JPH10336106A - Ｏｔｄｒ測定装置 - Google Patents
Ｏｔｄｒ測定装置Info
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- JPH10336106A JPH10336106A JP9138999A JP13899997A JPH10336106A JP H10336106 A JPH10336106 A JP H10336106A JP 9138999 A JP9138999 A JP 9138999A JP 13899997 A JP13899997 A JP 13899997A JP H10336106 A JPH10336106 A JP H10336106A
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- optical
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光パルスのレベルや受光素子の特性が変動し
ても、観測波形に影響しないＯＴＤＲ測定装置を提供す
る。 【解決手段】 パルス発生器１が発生する光パルス２は
カプラ２３でダミーファイバ４と光パワー減衰部２４に
分岐されて減衰される。この光はＡＰＤ５で電流変換さ
れ、オペアンプ６で電圧変換されてＡ／Ｄコンバータ７
でデジタル信号になる。このデジタル信号に基づいて、
表示装置２８は光減衰部２４からの光パルスを検出し、
そのレベルを以後の波形表示の基準レベルとする。その
後、ダミーファイバ４側の光パルスにより後方散乱光と
フレネル反射光が生じ、これらがＡＰＤ５で受光され
る。表示装置２８は、Ａ／Ｄコンバータ７の出力に従っ
て後方散乱光とフレネル反射光の観測波形を上記基準レ
ベルに基づいて相対表示させる。表示装置２８は光パル
スのレベル変動を検出し、その変動量を求めてそれ以降
に観測される波形のレベルを補正して表示させる。
ても、観測波形に影響しないＯＴＤＲ測定装置を提供す
る。 【解決手段】 パルス発生器１が発生する光パルス２は
カプラ２３でダミーファイバ４と光パワー減衰部２４に
分岐されて減衰される。この光はＡＰＤ５で電流変換さ
れ、オペアンプ６で電圧変換されてＡ／Ｄコンバータ７
でデジタル信号になる。このデジタル信号に基づいて、
表示装置２８は光減衰部２４からの光パルスを検出し、
そのレベルを以後の波形表示の基準レベルとする。その
後、ダミーファイバ４側の光パルスにより後方散乱光と
フレネル反射光が生じ、これらがＡＰＤ５で受光され
る。表示装置２８は、Ａ／Ｄコンバータ７の出力に従っ
て後方散乱光とフレネル反射光の観測波形を上記基準レ
ベルに基づいて相対表示させる。表示装置２８は光パル
スのレベル変動を検出し、その変動量を求めてそれ以降
に観測される波形のレベルを補正して表示させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ケーブル等を用
いた伝送路の監視に有用なＯＴＤＲ（Optical Time Dom
ain Reflectometry ）測定装置に関し、特に、観測波形
のダイナミックレンジを制御する技術に関するものであ
る。
いた伝送路の監視に有用なＯＴＤＲ（Optical Time Dom
ain Reflectometry ）測定装置に関し、特に、観測波形
のダイナミックレンジを制御する技術に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より、敷設された光ケーブルの破断
点の位置検出や接続点における損失等の測定のためにＯ
ＴＤＲ法が開発されている。このＯＴＤＲ法では、光ケ
ーブルの入射端に光パルスを入射させ、光ケーブル内で
発生する後方散乱や反射によって入射端に戻される光の
波高値と到達時刻を測定することで、上述した破断点の
位置検出や接続点における損失測定等を行っている。
点の位置検出や接続点における損失等の測定のためにＯ
ＴＤＲ法が開発されている。このＯＴＤＲ法では、光ケ
ーブルの入射端に光パルスを入射させ、光ケーブル内で
発生する後方散乱や反射によって入射端に戻される光の
波高値と到達時刻を測定することで、上述した破断点の
位置検出や接続点における損失測定等を行っている。
【０００３】さて、図３は従来の技術によるＯＴＤＲ測
定装置の構成を示すブロック図である。同図において、
パルス発生器１は光パルス２を出力する。カプラ３は光
パルス２を通過させてダミーファイバ４に入射するとと
もに、ダミーファイバ４や被測定ファイバ９（後述）が
発生する後方散乱光やフレネル反射光を通過させてＡＰ
Ｄ（アバランシェ・フォト・ダイオード）５に送出す
る。
定装置の構成を示すブロック図である。同図において、
パルス発生器１は光パルス２を出力する。カプラ３は光
パルス２を通過させてダミーファイバ４に入射するとと
もに、ダミーファイバ４や被測定ファイバ９（後述）が
発生する後方散乱光やフレネル反射光を通過させてＡＰ
Ｄ（アバランシェ・フォト・ダイオード）５に送出す
る。
【０００４】ＡＰＤ５は入射光をその強度に応じて電流
に変換する受光素子である。オペアンプ６とそれに接続
される抵抗素子Ｒ1，Ｒ2は、ＡＰＤ５の出力電流を電流
−電圧変換する。Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）コンバ
ータ７はオペアンプ６の出力電圧をデジタル信号へ変換
する。表示装置８はＡ／Ｄコンバータ７が出力するデジ
タル信号に基づいて後方散乱光のレベルの識別等を行っ
て、内部に設けられた画面上にＡＰＤ５で受光した後方
散乱光やフレネル反射光の波形を表示させる。また、符
号９は被測定ファイバであり、コネクタ１０はダミーフ
ァイバ４と被測定ファイバ９を接続する。このコネクタ
