JP7341993B2 - 検査システム及び検査方法 - Google Patents

Description

本開示は、検査システム及び検査方法に関する。本出願は、２０１８年６月５日出願の米国特許出願第１６／００００９８号に基づく優先権を主張し、その米国出願に記載された全ての記載内容を援用する。

従来より、２つの地点間に敷設された光ケーブルを検査するシステムが知られている。例えば、特開平１０－３３６１０６号公報及び特開２０００－２９５１８５号公報には、光ファイバの一端に光パルスを入射し、後方散乱及び反射によって一端に戻る光を測定するＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）法によって、光ファイバの検査を行う測定装置が記載されている。

特開平１０－３３６１０６号公報 特開２０００－２９５１８５号公報

近年、通信量の増大に伴い、２つの地点間に敷設される光ファイバの本数が増加し、多心光ケーブルの導入が進んでいる。このような光ケーブルの検査を特開平１０－３３６１０６号公報及び特開２０００－２９５１８５号公報に記載の装置を用いて行う場合には、光ケーブルに含まれる光ファイバを１本ずつ検査する必要があり、検査に多大な時間を要する。本開示は、光伝送路の検査効率を向上可能な検査システム及び検査方法を説明する。

本開示の一側面に係る検査システムは、それぞれが複数本の光ファイバを含む複数の光ケーブルが接続されることによって構成される光伝送路であり、複数の光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバが接続されることによって構成される複数の光線路を含む光伝送路を検査するシステムである。この検査システムは、光伝送路の一端に配置される第１検査装置と、光伝送路の他端に配置される第２検査装置と、を備える。第１検査装置及び第２検査装置は、光ケーブルの誤接続の有無を検査する第１検査と、第１検査において誤接続が無いと判定された場合に複数の光線路を検査する第２検査と、を行う。

本開示によれば、光伝送路の検査効率を向上させることができる。

図１は、本実施形態に係る検査システムの検査対象である光伝送システムの概略構成図である。

図２は、検査システムの概略構成図である。

図３は、検査システムが行う検査方法の一例を示すフローチャートである。

図４は、図３の前検査処理を詳細に示すフローチャートである。

図５は、図４の原因解析処理を詳細に示すフローチャートである。

図６は、図３の本検査処理を詳細に示すフローチャートである。

図７は、図６の原因解析処理を詳細に示すフローチャートである。

図８は、光損失の測定方法を説明するための図である。

図９は、光損失の測定方法を説明するための図である。

図１０は、戻り光の強度の時間変化を測定する方法を説明するための図である。

図１１は、戻り光の強度の時間変化を測定する方法を説明するための図である。

図１２は、自動校正を説明するための図である。

図１３は、自動校正を説明するための図である。

図１４は、ケーブル内誤接続確認処理の一例を示すフローチャートである。

図１５は、ケーブル間誤接続確認処理の一例を示すフローチャートである。

図１６は、第１変形例に係る検査システムの概略構成図である。

図１７は、第２変形例に係る検査システムの概略構成図である。

図１８は、第３変形例に係る検査システムの概略構成図である。

図１９は、第４変形例に係る検査システムの概略構成図である。

［本願発明の実施形態の説明］
最初に本開示の実施形態の内容を列記して説明する。本開示の一側面に係る検査システムは、それぞれが複数本の光ファイバを含む複数の光ケーブルが接続されることによって構成される光伝送路であり、複数の光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバが接続されることによって構成される複数の光線路を含む光伝送路を検査するシステムである。この検査システムは、光伝送路の一端に配置される第１検査装置と、光伝送路の他端に配置される第２検査装置と、を備える。第１検査装置及び第２検査装置は、光ケーブルの誤接続の有無を検査する第１検査と、第１検査において誤接続が無いと判定された場合に複数の光線路を検査する第２検査と、を行う。

この検査システムでは、光ケーブルの誤接続の有無が検査され、誤接続が無いと判定された場合に、複数の光線路が検査される。光ケーブルの誤接続がある場合には、複数の光線路の検査を行うまでもなく、光ケーブルの接続を修正する必要がある。このため、誤接続が無いと判定された場合に、複数の光線路の検査を行うことで、不要な検査を省略することができる。その結果、光伝送路の検査効率を向上させることが可能となる。

第１検査装置は、試験光を出力する第１光源と、光伝送路の一端に位置する第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうち、試験光を入射する光ファイバを切り替える第１光スイッチと、を備えてもよい。第２検査装置は、光の強度を測定するパワーメータと、光伝送路の他端に位置する第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうち、パワーメータに光学的に接続される光ファイバを切り替える第２光スイッチと、を備えてもよい。第１検査では、第１検査装置は、第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうちの第１光ファイバに試験光を入射し、第２検査装置は、第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうちの第１光ファイバに対応する第２光ファイバから出力される試験光の強度を測定してもよい。光ケーブルの誤接続の有無は、１つの光線路の検査によって判定され得る。この場合、第１光ファイバと第２光ファイバとが光学的に正常に接続されているか否かを判定することによって、光ケーブルの誤接続の有無が検査される。このため、第１検査を簡易的に行うことができ、光伝送路の検査効率を向上させることが可能となる。

第１光ケーブル及び第２光ケーブルのそれぞれは、複数本の光ファイバが一方向に配列されたテープファイバであってもよい。第１光ファイバは、第１光ケーブルの一方向における端に位置してもよく、第２光ファイバは、第２光ケーブルの一方向における端に位置してもよい。テープファイバ同士を接続する際、テープの表裏を取り違えて誤接続することが起こりやすい。この場合、誤接続の有無は、第１光ケーブルと第２光ケーブルとが正常に接続された場合の光ファイバの組み合わせと、第１光ケーブルと第２光ケーブルとが表裏反転して接続された場合の光ファイバの組み合わせと、をそれぞれ検査することで判別できる。この時、テープファイバの端に位置する光ファイバは、テープファイバ同士が正常に接続された場合、及び、表裏反転して接続された場合のいずれの場合も端に位置する。このため、第１光ケーブル及び第２光ケーブルの一方向における端に位置する心線を用いることで、誤接続の有無を簡便に区別することができる。

第１光源は、波長の異なる複数の試験光を出力可能であってもよい。第１検査装置及び第２検査装置は、第１検査において、複数の試験光を用いて光ケーブルの誤接続の有無を検査してもよい。試験光の波長によって、検査精度が異なる場合がある。例えば、光ファイバに曲げが生じている場合、波長が大きい試験光ほど曲げ損失が大きくなるので、曲げの検出精度が高くなる。このため、波長の異なる複数の試験光で検査することで、検査精度を向上させることが可能となる。

第２検査では、第１検査装置は、第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバに順に試験光を入射し、第２検査装置は、第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうち、第１光ケーブルの試験光が入射された光ファイバに対応する光ファイバから出力される試験光の強度を順に測定してもよい。この場合、複数の光線路のそれぞれについて、光ファイバが正常に接続されているか否かを確認することができる。

第１検査装置は、第１光源から出力された試験光に対する第１戻り光の強度の時間変化を測定する第１試験機をさらに備えてもよい。第２検査装置は、試験光を出力する第２光源と、第２光源から出力された試験光に対する第２戻り光の強度の時間変化を測定する第２試験機と、をさらに備えてもよい。戻り光の強度の時間変化によって、各光線路の長さが測定され得る。例えば、測定された長さが、正常な光線路の長さよりも短い場合には、光線路に断線が生じていると考えられるので、各光線路における異常の有無を検査することができる。

光伝送路の検査を行うごとに、第１検査の前に、第１試験機が第１戻り光の強度の時間変化を測定することによって、第１光スイッチの挿入損失を算出し、第２試験機が第２戻り光の強度の時間変化を測定することによって、第２光スイッチの挿入損失を算出してもよい。第１光スイッチの挿入損失及び第２光スイッチの挿入損失は、経時変化等により再現性が低い場合がある。このため、検査を行うごとに、第１戻り光の強度の時間変化を測定し、その測定結果に基づいて第１光スイッチの挿入損失を算出することで、第１光スイッチの挿入損失の誤差を低減することができる。同様に、検査を行うごとに、第２戻り光の強度の時間変化を測定し、その測定結果に基づいて第２光スイッチの挿入損失を算出することで、第２光スイッチの挿入損失の誤差を低減することができる。これにより、光線路の光損失の測定精度を向上させることが可能となる。

上記検査システムは、第１検査において誤接続が有ると判定された場合に、パワーメータの測定結果に基づいて、光伝送路の異常原因を解析する解析部をさらに備えてもよい。例えば、パワーメータによって受光が確認されなかった場合には、光ケーブルが正しく接続されていない可能性がある。また、パワーメータによって受光が確認されたものの損失が大きい場合には、光ケーブルは正しく接続されているが、光ケーブルに曲げ等の異常が生じていると考えられる。このように、パワーメータの測定結果に応じて異常原因が解析されることによって、光伝送路の修復作業を簡易化することが可能となる。

第１検査装置は、第１光スイッチと第１光源との間に設けられた第１光合分波器と、第１光合分波器を介して第１光スイッチに接続され、第２検査装置と通信を行うための第１通信装置と、をさらに備えてもよい。第２検査装置は、第２光スイッチとパワーメータとの間に設けられた第２光合分波器と、第２光合分波器を介して第２光スイッチに接続され、第１検査装置と通信を行うための第２通信装置と、をさらに備えてもよい。この場合、光伝送路に通信専用の光線路を設ける必要が無いので、光伝送路を有効に利用することが可能となる。

第１検査装置は、第１光源から出力された試験光に対する第１戻り光の強度を測定する別のパワーメータをさらに備えてもよい。この場合、各光線路のリターンロスを測定することができる。

第１検査装置は、可視光を出力する可視光源をさらに備えてもよい。第１検査装置は、複数の光線路のうち、第２検査において異常であると判定された光線路に可視光を入射してもよい。例えば、光線路に断線、曲げ、又は軸ずれ融着等が生じている場合に、当該異常箇所から可視光が漏れ出し、異常箇所が光る場合がある。この場合、異常箇所の視認性を高めることができるので、異常箇所を特定することが可能となる。

上記検査システムは、第１検査及び第２検査の検査結果を表示する表示部をさらに備えてもよい。この場合、検査結果を作業者に通知することができるので、検査結果の視認性を向上させることが可能となる。

表示部は、第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバにそれぞれ接続される複数の第１コネクタと、第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバにそれぞれ接続される複数の第２コネクタと、を含んでもよい。複数の第１コネクタ及び複数の第２コネクタのそれぞれは、発光により検査結果を表示してもよい。この場合、第１コネクタ及び第２コネクタのそれぞれが発光により検査結果を表示するので、作業者が異常な光線路を容易に特定することができる。これにより、修復作業の効率を向上させることが可能となる。

本開示の別の側面に係る検査方法は、それぞれが複数本の光ファイバを含む複数の光ケーブルが接続されることによって構成される光伝送路であり、複数の光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバが接続されることによって構成される複数の光線路を含む光伝送路を検査する検査方法である。この検査方法は、複数の光ケーブルの誤接続の有無を検査する第１検査工程と、第１検査工程において誤接続が無いと判定された場合に、複数の光線路を検査する第２検査と、を備える。

この検査方法では、光ケーブルの誤接続の有無が検査され、誤接続が無いと判定された場合に、複数の光線路が検査される。光ケーブルの誤接続がある場合には、複数の光線路の検査を行うまでもなく、光ケーブルの接続を修正する必要がある。このため、誤接続が無いと判定された場合に、複数の光線路の検査を行うことで、不要な検査を省略することができる。その結果、光伝送路の検査効率を向上させることが可能となる。

［本願発明の実施形態の詳細］
本開示の実施形態に係る検査システム及び検査方法の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

