JP6863708B2 - 自動分析装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

自動分析装置は、試料容器に収容される試料に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。自動分析装置では、試料容器は、試料容器を複数本保持可能なサンプルラックに保持される。サンプルラックは、自動分析装置に設けられる投入レーンから投入され、自動分析装置内を搬送される。試料容器に収容される試料は、反応管へ分注され、反応管で検査項目と対応する試薬と混合される。試料と試薬との混合液は、成分を光学的に測定される。保持する全ての試料容器に収容される試料についての成分測定が終了すると、サンプルラックは所定の回収レーンへ排出される。

ところで、自動分析装置は、測定時に発生する種々のエラーを検知可能である。自動分析装置では、測定時に所定のエラーが発生した場合、例えばエラーを発生させた試料を含むサンプルラックを、予め設定した排出先へ自動的に排出する。操作者は、所定の排出先に排出されているサンプルラックに保持される、エラーを発生させた試料を収容する試料容器を確認する。

しかしながら、操作者が所定の排出先の前に常に待機しているとは限らない。そのため、操作者が気付いたときには、所定の排出先に複数のサンプルラックが排出されている場合もあり得る。このような場合、操作者は、複数のサンプルラックから、所望の試料容器を保持するサンプルラックを探し出さなくてはならない。

特開２０１１−０６４５３７号公報

目的は、操作者が所望の試料容器を保持するサンプルラックを取得する際の負担を軽減することが可能な自動分析装置を提供することにある。

実施形態によれば、自動分析装置は、滞留エリア、判定部、駆動部、及び排出管理部を具備する。滞留エリアは、サンプルラックを滞留させるためのものである。判定部は、発生したエラーに基づいて、前記エラーを発生させた試料を収容する試料容器を保持するサンプルラックを、前記滞留エリアに滞留させるか否かを判定する。駆動部は、前記滞留させると判定されたサンプルラックを前記滞留エリアへ移動させる。排出管理部は、前記滞留エリアに滞留されたサンプルラックに対する排出指示が入力されると、前記排出指示の対象となるサンプルラックを、当該サンプルラックに対し予め設定される排出先へ排出するように前記駆動部を制御する。上記判定部は、複数のエラーの情報と滞留要否の情報とを対応付けることによって、サンプルラックを滞留にする条件を設定可能である。

図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。 図２は、図１に示される分析機構の構成を示す図である。 図３は、図１に示される分析機構の構成を示す図である。 図４は、図２に示されるサンプル分注ユニット、及び圧力検出器の構成を示すブロック図である。 図５は、実施形態に係る制御回路によるサンプルラックの滞留判定の流れを表すフローチャートである。 図６は、実施形態に係るエラー対応テーブルの一例を示す図である。 図７は、実施形態に係る排出管理テーブルの一例を示す図である。 図８は、実施形態に係る制御回路による排出管理に係る動作の例を表すフローチャートである。 図９は、実施形態に係る表示回路が表示するラック取り出しアイコンの表示例を示す図である。 図１０は、実施形態に係る表示回路が表示するサンプルラックの識別情報及び排出先に関する情報の表示例を表す図である。 図１１は、実施形態に係る表示回路が表示する、バッファレーンへ移動されたサンプルラックを所定の排出先へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面の表示例を表す図である。 図１２は、実施形態に係る表示回路が表示する、排出できない旨を表すポップアップの表示例を表す図である。 図１３は、変形例に係る制御回路によるサンプルラックの滞留判定に係る動作の例を表すフローチャートである。 図１４は、他の実施形態に係る表示回路が表示するサンプルラックの識別情報及び排出先に関する情報の表示例を表す図である。

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を示すブロック図である。図１に示される自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、表示回路６、記憶回路７、及び制御回路８を具備する。

分析機構２は、標準試料又は被検試料等の試料と、この試料に設定された各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ、及び被検データを生成する。

解析回路３は、分析機構２により生成された標準データ、被検データに基づいて検量データ及び分析データ等を解析するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路７から動作プログラムを読み出し、動作プログラムに従って検量データ及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路３は、標準データと、標準試料に予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路３は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づいて、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路３は生成した検量データ及び分析データ等を制御回路８へ出力する。

駆動機構４は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構４は、制御回路８の制御に従い、分析機構２を駆動させる。

入力インタフェース回路５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース回路５は、例えば、操作者から検査を行う検査対象の試料を識別する試料ＩＤ、この試料ＩＤに対する検査項目、及び各検査項目の分析パラメータを受け付ける。入力インタフェース回路５は、制御回路８に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路８へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路５はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路８へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路５の例に含まれる。

表示回路６は、例えばＣＲＴ（Ｃａｔｈｄｏｄｅ-Ｒａｙ Ｔｕｂｅ）ディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等を有する。また、表示回路６は、制御回路８に接続され、制御回路８から供給される信号を外部へ表示する。表示回路６は、例えば制御回路８から供給される検量データ及び分析データを表示する。

記憶回路７は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路７は、解析回路３で実行される動作プログラム、及び制御回路８で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路７は、解析回路３により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路７は、解析回路３により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。記憶回路７は、自動分析装置１において発生したエラーの種別に基づいて、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２の排出を制御するための情報、例えば各種テーブルを記憶する。

制御回路８は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路８は、記憶回路７に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。

図２及び図３は、図１に示される分析機構２の構成の一例を示す模式図である。図２及び図３に示される分析機構２は、反応ディスク２０１、及び試薬庫２０２を備える。

反応ディスク２０１内には、恒温水で満たされた恒温槽２０１２が設けられている。恒温槽２０１２は円周形状を有している。反応ディスク２０１は、恒温槽２０１２により、複数の反応管２０１１を保持する。反応ディスク２０１は、駆動機構４によって既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管２０１１は、例えば、ガラスにより形成される。

試薬庫２０２は、試薬が収容されている試薬容器を複数保持する試薬庫の一例であり、この実施形態では、反応ディスク２０１の内側に配置される。試薬庫２０２は、試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図２及び図３に示される試薬庫２０２内の外円２０２１は、試薬庫２０２内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫２０２内の内円２０２２は、試薬庫２０２内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫２０２に保持されている試薬容器は、反応管２０１１に分注される試薬を収容している。開口部が外円２０２１に沿って配置される試薬容器１０１は、各検査項目に対応する第１試薬を収容している。第１試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。開口部が内円２０２２に沿って配置される試薬容器１０１は、各検査項目に対応する第２試薬を収容している。第２試薬は、第１試薬同様に検査項目毎に使われるものが決められている。試薬容器ラックは、駆動機構４によって試薬庫２０２の中心を回転中心として回動される。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、ラック投入ユニット２３０、ラック移動ユニット２４０、ラック回収ユニット２５０、及びＳＴＡＴラック投入ユニット２６０を備える。
ラック投入ユニット２３０は、投入レーン２３１を備える。投入レーン２３１には、サンプルラック１０２が投入される。サンプルラック１０２は、試料を収容する試料容器１００を複数保持している。サンプルラック１０２の両端の側面には、ラック移動ユニット２４０に設けられる搬送アーム２４１によりピックアップ可能な形状、例えば１対の溝が形成される。また、サンプルラック１０２には、サンプルラック１０２の有無を識別するためのＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）チップ（無線タグ）が取り付けられている。

試料容器１００には、標準試料又は被検試料等の試料が収容される。試料容器１００には、試料容器１００に収容される試料の識別情報等が記載される光学式マークが印刷されたラベルが貼付されている。光学式マークは、試料容器１００に関する情報、及び試料の識別情報等を符号化したマーク、例えば、バーコード、１次元コード、及び２次元コード等である。

サンプルラック１０２は、投入レーン２３１へ投入される。投入レーン２３１へ投入されるサンプルラック１０２は、駆動機構４により駆動され、ラック移動ユニット２４０へ移動可能な投入位置へ移動される。このとき、投入レーン２３１におけるサンプルラック１０２の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

