JP7298770B2 - 検査用コネクタ - Google Patents

Description

本発明は、検査用コネクタに関する。

従来の検査用コネクタに関する発明としては、例えば、特許文献１に記載のアダプタが知られている。図１０は、特許文献１の同軸コネクタ５００の断面図である。図１０に示すように、同軸コネクタ５００は、同軸ケーブル５０２、アダプタ５１０及びコネクタ本体５１２を備えている。同軸ケーブル５０２は、センター導体５０３、綾織状導体５０４及び絶縁材料層５０５を含んでいる。綾織状導体５０４は、センター導体５０３の周囲に設けられている。絶縁材料層５０５は、センター導体５０３と綾織状導体５０４とを絶縁している。同軸ケーブル５０２の先端部は、綾織状導体５０４が露出している部分Ｐ１０３、絶縁材料層５０５が露出している部分Ｐ１０２及びセンター導体５０３が露出している部分Ｐ１０１を含んでいる。

アダプタ５１０は、絶縁材料層５０５が露出している部分Ｐ１０２に取り付けられている。アダプタ５１０は、樹脂材料により作製されている。コネクタ本体５１２は、カラー５１４を含んでいる。アダプタ５１０は、コネクタ本体５１２のカラー５１４に取り付けられている。

以上のような特許文献１に記載のアダプタ５１０では、溶接することなく簡易に同軸ケーブル５０２にアダプタ５１０を取り付けることができる。

実用新案登録第３１４０５３２号公報

ところで、特許文献１の同軸コネクタ５００では、綾織状導体５０４が露出している部分Ｐ１０３と絶縁材料層５０５が露出している部分Ｐ１０２との境界において特性インピーダンスの変動が生じやすい。以下では、高周波信号が伝送される部分を伝送部と呼ぶ。グランド電位に保たれる部分をグランド部と呼ぶ。

綾織状導体５０４が露出している部分Ｐ１０３では、伝送部は、センター導体５０３である。グランド部は、綾織状導体５０４である。そのため、綾織状導体５０４が露出している部分では、伝送部とグランド部との距離は、距離Ｄ１である。一方、絶縁材料層５０５が露出している部分Ｐ１０２では、伝送部は、センター導体５０３である。カラー５１４が金属部材である場合には、グランド部は、カラー５１４である。また、カラー５１４が金属部材ではない場合には、グランド部が存在しない。いずれの場合においても、絶縁材料層５０５が露出している部分Ｐ１０２では、伝送部とグランド部との距離は、距離Ｄ１より大きな距離Ｄ２である（前者の場合を図示）。このような伝送部とグランド部との距離の大きな変動は、同軸コネクタ５００の特性インピーダンスの大きな変動を生じさせる。

そこで、本発明の目的は、検査用コネクタにおいて特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる検査用コネクタを提供することである。

本発明の一形態に係る検査用コネクタは、
中心導体線、前記中心導体線の周囲に設けられている外部導体、及び、前記中心導体線と前記外部導体との間に設けられ、かつ、前記中心導体線と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁性部材を含んでいる同軸ケーブルと、
上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第１ハウジングであって、前記同軸ケーブルは、前記第１ハウジング内において上下方向に延びている、前記第１ハウジングと、
上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第２ハウジングであって、前記第１ハウジングの下に配置されている前記第２ハウジングと、
前記第１ハウジングの下端部に固定されていると共に、前記第２ハウジングの上端部に固定されているアダプタであって、前記同軸ケーブルの前記外部導体を支持する導体部材であるアダプタと、
前記同軸ケーブルの前記中心導体線に電気的に接続されている中心導体部と、
前記アダプタの下に設けられている第２絶縁性部材であって、前記中心導体部が前記第２ハウジング内において上下方向に延びるように、前記中心導体部を支持している前記第２絶縁性部材と、
を備えており、
前記アダプタの下面は、上方向に窪んだ形状を有する凹面を含んでおり、
前記凹面は、上方向に見たときに、円形状を有しており、
上方向に見たときの前記凹面の直径の最大値は、前記第２ハウジングの内周面の直径より小さく、
上方向に見たときの前記凹面の直径の最小値は、前記外部導体の内周面の直径より大きく、
前記中心導体線は、上方向に見たときに、前記凹面の外縁内に位置している。

本発明の一形態に係る検査用コネクタは、
中心導体線、前記中心導体線の周囲に設けられている外部導体、及び、前記中心導体線と前記外部導体との間に設けられ、かつ、前記中心導体線と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁性部材を含んでいる同軸ケーブルと、
上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第１ハウジングであって、前記同軸ケーブルは、前記第１ハウジング内において上下方向に延びている、前記第１ハウジングと、
上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第２ハウジングであって、前記第１ハウジングの下に設けられている前記第２ハウジングと、
前記第１ハウジングの下端部に固定されていると共に、前記第２ハウジングの上端部に固定されているアダプタであって、前記同軸ケーブルの前記外部導体を支持する導体部材であるアダプタと、
前記同軸ケーブルの前記中心導体線に電気的に接続されている中心導体部と、
前記アダプタの下に設けられている第２絶縁性部材であって、前記中心導体部が前記第２ハウジング内において上下方向に延びるように、前記中心導体部を支持している前記第２絶縁性部材と、
円環形状を有する導電部材であるリング部材と、
を備えており、
前記アダプタの下面は、上方向に窪んだ形状を有する凹面を含んでおり、
前記凹面は、上方向に見たときに、円形状を有しており、
前記中心導体線は、上方向に見たときに、前記凹面の外縁内に位置しており、
前記同軸ケーブルにおいて前記凹面の上端と前記凹面の下端との間に位置する区間では、前記中心導体線の周囲に前記外部導体及び前記第１絶縁性部材が存在せず、
前記リング部材は、前記同軸ケーブルにおいて前記凹面の上端と前記凹面の下端との間に位置する区間において、前記中心導体線と電気的に接続された状態で、前記中心導体線の周囲に設けられている。

