｅを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる。

続いて、接続切替部６Ｂは、１回目の第２接続処理を実行する。この１回目の第２接続処理では、接続切替部６Ｂは、図１５，１６に示すように、電流供給用の電極Ｅが配置されている対向する一対の領域Ａ（この例では、領域Ａ１，Ａ９）を除く他の領域Ａ（この例では、領域Ａ２～Ａ８，Ａ１０～Ａ１６）のうちの隣接する一対の領域Ａの各組み合わせのうちの１組目（例えば、領域Ａ２，Ａ３）の一方（例えば、領域Ａ２）に配置されている電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、領域Ａ２，Ａ３の他方（領域Ａ３）に配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる。

次いで、処理部９Ｂは、電流供給部４に対して電流Ｉの出力を指示し、電流供給部４が電流Ｉを出力する。この際に、各領域Ａ１，Ａ９にそれぞれ配置されている各電極Ｅ間に電流Ｉが供給される。続いて、検出部５が、領域Ａ２，Ａ３にそれぞれ配置されている各電極Ｅ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９Ｂが、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

次いで、接続切替部６Ｂは、図１６に示すように、隣接する一対の領域Ａの各組み合わせのうちの２組目（例えば、領域Ａ３，Ａ４）の一方（例えば、領域Ａ３）に配置されている電極Ｅ、および領域Ａ３，Ａ４の他方（領域Ａ４）に配置されている電極Ｅを、電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる。続いて、検出部５が、各領域Ａ３，Ａ４の各電極Ｅ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９Ｂが、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

以下、同様にして、接続切替部６Ｂは、図１６に示す１２組目までの隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ｂは、１回の第２接続処理において、この処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１２回実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ｂは、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、１回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６Ｂは、２回目の第１接続処理を実行する。この場合、接続切替部６Ｂは、図１６に示すように、１回目の第１接続処理において電流供給部４に接続した各電極Ｅが配置されている領域Ａ１，Ａ９とは異なる組み合わせの対向する一対の領域Ａ（例えば、領域Ａ２，Ａ１０）にそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の各電極Ｅとして電流供給部４の各出力端子４１ａ，４１ｂにそれぞれ接続させる。

続いて、接続切替部６Ｂは、２回目の第２接続処理を実行する。この場合、接続切替部６Ｂは、この２回目の第２接続処理において、上記した１回目の第２接続処理と同様にして、図１６に示す１組目～１２組目の隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせ（この例では、合計で１２の組み合わせ）を順次変更しつつ複数回（この例では、合計で１２回）実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ｂは、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、２回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６Ｂは、図１６に示す３回目～８回目の第１接続処理を、対向する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ｂは、第１接続処理を、対向する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で８回実行する。また、接続切替部６Ｂは、上記した第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に（つまり、８回）実行し、各第２接続処理において、１組目～１２組目の隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を、隣接する一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ合計で１２回実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ｂは、一対の電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を合計で９６回（８回の第２接続処理×１回の第２接続処理毎に１２回）実行する。また、検出部５は、各第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ｂは、検出された各電圧値Ｖおよび各位相差θ（９６種類の電圧値Ｖおよび位相差θ）を記憶部８に記憶させる。以上により、検出処理が終了する。

次いで、処理部９Ｂは、上記したインピーダンス分布特定処理６０（図１０参照）を実行して（インピーダンス測定処理５０のステップ５３：図７参照）、分散系２００内の仮想平面Ｂを分割した各メッシュＤのインピーダンスＺの測定（分散系２００内における局所的なインピーダンスＺの分布の特定）を行う。

続いて、処理部９Ｂは、電流Ｉの周波数が規定周波数に達するまで周波数を順次上昇させつつインピーダンス測定処理５０のステップ５２～５５を繰り返して実行する。以上により、各メッシュＤにおける周波数毎のインピーダンスＺの測定（各周波数における分散系２００内の局所的なインピーダンスＺの分布の特定）が完了する。

次いで、各メッシュＤにおける分散度（分散系２００の局所的な分散度の分布）を特定するときには、操作部を操作して、分散度特定処理の実行を指示する。これに応じて、処理部９Ｂは、上記した分散度特定処理を実行して各メッシュＤの分散度を特定し、特定した分散度を記憶部８に記憶させると共に図外の表示部に表示させる。

