JP2017090242A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】試料処理能力の低下を防止することが可能な自動分析装置を提供する。
【解決手段】自動分析装置１は、サンプルプローブ、重量センサ、位置予測部及びサンプルプローブ制御部を具備する。サンプルプローブは、試料を収容する試料容器から試料を吸引する。重量センサは、前記試料の重量を測定する。位置予測部は、前記重量に基づいて前記試料の第１の液面の位置を予測する。サンプルプローブ制御部は、前記第１の液面の位置に基づいて前記サンプルプローブの下降動作を制御する。
【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

医療診断用の自動分析装置は、血液等の試料に含まれる多項目の血清成分を自動で定量的に測定するための装置であり、臨床検査において広く用いられている。

自動分析装置では、静電容量変化により試料の液面の位置をサンプルプローブで検知する方式が広く採用されている。また、この方式を用いて吸引時に検知した直前の試料の液面の位置情報をもとに、次の吸引時に液面近辺までサンプルプローブを高速下降させる技術がある。

この技術によりサンプルプローブの動作を制御する場合、初回吸引時には液面の位置情報がないため、サンプルプローブをゆっくり下降させて検知する必要がある。このため、初回の吸引時間が遅くなる分試料処理能力が低下してしまう。

特開平７−３１１０７６

実施形態の目的は、試料処理能力の低下を防止することが可能な自動分析装置を提供することにある。

実施形態によれば、自動分析装置は、サンプルプローブ、重量センサ、位置予測部及びサンプルプローブ制御部を具備する。サンプルプローブは、試料を収容する試料容器から試料を吸引する。重量センサは、前記試料の重量を測定する。位置予測部は、前記重量に基づいて前記試料の第１の液面の位置を予測する。サンプルプローブ制御部は、前記第１の液面の位置に基づいて前記サンプルプローブの下降動作を制御する。

図１は、第１の実施形態にかかる自動分析装置の構成の一例を示すブロック図である。 図２は、第１の実施形態にかかる分析機構２の構成の一例を示す斜視図である。 図３は、搬送機構４の構成の一例を示した上面図である。 図４は、サンプルラック１０２の構成の一例を示した図である。 図５は、試料の液面の位置情報を算出するための設定条件である試料の種類及び試料容器の種類を操作者に選択させるための画面の一例である。 図６は、重量検知機構８の構成の一例を示した図である。 図７は、重量検知機構８により重量測定された検体容器に対し、１回目のサンプルプローブ２６の下降を行う場合のサンプル容器１００の液面に対するサンプルプローブ２６の先端の通過及び停止位置を表す図の一例である。 図８は、重量検知機構８により重量測定されなかった検体容器に対し、１回目のサンプルプローブ２６の下降を行う場合のサンプル容器１００の液面に対するサンプルプローブ２６の先端の通過及び停止位置を表す図の一例である。 図９は、ｎ回目（ｎ≧２）のサンプルプローブ２６の下降を行う場合のサンプル容器１００の液面に対するサンプルプローブ２６の先端の通過及び停止位置を表す図の一例である。 図１０は、重量検知機構８で重量測定が行われ、試料管理テーブルに試料ＩＤをキーとするレコードが登録されるまでの流れの一例を示す図である。 図１１は、バーコードリーダ４３により読み取られたバーコードに含まれる試料の属性情報含まれる試料ＩＤ対応するレコードが試料管理テーブルに存在するか否かによって、試料管理テーブルに対して登録処理又は更新処理が行われる流れの一例を示す図である。 図１２は、システム制御回路９が、重量検知機構８により重量測定された試料容器１００に対し、サンプルプローブ２６を下降させる場合の制御のフローチャートの一例を示す図である。 図１３は、システム制御回路９が、重量検知機構８により重量測定されなかった試料容器１００に対し、サンプルプローブ２６を下降させる場合の制御のフローチャートの一例を示す図である。

［第１の実施形態］
以下、図面を参照しながら本実施形態に係わる自動分析装置を説明する。

図１は、第１の実施形態にかかる自動分析装置の構成の一例を示すブロック図である。図１に示すように、自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、搬送機構４、表示回路５、入力インタフェース回路６、記憶回路７、重量検知機構８及びシステム制御回路９を備える。

分析機構２は、自動分析装置１の筐体に設けられている。分析機構２は、例えば、図２に示すように、反応ディスク２１、サンプルディスク２２、第１試薬庫２３、第２試薬庫２４、サンプルアーム２５、サンプルプローブ２６、第１試薬アーム２７、第１試薬プローブ２８、第２試薬アーム２９、第２試薬プローブ３０、第１攪拌アーム３１、第１撹拌子３２、第２攪拌アーム３３、第２攪拌子３４、測光機構、及び洗浄機構３５を搭載する。また、分析機構２は、液面検知ユニット２０１、駆動ユニット２０２を備える。

反応ディスク２１は、環状に配列された複数の反応管３６を保持する。反応ディスク２１は、既定の時間間隔で回動と停止とを交互に繰り返す。反応管３６は、例えば、ガラスにより形成されている。

サンプルディスク２２は、反応ディスク２１の近傍に配置されている。サンプルディスク２２は、試料が収容された試料容器１００を保持する。サンプルディスク２２は、分注対象の試料が収容された試料容器１００が試料吸引位置に配置されるように回動する。

第１試薬庫２３は、反応ディスク２１の内側に配置される。第１試薬庫２３は、第１試薬容器１０１を移動可能に保持する試薬容器ラック２３１を有する。

試薬容器ラック２３１は、第１試薬庫２３内に配置される。試薬容器ラック２３１は、複数の第１試薬容器１０１を円周状に１列配列した状態で収容する。試薬容器ラック２３１は、システム制御回路９の制御の下、後述する駆動ユニット２０２によって第１試薬庫２３の中心を通る鉛直線を回転中心として時計回りに回動される。

第２試薬庫２４は、反応ディスク２１の近傍に配置される。第２試薬庫２４は、第１試薬庫２３と同様の構造であり、不図示の円筒形状の試薬容器ラックを有する。

反応ディスク２１とサンプルディスク２２との間にはサンプルアーム２５が配置される。サンプルアーム２５の先端には、サンプルプローブ２６が取り付けられている。また、サンプルプローブ２６には、後述する液面検知ユニット２０１が備える液面検知センサが設置されている。サンプルアーム２５は、サンプルプローブ２６を上下動可能に支持している。また、サンプルアーム２５は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能にサンプルプローブ２６を支持している。サンプルプローブ２６の回動軌跡は、搬送機構５上の分注位置Ｔｃ、サンプルディスク２２上のサンプル吸引位置及び反応ディスク２１上のサンプル吐出位置を通過する。

サンプルプローブ２６は、試料の分注を分析サイクル毎に行う。なお、試料の分注とは、サンプルディスク２２上のサンプル吸引位置に配置されている試料容器１００から試料を吸引し、反応ディスク２１上の試料吐出位置に配置されている反応管３６に試料を吐出することである。また、分注とは、搬送機構４上のサンプルラック１０２に保持された試料容器１００から試料を吸引し、反応ディスク２１上の試料吐出位置に配置されている反応管３６に試料を吐出することである。

反応ディスク２１と第２試薬庫２４との間には第１試薬アーム２７及び第２試薬アーム２９が配置され、後方が第１試薬アーム２７であり、前方が第２試薬アーム２９である。
第１試薬アーム２７の先端には第１試薬プローブ２８が取り付けられている。第１試薬アーム２７は、第１試薬プローブ２８を上下動可能に支持する。また、第１試薬アーム２７は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能に第１試薬プローブ２８を支持している。第１試薬プローブ２８の回動軌跡は、第１試薬庫２３上の第１試薬吸引位置と反応ディスク２１上の第１試薬吐出位置とを通る。