本発明によれば、検査用コネクタにおいて特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。

図１は、検査用コネクタ１０の正面図である。 図２は、検査用コネクタ１０の分解図である。 図３は、検査用コネクタ１０の断面図である。 図４は、アダプタ２０近傍の断面図である。 図５は、図４の断面図を模式化した図である。 図６は、検査用コネクタ１０ａのアダプタ２０近傍の断面図である。 図７は、検査用コネクタ１０ｂのアダプタ２０近傍の断面図である。 図８は、検査用コネクタ１０ｃのブッシング２６近傍の断面図である。 図９は、検査用コネクタ１０ｄのアダプタ２０近傍の断面図である。 図１０は、特許文献１の同軸コネクタ５００の断面図である。

（実施形態）
［検査用コネクタの構造］
以下に、本発明の一実施形態に係る検査用コネクタ１０の構造について図面を参照しながら説明する。図１は、検査用コネクタ１０の正面図である。図２は、検査用コネクタ１０の分解図である。図３は、検査用コネクタ１０の断面図である。図４は、アダプタ２０近傍の断面図である。図４では、凹面１００及び凸面１２０を太線で示した。

図１ないし図３に示すように上下UD方向、左右LR方向及び前後FB方向を定義する。ただし、上下方向、左右方向及び前後方向は、説明のために定義した方向である。従って、検査用コネクタ１０の実際の使用時における上下方向、左右方向及び前後方向は、図１ないし図３の上下方向、左右方向及び前後方向と一致していなくてよい。

本明細書において、前後方向に延びる軸や部材は、必ずしも前後方向と平行である軸や部材だけを示すものではない。前後方向に延びる軸や部材とは、前後方向に対して±４５°の範囲で傾斜している軸や部材のことである。同様に、上下方向に延びる軸や部材とは、上下方向に対して±４５°の範囲で傾斜している軸や部材のことである。左右方向に延びる軸や部材とは、左右方向に対して±４５°の範囲で傾斜している軸や部材のことである。

本明細書において、前後方向に並ぶ第１部材及び第２部材とは、以下の状態を示す。前後方向に垂直な方向に第１部材及び第２部材を見たときに、第１部材及び第２部材の両方が前後方向を示す任意の直線上に配置されている状態である。本明細書において、上下方向に見たときに前後方向に並ぶ第１部材及び第２部材とは、以下の状態を示す。上下方向に第１部材及び第２部材を見たときに、第１部材及び第２部材の両方が前後方向を示す任意の直線上に配置されている。この場合、上下方向とは異なる左右方向から第１部材及び第２部材を見ると、第１部材及び第２部材のいずれか一方が前後方向を示す任意の直線上に配置されていなくてもよい。なお、第１部材と第２部材とが接触していてもよい。第１部材と第２部材とが離れていてもよい。第１部材と第２部材との間に第３部材が存在していてもよい。この定義は、前後方向以外の方向にも適用される。なお、第１部材ないし第３部材は、検査用コネクタの一部である。

本明細書において、第１部材が第２部材の前に配置されるとは、以下の状態を指す。第１部材の少なくとも一部は、第２部材が前方向に平行移動するときに通過する領域内に配置されている。よって、第１部材は、第２部材が前方向に平行移動するときに通過する領域内に収まっていてもよいし、第２部材が前方向に平行移動するときに通過する領域から突出していてもよい。この場合、第１部材及び第２部材は、前後方向に並んでいる。この定義は、前後方向以外の方向にも適用される。

本明細書において、左右方向に見たときに、第１部材が第２部材の前に配置されるとは、以下の状態を指す。左右方向に見たときに、第１部材と第２部材が前後方向に並んでおり、かつ、左右方向に見たときに、第１部材の第２部材と対向する部分が、第２部材の前に配置される。この定義において、第１部材と第２部材は、３次元では、前後方向に並んでいなくてもよい。この定義は、前後方向以外の方向も適用される。

本明細書において、第１部材が第２部材より前に配置されるとは、以下の状態を指す。第１部材は、第２部材の前端を通り前後方向に直交する平面の前に配置される。この場合、第１部材及び第２部材は、前後方向に並んでいてもよく、並んでいなくてもよい。この定義は、前後方向以外の方向にも適用される。

本明細書において、特に断りのない場合には、第１部材の各部について以下のように定義する。第１部材の前部とは、第１部材の前半分を意味する。第１部材の後部とは、第１部材の後半分を意味する。第１部材の左部とは、第１部材の左半分を意味する。第１部材の右部とは、第１部材の右半分を意味する。第１部材の上部とは、第１部材の上半分を意味する。第１部材の下部とは、第１部材の下半分を意味する。第１部材の前端とは、第１部材の前方向の端を意味する。第１部材の後端とは、第１部材の後方向の端を意味する。第１部材の左端とは、第１部材の左方向の端を意味する。第１部材の右端とは、第１部材の右方向の端を意味する。第１部材の上端とは、第１部材の上方向の端を意味する。第１部材の下端とは、第１部材の下方向の端を意味する。第１部材の前端部とは、第１部材の前端及びその近傍を意味する。第１部材の後端部とは、第１部材の後端及びその近傍を意味する。第１部材の左端部とは、第１部材の左端及びその近傍を意味する。第１部材の右端部とは、第１部材の右端及びその近傍を意味する。第１部材の上端部とは、第１部材の上端及びその近傍を意味する。第１部材の下端部とは、第１部材の下端及びその近傍を意味する。

本明細書における任意の２つの部材を第１部材及び第２部材と定義した場合、任意の２つの部材の関係は以下のような意味になる。本明細書において、第１部材が第２部材に支持されているとは、第１部材が第２部材に対して移動不可能に第２部材に取り付けられている（すなわち、固定されている）場合、及び、第１部材が第２部材に対して移動可能に第２部材に取り付けられている場合を含む。また、第１部材が第２部材に支持されているとは、第１部材が第２部材に直接に取り付けられている場合、及び、第１部材が第３部材を介して第２部材に取り付けられている場合の両方を含む。