なお、特定された各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値よりも小さいと判断したときには、撹拌器７を作動させて分散系２００をさらに撹拌した後に、上記したインピーダンス測定処理５０および分散度特定処理を処理部９Ｂに実行させる工程を繰り返すことで、各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値となるように分散系２００の分散度を高めることができる。

このように、この処理装置１Ｂおよび処理方法では、収容容器２の中心軸２１を挟んで対向する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の電極Ｅとして電流供給部４に接続させる第１接続処理を対向する一対の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ複数回実行し、電流供給用の電極Ｅが配置されている対向する一対の領域Ａを除く他の領域Ａのうちの一対の領域Ａにそれぞれ配置されている電極Ｅを電圧検出用の電極Ｅとして検出部５に接続させる処理を一対の領域Ａのすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に実行する。このため、この処理装置１Ｂおよび処理方法によれば、中心軸２１を挟んで対向する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを介して収容容器２に収容されている分散系２００に電流Ｉを供給することで、収容容器２の中央部に電流Ｉを流すことができる結果、収容容器２に収容されている分散系２００の中央部分における各メッシュＤのインピーダンスＺを正確に測定することができる。また、この処理装置１Ｂおよび処理方法によれば、第１接続処理において中心軸２１を挟んで対向する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給部４に接続させるため、例えば、第１接続処理において隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極を電流供給用の電極Ｅとして電流供給部４に接続させる構成および方法と比較して、収容容器２の内周面２２の一周に亘って供給位置を変更しつつ電流Ｉを供給する際の第１接続処理の実行回数を少なく（半分に）抑えることができるため、電圧値Ｖや位相差θを検出する検出処理の効率を十分に向上させることができる。

次に、「処理装置」他の一例としての図１に示す処理装置１Ｃおよび処理装置１Ｃを用いる処理方法について説明する。

この処理装置１Ｃでは、図１２に示すように、各領域Ａにおける底面２３からの高さが互いに同じ位置に、電極Ｅが１つずつ配置されている。なお、底面２３から各電極Ｅまでの高さが互いに多少異なる構成を採用することもできる。また、処理装置１Ｃは、図１に示すように、上記した接続切替部６に代えて接続切替部６Ｃを備えると共に、上記した処理部９に代えて処理部９Ｃを備えて構成されている。また、この処理装置１Ｃでは、接続切替部６Ｃが、処理部９Ｃの指示に従って電流供給用の各電極Ｅと電流供給部４とを接続すると共に、処理部９Ｃの指示に従って電圧検出用の各電極Ｅと検出部５とを接続する。

また、接続切替部６Ｃは、図１７，１８に示すように、複数（一例として、５つ）の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、他の複数（一例として、５つ）の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の他方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる第１接続処理を、各領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ複数回（この例では、１６回）実行する

また、接続切替部６Ｃは、図１７，１８に示すように、電流供給用の電極Ｅのうちのいずれか１つの電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、電圧検出用の一方の電極Ｅが配置されている領域Ａを除く他の領域Ａのうちのいずれか１つの領域Ａに配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる処理をいずれか１つの領域Ａを順次変更しつつ複数回（この例では、１５回）実行する第２接続処理を、第１接続処理を実行する毎に実行する。

また、この処理装置１Ｃでは、検出部５が各第２接続処理において接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出する。

この処理装置１Ｃを用いて、上記した分散系２００の分散度を特定するためのインピーダンスＺを測定すると共に、測定したインピーダンスＺに基づいて分散系２００の分散度を特定する際には、分散媒１００ａおよび分散質１００ｂを収容容器２の本体部２ａに収容し（図５参照）、続いて、操作部を操作して撹拌器７を作動させて、撹拌を開始させる。次いで、予め決められた分散時間が経過して分散系２００（図６参照）が構成された時点で、操作部を操作して撹拌器７を停止させる。

続いて、操作部を操作して、処理部９Ｃに対してインピーダンス測定処理５０（図７参照）の実行を指示する。このインピーダンス測定処理５０では、処理部９Ｃは、電流供給部４に出力させる電流Ｉの周波数の初期値（低い周波数）を設定する（ステップ５１）。次いで、処理部９Ｃは、検出処理を実行する（ステップ５２）。この検出処理では、処理部９Ｃは、まず、接続切替部６Ｃに対して接続処理を実行させる。