図１は、本実施形態に係る検査システムの検査対象である光伝送システムの概略構成図である。図１に示される光伝送システム１は、互いに異なる地点間で光信号を伝送するためのシステムである。本実施形態では、光伝送システム１は、局１００Ａと局１００Ｂとの間で光信号を伝送する。局１００Ａと局１００Ｂとの間は複数本の光ケーブル５によって接続されている。

局１００Ａは、複数のパッチパネル２Ａと、スプライスキャビネット３Ａと、を備える。パッチパネル２Ａは、局１００Ａ内のサーバ等の機器を外部の装置と通信可能に接続するための装置であり、局１００Ａに設けられた光配線架（ラック）の各段に収納される。なお、光配線架の寸法は標準化されており、光配線架の幅及び奥行きは一定であり、高さは４４ｍｍを「１Ｕ」としてその整数倍である。パッチパネル２Ａは、複数のアダプタを有する。各アダプタには、光ケーブルの一端に設けられた光コネクタが挿入される。パッチパネル２Ａのアダプタには、複数本（例えば、２４本）の光ケーブル４Ａ（第１光ケーブル）が接続される外部アダプタと、局１００Ａ内の機器に接続された複数本の光ケーブルが接続される内部アダプタと、が含まれる。

複数本の光ケーブル４Ａのそれぞれは、複数本（Ｎ本）の光ファイバを含む。Ｎは、２以上の整数であり、例えば１２である。本実施形態では、光ケーブル４Ａは、Ｎ本の光ファイバ心線が一方向に配列されたテープファイバ（テープ心線ともいう。）である。以下の説明において、光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバ心線を一方向の一方の端から順に１番心線、２番心線、・・・、Ｎ番心線と称する場合がある。光ケーブル４Ａの他端は、スプライスキャビネット３Ａにおいて光ケーブル５の一端に接続される。

光ケーブル５は、Ｎ本の光ファイバを含む。本実施形態では、光ケーブル５は、Ｎ本の光ファイバ心線が一方向に配列されたテープファイバである。以下の説明において、光ケーブル５に含まれるＮ本の光ファイバ心線を一方向の一方の端から順に１番心線、２番心線、・・・、Ｎ番心線と称する場合がある。光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバのそれぞれは、光ケーブル５に含まれるＮ本の光ファイバのいずれかと一対一で接続（融着接続）される。

局１００Ｂは、複数のパッチパネル２Ｂと、スプライスキャビネット３Ｂと、を備える。パッチパネル２Ｂは、局１００Ｂ内のサーバ等の機器を外部の装置と通信可能に接続するための装置であり、局１００Ｂに設けられた光配線架（ラック）の各段に収納される。パッチパネル２Ｂは、複数のアダプタを有する。各アダプタには、光ケーブルの一端に設けられた光コネクタが挿入される。パッチパネル２Ｂのアダプタには、複数本（例えば、２４本）の光ケーブル４Ｂ（第２光ケーブル）が接続される外部アダプタと、局１００Ｂ内の機器に接続された複数本の光ケーブルが接続される内部アダプタと、が含まれる。

複数本の光ケーブル４Ｂのそれぞれは、Ｎ本の光ファイバを含む。本実施形態では、光ケーブル４Ｂは、Ｎ本の光ファイバ心線が一方向に配列されたテープファイバである。以下の説明において、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線を一方向の一方の端から順に１番心線、２番心線、・・・、Ｎ番心線と称する場合がある。光ケーブル４Ｂの他端は、スプライスキャビネット３Ｂにおいて光ケーブル５の他端に接続される。光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバのそれぞれは、光ケーブル５に含まれるＮ本の光ファイバのいずれかと一対一で融着接続される。なお、上記の例ではスプライスキャビネット３Ａ，３Ｂを用いたが、必ずしもキャビネットの形態を有する必要は無い。

このように、パッチパネル２Ａに接続された光ケーブル４Ａと、光ケーブル５と、パッチパネル２Ｂに接続された光ケーブル４Ｂと、がその順に接続されることによって、光伝送路Ｒが構成される。光ケーブル４Ａは、光伝送路Ｒの一端側に位置し、光ケーブル４Ｂは、光伝送路Ｒの他端側に位置する。光伝送路Ｒは、複数の光線路ｆｒを含む。光線路ｆｒは、光ケーブル４Ａに含まれる光ファイバと、光ケーブル５に含まれる光ファイバと、光ケーブル４Ｂに含まれる光ファイバとがその順に接続されることによって構成される。以下の説明において、光ケーブル４Ａのｋ番心線と光ケーブル４Ｂのｋ番心線とが光ケーブル５を介して光学的に接続されることによって構成される光線路を、「ｋ番目の光線路」と称する場合がある（ｋは１以上Ｎ以下の整数である。）。

次に、図２を参照して、光伝送システム１の光伝送路Ｒを検査する検査システム１０について説明する。図２は、検査システムの概略構成図である。図２に示される検査システム１０は、局１００Ａと局１００Ｂとの間の光伝送路Ｒを検査するためのシステムである。より具体的には、検査システム１０は、パッチパネル２Ａとパッチパネル２Ｂとの間の光伝送路Ｒを検査する。検査システム１０は、検査装置２０Ａ（第１検査装置）と、検査装置２０Ｂ（第２検査装置）と、制御装置３０と、を備える。検査装置２０Ａ，２０Ｂは、光伝送路Ｒを構成する光ケーブル（光ケーブル４Ａ，５，４Ｂ）の誤接続の有無を検査する前検査（第１検査）と、前検査において誤接続が無いと判定された場合に、光伝送路Ｒに含まれる複数の光線路ｆｒを検査する本検査（第２検査）と、を行う。

検査装置２０Ａは、局１００Ａに配置されている。つまり、検査装置２０Ａは、光伝送路Ｒの一端に配置されている。検査装置２０Ａは、ラック２１Ａと、光スイッチ２２Ａ（第１光スイッチ）と、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ａと、測定器２４Ａと、メディアコンバータ２５Ａ（第１通信装置）と、スイッチングハブ２６Ａと、を備える。

ラック２１Ａは、光スイッチ２２Ａ、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ａ、測定器２４Ａ、メディアコンバータ２５Ａ、スイッチングハブ２６Ａ、及び制御装置３０を収納する。ラック２１Ａとしては、例えば、検査装置２０Ａを容易に移動可能とするためにキャスター付きのラックが用いられる。

光スイッチ２２Ａは、光の伝送経路を切り替える装置である。光スイッチ２２Ａは、例えば、１７２８個のポートを有する。光スイッチ２２Ａでは、後述のパワーメータ４１Ａ、光パルス試験機（ＯＴＤＲ）４２Ａ、及び複数のパッチパネル２Ａの内部アダプタが光ケーブルを介してポートに接続されている。光スイッチ２２Ａのポートと複数のパッチパネル２Ａの内部アダプタとは、光ケーブル２７Ａによって接続される。光ケーブル２７Ａとしては、例えば、ＭＰＯ－ＬＣファンアウト光ケーブルが用いられる。ＭＰＯ－ＬＣファンアウト光ケーブルは、一端側に複数の光ファイバに対して一括して設けられた多心コネクタ（例えばＭＰＯコネクタ）を有し、他端側にそれぞれ１本の光ファイバ毎に設けられた単心コネクタ（例えばＬＣコネクタ）を有し、一端から他端に向かう途中で、個々の光ファイバに単心分離されている。多心コネクタ及び単心コネクタは、上記の例に限られない。また、光スイッチ２２Ａのポートと複数のパッチパネル２Ａの内部アダプタとは、単心ファイバ同士で個別に接続されてもよい。

光スイッチ２２Ａは、例えば、パッチパネル２Ａのいずれかのアダプタ又はパワーメータ４１Ａを光パルス試験機４２Ａに選択的に接続するよう伝送経路を切り替え、光パルス試験機４２Ａから出力された試験光をパッチパネル２Ａのいずれかのアダプタ又はパワーメータ４１Ａに選択的に供給する。つまり、光スイッチ２２Ａは、光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうち、試験光を入射する光ファイバ心線を切り替え、又はパワーメータ４１Ａに試験光を入射する。光スイッチ２２Ａは、制御装置３０から出力される切替指示に基づいて、伝送経路を切り替える。光スイッチ２２Ａは、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ａから供給された直流電圧によって駆動する。

ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ａは、商用電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換し、変換した直流電圧を光スイッチ２２Ａに供給する。なお、光スイッチ２２Ａが商用電源で直接駆動できる場合には、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ａは設けられなくてもよい。また、商用電源から供給された交流電圧を電圧変換した交流電圧が使用される場合には、電圧変換器が設けられてもよい。

測定器２４Ａは、パワーメータ４１Ａと、光パルス試験機４２Ａと、を備える。パワーメータ４１Ａは、光のパワー（強度）を測定する機器であり、光スイッチ２２Ａを介して入力された試験光の強度を測定する。パワーメータ４１Ａは、制御装置３０から出力される測定指示に基づいて、試験光の強度を測定する。

光パルス試験機４２Ａは、試験光を出力する光源（第１光源）を有し、光源から出力された試験光に対する戻り光を受信して、その戻り光の強度の時間変化を測定する。戻り光は、試験光の後方散乱光及びフレネル反射光を含む。以下の説明において、戻り光の強度の時間変化の測定を「ＯＴＤＲ測定」と称する場合がある。光源が出力する試験光の波長は、例えば、１３１０ｎｍ、又は１５５０ｎｍである。光源は、波長が異なる複数の試験光を出力可能であってもよい。例えば、光源は、１３１０ｎｍの波長を有する試験光と、１５５０ｎｍの波長を有する試験光と、を出力する。光パルス試験機４２Ａ（光源）は、制御装置３０から出力される光出力指示に基づいて、試験光を出力する。光パルス試験機４２Ａは、制御装置３０から出力される測定指示に基づいて、ＯＴＤＲ測定を行う。

メディアコンバータ２５Ａは、検査装置２０Ｂと通信を行うための通信装置である。メディアコンバータ２５Ａは、電気信号と光信号とを相互に変換する。メディアコンバータ２５Ａは、スイッチングハブ２６Ａから受信した電気信号を光信号に変換する。メディアコンバータ２５Ａは、パッチパネル２Ａに接続されており、パッチパネル２Ａ、光ケーブル４Ａ、光ケーブル５、光ケーブル４Ｂ、及びパッチパネル２Ｂを介してメディアコンバータ２５Ｂ（第２通信装置）に光信号を送信する。メディアコンバータ２５Ａは、パッチパネル２Ｂ、光ケーブル４Ｂ、光ケーブル５、光ケーブル４Ａ、及びパッチパネル２Ａを介してメディアコンバータ２５Ｂから受信した光信号を電気信号に変換し、電気信号をスイッチングハブ２６Ａに出力する。

スイッチングハブ２６Ａは、光スイッチ２２Ａと、測定器２４Ａと、メディアコンバータ２５Ａと、制御装置３０とを電気信号を用いて通信可能に接続する機器である。光スイッチ２２Ａ、測定器２４Ａ、メディアコンバータ２５Ａ、及び制御装置３０は、例えば、ＬＡＮ（Local Area Network）ケーブル等によってスイッチングハブ２６Ａに接続されている。

検査装置２０Ｂは、局１００Ｂに配置されている。つまり、検査装置２０Ｂは、光伝送路Ｒの他端に配置されている。検査装置２０Ｂは、検査装置２０Ａと同様の構成を有する。つまり、検査装置２０Ｂは、ラック２１Ｂと、光スイッチ２２Ｂ（第２光スイッチ）と、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ｂと、測定器２４Ｂと、メディアコンバータ２５Ｂと、スイッチングハブ２６Ｂと、を備える。