１０はダミーファイバ４からの光の一部を反射してフレ
ネル反射光を発生させるとともに、残りを通過させて被
測定ファイバ９に進入させる。被測定ファイバ９の遠端
１１ではフレネル反射光が発生する。
に変換する受光素子である。オペアンプ６とそれに接続
される抵抗素子Ｒ1，Ｒ2は、ＡＰＤ５の出力電流を電流
−電圧変換する。Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）コンバ
ータ７はオペアンプ６の出力電圧をデジタル信号へ変換
する。表示装置８はＡ／Ｄコンバータ７が出力するデジ
タル信号に基づいて後方散乱光のレベルの識別等を行っ
て、内部に設けられた画面上にＡＰＤ５で受光した後方
散乱光やフレネル反射光の波形を表示させる。また、符
号９は被測定ファイバであり、コネクタ１０はダミーフ
ァイバ４と被測定ファイバ９を接続する。このコネクタ
１０はダミーファイバ４からの光の一部を反射してフレ
ネル反射光を発生させるとともに、残りを通過させて被
測定ファイバ９に進入させる。被測定ファイバ９の遠端
１１ではフレネル反射光が発生する。
【０００５】次に、上記構成によるＯＴＤＲ測定装置の
動作を説明する。ここで、図４は表示装置８の画面上に
表示される観測波形の一例を示したものである。同図の
横軸は、パルス発生器１が光パルス２を発生させた時点
からの時間経過を光パルス２が装置内を伝搬する距離に
換算したものである。また、縦軸はＡＰＤ５が受光した
光のパワーをデシベルで表示したものである。図中のダ
イナミックレンジＤＲは測定可能な後方散乱光強度の範
囲を意味している。そして、前述した表示装置８は、図
４にレベルＬＶ１で示すように、ノイズ１２の平均レベ
ルＮＬを基準にして観測波形を相対表示している。な
お、図中の枠ＦＲで囲んだ部分が被測定ファイバ９から
の観測波形に相当する。
動作を説明する。ここで、図４は表示装置８の画面上に
表示される観測波形の一例を示したものである。同図の
横軸は、パルス発生器１が光パルス２を発生させた時点
からの時間経過を光パルス２が装置内を伝搬する距離に
換算したものである。また、縦軸はＡＰＤ５が受光した
光のパワーをデシベルで表示したものである。図中のダ
イナミックレンジＤＲは測定可能な後方散乱光強度の範
囲を意味している。そして、前述した表示装置８は、図
４にレベルＬＶ１で示すように、ノイズ１２の平均レベ
ルＮＬを基準にして観測波形を相対表示している。な
お、図中の枠ＦＲで囲んだ部分が被測定ファイバ９から
の観測波形に相当する。
【０００６】さて、パルス発生器１が光パルス２を出力
すると、この光パルス２はカプラ３を通過してダミーフ
ァイバ４に入射する。入射した光パルスは、ダミーファ
イバ４の持つ損失により光ファイバ内を進むにつれて
（即ち、光ファイバ入射端からの光ファイバの距離が長
くなるにつれて）そのパワ―が減衰してゆく。また、光
ファイバの性質によって光ファイバの各点で後方散乱光
が生じて、これがカプラ３を通過してＡＰＤ５で受光さ
れる。ＡＰＤ５が受光強度に応じた電流を出力すると、
出力電流がオペアンプ６で電圧に変換されたのち、Ａ／
Ｄコンバータ７でデジタル信号に変換される。表示装置
８は送られたデジタル信号に基づいて観測波形を画面上
に表示させる。
すると、この光パルス２はカプラ３を通過してダミーフ
ァイバ４に入射する。入射した光パルスは、ダミーファ
イバ４の持つ損失により光ファイバ内を進むにつれて
（即ち、光ファイバ入射端からの光ファイバの距離が長
くなるにつれて）そのパワ―が減衰してゆく。また、光
ファイバの性質によって光ファイバの各点で後方散乱光
が生じて、これがカプラ３を通過してＡＰＤ５で受光さ
れる。ＡＰＤ５が受光強度に応じた電流を出力すると、
出力電流がオペアンプ６で電圧に変換されたのち、Ａ／
Ｄコンバータ７でデジタル信号に変換される。表示装置
８は送られたデジタル信号に基づいて観測波形を画面上
に表示させる。
【０００７】以上の動作を図４に即して説明すると、ダ
ミーファイバ４の入射端からの距離が遠くなるほど光の
パワーが減衰するために、ダミーファイバ４が発生する
後方散乱光のレベルは後方散乱波形１３に示すように徐
々に小さくなってゆく。一方、ダミーファイバ４を通過
した光パルスがコネクタ１０に到達すると、その一部が
コネクタ１０で反射されてフレネル反射波形１４（図
４）を発生させ、残りがコネクタ１０を通過して被測定
ファイバ９に進入して後方散乱光が生じる。この後方散
乱光のレベルは光ファイバの持つ損失によって後方散乱
波形１５に示されるように徐々に小さくなってゆく。ま
た、被測定ファイバ９の遠端１１ではフレネル反射が生
じ、これがフレネル反射波形１６として観測される。
ミーファイバ４の入射端からの距離が遠くなるほど光の
パワーが減衰するために、ダミーファイバ４が発生する
後方散乱光のレベルは後方散乱波形１３に示すように徐
々に小さくなってゆく。一方、ダミーファイバ４を通過
した光パルスがコネクタ１０に到達すると、その一部が
コネクタ１０で反射されてフレネル反射波形１４（図
４）を発生させ、残りがコネクタ１０を通過して被測定
ファイバ９に進入して後方散乱光が生じる。この後方散
乱光のレベルは光ファイバの持つ損失によって後方散乱
波形１５に示されるように徐々に小さくなってゆく。ま
た、被測定ファイバ９の遠端１１ではフレネル反射が生
じ、これがフレネル反射波形１６として観測される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したＯ
ＴＤＲ測定装置では、周囲の環境変化に伴ってＡＰＤ５
の出力電流が変動することに留意する必要がある。例え
ば、周囲温度に変動が生じるとそれに伴ってパルス発生
器１から出力される光パルス２のレベルや波長が変化す