接続処理では、接続切替部６Ｃは、電流供給用の複数の電極Ｅを電流供給部４に接続させる１回目の第１接続処理を実行する。具体的には、接続切替部６Ｃは、図１７，１８に示すように、５つの領域Ａ（例えば、領域Ａ１～Ａ５）にそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に領域Ａ１～Ａ５を除く他の５つの領域Ａ（例えば、領域Ａ９～Ａ１３）にそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の一方の電極Ｅとして電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる。

続いて、接続切替部６Ｃは、１回目の第２接続処理を実行する。この１回目の第２接続処理では、接続切替部６Ｃは、図１７、および図１８における領域Ａの組み合わせの１組目に示すように、電流供給用の電極Ｅのうちのいずれか１つの電極Ｅ（例えば、領域Ａ１に配置されている電極Ｅ）を電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の一方の入力端子５１ａに接続させると共に、電圧検出用の一方の電極Ｅが配置されている領域Ａ１を除く他の領域Ａ（領域Ａ２～Ａ１６）のうちのいずれか１つの領域Ａ（例えば、領域Ａ１６）に配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の他方の入力端子５１ｂに接続させる。

次いで、処理部９Ｃは、電流供給部４に対して電流Ｉの出力を指示し、電流供給部４が電流Ｉを出力する。この際に、各領域Ａ１～Ａ５にそれぞれ配置されている各電極Ｅと、各領域Ａ９～Ａ１３にそれぞれ配置されている各電極Ｅとの間に電流Ｉが供給される。続いて、検出部５が、領域Ａ１，Ａ１６の各電極Ｅ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９Ｃが、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

次いで、接続切替部６Ｃは、図１８における領域Ａの組み合わせの２組目に示すように、１組目と同じ領域Ａ１の電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅをとして検出部５の入力端子５１ａに接続させると共に、領域Ａ１を除く領域Ａ２～Ａ１６のうちの領域Ａ１６（１組目で電圧検出用の他方とした電極Ｅが配置されている領域Ａ１６）を除く他のいずれか１つの領域Ａ（例えば、領域Ａ１５）に配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ｂに接続させる。続いて、検出部５が、領域Ａ１，Ａ１５の各電極Ｅ間の電圧の電圧値Ｖ、およびその電圧と電流Ｉとの位相差θを検出し、処理部９Ｃが、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。

以下、同様にして、接続切替部６Ｃは、図１８における領域Ａの組み合わせの３組目～１５組目に示すように、領域Ａ１の電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ａに接続させると共に、領域Ａ２～Ａ１６のうちのいずれか１つの領域Ａに配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ｂに接続させる処理を、いずれか１つの領域Ａを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ｃは、１回の第２接続処理において、この処理を、いずれか１つの領域Ａを順次変更しつつ合計で１５回実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ｃは、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、１回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６Ｃは、２回目の第１接続処理を実行する。この場合、接続切替部６Ｃは、図１８に示すように、１回目の第１接続処理において電流供給部４に接続した各電極Ｅが配置されている領域Ａ１～Ａ５および領域Ａ９～Ａ１３の組み合わせとは異なる組み合わせの複数の領域Ａ（例えば、領域Ａ２～Ａ６および領域Ａ１０～Ａ１４）にそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の各電極Ｅとして電流供給部４の各出力端子４１ａ，４１ｂにそれぞれ接続させる。

続いて、接続切替部６Ｃは、２回目の第２接続処理を実行する。この場合、接続切替部６Ｃは、この２回目の第２接続処理において、上記した１回目の第２接続処理と同様にして、図１８における領域Ａの組み合わせの１組目～１５組目に示すように、電流供給用の電極Ｅのうちのいずれか１つの電極Ｅ（例えば、領域Ａ２に配置されている電極Ｅ）を電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ａに接続させると共に、領域Ａ２を除く他の領域Ａ（領域Ａ１，Ａ３～Ａ１６）のうちのいずれか１つの領域Ａに配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ｂに接続させる処理を、いずれか１つの領域Ａを順次変更しつつ複数回（この例では、合計で１５回）実行する。また、検出部５は、第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅの組み合わせが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ｃは、検出された電圧値Ｖおよび位相差θを記憶部８に記憶させる。これにより、２回目の第２接続処理が終了する。