ラック２１Ｂは、光スイッチ２２Ｂ、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ｂ、測定器２４Ｂ、メディアコンバータ２５Ｂ、及びスイッチングハブ２６Ｂを収納する。ラック２１Ｂとしては、例えば、検査装置２０Ｂを容易に移動可能とするためにキャスター付きのラックが用いられる。

光スイッチ２２Ｂは、光の伝送経路を切り替える装置である。光スイッチ２２Ｂは、例えば、１７２８個のポートを有する。光スイッチ２２Ｂでは、後述のパワーメータ４１Ｂ、光パルス試験機４２Ｂ、及び複数のパッチパネル２Ｂの内部アダプタが光ケーブルを介してポートに接続されている。光スイッチ２２Ｂのポートと複数のパッチパネル２Ｂの内部アダプタとは、光ケーブル２７Ｂによって接続される。光ケーブル２７Ｂとしては、例えば、ＭＰＯ－ＬＣファンアウト光ケーブルが用いられる。光スイッチ２２Ｂのポートと複数のパッチパネル２Ｂの内部アダプタとは、多心コネクタと単心コネクタとによって接続される接続形態に限られず、単心ファイバ同士で個別に接続されてもよい。

光スイッチ２２Ｂは、例えば、パッチパネル２Ｂのいずれかのアダプタをパワーメータ４１Ｂに選択的に接続するよう伝送経路を切り替える。つまり、光スイッチ２２Ｂは、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうち、パワーメータ４１Ｂに光学的に接続される光ファイバ心線を切り替える。光スイッチ２２Ｂは、例えば、パッチパネル２Ｂのいずれかのアダプタを光パルス試験機４２Ｂに選択的に接続するよう伝送経路を切り替え、光パルス試験機４２Ｂから出力された試験光をパッチパネル２Ｂのいずれかのアダプタに選択的に供給する。つまり、光スイッチ２２Ｂは、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうち、試験光を入射する光ファイバ心線を切り替える。光スイッチ２２Ｂは、制御装置３０から出力される切替指示に基づいて、伝送経路を切り替える。光スイッチ２２Ｂは、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ｂから供給された直流電圧によって駆動する。

ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ｂは、商用電源から供給された交流電圧を直流電圧に変換し、変換した直流電圧を光スイッチ２２Ｂに供給する。なお、光スイッチ２２Ｂが商用電源で直接駆動できる場合には、ＡＣ／ＤＣコンバータ２３Ｂは設けられなくてもよい。また、商用電源から供給された交流電圧を電圧変換した交流電圧が使用される場合には、電圧変換器が設けられてもよい。

測定器２４Ｂは、パワーメータ４１Ｂと、光パルス試験機４２Ｂと、を備える。パワーメータ４１Ｂは、光のパワー（強度）を測定する機器であり、光スイッチ２２Ｂを介して入力された試験光の強度を測定する。パワーメータ４１Ｂは、制御装置３０から出力される測定指示に基づいて、試験光の強度を測定する。

光パルス試験機４２Ｂは、試験光を出力する光源を有し、光源から出力された試験光に対する戻り光を受信して、その戻り光の強度の時間変化を測定する（ＯＴＤＲ測定）。戻り光は、試験光の後方散乱光及びフレネル反射光を含む。光源が出力する試験光の波長は、例えば、１３１０ｎｍ、又は１５５０ｎｍである。光源は、波長が異なる複数の試験光を出力可能であってもよい。例えば、光源は、１３１０ｎｍの波長を有する試験光と、１５５０ｎｍの波長を有する試験光と、を出力する。光パルス試験機４２Ｂ（光源）は、制御装置３０から出力される光出力指示に基づいて、試験光を出力する。光パルス試験機４２Ｂは、制御装置３０から出力される測定指示に基づいて、ＯＴＤＲ測定を行う。

メディアコンバータ２５Ｂは、検査装置２０Ａと通信を行うための通信装置である。メディアコンバータ２５Ｂは、電気信号と光信号とを相互に変換する。メディアコンバータ２５Ｂは、スイッチングハブ２６Ｂから受信した電気信号を光信号に変換する。メディアコンバータ２５Ｂは、パッチパネル２Ｂに接続されており、パッチパネル２Ｂ、光ケーブル４Ｂ、光ケーブル５、光ケーブル４Ａ、及びパッチパネル２Ａを介してメディアコンバータ２５Ａに光信号を送信する。メディアコンバータ２５Ｂは、パッチパネル２Ａ、光ケーブル４Ａ、光ケーブル５、光ケーブル４Ｂ、及びパッチパネル２Ｂを介してメディアコンバータ２５Ａから受信した光信号を電気信号に変換し、電気信号をスイッチングハブ２６Ｂに出力する。

スイッチングハブ２６Ｂは、光スイッチ２２Ｂと、測定器２４Ｂと、メディアコンバータ２５Ｂとを電気信号を用いて通信可能に接続する機器である。光スイッチ２２Ｂ、測定器２４Ｂ、及びメディアコンバータ２５Ｂは、例えば、ＬＡＮケーブル等によってスイッチングハブ２６Ｂに接続されている。

制御装置３０は、検査システム１０を統括制御するコントローラである。制御装置３０は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサと、ＲＡＭ（Random Access Memory）及びＲＯＭ（Read Only Memory）等のメモリと、マウス及びキーボード等の入力装置と、ディスプレイ等の出力装置と、ネットワークカード等の通信装置と、を含むコンピュータシステムとして構成される。制御装置３０としては、例えば、デスクトップＰＣ（Personal Computer）、ノートＰＣ、及びタブレット端末が用いられ得る。制御装置３０は、メモリに記憶されているコンピュータプログラム（検査プログラム）に基づいて、検査システム１０を制御することによって光伝送路Ｒの検査を行う。制御装置３０は、光伝送路Ｒ及び光線路ｆｒの異常原因を解析する解析部としても機能する。なお、上記の例ではスイッチングハブ２６Ａ，２６Ｂが用いられたが、スイッチングハブ２６Ａ，２６Ｂに代えて、通常のハブ（ＯＳＩ（Open System Interconnect）参照モデルにおけるレイヤ１のハブ）が使用されてもよい。

次に、図３～図１１を参照して、検査システム１０が行う検査方法について説明する。図３は、検査システムが行う検査方法の一例を示すフローチャートである。図４は、図３の前検査処理を詳細に示すフローチャートである。図５は、図４の原因解析処理を詳細に示すフローチャートである。図６は、図３の本検査処理を詳細に示すフローチャートである。図７は、図６の原因解析処理を詳細に示すフローチャートである。図８及び図９は、光損失の測定方法を説明するための図である。図１０及び図１１は、戻り光の強度の時間変化を測定する方法を説明するための図である。図３に示される検査方法は、例えば、制御装置３０において、検査プログラムが実行されることによって開始される。

まず、光ケーブル（光ケーブル４Ａ、光ケーブル５及び光ケーブル４Ｂ）の誤接続の有無を検査する前検査が行われる（ステップＳ０１）。ステップＳ０１の前検査では、図４に示されるように、まず、検査装置２０Ａが電力Ｐｒｅｆを測定する（ステップＳ１１）。具体的には、図８に示されるように、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートとパワーメータ４１Ａが接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ａに電力Ｐｒｅｆを測定させる。そして、制御装置３０は、パワーメータ４１Ａによって測定された電力Ｐｒｅｆを受け取り、電力Ｐｒｅｆを不図示のメモリに記憶する。

続いて、検査装置２０Ａ及び検査装置２０Ｂは、電力Ｐ１を測定する（ステップＳ１２）。具体的には、図９に示されるように、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと、光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる。そして、制御装置３０は、パワーメータ４１Ｂによって測定された電力Ｐ１を受け取る。

なお、光スイッチ２２Ａには、光ケーブル４Ａが直接接続されていないので、光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートとは、１番心線に光ケーブル２７Ａ及びパッチパネル２Ａを介して光学的に接続されるポートを意味する。同様に、光スイッチ２２Ｂには、光ケーブル４Ｂが直接接続されていないので、１番心線に接続されているポートとは、１番心線に光ケーブル２７Ｂ及びパッチパネル２Ｂを介して光学的に接続されるポートを意味する。以下の説明においても同様の表現が用いられる。

続いて、制御装置３０は、１番目の光線路ｆｒの光損失ＩＬを算出する（ステップＳ１３）。具体的には、制御装置３０は、電力Ｐｒｅｆと電力Ｐ１とに基づいて、式（１）を用いて１番目の光線路ｆｒの光損失ＩＬを算出する。光損失Ｌｒｅｆは、光スイッチ２２Ａにおける損失である。光損失Ｌｓｗａは、光スイッチ２２Ａ及び光ケーブル２７Ａにおける損失である。光損失Ｌｓｗｂは、光スイッチ２２Ｂ及び光ケーブル２７Ｂにおける損失である。光損失Ｌｒｅｆ、光損失Ｌｓｗａ、及び光損失Ｌｓｗｂは、予め測定され、制御装置３０のメモリに記憶されている。
IL=Pref+Lref-P1-Lswa-Lswb … (1)

光パルス試験機４２Ａから出力される試験光の電力Ｐ０を直接測定することができないので、電力Ｐｒｅｆに光損失Ｌｒｅｆを加えた値が電力Ｐ０として算出される。そして、電力Ｐ０から光損失Ｌｓｗａ、光損失Ｌｓｗｂ、及び電力Ｐ１を除いた電力が、光損失ＩＬとして算出される。そして、制御装置３０は、光線路ｆｒの識別番号と、電力Ｐ１と、光損失ＩＬと、を対応付けて不図示のメモリに記憶する。

なお、この例では、互いに異なる波長（波長λ１及び波長λ２）を有する２つの試験光でそれぞれ光損失ＩＬの測定が行われる。このため、制御装置３０は、ステップＳ１１，Ｓ１２において、波長を特定する情報とともに、光パルス試験機４２Ａに光出力指示を送信する。波長λ１は１３１０ｎｍであり、波長λ２は１５５０ｎｍである。この場合、制御装置３０は、光線路ｆｒの識別番号と、試験光の波長と、電力Ｐ１と、光損失ＩＬと、を対応付けて不図示のメモリに記憶する。

続いて、制御装置３０は、メモリから光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）を読み出し、光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）が良好であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。光損失ＩＬ（λ１）は、波長λ１の試験光を用いた場合の光損失ＩＬである。光損失ＩＬ（λ２）は、波長λ２の試験光を用いた場合の光損失ＩＬである。具体的には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）と予め定められた判定閾値とを比較する。光損失ＩＬ（λ１）が判定閾値よりも大きい場合には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ１）が異常であると判定し（ステップＳ１４；ＮＯ）、原因解析処理（ステップＳ１５）を行う。同様に、光損失ＩＬ（λ２）が判定閾値よりも大きい場合には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ２）が異常であると判定し（ステップＳ１４；ＮＯ）、原因解析処理（ステップＳ１５）を行う。

ステップＳ１５の原因解析処理では、図５に示されるように、まず、制御装置３０は、メモリから電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）を読み出し、電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて各波長の試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ１５１）。電力Ｐ１（λ１）は、波長λ１の試験光を用いた場合の電力Ｐ１である。電力Ｐ１（λ２）は、波長λ２の試験光を用いた場合の電力Ｐ１である。制御装置３０は、例えば、電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）が０であるか、０とみなし得る程度の小さい値である場合に、試験光が受光されなかったと判定する。