第１試薬プローブ２８は、第１試薬の分注を分析サイクル毎に行う。なお、第１試薬の分注とは、第１試薬庫２３上の第１試薬吸引位置に配置されている第１試薬容器１０１から第１試薬を吸引し、反応ディスク２１上の第１試薬吐出位置に配置されている反応管３６に第１試薬を吐出することである。

第２試薬アーム２９の先端には第２試薬プローブ３０が取り付けられている。第２試薬アーム２９は、第２試薬プローブ３０を上下動可能に支持する。また、第２試薬アーム２９は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能に第２試薬プローブ３０を支持している。第２試薬プローブ３０の回動軌跡は、第２試薬庫２４上の第２試薬吸引位置と反応ディスク２１上の第２試薬吐出位置とを通る。

第２試薬プローブ３０は、第２試薬の分注を分析サイクル毎に行う。なお、第２試薬の分注とは、第２試薬庫２４上の第２試薬吸引位置に配置されている不図示の第２試薬容器から第２試薬を吸引し、反応ディスク２１上の第２試薬吐出位置に配置されている反応管３６に第２試薬を吐出することである。

反応ディスク２１の外側に沿って第１撹拌アーム３１及び第２攪拌アーム３３が配置される。第１撹拌アーム３１の先端には第１撹拌子３２が取り付けられている。第１撹拌アーム３１は、第１撹拌子３２を上下動可能に支持する。また、第１撹拌アーム３１は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能に第１撹拌子３２を支持している。第１撹拌子３２は、反応ディスク２１上の第１の撹拌位置に配置された反応管３６内の試料及び第１試薬の混合液を攪拌する。

第２撹拌アーム３３の先端には第２撹拌子３４が取り付けられている。第２撹拌アーム３３は、第２撹拌子３４を上下動可能に支持する。また、第２撹拌アーム３３は、円弧状の回動軌跡に沿って回動可能に第２撹拌子３４を支持している。第２撹拌子３４は、反応ディスク２１上の第２の撹拌位置に配置された反応管３６内の試料、第１試薬及び第２試薬の混合液を攪拌する。

以下、反応ディスク２１上の第１の撹拌位置に配置された反応管３６内の試料と第１試薬との混合液及び反応ディスク２１上の第２の撹拌位置に配置された反応管３６内の試料と第１試薬と第２試薬との混合液を反応液と呼ぶことにする。

図２に示すように、反応ディスク２１近傍には、不図示の測光機構が設けられている。測光機構は、システム制御回路９による制御に従って作動する。具体的には、測光機構は、不図示の光源と光検出器とを有している。光源から照射された光は、反応管３６内の反応液を通過し、光検出器で検出される。光検出器は、検出された光の強度に応じた計測値を有するデータ（以下、測光データと呼ぶことにする。）を生成する。生成された測光データは、解析回路４に供給される。

反応ディスク２１の外周には、洗浄機構３５が設けられている。洗浄機構３５は、駆動部３による制御に従って作動する。具体的には、洗浄機構３５は、洗浄ノズルと乾燥ノズルとが取り付けられている。洗浄機構３５は、反応ディスク２１の洗浄位置にある反応管３６を洗浄ノズルで洗浄し、乾燥ノズルで乾燥する。

液面検知ユニット２０１は、サンプルプローブ２６と試料容器１００内の試料との間の静電容量の変化により液面を検知するプロセッサである。液面検知ユニット２０１は、不図示の液面検知センサ及び液面検知判定回路を有する。液面検知センサは、サンプルプローブ２６の先端に取り付けられる。液面検知センサは、例えば金属等の導電材料で形成されている。液面検知センサは、液面検知センサと試料容器１００内の試料との間の静電容量の変化を検知して電気信号に変換して出力する。出力された電気信号は、液面検知判定回路に供給される。

液面検知判定回路は、液面検知センサから供給された電気信号に基づいてサンプルプローブ２６が液面に到達したか否かを判定するプロセッサである。液面検知判定回路は、例えば液面検知センサから供給された電気信号の大きさが予め設定された閾値より大きい場合は、サンプルプローブ２６が液面に到達したと判定する。液面検知判定回路は、サンプルプローブ２６が液面に到達した旨をシステム制御回路９へ通知する。

駆動ユニット２０２は、不図示のギア及びステッピングモータ等を有している。駆動ユニット２０２は、システム制御回路９の制御に従い、例えばサンプルアーム２５を回動駆動させる。また、駆動ユニット２０２は、サンプルプローブ２６を上下移動させる。

解析回路３は、測光機構により生成された測光データに基づいて測定項目値を計算し、計算された測定項目値等の情報をシステム制御回路９へ連携するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路７から動作プログラムを読み出し、動作プログラムに従って測定項目値の計算等を行う。解析回路３は、測光データに基づいて反応液についての比色測定に関する測定項目値を計算する。具体的には、解析回路３は、測光データに基づいて反応液の吸光度を算出し、算出された吸光度に基づいて測定項目値を計算する。解析回路３は算出された測定項目値等の情報をシステム制御回路９に連携する。

図３は、搬送機構４の構成の一例を示した上面図である。搬送機構４は、投入ユニット４１と、回収ユニット４２、バーコードリーダ４３及び移動ユニット４４とを備える。

投入ユニット４１は、サンプルアーム２１により分注される前の複数の試料容器１００を保持する試料ラックが投入される少なくとも１つの投入レーンを有する。試料容器１００は、例えば採血管等である。試料ラックに保持された複数の試料容器１００各々には、試料容器１００に収容された試料の情報を有する光学式マークが設けられる。試料の情報とは、例えば試料ＩＤ及び試料に関する検査の必要回数等である。光学式マークは、試料及びサンプル容器をユニークに識別可能な識別コードを符号化したマークである。また、サンプルラック１０２には、サンプルラック１０２に保持されたサンプル容器の情報に関する光学式マークが、試料ラックに設けられる。光学式マークとは、例えば、バーコードである。なお、光学式マークは、バーコードに限定されず、１次元画素コード、２次元画素コード等の任意の画素コードが用いられてもよい。また、図３には、１つの投入レーン５１１が示されているが、投入レーンは、２つ以上であってもよい。

投入ユニット４１は、システム制御回路９の制御の下、投入レーンに投入されたサンプルラック１０２を、後述する移動ユニット４４の搬送アーム４４２によりピックアップ可能な投入位置Ｔａに移動させる。投入レーン５１１におけるサンプルラック１０２の移動は、例えば、ベルトコンベア、モータによりリードスクリューを回転させてサンプルラック１０２を押し出す又は引き出す機構、ロボットアーム等により実現される。

移動ユニット４４は、サンプルラック１０２を搬送レール４４１に沿って移動させる搬送アーム４４２、分注レーン４４３、再検査バッファレーン４４４及び不図示のベルトコンベアを有する。

搬送アーム４４２は、載置されているサンプルラック１０２に設けられた、後述する１組の溝１０４に抜差し自在に設けられた１対の爪を有する。搬送アーム４４２における１対の爪は、上下移動自在である。搬送アーム４４２における１対の爪は、投入位置Ｔａ等の載置面に載置されているサンプルラック１０２を載置面から持ち上げることができる。搬送アーム４４２における１対の爪は、持ち上げたサンプルラック１０２を所定の高さで保持することができる。搬送アーム４４２における１対の爪は、保持したサンプルラック５７２を、所定の載置面上に降ろすことができる。搬送アーム４４２は、１対の爪をサンプルラック１０２の溝に差込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、１対の爪でサンプルラックを搬送する。