次いで、接続切替部６Ｃは、図１８に示す３回目～１６回目の第１接続処理を、複数の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ｃは、第１接続処理を、複数の領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ合計で１６回実行する。また、接続切替部６Ｃは、上記した第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に（つまり、１６回）実行し、各第２接続処理において、電流供給用の電極Ｅのうちのいずれか１つの電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ａに接続させると共に、電圧検出用の一方の電極Ｅが配置されている領域Ａを除く他の領域Ａのうちのいずれか１つの領域Ａに配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ｂに接続させる処理をいずれか１つの領域Ａを順次変更しつつ複数回（この例では、合計で１５回）実行する。つまり、この例では、接続切替部６Ｃは、一対の電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる処理を合計で２４０回（１６回の第２接続処理×１回の第２接続処理毎に１５回）実行する。また、検出部５は、各第２接続処理において検出部５に接続される一対の電極Ｅが変更される毎に電圧値Ｖおよび位相差θを検出し、処理部９Ｃは、検出された各電圧値Ｖおよび各位相差θ（２４０種類の電圧値Ｖおよび位相差θ）を記憶部８に記憶させる。以上により、検出処理が終了する。

続いて、処理部９Ｃは、上記したインピーダンス分布特定処理６０（図１０参照）を実行して（インピーダンス測定処理５０のステップ５３：図７参照）、分散系２００内の仮想平面Ｂを分割した各メッシュＤのインピーダンスＺの測定（分散系２００内における局所的なインピーダンスＺの分布の特定）を行う。

次いで、処理部９Ｃは、電流Ｉの周波数が規定周波数に達するまで周波数を順次上昇させつつインピーダンス測定処理５０のステップ５２～５５を繰り返して実行する。以上により、各メッシュＤにおける周波数毎のインピーダンスＺの測定（各周波数における分散系２００内の局所的なインピーダンスＺの分布の特定）が完了する。

続いて、各メッシュＤにおける分散度（分散系２００の局所的な分散度の分布）を特定するときには、操作部を操作して、分散度特定処理の実行を指示する。これに応じて、処理部９Ｃは、上記した分散度特定処理を実行して各メッシュＤの分散度を特定し、特定した分散度を記憶部８に記憶させると共に図外の表示部に表示させる。

なお、特定された各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値よりも小さいと判断したときには、撹拌器７を作動させて分散系２００をさらに撹拌した後に、上記したインピーダンス測定処理５０および分散度特定処理を処理部９Ｃに実行させる工程を繰り返すことで、各メッシュＤにおける分散度の値が目標の値となるように分散系２００の分散度を高めることができる。

このように、この処理装置１Ｃおよび処理方法では、複数の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の電極Ｅとして電流供給部４に接続させる第１接続処理を各領域Ａの組み合わせを順次変更しつつ複数回実行し、電流供給用の電極Ｅのうちのいずれか１つの電極Ｅとその電極Ｅが配置されている領域Ａを除く他の領域Ａのうちのいずれか１つの領域Ａに配置されている電極Ｅとを検出部５に接続させる処理をいずれか１つの領域Ａを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を第１接続処理を実行する毎に実行する。したがって、この処理装置１Ｃおよび処理方法によれば、一対の電極Ｅ間に電流Ｉを供給する構成および方法と比較して、収容容器２に収容されている分散系２００内に電流Ｉを均一に流すことができる。このため、この処理装置１Ｃおよび処理方法によれば、分散系２００内を流れる電流Ｉが不均一なことによって検出部５によって検出される電圧値Ｖが不正確となる事態を確実に回避することができる結果、電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺを正確に測定することができる。

なお、処理装置および処理方法は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、処理部９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃが、電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺを測定するインピーダンス測定処理５０を実行すると共に、測定したインピーダンスＺに基づいて各メッシュＤの分散度を特定する分散度特定処理を実行する例について上記したが、処理部９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃがインピーダンス測定処理５０のみを実行し、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）等の他の装置で分散度特定処理を実行する構成および方法を採用することもできる。