制御装置３０は、少なくともいずれかの波長の試験光が受光されたと判定した場合（ステップＳ１５１；ＹＥＳ）、光損失ＩＬ（λ１）と光損失ＩＬ（λ２）とを比較する（ステップＳ１５２）。ここで、波長λ２は、波長λ１よりも大きいので、波長λ１の試験光よりも波長λ２の試験光のほうが、光ファイバに同じ量の曲げが与えられた場合でも、損失がより大きくなる。このため、光損失ＩＬ（λ２）が光損失ＩＬ（λ１）よりも大きい場合には、光ケーブルの曲げによる損失が生じているとみなし得る。したがって、制御装置３０は、例えば、光損失ＩＬ（λ２）から光損失ＩＬ（λ１）を減算した結果が、曲げ判定用の閾値よりも大きい場合（ステップＳ１５２；ＹＥＳ）には、光伝送路Ｒを構成する光ケーブルに曲げが生じていると判定する（ステップＳ１５３）。

ステップＳ１５２の判定において、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ２）から光損失ＩＬ（λ１）を減算した結果が、曲げ判定用の閾値以下である場合（ステップＳ１５２；ＮＯ）には、光伝送路Ｒを構成する光ケーブルに曲げ以外の損失、即ち、波長依存性が小さい何らかの損失が生じていると判定する（ステップＳ１５４）。

一方、ステップＳ１５１の判定において、制御装置３０は、いずれの波長の試験光も受光されなかったと判定した場合（ステップＳ１５１；ＮＯ）、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと光ケーブル４ＢのＮ番（１２番）心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる（ステップＳ１５５）。ステップＳ１５５においても、制御装置３０は、波長λ１の試験光及び波長λ２の試験光を用いて、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）を測定させる。

そして、制御装置３０は、測定された電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて各波長の試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ１５６）。ここで、試験光を光ケーブル４Ａの１番心線に入射し、光ケーブル４ＢのＮ番心線から試験光を受信した場合、光ケーブル４Ａの光ファイバ心線の配列に対して、光ケーブル４Ｂの光ファイバ心線の配列が反対になっていると考えられる。つまり、光ケーブル４Ａに対して、光ケーブル４Ｂが表裏反対に接続されている可能性が高い。このため、制御装置３０は、ステップＳ１５６の判定において、少なくともいずれかの波長の試験光が受光されたと判定した場合（ステップＳ１５６；ＹＥＳ）、光ケーブルの誤接続（表裏接続）であると判定する（ステップＳ１５７）。

一方、ステップＳ１５６の判定において、制御装置３０は、いずれの波長の試験光も受光されなかったと判定した場合（ステップＳ１５６；ＮＯ）、１番目の光線路ｆｒ以外の光線路ｆｒ（２～Ｎ番目の光線路ｆｒ）についても受光の有無を確認する（ステップＳ１５８）。具体的には、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと光ケーブル４Ａの２番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと、光ケーブル４Ｂの２番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる。制御装置３０は、この処理を２～Ｎ番目の光線路ｆｒの全てについて、繰り返す。

そして、制御装置３０は、２～Ｎ番目の光線路ｆｒのそれぞれについて測定された電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ１５９）。ここで、全ての光線路ｆｒにおいて受光が確認されなかった場合、光ケーブル４Ａと光ケーブル４Ｂとが光学的に接続されていないと考えられる。例えば、光ケーブル４Ａが別の光ケーブル４Ｂに接続されていることも考えられる。このため、制御装置３０は、ステップＳ１５９の判定において、いずれの光線路ｆｒにおいても試験光が受光されなかったと判定した場合（ステップＳ１５９；ＮＯ）、光ケーブルの誤接続（未接続）であると判定する（ステップＳ１６０）。

一方、ステップＳ１５９の判定において、制御装置３０は、２～Ｎ番目の光線路ｆｒのうちのいずれかの光線路ｆｒにおいて試験光が受光されたと判定した場合（ステップＳ１５９；ＹＥＳ）、２～Ｎ番目の光線路ｆｒの全てで試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ１６１）。つまり、制御装置３０は、１番目の光線路ｆｒにおいてのみ試験光が受光されなかったか、他の光線路ｆｒにおいても試験光が受光されなかったかを判定する。

制御装置３０は、１番目の光線路ｆｒにおいてのみ試験光が受光されなかったと判定した場合（ステップＳ１６１；ＹＥＳ）、光ケーブルの接続は正しいが、１番目の光線路ｆｒに接続不良（例えば断線）が生じていると判定する（ステップＳ１６２）。一方、制御装置３０は、１番目の光線路ｆｒだけでなく他の光線路ｆｒにおいても試験光が受光されなかったと判定した場合（ステップＳ１６１；ＮＯ）、光ケーブルの接続は正しいが、異常な光線路ｆｒが存在すると判定する（ステップＳ１６３）。

そして、制御装置３０は、ステップＳ１５３、ステップＳ１５４、ステップＳ１５７、ステップＳ１６０、ステップＳ１６２、及びステップＳ１６３のいずれかにおいて判定した異常原因を出力する（ステップＳ１６４）。制御装置３０は、例えば、異常原因を示す情報をメモリに記憶してもよく、ディスプレイ等の表示装置に異常原因を表示してもよい。

ステップＳ１４の判定において、光損失ＩＬ（λ１）が判定閾値以下であり、かつ、光損失ＩＬ（λ２）が判定閾値以下である場合には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）が良好である、つまり、光ケーブル４Ａ、光ケーブル５及び光ケーブル４Ｂに誤接続が無いと判定し（ステップＳ１４；ＹＥＳ）、本検査を行う（ステップＳ０２）。

ステップＳ０２の本検査では、図６に示されるように、まず、制御装置３０は、検査装置２０Ａ及び検査装置２０Ｂに、各光線路ｆｒについて電力Ｐ１を測定させる（ステップＳ２１）。具体的には、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと、光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる。そして、制御装置３０は、パワーメータ４１Ｂによって測定された電力Ｐ１を受け取る。

続いて、制御装置３０は、光線路ｆｒの光損失ＩＬを算出する（ステップＳ２２）。具体的には、制御装置３０は、電力Ｐｒｅｆと電力Ｐ１とに基づいて、式（１）を用いて光線路ｆｒの光損失ＩＬを算出する。そして、制御装置３０は、光線路ｆｒの識別番号と、電力Ｐ１と、光損失ＩＬと、を対応付けて不図示のメモリに記憶する。制御装置３０は、このステップＳ２１及びステップＳ２２を１番目の光線路ｆｒからＮ番目の光線路ｆｒまで順に繰り返す。

続いて、制御装置３０は、検査装置２０Ａ及び検査装置２０Ｂに、各光線路ｆｒについて戻り光の強度の時間変化を測定させる（ステップＳ２３）。具体的には、図１０に示されるように、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートが他のポートに光学的に接続されないように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、光パルス試験機４２Ａに戻り光の強度の時間変化を測定させる。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａによって測定された測定結果を受け取り、光線路ｆｒの識別番号とともに不図示のメモリに記憶する。制御装置３０は、この処理を光ケーブル４Ａの１番心線からＮ番心線まで順に繰り返す。

続いて、図１１に示されるように、制御装置３０は、光スイッチ２２Ｂにおいて、光パルス試験機４２Ｂが接続されているポートと光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ａにおいて、光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートが他のポートに光学的に接続されないように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ｂに試験光を出力させ、光パルス試験機４２Ｂに戻り光の強度の時間変化を測定させる。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ｂによって測定された測定結果を受け取り、光線路ｆｒの識別番号とともに不図示のメモリに記憶する。制御装置３０は、この処理を光ケーブル４Ｂの１番心線からＮ番心線まで順に繰り返す。

なお、この例では、互いに異なる波長（波長λ１及び波長λ２）を有する２つの試験光でそれぞれ電力Ｐ１及び戻り光の強度の時間変化が測定される。このため、制御装置３０は、ステップＳ２１，Ｓ２３において、波長を特定する情報とともに、光パルス試験機４２Ａ，４２Ｂに光出力指示を送信する。この場合、制御装置３０は、光線路ｆｒの識別番号と、試験光の波長と、上述の測定結果と、を対応付けて不図示のメモリに記憶する。

続いて、制御装置３０は、メモリからｋ番目の光線路ｆｒの光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）を読み出し、光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）が良好であるか否かを判定する（ステップＳ２４）。なお、パラメータｋの初期値は１である。具体的には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）と予め定められた判定閾値とを比較する。光損失ＩＬ（λ１）が判定閾値よりも大きい場合には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ１）が異常であると判定し（ステップＳ２４；ＮＯ）、原因解析処理（ステップＳ２５）を行う。同様に、光損失ＩＬ（λ２）が判定閾値よりも大きい場合には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ２）が異常であると判定し（ステップＳ２４；ＮＯ）、原因解析処理（ステップＳ２５）を行う。

ステップＳ２５の原因解析処理では、図７に示されるように、まず、制御装置３０は、ステップＳ１５１と同様に、メモリから電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）を読み出し、電力Ｐ１（λ１）及び電力Ｐ１（λ２）に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて各波長の試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ２５１）。制御装置３０は、少なくともいずれかの波長の試験光が受光されたと判定した場合（ステップＳ２５１；ＹＥＳ）、光損失ＩＬ（λ１）と光損失ＩＬ（λ２）とを比較する（ステップＳ２５２）。

制御装置３０は、例えば、光損失ＩＬ（λ２）から光損失ＩＬ（λ１）を減算した結果が、曲げ判定用の閾値よりも大きい場合（ステップＳ２５２；ＹＥＳ）には、ｋ番目の光線路ｆｒを構成する光ファイバに曲げが生じていると判定する（ステップＳ２５３）。ステップＳ２５２の判定において、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ２）から光損失ＩＬ（λ１）を減算した結果が、曲げ判定用の閾値以下である場合（ステップＳ２５２；ＮＯ）には、ｋ番目の光線路ｆｒを構成する光ファイバに曲げ以外の何らかの損失が生じていると判定する（ステップＳ２５４）。

一方、ステップＳ２５１の判定において、制御装置３０は、いずれの波長の試験光も受光されなかったと判定した場合（ステップＳ２５１；ＮＯ）、遠端距離Ｄ１と遠端距離Ｄｋとを比較する（ステップＳ２５５）。遠端距離とは、光線路ｆｒの一端から他端までの距離であり、光線路ｆｒの光路長である。遠端距離Ｄ１は、１番目の光線路ｆｒの遠端距離である。遠端距離Ｄｋは、ｋ番目の光線路ｆｒの遠端距離である。制御装置３０は、１番目及びｋ番目の光線路ｆｒに対する光パルス試験機４２Ａの測定結果をメモリから読み出す。そして、制御装置３０は、測定結果に基づいて、遠端距離Ｄ１と遠端距離Ｄｋとを算出する。

ここで、本検査は、１番目の光線路ｆｒが正常であった場合に行われることから、１番目の光線路ｆｒには断線等は生じていない。このため、ｋ番目の光線路ｆｒに断線が生じている場合には、遠端距離Ｄｋは遠端距離Ｄ１よりも小さくなる。したがって、遠端距離Ｄ１が遠端距離Ｄｋよりも大きい場合には、ｋ番目の光線路ｆｒに断線が生じているとみなし得る。そこで、制御装置３０は、例えば、遠端距離Ｄ１から遠端距離Ｄｋを減算した結果が、断線判定用の閾値よりも大きい場合（ステップＳ２５５；ＹＥＳ）には、ｋ番目の光線路ｆｒに断線が生じていると判定する（ステップＳ２５６）。

ステップＳ２５５の判定において、制御装置３０は、遠端距離Ｄ１から遠端距離Ｄｋを減算した結果が、断線判定用の閾値以下である場合（ステップＳ２５５；ＮＯ）には、光ケーブル４Ａのｋ番心線が光ケーブル４Ｂのｋ番心線以外の光ファイバ心線に光学的に接続されていると判定する（ステップＳ２５７）。