る。また、ＡＰＤ５の性質として周囲温度や受光する光
の波長に変動が生じるとそれに応じて受光感度も変化す
る。つまり、周囲温度が変動して光パルス２のレベルに
変動が生じた場合はそれに応じてＡＰＤ５の出力電流も
変化する。また、光パルス２のレベルに変動がなくと
も、周囲温度の変動によって光パルス２の波長が変動す
ればそれに伴ってＡＰＤ５の受光感度が変化する上に、
周囲温度の変動によって直接的にＡＰＤ５の受光感度が
変化することもある。
ＴＤＲ測定装置では、周囲の環境変化に伴ってＡＰＤ５
の出力電流が変動することに留意する必要がある。例え
ば、周囲温度に変動が生じるとそれに伴ってパルス発生
器１から出力される光パルス２のレベルや波長が変化す
る。また、ＡＰＤ５の性質として周囲温度や受光する光
の波長に変動が生じるとそれに応じて受光感度も変化す
る。つまり、周囲温度が変動して光パルス２のレベルに
変動が生じた場合はそれに応じてＡＰＤ５の出力電流も
変化する。また、光パルス２のレベルに変動がなくと
も、周囲温度の変動によって光パルス２の波長が変動す
ればそれに伴ってＡＰＤ５の受光感度が変化する上に、
周囲温度の変動によって直接的にＡＰＤ５の受光感度が
変化することもある。
【０００９】ところが、従来のＯＴＤＲ測定装置ではノ
イズ１２の平均レベルＮＬを波形表示の基準にしている
関係上、周囲の環境が変動すると、線路の損失に変化が
ないのに観測波形全体が画面上で変化してしまう。例え
ば、光パルス２のレベルが下がると観測波形が全体的に
下へシフトしてしまい、逆に、光パルス２のレベルが上
がるとＡ／Ｄコンバータ７の入力電圧が規定値を越えて
しまって、波形表示が正しく行われなくなる。しかしな
がら、監視用のＯＴＤＲ測定装置は古い波形と新しい波
形を比較して用いるものであるから、線路の損失に変動
がないにも拘らず、自らが発生する光パルスの影響によ
って取り込まれる波形が異なってしまうのは好ましくな
い。
イズ１２の平均レベルＮＬを波形表示の基準にしている
関係上、周囲の環境が変動すると、線路の損失に変化が
ないのに観測波形全体が画面上で変化してしまう。例え
ば、光パルス２のレベルが下がると観測波形が全体的に
下へシフトしてしまい、逆に、光パルス２のレベルが上
がるとＡ／Ｄコンバータ７の入力電圧が規定値を越えて
しまって、波形表示が正しく行われなくなる。しかしな
がら、監視用のＯＴＤＲ測定装置は古い波形と新しい波
形を比較して用いるものであるから、線路の損失に変動
がないにも拘らず、自らが発生する光パルスの影響によ
って取り込まれる波形が異なってしまうのは好ましくな
い。
【００１０】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的は、周囲の環境変化などによって光パ
ルスの出力レベルや波長が変動したり受光素子の特性が
変化した場合であっても、観測される波形に影響するこ
とのないＯＴＤＲ測定装置を提供することにある。
あって、その目的は、周囲の環境変化などによって光パ
ルスの出力レベルや波長が変動したり受光素子の特性が
変化した場合であっても、観測される波形に影響するこ
とのないＯＴＤＲ測定装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明は、光を受光して該光のパワ
ーを表すパワー信号を生成するパワー信号生成手段と、
光パルスを被測定ファイバに入射させるとともに、該光
パルスによって前記被測定ファイバに生じる後方散乱光
及びフレネル反射光を前記パワー信号生成手段に送出す
る光分岐手段と、前記パワー信号に基づいて前記後方散
乱光及び前記フレネル反射光の観測波形を表示させる表
示手段とを有するＯＴＤＲ測定装置において、前記パワ
ー信号生成手段は前記光パルスを受光し、前記表示手段
は、前記パワー信号に基づいて前記光パルスを検出する
とともに該光パルスのレベルを監視して、該レベルの変
動を検出した時点でその変動量を算出し、該検出時点以
降に観測される前記後方散乱光及び前記フレネル反射光
の波形のレベルを前記変動量で補正して表示させること
を特徴としている。
めに、請求項１記載の発明は、光を受光して該光のパワ
ーを表すパワー信号を生成するパワー信号生成手段と、
光パルスを被測定ファイバに入射させるとともに、該光
パルスによって前記被測定ファイバに生じる後方散乱光
及びフレネル反射光を前記パワー信号生成手段に送出す
る光分岐手段と、前記パワー信号に基づいて前記後方散
乱光及び前記フレネル反射光の観測波形を表示させる表
示手段とを有するＯＴＤＲ測定装置において、前記パワ
ー信号生成手段は前記光パルスを受光し、前記表示手段
は、前記パワー信号に基づいて前記光パルスを検出する
とともに該光パルスのレベルを監視して、該レベルの変
動を検出した時点でその変動量を算出し、該検出時点以
降に観測される前記後方散乱光及び前記フレネル反射光
の波形のレベルを前記変動量で補正して表示させること
を特徴としている。
【００１２】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載の発明において、前記光分岐手段は、前記光パルスを
前記被測定ファイバ及び前記パワー信号生成手段にそれ
ぞれ分岐させることを特徴としている。また、請求項３
記載の発明は、請求項１又は２記載の発明において、前
記光分岐手段と前記被測定ファイバの間に、前記光パル
スを遅延させる第１の光遅延手段を設けたことを特徴と
している。また、請求項４記載の発明は、請求項１〜３
の何れかの項記載の発明において、前記光分岐手段と前
記パワー情報生成手段の間に、前記後方散乱光及び前記
フレネル反射光を遅延させる第２の光遅延手段を設けた
ことを特徴としている。
載の発明において、前記光分岐手段は、前記光パルスを
