JP7254576B2 - 光電変換装置、信号処理回路、撮像システム、移動体 - Google Patents

光電変換装置、信号処理回路、撮像システム、移動体 Download PDF

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Description

本発明は、光電変換装置、信号処理回路、撮像システム、移動体に関する。
入射する光に基づいた電気信号を出力する光電変換装置が知られている。このような光電変換装置において、例えば光電変換装置の信号を用いて画像を生成する場合には、画像の白飛びや黒沈みを低減させることが求められている。
特許文献1では、画素が異なるタイミングで出力する複数の信号のそれぞれを複数のゲインで増幅させることで、複数の出力信号を得ている。すべての複数の出力信号が並行して出力部に出力される動作もまた、記載されている。
特開2010-16416号公報
特許文献1に記載の技術では、複数の出力信号の出力順序について、検討が充分では無い。光電変換装置では種々の出力方式への対応が求められる。特許文献1では、すべての複数の出力信号の出力部への並行出力を行わない場合における、複数の出力信号の出力部への出力順序について検討されていない。
複数の出力信号の出力部への並行出力を行わない場合を考える。このとき、出力部から信号を入力される信号処理回路は、付与されたゲインが互いに大きく異なる複数の出力信号が入力されると、ゲインの変更に伴う信号処理方法の変更動作が必要になることがある。この場合、変更動作のための期間が増加することによる単位時間あたりの信号処理量の低下が生じる。
本発明は上記の課題を鑑みて為されたものであり、一の態様は、第1信号、第2信号を異なるタイミングで出力する画素と、前記第1信号、前記第2信号を増幅して増幅信号を出力する増幅部と、前記増幅信号をAD変換してデジタル信号を出力するAD変換部と、前記デジタル信号が入力される出力部と、を有する光電変換装置であって、前記増幅部は、前記第1信号を第1ゲインで増幅した第1増幅信号と、前記第1信号を第2ゲインで増幅した第2増幅信号と、前記第2信号を第3ゲインで増幅した第3増幅信号と、前記第2信号を第4ゲインで増幅した第4増幅信号とを、この順で前記AD変換部に出力し、前記第1ゲイン、前記第2ゲイン、前記第3ゲイン、前記第4ゲインの大きさは、(1)前記第1ゲイン<前記第2ゲイン、前記第3ゲイン>前記第4ゲイン、(2)前記第1ゲイン>前記第2ゲイン、前記第3ゲイン<前記第4ゲイン、のいずれかの関係にあり、前記AD変換部は、前記第1増幅信号をAD変換して第1デジタル信号を生成し、前記第2増幅信号をAD変換して第2デジタル信号を生成し、前記第3増幅信号をAD変換して第3デジタル信号を生成し、前記第4増幅信号をAD変換して第4デジタル信号を生成し、前記AD変換部は、前記出力部に、前記第2デジタル信号と前記第3デジタル信号を、前記第1デジタル信号、前記第4デジタル信号よりも先に出力することを特徴とする光電変換装置である。
本発明により、複数の増幅信号の出力部への出力順序を好適なものにすることができ、出力部が出力する信号を受ける処理回路の処理時間も短縮可能にできる。
光電変換装置の構成を示す図 画素の構成を示す図 光電変換装置の動作を示す図 光電変換装置の構成を示す図 光電変換装置の動作を示す図 光電変換装置の構成を示す図 光電変換装置の動作を示す図 画素の構成を示す図 画素のレイアウトを示す図 光電変換装置の動作を示す図 撮像システムの構成を示す図 撮像システム、移動体の構成を示す図
[実施例1]
本実施例の光電変換装置について、図面を参照しながら説明する。なお、以下に述べる実施例中に記載されるトランジスタの導電型は一例のものであって、実施例中に記載された導電型のみに限定されるものでは無い。実施例中に記載された導電型に対し、導電型は適宜変更できるし、この変更に伴って、トランジスタのゲート、ソース、ドレインの電位は適宜変更される。例えば、スイッチとして動作させるトランジスタであれば、ゲートに供給する電位のローレベルとハイレベルとを、導電型の変更に伴って、実施例中の説明に対し逆転させるようにすればよい。また、以下に述べる実施例中に記載される半導体領域の導電型についても一例のものであって、実施例中に記載された導電型のみに限定されるものでは無い。実施例中に記載された導電型に対し、導電型は適宜変更できるし、この変更に伴って、半導体領域の電位は適宜変更される。
図1は、実施例1の光電変換装置の構成を示した図である。
画素アレイ1には、複数行および複数列に渡って複数の画素10が配されている。
垂直走査回路6は、複数行の画素10のそれぞれに対し、対応する1つの制御線群61によって接続されている。
タイミング制御回路5は、垂直走査回路6に対し、制御線51を介して接続されている。制御線51には、垂直走査回路6の走査を制御する垂直同期信号が出力される。また、タイミング制御回路5は、後述する参照電圧供給回路7、カウンタ8に対して、対応する制御線52、53を介して接続されている。制御線52には、参照電圧供給回路7が出力するランプ信号の電位の変化の開始、終了を制御する信号が出力される。また、制御線53には、クロックパルスが出力される。また、タイミング制御回路5は、保持部4に対して接続されている。
複数列の画素10のそれぞれに対し、対応する1つの信号線11が接続されている。
信号線11は、増幅部2に設けられた複数のアンプのうちの対応する1つのアンプ2-1に接続される。増幅部2のそれぞれのアンプ2-1は、画素10から出力された複数の信号のそれぞれを、複数のゲインで増幅することで、複数の増幅信号を生成する。
比較部3は、増幅部2に接続されている。比較部3は複数の比較器3-1を有している。複数の比較器3-1のそれぞれは、対応する1つのアンプ2-1から複数の増幅信号が入力される。また、比較部3は、参照信号線71を介して参照電圧供給回路7に接続されている。参照電圧供給回路7は、参照信号線71を介して、ランプ信号を複数の比較器3-1に出力する。比較器3-1は、参照電圧供給回路7から入力されるランプ信号と、複数の増幅信号のそれぞれとを比較し、当該比較の結果を示す比較結果信号を生成する。比較部3は、この比較結果信号の信号レベルの変化に基づいて保持部4にラッチ信号を出力する。