搬送アーム４４２は、システム制御回路９の制御の下、投入ユニット４１に投入されたサンプルラック１０２をバーコードリーダ４３の読取り位置に搬送する。読取り位置に搬送されたサンプルラックにおける光学式マークの付与箇所は、バーコードリーダ４３が有する光源及び受光素子が配置されている面に対して向けられる。搬送アーム４４２は、光学式マークの読取り完了後のサンプルラックを、読取り位置から分注レーン４４３の搬入位置Ｔｂに搬送する。分注レーン４４３の搬入位置Ｔｂに配置されたサンプルラック１０２は、例えばベルトコンベアにより、サンプルラックの保持された複数の試料容器１００の各々を分注位置Ｔｃに移動される。

搬送アーム４４２は、システム制御回路９の制御の下、例えば分注終了後のサンプルラック１０２を、分注レーン４４３の搬出位置Ｔｄから回収ユニット４２が有する回収レーン４２１の回収位置Ｔｅに搬送する。

搬送アーム４４２は、システム制御回路９の制御の下、分注にエラー（以下、分注エラーと呼ぶ）が生じた場合、例えば分注エラーに関するサンプルラック１０２を、分注レーン４４３の搬出位置Ｔｄから回収ユニット４２が有する回収レーン４２１の回収位置Ｔｅに搬送する。

分注エラーとは、例えば、サンプル容器からのサンプルの吸引エラーである。吸引エラーは、具体的には、フィブリン（ｆｉｂｒｉｎ：繊維素、線維素）等によるサンプルプローブにおける詰まりエラー、サンプル容器または反応管におけるサンプルの液面が所定の範囲外（サンプル過剰、サンプル不足）のエラー、サンプル容器に収容されたサンプル量が少ないことなどに起因するサンプルプローブへのエアーの混入などの吸引エラー（空吸い）などである。

また、搬送アーム４４２は、システム制御回路９の制御の下、所定の試料容器１００に関する検査の必要回数が２回以上であった場合、分注が終了した当該試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を、分注レーン４４３の搬出位置Ｔｄから再検査バッファレーン４４４の所定の位置に搬送する。この場合、再検査対象となったサンプルラック１０２は、再検査のために分注が実施される時点まで、再検査バッファレーン４４４に一時的に退避される。

また、搬送アーム４４２は、システム制御回路９の制御の下、退避されたサンプルラック１０２が保持する試料容器１００から試料を分注する直前に、サンプルラック１０２を、再検査バッファレーン４４４の所定の位置からバーコード５５が再検査される試料容器１００を読取り可能な位置まで搬送する。

次に、図４を参照して、サンプルラック１０２の構成について説明する。図４は、サンプルラック１０２の構成の一例を示した図である。図４は、サンプルラック１０２の上面、短手方向からの側面及び長手方向からの側面を示している。

上面では、サンプルラック１０２は、図４に示すように、長手方向に複数の試料容器１００を一列に保持可能な開口部１０３が形成されている。また、長手方向からの側面では、図４に示すように、側面の長手方向両端近傍に、１組の溝１０４が形成されている。また、図示しないが、バーコードリーダ４３により読み取り可能なように背面側にラックＩＤが記されている。

表示回路５は、例えばＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等の表示デバイスを有する。表示回路５は、システム制御回路９の制御の下、例えば該表示デバイスを通じて、後述する試料管理テーブル及び順序管理テーブルに登録されたレコード一覧並びに解析部４が算出した測定項目値等を表示する。また、表示回路５は、図５示すように、システム制御回路９の制御の下、試料の液面の位置情報を算出するための設定条件である試料の種類及び試料容器の種類を操作者に選択させるための選択画面を表示する。また、表示回路５は、システム制御回路９の制御の下、重量測定が終了した旨を操作者に対して表示する。

入力インタフェース回路６は、オペレータからの入力機器を介した各種指令又は／及び情報入力を受け付ける。入力機器としては、マウスやトラックボールなどのポインティングデバイス、スイッチボタン等の選択デバイス、あるいはキーボードやタッチスクリーン等の入力デバイスが適宜利用可能である。入力インタフェース回路６は、受け付けた各種指令や情報入力をシステム制御回路９へ通知する。

記憶回路７は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を有する。記憶回路７は、試料容器検出機能９４、重量算出機能９２、位置予測機能９３及びサンプルプローブ制御機能９５を実現するためのプログラム、解析回路４の動作プログラム、解析部４が計算した測定項目値、予め設定された光検出信号の強度の閾値Ｉ、後述するバーコードリーダ８４により検知された試料の属性情報及び後述する重量センサ８２により検知された重量検知情報等を記憶している。

記憶回路７は、試料対応テーブルを記憶する。試料対応テーブルとは、試料の種類における複数の項目を記した一覧表である。試料対応テーブルにおける列（フィールド）の項目は、例えば、血液、尿及び髄液等である試料の種類及び試料の種類に対応する比重等である。試料の種類には、性別及び年齢等の要素が含まれていてもよい。試料対応テーブルにおける行（レコード）には、異なる性質を有する試料毎にフィールドの情報が記憶される。試料対応テーブルは、例えば操作者が入力インタフェース回路６を介し、レコードの追加、削除及び更新をすることが可能なテーブルである。

記憶回路７は、試料容器対応テーブルを記憶する。試料容器対応テーブルとは、試料容器の種類における複数の項目を記した一覧表である。試料容器対応テーブルにおける列（フィールド）の項目は、例えば、試料容器の種類、試料容器の重量及び試料容器の形状を考慮した断面積等である。試料容器対応テーブルにおける行（レコード）には、異なる性質を有する試料容器毎にフィールドの情報が記憶される。試料容器対応テーブルは、例えば操作者が入力インタフェース回路６を介し、レコードの追加、削除及び更新をすることが可能なテーブルである。

記憶回路７は、試料管理テーブルを記憶する。試料管理テーブルとは、処理対象となる試料における複数の項目を記した一覧表である。試料管理テーブルにおける列（フィールド）の項目は、例えば、試料ＩＤ、第１の液面の位置情報、第２の液面の位置情報及び当該試料の吸引回数等である。第１の液面の位置情報とは、例えば後述するシステム制御回路９の位置予測機能９３により算出される、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離である。上死点とは、サンプルプローブ２６が上下運動をする際に、最上端で行き止まりになる最も高い位置を表す点である。上死点は、サンプルプローブ２６の上下移動におけるホームポジションを示す点であってもよい。第２の液面の位置情報とは、例えば後述するサンプルプローブ制御機能９５により算出されるｎ回目（ｎ≧２）の吸引に際し参照される、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離に基づく位置情報である。試料管理テーブルにおける行（レコード）には、検査対象となる試料毎にフィールドの情報が記憶される。試料管理テーブルは、例えば操作者が入力インタフェース回路６を介し、レコードの追加、削除及び更新をすることが可能なテーブルである。

記憶回路７は、順序管理テーブルを記憶する。順序管理テーブルとは、サンプルプローブ２６により試料を吸引する対象となる試料の処理順序における複数の項目を記した一覧表である。順序管理テーブルにおける列（フィールド）の項目は、例えば、分注対象となる試料ＩＤ等である。処理順序テーブルにおける行（レコード）には、処理順にフィールドの情報が記憶される。処理順序テーブルは、例えば操作者が入力インタフェース回路６を介し、レコードの追加、削除及び更新をすることが可能なテーブルである。

