JP7225430B2 - 電子機器価値評価システム - Google Patents

Description

本発明は、電子機器の価値を評価するために電子機器の外観を撮影し、撮影された映像を分析する電子機器の価値評価のための外観撮影分析システムに関し、特に、光の干渉による干渉パターンや相殺減少の現像を防止して電子機器の外観をより正確に分析することができ、加重値の高い上位項目に対して先に評価し、その結果に応じて下位項目の評価が行われないことで、不要な評価段階が除かれた多重波長光源を用いて撮影する電子機器の価値評価のための外観撮影分析システムに関する。

スマートフォン、タブレットＰＣ、ノート型パソコンなどの端末は、最新技術の集合体として高価な製品である。
これにより、高価な電子機器に対する関心と需要が増えており、取引が盛んに行われている。
電子機器の場合、内部機能も重要であるが、外部で見られる外観状態が電子機器（スマートフォン、タブレットＰＣなど）の価値評価に最も重要な要因として評価される。
外観の最も大きい部分は、最も大きい面積を占めている画面（ディスプレイ）及びＫＥＹ機能を行うボタンが占めている。特に、外観のスクラッチ、クラック（破損）などが主な項目であり、これらを確認して等級を分類することが価値評価の最も重要なものである。

電子機器の価値、すなわち、価格はその状態を検査して評価される。電子機器の状態検査は主に人によって行われるが、これは電子機器の価値評価（すなわち、価格算定）に対する客観性が保障されない。すなわち、同じ電子機器で検査者の熟練度、コンディション、基準などにより価値評価が異なる場合があり、電子機器の価格が低く評価されれば、検査者の価値評価に対する所有者の信頼度が低下してしまう。
また、検査者による電子機器の検査が遅いという短所もある。

これにより、電子機器の価値評価を自動化して客観性を担保できる従来技術として、公開特許第１０－２０１７－００１９０８５号の「中古モバイル端末自動価値評価方法及び装置」が開示されている。
前記公開特許第１０－２０１７－００１９０８５号は、自動価値評価装置の内部に設置された中古モバイル端末をカメラセットが撮影し、撮影された映像を分析して中古モバイル端末のケース、ベゼル、強化ガラス、画面などの外観状態を自動検査することが開示されている。

映像を用いて中古モバイル端末の外観状態を分析する際には、中古モバイル端末の撮影環境、すなわち、照明位置、照射角、波長（色温度）、明るさ、カメラの視野角などが極めて重要である。
ところが、前記公開特許第１０－２０１７－００１９０８５号は、このような撮影環境を考慮していないため、中古モバイル端末の価値評価の信頼性が低下する。
電子機器を照明する照明ユニットの光源が電子機器の表面に反射してカメラの映像に出てくると、電子機器でその部位の状態を判定することができず、光源の照射角に応じて端末の散乱部位（普通、変形により損傷された部位）の散乱の強度が変わる。
これにより、電子機器の撮影時には光源を様々な方向に同時に照明して撮影し、照射角を変更しながら数回撮影をする。

ここで、同時に照明する光源の波長（すなわち、色温度）が同一であれば、光の干渉によって干渉パターンが相殺干渉などの現像が発生し、映像を介して電子機器の外観状態の分析が妨害される。
これにより、電子機器を照明する光源の干渉現像を防止する必要があるものの、従来技術はこれを考慮していない。
電子機器の価値評価は様々な項目に対して行うが、いずれかの項目は、その状態が不良であるため購入しないか、最大の差し引き金額となって、他の項目に対する価値評価が必要なくなる。
しかし、従来技術は全ての項目に対して価値評価してから電子機器を購入するか否かの購入金額を決定するため、多くの時間及び費用が浪費されることになる。

一側面に係る電子機器価値評価システムは、ディスプレイと、電子機器が設置される本体と、照明を用いて前記電子機器を撮影するカメラと、前記電子機器の外観検査結果及び前記電子機器の性能検査結果に基づいて決定された前記電子機器の価値を前記ディスプレイに表示するコントローラとを含む。
前記照明は光を出力するが、一部の照明は、前記電子機器の外観欠陥に対する乱反射が相殺されないように互いに異なる波長の光を出力する。
前記照明のうち残りの照明は、同じ波長の光を出力したり、互いに異なる波長の光を出力することができる。
前記一部の照明の間の距離は、前記残りの照明の間の距離よりも短くてもよい。
前記照明のうち第１照明は、前記本体内部の第１側面に位置し、前記照明のうち第２照明は、前記第１側面に対向する第２側面に位置し、前記照明のうち第３照明は、前記本体内部の第３側面に位置し、前記照明のうち第４照明は、前記第３側面に対向する第４側面に位置することができる。
前記第１照明及び前記第２照明は、前記互いに異なる波長の光を出力することができる。
前記第１照明及び前記第２照明は第１照射角で光を出力し、前記第３照明及び前記第４照明は第２照射角で光を出力することができる。
前記外観欠陥は、前記電子機器のディスプレイの欠陥を含むことができる。

本発明に係る多重波長光源を用いて撮影する電子機器の価値評価のための外観撮影分析システムは、電子機器を同時に他の角度で照射する光源の波長（色温度）を相違にして光の干渉による干渉パターンや相殺減少の現像を防止し、電子機器の外観をより正確に分析することができる。

本発明に係る電子機器の価値評価のための外観撮影分析システムの概略的なブロック図である。 本発明に係る本体の暗室に備えられるカメラユニットと照明ユニットの一例を示す図である。 本発明に係る本体の暗室に備えられるカメラユニットと照明ユニットの一例を示す図である。 本発明に係る本体の暗室に備えられるカメラユニットと照明ユニットの一例を示す図である。 電子機器の上部面状態を撮影するカメラユニットと照明ユニットの位置関係を示す図である。 電子機器の上部面状態を撮影するカメラユニットと照明ユニットの位置関係を示す図である。 電子機器の側面状態を撮影するカメラユニットと照明ユニットの位置関係を示す図である。 電子機器の下部面の状態を撮影するカメラユニットと照明ユニットの位置関係を示す図である。 電子機器の上部面に配置される画面の状態を撮影するカメラユニットと照明ユニットの位置関係を示す図である。 電子機器の全体を撮影するためのカメラの視野角とそれによる撮影位置の関係を示す図である。 電子機器の全体を撮影するためのカメラの視野角とそれによる撮影位置の関係を示す図である。 電子機器の全体を撮影するためのカメラの視野角とそれによる撮影位置の関係を示す図である。 電子機器の全体を撮影するためのカメラの視野角とそれによる撮影位置の関係を示す図である。 反射鏡を用いて１つのカメラが電子機器の多方面を同時に撮影する構造を示す図である。 反射鏡を用いて１つのカメラが電子機器の多方面を同時に撮影する構造を示す図である。 反射鏡を用いて１つのカメラが電子機器の多方面を同時に撮影する構造を示す図である。 価値評価により購入した電子機器のデータを削除して初期化する過程を示す手続図である。