保持部4は比較部3に接続されている。また、保持部4はカウンタ8に、カウント信号線81を介して接続されている。カウンタ8は、タイミング制御回路5から出力されるクロックパルスをカウントすることによってカウント信号を生成する。
保持部4は、第1メモリ回路41、第2メモリ回路42、スイッチ92、スイッチ94を有する。第1メモリ回路41は、メモリ410、メモリ411、セレクタ412(選択回路)、スイッチ413、スイッチ414を有する。
第2メモリ回路42は、メモリ420、スイッチ421を有する。
メモリ410、411、420にはカウンタ8からカウント信号が入力される。
比較部3が出力するラッチ信号は、第1メモリ回路41、第2メモリ回路42に出力される。
タイミング制御回路5が出力する信号msel_n、mltx_en、msel_sによって、比較結果信号が入力されるメモリがメモリ410、411、420のいずれかに選択される。
セレクタ412は、タイミング制御回路5から入力される信号m2selによって、メモリ410、411の一方の信号を選択し、スイッチ92へ出力する。
スイッチ92、94は、水平走査回路9に接続されている。水平走査回路9から出力される走査信号hn(nは1以上の整数)によって、オン、オフが切り替えられる。
スイッチ92がオンすると、セレクタ412から出力される信号が第1出力線93に出力される。
スイッチ94がオンすると、メモリ420から出力される信号が第2出力線95に出力される。
第1出力線93、第2出力線95に出力された信号は、出力部55に入力される。出力部55は、第1出力線93、第2出力線95に出力された信号に対し、ノイズ低減処理、増幅処理、差分処理、誤差補正処理など、種々の処理を行って、光電変換装置の外部に信号を出力する。
増幅部2、比較部3、保持部4は、入力されるアナログ信号を処理する信号処理回路である。
図2は、画素10の構成を示した図である。
画素10は、フォトダイオード101(光電変換部)、転送トランジスタ102、リセットトランジスタ103、増幅トランジスタ104、および選択トランジスタ105の4つのトランジスタを有する構成となっている。
転送トランジスタ102、リセットトランジスタ103、および選択トランジスタ105のゲートには、図1で説明した通り、垂直走査回路6から出力される制御線群61が接続される。
転送トランジスタ102には転送パルスtx、リセットトランジスタ103にはリセットパルスres、選択トランジスタにはセレクトパルスselが図1の垂直走査回路6から入力される。増幅トランジスタ104のソースは、選択トランジスタ105を介して出力線11に接続している。画素10のフローティングディフュージョン(FD)は、転送トランジスタ102、リセットトランジスタ103、増幅トランジスタ104が接続されている。
次に、画素信号読み出し、AD変換、信号出力動作について説明する。
図3は本実施例における、任意の行での画素信号の読み出しから出力までの動作を示したタイミングチャートである。
時刻t0から時刻t1までの期間において、FDのリセットを行う。時刻t1以降、画素10は、リセットされたFDの電位に基づく信号(N信号)を出力する。
時刻t2に、増幅部2のゲインが、第1ゲインに設定される。また、参照電圧供給回路7によるランプ信号のランプ動作およびカウンタ8によるカウント動作が開始される。また、信号msel_nおよび信号mltx_enはHighレベルにあり、スイッチ413、414はオン状態にある。増幅部2に第1ゲインを設定するタイミングは、時刻t2よりも前にあらかじめ変更しておいてもよい。
この時刻t2に、増幅部2が出力する信号は、N信号を第1ゲインで増幅した信号である。この信号には、第1ゲインにおける増幅部2のオフセット成分が含まれる。
なお、増幅部2の前段に、画素10が出力するノイズを低減するCDS回路(CDSはCorrelated Double Samplingの略)を設ける場合が有る。この場合には、CDS回路がN信号を保持し、増幅部2の入力ノードは、増幅部2のリセットレベルとなる。よって、CDS回路が設けられている場合には、増幅部2が出力する信号は、第1ゲインにおける、増幅部2のオフセット信号が主成分の信号となる。
時刻t3に、ランプ信号と増幅部2の出力との大小関係が反転し、比較器3-1の比較結果信号が変化する。この変化によって、比較部3は保持部4にラッチ信号を出力する。
メモリ410、メモリ411にラッチ信号が入力され、そのタイミングでカウンタ8から入力されているカウント信号の値を保持する。これにより、メモリ410、411には、増幅部2の第1ゲインの設定によるN信号に対応するデジタル信号が保持される。なお、増幅部2の前段CDS回路が備わる場合には、メモリ410、411には、増幅部2の第1ゲインの設定によるオフセット成分に対応するデジタル信号が保持される。
AD変換完了後、ランプ信号およびカウント信号を初期化する。以降のAD変換についても、AD変換完了後は同様にランプ信号およびカウント信号を初期化する。
時刻t4に、信号mltx_enがLowレベルとなる。これによりスイッチ413はオフする。したがって、メモリ410にはラッチ信号が入力されなくなる。
時刻t5に、増幅部2が第1ゲインよりも高い第2ゲインに設定される。
この時刻t5に、増幅部2が出力する信号は、N信号を第2ゲインで増幅した信号である。この信号には、第2ゲインにおける増幅部2のオフセット成分が含まれる。
なお、増幅部2の前段に、画素10が出力するノイズを低減するCDS回路が設けられている場合には、増幅部2が出力する信号は、第2ゲインにおける、増幅部2のオフセット信号が主成分の信号となる。
そして、参照電圧供給回路7によるランプ信号のランプ動作およびカウンタ8によるカウント動作が開始される。
なお、増幅部2のゲインの設定タイミングは、時刻t4から時刻t5の間で変更しておいてもよい。
時刻t6に、ランプ信号との増幅部2の出力の大小関係が反転し、比較器3-1の比較結果信号が変化する。この変化によって、比較部3は保持部4にラッチ信号を出力する。
メモリ410にラッチ信号が入力され(メモリ411にはラッチ信号は入力されない)、そのタイミングでカウンタ8から入力されているカウント信号の値を保持する。これにより、メモリ410には、増幅部2の第2ゲインの設定によるN信号に対応するデジタル信号が保持される。なお、増幅部2の前段にCDS回路が備わる場合には、メモリ410には、増幅部2の第2ゲインの設定によるオフセット成分に対応するデジタル信号が保持される。