試料の液面の位置情報は、試料容器の種類、試料の種類及び試料の重量のうち少なくとも試料の重量に応じた試料の液面の位置を表す情報である。試料の液面の位置情報は、例えば上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を表す情報である。すなわち、当該距離を移動するのに必要な駆動パルス数を表す情報である。

図６は、重量検知機構８の構成の一例を示した図である。図６に示すように、重量検知機構８は、試料容器ホルダ８１と、重量センサ８２と、試料容器検出センサ８３と、バーコードリーダ８４とを備える。重量検知機構８は、図２及び図３に示すように、例えば分析機構２の上面に配置される。

試料容器ホルダ８１は、後述する重量センサ８２上に予め設置されている。試料容器ホルダ８１は、試料容器１００を保持する。

重量センサ８２は、例えばロードセルである。ロードセルとは、例えば起歪体とひずみケージを有し、起歪体に加わる外力をひずみゲージがひずみとして感知し電気信号として出力する圧力センサである。重量センサ８２は、試料容器ホルダ８１に試料容器１００が設置されることを契機として測定を開始する。重量センサ８２は、試料容器ホルダ８１に保持された試料及び試料容器１００の重量の合計値に係るひずみを電気信号に変換する。なお、試料容器ホルダ８１の重量に相当する信号成分は、予めオフセットしておく。以下、重量センサ８２から出力される電気信号を、重量検出信号と呼ぶことにする。重量検出信号は、システム制御回路９に供給される。

試料容器検出センサ８３は、例えば光センサである。光センサとは、例えば投光部と受光部を有し、投光部より検出対象に投光を行い、その入力光に対する反射光を受光部で検出し、検出された反射光の強度に応じた電気信号を出力する反射型光センサである。試料容器検出センサ８３は、試料容器ホルダ８１により保持された試料容器１００に対し投光可能な位置に設けられる。

試料容器検出センサ８３は、システム制御回路９から供給される試料容器１００の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、投光を開始する。以下、試料容器検出センサ８３から出力される電気信号を、光検出信号と呼ぶことにする。光検出信号は、システム制御回路９に供給される。

バーコードリーダ８４は、システム制御回路９からのＩＤ読取開始の指示を契機として、読取りを開始する。バーコードリーダ８４は、試料容器１００に付されたバーコードから試料の属性情報を読み取る。試料の属性情報には、試料ＩＤ等が含まれる。バーコードリーダ８４は、読取った試料の属性情報をシステム制御回路９に供給する。なお、バーコードリーダ８４は、ＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）等を利用した他のセンサで代替してもよい。

システム制御回路９は、例えば自動分析装置１の各構成回路を制御するプロセッサである。システム制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能する。システム制御回路９は、記憶回路７から各動作プログラムを呼び出し、呼び出したプログラムを実行することで試料管理機能９１、重量算出機能９２、位置予測機能９３、試料容器検出機能９４、サンプルプローブ制御機能９５、搬送制御機能９６及び基本制御機能９７を実現する。

試料管理機能９１は、記憶回路７が記憶する試料管理テーブルに対して、レコードの参照、追加、更新及び削除を実行する機能である。

具体的には、試料管理機能９１では、システム制御回路９は、例えば記憶回路７が記憶する試料管理テーブルに試料ＩＤ及び第１の液面の位置情報を登録する。すなわち、システム制御回路９は、バーコードリーダ８４から供給される試料の属性情報に含まれる試料ＩＤを取得する。また、システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを試料管理テーブルの試料ＩＤとして登録する。また、システム回路９は、後述する位置予測機能９３により算出される上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を試料管理テーブルの第１の液面の位置情報として登録する。なお、システム制御回路９は、上記試料ＩＤ及び第１の液面の位置情報の登録と同じタイミングで他のフィールドである第２の液面の位置情報及び当該試料の吸引回数フィールドに所定の初期値を登録するようにしてもよい。具体的には、第２の液面の位置情報フィールドには、例えば空値が登録される。また、吸引回数フィールドには、例えば値０が登録される。

また、システム制御回路９は、バーコードリーダ４３により検査対象となる試料容器１００に貼付されたバーコードが読み取られた際に、所定の条件の下、記憶回路７が記憶する試料管理テーブルに試料ＩＤを登録する。すなわち、システム制御回路９は、バーコードリーダ４３から供給される試料ＩＤを取得する。システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在するか否か確認する。システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在しない場合、当該試料ＩＤを試料管理テーブルに登録する。なお、システム制御回路９は、上記試料ＩＤの登録と同じタイミングで他のフィールドである第１の液面の位置情報、第２の液面の位置情報及び当該試料の吸引回数フィールドに所定の初期値を登録するようにしてもよい。具体的には、第１の液面の位置情報フィールド及び第２の液面の位置情報フィールドには、例えば空値が登録される。また、吸引回数フィールドには、例えば値１が登録される。

また、システム制御回路９は、バーコードリーダ４３により検査対象となる試料容器１００に貼付されたバーコードが読み取られた際に、所定の条件の下、試料管理テーブルの吸引回数フィールドの値を更新する。すなわち、システム制御回路９は、バーコードリーダ４３から供給される試料ＩＤを取得する。システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在するか否か確認する。システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在する場合、当該レコードの吸引回数フィールドの値をインクリメントする。インクリメントは、例えばシステム制御回路９により論理的に実現されるカウンタ機能９８により実行される。

また、システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブが試料の液面に到達した旨の通知を受け付けた場合に、後述するサンプルプローブ制御機能９５により算出された距離で試料管理テーブルの第２の液面の位置情報フィールドを更新する。

重量算出機能９２は、予め設定された試料の属性情報及び重量センサ８２から供給される重量検出情報から試料の重量を算出する機能である。具体的には、重量算出機能９２では、システム制御回路９は、記憶回路７に記憶された試料容器対応テーブルを参照し、試料容器の種類を検索キーとして、当該試料容器の重量を取得する。試料容器の種類は、例えばシステム制御回路９が図５に示すような選択画面を表示回路５に表示することで、試料容器１００が試料容器ホルダ８１に載置される前に、操作者により入力インタフェース回路６を介して予め指定される。システム制御回路９は、取得した試料容器の重量を、重量センサ８２から供給される重量検出情報に含まれる試料及び試料容器１００の重量の合計値から減算することで、試料の重量を算出する。算出された試料の重量は、記憶回路７に記憶される。

位置予測機能９３は、重量算出機能９２により算出された試料の重量に基づいて試料の液面の位置を予測する機能である。具体的には、位置予測機能９３では、システム制御回路９は、記憶回路７に記憶された試料対応テーブルを参照し、試料の種類を検索キーとして、予め設定された試料の種類に対応する試料の比重を取得する。試料の種類は、例えばシステム制御回路９が図５に示すような選択画面を表示回路５に表示することで、試料容器１００が試料容器ホルダ８１に載置される前に、操作者により入力インタフェース回路６を介して予め指定される。システム制御回路９は、記憶回路７に記憶された試料容器対応テーブルを参照し、試料容器の種類を検索キーとして、予め設定された試料容器の種類に対応する試料容器の断面積を取得する。試料容器の種類は、例えばシステム制御回路９が図５に示すような選択画面を表示回路５に表示することで、試料容器１００が試料容器ホルダ８１に載置される前に、操作者により入力インタフェース回路６を介して予め指定される。また、システム制御回路９は、算出された試料の重量、取得した試料の比重及び取得した試料容器の断面積に基づいて試料の液面の高さを算出する。システム制御回路９は、例えば予め記憶回路７に記憶された上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端からサンプル容器１００の底とサンプルラック１０２との接触面までの距離から算出した試料の液面の高さを差し引くことで、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を算出する。