そして、制御装置３０は、ステップＳ２５３、ステップＳ２５４、ステップＳ２５６、及びステップＳ２５７のいずれかにおいて判定した異常原因を出力する（ステップＳ２５８）。制御装置３０は、例えば、異常原因を示す情報を、光線路ｆｒを特定する識別情報ととともにメモリに記憶してもよく、ディスプレイ等の表示装置に異常原因を表示してもよい。そして、制御装置３０は、全ての光線路ｆｒを検査したか否かを判定する（ステップＳ２７）。つまり、制御装置３０は、パラメータｋの値がＮであるか否かを判定する。

ステップＳ２４の判定において、光損失ＩＬ（λ１）が判定閾値以下であり、かつ、光損失ＩＬ（λ２）が判定閾値以下である場合には、制御装置３０は、光損失ＩＬ（λ１）及び光損失ＩＬ（λ２）が良好である、つまり、ｋ番目の光線路ｆｒが正常であると判定し（ステップＳ２４；ＹＥＳ）、ｋ番目の光線路ｆｒの検査結果を出力する（ステップＳ２６）。制御装置３０は、例えば、検査結果を、光線路ｆｒを特定する識別情報ととともにメモリに記憶してもよく、ディスプレイ等の表示装置に検査結果を表示してもよい。そして、制御装置３０は、全ての光線路ｆｒを検査したか否かを判定する（ステップＳ２７）。

そして、制御装置３０は、全ての光線路ｆｒを検査したわけではないと判定した場合（ステップＳ２７；ＮＯ）、パラメータｋの値を１つ増加し（ステップＳ２８）、次の光線路ｆｒについてステップＳ２４～ステップＳ２７の処理を再び実行する。一方、ステップＳ２７の判定において、制御装置３０は、全ての光線路ｆｒを検査したと判定した場合（ステップＳ２７；ＹＥＳ）、検査システムが行う検査方法の一連の処理が終了する。なお、光伝送路Ｒのうちの１つの光ケーブル４Ａとその光ケーブル４Ａに対応する光ケーブル４Ｂとを含む部分の検査について説明したが、他の光ケーブル４Ａ，４Ｂについても上述の検査方法が順に行われる。

上述のように、前検査（ステップＳ０１）では、検査装置２０Ａは、光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうちの１番心線に試験光を入射し、検査装置２０Ｂは、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうちの１番心線から出力される試験光の強度を測定する。そして、前検査で光ケーブルの誤接続が無いと判定された場合に本検査（ステップＳ０２）が行われる。

本検査では、検査装置２０Ａは、光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバ心線に順に試験光を入射し、検査装置２０Ｂは、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうち、光ケーブル４Ａの試験光が入射された光ファイバ心線に対応する光ファイバ心線から出力される試験光の強度を順に測定する。また、本検査では、検査装置２０Ａは、光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバ心線に順に試験光を入射し、その戻り光の強度の時間変化を測定する。また、検査装置２０Ｂは、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線に順に試験光を入射し、その戻り光の強度の時間変化を測定する。

制御装置３０は、前検査において誤接続が有ると判定した場合に、パワーメータ４１Ｂの測定結果（電力Ｐ１）に基づいて、光伝送路Ｒの異常原因を解析する原因解析処理（ステップＳ１５）を行う。また、制御装置３０は、本検査において光線路ｆｒが異常であると判定した場合に、光線路ｆｒの異常原因を解析する原因解析処理（ステップＳ２５）を行う。

以上説明したように、この検査システム１０及び検査方法では、光伝送路Ｒを構成する光ケーブル（光ケーブル４Ａ、光ケーブル５、及び光ケーブル４Ｂ）の誤接続の有無が検査され、誤接続が無いと判定された場合に、Ｎ個の光線路ｆｒが検査される。光ケーブルの誤接続がある場合には、Ｎ個の光線路ｆｒの検査を行うまでもなく、光ケーブルの接続を修正する必要がある。このため、誤接続が無いと判定された場合に、Ｎ個の光線路ｆｒの検査を行うことで、不要な検査を省略することができる。その結果、光伝送路Ｒの検査効率を向上させることが可能となる。

光ケーブルの誤接続の有無は、１つの光線路ｆｒの検査によって判定され得る。検査システム１０では、光ケーブル４Ａの１番心線と光ケーブル４Ｂの１番心線とが光学的に正常に接続されているか否かを判定することによって、光ケーブルの誤接続の有無が検査される。このため、前検査を簡易的に行うことができ、光伝送路Ｒの検査効率を向上させることが可能となる。

光ケーブル４Ａ，４Ｂは、Ｎ本の光ファイバ心線が一方向に配列されたテープファイバである。前検査に用いられる光ケーブル４Ａの１番心線は、光ケーブル４Ａの一方向における端に位置し、前検査に用いられる光ケーブル４Ｂの１番心線は、光ケーブル４Ｂの一方向における端に位置する。テープファイバ同士を接続する際、テープの表裏を取り違えて誤接続することが最も起こりやすい。この場合、誤接続の有無は、光ケーブル４Ａと光ケーブル４Ｂとが正常に接続された場合の光ファイバ（心線）の組み合わせと、光ケーブル４Ａと光ケーブル４Ｂとが表裏反転して接続された場合の光ファイバ（心線）の組み合わせと、をそれぞれ検査することで判別できる。この時、テープファイバの端に位置する光ファイバは、テープファイバ同士が正常に接続された場合、及び、表裏反転して接続された場合のいずれの場合も端に位置する。このため、光ケーブル４Ａ，４Ｂの一方向における端に位置する心線を用いることで、誤接続の有無を最も簡便に区別することができる。

検査装置２０Ａ，２０Ｂは、前検査（ステップＳ０１）において、波長の異なる複数の試験光を用いて光ケーブルの誤接続の有無を検査する。例えば、光ファイバに曲げが生じている場合、波長が大きい試験光ほど曲げ損失が大きくなる。このように、試験光の波長によって、検査精度が異なる場合がある。このため、波長の異なる複数の試験光で検査することで、検査精度を向上させることが可能となる。

本検査（ステップＳ０２）では、検査装置２０Ａは、光ケーブル４Ａに含まれるＮ本の光ファイバ心線に順に試験光を入射し、検査装置２０Ｂは、光ケーブル４Ｂに含まれるＮ本の光ファイバ心線のうち、光ケーブル４Ａの試験光が入射された光ファイバ心線に対応する光ファイバ心線から出力される試験光の強度を順に測定する。このため、Ｎ個の光線路ｆｒのそれぞれについて、光ファイバ心線が正常に接続されているか否かを確認することができる。

戻り光の強度の時間変化によって、各光線路ｆｒの（光伝送可能な部分の）長さ（遠端距離）が測定され得る。例えば、測定された長さが、正常な光線路ｆｒの長さよりも短い場合には、光線路ｆｒに断線が生じていると考えられるので、各光線路ｆｒにおける異常の有無を検査することができる。

例えば、前検査（ステップＳ０１）において、パワーメータ４１Ｂによって受光が確認されなかった場合には、光ケーブルが正しく接続されていない可能性がある。また、前検査（ステップＳ０１）において、パワーメータ４１Ｂによって受光が確認されたものの損失が大きい場合には、光ケーブルは正しく接続されているが、光ケーブルに曲げ等の異常が生じていると考えられる。このように、パワーメータ４１Ｂの測定結果に応じて異常原因が解析されることによって、光伝送路Ｒの修復作業を簡易化することが可能となる。

なお、本発明に係る検査システム及び検査方法は上記実施形態に限定されない。

例えば、上記実施形態では、光伝送路Ｒでは、光ケーブル４Ａと光ケーブル４Ｂとは、１本の光ケーブル５で光学的に接続されているが、直列に接続された複数本の光ケーブル５で光学的に接続されてもよい。

光ケーブル４Ａ，４Ｂ，５は、複数本（Ｎ本）の光ファイバを含むケーブルであればよく、テープファイバでなくてもよい。また、光ケーブル４Ａ，４Ｂ，５は、光ファイバ心線に代えて、光ファイバ素線を含んでもよい。

上記実施形態では、光パルス試験機４２Ａ，４２Ｂは、光源を含んでいるが、光パルス試験機４２Ａ，４２Ｂと光源とは別体であってもよい。或いは、測定器２４Ａ，２４Ｂは、電力測定用に、光パルス試験機４２Ａ，４２Ｂが備える光源とは別の光源を有していてもよい。

上記実施形態では、検査システム１０は、検査プログラムが実行されることにより、制御装置３０の制御のもとで光伝送路Ｒの検査を自動的に行うが、作業者が制御装置３０の入力装置を用いて検査対象の光線路ｆｒを指定することによって、検査システム１０に前検査及び本検査を行わせてもよい。

光損失ＩＬの測定及びＯＴＤＲ測定のそれぞれは、１つの波長の試験光を用いて行われてもよい。この場合、検査時間の短縮が可能となる。また、光損失ＩＬの測定及びＯＴＤＲ測定のそれぞれは、３種類以上の波長（例えば、上記の例に加えて波長１６２５ｎｍ）の試験光を用いて行われてもよい。この場合、検査精度のさらなる向上が可能となる。

前検査においてＯＴＤＲ測定が行われてもよい。この場合、原因解析処理（ステップＳ１５）において、異常原因の推定精度を向上させることが可能となる。また、本検査において、ＯＴＤＲ測定が省略されてもよい。この場合、検査時間の短縮が可能となる。

前検査では、１つの光線路ｆｒが検査されればよく、前検査において検査される光線路ｆｒは、１番目の光線路ｆｒでなくてもよい。

また、検査システム１０では、上述の各閾値、試験光のパルス幅、ＯＴＤＲ測定条件、及び測定距離の範囲等は、設定及び変更され得る。作業者が制御装置３０の入力装置を用いて、これらの設定及び変更を行ってもよい。

例えば、ＯＴＤＲ測定において、状況に応じてパルス幅を小さくすることで、分解能を向上させてもよい。これにより、検査精度を向上させることができる。

また、上記実施形態では、光スイッチ２２Ａの光損失Ｌｓｗａ及び光スイッチ２２Ｂの光損失Ｌｓｗｂは、予め測定され、登録されている。しかし、光損失Ｌｓｗａ及び光損失Ｌｓｗｂは、経時変化等によって再現性が低い場合がある。このため、検査システム１０は、光スイッチ２２Ａの光損失Ｌｓｗａ及び光スイッチ２２Ｂの光損失Ｌｓｗｂを自動で校正する機能を有してもよい。自動校正では、検査システム１０が光伝送路Ｒの検査を行うごとに、前検査（ステップＳ０１）の前に、光パルス試験機４２Ａが戻り光の強度の時間変化を測定することによって、光スイッチ２２Ａの光損失Ｌｓｗａを算出し、光パルス試験機４２Ｂが戻り光の強度の時間変化を測定することによって、光スイッチ２２Ｂの光損失Ｌｓｗｂを算出する。

図１２及び図１３を参照して、自動校正機能について説明する。図１２及び図１３は、自動校正を説明するための図である。図１２の横軸は、光パルス試験機４２Ａからの距離を示し、図１２の縦軸は、戻り光の強度を示す。図１３の横軸は、光パルス試験機４２Ｂからの距離を示し、図１３の縦軸は、戻り光の強度を示す。

まず、光スイッチ２２Ａの光損失Ｌｓｗａの校正について説明する。制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、光パルス試験機４２Ａに戻り光の強度の時間変化を測定させる。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａによって測定された測定結果を受け取り、光損失Ｌｓｗａを算出する。