時刻t7に、垂直走査回路6は信号txをHighレベルに遷移させて転送トランジスタ102をオンする。これにより、フォトダイオード101が入射光に基づいて蓄積した電荷がFDに転送される。よって、画素10は、N信号に入射光に基づく信号が重畳された信号(S+N信号)を増幅部2に出力する。その後、垂直走査回路6は、信号txをLowレベルに遷移させる。
この時刻t8に、増幅部2が出力する信号は、S+N信号を第2ゲインで増幅した信号である。なお、この信号には、第2ゲインにおける増幅部2のオフセット成分が含まれる。
なお、増幅部2の前段に、画素10が出力するノイズを低減するCDS回路が設けられている場合がある。この場合は、増幅部2が出力する信号は、第2ゲインにおける増幅部2のオフセット信号と、S+N号とN信号の差分(つまりS信号)を第2ゲインで増幅させた信号が主成分の信号となる。
時刻t8に、参照電圧供給回路7によるランプ信号のランプ動作およびカウンタ8によるカウント動作を開始する。またタイミング制御回路5は、信号msel_nをLowレベルに遷移させ、スイッチ414をオフする。また、信号msel_sをHighレベルに遷移させ、スイッチ421をオンする。スイッチ414とスイッチ421の切替タイミングは、時刻t7から時刻t8の期間内であれば異なってもよい。
時刻t9に、ランプ信号と増幅部2の出力の大小関係が反転し、比較器3-1の比較結果信号が変化する。この変化によって、比較部3は保持部4にラッチ信号を出力する。
メモリ420にラッチ信号が入力され、そのタイミングでカウンタ8から入力されているカウント信号の値を保持する。これにより、メモリ420には、増幅部2の第2ゲインの設定によるS+N信号に対応するデジタル信号が保持される。なお、増幅部2の前段CDS回路が備わる場合には、メモリ410には、増幅部2の第2ゲインの設定によるオフセット成分と、S信号を第2ゲインで増幅した信号に対応するデジタル信号が保持される。
時刻t10から時刻t12の間で順次水平走査信号h1、h2、・・・hnを出力して各列のスイッチ92および94を第1出力線93および第2出力線95に接続し、各列の第2ゲイン設定によるNおよびS信号のAD変換結果を出力していく。
時刻t11にて、増幅部2の第1ゲイン設定にセットする。増幅部2が出力する信号は、S+N信号を第1ゲインで増幅した信号である。なお、この信号には、第1ゲインにおける増幅部2のオフセット成分が含まれる。
なお、増幅部2の前段に、画素10が出力するノイズを低減するCDS回路が設けられている場合がある。この場合には、増幅部2が出力する信号は、第1ゲインにおける増幅部2のオフセット信号と、S+N号とN信号の差分(つまりS信号)を第1ゲインで増幅させた信号が主成分の信号となる。
時刻t13に、参照電圧供給回路7によるランプ信号のランプ動作およびカウンタ8によるカウント動作を開始する。
また、タイミング制御回路5は信号m2selをHighレベルに遷移させて、メモリ411からデジタル信号が出力されるよう、セレクタ412を制御する。
時刻t14に、ランプ信号と増幅部2の出力の大小関係が反転し、比較器3-1の比較結果信号が変化する。この変化によって、比較部3は保持部4にラッチ信号を出力する。
メモリ410にラッチ信号が入力され、そのタイミングでカウンタ8から入力されているカウント信号の値を保持する。これにより、メモリ410には、増幅部2の第1ゲインの設定によるS+N信号に対応するデジタル信号が保持される。なお、増幅部2の前段にCDS回路が備わる場合には、メモリ410には、増幅部2の第21インの設定によるオフセット成分と、S信号を第1ゲインで増幅した信号に対応するデジタル信号が保持される。
AD変換完了後、タイミング制御回路5は、信号msel_sをLowレベルに遷移させてスイッチ421をオフする。
時刻t15から時刻t16の間で順次水平走査信号h1、h2、・・・hnを出力して各列のスイッチ92およびスイッチ94を第1出力線93および第2出力線95に接続し、各列の第1ゲイン設定によるN信号およびS信号のAD変換結果を出力していく。
時刻t17に、タイミング制御回路5は信号m2selをLowレベルに遷移させる。これにより、次行の画素10のN信号の入力に備えることができる。
以上説明したように、本実施例では、異なるゲインで読み出したN信号とS信号を従来技術に比べて少ない数のメモリで読み出すことが可能になり、回路規模を削減することができる。
なお、本実施例では、増幅部3のゲイン設定を、第1ゲイン、第2ゲイン、第1ゲインの順としていた。この例に限られるものでは無く、第2ゲイン、第1ゲイン、第2ゲインの順としても良い。この場合には、N信号を第2ゲインで増幅した信号、N信号を第1ゲインで増幅した信号、S信号を第1ゲインで増幅した信号、S信号を第2ゲインで増幅した信号の順で、増幅部3はそれぞれの信号を出力する。AD変換部は、この順でAD変換を行うため、保持部4のメモリ410、411が保持する信号は入れ換えることができる。また、メモリ420が保持する信号の順序はS_1、S_2の順となる。
なお、本実施例では、増幅部3のゲインは第1、第2ゲインの2つであったが、さらに多くのゲインを設定しても良い。例えば、N信号に付与するゲインは第1ゲイン、第2ゲインとし、S信号に付与するゲインは、第1ゲイン、第2ゲインとは値が異なる複数のゲインとするようにしても良い。すなわち、N信号、S信号に付与するゲインは、N信号に付与するゲインを第1、第2ゲイン、S信号に付与するゲインを第3、第4ゲインと表記すると、以下の(1)、(2)のいずれか関係であれば良い。
(1)第1ゲイン<第2ゲイン、第3ゲイン>第4ゲイン
(2)第1ゲイン>第2ゲイン、第3ゲイン<第4ゲイン
なお、第1ゲインと第4ゲインは同じ値であってもよく、第2ゲインと第3ゲインは同じ値であってもよい。
また、光電変換部が、信号電荷を生成し蓄積するフォトダイオードである例を示したが、他の例として、信号電荷をアバランシェ増倍するアバランシェフォトダイオードであってもよい。
[実施例2]
本実施例の光電変換装置について、実施例1と異なる点を中心に説明する。
図4は、本実施例の光電変換装置の構成を示した図である。
本実施例の光電変換装置は、第1メモリ回路41の構成が、実施例1と異なる。本実施例では、メモリ410の出力ノードが、セレクタ412と、メモリ411のそれぞれに入力ノードに接続されるように構成される。