本明細書において、第１部材が第２部材に固定されているとは、第１部材が第２部材に対して移動不可能に第２部材に取り付けられている（すなわち、固定されている）場合を含み、第１部材が第２部材に対して移動可能に第２部材に取り付けられている場合を含まない。また、第１部材が第２部材に固定されているとは、第１部材が第２部材に直接に取り付けられている場合、及び、第１部材が第３部材を介して第２部材に取り付けられている場合の両方を含む。

本明細書において、「第１部材と第２部材とが電気的に接続される」とは、第１部材と第２部材との間で電気が導通していることを意味する。従って、第１部材と第２部材とが接触していてもよいし、第１部材と第２部材とが接触していなくてもよい。第１部材と第２部材とが接触していない場合には、第１部材及び第２部材に接触する導電性を有する第３部材が設けられている。

本明細書において、直径とは、円形状を有する部材の直径を意味する。ただし、円形状の部材は、真円を有する部材のみならず、製造ばらつきなどにより僅かに真円から外れた真円に近い形状を有する部材も含む。この場合、直径は、円形状を有する部材の直径の内の最大値を意味する。

検査用コネクタ１０は、電子機器内を伝送される高周波信号の測定に用いられる。本実施形態では、検査用コネクタ１０は、例えば、数百ＭＨｚ～数十ＧＨｚの周波数を有する高周波信号の測定に用いられる。検査用コネクタ１０は、図１に示すように、プランジャ１２（第２ハウジング）、ハウジング１４（第１ハウジング）、フランジ１６、スライド部材１７、スプリング１８、アダプタ２０、中心導体部２２、ブッシング２４（絶縁性部材、図２，３参照）、ブッシング２６（図３参照）及び同軸ケーブル２０２を備えている。

同軸ケーブル２０２は、図４に示すように、中心導体線２０４、外部導体２０６、絶縁体２０８及び被膜２１０（図３参照）を備えている。中心導体線２０４は、同軸ケーブル２０２の芯線である。従って、中心導体線２０４は、同軸ケーブル２０２の中心に位置する。中心導体線２０４は、低抵抗な導体により作製されている。中心導体線２０４は、例えば、銅により作製されている。

外部導体２０６は、中心導体線２０４の周囲に設けられている。従って、外部導体２０６は、同軸ケーブル２０２が延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。このような外部導体２０６は、例えば、細い導線が編まれることにより作製されている。外部導体２０６は、低抵抗な導体により作製されている。外部導体２０６は、例えば、銅により作製されている。

絶縁体２０８（第１絶縁性部材）は、中心導体線２０４と外部導体２０６とを絶縁する。絶縁体２０８は、中心導体線２０４と外部導体２０６との間に設けられている。絶縁体２０８は、中心導体線２０４の周囲に設けられている。絶縁体２０８の周囲は、外部導体２０６により囲まれている。絶縁体２０８は、同軸ケーブル２０２が延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。絶縁体２０８は、絶縁性を有する樹脂により作製されている。絶縁体２０８は、例えば、ポリエチレンにより作製されている。また、同軸ケーブル２０２がしなやかに変形できるように、絶縁体２０８には複数の孔が設けられている。

被膜２１０は、外部導体２０６の周囲に設けられている。従って、被膜２１０は、同軸ケーブル２０２が延びる方向に直交する断面において、円環形状を有している。被膜２１０は、絶縁性を有する樹脂により作製されている。被膜２１０は、例えば、ポリエチレンにより作製されている。ただし、被膜２１０には、複数の孔が設けられていない、又は、絶縁体２０８より少ない孔が設けられている。そのため、被膜２１０は、絶縁体２０８より変形しにくい。従って、被膜２１０のヤング率は、絶縁体２０８のヤング率より大きい。

同軸ケーブル２０２の下端部では、図４に示すように、外部導体２０６、絶縁体２０８及び被膜２１０が除去されることにより、中心導体線２０４が露出している。以下では、中心導体線２０４が露出している部分を中心導体線露出部Ｐ１１と呼ぶ。また、中心導体線露出部Ｐ１１の上において、外部導体２０６及び被膜２１０が除去されることにより絶縁体２０８が露出している。以下では、絶縁体２０８が露出している部分を絶縁体露出部Ｐ１２と呼ぶ。また、絶縁体露出部Ｐ１２の上において、被膜２１０が除去されることにより外部導体２０６が露出している。以下では、外部導体２０６が露出している部分を外部導体露出部Ｐ１３と呼ぶ。

ハウジング１４は、図３に示すように、上下方向に延びる中心軸線を有する筒形状を有する導体部材である。ハウジング１４には、図３に示すように、上下方向に延びる貫通孔Ｈ２が設けられている。貫通孔Ｈ２は、ハウジング１４の上端から下端までを貫通している。同軸ケーブル２０２は、ハウジング１４内において上下方向に延びている。このようなハウジング１４は、導電性を有する金属により作製されている。ハウジング１４は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

プランジャ１２は、図３に示すように、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である。プランジャ１２には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ１が設けられている。貫通孔Ｈ１は、プランジャ１２の上端から下端までを貫通している。プランジャ１２は、ハウジング１４の下に設けられている。本実施形態では、プランジャ１２の中心軸線は、ハウジング１４の中心軸線と一致している。このようなプランジャ１２は、導電性の高い金属により作製されている。プランジャ１２は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