以下、添付の図面を参照して実施形態を詳細に説明する。しかし、実施形態には多様な変更が加えられることができ、特許出願の権利範囲がこの実施形態により制限されたり限定されることはない。実施形態に対するすべての変更、均等物ないし代替物が権利範囲に含まれるものとして理解されなければならない。

本明細書で用いる用語は、単に特定の実施形態を説明するために用いられるものであって、本発明を限定しようとする意図はない。単数の表現は、文脈上、明白に異なる意味をもたない限り複数の表現を含む。本明細書において、「含む」又は「有する」等の用語は明細書上に記載した特徴、数字、ステップ、動作、構成要素、部品、又はこれらを組み合わせたものが存在することを示すものであって、一つ又はそれ以上の他の特徴や数字、ステップ、動作、構成要素、部品、又はこれらを組み合わせたものなどの存在又は付加の可能性を予め排除しないものとして理解しなければならない。

異なるように定義がされない限り、技術的であるか又は科学的な用語を含むここで用いる全ての用語は、本実施形態が属する技術分野で通常の知識を有する者によって一般的に理解されるものと同じ意味を有する。一般的に用いられる予め定義された用語は、関連技術の文脈上で有する意味と一致する意味を有するものと解釈すべきであって、本明細書で明白に定義しない限り、理想的又は過度に形式的な意味として解釈されることはない。

また、図面を参照して説明する際に、図面符号に拘わらず同じ構成要素は同じ参照符号を付与し、これに対する重複する説明は省略する。実施形態の説明において関連する公知技術に対する具体的な説明が本発明の要旨を不要に曖昧にすると判断される場合、その詳細な説明は省略する。

また、実施例の構成要素の説明において、第１，第２，Ａ，Ｂ，（ａ），（ｂ）などの用語を使用することができる。このような用語は、その構成要素を他の構成要素と区別するためのものであって、その用語によって該当の構成要素の本質や順番又は順序などが限定されることはない。いずれかの構成要素が他の構成要素に「連結」，「結合」又は「接続」されたと記載される場合、その構成要素はその他の構成要素に直接的に連結又は接続され得るが、各構成要素の間に更なる構成要素が「連結」，「結合」又は「接続」され得ると理解されなければならないのであろう。

いずれかの１つの実施形態に含まれている構成要素と、共通的な機能を含む構成要素は、他の実施形態において同じ名称を用いて説明することにする。反対となる記載がない以上、いずれか１つの実施形態に記載した説明は、他の実施形態にも適用されてもよく、重複する範囲で具体的な説明は省略することにする。

また、実施形態の構成要素を説明することにおいて、第１、第２、Ａ、Ｂ、（ａ）、（ｂ）などの用語を使用することができる。これらの用語は、その構成要素を他の構成要素と区別するためのものにすぎず、その用語によって当該の構成要素の本質や順序などが限定されることはない。いずれかの構成要素が他の構成要素に「連結」、「結合」、又は「接続」されていると言及されたときには、その他の構成要素に直接的に連結されているか又は接続されているが、各構成要素との間にさらなる構成要素が「連結」、「結合」、又は「接続」され得るものと理解されなければならない。

いずれかの実施形態に含まれる構成要素と、共通的な機能を含む構成要素は、他の実施ケチあいにおいて同じ名称を用いて説明することにする。反対とされる記載がない以上、いずれかの実施形態に記載された説明は他の実施形態にも適用でき、重複する範囲で具体的な説明は省略することにする。

図１及び図２に示すように、本発明に係る多重波長光源を用いて撮影する電子機器の価値評価のための外観撮影分析システムは、本体１０、カメラユニット２０、照明ユニット３０、コントローラ５０などを含んでなる。外観撮影分析システムは、電子機器価値評価システム、電子機器購入システムのように相違に表現されてもよい。

図１に示していないが、外観撮影分析システムは、ディスプレイ（例えば、タッチディスプレイ）をさらに含んでもよい。後述するが、コントローラ５０は、電子機器の価値（例えば、電子機器の購入金額）をディスプレイに表示する。
電子機器は、例えば、中古移動端末に該当するが、これらに制限されることはない。

このような本発明に係る外観撮影分析システムは、電子機器Ｍを無人で購入するため現場にインストールされるキオスクに備えられ、中央の管制センター（図示せず）及びインターネット通信網を介して通信して様々なデータを送受信する。
前記本体１０は、電子機器Ｍが設置され、撮影環境において外敵要因を遮断する暗室１１を提供する。

前記本体１０の暗室１１には、前記電子機器Ｍが載置されるプレート１３が、暗室１１の中間部分を水平方向に横切って配置されている。
前記暗室１１には、プレート１３に置かれた電子機器Ｍの上部面、下部面、及び側面を撮影するカメラユニット２０と、照明する照明ユニット３０、電子機器Ｍに電源を供給して画面に表示される映像を制御するようにコントローラ５０から引き出されたケーブル（図示せず）を備えている。また、暗室１１には、プレート１３を回転させたり電子機器Ｍを押したり引いたりして電子機器Ｍの位置を移動させる移動ユニット４０、カメラの撮影方向が調整されるようにカメラユニット２０の位置を移動させる更なる移動ユニット４０などをさらに備えている。

前記コントローラ５０は、本体１０の暗室１１に最適の撮影環境が提供されるように、前記カメラユニット２０と照明ユニット３０などの駆動を制御し、カメラユニット２０で撮影した映像を用いて電子機器Ｍの状態を分析し価値が評価される。

前記コントローラ５０は、最適な撮影環境を提供する駆動制御部を含む。駆動制御部は、カメラユニット２０の駆動を制御するカメラ駆動部５１、前記照明ユニット３０の駆動を制御する照明駆動部５２、前記電子機器Ｍの駆動を制御する電子機器Ｍ駆動部５３、電子機器Ｍの位置やカメラの位置を移動させて撮影方向を調整する移動ユニット４０の駆動を制御する移動ユニット駆動部５４を含む。また、コントローラ５０は、前記カメラユニット２０に撮影される映像を前処理して圧縮する映像処理部５５と、映像処理部５５で処理された映像を格納する映像格納部５６と、前記映像格納部５６に格納された映像を呼び出して分析する映像分析部５７、有線又は無線で電子機器Ｍに接続して電子機器Ｍの内部部品に関する性能を検査する性能検査部６１、前記性能検査部６１の検査結果と前記映像分析部５７の分析結果を用いて電子機器Ｍの価値を評価する人工知能アルゴリズム部５８、中央管制センターと通信する通信部５９、価値評価によって購入した電子機器Ｍのメモリのデータを削除して初期化するデータ削除モジュール６２などを含む。