試料容器検出機能９４は、試料容器検出センサ８３より供給された光検出信号に基づいて試料容器ホルダ８１上に試料容器９１が保持されているか否かを判定し、試料容器９１が保持されていると判定した場合、バーコードリーダ８４に検知開始を指示する機能である。具体的には、試料容器検出機能９４では、システム制御回路９は、例えば記憶回路７に記憶された光検出信号の強度の閾値Ｉを読み出す。システム制御回路９は、供給される光検出信号の強度が閾値Ｉ以上の場合、試料容器ホルダ８１上に試料容器９１が保持されていると判定し、バーコードリーダ８４に検知開始を指示する。なお、試料容器検出機能９４では、重量センサ８２から供給される重量検知情報に基づいて試料容器ホルダ８１上に試料容器９１が保持されているか否かを判定するようにしてもよい。

サンプルプローブ制御機能９５は、駆動ユニット２０２を制御し、サンプルプローブ２６の上下移動及び試料の分注を制御する機能である。具体的には、サンプルプローブ制御機能９５では、システム制御回路９は、駆動ユニット２０２を制御し、搬送機構４上でサンプルラック１０２に保持され、分注位置Ｔｃに停止された試料容器１００内の試料を分注する。また、システム制御回路９は、駆動ユニット２０２を制御し、駆動パルスをステッピングモータに供給することで、サンプルプローブ２６の上下移動を制御する。

サンプルプローブ制御機能９５では、試料管理テーブルを参照して、所定の条件の下、制御モードを切り替える。制御モードには、初回高速下降モード、液面検知モードＡ及び液面検知モードＢがある。初回高速下降モードは、１回目の分注において試料管理テーブルの第１の液面の位置情報フィールドの値が空値でない場合に、位置予測機能９３により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブ２６を下降させる制御モードである。液面検知モードＡは、１回目の分注において試料管理テーブルの第１の液面の位置情報フィールドの値が空値の場合に、上死点から液面までサンプルプローブを初回高速下降モードより遅い速度で下降させる制御モードである。液面検知モードＢは、ｎ回目（ｎ≧２）以降の分注において、後述する液面検知により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブを下降させる制御モードである。

以下、サンプルプローブ制御機能９５によるサンプルプローブ２６の下降制御の各パターンについて図面を参照しながら説明する。

（１）初回高速下降モード
図７は、重量検知機構８により重量測定された検体容器に対し、１回目のサンプルプローブ２６の下降を行う場合のサンプル容器１００の液面に対するサンプルプローブ２６の先端の通過及び停止位置を表す図の一例である。

図７に示すように、システム制御回路９は、駆動ユニット２０２を制御し、プローブ起点から試料を吸引可能な停止位置までサンプルプローブ２６を下降させる。具体的には、システム制御回路９は、例えば区間Ｌ１では所定の速度Ｖ１でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ１は、プローブ起点から位置予測機能９３により予測された第１の液面の位置情報が示す距離に対応する駆動パルス数分下降させた点（以下、区間Ｌ１の最下点と呼ぶ）までの区間である。なお、システム制御回路９は、図７に示すように、区間Ｌ１の最下点が試料の液面よりも少し上の位置になるように駆動パルス数を設定する。また、システム制御回路９は、例えば区間Ｌ２では速度Ｖ１よりも遅い所定の速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ２は、区間Ｌ１の最下点から液面検知ユニット２０１によって検知される試料の液面までの区間である。また、システム制御回路９は、区間Ｌ３では、例えば区間Ｌ２と同じ速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ３は、試料の液面から試料を吸引可能な停止位置までの区間である。

（２）液面検知モードＡ
図８は、重量検知機構８により重量測定されなかった検体容器に対し、１回目のサンプルプローブ２６の下降を行う場合のサンプル容器１００の液面に対するサンプルプローブ２６の先端の通過及び停止位置を表す図の一例である。
図８に示すように、システム制御回路９は、駆動ユニット２０２を制御し、プローブ起点から試料を吸引可能な停止位置までサンプルプローブ２６を下降させる。具体的には、システム制御回路９は、例えば区間Ｌ４では速度Ｖ１よりも遅い所定の速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ４は、プローブ起点から液面検知ユニット２０１によって検知される試料の液面までの区間である。また、システム制御回路９は、区間Ｌ３では、例えば区間Ｌ２と同じ速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ３は、試料の液面から試料を吸引可能な停止位置までの区間である。

（３）液面検知モードＢ
図９は、ｎ回目（ｎ≧２）のサンプルプローブ２６の下降を行う場合のサンプル容器１００の液面に対するサンプルプローブ２６の先端の通過及び停止位置を表す図の一例である。

図９に示すように、システム制御回路９は、駆動ユニット２０２を制御し、プローブ起点から試料を吸引可能な停止位置までサンプルプローブ２６を下降させる。具体的には、システム制御回路９は、例えば区間Ｌ５では所定の速度Ｖ２よりも大きい速度Ｖ３でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ５は、プローブ起点から（ｎ−１）回目の分注時の液面検知時に算出した第２の液面の位置情報が示す距離に対応する駆動パルス数分下降させた点（以下、区間Ｌ５の最下点と呼ぶ）までの区間である。また、システム制御回路９は、例えば区間Ｌ６では速度Ｖ３よりも遅い所定の速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ６は、区間Ｌ５の最下点から液面検知ユニット２０１によって検知される試料の液面までの区間である。また、システム制御回路９は、区間Ｌ７では、例えば区間Ｌ２と同じ速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる。区間Ｌ７は、試料の液面から試料を吸引可能な停止位置までの区間である。なお、速度Ｖ３は上記初回高速下降モードにおける速度Ｖ１と同じであってもよい。

また、システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブが試料の液面に到達した旨の通知を受け付ける。システム制御回路９は、供給した駆動パルスの数を不図示の内部メモリに記憶する。システム制御回路９は、（ｎ−１）回目の吸引時に内部メモリ記憶した駆動パルスの数に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端からｎ回目の吸引時の液面付近までの距離を算出する。ｎ回目の吸引時の液面付近までの距離は、例えば（ｎ−１）回目の吸引前の液面の位置から１回分の吸引量に相当する高さを差し引き、この差し引いた後の液面の位置より数パルス分上の位置を区間Ｌ５の最下点として算出する。なお、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端からｎ回目の吸引時の液面付近までの距離の算出を行うタイミングは、（ｎ−１）回目のサンプルプローブ２６の下降動作制御中に液面検知ユニット２０１からサンプルプローブが試料の液面に到達した旨の通知を受けた直後でもよいし、ｎ回目のサンプルプローブ２６の下降動作制御の直前でもよい。

搬送制御機能９６は、搬送機構４におけるサンプルラック１０２の搬送等を制御する機能である。具体的には、搬送制御機能９６では、システム制御回路９は、投入ユニット４１を制御し、投入レーンに投入されたサンプルラック１０２を、後述する移動ユニット４４の搬送アーム４４２によりピックアップ可能な投入位置Ｔａに移動する。

また、システム制御回路９は、移動ユニット４４を制御し、投入位置Ｔａ等の載置面に載置されているサンプルラック１０２を載置面から持ち上げる。システム制御回路９は、移動ユニット４４を制御し、持ち上げたサンプルラック１０２を所定の高さで保持する。システム制御回路９は、移動ユニット４４を制御し、保持したサンプルラック５７２を、所定の載置面上に降ろす。システム制御回路９は、移動ユニット４４を制御し、搬送アーム４４２の１対の爪をサンプルラック１０２の溝１０４に差込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、１対の爪でサンプルラック１０２を搬送する。