具体的に説明すると、図１２に示されるように、測定結果は、凸部Ｒａ１～Ｒａ３と、平坦部Ｆａ１，Ｆａ２と、を含む。凸部Ｒａ１は、近端反射による反射光の強度を示している。近端反射は、光パルス試験機４２Ａに接続される光ケーブルのコネクタと、光パルス試験機４２Ａとの接続点において生じる反射である。凸部Ｒａ２は、光スイッチ２２Ａにおいて生じる反射による反射光の強度を示している。凸部Ｒａ３は、パッチパネル２Ａにおいて生じる反射による反射光の強度を示している。平坦部Ｆａ１は、光パルス試験機４２Ａと光スイッチ２２Ａとを接続する光ケーブルにおける後方散乱光の強度を示している。平坦部Ｆａ２は、光スイッチ２２Ａとパッチパネル２Ａとを接続する光ケーブル２７Ａにおける後方散乱光の強度を示している。

つまり、平坦部Ｆａ１の強度と平坦部Ｆａ２の強度との差分が光スイッチ２２Ａにおける光損失Ｌｓｗａを表す。このため、制御装置３０は、平坦部Ｆａ１の強度と平坦部Ｆａ２の強度との差分を演算し、その演算結果（差分）を光損失Ｌｓｗａとする。そして、制御装置３０は、算出した光損失Ｌｓｗａを不図示のメモリに記憶する。

光スイッチ２２Ｂの光損失Ｌｓｗｂの校正についても同様に行われる。制御装置３０は、光スイッチ２２Ｂにおいて、光パルス試験機４２Ｂが接続されているポートと光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ｂに試験光を出力させ、光パルス試験機４２Ｂに戻り光の強度の時間変化を測定させる。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ｂによって測定された測定結果を受け取り、光損失Ｌｓｗｂを算出する。

具体的に説明すると、図１３に示されるように、測定結果は、凸部Ｒｂ１～Ｒｂ３と、平坦部Ｆｂ１，Ｆｂ２と、を含む。凸部Ｒｂ１は、光パルス試験機４２Ｂに接続されている光ケーブルのコネクタと、光パルス試験機４２Ｂとの接続点において生じる近端反射による反射光の強度を示している。凸部Ｒｂ２は、光スイッチ２２Ｂにおいて生じる反射による反射光の強度を示している。凸部Ｒｂ３は、パッチパネル２Ｂにおいて生じる反射による反射光の強度を示している。平坦部Ｆｂ１は、光パルス試験機４２Ｂと光スイッチ２２Ｂとを接続する光ケーブルにおける後方散乱光の強度を示している。平坦部Ｆｂ２は、光スイッチ２２Ｂとパッチパネル２Ｂとを接続する光ケーブル２７Ｂにおける後方散乱光の強度を示している。

つまり、平坦部Ｆｂ１の強度と平坦部Ｆｂ２の強度との差分が光スイッチ２２Ｂにおける光損失Ｌｓｗｂを表す。このため、制御装置３０は、平坦部Ｆｂ１の強度と平坦部Ｆｂ２の強度との差分を演算し、その演算結果（差分）を光損失Ｌｓｗｂとする。そして、制御装置３０は、算出した光損失Ｌｓｗｂを不図示のメモリに記憶する。なお、上記の例では、それぞれ一方向からの入射光を用いて光損失Ｌｓｗａ，Ｌｓｗｂが測定されるが、光損失Ｌｓｗａ，Ｌｓｗｂの測定方法はこれに限られない。例えば、光パルス試験機４２Ａで光スイッチ２２Ｂまでを測定し、光パルス試験機４２Ｂで光スイッチ２２Ａまでを測定することも可能である。この場合には、それぞれの入射方向から、それぞれ光損失Ｌｓｗａ，Ｌｓｗｂを測定することができる。このため、光損失Ｌｓｗａ，Ｌｓｗｂとして、両方からの測定値の平均値が用いられることで、測定誤差をさらに低減することが可能となる。

このように、検査システム１０が光伝送路Ｒの検査を行うごとに、戻り光の強度の時間変化を測定し、その測定結果に基づいて光スイッチ２２Ａの光損失Ｌｓｗａ及び光スイッチ２２Ｂの光損失Ｌｓｗｂを算出することで、光損失Ｌｓｗａ及び光損失Ｌｓｗｂの誤差を低減することができる。これにより、各光線路ｆｒの光損失ＩＬの測定精度を向上させることが可能となる。

検査システム１０は、本検査において、光ケーブル４Ａ，５，４Ｂによって構成されるＮ個の光線路ｆｒのうち２以上の光線路ｆｒが異常であると判定された場合、異常と判定された光線路ｆｒを構成する光ケーブル４Ａの心線と光ケーブル４Ｂの心線とのすべての組み合わせをスキャンしてもよい。具体的には、ステップＳ２７の判定において、制御装置３０は、全ての光線路ｆｒを検査したと判定した場合（ステップＳ２７；ＹＥＳ）、図１４に示されるケーブル内誤接続確認処理をさらに実施してもよい。

図１４に示されるケーブル内誤接続確認処理では、まず、制御装置３０は、光ケーブル４Ａ，５，４Ｂによって構成されるＮ個の光線路ｆｒのうち２以上の光線路ｆｒが異常であると判定されたか否かを判定する（ステップＳ３１）。制御装置３０は、１以下の光線路ｆｒが異常である場合には（ステップＳ３１；ＮＯ）、ケーブル内誤接続確認処理を終了する。一方、ステップＳ３１の判定において、２以上の光線路ｆｒが異常である場合には（ステップＳ３１；ＹＥＳ）、制御装置３０は、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ａの心線から１つの心線を選択する（ステップＳ３２）。そして、制御装置３０は、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ｂの心線から１つの心線を選択する（ステップＳ３３）。

そして、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと、ステップＳ３２において選択された光ケーブル４Ａの心線に接続されているポートと、が光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信する。さらに、制御装置３０は、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと、ステップＳ３３において選択された光ケーブル４Ｂの心線に接続されているポートと、が光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる（ステップＳ３４）。

そして、制御装置３０は、測定された電力Ｐ１に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ３５）。制御装置３０は、試験光が受光されなかったと判定した場合（ステップＳ３５；ＮＯ）、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ｂの心線がすべて選択されたか否かを判定する（ステップＳ３６）。制御装置３０は、すべての心線が選択されたわけではないと判定した場合（ステップＳ３６；ＮＯ）、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ｂの心線のうち、未選択の１つの心線を選択する（ステップＳ３３）。そして、ステップＳ３４及びステップＳ３５の処理が再び実行される。

一方、ステップＳ３５において、試験光が受光されたと判定された場合には（ステップＳ３５；ＹＥＳ）、選択された心線同士が接続されている可能性が高い。このため、制御装置３０は、試験光が受光されたと判定した場合、心線の誤接続（入れ替わり接続）であると判定する（ステップＳ３７）。そして、制御装置３０は、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ａの心線がすべて選択されたか否かを判定する（ステップＳ３８）。また、ステップＳ３６において、制御装置３０は、すべての心線が選択されたと判定した場合（ステップＳ３６；ＹＥＳ）にも、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ａの心線がすべて選択されたか否かを判定する（ステップＳ３８）。

制御装置３０は、すべての心線が選択されたわけではないと判定した場合（ステップＳ３８；ＮＯ）、異常な光線路ｆｒに含まれる光ケーブル４Ａの心線のうち、未選択の１つの心線を選択する（ステップＳ３２）。そして、ステップＳ３３～ステップＳ３８の処理が再び実行される。一方、ステップＳ３８において、制御装置３０がすべての心線が選択されたと判定した場合（ステップＳ３８；ＹＥＳ）、ケーブル内誤接続確認処理を終了する。これにより、異常原因として、ケーブル内の心線誤接続を検出することができる。

検査システム１０は、前検査において、２組以上の光ケーブル４Ａ，５，４Ｂにおいて誤接続が有ると判定された場合、誤接続と判定された各組の光ケーブル４Ａと光ケーブル４Ｂとのすべての組み合わせをスキャンしてもよい。具体的には、制御装置３０は、図１５に示されるケーブル間誤接続確認処理をさらに実施してもよい。

図１５に示されるケーブル間誤接続確認処理では、まず、制御装置３０は、光伝送路Ｒに含まれる複数組の光ケーブル４Ａ，５，４Ｂのうち２組以上の光ケーブル４Ａ，５，４Ｂにおいて誤接続が有ると判定されたか否かを判定する（ステップＳ４１）。制御装置３０は、１組以下の光ケーブル４Ａ，５，４Ｂに誤接続が有ると判定された場合には（ステップＳ４１；ＮＯ）、ケーブル間誤接続確認処理を終了する。一方、ステップＳ４１の判定において、２組以上の光ケーブル４Ａ，５，４Ｂにおいて誤接続が有ると判定された場合には（ステップＳ４１；ＹＥＳ）、制御装置３０は、異常な光ケーブル４Ａから１つの光ケーブル４Ａを選択する（ステップＳ４２）。なお、誤接続が有ると判定された光ケーブル４Ａ，５，４Ｂに含まれる光ケーブル４Ａ及び光ケーブル４Ｂを、ここでは、それぞれ異常な光ケーブル４Ａ及び異常な光ケーブル４Ｂと称することとする。そして、制御装置３０は、異常な光ケーブル４Ｂから１つの光ケーブル４Ｂを選択する（ステップＳ４３）。

そして、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと、ステップＳ４２において選択された光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートと、が光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信する。さらに、制御装置３０は、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと、ステップＳ４３において選択された光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートと、が光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる（ステップＳ４４）。

そして、制御装置３０は、測定された電力Ｐ１に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ４５）。制御装置３０は、試験光が受光されなかったと判定した場合（ステップＳ４５；ＮＯ）、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂが接続されているポートと、ステップＳ４３において選択された光ケーブル４ＢのＮ番（１２番）心線に接続されているポートと、が光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４１Ｂに電力Ｐ１を測定させる（ステップＳ４６）。

そして、制御装置３０は、測定された電力Ｐ１に基づいて、検査装置２０Ｂにおいて試験光が受光されたか否かを判定する（ステップＳ４７）。制御装置３０は、試験光が受光されなかったと判定した場合（ステップＳ４７；ＮＯ）、異常な光ケーブル４Ｂがすべて選択されたか否かを判定する（ステップＳ４８）。制御装置３０は、すべての異常な光ケーブル４Ｂが選択されたわけではないと判定した場合（ステップＳ４８；ＮＯ）、異常な光ケーブル４Ｂのうち、未選択の１つの光ケーブル４Ｂを選択する（ステップＳ４３）。そして、ステップＳ４４以降の処理が再び実行される。

一方、ステップＳ４５又はステップＳ４７において、試験光が受光されたと判定された場合には（ステップＳ４５；ＹＥＳ、ステップＳ４７；ＹＥＳ）、選択された光ケーブル同士が接続されている可能性が高い。このため、制御装置３０は、試験光が受光されたと判定した場合、光ケーブルの誤接続（入れ替わり接続）であると判定する（ステップＳ４９）。そして、制御装置３０は、異常な光ケーブル４Ａがすべて選択されたか否かを判定する（ステップＳ５０）。また、ステップＳ４８において、制御装置３０は、すべての異常な光ケーブル４Ｂが選択されたと判定した場合（ステップＳ４８；ＹＥＳ）にも、異常な光ケーブル４Ａがすべて選択されたか否かを判定する（ステップＳ５０）。