前記人工知能（Ａｒｔｉｆｉｃｉａｌ Ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｃｅ）アルゴリズム部５８において、価値を評価する評価項目には相互関連のない（又は、少ない）独立項目から構成され、各独立項目には様々な従属項目を含んでいる。

独立項目の区分例として、電子機器Ｍの外観状態に関する「ケース」、「ベゼル」、「強化ガラス」、内部部品の性能に関する「ディスプレイモジュール」、「充電モジュール」、「通信モジュール」、「カメラ」などに区分されてもよく、独立項目として「強化ガラス」に関する従属項目の分類例として、「スクラッチ」、「クラック」、「破損」、「スキ間」などに分類されてもよい。

独立項目として「強化ガラス「に関する従属項目の分類例では「スクラッチ」、「クラック」、「破損」、「スキ間」などに分類されてもよい。

前記独立項目及び従属項目のそれぞれは加重値が与えられ、前記人工知能アルゴリズム部は加重値の高い独立項目及び従属項目に対して先に価値を評価する。ここで、先に価値評価を行う項目は、前記性能検査部で取得された検査結果、又は前記映像分析部で取得された粉雪結果を用いて評価できる項目のうちから加重値の高い項目を意味し、まだ検査結果として分析結果が取得されず、評価できない項目までも含んで加重値の高い項目を意味するものではない。

各項目で評価される価値は等級があり、等級に応じて電子機器Ｍを購入しないか、又は購入金額に対する差し引き金額が変わる。

各項目の加重値は、欠陥がある場合に購入しないと決定した項目の加重値は高く、購入を決定しても差し引き金額が大きい金額の項目は、加重値が次第に高くなるのであろう。

前記人工知能アルゴリズム部５８は、加重値の高い項目順に電子機器Ｍの価値を評価しながら、評価された価値（すなわち、不良の程度）が修理できないか、修理費用が多すぎて該当の電子機器Ｍを購入しないレベルと評価される項目があれば、これ以上他の項目に対する価値評価を中断して不要な評価を行わないようにする。

独立項目に含まれている従属項目を加重値順に評価する間に、最大の差し引き金額に該当する等級と判定される従属項目があったり、以前に評価された従属項目の差金の和が最大金額に達すると、これ以上その下位の従属項目に対する価値評価を中断して不要な評価を行わないようにすることで、電子機器Ｍの購入のための価値評価を迅速に行うようにする。

前記人工知能アルゴリズム部５８において、評価項目に対する価値を評価している間に購入しないレベルの不良として評価されれば、コントローラ５０はこれ以上カメラユニット２０が該当の電子機器Ｍを不要に撮影したり、前記性能検査部が電子機器Ｍの内部部品の性能を検査することを中止する。

また、前記人工知能アルゴリズムにおいて、項目に対する価値を評価している間に該当項目又はそれに関する項目の追加データが必要であれば、前記コントローラ５０は、カメラユニット２０、照明ユニット３０、性能検査部６１を制御し、必要なデータ（映像分析結果、部品性能検査結果）が取得されて価値評価を円滑に行うようにする。

前記人工知能アルゴリズム部５８は、評価項目の良否又はその不良の等級を判定することにあたり、誤差範囲内において、例えば、該当項目を「良好」又は「不良」のいずれかに判定するかが明確でなく、等級を「上級」や「中級」のいずれかの等級に判定するかが明確でない場合、前記通信部５９を介して中央の管制センターに関連のあるデータ（分析結果、検査結果など）を送信して再び判定を要求することができる。

前記人工知能アルゴリズム部５８は、管制センターに再度判定を要求した後、他の項目に対して評価を行い、管制センターで再び判定結果が受信されれば、これを反映して該当の電子機器Ｍの価値を最終的に評価する。このとき、通信が円滑でないことで再び判定要求を送信することができないか、又は再び判定結果を受信できない場合、該当項目に対する評価を保留する登録を行い、関連する購入プロセスを進む。電子機器Ｍの販売者の同意下で評価の保留された項目の差し引き金額を除いた費用を販売者に先に支払い、以後保留された項目に対する評価が完了されれば、評価された価値に該当する金額を販売者に支払うことになる。

前記照明ユニット３０は第１照明３１ないし第４照明３４を含み、前記カメラユニット２０は第１カメラ２１ないし第４カメラ２４を含む。

前記カメラユニット２０の第１カメラ２１ないし第４カメラ２４は、画角の広い広角レンズ、１：１レンズ、接写レンズ、望遠レンズ、及びＰａｎ／Ｔｉｌｔ／ｚｏｏｍ機能を選択的に搭載してもよく、可視光線を用いて撮影したり赤外線を用いて撮影したり、赤外線及び可視光線を全て用いて撮影してもよい。

図２Ａ、図２Ｂ、及び図３Ａを参照すると、前記第１照明３１及び第１カメラ２１は、前記本体１０の暗室１１に設置された電子機器Ｍの上部面を照明して撮影し、電子機器Ｍの上部面状態、すなわち、上部面に生じた損傷を分析する。

電子機器Ｍの上部面には、画面を覆って保護する強化ガラスが配置されている。上部面の端部にはベゼルが備えられた電子機器Ｍが備えられてもよい。

電子機器Ｍの上部面を覆う強化ガラスには、スクラッチ、クラックなどのような損傷が生じることがある。強化ガラスは高価で、電子機器Ｍの価格（価値）を決定する主な要因の１つである。これにより、強化ガラスの状態分析はより精密である必要がある。

強化ガラスは透明であるため、照明の位置及び明るさ及びカメラの撮影角度などが状態の分析のために極めて重要な要因として作用する。

まず、前記第１カメラ２１は、電子機器Ｍの上部において３５度～６０度の間傾斜した撮影角度で電子機器Ｍの上部面を撮影する。前記第１カメラ２１の撮影角度は４５度であることが好ましい。

透明な強化ガラスに発生したスクラッチ又はクラックなどの損傷は、照明の明るさなどに応じて映像から表示されることもあり、表示されないこともある。

これによって、前記第１照明３１は、格子状に配列されているＬＥＤから構成され、格子状のＬＥＤは、電子機器Ｍの全体をカバーできる面積を有するようにする。

また、格子状に配列されている第１照明３１のＬＥＤは、ラインが交差して点灯及び消灯した状態で電子機器Ｍを照明する。ここで、交差しながら点灯及び消灯されるＬＥＤのラインは横線、縦線、対角線を含み、ＬＥＤが円形又は特定の形のパターンのラインもＬＥＤのラインに含まれ、ＬＥＤの一部が交差して点灯及び消灯し、点灯された状態のＬＥＤが移動して撮影されるようにする。