メモリ412の信号の保持動作は、信号mltxによって制御される。
図5は、図4に示した光電変換装置における、所定の画素行の信号を処理する動作を示したタイミング図である。
時刻t3’に、ランプ信号と、アンプ2-1が出力する増幅信号との大小関係が反転することによって、比較器3-1の比較結果信号が変化する。この比較結果信号の出力の変化により、比較部3は、保持部4にラッチ信号を出力する。
メモリ410は、ラッチ信号が入力されるタイミングに入力されているカウント信号の値を保持する。これにより、第1ゲイン設定によるN信号のAD変換が完了する。この時、メモリ411は更新されない。
次に、時刻t4’に、タイミング制御回路5は、信号mltxの信号レベルをHighレベルに遷移させる。
これにより、メモリ411はメモリ410が保持した信号を保持する。(コピー動作)これにより、実施例1と同じく、メモリ411に第1ゲイン設定でのN信号に対応するデジタル信号を保持させることができる。
上記以外の動作は、実施例1で述べた内容と同じである。本実施例の光電変換装置は、第1ゲイン設定でのN信号のAD変換、第2ゲイン設定でのN信号のAD変換を共にメモリ410を使用して実施される。
実施例1のようにAD変換ごとに使用するメモリが異なる場合、比較部3からメモリへのラッチ信号の信号経路が異なることとなる。これにより、比較部3からメモリへのラッチ信号の伝送時間に差が生じることがある。この伝送時間の差は、メモリが保持するカウント信号の値を異ならせることとなる。よって、比較部3からメモリへのラッチ信号の信号経路が異なることにより、AD変換誤差が生じることがある。
一方、本実施例の光電変換装置は、複数のAD変換を1つのメモリ410を用いて行うことにより、比較部3からメモリへのラッチ信号の伝送経路を複数のAD変換で共通のものにすることができる。これにより、実施例1の光電変換装置で生じうるAD変換誤差を低減することができる効果を有する。
なお、本実施例では、増幅部3のゲイン設定を、第1ゲイン、第2ゲイン、第1ゲインの順としていた。この例に限られるものでは無く、実施例1の変形例と同じく、第2ゲイン、第1ゲイン、第2ゲインの順としても良い。この場合には、N信号を第2ゲインで増幅した信号、N信号を第1ゲインで増幅した信号、S信号を第1ゲインで増幅した信号、S信号を第2ゲインで増幅した信号の順で、増幅部3はそれぞれの信号を出力する。AD変換部は、この順でAD変換を行うため、保持部4のメモリ410、411が保持する信号は入れ換わる。また、メモリ420が保持する信号の順序はS_1、S_2の順となる。
[実施例3]
本実施例の光電変換装置について、実施例1と異なる点を中心に説明する。
図6は、本実施例の光電変換装置の構成を示した図である。
本実施例の光電変換装置は、第1メモリ回路41がメモリ415を有し、第2メモリ回路42がメモリ422を有する点で、実施例1の光電変換装置と異なる。
セレクタ412の出力ノードはメモリ415の入力ノードに接続されている。メモリ415がセレクタ412の信号をラッチするタイミングは、タイミング制御回路5が出力する制御信号mtx_nにより制御される。メモリ415の出力ノードは、スイッチ92に接続されている。
メモリ420の出力ノードはメモリ422の入力ノードに接続されている。メモリ422がメモリ420の信号をラッチするタイミングは、タイミング制御回路5が出力する制御信号mtx_sにより制御される。メモリ422の出力ノードは、スイッチ94に接続されている。
図7は本実施例における、所定の画素行の画素信号を処理する動作を示したタイミングチャートである。
時刻t9までは実施例2と同じ動作である。
時刻t10に、信号mtx_nがHighレベルとなることによって、メモリ415は第2ゲイン設定におけるN信号に対応するデジタル信号を保持する。
次に、時刻t11に、信号mtx_nがHighレベルとなることによって、メモリ422が第2ゲイン設定におけるS信号に対応するデジタル信号を保持する。
なお、メモリ415がラッチするタイミングと、メモリ422がラッチするタイミングの順番は図7に示した順序以外であっても良く、どちらが先であっても、同時であってもよい。
時刻t12から時刻t16までの期間、水平走査回路9は、水平走査信号h1,h2,・・・hnを順次出力する。これにより、各列のスイッチ92およびスイッチ94から順次、第1出力線93、第2出力線95にデジタル信号が出力される(水平転送)。
時刻t13に、増幅部2のゲインが、第1ゲインに設定される。
時刻t14に、第1ゲイン設定によるS信号のAD変換が開始される。
この時、第2ゲイン設定によるN信号およびS信号のそれぞれに対応するデジタル信号の水平転送が行われている状態にある。しかし、水平転送されるデジタル信号はメモリ415、メモリ422のそれぞれに保持されている。よって、この水平転送が行われている期間に、メモリ420の値を第1ゲイン設定によるS信号に対応するデジタル信号に更新することができる。
時刻t15に、メモリ420の値が第1ゲイン設定によるS信号に対応するデジタル信号に更新される。
時刻t16に、第2ゲイン設定でのS信号の水平転送が終了する。
その後、時刻t17に、信号m2selがHighレベルに遷移する。これにより、セレクタ412からメモリ411の値が出力される状態となる。
時刻t18に信号mtx_nがHighレベルになる。これにより、メモリ415は、第1ゲイン設定におけるN信号に対応するデジタル信号を保持する。
時刻t19に信号mts_sがHighレベルになる。これにより、メモリ422は第1ゲイン設定におけるS信号に対応するデジタル信号を保持する。
その後、時刻t20から時刻t22までの期間に、第1ゲイン設定におけるN信号とS信号のそれぞれに対応するデジタル信号の水平転送が行われる。
本実施例の光電変換装置は、複数のゲインのうちの一方のゲイン設定の信号に対応するデジタル信号の水平転送中に、他方のゲイン設定の信号に対応するデジタル信号を生成することができる。これにより、所定行の画素信号の読み出し終了(AD変換終了)から、次行の信号読み出し開始(AD変換開始)までの時間を短縮することができる。
また、実施例1の光電変換装置の構成に対しても、本実施例のようにメモリ415、メモリ422および対応する制御信号を追加することで、同様の効果を得られる。