前記被測定ファイバ及び前記パワー信号生成手段にそれ
ぞれ分岐させることを特徴としている。また、請求項３
記載の発明は、請求項１又は２記載の発明において、前
記光分岐手段と前記被測定ファイバの間に、前記光パル
スを遅延させる第１の光遅延手段を設けたことを特徴と
している。また、請求項４記載の発明は、請求項１〜３
の何れかの項記載の発明において、前記光分岐手段と前
記パワー情報生成手段の間に、前記後方散乱光及び前記
フレネル反射光を遅延させる第２の光遅延手段を設けた
ことを特徴としている。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態について説明する。図１は同実施形態によるＯ
ＴＤＲ測定装置の構成を示すブロック図であり、図２は
同装置による観測波形の一例を示したものである。これ
らの図においては、図３〜図４に記載したものと同じ構
成要素について同一の符号を付してあり、ここではその
説明を省略する。
実施形態について説明する。図１は同実施形態によるＯ
ＴＤＲ測定装置の構成を示すブロック図であり、図２は
同装置による観測波形の一例を示したものである。これ
らの図においては、図３〜図４に記載したものと同じ構
成要素について同一の符号を付してあり、ここではその
説明を省略する。
【００１４】さて、図１に示すＯＴＤＲ測定装置では、
図３のカプラ３の代わりにカプラ２３が設けられるとと
もに、カプラ２３とＡＰＤ５の間に光パワー減衰部２４
が設けられている。カプラ２３は、カプラ３と同様に後
方散乱光を通過させてＡＰＤ５に入射させるのに加え
て、光パルス２をダミーファイバ４と光パワー減衰部２
４に分岐させる。
図３のカプラ３の代わりにカプラ２３が設けられるとと
もに、カプラ２３とＡＰＤ５の間に光パワー減衰部２４
が設けられている。カプラ２３は、カプラ３と同様に後
方散乱光を通過させてＡＰＤ５に入射させるのに加え
て、光パルス２をダミーファイバ４と光パワー減衰部２
４に分岐させる。
【００１５】次に、光パワー減衰部２４は光ファイバ２
４ａ，ＡＴＴ２４ｂ，光ファイバ２４ｃから構成されて
いる。これらのうち、光ファイバ２４ａはカプラ２３か
らの光パルスをＡＴＴ２４ｂに送出し、光ファイバ２４
ｃはＡＴＴ２４ｂによって減衰された光パルスをＡＰＤ
５に送出する。また、ＡＴＴ２４ｂは、光ファイバ２４
ａから入射する光パルス（即ち、図２に示す基準波形２
５）のパワーを所定の減衰量で減衰させる。ＡＴＴ２４
ｂには以下のようにして決定される減衰量が予め設定さ
れる。
４ａ，ＡＴＴ２４ｂ，光ファイバ２４ｃから構成されて
いる。これらのうち、光ファイバ２４ａはカプラ２３か
らの光パルスをＡＴＴ２４ｂに送出し、光ファイバ２４
ｃはＡＴＴ２４ｂによって減衰された光パルスをＡＰＤ
５に送出する。また、ＡＴＴ２４ｂは、光ファイバ２４
ａから入射する光パルス（即ち、図２に示す基準波形２
５）のパワーを所定の減衰量で減衰させる。ＡＴＴ２４
ｂには以下のようにして決定される減衰量が予め設定さ
れる。
【００１６】いま、Ａ／Ｄコンバータ７が８ビットＡ／
Ｄコンバータであって、その入力電圧範囲が０ボルト〜
２ボルトに規定されているとする。つまり、入力電圧が
０ボルトであればその出力は「００」（１６進数）であ
り、入力電圧が２ボルトであればその出力は「ＦＦ」
（１６進数）であるとする。そして、図２の基準波形２
５に相当する光パルスがＡＴＴ２４ｂからＡＰＤ５に送
出された場合に、Ａ／Ｄコンバータ７の入力電圧値が上
限値である２ボルトを越えず且つそれに近い一定値とな
るように、ＡＴＴ２４ｂの減衰量を決定するようにす
る。その際、光パルス２の変動によって基準波形２５に
相当する光パルスのレベルが上昇しても、Ａ／Ｄコンバ
ータ７の入力電圧値が２ボルトを越えないように配慮し
て減衰量を決定する必要がある。以上のようにすること
で、Ａ／Ｄコンバータ７の規格を満足するような最大の
入力電圧値をＡ／Ｄコンバータ７に与えることができ
る。
Ｄコンバータであって、その入力電圧範囲が０ボルト〜
２ボルトに規定されているとする。つまり、入力電圧が
０ボルトであればその出力は「００」（１６進数）であ
り、入力電圧が２ボルトであればその出力は「ＦＦ」
（１６進数）であるとする。そして、図２の基準波形２
５に相当する光パルスがＡＴＴ２４ｂからＡＰＤ５に送
出された場合に、Ａ／Ｄコンバータ７の入力電圧値が上
限値である２ボルトを越えず且つそれに近い一定値とな
るように、ＡＴＴ２４ｂの減衰量を決定するようにす
る。その際、光パルス２の変動によって基準波形２５に
相当する光パルスのレベルが上昇しても、Ａ／Ｄコンバ
ータ７の入力電圧値が２ボルトを越えないように配慮し
て減衰量を決定する必要がある。以上のようにすること
で、Ａ／Ｄコンバータ７の規格を満足するような最大の
入力電圧値をＡ／Ｄコンバータ７に与えることができ
る。
【００１７】一方、表示装置２８は、図２にレベルＬＶ
２で示されるように、基準波形２５の受光パワーを基準
として観測波形の相対表示を行っており、そのために、
画面上で基準波形２５がシフトしないように観測波形の
受光パワーの補正処理を行っている。表示装置２８は基
準波形２５を検出するとともに、その受光パワーを基準
にしてそれ以後に観測される後方散乱光やフレネル反射
光を表示させる。すなわち、光パルス２のレベルや波長
が変動したりＡＰＤ５の受光感度が変動すると、これら
変動に応じて基準波形２５の受光パワーが増減する。そ
こで、表示装置２８は、検出される基準波形２５の受光
パワー（実際には、受光パワーそのものではなく、Ａ／
Ｄコンバータ７の出力信号値）を随時記憶しておくよう
にして、基準波形２５の受光パワーが変動したかどうか
を監視する。そして、受光パワーの変動が検出された時
点で、表示装置２８は変動前の受光パワーと変動後の受