ラック移動ユニット２４０は、搬送アーム２４１、搬送レール２４２、サンプリングレーン２４３、バッファレーン２４４、及びリーダ２４５を備える。

搬送アーム２４１は、例えば、１対の爪を上下動自在に有する。搬送アーム２４１は、サンプルラック１０２に形成される１対の溝に爪を差し込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、サンプルラック１０２を搬送する。

搬送アーム２４１は、駆動機構４によって駆動され、サンプルラック１０２を搬送する。例えば、搬送アーム２４１は、投入レーン２３１における投入位置に載置されているサンプルラック１０２を抱えた後、搬送レール２４２上を移動する。これにより、搬送アーム２４１は、抱えたサンプルラック１０２をサンプリングレーン２４３へ搬送する。搬送レール２４２は、サンプリングレーン２４３と、バッファレーン２４４との間に設けられ、搬送アーム２４１が移動する際のガイドの役割を担う。また、搬送アーム２４１は、サンプリングレーン２４３における、ラック回収ユニット２５０へ移動可能な搬出位置に位置するサンプルラック１０２を抱えた後、搬送レール２４２上を移動する。これにより、搬送アーム２４１は、抱えたサンプルラック１０２をバッファレーン２４４又はラック回収ユニット２５０へ搬送する。また、搬送アーム２４１は、バッファレーン２４４上に載置されたサンプルラック１０２を、ラック回収ユニット２５０へ搬送する。また、搬送アーム２４１は、バッファレーン２４４上に載置されたサンプルラック１０２を、ＳＴＡＴラック投入ユニット２６０へ搬送する。

サンプリングレーン２４３は、分注対象となる試料容器１００が保持される複数のサンプルラックを、サンプル分注プローブ２０５が試料を吸引する位置であるサンプル吸引位置２４３２の下へ搬送するためのレーンである。サンプリングレーン２４３は、駆動機構４により、投入レーン２３１における投入位置から搬入されたサンプルラック１０２を移動させる。例えば、サンプリングレーン２４３は、サンプルラック１０２に保持される試料容器１００各々の開口を、サンプル吸引位置２４３２の下へ移動させる。また、サンプリングレーン２４３は、サンプルラック１０２に保持される全ての試料容器１００に収容される試料の分注が正常に終了すると、サンプルラック１０２を、サンプル吸引位置２４３２の下から、ラック回収ユニット２５０へ移動可能な搬出位置へ移動させる。サンプリングレーン２４３におけるサンプルラック１０２の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

バッファレーン２４４は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を一時的に滞留させるための滞留エリアである。

リーダ２４５は、例えばサンプル吸引位置２４３２の近傍に設けられる。リーダ２４５は、制御回路８からのＩＤ読取開始の指示を契機として、読取りを開始する。リーダ２４５は、分注対象となる試料容器１００が光学式マークを読取り可能な位置に到達すると、当該試料容器１００に付された光学式マークから試料の識別情報を読み取る。リーダ２４５は、読取った試料の識別情報を制御回路８に供給する。リーダ２４５は、例えば所定の時間内に読取りができなかった場合、試料ＩＤの読み取りに失敗したと判定する。リーダ２４５は、失敗した旨を制御回路８に通知する。なお、リーダ２４５は、ＲＦＩＤ等を利用した他のセンサで代替してもよい。

ラック回収ユニット２５０は、第１回収レーン２５１、第２回収レーン２５２、サンプルラック検知センサ２５３、及びサンプルラック検知センサ２５４を有する。第１回収レーン２５１及び第２回収レーン２５２は、測定が正常に終了した試料容器１００が保持されるサンプルラック１０２の回収先の役割を有する。また、第１回収レーン２５１及び第２回収レーン２５２は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２の排出先の役割も有する。第１回収レーン２５１及び第２回収レーン２５２は、駆動機構４により駆動され、ラック移動ユニット２４０から搬送アーム２４１により搬送されたサンプルラック１０２を、取り出し位置へ移動させる。

サンプルラック検知センサ２５３は、第１回収レーン２５１の近傍に設けられる。サンプルラック検知センサ２５３は、例えばＲＦＩＤリーダである。ＲＦＩＤリーダは、例えば電波又は電磁界を利用して、ＲＦＩＤチップとの間で、非接触でデータの送受信を行う装置である。サンプルラック検知センサ２５３は、放射部と受信部を有する。サンプルラック検知センサ２５３は、第１回収レーン２５１に載置される複数のサンプルラック１０２に対し、特定の波長の電波を放射部から放射する。サンプルラック検知センサ２５３は、制御回路８から供給されるサンプルラック１０２の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、電波の放射を開始する。サンプルラック検知センサ２５３は、第１回収レーン２５１上に載置される複数のサンプルラック１０２それぞれに取り付けられたＲＦＩＤチップから応答信号を受信部により検出する。サンプルラック検知センサ２５３は、検出された応答信号を制御回路８へ出力する。

サンプルラック検知センサ２５４は、第２回収レーン２５２の近傍に設けられる。サンプルラック検知センサ２５４は、例えばＲＦＩＤリーダである。サンプルラック検知センサ２５４は、放射部と受信部を有する。サンプルラック検知センサ２５４は、第２回収レーン２５２に載置される複数のサンプルラック１０２に対し、特定の波長の電波を放射部により放射する。サンプルラック検知センサ２５４は、制御回路８から供給されるサンプルラック１０２の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、電波の放射を開始する。サンプルラック検知センサ２５４は、第２回収レーン２５２上に載置される複数のサンプルラック１０２それぞれに取り付けられたＲＦＩＤチップから応答信号を受信部により検出する。サンプルラック検知センサ２５４は、検出された応答信号を制御回路８へ出力する。

ＳＴＡＴラック投入ユニット２６０は、ＳＴＡＴラック投入レーン２６１及びサンプルラック検知センサ２６２を有する。

ＳＴＡＴラック投入レーン２６１は、緊急で測定する必要のある試料を収容する試料容器１００が保持されるサンプルラック１０２を投入するためのレーンである。また、ＳＴＡＴラック投入レーン２６１は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２の排出先の役割も有する。

サンプルラック検知センサ２６２は、例えば、図２に示されるようにＳＴＡＴラック投入レーン２６１と、バッファレーン２４４との間に設けられる。サンプルラック検知センサ２６２は、例えば光センサである。サンプルラック検知センサ２６２は、ＳＴＡＴラック投入レーン２６１上に載置されるサンプルラック１０２に対し投光可能な位置に設けられる。サンプルラック検知センサ２６２は、制御回路８から供給されるサンプルラック１０２の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、投光を開始する。サンプルラック検知センサ２６２は、検出された電気信号を制御回路８へ出力する。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、サンプル分注アーム２０４、サンプル分注プローブ２０５、サンプル分注ユニット２０６、圧力検出器２０６１、第１試薬分注アーム２１６、第１試薬分注プローブ２１７、第１試薬分注ユニット２１８、圧力検出器２１８１、第２試薬分注アーム２１９、第２試薬分注プローブ２２０、第２試薬分注ユニット２２１、圧力検出器２２１１、第１撹拌ユニット２２２、及び第２撹拌ユニット２２３を備える。

サンプル分注アーム２０４は、反応ディスク２０１とサンプリングレーン２４３との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。サンプル分注アーム２０４は、一端にサンプル分注プローブ２０５を保持する。サンプル分注アーム２０４は、駆動機構４によって回動される。サンプル分注アーム２０４が回動に伴って、サンプル分注プローブ２０５は、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプル分注プローブ２０５が試料容器１００から試料を吸引する位置である、サンプル吸引位置２４３２が設定されている。サンプル吸引位置２４３２は、サンプリングレーン２４３上に位置するように予め設定されている。また、当該回動軌道上のサンプル吸引位置とは異なった位置には、サンプル分注プローブ２０５が吸引した試料を反応管２０１１へ吐出するサンプル吐出位置２０１３が設定されている。サンプル分注プローブ２０５の回動軌跡は、サンプリングレーン２４３上に載置されるサンプルラック１０２に保持されている試料容器１００の移動軌跡、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、サンプル吸引位置２４３２、サンプル吐出位置２０１３である。