なお、保持部4のメモリの個数はメモリ415、422の分、増加している。しかし、従来技術の構成において、所定行の画素信号の読み出し終了(AD変換終了)から、次行の信号読み出し開始(AD変換開始)までの時を短縮しようとすると、本実施例よりもさらに多くのメモリを必要とする。したがって、本実施例の光電変換装置もまた、回路面積を低減する効果が得られていると言える。
なお、本実施例では、増幅部3のゲイン設定を、第1ゲイン、第2ゲイン、第1ゲインの順としていた。この例に限られるものでは無く、実施例1の変形例と同じく、第2ゲイン、第1ゲイン、第2ゲインの順としても良い。この場合には、N信号を第2ゲインで増幅した信号、N信号を第1ゲインで増幅した信号、S信号を第1ゲインで増幅した信号、S信号を第2ゲインで増幅した信号の順で、増幅部3はそれぞれの信号を出力する。AD変換部は、この順でAD変換を行うため、保持部4のメモリ410、411が保持する信号は入れ換わる。また、メモリ420、メモリ422が保持する信号の順序はS_1、S_2の順となる。
[実施例4]
本実施例の光電変換装置について、実施例1と異なる点を中心に説明する。
本実施例の画素10の構成を図8に示す。本実施例では、1つの画素10が、複数のフォトダイオードを有する点で、実施例1の光電変換装置と異なる。
画素10は、フォトダイオード101とフォトダイオード106を有する。このフォトダイオード101、106は、後述するように、図8では不図示の1つのマイクロレンズに対応して設けられている。つまり、1つのマイクロレンズを透過した光は、フォトダイオード101、106に入射する。フォトダイオード101と、フォトダイオード106は互いに異なる射出瞳から入射する光を受ける、とも言える。フォトダイオード101、106は、典型的には、互いに重ならず、平面視において、互いを電気的に分離する分離領域(絶縁分離や、フォトダイオードが蓄積する信号電荷とは逆極性の電荷を主キャリアとする半導体領域)を挟んで、並んで配置されることとなる。
フォトダイオード106は、第2転送トランジスタ107を介して、FDに接続されている。その他の画素10の構成は、実施例1の画素10と同じである。
図9は、図8に示した画素10のレイアウトを示した図である。図9(a)に示したように、1つのマイクロレンズ120に対して、フォトダイオード101、106が対応して配置されている。読み出し回路115には、図8を参照しながら説明した、画素10が備える各トランジスタが配されている。
図9(b)は、図9(a)のα―βの線に対応する断面を示した図である。1つのマイクロレンズ120、1つのカラーフィルタ122に対して、フォトダイオード101、106が設けられている。
また、その他の光電変換装置の構成は、図1に示した構成と同じである。
図10は、本実施例の光電変換装置の動作を示したタイミングチャートである。
図8に示したフォトダイオード101が光電変換によって生成した電荷に対応して画素10が出力する信号をA信号とする。また、図8に示したフォトダイオード106が光電変換によって生成した電荷に対応する信号をB信号とする。画素10は、A信号と、A信号およびB信号を加算した信号に相当するA+B信号とを出力する。
時刻t1までの動作は、実施例1と同じである。
時刻t2に、信号tx_aがHighレベルとなり、フォトダイオード101が生成した電荷がFDに転送される。
これにより、画素10の増幅トランジスタ104はA信号を信号線11に出力する。
また、増幅部3のゲインは第1ゲインに設定されている。これにより、増幅部3によって第1ゲインで増幅されたA信号(第1増幅A信号)が、比較部4に入力される。
そして、時刻t3に、第1増幅A信号のAD変換が開始される。メモリ410、411は、第1増幅A信号に対応するデジタル信号を保持する。
その後、時刻t5に、増幅部3のゲインは第2ゲインに設定される。
これにより、増幅部3によって第2ゲインで増幅されたA信号(第2増幅A信号)が、比較部4に入力される。
そして、時刻t6に、増幅A信号のAD変換が開始される。メモリ410が保持するデジタル信号は、第2増幅A信号に対応するデジタル信号に上書きされる。
次に、FDにフォトダイオード101の電荷が保持されている状態で、時刻t8に、信号tx_a、tx_bがHighレベルとなる。これにより、時刻t2の後に信号tx_aがLowレベルに遷移してから、時刻t8までにフォトダイオード101が生成した電荷と、フォトダイオード106が生成した電荷とが、FDにさらに転送される。これにより、画素10の増幅トランジスタ104はA+B信号を信号線11に出力する。
増幅部3のゲインは、引き続き第2ゲインに設定されている。これにより、増幅部3によって第2ゲインで増幅されたA+B信号(第2増幅A+B信号とする。第1増幅A+B信号は後述)が、比較部4に入力される。
そして、時刻t9に、第2増幅A+B信号のAD変換が開始される。メモリ420は、第2増幅A+B信号に対応するデジタル信号を保持する。
時刻t11以降、第2増幅A信号、第2増幅A+B信号のそれぞれに対応するデジタル信号を、各列の保持部4から第2出力線95に転送する水平転送が行われる。
時刻t12に、増幅部3のゲイン設定は第1ゲインに設定される。
これにより、増幅部3によって第1ゲインで増幅されたA+B信号(第1増幅A+B信号)が、比較部4に入力される。
時刻t14に、第1増幅A+B信号のAD変換が開始される。メモリ420は、第1増幅A+B信号に対応するデジタル信号を保持する。
時刻t16以降、第1増幅A信号、第1増幅A+B信号のそれぞれに対応するデジタル信号を、各列の保持部4から第2出力線95に転送する水平転送が行われる。
以上のように、本実施例では、異なるゲインで読み出したA信号とA+B信号を従来技術に比べて少ない数のメモリで読み出すことが可能になり、回路規模を削減することができる。
なお、上述した各実施例における第1、第2ゲイン設定は、いずれの回路ブロックにおいて実施しても構わない。画素アレイについては、増幅部3、比較部4と同一の基板上に配置されていてもよい。また、画素アレイを増幅部3、比較部4とは別の基板に形成して、この複数の基板を貼り合わせるようにしても良い。
また、上記の各実施例は必要に応じて組み合わせることが可能である。例えば、実施例4に示したA信号、A+B信号のそれぞれに対応するデジタル信号の生成、水平転送を、実施例2、実施例3の保持部4の構成を用いて行うようにしても良い。
[実施例5]