光パワーからその変動量を算出し、基準波形２５及びこ
れ以降に観測される後方散乱光，フレネル反射光に対応
する受光パワーの実測値に対して算出された変動量を加
算する。ちなみに、基準波形２５を生じさせる基準の光
パルスは、パルス発生器１→カプラ２３→光ファイバ２
４ａ→ＡＴＴ２４ｂ→光ファイバ２４ｃ→ＡＰＤ５とい
う経路を辿るため、その距離は既知でしかも常に一定で
ある。したがって、この距離に相当する波形の受光パワ
ーを監視していれば、表示装置２８は基準波形２５を検
出することができる。なお、本実施形態におけるダミー
ファイバ４は、コネクタ１０で生じたフレネル反射波形
１４が基準波形２５と重ならないように距離を離す役割
を果たしている。
２で示されるように、基準波形２５の受光パワーを基準
として観測波形の相対表示を行っており、そのために、
画面上で基準波形２５がシフトしないように観測波形の
受光パワーの補正処理を行っている。表示装置２８は基
準波形２５を検出するとともに、その受光パワーを基準
にしてそれ以後に観測される後方散乱光やフレネル反射
光を表示させる。すなわち、光パルス２のレベルや波長
が変動したりＡＰＤ５の受光感度が変動すると、これら
変動に応じて基準波形２５の受光パワーが増減する。そ
こで、表示装置２８は、検出される基準波形２５の受光
パワー（実際には、受光パワーそのものではなく、Ａ／
Ｄコンバータ７の出力信号値）を随時記憶しておくよう
にして、基準波形２５の受光パワーが変動したかどうか
を監視する。そして、受光パワーの変動が検出された時
点で、表示装置２８は変動前の受光パワーと変動後の受
光パワーからその変動量を算出し、基準波形２５及びこ
れ以降に観測される後方散乱光，フレネル反射光に対応
する受光パワーの実測値に対して算出された変動量を加
算する。ちなみに、基準波形２５を生じさせる基準の光
パルスは、パルス発生器１→カプラ２３→光ファイバ２
４ａ→ＡＴＴ２４ｂ→光ファイバ２４ｃ→ＡＰＤ５とい
う経路を辿るため、その距離は既知でしかも常に一定で
ある。したがって、この距離に相当する波形の受光パワ
ーを監視していれば、表示装置２８は基準波形２５を検
出することができる。なお、本実施形態におけるダミー
ファイバ４は、コネクタ１０で生じたフレネル反射波形
１４が基準波形２５と重ならないように距離を離す役割
を果たしている。
【００１８】次に、上記構成によるＯＴＤＲ測定装置の
動作を説明する。まず、パルス発生器１が光パルス２を
出力すると、カプラ２３は光パルス２をダミーファイバ
４と光ファイバ２４ａに分岐させる。光ファイバ２４ａ
に分岐された光パルスはＡＴＴ２４ｂに入射する。ＡＴ
Ｔ２４ｂは、Ａ／Ｄコンバータ７の入力電圧値が２ボル
トを越えないように、入射した光パルスを上述した所定
の減衰量で減衰させる。減衰された光パルスは光ファイ
バ２４ｃからＡＰＤ５に与えられて電流に変換され、オ
ペアンプ６で電流−電圧変換されてＡ／Ｄコンバータ７
でデジタル信号に変換される。表示装置２８は、Ａ／Ｄ
コンバータ７の出力信号値を取り込み、基準波形２５が
観測される距離に対応する出力信号値を監視するととも
に、その都度、受光パワーに相当する出力信号値を内部
メモリ等に取り込む。そして、基準波形２５が検出され
ると、表示装置２８は図２に示すように基準波形２５を
画面上に表示させる。
動作を説明する。まず、パルス発生器１が光パルス２を
出力すると、カプラ２３は光パルス２をダミーファイバ
４と光ファイバ２４ａに分岐させる。光ファイバ２４ａ
に分岐された光パルスはＡＴＴ２４ｂに入射する。ＡＴ
Ｔ２４ｂは、Ａ／Ｄコンバータ７の入力電圧値が２ボル
トを越えないように、入射した光パルスを上述した所定
の減衰量で減衰させる。減衰された光パルスは光ファイ
バ２４ｃからＡＰＤ５に与えられて電流に変換され、オ
ペアンプ６で電流−電圧変換されてＡ／Ｄコンバータ７
でデジタル信号に変換される。表示装置２８は、Ａ／Ｄ
コンバータ７の出力信号値を取り込み、基準波形２５が
観測される距離に対応する出力信号値を監視するととも
に、その都度、受光パワーに相当する出力信号値を内部
メモリ等に取り込む。そして、基準波形２５が検出され
ると、表示装置２８は図２に示すように基準波形２５を
画面上に表示させる。
【００１９】一方、ダミーファイバ４に入射した光パル
スは、ダミーファイバ４の持つ損失によって、ダミーフ
ァイバ４内を進むにつれてそのパワーが減衰してゆくと
ともに、光ファイバの性質によりダミーファイバ４の各
点で後方散乱光が生じる。発生した後方散乱光はカプラ
２３からＡＰＤ５に入力され、上記と同様にして、オペ
アンプ６による電流−電圧変換処理，Ａ／Ｄコンバータ
７によるＡ／Ｄ変換処理がなされる。そこで表示装置２
８は、基準波形２５に対応する出力信号値（前述）を基
準にして、Ａ／Ｄコンバータ７から順次出力されるデジ
タル信号に対応させて後方散乱波形１３を表示させてゆ
く。なお、表示装置２８は、これ以降に観測される波形
に対しても、基準波形２５に対応する出力信号値を基準
にして相対表示を行う。
スは、ダミーファイバ４の持つ損失によって、ダミーフ
ァイバ４内を進むにつれてそのパワーが減衰してゆくと
ともに、光ファイバの性質によりダミーファイバ４の各
点で後方散乱光が生じる。発生した後方散乱光はカプラ
２３からＡＰＤ５に入力され、上記と同様にして、オペ
アンプ６による電流−電圧変換処理，Ａ／Ｄコンバータ
７によるＡ／Ｄ変換処理がなされる。そこで表示装置２
８は、基準波形２５に対応する出力信号値（前述）を基
準にして、Ａ／Ｄコンバータ７から順次出力されるデジ
タル信号に対応させて後方散乱波形１３を表示させてゆ
く。なお、表示装置２８は、これ以降に観測される波形
に対しても、基準波形２５に対応する出力信号値を基準
にして相対表示を行う。