制御装置３０は、すべての異常な光ケーブル４Ａが選択されたわけではないと判定した場合（ステップＳ５０；ＮＯ）、異常な光ケーブル４Ａのうち、未選択の１つの光ケーブル４Ａを選択する（ステップＳ４２）。そして、ステップＳ４３～ステップＳ５０の処理が再び実行される。一方、ステップＳ５０において、制御装置３０がすべての異常な光ケーブル４Ａが選択されたと判定した場合（ステップＳ５０；ＹＥＳ）、ケーブル間誤接続確認処理を終了する。これにより、異常原因として、ケーブル間の誤接続を検出することができる。

（第１変形例）
図１６は、第１変形例に係る検査システムの概略構成図である。図１６に示される検査システム１０Ａは、メディアコンバータ２５Ａとメディアコンバータ２５Ｂとの間の通信が、光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂを介して行われる点において、検査システム１０と主に相違する。

具体的に説明すると、検査システム１０Ａの検査装置２０Ａは、カプラ５１Ａ（第１光合分波器）をさらに備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ａと主に相違する。カプラ５１Ａは、光スイッチ２２Ａと光パルス試験機４２Ａとの間に設けられる。光パルス試験機４２Ａは、カプラ５１Ａを介して光スイッチ２２Ａに接続される。メディアコンバータ２５Ａは、カプラ５１Ａを介して光スイッチ２２Ａに接続される。カプラ５１Ａは、ＷＤＭ（Wavelength Division Multiplexing：波長分割多重方式）カプラであり、波長の異なる光を合分波する光分配器である。光パルス試験機４２Ａから出力される試験光の波長と、メディアコンバータ２５Ａから出力される通信用の通信光の波長と、は互いに異なっている。カプラ５１Ａは、光パルス試験機４２Ａから出力される試験光と、メディアコンバータ２５Ａから出力される通信用の通信光と、を合波（多重化）して光スイッチ２２Ａに出力する。カプラ５１Ａは、光スイッチ２２Ａから出力される光を、戻り光と通信光とに分波し、戻り光を光パルス試験機４２Ａに出力するとともに、通信光をメディアコンバータ２５Ａに出力する。

同様に、検査システム１０Ａの検査装置２０Ｂは、カプラ５１Ｂ（第２光合分波器）をさらに備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ｂと主に相違する。カプラ５１Ｂは、光スイッチ２２Ｂとパワーメータ４１Ｂとの間に設けられる。パワーメータ４１Ｂは、カプラ５１Ｂを介して光スイッチ２２Ｂに接続される。メディアコンバータ２５Ｂは、カプラ５１Ｂを介して光スイッチ２２Ｂに接続される。カプラ５１Ｂは、ＷＤＭカプラであり、波長の異なる光を合分波する光分配器である。カプラ５１Ｂは、メディアコンバータ２５Ｂから出力される通信用の通信光を光スイッチ２２Ｂに出力する。カプラ５１Ｂは、光スイッチ２２Ｂから出力される光を、試験光と通信光とに分波し、試験光をパワーメータ４１Ｂに出力するとともに、通信光をメディアコンバータ２５Ｂに出力する。

検査システム１０Ａでは、初期状態において、１番目の光線路ｆｒが通信に用いられる。初期状態は、作業者が光スイッチ２２Ａのポートと複数のパッチパネル２Ａの内部アダプタとを光ケーブル２７Ａによって接続し、光スイッチ２２Ｂのポートと複数のパッチパネル２Ｂの内部アダプタとを光ケーブル２７Ｂによって接続した状態である。つまり、作業者が光ケーブル２７Ａ及び光ケーブル２７Ｂの接続作業を完了したことに応じて、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａ及びメディアコンバータ２５Ａが接続されているポートと１番目の光線路ｆｒに接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、パワーメータ４１Ｂ及びメディアコンバータ２５Ｂが接続されているポートと１番目の光線路ｆｒに接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。

そして、制御装置３０は、１番目の光線路ｆｒを介して通信を行い、図３に示される検査方法を開始する。検査対象の光線路ｆｒと通信に用いられる光線路ｆｒとは、同じであるので、検査方法において、検査対象の光線路ｆｒが切り替えられると、通信に用いられる光線路ｆｒも切り替えられ、一時的に通信が遮断される。例えば、切り替えられた光線路ｆｒに断線等が生じている場合には、通信を再開することができない。このため、例えば、断線等による通信遮断の対策として、光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂは、通信にタイムアウトエラーが生じた場合に、１番目の光線路ｆｒが用いられるように、接続を切り替える。具体的には、光スイッチ２２Ａは、タイムアウトエラーを検出すると、光パルス試験機４２Ａ及びメディアコンバータ２５Ａが接続されているポートと１番目の光線路ｆｒに接続されているポートとを光学的に接続する。同様に、光スイッチ２２Ｂは、タイムアウトエラーを検出すると、パワーメータ４１Ｂ及びメディアコンバータ２５Ｂが接続されているポートと１番目の光線路ｆｒに接続されているポートとを光学的に接続する。

通信遮断の別の対策として、制御装置３０は、例えば、本検査における切り替えタイミングを光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂに予め設定しておき、光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂに測定開始の指示を出力することで、１番目の光線路ｆｒから検査対象の光線路を順次切り替えてもよい。この場合、光線路ｆｒに断線等が生じていたとしても、切り替えが継続される。

また、例えば、ＯＴＤＲ測定等において、光スイッチ２２Ｂとメディアコンバータ２５Ｂとの接続が解除される場合には、光スイッチ２２Ｂが接続解除から所定の時間が経過したか否かを判定し、所定の時間が経過したことによって、光スイッチ２２Ｂとメディアコンバータ２５Ｂとを再接続してもよい。所定の時間は、光スイッチ２２Ｂに予め設定されており、例えば、ＯＴＤＲ測定等に要する時間である。

検査システム１０Ａにおいても、検査システム１０と同様の効果が奏される。また、検査システム１０Ａでは、光伝送路Ｒに通信専用の光線路を設ける必要が無いので、光伝送路Ｒを有効に利用することが可能となる。

（第２変形例）
図１７は、第２変形例に係る検査システムの概略構成図である。図１７に示される検査システム１０Ｂは、リターンロスを測定可能な点において検査システム１０と主に相違する。

具体的に説明すると、検査システム１０Ｂの検査装置２０Ａは、カプラ５２Ａをさらに備える点、及び測定器２４Ａがパワーメータ４３Ａ（別のパワーメータ）をさらに備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ａと主に相違する。光パルス試験機４２Ａは、カプラ５２Ａを介して光スイッチ２２Ａに接続される。パワーメータ４３Ａは、カプラ５２Ａを介して光スイッチ２２Ａに接続される。カプラ５２Ａは、光スイッチ２２Ａと光パルス試験機４２Ａとの間に設けられる。カプラ５２Ａは、戻り光を分波し、光パルス試験機４２Ａ及びパワーメータ４３Ａに分波した戻り光をそれぞれ出力する。パワーメータ４３Ａは、光のパワー（強度）を測定する機器であり、光パルス試験機４２Ａの光源から出力された試験光に対する戻り光の強度を測定する。戻り光は、光スイッチ２２Ａ及びカプラ５２Ａを介してパワーメータ４３Ａに入力される。パワーメータ４３Ａは、制御装置３０から出力される測定指示に基づいて、戻り光の強度（電力Ｐ２）を測定する。

検査システム１０Ｂでは、本検査において、制御装置３０は、ＯＴＤＲ測定（ステップＳ２３）に代えて、各光線路ｆｒのリターンロスＲＬを算出する。具体的には、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、光パルス試験機４２Ａが接続されているポートと光ケーブル４Ａの１番心線に接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、光ケーブル４Ｂの１番心線に接続されているポートが他のポートに光学的に接続されないように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに試験光を出力させ、パワーメータ４３Ａに電力Ｐ２を測定させる。

そして、制御装置３０は、パワーメータ４３Ａによって測定された電力Ｐ２を受け取り、式（２）を用いて光線路ｆｒのリターンロスＲＬを算出する。ここでは、光損失Ｌｒｅｆは、カプラ５２Ａ及び光スイッチ２２Ａにおける損失である。光損失Ｌｓｗａは、カプラ５２Ａ、光スイッチ２２Ａ及び光ケーブル２７Ａにおける損失である。制御装置３０は、この処理を光ケーブル４Ａの１番心線からＮ番心線まで順に繰り返す。なお、互いに異なる波長（波長λ１及び波長λ２）を有する２つの試験光のそれぞれでリターンロスＲＬが測定されてもよい。
RL=P0-P2-2×Lswa=Pref+Lref-P2-2×Lswa … (2)

そして、制御装置３０は、光線路ｆｒの識別番号に、電力Ｐ２と、リターンロスＲＬと、をさらに対応付けて不図示のメモリに記憶する。制御装置３０は、原因解析処理（ステップＳ２５）において、リターンロスＲＬを用いて異常原因を解析してもよい。

検査システム１０Ｂにおいても、検査システム１０と同様の効果が奏される。また、検査システム１０Ｂでは、各光線路ｆｒのリターンロスが測定されるので、異常原因の解析精度を向上させることが可能となる。

（第３変形例）
図１８は、第３変形例に係る検査システムの概略構成図である。図１８に示される検査システム１０Ｃは、検査進捗及び検査結果を表示可能な点において、検査システム１０と主に相違する。

具体的に説明すると、検査システム１０Ｃの検査装置２０Ａは、光ケーブル２７Ａがパッチパネル２Ａに接続される単心コネクタとしてコネクタ７１Ａ（表示部、第１コネクタ）を備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ａと主に相違する。コネクタ７１Ａは、例えば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）を内蔵しており、印加電圧に応じた色で発光する。この場合、光ケーブル２７Ａは、コネクタ７１ＡのＬＥＤに電圧を供給するための導線を含む。

同様に、検査システム１０Ｃの検査装置２０Ｂは、光ケーブル２７Ｂがパッチパネル２Ｂに接続される単心コネクタとしてコネクタ７１Ｂ（表示部、第２コネクタ）を備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ｂと主に相違する。コネクタ７１Ｂは、例えば、ＬＥＤを内蔵しており、印加電圧に応じた色で発光する。この場合、光ケーブル２７Ｂは、コネクタ７１ＢのＬＥＤに電圧を供給するための導線を含む。

制御装置３０は、光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂに、前検査又は本検査の検査結果を送信する。光スイッチ２２Ａは、検査結果に応じてコネクタ７１ＡのＬＥＤを発光させる。光スイッチ２２Ｂは、検査結果に応じてコネクタ７１ＢのＬＥＤを発光させる。光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂは、例えば、検査結果が正常であるか異常であるかを識別可能な色でＬＥＤを発光させる。光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂは、異常原因に応じた色でＬＥＤを発光させてもよい。また、光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂは、検査の進捗に応じて、ＬＥＤを発光させてもよい。光スイッチ２２Ａ及び光スイッチ２２Ｂは、例えば、検査中の光線路ｆｒに接続されるコネクタ７１Ａ及びコネクタ７１ＢのＬＥＤを点滅させてもよい。つまり、光ケーブル４Ａに含まれる複数本の光ファイバにそれぞれ接続される複数のコネクタ７１Ａと、光ケーブル４Ｂに含まれる複数本の光ファイバにそれぞれ接続される複数のコネクタ７１Ｂと、が表示部を構成している。

検査システム１０Ｃにおいても、検査システム１０と同様の効果が奏される。また、検査システム１０Ｃでは、検査結果及び検査進捗を作業者に通知することができるので、検査結果及び検査状態の視認性を向上させることが可能となる。また、コネクタ７１Ａ及びコネクタ７１Ｂのそれぞれが発光により検査結果及び検査進捗を表示するので、作業者が異常な光線路ｆｒを容易に特定することができる。これにより、修復作業の効率を向上させることが可能となる。なお、制御装置３０は、コネクタ７１Ａ及びコネクタ７１ＢのＬＥＤに代えて、ディスプレイ等の表示装置（表示部）に検査結果及び検査進捗を表示させてもよい。