サンプル分注プローブ２０５は、駆動機構４によって駆動され、サンプル吸引位置２４３２、及びサンプル吐出位置２０１３において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ２０５は、制御回路８の制御に従い、サンプル吸引位置２４３２に位置する試料容器１００から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ２０５は、制御回路８の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置２０１３に位置する反応管２０１１へ吐出する。

サンプル分注ユニット２０６は、所定の検査項目についての検査を実施する際、サンプル分注プローブ２０５により、サンプル吸引位置２４３２で、試料容器１００に収容される試料を吸引する。また、サンプル分注ユニット２０６は、制御回路８の制御に従い、サンプル分注プローブ２０５により吸引した試料を、サンプル吐出位置２０１３に位置する反応管２０１１へ吐出する。また、サンプル分注ユニット２０６は、サンプルプローブ洗浄位置２０６９にてサンプル分注プローブ２０５へ洗浄液を供給し、サンプル分注プローブ２０５を洗浄する。

圧力検出器２０６１は、サンプル分注プローブ２０５内の圧力を測定する。圧力検出器２０６１は、測定結果を制御回路８へ出力する。

図４は、サンプル分注ユニット２０６及び圧力検出器２０６１の構成例を示す模式図である。図４に示されるサンプル分注ユニット２０６は、一端がサンプル分注プローブ２０５に接続されるチューブ２０６３、チューブ２０６３の他端部に接続されるシリンジ２０６４、及びシリンジ２０６４の下端部に設けられる開口に勘合するプランジャ２０６５を備える。また、サンプル分注ユニット２０６は、サンプル分注プローブ２０５、チューブ２０６３、及びシリンジ２０６４の各内部に充填される圧力伝達媒体を貯留するタンク２０６６を備える。

また、サンプル分注ユニット２０６は、タンク２０６６に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を洗浄液としてシリンジ２０６４、及びチューブ２０６３を経由してサンプル分注プローブ２０５内に供給する洗浄ポンプ２０６７を備える。また、サンプル分注ユニット２０６は、シリンジ２０６４と洗浄ポンプ２０６７との間を連通する流路を開閉する開閉弁２０６８を備える。開閉弁２０６８は、例えば電磁弁である。

試料を分注する際、シリンジ２０６４と洗浄ポンプ２０６７との間の流路は、制御回路８により制御される開閉弁２０６８により閉鎖される。制御回路８の制御により開閉弁２０６８が正常に閉鎖されると、電気的に正しく開かれたことを確認するための、フィードバック信号が開閉弁２０６８から制御回路８へ出力される。駆動機構４がプランジャ２０６５を矢印Ｌ１方向へ吸引駆動することにより、サンプル分注プローブ２０５は、サンプル吸引位置２４３２で試料容器１００内の試料を吸引する。また、駆動機構４がプランジャ２０６５を矢印Ｌ２方向へ吐出駆動することにより、サンプル分注プローブ２０５は、サンプル吐出位置２０１３に位置する反応管２０１１内へ試料を吐出する。

同一試料の分注が終了したとき、又は試料の分注が異常であると判定されたとき、シリンジ２０６４と洗浄ポンプ２０６７との間の流路は、制御回路８により制御される開閉弁２０６８により開放される。制御回路８の制御により開閉弁２０６８が正常に開放されると、電気的なフィードバック信号が開閉弁２０６８から制御回路８へ出力される。洗浄ポンプ２０６７は、駆動機構４により駆動され、サンプル分注プローブ２０５内へ洗浄液を供給する。

図４に示される圧力検出器２０６１は、一端がサンプル分注ユニット２０６のチューブ２０６３に接続される。圧力検出器２０６１は、圧力センサ２０６１１、アンプ２０６１２、及びＡ／Ｄ変換器２０６１３を備える。圧力センサ２０６１１は、サンプル分注プローブ２０５内の圧力を大気の圧力を基準として測定する。圧力センサ２０６１１は、測定した圧力に基づく信号をアンプ２０６１２へ出力する。アンプ２０６１２は、圧力センサ２０６１１から出力される信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換器２０６１３へ出力する。Ａ／Ｄ変換器２０６１３は、アンプ２０６１２で増幅された信号をデジタル信号に変換する。圧力検出器２０６１は、デジタル信号を制御回路８へ出力する。

圧力検出器２０６１は、サンプル分注プローブ２０５により試料の吸引が行われているとき、即ちサンプル分注ユニット２０６により吸引動作が行われているときのサンプル分注プローブ２０５内の大気圧よりも低い吸引圧を検出する。また、圧力検出器２０６１は、サンプル分注プローブ２０５により試料の吐出が行われているとき、即ちサンプル分注ユニット２０６により吐出動作が行われているときのサンプル分注プローブ２０５内の大気圧よりも高い吐出圧を検出する。また、圧力検出器２０６１は、サンプル分注ユニット２０６の洗浄ポンプ２０６７により洗浄液の供給動作が行われているときのサンプル分注プローブ２０５内の大気圧よりも高い洗浄圧を検出する。

第１試薬分注アーム２１６は、反応ディスク２０１とサンプリングレーン２４３との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２１６は、一端に第１試薬分注プローブ２１７を保持する。第１試薬分注アーム２１６は、駆動機構４によって回動される。第１試薬分注アーム２１６が回動されることにより、第１試薬分注プローブ２１７は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２１７が、試薬庫２０２の外円２０２１上に配置される試薬容器から各検査項目に対応する第１試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第１試薬を反応管２０１１へ吐出する第１試薬吐出位置２０１５とが設定されている。第１試薬分注プローブ２１７の回動軌跡は、試薬庫２０２の外円２０２１上に配置される試薬容器（の試薬吸引口）の移動軌跡、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、試薬吸引位置、第１試薬吐出位置２０１５である。

第１試薬分注プローブ２１７は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第１試薬吐出位置２０１５において上下方向に移動する。また、第１試薬分注プローブ２１７は、制御回路８の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器１０１から第１試薬を吸引する。また、第１試薬分注プローブ２１７は、制御回路８の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置２０１５に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第１試薬分注ユニット２１８及び圧力検出器２１８１の構成及び機能については、サンプル分注ユニット２０６と同様である。

第２試薬分注アーム２１９は、試薬庫２０２とラック投入ユニット２３０との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２１９は、一端に第２試薬分注プローブ２２０を保持する。第２試薬分注アーム２１９は、駆動機構４によって回動される。第２試薬分注アーム２１９が回動されることにより、第２試薬分注プローブ２２０は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２２０が、試薬庫２０２の内円２０２２上に配置される試薬容器１０１から各検査項目に対応する第２試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第２試薬を反応管２０１１へ吐出する第２試薬吐出位置２０１７とが設定されている。第２試薬分注プローブ２２０の回動軌跡は、試薬庫２０２の内円２０２２上に配置される試薬容器（の試薬吸引口）の移動軌跡、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、試薬吸引位置、第２試薬吐出位置２０１７である。

第２試薬分注プローブ２２０は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第２試薬吐出位置２０１７において上下方向に移動する。また、第２試薬分注プローブ２２０は、制御回路８の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器１０１から第２試薬を吸引する。また、第２試薬分注プローブ２２０は、制御回路８の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置２０１７に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第２試薬分注ユニット２２１及び圧力検出器２２１１の構成及び機能については、サンプル分注ユニット２０６と同様である。