【００２０】他方、ダミーファイバ４を通過した光は、
コネクタ１０で２つに分離されてその一部が反射されて
残りが被測定ファイバ９に進入する。このうち、コネク
タ１０で反射された光は、ダミーファイバ４，カプラ２
３，ＡＰＤ５を順次経由して最終的にフレネル反射波形
１４として表示装置２８上に表示される。また、被測定
ファイバ９に入射した光は、被測定ファイバ９の各点で
後方散乱光を発生させる。その際、被測定ファイバ９の
持つ損失によって後方散乱光のレベルは徐々に小さくな
ってゆくことから、これらの後方散乱光は後方散乱波形
１５として表示装置２８上に表示される。さらに、被測
定ファイバ９の遠端１１で生じたフレネル反射光はフレ
ネル反射波形１６として表示装置２８上に表示される。
コネクタ１０で２つに分離されてその一部が反射されて
残りが被測定ファイバ９に進入する。このうち、コネク
タ１０で反射された光は、ダミーファイバ４，カプラ２
３，ＡＰＤ５を順次経由して最終的にフレネル反射波形
１４として表示装置２８上に表示される。また、被測定
ファイバ９に入射した光は、被測定ファイバ９の各点で
後方散乱光を発生させる。その際、被測定ファイバ９の
持つ損失によって後方散乱光のレベルは徐々に小さくな
ってゆくことから、これらの後方散乱光は後方散乱波形
１５として表示装置２８上に表示される。さらに、被測
定ファイバ９の遠端１１で生じたフレネル反射光はフレ
ネル反射波形１６として表示装置２８上に表示される。
【００２１】その後、光パルス２のレベルや波長が変動
したりＡＰＤ５の受光感度に変動があると、基準波形２
５に対応したＡ／Ｄコンバータ７の出力信号値に変動が
生じることになる。そこで表示装置２８は、変動前の出
力信号値と現時点での出力信号値に基づいてその変動量
を算出し、基準波形２５とそれ以降に観測される後方散
乱光，フレネル反射光に対応する出力信号値のそれぞれ
に対して算出された変動量を加算し、この加算結果に基
づいて観測波形を表示させてゆく。
したりＡＰＤ５の受光感度に変動があると、基準波形２
５に対応したＡ／Ｄコンバータ７の出力信号値に変動が
生じることになる。そこで表示装置２８は、変動前の出
力信号値と現時点での出力信号値に基づいてその変動量
を算出し、基準波形２５とそれ以降に観測される後方散
乱光，フレネル反射光に対応する出力信号値のそれぞれ
に対して算出された変動量を加算し、この加算結果に基
づいて観測波形を表示させてゆく。
【００２２】以上のように、本実施形態では、光パルス
２の出力レベルや波長が変動したりＡＰＤ５の受光感度
が変動した場合であっても、基準波形２５の変動を検出
してその変動量に相当する補正を行っているため、基準
波形２５が常に同一の受光パワーで観測されているよう
に見えるとともに、この基準波形２５を基準として後方
散乱光，フレネル反射光が相対表示されることになる。
したがって、観測波形全体が下側にシフトしてしまった
り正しい波形が得られないといった問題も生じない。
２の出力レベルや波長が変動したりＡＰＤ５の受光感度
が変動した場合であっても、基準波形２５の変動を検出
してその変動量に相当する補正を行っているため、基準
波形２５が常に同一の受光パワーで観測されているよう
に見えるとともに、この基準波形２５を基準として後方
散乱光，フレネル反射光が相対表示されることになる。
したがって、観測波形全体が下側にシフトしてしまった
り正しい波形が得られないといった問題も生じない。
【００２３】なお、上記実施形態では、カプラ２３だけ
を用いて光パルス２をダミーファイバ４と光パワー減衰
部２４に分岐させたが、図３のカプラ３をそのまま利用
しつつ、カプラ３とダミーファイバ４の間に新たなカプ
ラを設け、この新たなカプラによってカプラ３からの光
パルスをダミーファイバ４及び光パワー減衰部２４に分
岐させるとともに、ダミーファイバ４からの光をカプラ
３に戻す構成としても良い。また、上記実施形態では、
ダミーファイバ４をカプラ２３とコネクタ１０の間に設
けたが、その代わりに、カプラ２３とＡＰＤ５の間に設
けるようにしても良い。但し、図１に示す構成では後方
散乱光等がダミーファイバ４を「行き」と「戻り」の２
回通過するが、この場合には後方散乱光等が被測定ファ
イバ９から戻った時点で１度だけダミーファイバを通過
するようになる。そこで、カプラ２３とＡＰＤ５の間に
ダミーファイバを設ける場合は、その長さを図１のダミ
ーファイバ４の少なくとも２倍に設定しておくようにす
る。以上に加えて、ダミーファイバをＡＰＤ５〜カプラ
２３間とカプラ２３〜コネクタ１０間の双方に設けても
良く、その場合、これらダミーファイバの合計の長さを
図１のダミーファイバ４の長さ以上に設定する。
を用いて光パルス２をダミーファイバ４と光パワー減衰
部２４に分岐させたが、図３のカプラ３をそのまま利用
しつつ、カプラ３とダミーファイバ４の間に新たなカプ
ラを設け、この新たなカプラによってカプラ３からの光
パルスをダミーファイバ４及び光パワー減衰部２４に分
岐させるとともに、ダミーファイバ４からの光をカプラ
３に戻す構成としても良い。また、上記実施形態では、
ダミーファイバ４をカプラ２３とコネクタ１０の間に設
けたが、その代わりに、カプラ２３とＡＰＤ５の間に設
けるようにしても良い。但し、図１に示す構成では後方
散乱光等がダミーファイバ４を「行き」と「戻り」の２
回通過するが、この場合には後方散乱光等が被測定ファ
イバ９から戻った時点で１度だけダミーファイバを通過
するようになる。そこで、カプラ２３とＡＰＤ５の間に
ダミーファイバを設ける場合は、その長さを図１のダミ
ーファイバ４の少なくとも２倍に設定しておくようにす
る。以上に加えて、ダミーファイバをＡＰＤ５〜カプラ
２３間とカプラ２３〜コネクタ１０間の双方に設けても
良く、その場合、これらダミーファイバの合計の長さを