本実施形態による撮像システムについて、図11を用いて説明する。図11は、本実施形態による撮像システムの概略構成を示すブロック図である。
上記実施例1~実施例4で述べた光電変換装置100は、種々の撮像システムに適用可能である。適用可能な撮像システムの例としては、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダ、監視カメラ、複写機、ファックス、携帯電話、車載カメラ、観測衛星などが挙げられる。また、レンズなどの光学系と撮像装置とを備えるカメラモジュールも、撮像システムに含まれる。図11には、これらのうちの一例として、デジタルスチルカメラのブロック図を例示している。
図11に例示した撮像システム200は、撮像装置201、被写体の光学像を撮像装置201に結像させるレンズ202、レンズ202を通過する光量を可変にするための絞り204、レンズ202の保護のためのバリア206を有する。レンズ202及び絞り204は、撮像装置201に光を集光する光学系である。撮像装置201は、第1乃至第4実施形態のいずれかで説明した光電変換装置100であって、レンズ202により結像された光学像を画像データに変換する。
撮像システム200は、また、撮像装置201より出力される出力信号の処理を行う信号処理部208を有する。信号処理部208は、撮像装置201が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するAD変換を行う。また、信号処理部208はその他、必要に応じて各種の補正、圧縮を行って画像データを出力する動作を行う。信号処理部208の一部であるAD変換部は、撮像装置201が設けられた半導体基板に形成されていてもよいし、撮像装置201とは別の半導体基板に形成されていてもよい。また、撮像装置201と信号処理部208とが同一の半導体基板に形成されていてもよい。
撮像システム200は、更に、画像データを一時的に記憶するためのメモリ部210、外部コンピュータ等と通信するための外部インターフェース部(外部I/F部)212を有する。更に撮像システム200は、撮像データの記録又は読み出しを行うための半導体メモリ等の記録媒体214、記録媒体214に記録又は読み出しを行うための記録媒体制御インターフェース部(記録媒体制御I/F部)216を有する。なお、記録媒体214は、撮像システム200に内蔵されていてもよく、着脱可能であってもよい。
更に撮像システム200は、各種演算とデジタルスチルカメラ全体を制御する全体制御・演算部218、撮像装置201と信号処理部208に各種タイミング信号を出力するタイミング発生部220を有する。ここで、タイミング信号などは外部から入力されてもよく、撮像システム200は少なくとも撮像装置201と、撮像装置201から出力された出力信号を処理する信号処理部208とを有すればよい。
撮像装置201は、撮像信号を信号処理部208に出力する。信号処理部208は、撮像装置201から出力される撮像信号に対して所定の信号処理を実施し、画像データを出力する。信号処理部208は、撮像信号を用いて、画像を生成する。
このように、本実施形態によれば、第1乃至第4実施形態による光電変換装置100を適用した撮像システムを実現することができる。
[実施例6]
本実施例の撮像システム及び移動体について、図12を用いて説明する。図12は、本実施例の撮像システム及び移動体の構成を示す図である。
図12(a)は、車載カメラに関する撮像システムの一例を示したものである。撮像システム300は、撮像装置310を有する。撮像装置310は、上記第1乃至第4実施形態のいずれかに記載の光電変換装置100である。撮像システム300は、撮像装置310により取得された複数の画像データに対し、画像処理を行う画像処理部312と、撮像システム300により取得された複数の画像データから視差(視差画像の位相差)の算出を行う視差取得部314を有する。また、撮像システム300は、算出された視差に基づいて対象物までの距離を算出する距離取得部316と、算出された距離に基づいて衝突可能性があるか否かを判定する衝突判定部318と、を有する。ここで、視差取得部314や距離取得部316は、対象物までの距離情報を取得する距離情報取得手段の一例である。すなわち、距離情報とは、視差、デフォーカス量、対象物までの距離等に関する情報である。衝突判定部318はこれらの距離情報のいずれかを用いて、衝突可能性を判定してもよい。距離情報取得手段は、専用に設計されたハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアモジュールによって実現されてもよい。また、FPGA(Field Programmable Gate Array)やASIC(Application Specific Integrated Circuit)等によって実現されてもよいし、これらの組合せによって実現されてもよい。
撮像システム300は車両情報取得装置320と接続されており、車速、ヨーレート、舵角などの車両情報を取得することができる。また、撮像システム300は、衝突判定部318での判定結果に基づいて、車両に対して制動力を発生させる制御信号を出力する制御装置である制御ECU330が接続されている。また、撮像システム300は、衝突判定部318での判定結果に基づいて、ドライバーへ警報を発する警報装置340とも接続されている。例えば、衝突判定部318の判定結果として衝突可能性が高い場合、制御ECU330はブレーキをかける、アクセルを戻す、エンジン出力を抑制するなどして衝突を回避、被害を軽減する車両制御を行う。警報装置340は音等の警報を鳴らす、カーナビゲーションシステムなどの画面に警報情報を表示する、シートベルトやステアリングに振動を与えるなどしてユーザに警告を行う。
本実施形態では、車両の周囲、例えば前方又は後方を撮像システム300で撮像する。図12(b)に、車両前方(撮像範囲350)を撮像する場合の撮像システムを示した。車両情報取得装置320が、撮像システム300ないしは撮像装置310に指示を送る。このような構成により、測距の精度をより向上させることができる。
上記では、他の車両と衝突しないように制御する例を説明したが、他の車両に追従して自動運転する制御や、車線からはみ出さないように自動運転する制御などにも適用可能である。更に、撮像システムは、自車両等の車両に限らず、例えば、船舶、航空機あるいは産業用ロボットなどの移動体(移動装置)に適用することができる。加えて、移動体に限らず、高度道路交通システム(ITS)等、広く物体認識を利用する機器に適用することができる。
