JP2016183913A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016183913A JP2016183913A JP2015064455A JP2015064455A JP2016183913A JP 2016183913 A JP2016183913 A JP 2016183913A JP 2015064455 A JP2015064455 A JP 2015064455A JP 2015064455 A JP2015064455 A JP 2015064455A JP 2016183913 A JP2016183913 A JP 2016183913A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reagent
- automatic analyzer
- sample
- sampling mechanism
- reaction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【課題】自動分析装置に新たに大がかりな機構や部品を組み込むことなく、水準器や作業者による精度のばらつきを無くすとともに装置への反応槽の据付時における水平高さ調整作業の効率を上げることができる自動分析装置を提供する。【解決手段】第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2の金属検知成立状態を検知モニタ6で監視しながら、2本の検体プローブ1a、2aの先端が同時に反応槽5の底面に接触して検知成立となる状態になるよう、アジャスタ24,25,26,27を調整する。【選択図】 図1
Description
本発明は血液・尿などの生体サンプルの定性・定量分析を行う自動分析装置に関わる。
簡単に反応槽の水平出しを行うことができる自動分析装置及びその水平出し方法の一例として、特許文献1には、被検試料を反応容器に分注するサンプル分注プローブと、第1及び第2の試薬を反応容器に分注する第1及び第2試薬分注プローブと、被検試料及び試薬の混合液を測定温度に保持する熱媒体を収容する反応槽と、各分注プローブに対応して反応槽に設けられた水平出し部と、各分注プローブの熱媒体との接触時にその液面を検出する液面検出器とを備え、各水平出し部の上方から前記液面の検出位置まで下移動した各分注プローブの距離を求め、求めた各距離及び各水平出し部の位置の情報に基づいて、反応槽の水平出しを行うための高さ調整量を算出する技術が記載されている。
自動分析装置は、臨床検査の分野において広く知られている。自動分析装置には、被検査者から採取したサンプルと試薬を混合し、反応させることで生じる色調の変化を分光光度計によって測定する技術が用いられている。
このような自動分析装置では、サンプルと試薬を混合した溶液を保持する反応槽を自動分析装置に据付する際に、反応槽と装置全体との水平度を高く保つことが重要となる。この水平高さの調整が十分行われていないと、ばらつきによって装置を構成している機構が正常に動作できなくなり、分析結果に影響を与える可能性があるためである。
従来は、据付時に水準器の水平状態を目視しながら反応槽に設けられたアジャスタの高さを手動にて調整し水平出しを行っているタイプがある。また、上述した特許文献1に記載のようにプローブにより液面検出までの移動距離を算出して調整量を求めることも考えられる。
しかし、作業者が水準器を目視しながらアジャスタの高さを手動にて調整する方法では、水準器の設置面を変えながら必要に応じて複数のアジャスタの高さを調整するため作業効率が悪い、という問題がある。さらに、水準器や作業者による精度のばらつきが発生してしまう、という問題もある。
また、特許文献1に記載の方法では、自動分析装置に新たに大がかりな機構や部品を組み込む必要があり、装置コストの上昇にもつながってしまうことから導入に向けたハードルが高い、という問題点がある。
本発明は、自動分析装置に新たに大がかりな機構や部品を組み込むことなく、水準器や作業者による精度のばらつきを無くすとともに反応槽の自動分析装置への据付時における水平高さ調整作業の効率を上げることができる自動分析装置を提供する。
上記課題を解決するために、例えば特許請求の範囲に記載の構成を採用する。
本発明は、上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例を挙げるならば、複数の反応容器に検体と試薬を各々分注して反応させ、この反応させた液体を測定する自動分析装置であって、前記複数の反応容器内に入った前記検体と前記試薬を反応させた反応液を一定温度に保つための金属製の反応槽と、前記検体を収容する容器から前記反応容器へ所定量の検体を分注する検体サンプリング機構であって、金属表面および液面を検知することが可能な検体サンプリング機構と、前記試薬を収容する容器から前記反応容器へ所定量の試薬を分注する試薬サンプリング機構であって、金属表面および液面を検知することが可能な試薬サンプリング機構と、前記検体サンプリング機構または前記試薬サンプリング機構のうち少なくともいずれかによって前記反応槽の底面の金属表面が検知されたことを視覚的または聴覚的に通知するモニタ部と、前記反応槽の前記自動分析装置に対する水平高さを調整するためのアジャスタとを備えたことを特徴とする。