図１のダミーファイバ４の長さ以上に設定する。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光パルスを検出してそのレベルを監視するようにし、光
パルスのレベル変動を検出した時点でその変動量を算出
し、この変動量に基づいてそれ以降に観測される後方散
乱光，フレネル反射光の波形のレベルを補正してこれら
波形を表示させるようにしている。これにより、何らか
の原因で光パルスの特性やパワー信号生成手段の受光感
度が変動しても、変動する光パルスを基準にして観測波
形が相対表示されるため、線路の損失に変動がないのに
観測される波形が変動したり正しい波形が表示されなく
なるといった事態を防止できるという効果がある。
光パルスを検出してそのレベルを監視するようにし、光
パルスのレベル変動を検出した時点でその変動量を算出
し、この変動量に基づいてそれ以降に観測される後方散
乱光，フレネル反射光の波形のレベルを補正してこれら
波形を表示させるようにしている。これにより、何らか
の原因で光パルスの特性やパワー信号生成手段の受光感
度が変動しても、変動する光パルスを基準にして観測波
形が相対表示されるため、線路の損失に変動がないのに
観測される波形が変動したり正しい波形が表示されなく
なるといった事態を防止できるという効果がある。
【００２５】また、請求項２記載の発明によれば、光分
岐手段から光パルスを被測定ファイバとパワー信号生成
手段にそれぞれ分岐するようにしたので、装置内に唯一
の光分岐手段を設けるだけで良く、したがって装置構成
を簡素化できるという効果がある。また、請求項３又は
４記載の発明によれば、光分岐手段から被測定ファイバ
に入射する光パルスを遅延させ、あるいは、光分岐手段
からパワー情報生成手段に送出される後方散乱光及びフ
レネル反射光を遅延させるようにしたので、光パルス
と、後方散乱光及びフレネル反射光の重なり合いを完全
に排除できるという効果がある。
岐手段から光パルスを被測定ファイバとパワー信号生成
手段にそれぞれ分岐するようにしたので、装置内に唯一
の光分岐手段を設けるだけで良く、したがって装置構成
を簡素化できるという効果がある。また、請求項３又は
４記載の発明によれば、光分岐手段から被測定ファイバ
に入射する光パルスを遅延させ、あるいは、光分岐手段
からパワー情報生成手段に送出される後方散乱光及びフ
レネル反射光を遅延させるようにしたので、光パルス
と、後方散乱光及びフレネル反射光の重なり合いを完全
に排除できるという効果がある。
【図１】 本発明の一実施形態によるＯＴＤＲ測定装置
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】 同装置によって観測される波形を示す説明図
である。
である。
【図３】 従来の技術によるＯＴＤＲ測定装置の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図４】 同装置によって観測される波形を示す説明図
である。
である。
１ パルス発生器 ２ 光パルス ３，２３ カプラ ４ ダミーファイバ ５ ＡＰＤ ６ オペアンプ ７ Ａ／Ｄコンバータ ８，２８ 表示装置 ９ 被測定ファイバ １０ コネクタ １１ 遠端 １３，１５ 後方散乱波形 １４，１６ フレネル反射波形 ２４ 光パワー減衰部 ２４ａ，２４ｃ 光ファイバ ２４ｂ ＡＴＴ ２５ 基準波形
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０４Ｂ 10/13 10/12
Claims (4)
- 【請求項１】 光を受光して該光のパワーを表すパワー
信号を生成するパワー信号生成手段と、 光パルスを被測定ファイバに入射させるとともに、該光
パルスによって前記被測定ファイバに生じる後方散乱光
及びフレネル反射光を前記パワー信号生成手段に送出す
る光分岐手段と、 前記パワー信号に基づいて前記後方散乱光及び前記フレ
ネル反射光の観測波形を表示させる表示手段とを有する
ＯＴＤＲ測定装置において、 前記パワー信号生成手段は前記光パルスを受光し、 前記表示手段は、前記パワー信号に基づいて前記光パル
スを検出するとともに該光パルスのレベルを監視して、
該レベルの変動を検出した時点でその変動量を算出し、
該検出時点以降に観測される前記後方散乱光及び前記フ
レネル反射光の波形のレベルを前記変動量で補正して表
示させることを特徴とするＯＴＤＲ測定装置。 - 【請求項２】 前記光分岐手段は、前記光パルスを前記
被測定ファイバ及び前記パワー信号生成手段にそれぞれ
分岐させることを特徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ測
定装置。 - 【請求項３】 前記光分岐手段と前記被測定ファイバの
間に、前記光パルスを遅延させる第１の光遅延手段を設
けたことを特徴とする請求項１又は２記載のＯＴＤＲ測
定装置。 - 【請求項４】 前記光分岐手段と前記パワー情報生成手
段の間に、前記後方散乱光及び前記フレネル反射光を遅
延させる第２の光遅延手段を設けたことを特徴とする請