アダプタ２０は、図４に示すように、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である。アダプタ２０は、下面Ｓ１を有している。下面Ｓ１は、上方向に見たときに、アダプタ２０において観察者が視認できる部分である。アダプタ２０には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ３が設けられている。貫通孔Ｈ３は、アダプタ２０の上端から下端までを貫通している。アダプタ２０は、ハウジング１４の下端部に固定されている。具体的には、ハウジング１４の下端部は、アダプタ２０の上部に挿入されている。アダプタ２０とハウジング１４とは、圧入により固定されている。また、アダプタ２０は、プランジャ１２の上端部に固定されている。具体的には、アダプタ２０の下部は、プランジャ１２の上端部に挿入されている。アダプタ２０とプランジャ１２とは、圧入により固定されている。また、アダプタ２０と外部導体２０６とは、はんだにより電気的に接続されている。プランジャ１２とアダプタ２０とも、はんだにより電気的に接続されていることが好ましい。これにより、プランジャ１２、アダプタ２０及びハウジング１４は、下から上へとこの順に並んでいる。そして、アダプタ２０は、ハウジング１４の下端部においてハウジング１４の外周面と接しているとともに、プランジャ１２の上端部においてプランジャ１２の内周面と接している。また、プランジャ１２、アダプタ２０及びハウジング１４は、互いに電気的に接続されている。また、プランジャ１２の中心軸線、アダプタ２０の中心軸線及びハウジング１４の中心軸線は、一致している。このようなアダプタ２０は、導電性の高い金属により作製されている。アダプタ２０は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

アダプタ２０は、同軸ケーブル２０２の外部導体２０６を支持している。外部導体２０６は、アダプタ２０の上面に形成され、下方向に窪んだ形状を有する凹部３００に入り込んでアダプタ２０に支持されている。より詳細には、同軸ケーブル２０２の外部導体露出部Ｐ１３は、アダプタ２０内において上下方向に延びている。同軸ケーブル２０２の外部導体２０６は、はんだによりアダプタ２０に固定されている。これにより、アダプタ２０は、外部導体２０６に電気的に接続されている。

中心導体部２２は、図３に示すように、同軸ケーブル２０２の中心導体線２０４に電気的に接続されている。具体的には、中心導体線露出部Ｐ１１は、中心導体部２２の上端部に挿入されている。中心導体線２０４は、はんだにより中心導体部２２の上端部に固定されている。

中心導体部２２は、プランジャ１２内において上下方向に延びている。中心導体部２２の下端部は、プランジャ１２の下端から下方向に突出している。中心導体部２２は、バレル２２０、スプリング２２２及び測定ピン２２４を含んでいる。

バレル２２０は、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である。バレル２２０の下端は開口している。バレル２２０の上端は塞がっている。バレル２２０の上端部は、中心導体線２０４の下端部に電気的に接続されている。中心導体線２０４の下端部は、はんだによりバレル２２０の上端部に固定されている。また、バレル２２０は、後述するスプリング２２２及び測定ピン２２４を保持している。このようなバレル２２０は、導電性の高い金属により作製されている。バレル２２０は、例えば、黄銅により作製されている。

測定ピン２２４は、上下方向に延びる棒状の導体部材である。測定ピン２２４の下端部は、プランジャ１２の下端から下方向に突出している。測定ピン２２４の上部は、バレル２２０の下端からバレル２２０内に挿入されている。測定ピン２２４は、バレル２２０にガイドされることにより、バレル２２０に対して上下方向にスライドすることができる。このような測定ピン２２４は、導電性の高い金属により作製されている。測定ピン２２４は、例えば、黄銅により作製されている。

スプリング２２２は、バレル２２０内に設けられている。スプリング２２２の上端は、バレル２２０の内周面の上端に接触している。スプリング２２２の下端は、測定ピン２２４の上端に接触している。これにより、スプリング２２２は、測定ピン２２４を下方向に押している。また、測定ピン２２４が上方向に押されると、スプリング２２２が縮む。これにより、測定ピン２２４は、バレル２２０に対して上方向に変位する。

ブッシング２４は、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する絶縁性部材（第２絶縁性部材）である。ブッシング２４は、図４に示すように、上面Ｓ２を有している。上面Ｓ２は、下方向に見たときに、ブッシング２４において観察者が視認できる部分である。ブッシング２４には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ４が設けられている。貫通孔Ｈ４は、ブッシング２４の上端から下端までを貫通している。ブッシング２４は、アダプタ２０の下に設けられている。ブッシング２４は、アダプタ２０に接触している。アダプタ２０の下面Ｓ１とブッシング２４の上面Ｓ２とは接触している。

ブッシング２４は、中心導体部２２がプランジャ１２内において上下方向に延びるように、中心導体部２２を支持している。そこで、中心導体部２２のバレル２２０の上端部は、ブッシング２４の下部に挿入されている。ブッシング２４が絶縁性部材であるので、プランジャ１２と中心導体部２２とは絶縁されている。また、同軸ケーブル２０２の中心導体線２０４は、ブッシング２４内において上下方向に延びている。このようなブッシング２４は、比誘電率が２．１程度の樹脂材料により作製されている。

ブッシング２６は、図３に示すように、上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する絶縁性部材（第２絶縁性部材）である。ただし、ブッシング２６の上部の直径は、ブッシング２６の下部の直径より大きい。ブッシング２６には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ５が設けられている。貫通孔Ｈ５は、ブッシング２６の上端から下端までを貫通している。ブッシング２６は、プランジャ１２内であって、プランジャ１２の下端部に設けられている。ブッシング２６は、中心導体部２２がプランジャ１２内において上下方向に延びるように、中心導体部２２を支持している。そこで、中心導体部２２のバレル２２０の下端部及び測定ピン２２４の下部は、ブッシング２６に挿入されている。ブッシング２６が絶縁性部材であるので、プランジャ１２と中心導体部２２とは絶縁されている。このようなブッシング２６は、比誘電率が２．１程度の樹脂材料により作製されている。

フランジ１６は、図３に示すように、板形状を有する部材である。フランジ１６は、下方向に見たときに、長方形状を有する。フランジ１６は、上下方向において、ハウジング１４の上端部近傍に設けられる。フランジ１６には、上下方向に延びる貫通孔Ｈ６が設けられている。ハウジング１４は、貫通孔Ｈ６内を上下方向に延びている。ただし、ハウジング１４の上端部の直径は、フランジ１６の貫通孔Ｈ６の直径より大きい。そのため、ハウジング１４は、貫通孔Ｈ６を下方向に向かって通過することができない。このようなフランジ１６は、導電性の高い金属により作製されている。フランジ１６は、例えば、ＳＵＳにより作製されている。