本発明は、上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例を挙げるならば、複数の反応容器に検体と試薬を各々分注して反応させ、この反応させた液体を測定する自動分析装置であって、前記複数の反応容器内に入った前記検体と前記試薬を反応させた反応液を一定温度に保つための金属製の反応槽と、前記検体を収容する容器から前記反応容器へ所定量の検体を分注する検体サンプリング機構であって、金属表面および液面を検知することが可能な検体サンプリング機構と、前記試薬を収容する容器から前記反応容器へ所定量の試薬を分注する試薬サンプリング機構であって、金属表面および液面を検知することが可能な試薬サンプリング機構と、前記検体サンプリング機構または前記試薬サンプリング機構のうち少なくともいずれかによって前記反応槽の底面の金属表面が検知されたことを視覚的または聴覚的に通知するモニタ部と、前記反応槽の前記自動分析装置に対する水平高さを調整するためのアジャスタとを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、自動分析装置に新たに大がかりな機構や部品を組み込むことなく、水準器や作業者による精度のばらつきを無くすとともに反応槽の自動分析装置への据付時における水平高さ調整作業の効率を上げることができる。
以下に本発明の自動分析装置の実施例を、図面を用いて説明する。
<実施例1>
本発明の自動分析装置の実施例1を、図1乃至図4を用いて説明する。図1は自動分析装置を示す概略図である。
本発明の自動分析装置の実施例1を、図1乃至図4を用いて説明する。図1は自動分析装置を示す概略図である。
図1において、自動分析装置は、複数の反応容器9,28に検体と試薬を各々分注して反応させ、この反応させた液体を測定する装置であって、反応槽5、試薬ディスク18,21、検体サンプリング機構1,2、試薬サンプリング機構10,11,12,13、分光光度計29、搬送ライン47、アジャスタ24,25,26,27、検知モニタ6、コントローラ40を備えている。
反応槽5には反応容器9,28(第1反応容器9,第2反応容器28)が円周上に並んでいる。この反応槽5は、反応容器9,28内に入った検体と試薬を反応させた反応液を一定温度に保つための槽であり、金属で構成されている。反応槽5の近くには検体(以下、サンプルとも記載)を収容するサンプル容器8を載せたサンプルラック7を移動する搬送ライン47が設置されている。
反応槽5と搬送ライン47の間には、検体を収容する容器から反応容器9,28へ所定量の検体を分注するよう、回転および上下動可能に構成された検体サンプリング機構1,2(第1検体サンプリング機構1、第2検体サンプリング機構2)が設置されており、各々検体プローブ1a,2aを備えている。検体サンプリング機構1,2は、検体プローブ1a,2aの先端の静電容量の値をモニタリングし、液面または金属に接触した時の閾値を設けて動作させることでプローブ1a,2aを停止するよう構成されており、反応槽5の底面に相当する金属表面5a(図2参照)に接触したことや検体の液面を検知することが可能である。なお、検体サンプリング機構1,2は検体以外の液体を吸引し吐出することができるようになっている。
また、検体サンプリング機構1,2は、反応槽5の底面(金属表面5a)が検知された、すなわち底面に接触した後に一定量以上押しつけられるときは異常接触と判定して、後述する検知モニタ6に対してアラーム発生要求信号を出力する。
検体プローブ1a,2aは、反応槽5上の複数位置へ水平移動および上下移動が可能に構成されており、回転軸を中心に円弧を描きながら移動して検体を収容したサンプル容器8から反応容器9,28への検体分注を行う。なお、検体プローブ1a,2aの停止位置は、その回転軸を中心とした回転軌道上に限定されず、アームの届く範囲の任意の位置に停止可能である。
試薬ディスク18,21(第1試薬ディスク18,第2試薬ディスク21)の中には複数の試薬ボトル19,20,22,23が円周上に載置可能である。試薬ディスク18,21は保冷されており、吸引口が設けられたカバーによって覆われている。
反応槽5と試薬ディスク18,21の間には、試薬を収容する容器から反応容器9,28へ所定量の試薬を分注するよう、回転および上下動可能に構成された試薬サンプリング機構10,11,12,13(第1試薬サンプリング機構10,第2試薬サンプリング機構11,第3試薬サンプリング機構12,第4試薬サンプリング機構13)が設置されており、それぞれ試薬プローブ10a,11a,12a,13aを備えている。試薬サンプリング機構10,11,12,13は、試薬プローブ10a,11a,12a,13aの先端の静電容量の値をモニタリングし、液面または金属に接触した時の閾値を設けて動作させることでプローブ10a,11a,12a,13aを停止するよう構成されており、反応槽5の底面に相当する金属表面5a(図2参照)に接触したことや試薬の液面を検知することが可能である。なお、試薬サンプリング機構10,11,12,13は試薬以外の液体を吸引し吐出することができるものである。
また、試薬サンプリング機構10,11,12,13は、反応槽5の底面(金属表面5a)が検知された、すなわち底面に接触した後に一定量以上押しつけられるときは異常接触と判定して、後述する検知モニタ6に対してアラーム発生要求信号を出力する。
試薬プローブ10a,11a,12a,13aは、反応槽5上の複数位置へ水平移動および上下移動が可能に構成されており、回転軸を中心に円弧を描きながら移動して試薬ボトル19,20,22,23から反応容器9,28への試薬分注を行う。なお、試薬プローブ10a,11a,12a,13aの停止位置は、その回転軸を中心とした回転軌道上に限定されず、アームの届く範囲の任意の位置に停止可能である。
