JP7226699B2 - 試験用治具 - Google Patents
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Description
図12の(a)は、上記実施形態の一変形例に係るフィン群70の断面形状を示す図であって、主面121a,221aに沿ったフィン群70の断面を示す。図12の(a)に示すように、本変形例のフィン群70は、ブロック状の部材72の一端に形成された複数枚のフィン71からなる。複数枚のフィン71は、突出方向と交差する方向(例えば図4に示されるY方向)に並んでいる。そして、各フィン71の並び方向に沿った断面におけるフィン群70の表面形状は、正弦波等の滑らかな曲線からなる波型となっている。このフィン群70は、各フィン71の先端において伝熱体32と接触する。
Claims (6)
- 電子デバイスの加速劣化試験に用いられる治具であって、
配線基板を搭載するための基板搭載面を有する導電性の支持体と、
前記電子デバイスを搭載するデバイス搭載面を有する導電性のヒータブロックと、
を備え、
前記ヒータブロックと前記支持体との間には隙間が設けられ、前記電子デバイスの端子と前記配線基板とは、前記隙間を跨ぐ配線を介して互いに電気的に接続され、
前記支持体及び前記ヒータブロックは、前記支持体及び前記ヒータブロックの一方から他方へ向けて突出する導電性の複数枚のフィンからなるフィン群を介して互いに接触し、前記基板搭載面の法線方向から見て、前記配線と前記フィン群とが互いに重なっている、試験用治具。 - 前記複数枚のフィンと前記支持体及び前記ヒータブロックの他方とが互いに線接触する、請求項1に記載の試験用治具。
- 前記複数枚のフィンの並び方向に沿った断面における前記フィン群の表面形状が波型である、請求項1または2に記載の試験用治具。
- 前記複数枚のフィンの並び方向から見た各フィンの端縁の形状が円弧状である、請求項1~3のいずれか一項に記載の試験用治具。
- 前記支持体は前記ヒータブロックに向けて移動可能である、請求項1~4のいずれか一項に記載の試験用治具。
- 電子デバイスの加速劣化試験に用いられる治具であって、
入力配線基板を搭載するための第1の基板搭載面を有する導電性の入力側支持体と、
出力配線基板を搭載するための第2の基板搭載面を有し、前記入力側支持体と並んで配置された導電性の出力側支持体と、
前記電子デバイスを搭載するデバイス搭載面を有し、前記入力側支持体と前記出力側支持体との間に配置された導電性のヒータブロックと、
を備え、
前記ヒータブロックと前記入力側支持体との間には第1の隙間が設けられ、前記電子デバイスの信号入力端子と前記入力配線基板とは、前記第1の隙間を跨ぐ配線を介して互いに電気的に接続され、
前記ヒータブロックと前記出力側支持体との間には第2の隙間が設けられ、前記電子デバイスの信号出力端子と前記出力配線基板とは、前記第2の隙間を跨ぐ配線を介して互いに電気的に接続され、
前記入力側支持体及び前記ヒータブロックは、前記入力側支持体及び前記ヒータブロックの一方から他方へ向けて突出する導電性の複数枚のフィンからなる入力側フィン群を介して互いに接触し、前記第1の基板搭載面の法線方向から見て、前記第1の隙間を跨ぐ配線と前記入力側フィン群とが互いに重なっており、
前記出力側支持体及び前記ヒータブロックは、前記出力側支持体及び前記ヒータブロックの一方から他方へ向けて突出する導電性の複数枚のフィンからなる出力側フィン群を介して互いに接触し、前記第2の基板搭載面の法線方向から見て、前記第2の隙間を跨ぐ配線と前記出力側フィン群とが互いに重なっている、試験用治具。
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JP2018231665A JP7226699B2 (ja) | 2018-12-11 | 2018-12-11 | 試験用治具 |
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Families Citing this family (1)
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