図３Ｂに示すように、第１照明３１のＬＥＤのうち点灯されたＬＥＤが電子機器の上部面の強化ガラスに像を形成している。一対をなしている２つのＬＥＤが長手方向に４ライン点灯されており、その間に長手方向の３ラインは消灯されている。そして、幅方向には１２ラインが点灯されており、その間の幅方向の１１ラインは消灯されている。

図３Ｂに示すように、第１照明３１のＬＥＤを点灯及び消灯した状態で第１カメラ２１を用いて撮影し、次に、幅方向に点灯した１２ラインは消灯し、消灯されている１１ラインは点灯した状態で撮影し、次に、長手方向に点灯されている４ラインは消灯し、消灯されている３ラインは点灯した状態で撮影し、次に、幅方向に点灯されている１２ラインは消灯し、消灯されている１１ラインは点灯した状態で撮影すれば、強化ガラスの表面全体に対して明るさ及び点灯されたＬＥＤの像の有無が異なる映像を取得することができ、この映像を分析することで、強化ガラスにスクラッチ及びクラックなどの損傷の有無をより正確に分析することができる。

前記第１照明３１は、ＬＥＤが格子状に配列される代わりに、１列に配列されているＬＥＤを用いてもよい。ここで、１列に配列されたＬＥＤは、電子機器Ｍの上部面の全体をカバーできない場合を代表し、２列、３列などを含んでもよい意味である。

ＬＥＤが電子機器Ｍの上部面の全体をカバーできない第１照明３１の場合、第１照明３１のＬＥＤが点灯された状態で電子機器Ｍの上部を通過すれば、電子機器Ｍの上部面は点灯された像及び消灯された像が共存し、上部面の全体は点灯された像の状態及び消灯された像の状態でそれぞれ第１カメラ２１に撮影される。

反対に、第１照明３１が移動することなく電子機器Ｍが移動して電子機器Ｍの上部面に点灯された像及び消灯された像が共存し、各像の状態が第１カメラ２１に撮影されてもよい。

参考として、電子機器Ｍの強化ガラスを撮影するときに、電子機器Ｍの画面はオフ状態で撮影する。

図２Ａ、図２Ｂ及び図４を参照すると、前記第２照明３２及び第２カメラ２２は、前記本体１０の暗室１１に配置された電子機器Ｍの側面を照明して撮影することで、電子機器Ｍの側面状態を分析する。

前記第２照明３２及び第２カメラ２２は、電子機器Ｍの側面に発生したスクラッチ、クラック、破損などのような損傷、及び電子機器Ｍに撓みなどのような変形があるか否かを分析する。

前記第２カメラ２２は、電子機器Ｍの上部で１度から３０度の間、好ましくは、５度から３０度の間の傾斜した撮影角度で電子機器Ｍの側面を撮影する。より好ましい角度は１５度である。前記第２カメラ２２は、電子機器Ｍの正側面で撮影してもよい。この場合カメラの画角により映像で電子機器Ｍが曲がった状態に歪曲されることがある。これにより、正側面よりも上記のように５度から３０度の間の傾斜角度で撮影することが好ましい。カメラが画角の広いレンズを用いて近距離に大きい電子機器Ｍを１回撮影すれば、撮影された電子機器の側面の像が曲がって見えることがあるが、上記ののように第２カメラ２２の角度を調整することで、像の曲がりを補正することができる。電子機器とカメラとの距離を調整すれば、このようなカメラの傾斜角の調整は不要となる。第２カメラ２２は、画角の広い広角レンズ、１：１レンズ、接写レンズ、望遠レンズ及びＰａｎ／Ｔｉｌｔ／ｚｏｏｍ機能を選択的に有することを使用してもよい。

前記第２照明３２は、第２カメラ２２と同じ方向から電子機器Ｍの側面を照明する。第２照明３２は、暗室１１に別途に用意して装着してもよく、ＬＥＤが格子状に配列された第１照明３１でエッジラインに配置されているＬＥＤを第２照明３２として用いてもよい。

図２Ａ、図２Ｂ及び図５を参照すると、前記第３照明３３及び第３カメラ２３は、本体１０の暗室１１に設置された電子機器Ｍの下部面を照明して撮影し、電子機器Ｍの下部面の状態を分析する。

前記第３照明３３及び第３カメラ２３は、電子機器Ｍの側面で発生したスクラッチ、クラック、破損などのような損傷の有無を分析する。

前記第３カメラ２３は、電子機器Ｍの下部に配置され、透明なプレート１３に載置された電子機器Ｍの下部面を撮影し、第３照明３３は、電子機器Ｍの下部で電子機器Ｍの下部面を照明する。

前記第３カメラ２３及び第３照明３３は、電子機器Ｍの正下部で撮影して照明してもよく、下部から傾斜した方向に撮影して照明してもよい。

図２Ａ、図２Ｂ及び図６を参照すると、前記第４照明３４及び第４カメラ２４は、本体１０の暗室１１に配置された電子機器Ｍの上部面を照明して撮影し、電子機器Ｍの上部面に位置する画面の状態を分析する。

前記第４照明３４及び第４カメラ２４の電子機器Ｍの画面の出力状態と、画面の汚れ、経年劣化、焼き付きなどの損傷があるか否かを分析する。

前記第４カメラ２４は、電子機器Ｍの上部正面で画面を撮影する。前記コントローラ５０は、端末駆動部５３を介して画面にイメージを表示し、画面の出力状態を撮影して分析できるようにし、画面の全体が白色や灰色又は黒色に表示されるよう画面に汚れ、経年劣化、焼き付きなどの損傷があるかを撮影して分析することができる。

前記第４照明３４は、電子機器Ｍの下部から下部面を証明することにより画面の色とバランスを合わせ、画面の状態分析のための画面品質を高めることができる。言い換えれば、白色や灰色又は黒色で表示される画面を撮影する場合、画面の光が周辺に広がって画面の境界が不明になり、映像分析にエラーを誘発することがある。ここで、電子機器Ｍの下部から第４照明３４が照明してホワイトバランスを合わせることで、このような問題を防止することができる。

ここで、前記第４照明３４の代わりに、電子機器Ｍが配置されるプレート１３で電子機器Ｍ周辺に光を吸収遮断する黒色の遮断シートを配置することで、この問題を防止することができる。