反応槽5の周囲には、更に、分光光度計29が配置されている。これら自動分析装置に供えられた各機構はコントローラ40に接続されている。
アジャスタ24,25,26,27(第1アジャスタ24、第2アジャスタ25、第3アジャスタ26、第4アジャスタ27)は、反応槽5の底面の4か所に設けられており、自動分析装置に対する反応槽の水平高さを調整するための高さ調整用機構である。アジャスタ24,25,26,27の概略を図2を参照して以下説明する。
図2において、アジャスタ24,25,26,27は、反応槽底板30のねじ穴部35に対して螺嵌しているアジャスタねじ部31と、このアジャスタねじ部31の一端に設けられた調整ナット部32と、この調整ナット部32と自動分析装置底面34との間に設けられたアジャスタ設置面33とからなる。
このアジャスタ24,25,26,27における水平高さ調整の手順としては、自動分析装置底面34に設置したアジャスタ設置面33を基準としてアジャスタの調整ナット部32をスパナなどの工具で回転させる。この調整ナット部32を回転させると、ねじ山が付いたアジャスタねじ部31が回転し、ねじ穴部35で嵌合された反応槽底板30がアジャスタねじ部31のねじピッチに応じて上下移動することで水平高さ調整が可能となっている。
検知モニタ6は、検体サンプリング機構1,2や、試薬サンプリング機構10,11,12,13のうちいずれかによって金属表面5aが検知されたことを視覚的または聴覚的に通知するためのモニタであり、金属表面5aの検知成立時には、スピーカ38を備えた検知モニタ6によってどのプローブで表面の検知が成立したかが分かる構成となっている。例えば、動作対象の検体サンプリング機構すべてが検知成立となった場合に、スピーカ38からの音で知らせることも可能である。図3は、プローブ先端が反応槽の底面へ接触する時にサンプリング機構の状態を示す検知モニタ6の一例を示す図である。
より具体的には、図3に示すように、水平高さ調整時に各サンプリング機構の検知ONランプ36または検知OFFランプ37が点灯することで、オペレータに対して底面検知状態を視覚的に確認することができるようになっている。また、動作中の機構が全て金属検知ONとなった際には、スピーカ38から音を出すようになっており、オペレータに対して調整完了を知らせることで、金属表面5aの検知を視覚的または聴覚的に通知する機能も備えている。
更に、検知モニタ6は、図3に示すように、検体サンプリング機構1,2や試薬サンプリング機構10,11,12,13が、反応槽5の底面に接触した後に一定量以上押しつけられてプローブ先端が反応槽5の底面に過剰に接触した場合に入力されるアラーム発生要求信号に基づいて、接触ONランプ39を点灯させると共にスピーカ38からアラーム音を出すことで、オペレータに対して異常接触を視覚的または聴覚的に通知する機能を備えている。
コントローラ40は、自動分析装置内の各構成要素を制御し、様々な演算処理を行う部分である。
上述のような自動分析装置による検体の分析処理は、一般的に以下の順に従い実行される。
まず、搬送ライン47によって反応槽5近くに搬送されたサンプルラック7の上に載置されたサンプル容器8内に第1検体サンプリング機構1に搭載された検体プローブ1aを挿入する。その後検体プローブ1aを下降させてサンプルの液面を液面検知機能によって検知して液面上面付近で停止し、サンプルを所定量吸引する。その後、反応槽5の周上に設置された第1反応容器9に吐出する。同様に、第2検体サンプリング機構2に搭載された検体プローブ2aをサンプル容器8内に挿入し、サンプルを所定量吸引した後、第2反応容器28に吐出する。
続いて、第1試薬サンプリング機構10に搭載された試薬プローブ10aを第1試薬ディスク18に設置された第1試薬ボトル19中に挿入し、第1試薬の液面で液面検知機能によって停止させ、第1試薬を所定量吸引した後、第1反応容器9に第1試薬を吐出する。同様に、第2試薬サンプリング機構11に搭載された試薬プローブ11aを第2試薬ディスク21に設置された第2試薬ボトル20中に挿入し、第2試薬を所定量吸引した後、第2反応容器28に吐出する。
第1反応容器9と第2反応容器28において、検体と試薬の混合撹拌を行う。
その後、第3試薬サンプリング機構12に搭載された試薬プローブ12aを第1試薬ディスク18に設置された第4試薬ボトル23中に挿入し、第4試薬の液面で停止させ、第4試薬を所定量吸引した後、第1反応容器9に吐出する。同様に第4試薬サンプリング機構13に搭載された試薬プローブは第2試薬ディスク21に設置された第3試薬ボトル22中の第3試薬を所定量吸引した後、第2反応容器28に吐出する。
一定時間かけて反応促進させた後、光源から発生させた光を混合液の入った反応容器9,28を透過させ、反応液の色調を分光光度計29にて吸光度測定し、コントローラ40において波長ごとの解析結果を演算し、得られた測定結果をモニタ(不図示)などに対して出力、表示させる。
このような分析動作の前準備として、反応槽5の自動分析装置への据付時に行う水平高さ調整がある。この水平高さ調整にあたって、本実施例では、検知モニタ6において視覚的または聴覚的に通知された、検体サンプリング機構1,2による金属表面5aの検知情報を基にしてアジャスタ24,25,26,27を調整する。
まず、分析前・調整前準備の一つとして、検体サンプリング機構1,2の動作に関わる基準高さを決定する。