スライド部材１７は、図３に示すように、円環形状を有する部材である。ハウジング１４は、スライド部材１７を貫通している。スライド部材１７は、フランジ１６の下に設けられている。スライド部材１７は、フランジ１６と一体となってハウジング１４に対して上下方向にスライドすることができる。

スプリング１８は、スライド部材１７を上方向に押す。スプリング１８は、アダプタ２０を下方向に押す。より詳細には、スプリング１８の上端は、スライド部材１７の下面に固定されている。スプリング１８の下端は、アダプタ２０の上端に固定されている。アダプタ２０が上方向に押されると、スプリング１８が縮んで、アダプタ２０がフランジ１６に対して上方向に変位する。

次に、アダプタ２０の下面Ｓ１及びブッシング２４の上面Ｓ２について図４を参照しながらより詳細に説明する。アダプタ２０とブッシング２４とは接触している。また、ブッシング２４は、アダプタ２０の下に設けられている。そのため、アダプタ２０の下面Ｓ１とブッシング２４の上面Ｓ２とは接触している。

また、アダプタ２０の下面Ｓ１は、上方向に窪んだ形状を有する凹面１００を含んでいる。凹面１００は、上方向に見たときに、円形状を有している。凹面１００とは、下面Ｓ１において下面Ｓ１の下端を形成する部分より上に窪んだ部分である。下面Ｓ１の下端を形成する部分は、上下方向に直交する円環形状の平面である。上方向に見たときの凹面１００の直径の最大値ｒ１は、プランジャ１２の内周面の直径Ｒ１より小さい。上方向に見たときの凹面１００の直径の最小値ｒ２は、外部導体２０６の内周面の直径Ｒ２より大きい。本実施形態では、凹面１００の上端における凹面１００の直径は、凹面１００の下端における凹面１００の直径より小さい。更に、凹面１００は、上方向に行くにしたがって凹面１００の直径が連続して減少するように、上下方向に対して傾斜する第１傾斜面を有している。すなわち、凹面１００は、円錐台形状を有している。そのため、凹面１００の上端における凹面１００の直径は、上方向に見たときの凹面１００の直径の最小値ｒ２である。凹面１００の下端における凹面１００の直径は、上方向に見たときの凹面１００の直径の最大値ｒ１である。

また、ブッシング２４の上面Ｓ２は、上方向に突出する形状を有する凸面１２０を含んでいる。凸面１２０は、下方向に見たときに、円形状を有している。凸面１２０は、凹面１００に嵌っている。従って、凸面１２０は、ブッシング２４の上面Ｓ２の内の凹面１００と接触している部分である。下方向に見たときの凸面１２０の直径の最大値ｒ３は、プランジャ１２の内周面の直径Ｒ１より小さい。下方向に見たときの凸面１２０の直径の最小値ｒ４は、外部導体２０６の内周面の直径Ｒ２より大きい。本実施形態では、凸面１２０の上端における凸面１２０の直径は、凸面１２０の下端における凸面１２０の直径より小さい。更に、凸面１２０は、上方向に行くにしたがって凸面１２０の直径が連続して減少するように、上下方向に対して傾斜する第２傾斜面を有している。すなわち、凸面１２０は、円錐台形状を有している。そのため、凸面１２０の上端における凸面１２０の直径は、下方向に見たときの凸面１２０の直径の最小値ｒ４である。凸面１２０の下端における凸面１２０の直径は、下方向に見たときの凸面１２０の直径の最大値ｒ３である。

中心導体線２０４は、上方向に見たときに、凹面１００の外縁内に位置している。本実施形態では、中心導体線２０４は、上方向に見たときに、凹面１００の中心を上下方向に通過している。同様に、中心導体線２０４は、下方向に見たときに、凸面１２０の外縁内に位置している。中心導体線２０４は、下方向に見たときに、凸面１２０の中心を上下方向に通過している。

また、絶縁体露出部Ｐ１２は、凹面１００の上端と凹面１００の下端との間において上下方向に延びている。そのため、凹面１００の上端と凹面１００の下端との間では、中心導体線２０４と凹面１００との間には導体が存在しない。

以上のような検査用コネクタ１０は、電気式の回路基板に実装されたコネクタに接続される。この際、測定ピン２２４は、コネクタの信号端子に接触する。これにより、測定ピン２２４には、高周波信号が印加される。そのため、中心導体部２２を介して中心導体線２０４に高周波信号が印加される。また、プランジャ１２は、コネクタのグランド端子に接触する。これにより、プランジャ１２には、グランド電位が印加される。そのため、アダプタ２０を介して外部導体２０６にグランド電位が印加される。

［効果］
検査用コネクタ１０によれば、検査用コネクタ１０において特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。以下に、図５を参照しながら説明する。図５は、図４の断面図を模式化した図である。そのため、図５での各部の寸法は、図４での各部の寸法とは異なる。また、理解の用意のために、図５では、ブッシング２４の記載を省略してある。また、凹面１００については太線で示した。

以下では、アダプタ２０の凹面１００の上端より上の区間を区間Ａ１と定義する。アダプタ２０の凹面１００の上端より下、かつ、アダプタ２０の凹面１００の下端より上の区間を区間Ａ２と定義する。アダプタ２０の凹面１００の下端より下の区間を区間Ａ３と定義する。また、高周波信号が伝送される部分を伝送部と呼ぶ。グランド電位に保たれる部分をグランド部と呼ぶ。