参考として、前記黒色の遮断シートは、電子機器Ｍの側面及び下部面を撮影し、照明するときにも配置することで、より高品質の映像を取得することができる。

電子機器Ｍは、上部面、下部面、そして４側面の合計６面を撮影して状態を分析する。

ここで、電子機器Ｍの大きさ及びカメラの画角を考慮するとき、電子機器Ｍの６面の全てを撮影する方案には２種類がある。最初の方案は、カメラの数量を最小化し、移動ユニット４０を用いてカメラを移動させることで電子機器Ｍの６面全てを撮影する方案であり、第２方案として、移動ユニット４０を単純化してカメラの数量を増やし６面の全てを撮影する方案である。もちろん、移動ユニット４０を利用せずにカメラの数量を最大化することでカメラの移動なくても正しい位置にある電子機器Ｍの６面の全てを撮影する方案も挙げられる。

最初の方案は、人が検査を行う環境に最も近接した環境を提供するが、特定の空間で検査製品（すなわち、電子機器Ｍ）の方向を様々に移動して動かせるための移動ユニット４０の機械的なメカニズムを実現するためには、システム全体のサイズが大きくなり、システムの構成コストが高くなる問題、及び移動ユニット４０の移動及び動きに対する微細調整技術を実現することが困難である。

これにより、最初の方案よりも、移動ユニット４０を単純化してカメラの数量を少し増やす第２の方案が好ましい。

図７Ａを参照すると、カメラは４個の側面ＶＩＥＷ＃１、＃２、＃３、＃４、下部面ＶＩＥＷ＃５、上部面ＶＩＥＷ＃６の６つの撮影方向から電子機器Ｍの６面を撮影することができる。

図７Ｂを参照すると、カメラの画角が小さい場合、移動ユニット４０が電子機器Ｍを前後移動させるように構成すると、カメラは、４個の側面ＶＩＥＷ＃１、＃２、＃３、＃４、下部面ＶＩＥＷ＃５、上部面ＶＩＥＷ＃６の６つの撮影方向から電子機器Ｍの６面を撮影することができる。参考として、図７Ｂにおいて、電子機器Ｍが前後に移動しない場合、カメラは、側面に２個と、上下部面にそれぞれ１つの撮影方向が追加されなければ、電子機器Ｍの６面全てを撮影することができない。

図７Ｃを参照すると、移動ユニット４０が電子機器Ｍを３６０度回転させるように構成すれば、カメラは、側面ＶＩＥＷ＃１、下部面ＶＩＥＷ＃５、上部面ＶＩＥＷ＃６の３つの撮影方向のみから電子機器Ｍの６面の全てを撮影することができる。

図７Ｄを参照すると、カメラの画角（ｖｉｅｗ－ａｎｇｌｅ）が小さい場合、移動ユニット４０が電子機器Ｍを３６０度回転させ、直線に前後に移動できるように構成すれば、カメラは、側面ＶＩＥＷ＃１、下部面ＶＩＥＷ＃５、上部面ＶＩＥＷ＃６の３つの撮影方向のみから電子機器Ｍの６面の全てを撮影することができる。

照明ユニット２０の光源（ＬＥＤが光源に該当）が電子機器Ｍを直接照射し、カメラが電子機器Ｍの表面に反射した光源及びその周辺を撮影する場合、映像から光源の位置した部位は判定することができない。これにより、他の位置にある光源が電子機器Ｍを照射する状態でカメラが撮影し、以前に光源が反射された部位に光源のない状態で映像を撮影する。すなわち、照明ユニット２０に複数の光源を備え、カメラは、一部の光源が交互に点灯した状態で電子機器Ｍを撮像して画像を取得する。

また、光源が電子機器Ｍの表面に反射していない状態でカメラを撮影することもできるが、すなわち、映像に光源が現れないように撮影してもよい。ここで、電子機器Ｍを照明する光の照明角に応じて、散乱部位（通常、電子機器Ｍの傷や変形部分に散乱される）の散乱度が弱くなり得るため、映像上では識別できない場合もある。これにより、照明ユニットが様々な角度で光源を照射し、電子機器Ｍの散乱部位で一定の強度以上の散乱を発生させる必要がある。

このように、照明ユニット２０が電子機器Ｍを照明すると、一般的に照射角の異なる複数の光源が同時に照明されるが、ここで、光源の波長が同一であれば、光の干渉現像によって消滅干渉（相殺干渉）を引き起こし、暗い縞模様や明るい縞模様の干渉パターンが発生することがある。消滅干渉や干渉パターンは映像の分析を妨害する。

ここで、本発明は、照明ユニットを構成する光源が照明する光の波長（光の色温度）を２種類以上にし、前記コントローラ５０が電子機器Ｍを複数の光源が同時に照明角度を相違にしながら照明するとき、照明の光の波長を相違にすることで光の干渉現像の発生を防止する。

光源として、発散される光のカラー（すなわち、色温度、波長）の調整が可能なものを使用し、コントローラ５０は、同時に照明される光源のカラーを相違にして制御することで光の干渉現像を防止し、または、それぞれ１つのカラーで照明される光源を使用してもよく、コントローラは、異なるカラーの色を選択して同時に照明することで、光の干渉現像を防止することができる。

光の干渉現像で発生する干渉パターンを防止するための方法として、光源に照明を面光源に切り替える面光源フィルタを備えてもよい。ここで、面光源への切り替えにより光量が減少し得るが、これは光源に発光角度を夾角に調整する夾角フィルタを備えることで対処できる。前記面光源フィルタ及び夾角フィルタは、それぞれ独立的に光源に備えられてもよく、組み合わせて備えられてもよい。

図２Ｃは、照明が電子機器Ｍに直接反射しない状態でカメラが撮影し、照明の波長が２種類以上になって光の干渉現像を防止するために適するカメラユニット及び照明ユニットの配置構造として、正面図及び平面図を示す。

図２Ｃを参照すると、本体１０の上部面には電子機器Ｍの上部面を撮影する第４カメラ２４を配置し、本体１０の各側面には電子機器Ｍの４個の側面を撮影する第５カメラ２５－１～２５－４を配置し、本体１０の下部面には電子機器Ｍの下部面を撮影する第３カメラ２３を配置してもよい。

本体１０の各側面には、第５照明３５－１～３５－４が配置されている。図２Ｃに示された例として、第５照明３５－１は本体１０の第１側面に位置し、第５照明（又は、第２光源）３５－３は第１側面に対向する第２側面に位置し、第５照明３５－２は本体１０の第３側面に位置し、第５照明３５－４は第３側面に対向する第４側面に配置している。

第５照明３５－１～３５－４のそれぞれは光源である。第５照明３５－１は、第１光源とは相違に表現されてもよく、第５照明３５－２は、第２光源とは相違に表現されてもよく、第５照明３５－３は、第３光源とは相違に表現されてもよく、第５照明３５－４は、第４光源とは相違に表現されてもよい。