具体的な手段としては、サンプルラック7へ搭載した金属製の調整雇に向けてプローブ1a,2aの先端を下降させて接触させることで基準高さを登録する。さらに検体サンプリング機構1,2と同様に、試薬サンプリング機構10,11,12,13についても基準高さを決定するため、試薬ディスク18,21に設置した金属製の調整雇に向けてプローブ10a,11a,12a,13aの先端を下降させて接触させることで基準高さを登録する。本基準高さ登録後に、後述する水平高さ調整や上述したような分析動作を実施する。
次に、水平高さ調整時の手順について図4を参照して説明する。水平高さ調整時の作業フローを図4に示す。
図4において、まず、作業者は、手順1として、自動分析装置へ反応槽5を設置する。
次いで、手順2として、検体プローブ1a,2aを水平高さ確認位置へ移動させる。
次いで、手順3として、検体プローブ1a,2aを一定量下降させて金属の検知を実行した状態で待機させる。より具体的には、図1に示すように、反応槽5の第1水平高さ確認位置3にて第1検体サンプリング機構1の検体プローブ1aの先端を一定高さで停止させて金属検知待機状態とする。また、反応槽5の第2水平高さ確認位置4にて第2検体サンプリング機構2の検体プローブ2aの先端を第1検体サンプリング機構1の検体プローブ1aの先端を一定高さで停止させて金属検知待機状態とする。
次いで、手順4として、反応槽の底面の4か所に設けられた第1アジャスタ24、第2アジャスタ25、第3アジャスタ26、第4アジャスタ27による水平高さを調整する。
その後、手順5として、検知モニタ6による水平高さを確認する。この手順5において、再調整が必要ならば手順4へ処理を戻す。これに対し、再調整が不要ならば処理を完了する。
この手順4,5に示すように、作業者は、据付時に、第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2の金属検知成立状態を検知モニタ6で監視しながら、2本の検体プローブ1a、2aの先端が同時に反応槽5の底面に接触して検知成立となることで2点の水平高さを同時に確認することができる。さらに、第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2の回転軌道上で停止位置を変えて水平高さを確認することで3点以上の測定が可能である。
次に、本実施例の利点を述べる。自動分析装置では、第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2は、本来の機能としてサンプルラック7に搭載されたサンプル容器8中のサンプルを吸引し、反応槽5に設置する第1反応容器9と第2反応容器28に吐出するようになっている。また、各検体サンプリング機構1,2は、ハード的破損を防止するために、プローブ1a、2aの先端が対象物に接触後一定量以上押しつけられると異常接触を示す検知センサを備えており、プローブ1a、2a先端が反応槽5の底面へ接触後、過剰に突っ込み過ぎた場合は異常接触を示すアラームを発生することができるようになっている。
第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2のサンプルを吸引し吐出するという同じ機能をもった機構の金属検知機能を使って水平高さ調整を行うことで、検知成立時の機械的ばらつきが最小限に抑えられ信頼性が向上する。また、検体サンプリング機構1,2の検体プローブ1a、2aの動作のみで実施できるため、比較的簡易な構成でありながら、据付時におけるより厳密な水平高さ調整が可能であり、水平高さ調整作業の効率も上げることができる。また、水準器が不要であり、水準器や作業者による精度のばらつきを無くすことができる。さらに、本実施例の自動分析装置による調整に必要な主な機構と機能は、既に装置に搭載されているので、新たに大がかりな機構や部品を準備する必要がなく、装置コストの上昇を避けることができる、との利点を有している。
なお、本実施例1では、最良の形態として第1水平高さ確認位置3と第2水平高さ確認位置4を検体プローブ1a,2aの停止位置としたが、第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2の動作軌道上であれば停止位置を限定するものではない。
さらに、第1検体サンプリング機構1と第2検体サンプリング機構2を2つ以上の関節を持つ機構とすることで、回転軌道上に限らずにさらに多くの水平高さ確認位置を設定することも可能である。
<実施例2>
本発明の自動分析装置の実施例2を図5乃至図7を用いて説明する。図1乃至図4と同じ構成には同一の符号を示し、説明は省略する。以下の実施例においても同様とする。図5は自動分析装置を示す概略図である。
本発明の自動分析装置の実施例2を図5乃至図7を用いて説明する。図1乃至図4と同じ構成には同一の符号を示し、説明は省略する。以下の実施例においても同様とする。図5は自動分析装置を示す概略図である。
実施例2では、実施例1の検体サンプリング機構1,2の代わりに、試薬サンプリング機構10,11,12,13による金属表面5aの検知情報を基にして第1アジャスタ24,第2アジャスタ25,第3アジャスタ26,第4アジャスタ27を調整する。
図5に示すように、本実施例の自動分析装置の各構成は、図1に示す実施例1の自動分析装置の構成と同じである。