第１撹拌ユニット２２２、及び第２撹拌ユニット２２３は、撹拌アーム、及び撹拌子をそれぞれ有する。撹拌アームは、先端近傍に、回動可能、かつ、上下動可能に撹拌子を支持する。第１撹拌ユニット２２２は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１における撹拌位置に位置する反応管２０１１へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管２０１１内で試料及び第１試薬を混合した混合液、すなわち第１薬分注後の反応管２０１１内の混合液を撹拌する。第２撹拌ユニット２２３は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１における撹拌位置に位置する反応管２０１１へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管２０１１内で試料、第１試薬、及び第２試薬を混合した混合液、すなわち第２試薬分注後の反応管２０１１内の混合液を撹拌する。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、測光ユニット２２４、洗浄ユニット２２５、及び電解質測定ユニット２２６を備える。
測光ユニット２２４は、反応管２０１１内に吐出された試料及び試薬の混合液等に光を照射し、当該混合液等を通過した光を光学的に測定する。測光ユニット２２４は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット２２４は、制御回路８の制御に従い、光源から反応管２０１１へ光を照射する。光検出器は、反応管２０１１内の標準試料と試薬との混合液、又は被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出する。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット２２４は、生成した標準データ及び被検データを、解析回路３へ出力する。

洗浄ユニット２２５は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット２２５は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット２２５は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１へ洗浄液を吐出し、反応管２０１１を洗浄する。洗浄ユニット２２５は、乾燥ノズルにより、反応管２０１１へ乾燥空気を供給することで、洗浄液により洗浄された反応管２０１１を乾燥させる。

電解質測定ユニット２２６は、反応管２０１１内の混合液中に存在する特定電解質の測定を行う。電解質測定ユニット２２６は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。

本実施形態に係る制御回路８は、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、図１に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路８は、システム制御機能８１、エラー監視機能８２、滞留判定機能８３、表示制御機能８４、及び排出管理機能８５を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能８１、エラー監視機能８２、滞留判定機能８３、表示制御機能８４、及び排出管理機能８５が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能８１、エラー監視機能８２、滞留判定機能８３、表示制御機能８４、及び排出管理機能８５を実現しても構わない。

システム制御機能８１は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。

エラー監視機能８２は、自動分析装置１が備える各分析ユニットの状態を監視し、所定のエラーが発生したと判定した場合、発生したエラーに関する情報を、記憶回路７に記憶されるエラー履歴情報テーブルに登録する機能である。

エラー履歴情報テーブルは、発生したエラーに関する情報を登録するためのテーブルであり、例えば自動分析装置１のスタートアップ時からシャットダウン時までに発生したエラーの履歴が登録される。

エラー履歴情報テーブルには、例えば、発生時刻、エラー名称、及び動作条件等を示す情報が含まれる。発生時刻は、エラーが発生した時刻である。エラー名称は、エラーの種別の例であり、自動分析装置１で認識されるエラーを一意に識別するための名称である。動作条件は、自動分析装置１において所定のエラーが発生した時に、自動分析装置１に設定されていた各種パラメータ及びエラー発生部位の状態に関する情報等である。各種パラメータは、自動分析装置１における測定の際に実行される分注等の動作を実現するための制御パラメータである。エラー発生部位の状態に関する情報は、エラーが発生した時の、エラー発生部位おける定量的に検知可能な各種状態、例えばサンプル分注プローブ２０５内の圧力等を表す情報である。

なお、エラー履歴情報テーブルには、自動分析装置１における所定のエラーが発生する毎に、制御回路８の制御の下、発生したエラーに関する情報が登録される。

エラー監視機能８２が実行されると、制御回路８は、圧力検出器２０６１により検出されるサンプル分注プローブ２０５内の大気圧に対する圧力の情報とに基づき、サンプル分注プローブ２０５の詰まりに関するエラーが発生しているか否かを判定する。具体的には、制御回路８は、吸引動作の際の検出値が、予め設定される吸引圧よりも低い場合、サンプル分注プローブ２０５の詰まりに関するエラーが発生していると判定する。

また、制御回路８は、吐出動作の際の検出値が、予め設定される吐出圧よりも高い場合、サンプル分注プローブ２０５の詰まりに関するエラーが発生していると判定する。また、制御回路８は、圧力検出器２０６１により検出されるサンプル分注プローブ２０５内の大気圧に対する圧力の情報とに基づき、サンプル分注プローブ２０５の空吸いに関するエラーが発生しているか否かを判定する。具体的には、制御回路８は、吸引動作の際の検出値が、予め設定される吸引圧よりも高い場合、サンプル分注プローブ２０５の空吸いに関するエラーが発生していると判定する。また、制御回路８は、リーダ２４５からの読取り失敗の旨の通知の有無によって、試料ＩＤの読取りに関するエラーが発生したか否かを判定する。具体的には、制御回路８は、リーダ２４５から読取り失敗の旨が通知された場合、試料ＩＤの読取りに関するエラーが発生したと判定する。制御回路８は、所定のエラーが発生していると判定した場合、当該エラーに関する情報を記憶回路７に記憶されるエラー履歴情報テーブルに登録する。

滞留判定機能８３は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させるか否か判定する機能である。具体的には、滞留判定機能８３が実行されると、制御回路８は、例えば記憶回路７に記憶されるエラー履歴情報テーブル及びエラー対応テーブルを参照する。

エラー対応テーブルは、発生したエラーの種別毎に当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２をバッファレーン２４４に滞留させるか否かを示す情報を登録するテーブルである。

エラー対応テーブルには、例えばエラー名称、エラー区分、及び滞留要否等を示す情報が含まれる。エラー名称は、エラー履歴情報テーブルのエラー名称と同様の名称である。エラー区分は、エラーの種別の例であり、エラーの性質及び属性等により複数のエラー名称を１つの集合として識別するための名称である。滞留要否は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２をバッファレーン２４４に滞留させる必要があるか否かを示すフラグである。

エラー対応テーブルに含まれるエラー名称、エラー区分、及び滞留要否等に関する情報は、予め登録されている。なお、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２をバッファレーン２４４に滞留させるか否かを示す情報を登録する処理は、入力インタフェース回路５を介して行われてもよい。また、滞留させる対象と判断されるエラーの具体例としては、例えば、サンプル分注プローブ２０５の詰まりに関するエラー、サンプル分注プローブ２０５の空吸いに関するエラー、及び試料ＩＤの読取りに関するエラー等の試料に起因するエラーが挙げられる。これら試料に起因するエラーは、例えば装置起因で発生する重大なエラーとは異なり、エラー発生時に自動分析装置の測定動作を停止する必要がないエラーである。試料に起因するエラーが発生した場合、操作者は、試料に起因するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を自動分析装置１から取り出し、バーコードラベルの貼り直し又は詰まりの原因物質の除去等の然るべき処置を行った上で、自動分析装置１に投入し直す。

なお、エラー対応テーブルは、エラー名称及び当該エラー名称に対応する滞留要否の列のみで構成されてもよいし、エラー区分及び当該エラー区分に対応する滞留要否の列のみで構成されてもよい。

制御回路８は、判定対象となるサンプルラック１０２に保持されるすべての試料容器１００に係る測定が終了すると、エラー履歴情報テーブルに登録された各種情報及びエラー対応テーブルに登録された各種情報を読み込む。制御回路８は、エラー履歴情報に含まれるエラー名称と、エラー対応テーブルに含まれるエラー名称とを突合し、突合されるエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させるか否か判定する。制御回路８は、突合されるエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させると判定した場合、駆動機構４を制御し、滞留させると判定されたサンプルラック１０２を、サンプリングレーン２４３からバッファレーン２４４へ移動させる。また、制御回路８は、移動させたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を排出管理テーブルに登録する。

排出管理テーブルは、バッファレーン２４４に移動されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を記憶するテーブルである。

排出管理テーブルには、例えば、ラックＩＤ、試料ＩＤ、エラー名称、排出先、及び排出可否等を示す情報が含まれる。ラックＩＤは、サンプルラック１０２を一意に識別するためのＩＤである。試料ＩＤは、試料容器１００（試料）を一意に識別するためのＩＤである。エラー名称は、エラー履歴情報テーブルのエラー名称と同様の名称である。排出先は、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の排出先を示す情報である。排出可否は、排出先にサンプルラック１０２を排出可能であるか否かを示す情報である。以下、サンプルラック１０２の識別情報は、ラックＩＤ、試料ＩＤ、及びエラー名称を含み、サンプルラック１０２の排出先に関する情報は、排出先及び排出可否を含むものとして説明する。