また、第１接続処理を一対の領域Ａの組み合わせを変更して複数回実行する例について上記したが、第１接続処理を１回だけ実行する（第２接続処理も１回だけ実行する）構成および方法を採用することもできる。

また、処理装置１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃおよび処理装置１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃによって実行される処理方法を用いて電気的特性が互いに異なる２種類の物質（分散媒１００ａおよび分散質１００ｂ）で構成された分散系２００の分散度を特定する例について上記したが、電気的特性が互いに異なる３種類以上の物質で構成される分散系の分散度を特定するための電流Ｉの周波数毎の各メッシュＤのインピーダンスＺを測定したり、測定したインピーダンスＺに基づいて各メッシュＤの分散度を特定したりする際に、これらの処理装置１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃおよび処理方法を用いることができ、この際にも、上記した各効果と同様の効果を実現することができる。

また、分散媒１００ａとしての有機溶媒および分散質１００ｂとしての導電性粒子（カーボンブラック）で構成される分散系２００を処理対象とした例について上記したが、分散系を構成する物質はこれに限定されず、電気的特性が互いに異なる複数種類の任意の物質で構成される分散系を処理対象とすることができる。一例として、水と食塩のように、溶媒と溶媒に溶解する溶質で構成される分散系を処理対象とすることもできる。また、同じ物質で構成されて粒径が互いに異なる（電気的特性が互いに異なる）複数種類の物体で構成される分散系を処理対象とすることもできる。さらに、同じ物質で形成されて結晶構造が互いに異なる（電気的特性が互いに異なる）複数種類の物体で構成される分散系を処理対象とすることもできる。また、分散系を構成する物質（物体）の状態は、固体、液体、気体のいずれであってもよい。

また、処理装置１，１Ａ、および処理装置１，１Ａによって実行される処理方法における第１接続処理において、互いに隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電流供給用の各電極Ｅとして電流供給部４の各出力端子４１ａ，４１ｂにそれぞれ接続させる例について上記したが、第１接続処理において、互いに隣接していない（例えば、１つ置きや２つ置きの）一対の領域Ａにそれぞれ配置されている電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして電流供給部４の各出力端子４１ａ，４１ｂにそれぞれ接続させることもできる。

また、処理装置１，１Ａ，１Ｂ、および処理装置１，１Ａ，１Ｂによって実行される処理方法における第２接続処理において、互いに隣接する一対の領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させる例について上記したが、第２接続処理において、互いに隣接していない（例えば、１つ置きや２つ置きの）一対の領域Ａにそれぞれ配置されている電極Ｅを電圧検出用の各電極Ｅとして検出部５の各入力端子５１ａ，５１ｂにそれぞれ接続させることもできる。

また、処理装置１Ｃ、および処理装置１Ｃによって実行される処理方法における第１接続処理において、５つの領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅ（つまり、５つの電極Ｅ）を電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続させると共に、５つの領域Ａにそれぞれ配置されている各電極Ｅ（つまり、５つの電極Ｅ）を電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続させる例について上記したが、電流供給部４の出力端子４１ａ，４１ｂに接続させる電極Ｅの数は５つに限定されず、２つ～４つ、および６つ以上の任意の数（複数）の電極Ｅを電流供給部４の出力端子４１ａ，４１ｂに接続させることができる。この場合、電流供給部４の出力端子４１ａに接続させる電極Ｅの数と電流供給部４の出力端子４１ｂに接続させる電極Ｅの数とが異なっても良い。また、第１接続処理において、電流供給部４の出力端子４１ａ，４１ｂのいずれか一方（上記の例では、出力端子４１ａ）には電極Ｅを１つだけ接続させ、出力端子４１ａ，４１ｂの他方には複数の電極Ｅを接続させる構成および方法を採用することもできる。