第５照明３５－１～３５－４のそれぞれは、例えば、ＬＥＤが一列で配列された構造を有するが、これに制限されることはない。実現に応じて、第５照明３５－１～３５－４のそれぞれは１つのＬＥＤを含んでもよい。

第５照明３５－１～３５－４の光が電子機器Ｍに直接的に反射して第４カメラ２４及び第５カメラ２５－１～２５－４に撮影されないように、第５照明３５－１～３５－４の点灯、第４カメラ２４の駆動、及び第５カメラ２５－１～２５－４の駆動は、コントローラにより制御される。

第５照明３５－１～３５－４の光は、電子機器Ｍで変形（クラック、破損、スクラッチなど）のある部位で乱反射又は散乱し、第４カメラ２４及び第５カメラ２５－１～２５－４の少なくとも１つは、電子機器Ｍの散乱部位を撮影した映像を取得する。ここで、前記第５照明３５－１～３５－４が電子機器Ｍを照射する角度に応じて、乱反射又は散乱の程度を調整することができる。

干渉現像を防止するために第５照明３５－１～３５－４は、２つ以上の方向から２つ以上の波長に電子機器Ｍを同時に照明することができる。ガラスのような材質の製品のクラック又は破損した部位に光が垂直方向に照射すれば、散乱がないか微弱に発生する場合があり、クラック又は破損した部位に同時に様々な方向から光が照射されれば、光の干渉現像による相殺干渉が発生し得る。そのため、第５照明３５－１～３５－４は、２つ以上の波長で電子機器Ｍを照明することができる。

図２Ｃに示された例として、第５照明３５－１及び第５照明３５－３は互いに異なる波長の光を出力してもよい。一例として、第５照明３５－１は、波長λ１の光を出力してもよく、第５照明３５－３は波長λ２の光を出力してもよい。第５照明３５－１と第５照明３５－３との間の距離は短く、第５照明３５－１と第５照明３５－３が同じ波長の光を出力すれば、干渉により電子機器Ｍの外観欠陥（例えば、上述したクラック、破損、スクラッチなど）に対する乱反射又は散乱が相殺される。これにより、電子機器Ｍの外観欠陥に対するイメージが第４カメラ２４及び第５カメラ２５－１～２５－４のうちの１つ以上又は全てに正確に形成されない場合がある。したがって、第５照明３５－１及び第５照明３５－３は互いに異なる波長の光を出力し得る。

実施形態において、電子機器Ｍの上部の側面側に向かっている第５照明３５－４と、電子機器Ｍの下部の側面側に向かっている第５照明３５－２は同じ波長の光を出力してもよい。第５照明３５－２と第５照明３５－４との間の距離は、光の干渉がないほど長く、第５照明３５－２と第５照明３５－４は同じ波長の光を出力することができる。ここで、第５照明３５－２及び第５照明３５－４は、第５照明３５－１と第５照明３５－３のそれぞれと異なる波長の光を出力してもよい。一例として、第５照明２５－２及び第５照明２５－４は波長λ３の光を出力してもよい。実現に応じて、第５照明３５－２及び第５照明３５－４は、互いに異なる波長の光を出力してもよい。一例として、第５照明３５－２は波長λ３の光を出力してもよく、第５照明３５－４は波長λ４の光を出力してもよい。この場合、第５照明３５－１～３５－４のそれぞれは互いに異なる波長の光を出力する。

図２Ｃに示された例として、第５照明３５－１及び第５照明３５－３は第１照射角で光を出力し、第５照明３５－２及び第５照明３５－４は第１照射角とは異なる第２照射角で光を出力してもよい。実現に応じて、第５照明３５－１～３５－４のそれぞれは同じ照射角で光を出力してもよい。

図２Ｃにおいて、電子機器Ｍと第５照明３５との間の距離と、電子機器Ｍと第５カメラ２５との間の距離が同一である場合、第５照明３５が電子機器Ｍを照明する角度は４５度以下であることが好ましい。ここで、電子機器Ｍの面積が広くなるか、第５照明３５と電子機器Ｍの距離が近接すれば、それに比例して第５照明３５が電子機器Ｍを照明する角度はさらに小さくなり得る。

図２Ｃに示された例の場合、第５照明３５－１～３５－４の光は、電子機器Ｍに直接反射して第４カメラ２５－４及び第５カメラ２５－１～２５－４により撮影される方式ではないため、第５照明３５－１～３５－４は強い強度の光を出力し得る。ここで、電子機器Ｍの材質特性として映像に縞が発生することがあるが、これを解消するために、第５照明３５－１～３５－４に面光源に切り替える面光源フィルタを用いてもよく、明るさの効率を向上させるために、第５照明３５－１～３５－４の照射角を夾角とする夾角フィルタを用いてもよい。

図２Ｃは、第５照明３５－１～３５－４が同時に照射して撮影するため、電子機器Ｍの分析のために取得する映像の数を減らすことができ、これにより映像の分析を通した電子機器Ｍの価値評価の時間を短縮できる。

実施形態において、コントローラは、電子機器Ｍの価値（例えば、電子機器Ｍの購入金額）を外観撮影分析システムのディスプレイに表示する。一例として、コントローラは、電子機器Ｍの外観検査と性能検査を実行してもよく、外観検査結果及び性能検査結果のうち少なくとも１つにより電子機器Ｍの価値を決定することができる。外観検査は、カメラ２３、２４及び２５－１～２５－４のそれぞれが電子機器Ｍを撮影した１つ以上の映像に基づいて行われてもよい。他の一例として、コントローラは、カメラ２３、２４、及び２５－１～２５－４それぞれが電子機器Ｍを撮影した１つ以上の映像をサーバ又は管制センターに送信してもよい。また、コントローラは、電子機器Ｍの性能検査結果をサーバ又は管制センターに送信する。サーバ又は管制センターは、受信した１つ以上の映像を用いて電子機器Ｍの外観検査を行い、外観検査結果及び電子機器Ｍの性能検査結果を介して電子機器Ｍの価値を決定する。サーバ又は管制センターは、電子機器Ｍの決定された価値を外観撮影分析システムに送信する。コントローラは、サーバ又は管制センターから受信した電子機器Ｍの決定された価値を外観撮影分析システムのディスプレイに表示する。そのため、電子機器Ｍの所有者は、電子機器Ｍの価値を確認することができ、電子機器Ｍを販売したり、又は販売しなくてもよい。電子機器Ｍの所有者が電子機器Ｍを販売するものと最終決定すれば、コントローラは、本体１０に設置された電子機器Ｍが後述する回収箱により安全に移動させることができる。