図5では、第1試薬サンプリング機構10は、反応槽5の第3水平高さ確認位置14にて試薬プローブ10aの先端を一定高さで停止させて金属検知待機状態となる。同様に、第2試薬サンプリング機構11は第4水平高さ確認位置15にて、第3試薬サンプリング機構12は第5水平高さ確認位置16にて、第4試薬サンプリング機構13は第6水平高さ確認位置17にて各試薬プローブ11a,12a,13aの先端を一定高さで停止させて金属検知待機状態となる。本実施例では、第1〜第4試薬サンプリング機構10,11,12,13の試薬プローブ10a,11a,12a,13aの先端を同じ高さとすることで水平高さ確認前の準備が完了する。
本実施例においても、実施例1同様に、試薬プローブ10a,11a,12a,13aによって、金属検知成立時にはスピーカ38を備えた検知モニタ6によってどのプローブで検知が成立したかが分かる構成となっている。
次に、本実施例における水平高さ調整時の手順について図6を参照して説明する。水平高さ調整時の作業フローを図6に示す。
図6において、まず、作業者は、手順1として、自動分析装置へ反応槽5を設置する。
次いで、手順2aとして、試薬プローブ10a,11a,12a,13aを水平高さ確認位置へ移動させる。
次いで、手順3aとして、試薬プローブ10a,11a,12a,13aを一定量下降させて金属の検知を実行した状態で待機させる。より具体的には、図5に示す状態とする。
次いで、手順4として、反応槽5の底面の4か所に設けられた第1アジャスタ24、第2アジャスタ25、第3アジャスタ26、第4アジャスタ27による水平高さを調整する。
その後、手順5として、検知モニタ6による水平高さを確認する。この手順5において、再調整が必要ならば手順4へ処理を戻す。これに対し、再調整が不要ならば処理を完了する。
この手順4,5に示すように、作業者は据付時に第1〜第4試薬サンプリング機構10,11,12,13の金属検知成立状態を検知モニタ6で監視しながら、反応槽5底面4か所の第1〜第4アジャスタ24,25,26,27の高さを調整する。第1〜第4試薬サンプリング機構10,11,12,13の試薬プローブ10a,11a,12a,13aが同時に反応槽5の底面に接触して検知成立となることで4点の水平高さを同時に確認することができる。
この手順4〜5における水平高さ調整時の装置断面概略図を図7に示す。
図7の通り、第2試薬サンプリング機構11の第4水平高さ確認位置15と第4試薬サンプリング機構13の第6水平高さ確認位置17が反応槽5上へ配置される。各サンプリング機構10,11,12,13のプローブ10a,11a,12a,13a先端が反応槽5の底面へ同時に接触して金属検知することで2点の水平高さを確認することができるようになっている。
本実施例2の利点を述べる。自動分析装置では、第1〜第4試薬サンプリング機構10,11,12,13は、本来の機能として第1試薬ディスク18と第2試薬ディスク21に設置された第1〜第4試薬を吸引し、反応槽5に設置する第1反応容器9と第2反応容器28に試薬を吐出するようになっている。また、同様に、ハード的破損を防止するために、プローブ10a,11a,12a,13aの先端が対象物に接触後一定量以上押しつけられると異常接触を示す検知センサを備えている。
よって、上述した実施例1の自動分析装置とほぼ同様な効果が得られる。また、本実施例では、実施例1に比べて同時に水平高さを確認できる点が多いため、試薬プローブ10a,11a,12a,13aを動作させる確認回数が少なくて済む。さらに試薬プローブ10a,11a,12a,13aの動作が反応槽5の周上で広範囲になっていることも厳密な水平高さ確認に適している、との利点を有している。
なお、本実施例2では、最良の形態として水平高さ確認位置14〜17の4つとしたが第1〜第4試薬サンプリング機構10,11,12,13は2つの関節を持つ回転機構としたので、水平高さ確認位置を軌道上に限定されるものではない。
<実施例3>
本発明の自動分析装置の実施例3を図8および図9を用いて説明する。図8は自動分析装置を示す概略図である。
本発明の自動分析装置の実施例3を図8および図9を用いて説明する。図8は自動分析装置を示す概略図である。
実施例3では、実施例1で説明した検体サンプリング機構1,2と実施例2で説明した試薬サンプリング機構10,11,12,13の全てを用いて、検体サンプリング機構1,2および試薬サンプリング機構10,11,12,13による金属表面5aの検知情報を基にして第1アジャスタ24,第2アジャスタ25,第3アジャスタ26,第4アジャスタ27を調整する。
図8に示すように、本実施例の自動分析装置の各構成は、図1に示す実施例1の自動分析装置や図5に示す実施例2の自動分析装置の構成と同じである。
図8では、実施例1や実施例2で述べた通り、第1検体サンプリング機構1は反応槽5の第1水平高さ確認位置3にて、第2検体サンプリング機構2は第2水平高さ確認位置4にて検体プローブ1a,2a先端を一定高さで停止させて金属検知待機状態となる。同様に、第1試薬サンプリング機構10は第3水平高さ確認位置14にて、第2試薬サンプリング機構11は第4水平高さ確認位置15にて、第3試薬サンプリング機構12は第5水平高さ確認位置16にて、第4試薬サンプリング機構13は第6水平高さ確認位置17にて試薬プローブ10a,11a,12a,13a先端を一定高さで停止させて金属検知待機状態となる。本実施例では、第1〜第2検体プローブ1a,2aの先端と第1〜第4試薬プローブ10a,11a,12a,13aの先端の全てを同じ高さとすることで水平高さ確認前の準備が完了する。