また、処理装置１Ｃ、および処理装置１Ｃによって実行される処理方法における第２接続処理において、電流供給用のいずれか１つの電極Ｅを電圧検出用の一方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ａに接続させると共に、電圧検出用の一方の電極Ｅが配置されている領域Ａを除く他の領域Ａ（上記の例では、１５個の領域Ａ：以下単に「他の領域Ａ」ともいう）のうちのいずれか１つの領域Ａに配置されている電極Ｅを電圧検出用の他方の電極Ｅとして検出部５の入力端子５１ｂに接続させる処理（以下「対象処理」ともいう）を、他の領域Ａのすべての電極Ｅについて順次変更しつつ実行する（つまり、合計で１５回実行する）例について上記したが、他の領域Ａのすべの電極Ｅについて対象処理を実行することは必ずしも必要ではない。例えば、他の領域Ａのすべての電極Ｅのうちの、電流供給部４の一方の出力端子４１ａに接続されている電極Ｅを除く電極Ｅだけを対象として対象処理を実行する構成および方法を採用することもできる。また、他の領域Ａのすべての電極Ｅのうちの、電流供給部４の他方の出力端子４１ｂに接続されている電極Ｅを除く電極Ｅだけを対象として対象処理を実行する構成および方法を採用することもできる。さらに、他の領域Ａのすべての電極Ｅのうちの、電流供給部４の双方の出力端子４１ａ，４１ｂに接続されている電極Ｅを除く電極Ｅだけを対象として対象処理を実行する構成および方法を採用することもできる。

また、接続切替部６，６Ａ，６Ｂ，６Ｃが第１接続処理および第２接続処理の双方を実行する例について上記したが、第１接続処理および第２接続処理を別々の接続切替部が実行する構成を採用することもできる。

また、電流供給部４が電流Ｉ（例えば、交流定電流）を出力する構成例について上記したが、電流供給部４が交流定電圧を出力することで交流の電流Ｉを供給する（電流供給部４として定電圧源を用いる）構成を採用することもできる。この場合、分散系２００（分散媒１００ａおよび分散質１００ｂ）のインピーダンスが高いときには、電流制御よりも電圧制御の方が制御を容易に行うことができる。このため、電流供給部４として定電圧源を用いる構成を採用することで、インピーダンスが高い分散系２００に対して電流供給部４から安定的に電流Ｉを供給することができる。

１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ 処理装置
２ 収容容器
４ 電流供給部
５ 検出部
６，６Ａ，６Ｂ，６Ｃ 接続切替部
９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃ 処理部
４１ａ，４１ｂ 出力端子
５１ａ，５１ｂ 入力端子
１００ａ 分散媒
１００ｂ 分散質
２００ 分散系
Ａ１～Ａ１６ 領域
Ｂ 仮想平面
Ｄ，Ｄ１～Ｄｎ メッシュ
Ｅ，Ｅｆ，Ｅｆｈ，Ｅｆｌ，Ｅｓ 電極
Ｉ 電流
Ｖ 電圧値
Ｚ，Ｚ１～Ｚｎ インピーダンス

Claims (7)