区間Ａ１では、伝送部は、中心導体線２０４である。グランド部は、外部導体２０６である。そのため、区間Ａ１では、伝送部とグランド部との距離は、中心導体線２０４の外周面と外部導体２０６の内周面との距離ｄ１である。区間Ａ３では、伝送部は、バレル２２０である。グランド部は、プランジャ１２である。そのため、区間Ａ３では、伝送部とグランド部との距離は、バレル２２０の外周面とプランジャ１２の内周面との距離ｄ３である。図４からも明らかなように、距離ｄ３は、距離ｄ１より大きい。

区間Ａ２では、伝送部は、中心導体線２０４である。グランド部は、アダプタ２０である。そのため、区間Ａ２では、伝送部とグランド部との距離は、中心導体線２０４の外周面とアダプタ２０の凹面１００との距離ｄ２である。そして、上方向に見たときの凹面１００の直径の最大値ｒ１は、プランジャ１２の内周面の直径Ｒ１より小さい。上方向に見たときの凹面１００の直径の最小値ｒ２は、外部導体２０６の内周面の直径Ｒ２より大きい。そして、中心導体線２０４は、上方向に見たときに、凹面１００の外縁内に位置している。このような構成により、区間Ａ１から区間Ａ３への急激なインピーダンス変化を区間Ａ２によって緩和することができる。つまり、区間Ａ１と区間Ａ３との間において、伝送部とグランド部との距離が大きく変動することが抑制される。その結果、検査用コネクタ１０において特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。

また、検査用コネクタ１０では、中心導体線２０４は、上方向に見たときに、凹面１００の中心を上下方向に通過している。これにより、区間Ａ２における検査用コネクタ１０の特性インピーダンスを精度よく設定することが可能となる。

また、検査用コネクタ１０では、凹面１００は、上方向に行くにしたがって凹面１００の直径が連続して減少するように、上下方向に対して傾斜する第１傾斜面を有している。これにより、区間Ａ２において、伝送部とグランド部との距離が連続的に増加する。区間Ａ２において、伝送部とグランド部との距離が急激に変動することが抑制される。その結果、検査用コネクタ１０において特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。

また、凹面１００が第１傾斜面を有しているので、アダプタ２０とブッシング２４との接続時に、ブッシング２４は、凹面１００がアダプタ２０から受ける垂直抗力により、上下方向に対して垂直な方向にアダプタ２０から力を受ける。これにより、アダプタ２０とブッシング２４とが強固に接触するようになる。その結果、中心導体部２２の位置決め精度を向上させることができる。

また、ブッシング２４の上面Ｓ２は、上方向に突出する形状を有する凸面１２０を含んでいる。凸面１２０は、凹面１００に嵌っている。これにより、凹面１００に囲まれた領域内にブッシング２４が存在するようになる。

（第１の変形例）
以下に、第１の変形例に係る検査用コネクタ１０ａについて図面を参照しながら説明する。図６は、検査用コネクタ１０ａのアダプタ２０近傍の断面図である。

検査用コネクタ１０ａは、凹面１００及び凸面１２０の形状において検査用コネクタ１０と相違する。具体的には、凹面１００は、上方向に行くにしたがって凹面１００の直径が不連続して減少するように、階段形状を有する第１階段形状面を有している。同様に、凸面１２０は、上方向に行くにしたがって凸面１２０の直径が不連続して減少するように、階段形状を有する第２階段形状面を有している。なお、検査用コネクタ１０ａのその他の構成は、検査用コネクタ１０と同じであるので説明を省略する。

以上のように構成された検査用コネクタ１０ａによれば、検査用コネクタ１０と同じ理由により、検査用コネクタ１０ａにおいて特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。また、検査用コネクタ１０ａによれば、検査用コネクタ１０と同じ理由により、区間Ａ２における検査用コネクタ１０ａの特性インピーダンスを精度よく設定することが可能となる。また、検査用コネクタ１０ａによれば、検査用コネクタ１０と同じ理由により、凹面１００に囲まれた領域内にブッシング２４が存在するようになる。

（第２の変形例）
以下に、第２の変形例に係る検査用コネクタ１０ｂについて図面を参照しながら説明する。図７は、検査用コネクタ１０ｂのアダプタ２０近傍の断面図である。

検査用コネクタ１０ｂは、凹面１００及び凸面１２０の形状において検査用コネクタ１０と相違する。具体的には、凹面１００は、一定の直径を有している。すなわち、凹面１００は、円柱形状を有している。同様に、凸面１２０は、一定の直径を有している。すなわち、凸面１２０は、円柱形状を有している。なお、検査用コネクタ１０ｂのその他の構成は、検査用コネクタ１０と同じであるので説明を省略する。

以上のように構成された検査用コネクタ１０ｂによれば、検査用コネクタ１０と同じ理由により、検査用コネクタ１０ｂにおいて特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。また、検査用コネクタ１０ｂによれば、検査用コネクタ１０と同じ理由により、区間Ａ２における検査用コネクタ１０ｂの特性インピーダンスを精度よく設定することが可能となる。また、検査用コネクタ１０ｂによれば、検査用コネクタ１０と同じ理由により、凹面１００に囲まれた領域内にブッシング２４が存在するようになる。

なお、凹面１００の下端が中心導体線２０４の近くに位置する。そのため、アダプタ２０と中心導体線２０４とのショートを防ぐために、凹面１００の下端と中心導体線２０４との距離を十分に確保しておくことが望ましい。

（第３の変形例）
以下に、第２の変形例に係る検査用コネクタ１０ｃについて図面を参照しながら説明する。図８は、検査用コネクタ１０ｃのブッシング２６近傍の断面図である。

検査用コネクタ１０ｃは、ブッシング２６の形状において検査用コネクタ１０と相違する。具体的には、ブッシング２６の上部の下端の角に面取りが施されていてもよい。ブッシング２６の下部の下端の角に面取りが施されていてもよい。プランジャ１２は、ブッシング２６の面取り部に沿った傾斜面を有していることが好ましい。これにより、プランジャ１２の傾斜面は、ブッシング２６の面取り部の抜け止めとして機能する。更に、プランジャ１２の傾斜面は、測定ピン２２４の先細りによるプランジャ１２と測定ピン２２４との距離が増加することを抑制できる。なお、検査用コネクタ１０ｃのその他の構成は、検査用コネクタ１０と同じであるので説明を省略する。