システム制御回路９は、例えば不図示のベルトコンベアを制御し、投入ユニット４１に投入されたサンプルラック１０２をバーコードリーダ４３の読取り位置に搬送する。システム制御回路９は、移動ユニット４４を制御し、光学式マークの読取り完了後のサンプルラックを、読取り位置から分注レーン４４３の搬入位置Ｔｂに搬送する。

システム制御回路９は、不図示のベルトコンベアを制御し、分注レーン４４３の搬入位置Ｔｂに配置されたサンプルラック１０２が保持する複数の試料容器１００の各々を分注位置Ｔｃに移動する。

システム制御回路９は、搬送アーム４４２を制御し、例えば分注終了後のサンプルラック１０２を、分注レーン４４３の搬出位置Ｔｄから回収ユニット４２が有する回収レーン４２１の回収位置Ｔｅに搬送する。

システム制御回路９は、搬送アーム４４２を制御し、分注にエラー（以下、分注エラーと呼ぶ）が生じた場合、例えば分注エラーに関するサンプルラック１０２を、分注レーン４４３の搬出位置Ｔｄから回収ユニット４２が有する回収レーン４２１の回収位置Ｔｅに搬送する。

また、システム制御回路９は、搬送アーム４４２を制御し、所定の試料容器１００に関する検査の必要回数が２回以上であった場合、分注が終了した当該試料容器１００を保持するサンプルラック１０２を、分注レーン４４３の搬出位置Ｔｄから再検査バッファレーン４４４の所定の位置に搬送する。この場合、再検査対象となったサンプルラック１０２は、再検査のために分注が実施される時点まで、再検査バッファレーン４４４に一時的に退避される。

また、システム制御回路９は、搬送アーム４４２を制御し、退避されたサンプルラック１０２が保持する試料容器１００から試料を分注する直前に、サンプルラック１０２を、再検査バッファレーン４４４の所定の位置からバーコードリーダ４３が再検査対象となる試料容器１００を読取り可能な位置まで搬送する。

基本制御機能９７は、自動分析装置１の入出力等の基本動作を制御する機能である。具体的には、基本制御機能９７では、システム制御回路９は、表示回路５を介し、試料管理テーブル及び順序管理テーブルに登録されたレコード一覧並びに解析部４が算出した測定項目値等を表示する。また、システム制御回路９は、表示回路５を介し、図５示すように試料の液面の位置情報を算出するための設定条件である試料の種類及び試料容器の種類を操作者に選択させるための選択画面を表示する。また、システム制御回路９は、例えば入力インタフェース回路７を介して、操作者が選択した試料の種類及び試料容器の種類を受け付ける。また、システム制御回路９は、例えば表示回路５を制御し、重量測定が終了した旨を操作者に対して表示する。

次に、第１の実施形態の動作について説明する。

（１）重量測定時における試料管理テーブル登録フロー
図１０は、重量検知機構８から重量検知情報が通知され、試料管理テーブルに試料ＩＤをキーとするレコードが登録されるまでのフローチャートの一例を示す図である。

図１０に示すように、システム制御回路９は、試料容器検出センサ８３から光検出信号が通知されるまで待機する（ステップＳＡ１）。

システム制御回路９は、試料容器検出センサ８３から光検出信号が通知された場合（ステップＳＡ１のＹＥＳ）、試料容器検出機能９４を実行し、試料容器検出センサ８３より供給される光検出信号の強度に基づいて試料容器ホルダ８１上に試料容器１００が保持されているか否かを判定する（ステップＳＡ２）。

システム制御回路９は、試料容器検出センサ８３より供給される光検出信号の強度が閾値Ｉ以上の場合（ステップＳＡ２のＹＥＳ）、バーコードリーダ８４に検知開始を指示する（ステップＳＡ３）。

また、システム制御回路９は、バーコードリーダ８４から試料の属性情報が供給されるまで待機する（ステップＳＡ４）。

また、システム制御回路９は、バーコードリーダ８４から試料の属性情報が通知された場合（ステップＳＡ４のＹＥＳ）、試料管理機能９１を実行し、試料の属性情報に含まれる試料ＩＤ及び上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を試料管理テーブルの試料ＩＤフィールド及び第１の液面の位置情報フィールドに１レコードとして登録する（ステップＳＡ５）。

一方、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離は、以下のように算出する。すなわち、システム制御回路９は、重量検知機構８から重量検知情報が通知されるまで待機する。システム制御回路９は、重量検知機構８から重量検知情報が通知された場合、重量算出機能９２を実行し、予め設定された試料の属性情報及び重量センサ８２から供給される重量検出情報から試料の重量を算出する。システム制御回路９は、位置予測機能９３を実行し、重量算出機能９２により算出された試料の重量、予め設定された試料の種類及び試料容器の種類に基づいて上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を算出する。

システム制御回路９は、上記試料ＩＤ及び第１の液面の位置情報の登録と同じタイミングで他のフィールドである第２の液面の位置情報及び当該試料の吸引回数フィールドに所定の初期値を登録する。具体的には、第２の液面の位置情報フィールドには、空値を登録する。また、吸引回数フィールドには、例えば値０を登録する。

システム制御回路９は、上記レコード登録後、基本制御機能９７を実行し、表示回路５を介して、重量測定が終了した旨を操作者に報知する（ステップＳＡ６）。

（２）搬送機構４が有するバーコードリーダ４３による読取り時における試料管理テーブル更新及び登録フロー
図１１は、バーコードリーダ４３により読み取られたバーコードに含まれる試料の属性情報含まれる試料ＩＤ対応するレコードが試料管理テーブルに存在するか否かによって、試料管理テーブルに対して登録処理又は更新処理が行われるフローチャートの一例を示す図である。

図１１に示すように、まず、システム制御回路９は、試料管理機能９１を実行し、搬送機構４が有するバーコードリーダ４３から供給される試料の属性情報に含まれる試料ＩＤを取得する（ステップＳＢ１）。

システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在するか否か確認する（ステップＳＢ２）。

システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在する場合（ステップＳＢ２のＹＥＳ）、当該レコードの吸引回数フィールドの値をインクリメントする（ステップＳＢ３）。インクリメントは、システム制御回路９により論理的に実現されるカウンタ機能９８により実行される。

システム制御回路９は、取得した試料ＩＤを持つレコードが試料管理テーブルに存在しない場合（ステップＳＢ２のＮＯ）、当該試料ＩＤを試料管理テーブルに登録する（ステップＳＢ４）。このとき、システム制御回路９は、他のフィールドである第１の液面の位置情報、第２の液面の位置情報及び当該試料の吸引回数フィールドに所定の初期値を合わせて登録する。具体的には、第１の液面の位置情報フィールド及び第２の液面の位置情報フィールドには、空値を登録する。また、吸引回数フィールドには、値１を登録する。

（３）サンプルプローブ下降制御フロー
図１２は、システム制御回路９が、重量検知機構８により重量測定された試料容器１００に対し、サンプルプローブ２６を下降させる場合の制御のフローチャートの一例を示す図である。また、図１３は、システム制御回路９が、重量検知機構８により重量測定されなかった試料容器１００に対し、サンプルプローブ２６を下降させる場合の制御のフローチャートの一例を示す図である。

図１２に示すように、システム制御回路９は、順序管理テーブルの先頭レコードに含まれる試料ＩＤを取得する（ステップＳＣ１）。

システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、取得した試料ＩＤをキーとして、試料管理テーブルを検索する。システム制御回路９は、検索した結果得られた該当レコードに含まれる第１の液面の位置情報フィールドの値を取得し、その値が空値でないか否かを確認する（ステップＳＣ２）。