求項１〜３の何れかの項記載のＯＴＤＲ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9138999A JPH10336106A (ja) | 1997-05-28 | 1997-05-28 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9138999A JPH10336106A (ja) | 1997-05-28 | 1997-05-28 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10336106A true JPH10336106A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=15235121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9138999A Withdrawn JPH10336106A (ja) | 1997-05-28 | 1997-05-28 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10336106A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100740637B1 (ko) | 2006-01-24 | 2007-07-18 | 주식회사 뮤텍스 | 광케이블 선로 상태 분석장치 |
| CN100354744C (zh) * | 2001-04-02 | 2007-12-12 | 日本电气株式会社 | 用于测量,控制喇曼增益的方法和装置以及喇曼放大器 |
| US7889331B2 (en) | 2006-08-25 | 2011-02-15 | Yokogawa Electric Corporation | Bidirectional optical module and optical time domain reflectometer equipped with the bidirectional optical module |
| CN103905113A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-02 | 浙江天创信测通信科技有限公司 | 光时域反射仪动态扩展方法 |
| CN104081177A (zh) * | 2012-02-10 | 2014-10-01 | 联合技术欧洲有限公司 | 光时域反射仪映射方法 |
| CN105136429A (zh) * | 2015-07-24 | 2015-12-09 | 中国科学院半导体研究所 | 一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置及方法 |
| WO2019235152A1 (ja) | 2018-06-05 | 2019-12-12 | 住友電気工業株式会社 | 検査システム及び検査方法 |
| WO2019235224A1 (ja) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | Ｓｅｉオプティフロンティア株式会社 | 検査システム |
-
1997
- 1997-05-28 JP JP9138999A patent/JPH10336106A/ja not_active Withdrawn
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100354744C (zh) * | 2001-04-02 | 2007-12-12 | 日本电气株式会社 | 用于测量,控制喇曼增益的方法和装置以及喇曼放大器 |
| KR100740637B1 (ko) | 2006-01-24 | 2007-07-18 | 주식회사 뮤텍스 | 광케이블 선로 상태 분석장치 |
| US7889331B2 (en) | 2006-08-25 | 2011-02-15 | Yokogawa Electric Corporation | Bidirectional optical module and optical time domain reflectometer equipped with the bidirectional optical module |
| CN104081177A (zh) * | 2012-02-10 | 2014-10-01 | 联合技术欧洲有限公司 | 光时域反射仪映射方法 |
| CN103905113A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-02 | 浙江天创信测通信科技有限公司 | 光时域反射仪动态扩展方法 |
| CN103905113B (zh) * | 2014-03-28 | 2016-06-01 | 浙江天创信测通信科技有限公司 | 光时域反射仪动态扩展方法 |
| CN105136429A (zh) * | 2015-07-24 | 2015-12-09 | 中国科学院半导体研究所 | 一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置及方法 |
| WO2019235224A1 (ja) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | Ｓｅｉオプティフロンティア株式会社 | 検査システム |
| US11965801B2 (en) | 2018-06-04 | 2024-04-23 | Sumitomo Electric Optifrontier Co., Ltd. | Measurement system |
| WO2019235152A1 (ja) | 2018-06-05 | 2019-12-12 | 住友電気工業株式会社 | 検査システム及び検査方法 |
| US10523317B2 (en) | 2018-06-05 | 2019-12-31 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Measurement system and measurement method |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040803 |