排出管理テーブルには、自動分析装置１における所定のエラーが発生する毎に、制御回路８の制御の下、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２に対応するラックＩＤ、試料ＩＤ、エラー名称、排出先、及び排出可否等を示す情報が登録される。このとき、排出先及び排出可否には、所定の初期値が登録される。

なお、制御回路８は、エラー履歴情報に含まれるエラー名称に対応するエラー区分を所定のテーブルから読出し、読出したエラー区分と、エラー対応テーブルに含まれるエラー区分とを突合し、突合されるエラー区分に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させるか否かを判定するようにしてもよい。

表示制御機能８４は、表示回路６を制御し、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を表示する機能である。表示制御機能８４が実行されると、制御回路８は、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を所定の表示形式に変換して表示回路６に表示させる。

排出管理機能８５は、サンプルラック１０２の排出に関する所定の入力指示に従い、サンプルラック１０２の排出に関する動作を制御する機能である。制御回路８は、サンプルラック１０２の排出に関する所定の指示が入力されると、排出管理機能８５を実行する。所定の指示は、操作者が所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を取り出して試料等の状態を確認するタイミングで入力される。制御回路８は、サンプルラック１０２の排出に関する所定の入力がされた場合、サンプルラック検知センサ２５３、２５４、及び２６２を制御し、第１回収レーン２５１、第２回収レーン２５２、及びＳＴＡＴラック投入レーン２６１へサンプルラック１０２を排出可能であるか否か判定する。制御回路８は、各排出先の判定結果を用いて、排出管理テーブルに登録されたレコードの各排出先に対応する排出可否の値を更新（変更）する。制御回路８は、入力インタフェース回路５を介して、操作者からバッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報の表示指示があった場合、表示回路６を制御し、排出管理テーブルに登録されるサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を表示する。制御回路８は、入力インタフェース回路５を介して、操作者から所定のサンプルラック１０２に対する排出先の変更指示があった場合、排出管理テーブルにおいて、変更指示があったサンプルラック１０２に対応する排出先の値を更新（変更）する。制御回路８は、入力インタフェース回路５を介して、操作者から所定のサンプルラック１０２に対する排出指示があった場合、指定された排出先へ排出指示されたサンプルラック１０２を移動させる。

以上のように構成された自動分析装置１によるサンプルラック１０２の滞留判定の流れを、図５に示される制御回路８の処理手順に従い説明する。図５は、本実施形態に係る制御回路８によるサンプルラック１０２の滞留判定の流れの例を表すフローチャートである。以下、制御回路８は、滞留判定をサンプルラック１０２単位で実行するものとして説明する。すなわち、制御回路８は、滞留判定を行う前に、判定対象となるサンプルラック１０２に保持される全ての試料容器１００に対する測定を実行し、エラーが発生した時点では当該発生エラーに基づいた滞留判定を行わない。なお、記憶回路７に記憶されるエラー履歴情報テーブルには、自動分析装置１が備える各分析ユニットにおいて所定のエラーが発生する度に、発生したエラーに関する情報が登録される。

また、記憶回路７には、エラー対応テーブルが予め記憶されている。図６は、本実施形態に係るエラー対応テーブルの一例を示す図である。図６に示されるように、エラー対応テーブルには、例えば、エラー名称として、サンプル分注プローブ２０５の詰まりに関するエラーを示す「詰まりエラー」、サンプル分注プローブ２０５の空吸いに関するエラーを示す「空吸いエラー」、及び試料ＩＤの読取りに関するエラーを示す「試料ＩＤ読取りエラー」等が設定される。また、図６に示されるように、エラー対応テーブルには、例えば「詰まりエラー」、「空吸いエラー」、及び「試料ＩＤ読取りエラー」を一つのグループとしてエラー区分「０００１」が設定される。また、図６に示されるように、エラー対応テーブルには、例えば「詰まりエラー」、「空吸いエラー」、及び「試料ＩＤ読取りエラー」のそれぞれについて、滞留する対象であることを意味する値「１」が設定される。なお、設定される値が「０」の場合は、滞留する対象でない、すなわち、操作者が、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を取り出して試料等の状況を確認する必要のないエラーであることを意味するものとする。

また、エラー対応テーブルに含まれるエラー名称、当該エラー名称に対応するエラー区分、及び当該エラー名称に対応する滞留要否等に関する情報は、入力インタフェース回路５を介して予め登録される。

まず、制御回路８は、判定対象となるサンプルラック１０２に保持されるすべての試料容器１００に係る測定が終了すると、図５に示されるように、滞留判定機能８３を実行する。滞留判定機能８３の実行により制御回路８は、エラー履歴情報テーブルに登録された発生時刻、エラー名称、及び動作条件等の情報及びエラー対応テーブルに登録されたエラー名称、エラー区分、及び滞留要否等の情報を読み込む（ステップＳＡ１）。

制御回路８は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称とエラー対応テーブルに記憶されたエラー名称を突合し、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させるか否かを判定する（ステップＳＡ２）。例えば、制御回路８は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称が「詰まりエラー」であった場合、図６に示されるエラー対応テーブルにおいて突合されたエラー名称「詰まりエラー」に対応する滞留要否の値が「１」であるため、滞留判定の対象となるサンプルラック１０２を滞留させると判定する。また、制御回路８は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称が「空吸いエラー」であった場合、図６に示されるエラー対応テーブルにおいて突合されたエラー名称「空吸いエラー」に対応する滞留要否の値が「１」であるため、滞留判定の対象となるサンプルラック１０２を滞留させると判定する。また、制御回路８は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称が「試料ＩＤ読み取りエラー」であった場合、図６に示されるエラー対応テーブルにおいて突合されたエラー名称「試料ＩＤ読み取りエラー」に対応する滞留要否の値が「１」であるため、滞留判定の対象となるサンプルラック１０２を滞留させると判定する。なお、制御回路８は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称と突合された、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称に対応する滞留要否の値が「０」であった場合、滞留判定の対象となるサンプルラック１０２を滞留しないと判定する。

制御回路８は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させると判定した場合（ステップＳＡ２のＹｅｓ）、駆動機構４を制御し、滞留させると判定したサンプルラック１０２を、サンプリングレーン２４３からバッファレーン２４４へ移動させる。制御回路８は、滞留させると判定したサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を記憶回路７の排出管理テーブルへ登録する（ステップＳＡ３）。

図７は、本実施形態に係る排出管理テーブルの一例を示す図である。図７に示されるように、排出管理テーブルには、例えばラックＩＤ、試料ＩＤ、エラー名称、排出先、及び排出可否の各項目に対し、「０００１」、「０００００００１」、「詰まりエラー」、初期値としてＳＴＡＴラック投入レーン２６１を示す「ＳＴＡＴ」、及び初期値として排出先に排出不可能であることを示す「１」が登録される。また、図７に示されるように、排出管理テーブルには、例えばラックＩＤ、試料ＩＤ、エラー名称、排出先、及び排出可否の各項目に対し、「０００２」、「０００００００２」、「空吸いエラー」、初期値として第１回収レーン２５１を示す「回収ストッカ１」、及び初期値として排出先に排出不可能であることを示す「１」が登録される。また、図７に示されるように、排出管理テーブルには、例えばラックＩＤ、試料ＩＤ、エラー名称、排出先、及び排出可否の各項目に対し、「０００３」、「０００００００３」、「試料ＩＤ読み取りエラー」、初期値として第２回収レーン２５２を示す「回収ストッカ２」、及び初期値として排出先に排出不可能であることを示す「１」が登録される。