システム制御回路９は、第１の液面の位置情報フィールドの値が空値でない場合（ステップＳＣ２のＹＥＳ）、取得した試料ＩＤをキーとして、試料管理テーブルを検索し、該当レコードに含まれる吸引回数フィールドの値を取得し、その値が１か２以上であるかを確認する（ステップＳＣ３）。

システム制御回路９は、吸引回数フィールドの値が１であった場合（ステップＳＣ３のＹＥＳ）、サンプルプローブ２６を下降するための制御モードを初回高速下降モードに設定する（ステップＳＣ４）。

システム制御回路９は、区間Ｌ１において、サンプルプローブ２６を所定の速度Ｖ１で下降させる（ステップＳＣ５）。

システム制御回路９は、区間Ｌ２において、サンプルプローブ２６を速度Ｖ１よりも遅い速度Ｖ２で下降させる（ステップＳＣ６）。

システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブ２６が液面に到達した旨が通知されるまで待機する（ステップＳＣ７）。

システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブ２６が液面に到達した旨が通知された場合（ステップＳＣ７のＹＥＳ）、液面に到達するまでに要した駆動パルス数に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から次回の吸引時の液面付近までの距離を算出する（ステップＳＣ８）。

システム制御回路９は、試料管理機能９１を実行し、サンプルプローブ制御機能９５により算出された距離で試料管理テーブルの分注対象となる試料ＩＤを持つレコードの第２の液面の位置情報フィールドを更新する（ステップＳＣ９）。

システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、区間Ｌ３において、例えば区間Ｌ２と同じ速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる（ステップＳＣ１０）。

また、システム制御回路９は、吸引回数フィールドの値が２以上であった場合（ステップＳＣ３のＮＯ）、サンプルプローブ２６を下降するための制御モードを液面検知モードＢに設定する（ステップＳＣ１１）。

システム制御回路９は、区間Ｌ５において、サンプルプローブ２６を例えば所定の速度Ｖ３で下降させる（ステップＳＣ１２）。

システム制御回路９は、区間Ｌ６において、サンプルプローブ２６を例えば速度Ｖ３よりも遅い速度Ｖ２で下降させる（ステップＳＣ１３）。

システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブ２６が液面に到達した旨が通知されるまで待機する（ステップＳＣ１４）。

システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブ２６が液面に到達した旨が通知された場合（ステップＳＣ１４のＹＥＳ）、液面に到達するまでに要した駆動パルス数に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から次回の吸引時の液面付近までの距離を算出する（ステップＳＣ１５）。

システム制御回路９は、試料管理機能９１を実行し、サンプルプローブ制御機能９５により算出された距離で試料管理テーブルの分注対象となる試料ＩＤを持つレコードの第２の液面の位置情報フィールドを更新する（ステップＳＣ１６）。

システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、区間Ｌ７において、例えば区間Ｌ６と同じ速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる（ステップＳＣ１７）。

また、図１３に示すように、システム制御回路９は、第１の液面の位置情報フィールドの値が空値である場合（ステップＳＣ２のＮＯ）、取得した試料ＩＤをキーとして、試料管理テーブルを検索し、該当レコードに含まれる吸引回数フィールドの値を取得し、その値が１か２以上であるかを確認する（ステップＳＣ１８）。

システム制御回路９は、吸引回数フィールドの値が１であった場合（ステップＳＣ１８のＹＥＳ）、サンプルプローブ２６を下降するための制御モードを液面検知モードＡに設定する（ステップＳＣ１９）。

システム制御回路９は、区間Ｌ４において、サンプルプローブ２６を所定の速度Ｖ２で下降させる（ステップＳＣ２０）。

システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブ２６が液面に到達した旨が通知されるまで待機する（ステップＳＣ２１）。

システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブ２６が液面に到達した旨が通知された場合（ステップＳＣ２１のＹＥＳ）、液面に到達するまでに要した駆動パルス数に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から次回の吸引時の液面付近までの距離を算出する（ステップＳＣ２２）。

システム制御回路９は、試料管理機能９１を実行し、サンプルプローブ制御機能９５により算出された距離で試料管理テーブルの分注対象となる試料ＩＤを持つレコードの第２の液面の位置情報フィールドを更新する（ステップＳＣ２３）。

システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、区間Ｌ３において、例えば区間Ｌ４と同じ速度Ｖ２でサンプルプローブ２６を下降させる（ステップＳＣ２４）。

また、システム制御回路９は、吸引回数フィールドの値が２以上であった場合（ステップＳＣ１８のＮＯ）、サンプルプローブ２６を下降するための制御モードを液面検知モードＢに設定する（ステップＳＣ２５）。

ステップＳ２６からステップＳＣ３１までの処理内容については、ステップＳＣ１２からステップＳＣ１７までの処理内容と同様である。

第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、重量算出機能９２を実行し、予め設定された試料の属性情報及び重量センサ８２から供給される重量検出情報から試料の重量を算出する。システム制御回路９は、位置予測機能９３を実行し、重量算出機能９２により算出された試料の重量に基づいて試料の液面の位置を予測する。システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、１回目の分注において試料管理テーブルの第１の液面の位置情報フィールドの値が空値でない場合に、位置予測機能９３により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブ２６を下降させる。これにより、初回分注時にサンプルプローブ２６を液面付近の位置まで素早く下降させることができる。

したがって、本実施形態に係る自動分析装置によれば、試料処理能力の低下を防止することが可能な自動分析装置を提供することが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、位置予測機能９３により予測された液面の位置情報が示す上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離に基づいて、サンプルプローブ２６を区間Ｌ１の距離だけ下降させる。これにより、初回分注時から高い精度でサンプルプローブ２６を下降させることが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、位置予測機能９３により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブ２６を速度Ｖ２よりも速い速度Ｖ１で下降させる。これにより、初回分注時にサンプルプローブ２６を区間Ｌ１の最下点まで早く到達させることが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、１回目の分注において試料管理テーブルの第１の液面の位置情報フィールドの値が空値でない場合に、位置予測機能９３により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブ２６を下降させる制御モードでサンプルプローブ制御機能９５を実行する。また、システム制御回路９は、ｎ回目（ｎ≧２）以降の分注において、液面検知により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブを下降させる制御モードでサンプルプローブ制御機能９５を実行する。これにより、２回目以降の吸引では、サンプルプローブ２６を高速下降させることが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、１回目の分注時に、試料管理テーブルにおいて、分注対象となる試料の試料ＩＤを持つレコードに含まれる第１の液面の位置情報フィールドの値が空値の場合に、液面検知モードＡでサンプルプローブ制御機能９５を実行し、サンプルプローブ２６の下降動作を制御する。これにより、重量測定がされなかった試料に対しても、サンプリングプローブ２６の下降動作の制御が可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、液面検知ユニット２０１からサンプルプローブが試料の液面に到達した旨の通知を受け付ける。システム制御回路９は、供給した駆動パルスの数を不図示の内部メモリに記憶する。システム制御回路９は、（ｎ−１）回目の吸引時に内部メモリ記憶した駆動パルスの数に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端からｎ回目の吸引時の液面付近までの距離を算出する。また、システム制御回路９は、この算出した距離に基づいて、ｎ回目の吸引時のサンプルプローブ２６の下降動作を制御する。これにより、システム制御回路９は、２回目以降の吸引では、サンプルプローブ２６を高速下降させることが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、試料管理機能９１を実行し、試料の分注回数に応じて、分注対象となる試料の試料ＩＤを持つレコードに含まれる吸引回数フィールドの値をインクリメントする。インクリメントは、システム制御回路９により論理的に実現されるカウンタ機能９８により実行される。システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、試料管理テーブルにおいて、分注対象となる試料の試料ＩＤを持つレコードに含まれる吸引回数フィールドの値が２以上であった場合、サンプルプローブ２６を下降するための制御モードを液面検知モードＢに設定する。これにより、２回目以降の吸引では、自動的に液面検知モードＢでサンプルプローブ２６を制御することが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、位置予測機能９３を実行し、重量算出機能９２により算出された試料の重量及び予め設定された試料の種類に対応する試料の比重に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を算出する。これにより、試料の重量のみに基づいて当該距離を算出する場合に比べて、より実態に則した位置予測をすることが可能となる。