[変形実施形態]
本発明は、上記実施例に限らず種々の変形が可能である。
例えば、いずれかの実施例の一部の構成を他の実施形態に追加した例や、他の実施形態の一部の構成と置換した例も、本発明の実施例である。
また、上記実施例5、実施例6に示した撮像システムは、光電変換装置を適用しうる撮像システム例を示したものであって、本発明の光電変換装置を適用可能な撮像システムは図11及び図12に示した構成に限定されるものではない。
なお、上記実施形態は、いずれも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
1 画素アレイ
10 画素
2 増幅部
3 比較部
4 保持部
410、411、420 メモリ
412 セレクタ(選択回路)

Claims (14)

  1. 第1信号、第2信号を異なるタイミングで出力する画素と、
    前記第1信号、前記第2信号を増幅して増幅信号を出力する増幅部と、
    前記増幅信号をAD変換してデジタル信号を出力するAD変換部と、
    前記デジタル信号が入力される出力部と、を有する光電変換装置であって、
    前記増幅部は、
    前記第1信号を第1ゲインで増幅した第1増幅信号と、
    前記第1信号を第2ゲインで増幅した第2増幅信号と、
    前記第2信号を第3ゲインで増幅した第3増幅信号と、
    前記第2信号を第4ゲインで増幅した第4増幅信号とを、この順で前記AD変換部に出力し、
    前記第1ゲイン、前記第2ゲイン、前記第3ゲイン、前記第4ゲインの大きさは、
    (1)前記第1ゲイン<前記第2ゲイン、前記第3ゲイン>前記第4ゲイン、
    (2)前記第1ゲイン>前記第2ゲイン、前記第3ゲイン<前記第4ゲイン、
    のいずれかの関係にあり
    前記AD変換部は、
    前記第1増幅信号をAD変換して第1デジタル信号を生成し、
    前記第2増幅信号をAD変換して第2デジタル信号を生成し、
    前記第3増幅信号をAD変換して第3デジタル信号を生成し、
    前記第4増幅信号をAD変換して第4デジタル信号を生成し、
    前記AD変換部は、前記出力部に、前記第2デジタル信号と前記第3デジタル信号を、前記第1デジタル信号、前記第4デジタル信号よりも先に出力することを特徴とする光電変換装置。
  2. 前記画素は、光に応じて信号電荷を蓄積する光電変換部と、前記信号電荷が転送されるフローティングディフュージョンとを有し、
    前記第1信号は、リセットされた前記フローティングディフュージョンの電位に基づく信号であり、
    前記第2信号は、前記信号電荷が転送された前記フローティングディフュージョンの電位に基づく信号であることを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
  3. 前記画素は、光に応じて信号電荷を蓄積する複数の光電変換部を備え、
    前記第1信号は、前記複数の光電変換部の一部の光電変換部が蓄積した信号電荷に基づく信号であり、
    前記第2信号は、前記複数の光電変換部の、少なくとも他の一部の光電変換部が蓄積した信号電荷に基づく信号であることを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
  4. 前記光電変換装置は、前記AD変換部と前記出力部とが接続される、第1出力線および第2出力線を有し、
    前記AD変換部が前記出力部に前記第1出力線を介して前記第2デジタル信号を出力している期間に、
    前記AD変換部が前記出力部に前記第2出力線を介して前記第3デジタル信号を出力することを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  5. 前記AD変換部が前記出力部に前記第1出力線を介して、前記第1デジタル信号と前記第4デジタル信号の一方を出力している期間に、
    前記AD変換部が前記出力部に前記第2出力線を介して、前記第1デジタル信号と前記第4デジタル信号の他方を出力することを特徴とする請求項4に記載の光電変換装置。
  6. 前記AD変換部は、第1メモリ、第2メモリ、第3メモリ、選択回路を有し、
    前記第1メモリの出力ノード、前記第2メモリの出力ノードは、前記選択回路の入力ノードに接続され、
    前記選択回路の出力ノードと、前記第3メモリの出力ノードが前記出力部に接続され、
    前記第1メモリは前記第1デジタル信号を保持し、
    前記第2メモリは前記第2デジタル信号を保持し、
    前記第3メモリは、前記第3デジタル信号と前記第4デジタル信号の一方を保持した後、前記第3デジタル信号と前記第4デジタル信号の他方を保持することを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  7. 前記第1メモリと前記第2メモリは、ともに前記第1デジタル信号を保持し、
    その後、前記第2メモリは前記第2デジタル信号を保持することを特徴とする請求項6に記載の光電変換装置。
  8. 前記第1メモリと前記第2メモリは、ともに前記第2デジタル信号を保持し、
    その後、前記第2メモリは前記第1デジタル信号を保持することを特徴とする請求項6に記載の光電変換装置。
  9. 前記第1メモリの出力ノードは、前記第2メモリの入力ノードにさらに接続され、
    前記第1メモリは、前記第2デジタル信号を保持し、
    前記第2メモリは、前記第1メモリから入力される前記第2デジタル信号を保持し、
    その後、前記第1メモリは前記第1デジタル信号を保持することを特徴とする請求項6に記載の光電変換装置。
  10. 前記第2メモリの出力ノードは、前記第1メモリの入力ノードにさらに接続され、
    前記第2メモリは、前記第1デジタル信号を保持し、
    前記第1メモリは、前記第2メモリから入力される前記第1デジタル信号を保持し、
    その後、前記第2メモリは前記第2デジタル信号を保持することを特徴とする請求項6に記載の光電変換装置。
  11. 前記AD変換部は、前記第3メモリの入力ノードに接続された出力ノードを有する第4メモリをさらに有し、