滞留判定機能８３の実行により制御回路８は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留しないと判定した場合（ステップＳＡ２のＮｏ）、駆動機構４を制御し、滞留しないと判定したサンプルラック１０２をサンプリングレーン２４３上のラック回収ユニット２５０へ移動可能な搬出位置から第１回収レーン２５１又は第２回収レーン２５２へ移動させる（ステップＳＡ４）。

次に、自動分析装置１による排出管理に係る動作を、図８に示される制御回路８の処理手順に従い説明する。図８は、本実施形態に係る制御回路８による排出管理に係る動作の例を表すフローチャートである。図９は、表示回路６が表示するラック取り出しアイコンの表示例を示す図である。

図８に示されるように、まず、制御回路８は、測定動作中に、排出管理機能８５を実行する。排出管理機能８５の実行により制御回路８は、図９に示されるラック取り出しアイコンＩ１が、例えば入力インタフェース回路５が備えるマウス等を介して押下されるまで待機する（ステップＳＢ１）。ラック取り出しアイコンＩ１は、図９に示される、例えば表示回路６が表示する初期画面の一部として表示されるメニュー選択領域Ａ１に含まれ、排出管理テーブルに記憶されるサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報の表示を指示可能なアイコンである。

排出管理機能８５の実行により制御回路８は、入力インタフェース回路５が備えるマウス等の操作を介してラック取り出しアイコンＩ１が占める範囲の任意の位置が指定されると（ステップＳＢ１のＹｅｓ）、自動分析装置１における各排出先の排出可否を判定する（ステップＳＢ２）。具体的には、制御回路８は、サンプルラック検知センサ２５３、２５４、及び２６２に対し、サンプルラック１０２の有無の検知の開始を指示する。制御回路８は、サンプルラック検知センサ２５３及び２５４から出力される応答信号の数に基づいて、第１回収レーン２５１又は第２回収レーン２５２に対しサンプルラック１０２を排出可能であるか否かを判定する。また、制御回路８は、サンプルラック検知センサ２６２から出力される電気信号に含まれる反射光の強度に基づいて、ＳＴＡＴラック投入レーン２６１に対しサンプルラック１０２を排出可能であるか否かを判定する。制御回路８は、各判定結果に基づいて、排出管理テーブルの排出可否を更新する。例えば、制御回路８は、排出先である第１回収レーン２５１から出力される応答信号の数が所定の数より多い場合、排出が不可能であると判定し、排出管理テーブル上で、排出先が第１回収レーン２５１であるレコードに対応する排出可否の値を、排出先に排出不可能であることを示す「１」に更新する。また、制御回路８は、排出先である第２回収レーン２５２から出力される応答信号の数が所定の数以下の場合、排出が可能であると判定し、排出管理テーブル上で、排出先が第２回収レーン２５２であるレコードに対応する排出可否の値を、排出先に排出可能であることを示す「０」に更新する。また、制御回路８は、サンプルラック検知センサ２６２から出力される電気信号に含まれる反射光の強度が所定の値以下である場合、排出可能であると判定し、排出管理テーブル上で、排出先がＳＴＡＴラック投入レーン２６１であるレコードに対応する排出可否の値を、排出先に排出可能であることを示す「０」に更新する。

制御回路８は、排出管理テーブルを更新した後、表示制御機能８４を実行する。表示制御機能８４の実行により制御回路８は、表示回路６を制御し、排出可否の判定結果が反映された、排出管理テーブルに記憶されるサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を表示する（ステップＳＢ３）。図１０は、本実施形態に係る表示回路６が表示するサンプルラック１０２に係る情報の表示例を表す図である。図１０に示される表示回路６に表示される画面は、排出指示受付領域Ａ２、及びラックＩＤ毎に排出先を選択可能な排出先選択アイコンＩ２を備える。排出指示受付領域Ａ２は、図１０に示される表示回路６が表示する画面の一部を構成し、排出管理テーブルに記憶されるサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報が表示される領域である。制御回路８は、入力インタフェース回路５が備えるマウス等の操作を介し、排出指示受付領域Ａ２が占める範囲の任意の位置が指定されることにより、図１０に示される表示回路６が表示する画面上に所定の確認画面が重畳表示される。排出先選択アイコンＩ２は、図１０に示される排出指示受付領域Ａ２に含まれ、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の排出先の選択を指示可能なアイコンである。制御回路８は、入力インタフェース回路５が備えるマウス等の操作を介し、例えばラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２に対応する排出先選択アイコンＩ２が占める範囲の任意の位置が指定されることにより、エラー名称又はエラー区分毎に予め設定される選択可能な複数のサンプルラック１０２の排出先、例えば「ＳＴＡＴ」、「回収ストッカ１」、及び「回収ストッカ２」が表示される。

なお、排出指示受付領域Ａ２には、最も左の列に「ラックＩＤ」の値が表示される。「ラックＩＤ」の右の列には、「試料ＩＤ」の値が表示され、さらに右の列に「エラー名称」の値が表示される。これにより、操作者は、排出単位であるサンプルラック毎に、排出先の選択及び排出指示を行うことが容易となる。

制御回路８は、排出管理機能８５を実行する。排出管理機能８５の実行により制御回路８は、入力インタフェース回路５を介し、バッファレーン２４４に滞留されるサンプルラック１０２について、操作者から排出先の選択及び排出指示を受け付ける。例えば、制御回路８は、表示回路６を制御し、図１０に示されるような画面を表示し、入力インタフェース回路５を介して、操作者から排出先の選択及び排出指示を受け付ける（ステップＳＢ４）。このとき、操作者は、入力インタフェース回路５を介し、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２のうち、例えば再検査のために然るべき処置が必要なサンプルラック１０２について、図１０に示される、例えばラックＩＤ「０００１」に対応する排出先選択アイコンＩ２が占める任意の位置を指定することにより、ラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２の排出先を選択することができる。また、操作者は、図１０に示される、例えば排出指示受付領域Ａ２のうちラックＩＤ「０００１」に対応する領域の任意の位置を入力インタフェース回路５が備えるマウス等を用いて指定することにより、ラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２について排出指示を行うことが可能となる。

排出管理機能８５の実行により制御回路８は、図１０に示される画面において領域Ｆ２のうち、例えばラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２に対応する、図１１に示される排出先選択アイコンＩ２が占める範囲を除く部分的な表示領域Ａ２１の範囲の任意の位置が指定されると（ステップＳＢ４のＹｅｓ）、排出管理テーブルを参照し、選択されたラックＩＤ「０００１」サンプルラック１０２の排出先が排出可能であるか否か判定する（ステップＳＢ５）。

排出管理機能８５の実行により制御回路８は、選択されたラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２の排出先「ＳＴＡＴ」に排出可能であると判定し（ステップＳＢ５のＹｅｓ）、表示制御機能８４を実行する。表示制御機能８４の実行により制御回路８は、図１１に示されるように、選択されたラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２を「ＳＴＡＴ」へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面を表示する（ステップＳＢ６）。確認画面には、排出処理を確定するための「はい」と表示されるアイコン及び排出処理をキャンセルするための「いいえ」と表示されるアイコンが含まれる。

排出管理機能８５の実行により制御回路８は、排出処理を確定するための確認画面を表示した後、入力インタフェース回路５を介して、操作者から排出処理を確定する指示があるまで待機する（ステップＳＢ８）。

排出管理機能８５の実行により制御回路８は、入力インタフェース回路５を介して、操作者から排出処理を確定する指示を受け付けると（ステップＳＢ８のＹｅｓ）、駆動機構４を制御し、当該指示の対象となるサンプルラック１０２を指定された排出先へ排出する（ステップＳＢ９）。例えば、制御回路８は、図１１に示される「はい」と表示されるアイコンが占める範囲の任意の位置が指定されると、駆動機構４を制御し、ラックＩＤ「０００１」のサンプルラック１０２を排出先「ＳＴＡＴ」、すなわちＳＴＡＴラック投入レーン２６１へ排出する。このとき、制御回路８は、排出管理テーブルにおいて、ラックＩＤ「０００１」に関する情報を表示回路６の表示対象から除外するように、例えば排出管理テーブルに予め設定される非表示フラグ項目の値の更新を行う。