また、第１の実施形態によれば、システム制御回路９は、位置予測機能９３を実行し、重量算出機能９２により算出された試料の重量、予め設定された試料の種類に対応する試料の比重及び予め設定された試料容器の種類に対応する試料容器の断面積に基づいて、上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離を算出する。これにより、試料の重量及び試料の比重に基づいて当該距離を算出する場合に比べて、より実態に則した位置予測をすることが可能となる。

［他の実施形態］
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、第１の実施形態では、試料管理テーブルにおける列（フィールド）の項目は、例えば、試料ＩＤ、第１の液面の位置情報、第２の液面の位置情報及び当該試料の吸引回数としたが、これに限定されない。例えば、重量算出機能９２により算出された試料の重量を試料管理テーブルにおける列（フィールド）の項目としてもよい。これにより、重量測定が行われた試料であるか否かを試料管理テーブルにおいて直接的に確認することが可能となる。

また、第１の実施形態では、システム制御回路９は、表示回路５を制御し、視覚情報を用いることで重量測定が終了した旨を操作者に対して表示したが、これに限定されない。例えば、音声又は電子音等の聴覚情報によって報知してもよい。

また、第１の実施形態では、試料ＩＤを持つ試料容器の処理について説明したがこれに限定されない。試料ＩＤを持たない採血管又はサンプルカップに関しては、順序管理テーブル登録の際に、当該テーブルの試料ＩＤフィールドに予め所定の値、例えば空値が設定されるようにしておく。このとき、システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、初回分注時に順序管理テーブルの先頭レコードに含まれる試料ＩＤが空値の場合、液面検知モードＡでサンプルプローブ２６の下降動作を制御するようにしてもよい。

また、第１の実施形態では、試料の種類及び試料容器の種類について、図５に示すような選択画面を表示回路５に表示し、操作者に入力インタフェース回路６を介して予め指定させるようにしたが、これに限定されない。例えば、機械的なスイッチを介して指定させるようにしてもよい。また、タッチパネルのような操作画面を介して指定させるようにしてもよい。

また、第１の実施形態では、システム制御回路９は、サンプルプローブ制御機能９５を実行し、重量検知機構８により重量測定された検体容器に対し、初回の分注では、位置予測機能９３により予測された上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離に基づいてサンプルプローブ２６を下降させた。また、システム制御回路９は、２回目以降の分注では、液面検知により予測された液面の位置情報に基づいてサンプルプローブを下降させた。しかしながら、これに限定されない。例えば、システム制御回路９は、初回以降すべての分注において、位置予測機能９３により予測された上死点に位置するサンプルプローブ２６の先端から試料の液面までの距離に基づいてサンプルプローブ２６を下降させてもよい。すなわち、２回目以降の分注では、システム制御回路９は、吸引によって減少する試料の高さを、初回の分注前に位置予測機能９３により算出した距離から逐次差し引く。システム制御回路９は、この差し引いた後の距離に基づいてサンプルプローブ２６を下降させてもよい。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１及び図６における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として表示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。例えば、識別コードを取得したり、収容している試料の重量を取得したりする試料容器は、搬送機構４によって搬送されるものではなく、サンプルディスク２２によって保持されているものでも良い。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…自動分析装置、２…分析機構、３…解析回路、４…搬送機構、５…表示回路、６…入力インタフェース回路、７…記憶回路、８…重量検知機構、９…システム制御回路、２１…反応ディスク、２２…サンプルディスク、２３…第１試薬庫、２４…第２試薬庫、サ２５…サンプルアーム、２６…サンプルプローブ、２７…第１試薬アーム、２８…第１試薬プローブ、２９…第２試薬アーム、３０…第２試薬プローブ３０、３１…第１攪拌アーム、３２…第１撹拌子、３３…第２攪拌アーム、３４…第２攪拌子、３５…洗浄機構、３６…反応管、４１…投入ユニット、４２…回収ユニット、４３…バーコードリーダ、４４…移動ユニット、８１…試料容器ホルダ、８２…重量センサ８２、８３…試料容器検出センサ、８４…バーコードリーダ、１００…サンプル容器、１０１…試薬容器、１０２…サンプルラック、２０１…液面検知ユニット、２０２…駆動ユニット。

Claims (11)

1. 試料を収容する試料容器から試料を吸引するサンプルプローブと、
   前記試料の重量を測定する重量センサと、
   前記重量に基づいて前記試料の第１の液面の位置を予測する位置予測部と、
   前記第１の液面の位置に基づいて前記サンプルプローブの下降動作を制御するサンプルプローブ制御部と
   を具備する自動分析装置。
2. 前記サンプルプローブ制御部は、前記サンプルプローブの下降量を制御する請求項１記載の自動分析装置。
3. 前記サンプルプローブ制御部は、前記サンプルプローブの下降速度を制御する請求項１又は２に記載の自動分析装置。
4. 前記サンプルプローブ制御部は、前記試料の初回吸引時のみ前記第１の液面の位置に基づいて前記サンプルプローブの下降動作を制御する請求項１乃至３のうちいずれかに記載の自動分析装置。
5. 前記試料の液面を検知する液面検知部をさらに具備し、
   前記サンプルプローブ制御部は、前記重量が測定されていない前記試料に対しては、前記液面検知部による検知結果に基づいて、前記サンプルプローブの下降動作を制御する請求項１乃至４のうちいずれかに記載の自動分析装置。
6. 前記試料の液面を検知する液面検知部をさらに具備し、
   前記サンプルプローブ制御部は、前記液面検知部による液面検知により第２の液面の位置を予測し、前記試料に対する吸引回数が予め設定された値以上の場合は、前記予測した第２の液面の位置に基づいて、前記試料に対し予め設定された吸引回数以降の前記サンプルプローブの下降動作を制御する請求項１乃至４のうちいずれかに記載の自動分析装置。
7. 前記試料の吸引回数をカウントするカウンタ部をさらに具備し、
   前記サンプルプローブ制御部は、前記カウント値が予め設定された値以上の場合に、前記第２の液面の位置情報に基づいて、前記サンプルプローブの下降動作を制御する請求項６に記載の自動分析装置。
8. 前記サンプルプローブ制御部は、前記重量が測定されていない前記試料に対しては、前記液面検知部による検知結果に基づいて、前記サンプルプローブの下降動作を制御する請求項６又は７に記載の自動分析装置。
9. 前記サンプルプローブ制御部は、分注対象となる試料における複数の項目を記した試料管理テーブルの所定のレコードを参照し、前記レコードに前記第１の液面の位置が登録されていないことを確認することで前記重量が測定されていない前記試料であると認識する請求項５又は８に記載の自動分析装置。
10. 前記位置予測部は、前記重量に加え、前記試料の種類に基づいて前記第１の液面の位置を予測する請求項１乃至９のうちいずれかに記載の自動分析装置。
11. 前記位置予測部は、前記重量及び前記試料の種類に加え、前記試料容器の種類に基づいて前記第１の液面の位置を予測する請求項１０に記載の自動分析装置。