（第４変形例）
図１９は、第４変形例に係る検査システムの概略構成図である。図１９に示される検査システム１０Ｄは、異常箇所を視認可能な点において、検査システム１０と主に相違する。

具体的に説明すると、検査システム１０Ｄの検査装置２０Ａは、カプラ５３Ａをさらに備える点、及び測定器２４Ａが可視光源４４Ａをさらに備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ａと主に相違する。光パルス試験機４２Ａは、カプラ５３Ａを介して光スイッチ２２Ａに接続される。可視光源４４Ａは、可視光を出力する。可視光源４４Ａは、制御装置３０から出力される光出力指示に基づいて、可視光を出力する。可視光源４４Ａは、カプラ５３Ａを介して光スイッチ２２Ａに接続される。カプラ５３Ａは、ＷＤＭカプラであり、波長の異なる光を合分波する光分配器である。カプラ５３Ａは、光スイッチ２２Ａと光パルス試験機４２Ａとの間に設けられる。カプラ５３Ａは、光パルス試験機４２Ａから出力される試験光と、可視光源４４Ａから出力される可視光と、を光スイッチ２２Ａに出力する。

同様に、検査システム１０Ｄの検査装置２０Ｂは、カプラ５３Ｂをさらに備える点、及び測定器２４Ｂが可視光源４４Ｂをさらに備える点において、検査システム１０の検査装置２０Ｂと主に相違する。光パルス試験機４２Ｂは、カプラ５３Ｂを介して光スイッチ２２Ｂに接続される。可視光源４４Ｂは、可視光を出力する。可視光源４４Ｂは、制御装置３０から出力される光出力指示に基づいて、可視光を出力する。可視光源４４Ｂは、カプラ５３Ｂを介して光スイッチ２２Ｂに接続される。カプラ５３Ｂは、ＷＤＭカプラであり、波長の異なる光を合分波する光分配器である。カプラ５３Ｂは、光スイッチ２２Ｂと光パルス試験機４２Ｂとの間に設けられる。カプラ５３Ｂは、光パルス試験機４２Ｂから出力される試験光と、可視光源４４Ｂから出力される可視光と、を光スイッチ２２Ｂに出力する。

異常箇所を光らせるために、制御装置３０は、検査装置２０Ａ及び検査装置２０Ｂに、複数の光線路ｆｒのうち、本検査において異常であると判定された光線路ｆｒに可視光を出力（入射）させる。具体的には、制御装置３０は、光スイッチ２２Ａにおいて、可視光源４４Ａが接続されているポートと異常であると判定された光線路ｆｒに接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ａに切替指示を送信するとともに、光スイッチ２２Ｂにおいて、可視光源４４Ｂが接続されているポートと異常であると判定された光線路ｆｒに接続されているポートとが光学的に接続されるように、光スイッチ２２Ｂに切替指示を送信する。そして、制御装置３０は、可視光源４４Ａ及び可視光源４４Ｂに、可視光を出力させる。これにより、光線路ｆｒに断線、曲げ、又は軸ずれ融着等の異常が生じている場合に、当該異常箇所から可視光が漏れ出し、異常箇所が光る場合がある。なお、制御装置３０は、可視光源４４Ａ及び可視光源４４Ｂのいずれか一方に可視光を出力させてもよい。

検査システム１０Ｄにおいても、検査システム１０と同様の効果が奏される。また、検査システム１０Ｄでは、異常箇所の視認性を高めることができるので、異常箇所を特定することが可能となる。

光パルス試験機４２Ａの光源及び光パルス試験機４２Ｂの光源は、変調機能を有してもよい。これらの光源は、例えば、２７０ｋＨｚの変調光を出力可能に構成されている。この場合、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ａに、本検査において異常であると判定された光線路ｆｒに変調光を出力させる。このとき、作業者は、心線対照器を用いて、光ケーブル４Ａ、光ケーブル５、及び光ケーブル４Ｂのいずれかの箇所を曲げ、曲げ部から漏れ出した変調光を検出する。変調光が検出されなかった場合、当該曲げ部と光パルス試験機４２Ａとの間に断線が生じていると推測することができる。

同様に、制御装置３０は、光パルス試験機４２Ｂに、本検査において異常であると判定した光線路ｆｒに変調光を出力させてもよい。このとき、作業者は、心線対照器を用いて、光ケーブル４Ａ、光ケーブル５、及び光ケーブル４Ｂのいずれかの箇所を曲げ、曲げ部から漏れ出した変調光を検出する。変調光が検出されなかった場合、当該曲げ部と光パルス試験機４２Ｂとの間に断線が生じていると推測することができる。なお、制御装置３０は、検査装置２０Ａ及び検査装置２０Ｂに、前検査において誤接続があると判定された光ケーブル４Ａ、光ケーブル５、及び光ケーブル４Ｂに含まれる光線路ｆｒに変調光を出力させてもよい。上記構成によれば、異常箇所を特定することが可能となる。

１…光伝送システム、２Ａ…パッチパネル、２Ｂ…パッチパネル、４Ａ…光ケーブル（第１光ケーブル）、４Ｂ…光ケーブル（第２光ケーブル）、５…光ケーブル、１０，１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃ，１０Ｄ…検査システム、２０Ａ…検査装置（第１検査装置）、２０Ｂ…検査装置（第２検査装置）、２２Ａ…光スイッチ（第１光スイッチ）、２２Ｂ…光スイッチ（第２光スイッチ）、２４Ａ…測定器、２４Ｂ…測定器、２５Ａ…メディアコンバータ（第１通信装置）、２５Ｂ…メディアコンバータ（第２通信装置）、３０…制御装置（解析部）、４１Ａ…パワーメータ、４１Ｂ…パワーメータ、４２Ａ…光パルス試験機、４２Ｂ…光パルス試験機、４３Ａ…パワーメータ（別のパワーメータ）、４４Ａ…可視光源、５１Ａ…カプラ（第１光合分波器）、５１Ｂ…カプラ（第２光合分波器）、７１Ａ…コネクタ（表示部、第１コネクタ）、７１Ｂ…コネクタ（表示部、第２コネクタ）。

Claims (14)

1. それぞれが複数本の光ファイバを含む複数の光ケーブルが接続されることによって構成される光伝送路であり、前記複数の光ケーブルに含まれる前記複数本の光ファイバが接続されることによって構成される複数の光線路を含む光伝送路を検査する検査システムであって、
   前記光伝送路の一端に配置される第１検査装置と、
   前記光伝送路の他端に配置される第２検査装置と、
   を備え、
   前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記複数の光線路のうちの１つの光線路における光損失に基づいて前記複数の光ケーブルの誤接続の有無を検査する第１検査と、前記第１検査において誤接続が無いと判定された場合に前記複数の光線路を検査する第２検査と、を行う、検査システム。
2. 前記第１検査装置は、
   試験光を出力する第１光源と、
   前記光伝送路の一端に位置する第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうち、前記試験光を入射する光ファイバを切り替える第１光スイッチと、
   を備え、
   前記第２検査装置は、
   光の強度を測定するパワーメータと、
   前記光伝送路の他端に位置する第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうち、前記パワーメータに光学的に接続される光ファイバを切り替える第２光スイッチと、
   を備え、
   前記第１検査では、前記第１検査装置は、前記第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうちの第１光ファイバに前記試験光を入射し、前記第２検査装置は、前記第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうちの前記第１光ファイバに対応する第２光ファイバから出力される前記試験光の強度を測定する、請求項１に記載の検査システム。
3. 前記第１光ケーブル及び前記第２光ケーブルのそれぞれは、複数本の光ファイバが一方向に配列されたテープファイバであり、
   前記第１光ファイバは、前記第１光ケーブルの前記一方向における端に位置し、
   前記第２光ファイバは、前記第２光ケーブルの前記一方向における端に位置する、請求項２に記載の検査システム。
4. 前記第１光源は、波長の異なる複数の試験光を出力可能であり、
   前記第１検査装置及び前記第２検査装置は、前記第１検査において、前記複数の試験光を用いて前記光ケーブルの誤接続の有無を検査する、請求項２又は請求項３に記載の検査システム。
5. 前記第２検査では、前記第１検査装置は、前記第１光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバに順に前記試験光を入射し、前記第２検査装置は、前記第２光ケーブルに含まれる複数本の光ファイバのうち、前記第１光ケーブルの前記試験光が入射された光ファイバに対応する光ファイバから出力される前記試験光の強度を順に測定する、請求項２～請求項４のいずれか一項に記載の検査システム。
6. 前記第１検査装置は、前記第１光源から出力された前記試験光に対する第１戻り光の強度の時間変化を測定する第１試験機をさらに備え、
   前記第２検査装置は、試験光を出力する第２光源と、前記第２光源から出力された前記試験光に対する第２戻り光の強度の時間変化を測定する第２試験機と、をさらに備える、請求項２～請求項５のいずれか一項に記載の検査システム。
7. 前記光伝送路の検査を行うごとに、前記第１検査の前に、前記第１試験機が前記第１戻り光の強度の時間変化を測定することによって、前記第１光スイッチの挿入損失を算出し、前記第２試験機が前記第２戻り光の強度の時間変化を測定することによって、前記第２光スイッチの挿入損失を算出する、請求項６に記載の検査システム。
8. 前記第１検査において誤接続が有ると判定された場合に、前記パワーメータの測定結果に基づいて、前記光伝送路の異常原因を解析する解析部をさらに備える、請求項２～請求項７のいずれか一項に記載の検査システム。
9. 前記第１検査装置は、前記第１光スイッチと前記第１光源との間に設けられた第１光合分波器と、前記第１光合分波器を介して前記第１光スイッチに接続され、前記第２検査装置と通信を行うための第１通信装置と、をさらに備え、
   前記第２検査装置は、前記第２光スイッチと前記パワーメータとの間に設けられた第２光合分波器と、前記第２光合分波器を介して前記第２光スイッチに接続され、前記第１検査装置と通信を行うための第２通信装置と、をさらに備える、請求項２～請求項８のいずれか一項に記載の検査システム。
10. 前記第１検査装置は、前記第１光源から出力された前記試験光に対する第１戻り光の強度を測定する別のパワーメータをさらに備える、請求項２～請求項９のいずれか一項に記載の検査システム。
11. 前記第１検査装置は、可視光を出力する可視光源をさらに備え、
    前記第１検査装置は、前記複数の光線路のうち、前記第２検査において異常であると判定された光線路に前記可視光を入射する、請求項２～請求項１０のいずれか一項に記載の検査システム。
12. 前記第１検査及び前記第２検査の検査結果を表示する表示部をさらに備える、請求項２～請求項１１のいずれか一項に記載の検査システム。
13. 前記表示部は、前記第１光ケーブルに含まれる前記複数本の光ファイバにそれぞれ接続される複数の第１コネクタと、前記第２光ケーブルに含まれる前記複数本の光ファイバにそれぞれ接続される複数の第２コネクタと、を含み、
    前記複数の第１コネクタ及び前記複数の第２コネクタのそれぞれは、発光により前記検査結果を表示する、請求項１２に記載の検査システム。
14. それぞれが複数本の光ファイバを含む複数の光ケーブルが接続されることによって構成される光伝送路であり、前記複数の光ケーブルに含まれる前記複数本の光ファイバが接続されることによって構成される複数の光線路を含む光伝送路を検査する検査方法であって、
    前記複数の光線路のうちの１つの光線路における光損失に基づいて前記複数の光ケーブルの誤接続の有無を検査する第１検査工程と、
    前記第１検査工程において誤接続が無いと判定された場合に、前記複数の光線路を検査する第２検査と、
    を備える検査方法。

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