また、排出管理機能８５の実行により制御回路８は、ステップＳＢ４において、図１０に示される画面において、排出指示受付領域Ａ２のうち、例えばラックＩＤ「０００２」のサンプルラック１０２に対応する、図１１に示される排出先選択アイコンＩ２が占める範囲を除く部分的な表示領域Ａ２２の範囲の任意の位置が指定されると（ステップＳＢ４のＹｅｓ）、排出管理テーブルを参照し、選択されたラックＩＤ「０００２」のサンプルラック１０２の排出先が排出可能であるか否か判定する（ステップＳＢ５）。

排出管理機能８５の実行により制御回路８は、選択されたラックＩＤ「０００２」のサンプルラック１０２の排出先「回収ストッカ１」に排出不可能であると判定し（ステップＳＢ５のＮｏ）、表示制御機能８４を実行する。表示制御機能８４の実行により制御回路８は、図１２に示されるように、ラックＩＤ「０００２」のサンプルラック１０２が排出先「回収ストッカ１」、すなわち第１回収レーン２５１へ排出できない旨を表すポップアップを表示する（ステップＳＢ７）。

以上のように、第１の実施形態では、自動分析装置１に設けられる制御回路８は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を所定の滞留エリアであるバッファレーン２４４に滞留させるか否かを判定する。制御回路８は、駆動機構４を制御し、バッファレーン２４４に滞留させると判定されたサンプルラック１０２をバッファレーン２４４へ移動させる。これにより、サンプルラック１０２を予め設定された最終的な排出先へ排出させずに、バッファレーン２４４に滞留することができる。また、操作者は、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２に対して排出先及び排出時点等を後から指定し、指定したサンプルラック１０２を指定した排出先へ排出することができる。

したがって、操作者が所望の試料容器を保持するサンプルラックを取得する際の負担を軽減することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、表示回路６を制御し、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラックの識別情報及び当該サンプルラック１０２に対し予め設定される排出先を表示する。制御回路８は、表示回路６により表示される識別情報により識別されるサンプルラック１０２に対する排出指示が入力されると、駆動機構４を制御し、排出指示の対象となったサンプルラック１０２を予め設定される排出先へ排出する。これにより、操作者は、所定の滞留エリアに滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２に対し予め設定される排出先を確認した上で、サンプルラック１０２を排出先へ移動させることが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、識別情報により識別されるサンプルラック１０２を所定の排出先へ排出する旨の指示が入力されると、表示回路６を制御し、バッファレーン２４４へ移動されたサンプルラック１０２を所定の排出先へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面を表示する。これにより、人為的ミスにより排出を意図していないサンプルラック１０２を所定の排出先へ排出する旨の指示が入力された場合に、当該サンプルラック１０２がそのまま排出されてしまうことを防止することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２に対し予め設定される排出先を記憶回路７に記憶される排出管理テーブルに登録する。制御回路８は、排出指示受付領域Ａ２に表示される排出先に対する変更指示が入力されると、表示回路６を制御し、変更指示の対象となるサンプルラック１０２に対し予め定められた複数の排出先の候補を表示する。制御回路８は、表示された複数の排出先の候補のうちの１つの排出先を選択する旨の指示が入力されると、記憶回路７に記憶される排出管理テーブルに登録された変更指示の対象となるサンプルラック１０２の排出先を選択された排出先に変更する。これにより、操作者は、各排出先の混雑状況を目視で確認しながら、排出する前に排出先の変更を行うことが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラック１０２に予め設定された排出先を表示する旨の指示が入力されると、表示回路６を制御し、当該識別情報及び排出先を表示する。これにより、操作者は、どのサンプルラック１０２が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているかを認識することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、バッファレーン２４４に滞留されたサンプルラック１０２の識別情報及び排出先を表示する旨の指示が入力されると、当該排出先の排出可否を判定する。制御回路８は、排出可否の判定後、排出管理テーブルにおいて、各排出先に対応する排出可否を判定で取得された結果により更新する。制御回路８は、排出可否の更新後、表示回路６を制御し、サンプルラック１０２の識別情報、排出先、及び排出可否の判定結果を表示する。これにより、操作者は、どのサンプルラック１０２が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているか、かつ、サンプルラック１０２に対して予め設定された排出先の排出可否を認識することが可能となる。

また、第１の実施形態では、突合されるエラーの種別は、エラー名称を用いてもよいし、エラー区分を用いてもよい。これにより、操作者のニーズに合わせたエラー対応テーブルの設定を行うことが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、表示回路６を制御し、バッファレーン２４４へ移動されたサンプルラック１０２の識別情報及び前記識別情報により識別されるサンプルラック１０２に対し予め設定される排出先を表示し、表示される識別情報により識別されるサンプルラック１０２に対する排出指示を受け付ける、排出指示受付領域Ａ２を表示する。これにより、操作者は、どのサンプルラック１０２が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているか認識した上で、所望のサンプルラック１０２を排出する旨の指示を出すことが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、表示回路６を制御し、排出指示受付領域Ａ２内に表示される排出先に対する変更指示を受け付ける排出先選択アイコンＩ２を表示する。これにより、操作者は、所望の排出先へ変更する指示を出すことが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、表示回路６を制御し、排出指示受付領域Ａ２を表示する旨の指示を受け付ける表示受付アイコンＩ１を表示する。これにより、操作者は、サンプルラック１０２の排出の指示を出す前に、どのサンプルラック１０２が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているかを認識することが可能となる。

また、第１の実施形態では、制御回路８は、表示回路６を制御し、バッファレーン２４４へ移動されたサンプルラック１０２を所定の排出先へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面を表示する。これにより、人為的ミスにより排出を意図していないサンプルラック１０２を所定の排出先へ排出する旨の指示が入力された場合に、操作者は、指示をやり直すことが可能となる。

［変形例］
上記実施形態では、制御回路８は、滞留判定をサンプルラック１０２単位で実行し、滞留判定を行う前に、判定対象となるサンプルラック１０２に保持される全ての試料容器１００に対する測定を行う、すなわちエラーが発生した時点で滞留判定を行わないものとした。変形例では、制御回路８は、所定のエラーが発生した時点で、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させるか否かの判定を行う。図１３は、変形例に係る制御回路８によるサンプルラック１０２の滞留判定に係る動作の例を表すフローチャートである。以下、変形例に係る自動分析装置１によるサンプルラック１０２の滞留判定に係る動作を、図１３に示される制御回路８の処理手順に従い説明する。

図１３に示されるように、制御回路８は、自動分析装置１で認識されるエラーが検知されるまで待機する（ステップＳＣ１）。制御回路８は、エラーの発生を、例えば自動分析装置１から標準で出力されるイベントログ等を捕捉することで検知する。

制御回路８は、エラーの発生を検知した場合（ステップＳＣ１のＹｅｓ）、滞留判定機能８３を実行する。滞留判定機能８３の実行により制御回路８は、エラー対応テーブルを参照し、発生したエラーと、エラー対応テーブルに登録されたエラー名称とを突合し、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させるか否かを判定する（ステップＳＣ２）。

滞留判定機能８３の実行により制御回路８は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を滞留させると判定した場合（ステップＳＣ２のＹｅｓ）、駆動機構４を制御し、滞留させると判定したサンプルラック１０２をバッファレーン２４４へ移動させる。制御回路８は、滞留させると判定したサンプルラック１０２をバッファレーン２４４へ移動させる。制御回路８は、滞留させると判定したサンプルラック１０２の識別情報及び当該サンプルラック１０２の排出先に関する情報を記憶回路７の排出管理テーブルへ登録する（ステップＳＣ３）。

