JP7301764B2 - 自動分析装置 - Google Patents
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Description
11 試薬容器
12 試薬ディスク
13 反応ディスク
14 試薬分注機構
15 検体分注機構
16 投入ライン
17 回収ライン
19 搬送ライン
21 検体容器
22 検体ラック
23 超音波式センサ(第1の液面検出器)
25 検体分注ノズル
26 静電容量式センサ(第2の液面検出器)
27 反応容器
31 液位測定位置
32 検体吸引位置
100 校正治具
102a 検出面
Claims (3)
- 検体を収容した検体容器を、液位測定位置及び検体吸引位置に搬送する搬送ラインと、
前記液位測定位置にある前記検体容器内の液面までの距離を非接触で測定する超音波式センサと、
前記検体吸引位置にある前記検体容器に収容された液体を吸引して反応容器に吐出する検体分注ノズルと、
前記検体分注ノズルの先端に設けられて前記検体容器内の液面と接触したことを検出する静電容量式センサと、
前記搬送ライン、前記超音波式センサ、前記検体分注ノズル、前記静電容量式センサ、を制御する制御部と、
を有する自動分析装置において、
前記搬送ラインは、上端が平坦な検出面である導電性の検出用部材を備えた校正治具を、前記液位測定位置及び前記検体吸引位置に搬送し、
前記制御部は、
前記超音波式センサから前記校正治具までの距離D1を、前記超音波式センサの設計上の高さH1から減算することにより、前記校正治具の高さ(H1-D1)を算出し、
前記校正治具の既知である実際の高さ寸法L3と、前記校正治具の算出した高さ(H1-D1)と、の差により、オフセットΔH1を算出することで、前記超音波式センサの高さのオフセットを校正するとともに、
前記静電容量式センサが前記検体分注ノズル先端と前記検出面との接触を検出するまでの前記検体分注ノズルの下降量D2を、上停止位置における前記検体分注ノズル先端の設計上の高さH2から減算することにより、前記校正治具の高さ(H2-D2)を算出し、
前記校正治具の既知である実際の高さ寸法L3と、前記校正治具の算出した高さ(H2-D2)と、の差により、オフセットΔH2を算出することで、前記検体分注ノズルの高さのオフセットを校正する、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置おいて、
前記検出用部材を介して前記校正治具の上面から前記搬送ラインまで、電気的に接続されていることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
装置の状態を表示する表示部をさらに有し、
前記制御部は、前記校正治具の既知である実際の高さ寸法と、前記校正治具の算出した高さと、の差が所定値よりも大きい場合、前記表示部にアラートを表示することを特徴とする自動分析装置。
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JP2020019377A JP7301764B2 (ja) | 2020-02-07 | 2020-02-07 | 自動分析装置 |
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JP2020019377A JP7301764B2 (ja) | 2020-02-07 | 2020-02-07 | 自動分析装置 |
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Family Applications (1)
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- 2020-02-07 JP JP2020019377A patent/JP7301764B2/ja active Active
Patent Citations (5)
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