本発明に係るシステムは、それぞれの撮影環境に応じて照度を調整することが好ましい。したがって、照度センサを用いて、ＬＥＤ光源が設定値に応じて照度が点灯しているか否かを監視する。コントローラは、システムの駆動初期と任意の設定期間ごとに照度センサを用いて本体１０内部の照度を検出し、検出された照度が誤差範囲を超過すれば、照明ユニットの光量を制御して照度が設定範囲内に保持されるようにする。

本発明のコントローラは、カメラユニットの性能点検のために駆動初期と任意の設定期間ごとに本体１０の内部を撮影し、予め撮影された映像と比較してカメラユニットの状態及び本体の撮影環境などをチェックする。

本発明のコントローラは、電子機器に付着した付着物により誤判定が予想される場合、販売者に端末の付着物を除去するよう案内し、ここで、付着物による誤判定で後払いの販売に対する切り替えも案内する。

本発明を構成している構成要素のうちカメラユニット２０は、相対的に高価な構成要素であり、故障によるメンテナンスや交換が必要である。

これにより、カメラユニット２０の数量を減すことで、製造コストやメンテナンスコストを節減することができる。

ここで、本発明は、反射鏡６０を用いてカメラの数量を減らすことができる。
前記反射鏡６０は、前記本体の内部に装着され、前記カメラユニット２０が向っていない方向（すなわち、カメラユニットが直接撮影できない方向）で前記電子機器Ｍを撮影するようにする。

図８Ａには、１つのカメラが電子機器Ｍの６面を同時に撮影し、図８Ｂには、１つのカメラが電子機器Ｍの５面を同時に撮影し、図８Ｃは、１つのカメラが電子機器Ｍの３面を同時に撮影する構造の一例を示している。

電子機器Ｍの外観は、強化ガラスのある正面が最も重要である。これにより、前記カメラユニット２０は、本体の上部に装着されて前記電子機器Ｍを上部において正面から撮影する正面カメラ（図２Ａに示す第４カメラ２４が正面カメラとして使用される）を用いることが好ましい。

また、前記反射鏡６０は、前記正面カメラに前記電子機器Ｍの側面を同時に撮影する側面ミラー６１と、前記電子機器Ｍの後面を同時に撮影する後面ミラー６２を用いる。

図８Ａを参照して、前記本体１０の暗室に前記電子機器Ｍが載置する透明プレートから上部側に設けられた４個の側面ミラー６１は、それぞれ正面カメラに電子機器Ｍの側面を提供し、設置板から下部側に設けられた後面ミラー６２は、正面カメラに電子機器Ｍの後面側を提供する。前記後面ミラー６２は、大きさ及び角度に応じて１～４個を用いて電子機器Ｍの後面全体を提供する。

図８Ｂは、後面ミラー６２を使用しないため正面カメラが後面を除いた電子機器Ｍの５面を同時に撮影できる構造を示し、図８Ｃは、後面ミラー６２を使用せずに側面ミラー６１を２つ用いて正面カメラが中古電子機器Ｍの正面と２つの側面を同時に撮影できる構造を示す。

電子機器Ｍは、種類に応じてその大きさが異なる。ここで、反射鏡６０は、電子機器Ｍの種類が異なっても最適な側面と後面に対する映像が撮影されるよう、角度調整できるものが好ましい。

前記本体１０において、電子機器Ｍの価値評価と購入を通した回収が行われる場合に購入代金を販売者に支払うが、電子機器Ｍを回収する回収箱（図示せず）が別にあれば、本体１０で価値評価した電子機器Ｍと回収箱に収納された電子機器Ｍとが同じ電子機器Ｍであることを確認した後購入代金を支払う。

本体１０において、価値評価のために登録された電子機器Ｍと別途の回収箱に収納された電子機器Ｍとが同一であるかを確認する方法は様々である。

本体１０に登録された中古電子機器Ｍは、価値評価のために本体と有線又は無線で接続して価値評価のためのプログラムがインストールされて遠隔制御されてもよい。回収箱に収納された電子機器Ｍも同じ電子機器Ｍを認証するために、収納箱に有線又は無線で接続されている。

本体１０と回収箱はそれぞれ有線又は無線で接続された電子機器Ｍの固有ＩＤを取得することができるため、回収箱により固有ＩＤを比較して電子機器Ｍの同一性を認証することができる。ここで、電子機器Ｍの固有ＩＤには、ハードウェアのＭＡＣアドレス（ＭＡＣ ａｄｄｒｅｓｓ）、機種情報、部品の固有番号、インストールされたプログラムのシリアル番号などを含んでもよい。

価値評価のために本体に登録された電子機器Ｍを遠隔制御する場合、回収箱に収納された電子機器Ｍも遠隔制御してもよい。これにより、遠隔制御を通じて電子機器Ｍが回収箱の内部環境を認識する方法に基づいて電子機器Ｍの同一性を認証することができる。

例えば、回収箱から出力される各種の情報照明、収納経路、周波数、音などの環境情報を電子機器Ｍが遠隔制御を介して認識することができる。収納箱から出力される環境情報と電子機器Ｍが認識する環境情報とが一致すれば、同じ電子機器Ｍとして認証される。ここで、収納箱から出力される環境情報は、収納箱外部に放出されないようにしなければならない。

具体的な例を説明すると、回収箱の内部に他のカラーの光を発する照明を設け、いずれか１つの照明を点灯させ、収納された電子機器Ｍのカメラが撮影して同じカラーが撮影されたかを確認することで、同一性を認証する。又は、照明を点滅して点滅する回数を確認して同一性を認証してもよい。

電子機器Ｍを回収箱に収納するとき、電子機器Ｍを収納する経路の要求及び傾斜、折れるなど、電子機器Ｍ内のジャイロセンサの動きを分析することで認証することができる。

回収箱の内部に設置されているスピーカが特定の音（周波数）を発生し、これを電子機器Ｍのマイクを介して取得することで同一性を認証することができる。

これとは反対に、回収箱に収納された電子機器Ｍが画面に特定カラーを表示し、回収箱の内部に設置されているカメラがこれを撮影することで同一性を認証し、電子機器Ｍが特定の音（周波数）を出力し、回収箱に設置されたマイクがこれを取得して同一性を認証してもよい。

本発明に係るシステムを介して電子機器Ｍの価値を評価し、これに基づいて電子機器Ｍを購入した後には、該当電子機器Ｍのメモリに格納されたデータを削除、すなわちメモリを初期化し、電子機器Ｍの以前所有者（すなわち、販売者）の個人的な資料又は情報などが流出されないようにする。