次に、本実施例における水平高さ調整時の手順について図9を参照して説明する。水平高さ調整時の作業フローを図9に示す。
図9において、まず、作業者は、手順1として、自動分析装置へ反応槽5を設置する。
次いで、手順2bとして、検体プローブ1a,2aおよび試薬プローブ10a,11a,12a,13aを水平高さ確認位置へ移動させる。
次いで、手順3bとして、検体プローブ1a,2aおよび試薬プローブ10a,11a,12a,13aを一定量下降させて金属の検知を実行した状態で待機させる。より具体的には、図8に示す状態とする。
次いで、手順4として、反応槽5の底面の4か所に設けられた第1アジャスタ24、第2アジャスタ25、第3アジャスタ26、第4アジャスタ27による水平高さを調整する。
その後、手順5として、検知モニタ6による水平高さを確認する。この手順5において、再調整が必要ならば手順4へ処理を戻す。これに対し、再調整が不要ならば処理を完了する。
この手順4,5に示すように、作業者は据付時に第1〜第2検体サンプリング機構1,2と第1〜第4試薬サンプリング機構10,11,12,13の金属検知成立状態を検知モニタ6で監視しながら、反応槽5底面4か所の第1〜第4アジャスタ24,25,26,27の高さを調整する。検体プローブ1a,2aおよび試薬プローブ10a,11a,12a,13aの6つのプローブが同時に反応槽5の底面に接触して検知成立となることで6点の水平高さを同時に確認することができる。
次に、本実施例の利点を述べる。本実施例では、同じ機能を持つ2つの検体サンプリング機構1,2と4つの試薬サンプリング機構10,11,12,13を同時に使用するため、各機構毎における検知成立時の機械的ばらつきが最小限に抑えられて信頼性が向上する。特に実施例1、実施例2に比べて反応槽5の周上で水平高さ確認の位置が最も広範囲に配置できる理想的な形態となる。よって、実施例1,2に比べてさらに厳密な水平高さ調整が可能となる。
なお、本実施例3では、最良の形態として、水平高さ確認位置3,4,14〜17の6点としたが、検体サンプリング機構1,2と試薬サンプリング機構10,11,12,13の動作軌道上であれば限定されるものではない。
また、検体サンプリング機構1,2と試薬サンプリング機構10,11,12,13の必要な機構のみでプローブを配置し動作すれば、使用する機構を限定する必要はない。
<その他>
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。上記の実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることも可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることも可能である。
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。上記の実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることも可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることも可能である。
1…第1検体サンプリング機構、
1a…検体プローブ、
2…第2検体サンプリング機構、
2a…検体プローブ、
3…第1水平高さ確認位置、
4…第2水平高さ確認位置、
5…反応槽、
5a…金属表面、
6…検知モニタ(モニタ部)、
7…サンプルラック、
8…サンプル容器、
9…第1反応容器、
10…第1試薬サンプリング機構、
10a…試薬プローブ、
11…第2試薬サンプリング機構、
11a…試薬プローブ、
12…第3試薬サンプリング機構、
12a…試薬プローブ、
13…第4試薬サンプリング機構、
13a…試薬プローブ、
14…第3水平高さ確認位置、
15…第4水平高さ確認位置、
16…第5水平高さ確認位置、
17…第6水平高さ確認位置、
18…第1試薬ディスク、
19…第1試薬ボトル、
20…第2試薬ボトル、
21…第2試薬ディスク、
22…第3試薬ボトル、
23…第4試薬ボトル、
24…第1アジャスタ、
25…第2アジャスタ、
26…第3アジャスタ、
27…第4アジャスタ、
28…第2反応容器、
29…分光光度計、
30…底板、
31…アジャスタねじ部、
32…調整ナット部、
33…アジャスタ設置面、
34…自動分析装置底面、
35…ねじ穴部、
36…検知ONランプ、
37…検知OFFランプ、
38…スピーカ、
39…接触ONランプ、
40…コントローラ、
47…搬送ライン。
1a…検体プローブ、
2…第2検体サンプリング機構、
2a…検体プローブ、
3…第1水平高さ確認位置、
4…第2水平高さ確認位置、
5…反応槽、
5a…金属表面、
6…検知モニタ(モニタ部)、
7…サンプルラック、
8…サンプル容器、
9…第1反応容器、
10…第1試薬サンプリング機構、
10a…試薬プローブ、
11…第2試薬サンプリング機構、
11a…試薬プローブ、
12…第3試薬サンプリング機構、
12a…試薬プローブ、
13…第4試薬サンプリング機構、
13a…試薬プローブ、
14…第3水平高さ確認位置、
15…第4水平高さ確認位置、
16…第5水平高さ確認位置、
17…第6水平高さ確認位置、
18…第1試薬ディスク、
19…第1試薬ボトル、
20…第2試薬ボトル、
21…第2試薬ディスク、
22…第3試薬ボトル、
23…第4試薬ボトル、
24…第1アジャスタ、
25…第2アジャスタ、
26…第3アジャスタ、
27…第4アジャスタ、