1. 電気的特性が互いに異なる複数種類の物質で構成される分散系の分散度を特定するための当該分散系のインピーダンスを測定する処理を実行する処理装置であって、
   前記分散系が収容される円筒状の収容容器と、当該収容容器内に配置された複数の電極と、電流供給用の前記電極間に交流電流を供給する電流供給部と、電圧検出用の前記電極間の電圧を検出する電圧検出部と、前記電流供給用の各電極と前記電流供給部とを接続すると共に前記電圧検出用の各電極と前記電圧検出部とを接続する接続切替部と、前記電圧検出部によって検出された電圧値に基づいて前記インピーダンスを測定する処理を実行する処理部とを備え、
   前記各電極は、前記収容容器の内周面における周方向に沿って互いに離間する３つ以上の領域にそれぞれ配置され、
   前記電流供給部は、前記交流電流の周波数を変更可能に構成され、
   前記接続切替部は、前記周波数が変更される毎に、複数の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を前記電流供給用の電極として前記電流供給部に接続させる第１接続処理を１回または当該各領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行すると共に、一対の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を前記電圧検出用の電極として前記電圧検出部に接続させる処理を当該一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を、前記第１接続処理を実行する毎に実行し、
   前記電圧検出部は、前記各第２接続処理において当該電圧検出部に接続する前記各電極が変更される毎に前記電圧値を検出し、
   前記処理部は、電流供給部に前記交流電流の周波数を複数回変更させると共に、前記収容容器に収容されている前記分散系内に規定した仮想平面を複数の要素に要素分割した当該要素毎の前記インピーダンスを前記各電圧値に基づいて測定する処理を前記交流電流の周波数が変更される毎に実行して、前記交流電流の周波数毎の前記各要素の前記インピーダンスを測定する処理装置。
2. 前記各電極は、前記各領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい高位置側の各位置および当該高位置側の各位置から当該収容容器の高さ方向に沿って当該底面側に離間して当該底面からの高さが互いに等しい低位置側の各位置にそれぞれ配置された複数の第１電極と、前記各領域の前記各第１電極の間における底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置された複数の第２電極とを備え、
   前記接続切替部は、前記第１接続処理において、一対の前記領域の一方に配置されている前記各第１電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記各第１電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、
   前記第２接続処理において、一対の前記領域の一方に配置されている前記第２電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記第２電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する請求項１記載の処理装置。
3. 前記各電極は、前記領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置され、
   前記接続切替部は、前記第１接続処理において、一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、
   前記第２接続処理において、前記電流供給用の電極が配置されている前記一対の領域を除く他の前記領域のうちの他の一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該他の一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該他の一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する請求項１記載の処理装置。
4. 前記各電極は、４つ以上の偶数の前記領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置され、
   前記接続切替部は、前記第１接続処理において、前記収容容器の中心軸を挟んで対向する一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該対向する一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、
   前記第２接続処理において、前記電流供給用の電極が配置されている前記対向する一対の領域を除く他の前記領域のうちの一対の前記領域の一方に配置されている前記電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該一対の領域の他方に配置されている前記電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該一対の領域のすべての組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する請求項１記載の処理装置。
5. 前記各電極は、前記領域における前記収容容器の底面からの高さが互いに等しい各位置にそれぞれ配置され、
   前記接続切替部は、前記第１接続処理において、１または複数の前記領域にそれぞれ配置されている各前記電極を前記電流供給用の一方の電極として前記電流供給部の一方の出力端子に接続させると共に当該複数の領域を除く他の複数の前記領域にそれぞれ配置されている各前記電極を当該電流供給用の他方の電極として当該電流供給部の他方の出力端子に接続させ、
   前記第２接続処理において、前記電流供給用の電極のうちのいずれか１つの電極を前記電圧検出用の一方の電極として前記電圧検出部の一方の入力端子に接続させると共に当該電圧検出用の一方の電極が配置されている前記領域を除く他の前記領域のうちのいずれか１つの領域に配置されている前記電極を当該電圧検出用の他方の電極として当該電圧検出部の他方の入力端子に接続させる処理を当該いずれか１つの領域を順次変更しつつ複数回実行する請求項１記載の処理装置。
6. 前記処理部は、前記交流電流の周波数毎の前記各要素の前記インピーダンスに基づいて当該各要素の分散度を特定する処理を実行する請求項１から５のいずれかに記載の処理装置。
7. 電気的特性が互いに異なる複数種類の物質で構成される分散系の分散度を特定するための当該分散系のインピーダンスを測定する処理を実行する処理方法であって、
   円筒状の収容容器の内周面における周方向に沿って互いに離間する３つ以上の領域に複数の電極がそれぞれ配置された当該収容容器に前記分散系を収容した状態において、
   電流供給部から供給される交流電流の周波数を複数回変更させて、当該周波数を変更する毎に、複数の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を電流供給用の電極として前記電流供給部に接続させる第１接続処理を１回または当該各領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行すると共に、一対の前記領域にそれぞれ配置されている前記各電極を電圧検出用の電極として電圧検出部に接続させる処理を当該一対の領域の組み合わせを順次変更しつつ複数回実行する第２接続処理を前記第１接続処理を実行する毎に実行し、
   前記各第２接続処理において前記電圧検出部に接続する前記各電極を変更する毎に当該各電極間の電圧値を当該電圧検出部に検出させ、
   前記収容容器に収容されている前記分散系内に規定した仮想平面を複数の要素に要素分割した当該要素毎の前記インピーダンスを前記各電圧値に基づいて測定する処理を前記交流電流の周波数が変更される毎に実行して、前記交流電流の周波数毎の前記各要素の前記インピーダンスを測定する処理方法。

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