滞留判定機能８３の実行により制御回路８は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させたサンプルラック１０２を滞留しないと判定した場合（ステップＳＣ２のＮｏ）、駆動機構４を制御し、滞留しないと判定したサンプルラック１０２をサンプリングレーン２４３上のラック回収ユニット２５０へ移動可能な搬出位置から第１回収レーン２５１又は第２回収レーン２５２へ移動させる（ステップＳＣ４）。

以上のように、変形例では、自動分析装置１に設けられる制御回路８は、エラーが発生した時点で、当該のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を所定の滞留エリアであるバッファレーン２４４に滞留させるか否かを判定する。制御回路８は、駆動機構４を制御し、バッファレーン２４４に滞留させると判定されたサンプルラック１０２をバッファレーン２４４へ移動させる。よって、操作者は、所定のエラー発生後に、当該エラー発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２がバッファレーン２４４に移動されたことにより早く気付くことができる。これにより、操作者は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器１００を保持するサンプルラック１０２をより早く所定の排出先へ排出させることが可能となる。

［他の実施形態］
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。サンプルラック１０２を滞留させる対象となるエラーは、上記実施形態で説明したものに限られない。例えば、制御回路８は、再検査を要するエラーである、ゴム栓に関するエラー、液面検知エラー、及び、位置ずれエラー等が発生した試料容器１００が保持されるサンプルラック１０２を滞留させる対象としてもよい。ゴム栓に関するエラーは、ゴム栓が付けられた状態の試料容器１００に対してサンプル分注プローブ２０５が下降された場合に発生するエラーである。液面検知エラーは、試料容器１００に試料が入っていないことによりサンプル分注プローブ２０５による液面検知ができないエラーである。位置ずれエラーは、障害物等により吸引の際にサンプル分注プローブ２０５の試料に対する吸引位置がずれるエラーである。

また、表示回路６が表示する画面レイアウトは、図１０に示されるような表示方法に限定されない。図１４は、他の実施形態に係る表示回路６が表示するサンプルラック１０２の識別情報及び排出先に関する情報の表示例を表す図である。図１４に示されるように、最も左の列に「エラー名称」を表示し、その右の列に、「試料ＩＤ」を表示し、さらに右の列に「ラックＩＤ」を表示するようにしてもよい。これにより、操作者は、エラーの内容をキーとして見ながら、排出先を選択可能となる。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（central processing unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ））、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…自動分析装置、２…分析機構、３…解析回路、４…駆動機構、５…入力インタフェース回路、６…表示回路、７…記憶回路、８…制御回路、８１…システム制御機能、８２…エラー監視機能、８３…滞留判定機能、８４…表示制御機能、８５…排出管理機能、１００…試料容器、１０１…試薬容器、１０２…サンプルラック、２０１…反応ディスク、２０２…試薬庫、２０４…サンプル分注アーム、２０５…サンプル分注プローブ、２０５…サンプル分注プローブ、２０６…サンプル分注ユニット、２０６…サンプル分注ユニット、２１６…第１試薬分注アーム、２１７…第１試薬分注プローブ、２１８…第１試薬分注ユニット、２１９…第２試薬分注アーム、２２０…第２試薬分注プローブ、２２１…第２試薬分注ユニット、２２２…第１撹拌ユニット、２２３…第２撹拌ユニット、２２４…測光ユニット、２２５…洗浄ユニット、２２６…電解質測定ユニット、２３０…ラック投入ユニット、２３１…投入レーン、２４０…ラック移動ユニット、２４１…搬送アーム、２４２…搬送レール、２４３…サンプリングレーン、２４４…バッファレーン、２４５…リーダ、２５０…ラック回収ユニット、２５１…第１回収レーン、２５２…第２回収レーン、２５３…サンプルラック検知センサ、２５４…サンプルラック検知センサ、２６０…ＳＴＡＴラック投入ユニット、２６１…ＳＴＡＴラック投入レーン、２６２…サンプルラック検知センサ、２０１１…反応管、２０１２…恒温槽、２０１３…サンプル吐出位置、２０１３…サンプル吐出位置、２０１５…第１試薬吐出位置、２０１７…第２試薬吐出位置、２０２１…外円、２０２２…内円、２０６１…圧力検出器、２０６３…チューブ、２０６４…シリンジ、２０６５…プランジャ、２０６６…タンク、２０６７…洗浄ポンプ、２０６８…開閉弁、２０６９…サンプルプローブ洗浄位置、２１８１…圧力検出器、２２１１…圧力検出器、２４３１…ラック搬入位置、２４３２…サンプル吸引位置、２０６１１…圧力センサ、２０６１２…アンプ、２０６１３…変換器。

Claims (12)

1. サンプルラックを滞留させるための滞留エリアと、
   発生したエラーに基づいて、前記エラーを発生させた試料を収容する試料容器を保持するサンプルラックを、前記滞留エリアに滞留させるか否かを判定する判定部と、
   前記滞留させると判定されたサンプルラックを前記滞留エリアへ移動させる駆動部と、
   前記滞留エリアに滞留されたサンプルラックに対して、複数の排出先から選択された排出先の入力、および、排出指示が入力されると、前記排出指示の対象となるサンプルラックを、当該サンプルラックに対して入力された排出先へ排出するように前記駆動部を制御する排出管理部と
   を具備し、
   前記判定部は、複数のエラーの情報と滞留要否の情報とを対応付けることによって、サンプルラックを滞留にする条件を設定可能である、自動分析装置。
2. 前記滞留エリアへ移動されたサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を表示する表示部をさらに具備する請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記排出指示が入力されると、前記排出指示の確定を受け付ける確認画面を前記表示部に表示させる表示制御部をさらに具備する請求項２に記載の自動分析装置。
4. 前記滞留エリアへ移動されたサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先が記憶される記憶部と、
   前記表示される排出先に対する変更指示が入力されると、前記変更指示の対象となるサンプルラックに対し予め設定された複数の排出先の候補を前記表示部に表示させる表示制御部をさらに具備し、
   前記排出管理部は、前記複数の排出先の候補のうち１つの排出先を選択する旨の指示が入力されると、前記記憶部に記憶され、前記識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を、前記選択された排出先に変更する請求項２に記載の自動分析装置。
5. 前記表示制御部は、前記排出指示が入力されると、前記排出指示の確定を受け付ける確認画面を前記表示部に表示させる請求項４に記載の自動分析装置。
6. 前記表示制御部は、前記表示される識別情報及び排出先に対する表示指示が入力されると、前記表示指示の対象となるサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を前記表示部に表示させる請求項３乃至５のうちいずれかに記載の自動分析装置。
7. 前記表示部は、前記表示される排出先の排出可否を示す情報を表示し、
   前記排出管理部は、前記表示される識別情報及び排出先に対する表示指示が入力されると、前記表示指示の対象となるサンプルラックの排出先毎の排出可否を判定し、当該排出先毎に前記排出可否を示す情報を当該判定の結果に変更し、
   前記表示制御部は、前記排出可否を示す情報が変更された後、前記表示指示の対象となるサンプルラックの識別情報、当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先、及び当該排出先の排出可否を示す情報を表示する請求項３乃至５のうちいずれかに記載の自動分析装置。
8. 前記エラーには所定の種別が付され、前記種別は個々の前記エラーを表すエラー名称又は複数の前記エラーを１つの集合としたエラー区分である請求項１乃至７のうちいずれかに記載の自動分析装置。
9. 前記滞留エリアへ移動されたサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を表示し、前記表示される識別情報により識別されるサンプルラックに対する排出指示を受け付ける排出指示受付領域を表示する表示部をさらに備える請求項１に記載の自動分析装置。
10. 前記表示部は、前記表示される排出先に対する変更指示を受け付ける排出先選択領域をさらに表示する請求項９に記載の自動分析装置。
11. 前記表示部は、前記排出指示受付領域を表示する旨の指示を受け付ける表示受付アイコンをさらに表示する請求項９に記載の自動分析装置。
12. 前記表示部は、前記排出指示の確定を受け付ける確認画面をさらに表示する請求項９に記載の自動分析装置。

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