28…第2反応容器、
29…分光光度計、
30…底板、
31…アジャスタねじ部、
32…調整ナット部、
33…アジャスタ設置面、
34…自動分析装置底面、
35…ねじ穴部、
36…検知ONランプ、
37…検知OFFランプ、
38…スピーカ、
39…接触ONランプ、
40…コントローラ、
47…搬送ライン。
Claims (9)
- 複数の反応容器に検体と試薬を各々分注して反応させ、この反応させた液体を測定する自動分析装置であって、
前記複数の反応容器内に入った前記検体と前記試薬を反応させた反応液を一定温度に保つための金属製の反応槽と、
前記検体を収容する容器から前記反応容器へ所定量の検体を分注する検体サンプリング機構であって、金属表面および液面を検知することが可能な検体サンプリング機構と、
前記試薬を収容する容器から前記反応容器へ所定量の試薬を分注する試薬サンプリング機構であって、金属表面および液面を検知することが可能な試薬サンプリング機構と、
前記検体サンプリング機構または前記試薬サンプリング機構のうち少なくともいずれかによって前記反応槽の底面の金属表面が検知されたことを視覚的または聴覚的に通知するモニタ部と、
前記反応槽の前記自動分析装置に対する水平高さを調整するためのアジャスタとを備えた
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記検体サンプリング機構に搭載された検体プローブおよび前記試薬サンプリング機構に搭載された試薬プローブは、前記反応槽上の複数位置へ水平移動および上下移動が可能である
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2に記載の自動分析装置において、
前記検体プローブおよび前記試薬プローブは、その停止位置が回転軌道上に限定されない
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記検体サンプリング機構および前記試薬サンプリング機構は、同時に前記金属表面の検知動作が可能である
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記前記検体サンプリング機構および前記試薬サンプリング機構は、前記金属表面の検知成立を確認するプローブ先端が前記反応槽の底面に対して接触後一定量以上押しつけられるときは異常接触と判定して、前記モニタ部に対してアラーム発生要求信号を出力する
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項5に記載の自動分析装置において、
前記モニタ部は、更に、前記異常接触を視覚的または聴覚的に通知する
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記検体サンプリング機構を2以上備え、
この2以上の検体サンプリング機構による前記金属表面の検知情報を基にして前記アジャスタを調整する
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記試薬サンプリング機構を2以上備え、
この2以上の試薬サンプリング機構による前記金属表面の検知情報を基にして前記アジャスタを調整する
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置において、
前記検体サンプリング機構による前記金属表面の検知情報および前記試薬サンプリング機構による前記金属表面の検知情報を基にして前記アジャスタを調整する
ことを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015064455A JP2016183913A (ja) | 2015-03-26 | 2015-03-26 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015064455A JP2016183913A (ja) | 2015-03-26 | 2015-03-26 | 自動分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016183913A true JP2016183913A (ja) | 2016-10-20 |
Family
ID=57241832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015064455A Pending JP2016183913A (ja) | 2015-03-26 | 2015-03-26 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016183913A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108037304A (zh) * | 2017-12-30 | 2018-05-15 | 天津博硕东创科技发展有限公司 | 全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法 |
JPWO2021053858A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | ||
CN112662540A (zh) * | 2020-12-24 | 2021-04-16 | 王安刚 | 一种医学检验新冠病毒标本检测装置 |