    前記第4メモリは、前記第3デジタル信号と前記第4デジタル信号の一方のデジタル信号を保持し、
    前記第3メモリは、前記第4メモリが保持した前記第3デジタル信号と前記第4デジタル信号の前記一方のデジタル信号を保持することを特徴とする請求項10に記載の光電変換装置。
  12. 画素から第1信号、第2信号が異なるタイミングで入力される信号処理回路であって、
    前記信号処理回路は、
    前記第1信号、前記第2信号を増幅して増幅信号を得て前記増幅信号を出力する増幅部と、
    前記増幅信号をAD変換してデジタル信号を得て前記デジタル信号を出力するAD変換部と、
    前記デジタル信号が入力される出力部と、を有し、
    前記増幅部は、
    前記第1信号を第1ゲインで増幅した第1増幅信号と、
    前記第1信号を第2ゲインで増幅した第2増幅信号と、
    前記第2信号を第3ゲインで増幅した第3増幅信号と、
    前記第2信号を第4ゲインで増幅した第4増幅信号とを、この順で前記AD変換部に出力し、
    前記第1ゲイン、前記第2ゲイン、前記第3ゲイン、前記第4ゲインの大きさは、
    (1)前記第1ゲイン<前記第2ゲイン、前記第3ゲイン>前記第4ゲイン、
    (2)前記第1ゲイン>前記第2ゲイン、前記第3ゲイン<前記第4ゲイン、
    のいずれかの関係にあり
    前記AD変換部は、
    前記第1増幅信号をAD変換して第1デジタル信号を生成し、
    前記第2増幅信号をAD変換して第2デジタル信号を生成し、
    前記第3増幅信号をAD変換して第3デジタル信号を生成し、
    前記第4増幅信号をAD変換して第4デジタル信号を生成し、
    前記AD変換部は、前記出力部に、前記第2デジタル信号と前記第3デジタル信号を、前記第1デジタル信号、前記第4デジタル信号よりも先に出力することを特徴とする信号処理回路。
  13. 請求項1~11のいずれか1項に記載の光電変換装置と、
    前記光電変換装置から出力される信号を処理する信号処理部と
    を有することを特徴とする撮像システム。
  14. 移動体であって、
    請求項1~11のいずれか1項に記載の光電変換装置と、
    前記光電変換装置からの信号に基づく視差画像から、対象物までの距離情報を取得する距離情報取得手段と、
    前記距離情報に基づいて前記移動体を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする移動体。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012080195A (ja) 2010-09-30 2012-04-19 Canon Inc 固体撮像装置
JP2014022863A (ja) 2012-07-17 2014-02-03 Olympus Imaging Corp 撮像装置
JP2015164278A (ja) 2013-03-28 2015-09-10 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の駆動方法、撮像システム
JP2018139374A (ja) 2017-02-24 2018-09-06 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像システム
JP2018182458A (ja) 2017-04-07 2018-11-15 キヤノン株式会社 信号処理装置及び方法、撮像素子、及び撮像装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060189511A1 (en) * 2002-05-13 2006-08-24 Koblish Holly K Method for cytoprotection through mdm2 and hdm2 inhibition
US7518645B2 (en) * 2005-01-06 2009-04-14 Goodrich Corp. CMOS active pixel sensor with improved dynamic range and method of operation
JP2009027238A (ja) * 2007-07-17 2009-02-05 Olympus Corp 固体撮像装置
JP5188292B2 (ja) 2008-06-30 2013-04-24 キヤノン株式会社 撮像システムおよび撮像システムの駆動方法
JP2011259305A (ja) 2010-06-10 2011-12-22 Toshiba Corp 固体撮像装置
US9391574B2 (en) * 2012-06-01 2016-07-12 Forza Silicon Corporation Power supply regulation for programmable gain amplifier used in a CMOS image sensor
JP2017092554A (ja) 2015-11-04 2017-05-25 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び撮像システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012080195A (ja) 2010-09-30 2012-04-19 Canon Inc 固体撮像装置
JP2014022863A (ja) 2012-07-17 2014-02-03 Olympus Imaging Corp 撮像装置
JP2015164278A (ja) 2013-03-28 2015-09-10 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像装置の駆動方法、撮像システム
JP2018139374A (ja) 2017-02-24 2018-09-06 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像システム
JP2018182458A (ja) 2017-04-07 2018-11-15 キヤノン株式会社 信号処理装置及び方法、撮像素子、及び撮像装置

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