（第４の変形例）
以下に、第４の変形例に係る検査用コネクタ１０ｄについて図面を参照しながら説明する。図９は、検査用コネクタ１０ｄのアダプタ２０近傍の断面図である。

検査用コネクタ１０ｄは、リング部材２００を更に備えている点において検査用コネクタ１０ｂと相違する。以下に、かかる相違点を中心に検査用コネクタ１０ｄについて説明する。

検査用コネクタ１０ｄでは、絶縁体露出部Ｐ１２が存在しない。従って、外部導体露出部Ｐ１３が中心導体線露出部Ｐ１１の上において中心導体線露出部Ｐ１１に隣接している。中心導体線露出部Ｐ１１は、凹面１００の上端と凹面１００の下端との間に位置する区間Ａ２において上下方向に延びている。そのため、同軸ケーブル２０２において凹面１００の上端と凹面１００の下端との間に位置する区間Ａ２では、中心導体線２０４の周囲に外部導体２０６及び絶縁体２０８が存在しない。換言すれば、外部導体２０６及び絶縁体２０８の下端は、区間Ａ１の下端及び区間Ａ２の上端に一致する。そして、区間Ａ１の下端及び区間Ａ２の上端から、中心導体線２０４が下方向に突出している。

リング部材２００は、円環形状を有する導電部材である。リング部材２００の外周面の直径は、外部導体２０６の内周面の直径よりも小さい。リング部材２００は、同軸ケーブル２０２において凹面１００の上端と凹面１００の下端との間に位置する区間Ａ２において、中心導体線２０４と電気的に接続された状態で、中心導体線２０４の周囲に設けられている。リング部材２００は、中心導体線２０４にはんだにより固定されている。そのため、リング部材２００の内周面と中心導体線２０４の外周面との隙間は、はんだにより満たされている。なお、検査用コネクタ１０ｄのその他の構成は、検査用コネクタ１０ｂと同じであるので説明を省略する。

以上のような検査用コネクタ１０ｄによれば、検査用コネクタ１０ｄにおいて特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。区間Ａ１では、伝送部は、中心導体線２０４である。グランド部は、外部導体２０６である。そのため、区間Ａ１では、伝送部とグランド部との距離は、中心導体線２０４の外周面と外部導体２０６の内周面との距離ｄ１である。区間Ａ３では、伝送部は、バレル２２０である。グランド部は、プランジャ１２である。そのため、区間Ａ３では、伝送部とグランド部との距離は、バレル２２０の外周面とプランジャ１２の内周面との距離ｄ３である。図８からも明らかなように、距離ｄ３は、距離ｄ１より大きい。

そこで、リング部材２００は、同軸ケーブル２０２において凹面１００の上端と凹面１００の下端との間に位置する区間Ａ２において、中心導体線２０４と電気的に接続された状態で、中心導体線２０４の周囲に設けられている。これにより、区間Ａ２において、伝送部とグランド部との距離が小さくなる。よって、区間Ａ１と区間Ａ３との間において、伝送部とグランド部との距離が大きく変動することが抑制される。その結果、検査用コネクタ１０ｄにおいて特性インピーダンスが変化しやすい部分における特性インピーダンスの変動を抑制できる。

また、検査用コネクタ１０ｄによれば、リング部材２００の内周面と中心導体線２０４の外周面との隙間は、はんだにより満たされている。リング部材２００の内周面に高周波信号が回り込むことが抑制され、高周波信号がリング部材２００の外周面を伝送される。

また、検査用コネクタ１０ｄによれば、リング部材２００の外周面の直径は、外部導体２０６の内周面の直径よりも小さい。そのため、リング部材２００が外部導体２０６に接触することが抑制される。

また、検査用コネクタ１０ｄによれば、アダプタ２０の下部をプランジャ１２により支持している。そのため、アダプタ２０のプランジャ１２に対する位置精度を向上させることができる。

（その他の実施形態）
なお、検査用コネクタ１０，１０ａ～１０ｄの構成を任意に組み合わせてもよい。

なお、検査用コネクタ１０，１０ａ～１０ｄにおいて、中心導体線２０４は、上方向に見たときに、凹面１００の中心以外の位置を上下方向に通過していてもよい。

なお、検査用コネクタ１０，１０ａ～１０ｄにおいて、凹面１００の上端における凹面１００の直径は、凹面１００の下端における凹面１００の直径以上であってもよい。また、凸面１２０の上端における凸面１２０の直径は、凸面１２０の下端における凸面１２０の直径以上であってもよい。

なお、検査用コネクタ１０，１０ｃにおいて、凹面１００は、上方向に行くにしたがって凹面１００の直径が連続して増加するように、上下方向に対して傾斜する傾斜面を有していてもよい。また、凸面１２０は、上方向に行くにしたがって凸面１２０の直径が連続して増加するように、上下方向に対して傾斜する傾斜面を有していてもよい。

なお、検査用コネクタ１０ａにおいて、凹面１００は、上方向に行くにしたがって凹面１００の直径が不連続して増加するように、階段形状を有する階段形状面を有していてもよい。

なお、検査用コネクタ１０，１０ａ～１０ｄにおいて、ブッシング２４の上面Ｓ２は、上方向に突出する形状を有する凸面１２０を含んでいなくてもよい。

１０，１０ａ～１０ｄ：検査用コネクタ
１２：プランジャ
１４：ハウジング
１６：フランジ
１７：スライド部材
１８，２２２：スプリング
２０：アダプタ
２２：中心導体部
２４，２６：ブッシング
１００：凹面
１２０：凸面
２００：リング部材
２０２：同軸ケーブル
２０４：中心導体線
２０６：外部導体
２０８：絶縁体
２１０：被膜
２２０：バレル
２２４：測定ピン
３００：凹部
Ａ１～Ａ３：区間
Ｈ１～Ｈ６：貫通孔
Ｐ１１：中心導体線露出部
Ｐ１２：絶縁体露出部
Ｐ１３：外部導体露出部
Ｓ１：下面
Ｓ２：上面