CN113049574A (zh) * | 2021-02-02 | 2021-06-29 | 中析源科技有限公司 | 一种检测迅速的水质量检测装置 |
JP2021124443A (ja) * | 2020-02-07 | 2021-08-30 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
WO2023002761A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその傾斜調整方法 |
-
2015
- 2015-03-26 JP JP2015064455A patent/JP2016183913A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108037304A (zh) * | 2017-12-30 | 2018-05-15 | 天津博硕东创科技发展有限公司 | 全自动化学发光分析仪的加样装置及其加样方法 |
JPWO2021053858A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | ||
WO2021053858A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその水平出し方法 |
JP7153803B2 (ja) | 2019-09-19 | 2022-10-14 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその水平出し方法 |
JP2021124443A (ja) * | 2020-02-07 | 2021-08-30 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
JP7301764B2 (ja) | 2020-02-07 | 2023-07-03 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
CN112662540A (zh) * | 2020-12-24 | 2021-04-16 | 王安刚 | 一种医学检验新冠病毒标本检测装置 |
CN113049574A (zh) * | 2021-02-02 | 2021-06-29 | 中析源科技有限公司 | 一种检测迅速的水质量检测装置 |
WO2023002761A1 (ja) * | 2021-07-20 | 2023-01-26 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置およびその傾斜調整方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11946941B2 (en) | Automatic analysis device and automatic analysis method | |
JP2016183913A (ja) | 自動分析装置 | |
WO2010095375A1 (ja) | 自動分析装置 | |
JP5236612B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6320535B2 (ja) | 自動分析装置 | |
EP2759839B1 (en) | Automated analysis apparatus | |
JP2015087265A (ja) | 自動分析装置 | |
US20150198579A1 (en) | Data processing device and automatic analysis device using same | |
WO2017043192A1 (ja) | 自動分析装置 | |
US9575085B2 (en) | Automatic analysis device | |
JP6272645B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6242252B2 (ja) | 自動分析装置及び異常検出方法 | |
JP6077075B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2017037073A (ja) | 2つの温度センサを有する分注デバイス | |
JP6554301B2 (ja) | 分注装置、自動分析装置および分注方法 | |
CN112083178A (zh) | 用于光学监控待移液的液体的剂量分配的设备 | |
JP2007316012A (ja) | 自動分析装置およびその検体分注方法 | |
JPH03183955A (ja) | 自動分析装置 | |
US20180030433A1 (en) | Operation Method for Control Materials and Automated Analyzer | |
JP5506189B2 (ja) | 自動分析装置 | |
US11579159B2 (en) | Automatic analysis device | |
EP4350358A1 (en) | Automatic analysis device | |
JP5806769B2 (ja) | 分析方法、分注方法および昇温方法 | |
US20220214371A1 (en) | Automatic Analyzer | |
US20230168268A1 (en) | Leakage test |