Claims (13)

1. 中心導体線、前記中心導体線の周囲に設けられている外部導体、及び、前記中心導体線と前記外部導体との間に設けられ、かつ、前記中心導体線と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁性部材を含んでいる同軸ケーブルと、
   上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第１ハウジングであって、前記同軸ケーブルは、前記第１ハウジング内において上下方向に延びている、前記第１ハウジングと、
   上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第２ハウジングであって、前記第１ハウジングの下に配置されている前記第２ハウジングと、
   前記第１ハウジングの下端部に固定されていると共に、前記第２ハウジングの上端部に固定されているアダプタであって、前記同軸ケーブルの前記外部導体を支持する導体部材であるアダプタと、
   前記同軸ケーブルの前記中心導体線に電気的に接続されている中心導体部と、
   前記アダプタの下に設けられている第２絶縁性部材であって、前記中心導体部が前記第２ハウジング内において上下方向に延びるように、前記中心導体部を支持している前記第２絶縁性部材と、
   を備えており、
   前記アダプタの下面は、上方向に窪んだ形状を有する凹面を含んでおり、
   前記凹面は、上方向に見たときに、円形状を有しており、
   上方向に見たときの前記凹面の直径の最大値は、前記第２ハウジングの内周面の直径より小さく、
   上方向に見たときの前記凹面の直径の最小値は、前記外部導体の内周面の直径より大きく、
   前記中心導体線は、上方向に見たときに、前記凹面の外縁内に位置している、
   検査用コネクタ。
2. 前記中心導体線は、上方向に見たときに、前記凹面の中心を上下方向に通過している、請求項１に記載の検査用コネクタ。
3. 前記凹面の上端における前記凹面の直径は、前記凹面の下端における前記凹面の直径より小さい、
   請求項１又は請求項２のいずれかに記載の検査用コネクタ。
4. 前記凹面は、上方向に行くにしたがって前記凹面の直径が連続して減少するように、上下方向に対して傾斜する第１傾斜面を有している、
   請求項３に記載の検査用コネクタ。
5. 前記凹面は、上方向に行くにしたがって前記凹面の直径が不連続して減少するように、階段形状を有する第１階段形状面を有している、
   請求項３に記載の検査用コネクタ。
6. 前記第２絶縁性部材の上面は、上方向に突出する形状を有する凸面を含んでおり、
   前記凸面は、前記凹面に嵌っている、
   請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の検査用コネクタ。
7. 前記アダプタの上面には、下方向に窪んだ形状を有する凹部が形成されており、
   前記外部導体が前記凹部に入り込んで前記アダプタに支持されている、
   請求項１ないし請求項６のいずれかに記載の検査用コネクタ。
8. 前記アダプタは、前記第１ハウジングの下端部において前記第１ハウジングの外周面と接しているとともに、前記第２ハウジングの上端部において前記第２ハウジングの内周面と接している、
   請求項１ないし請求項７のいずれかに記載の検査用コネクタ。
9. 中心導体線、前記中心導体線の周囲に設けられている外部導体、及び、前記中心導体線と前記外部導体との間に設けられ、かつ、前記中心導体線と前記外部導体とを絶縁する第１絶縁性部材を含んでいる同軸ケーブルと、
   上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第１ハウジングであって、前記同軸ケーブルは、前記第１ハウジング内において上下方向に延びている、前記第１ハウジングと、
   上下方向に延びる中心軸線を有する円筒形状を有する導体部材である第２ハウジングであって、前記第１ハウジングの下に設けられている前記第２ハウジングと、
   前記第１ハウジングの下端部に固定されていると共に、前記第２ハウジングの上端部に固定されているアダプタであって、前記同軸ケーブルの前記外部導体を支持する導体部材であるアダプタと、
   前記同軸ケーブルの前記中心導体線に電気的に接続されている中心導体部と、
   前記アダプタの下に設けられている第２絶縁性部材であって、前記中心導体部が前記第２ハウジング内において上下方向に延びるように、前記中心導体部を支持している前記第２絶縁性部材と、
   円環形状を有する導電部材であるリング部材と、
   を備えており、
   前記アダプタの下面は、上方向に窪んだ形状を有する凹面を含んでおり、
   前記凹面は、上方向に見たときに、円形状を有しており、
   前記中心導体線は、上方向に見たときに、前記凹面の外縁内に位置しており、
   前記同軸ケーブルにおいて前記凹面の上端と前記凹面の下端との間に位置する区間では、前記中心導体線の周囲に前記外部導体及び前記第１絶縁性部材が存在せず、
   前記リング部材は、前記同軸ケーブルにおいて前記凹面の上端と前記凹面の下端との間に位置する区間において、前記中心導体線と電気的に接続された状態で、前記中心導体線の周囲に設けられている、
   検査用コネクタ。
10. 前記リング部材の外周面の直径は、前記外部導体の内周面の直径よりも小さい、
    請求項９に記載の検査用コネクタ。
11. 前記アダプタの上面には、下方向に窪んだ形状を有する凹部が形成されており、
    前記外部導体が前記凹部に入り込んで前記アダプタに支持されている、
    請求項９または請求項１０に記載の検査用コネクタ。
12. 前記アダプタは、前記第１ハウジングの下端部において前記第１ハウジングの外周面と接しているとともに、前記第２ハウジングの上端部において前記第２ハウジングの内周面と接している、
    請求項９ないし請求項１１のいずれかに記載の検査用コネクタ。
13. 前記中心導体線は、前記アダプタを上下方向に貫通している、
    請求項１ないし請求項１２のいずれかに記載の検査用コネクタ。

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