購入した電子機器Ｍを介して前所有者の個人情報が流出されないように、前記コントローラ５０はデータ削除モジュール６２を備えてもよい。現場にインストールされるキオスクにデータ削除モジュール６２を備えてデータを削除することが、コスト及びセキュリティーなどを総合的に考慮したとき適していない場合は、前記データ削除モジュール６２を管制センターに備えてもよい。

図９には、前記データ削除モジュール６２で行われる電子機器Ｍのデータ削除方法に関する手続が図示されている。

図９を参照すると、本発明に係る電子機器Ｍのデータ削除方法は、電子機器Ｍのデータ領域に接続する接続ステップＳ１０と、接続された電子機器Ｍのデータ領域を暗号化する暗号化ステップＳ２０、暗号化されたデータ領域を削除する削除ステップＳ３０、データ領域のデータを完全に削除するランダム上書きステップＳ４０、及び電子機器Ｍの工程初期化を行う初期化ステップＳ５０からなる。

各ステップについてより具体的に説明すると、まず、前記接続ステップＳ１０は、電子機器Ｍを接続してデバッグモードに進入するステップであって、一般に、前記データ削除モジュールと電子機器Ｍを別途のＵＳＢケーブルを用いて接続するステップである。

デバッグモードとは、システムエラーの検出及び修正に役に立つ詳細な情報を出力するモードであり、開発者モードとも呼ばれ、外部からモバイル機器にＰＣなどを強制的に接続してモバイル機器内で任意的にアクセスし難い領域のデータをコピーしたり、特定アプリケーションを強制にインストールしたりもする。また、一般的なユーザモードでは表示されない機器情報などを読み込むために使用されることもある。

再度このような開発者モードに進入するためには、ユーザ認証又は確認が求められ、そのために別途の認証又は確認手続を駆動するプロセスを行うことが好ましい。

このようにデバッグモードに進入すると、一般には、電子機器Ｍのデータ領域を削除する削除ステップＳ３０に直ちに進入して削除を行うが、この場合には、別途の復元プログラムを介して削除されたデータを復旧することがあり、個人情報の流出という問題につながる。

したがって、本発明は、復元プログラムを介してデータが復元されても、データの読み込みを防止するためには、削除ステップ以前にデータ領域の全体に対する暗号化技術を適用した暗号化ステップＳ２０をさらに行う。ことにより、削除後にデータ復元プログラムによりデータが復元されても、暗号化データとして復元されるため、暗号化時の暗号化コードがなければデータを直ちに復元することができない。

具体的に、まず、暗号化ステップＳ２０及び削除ステップＳ３０などの全般的な削除プロセスを行うために、前記デバッグモード進入と同様にユーザの承認の有無及び進行による確認手続を駆動するプロセスを行うことが好ましい。

上記のようなプロセスでユーザの承認が確認されれば、データ領域を暗号化する暗号化ステップＳ２０を行う。

このため、まず、電子機器Ｍメモリの一般的な構造について説明する。電子機器Ｍのメモリは一般にデスクトップＰＣとは異なり、ブート領域、システム領域、復旧領域、データ領域、キャッシュ領域、Ｍｉｓｃ領域に区分されている。

ブート領域は、電子機器Ｍをブートするためのプログラム、リソース、データなどが格納される空間である。

システム領域は、電子機器Ｍを駆動するために必要なシステムに関するファイルが格納される空間であって、工場で電子機器Ｍを生産するときに設けられるプログラムなどが格納される空間である。

復旧領域は、一般に、工程の初期化などを行うとき、先に言及したシステム領域を出荷時のデフォルト状態にリカバリーするための復旧プログラムが格納されている空間である。

データ領域は、ユーザが格納したプログラム、個人ファイル（連絡先、メッセージ、設定）などが格納される空間であって、その空間に各ユーザの個人情報が含まれている。

また、キャッシュ領域は、キャッシュデータが格納される空間であり、キャッシュデータとは、性能を向上させるために備えられた小型高速記憶装置として、中央処理装置及び主記憶装置の間のデータと命令語を臨時格納してアクセス速度を向上させるために自動保管されるデータである。

また、Ｍｉｓｃ領域は、ＣＩＤ（Ｃａｒｒｉｅｒ ｏｒ Ｒｅｇｉｏｎ ＩＤ）、ＵＳＢ構成、及び特定のハードウェア設定関連情報を格納する空間である。

したがって、本発明の暗号化ステップＳ２０は、このような電子機器Ｍの各区域に対して、特にデータ領域を暗号化するものであって、個人情報、すなわちメッセージ、写真、連絡先、写真、証明書などのデータファイルを全て暗号化し、任意に読み取れないようにする。

より詳しくは、前記暗号化ステップＳ２０は、データ領域、特に、内部メモリのデータ領域及び外装メモリのデータ領域を全て暗号化することで、暗号化コードを用いてデータ領域を暗号化し、特に、この暗号化コードでＡＥＳ－１２８ｂｉｔ方式を用いて行う。

ＡＥＳ暗号化方式について説明する。
まず、アメリカの国立標準局（Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｂｕｒｅａｕ ｏｆ Ｓｔａｎｄａｒｄｓ）は、１９７５年データ暗号化のためにＤＥＳ（Ｄａｔａ Ｅｎｃｒｙｐｔｉｏｎ Ｓｔａｎｄａｒｄ）という暗号化標準を制定した。この技術は、５６ｂｉｔのキー（ｋｅｙ）を使用する対称キー（ｓｙｍｍｅｔｒｉｃ－ｋｅｙ）暗号化方法であって、これまで特に問題なく利用された。ただ、キーの長さが極めて短く、バックドア（ｂａｃｋｄｏｏｒ）があることから特殊な方法を用いて使用すれば解読できるという問題があった。

したがって、このような問題を解決するために開発された方式として、ＡＥＳ技術も暗号化及び復号化過程で同じキーを用いる対称キー方式を使用したが、１２８ｂｉｔのブロックを１２８ｂｉｔ、１９６ｂｉｔ、あるいは２５６ｂｉｔのキーの長さで処理できることが、ＤＥＳと大きい差異点である。

上記のようにデータ領域を暗号化した後には、暗号化されたデータ領域を削除する削除ステップＳ３０に進入する。

削除ステップＳ３０は、前述した電子機器Ｍの各区域、すなわち、データ領域、キャッシュ領域を全て削除するステップである。

このような削除ステップＳ３０は、ファイルシステムで記録を削除するものであり、実際には、該当ファイルを見つけてファイルを削除するものではないので、復元プログラムを用いて容易に復元し得るという問題がある。

したがって、本発明は。このような削除ステップＳ３０を実行した後、より完全なデータ領域の削除のためにランダム上書きステップＳ４０をさらに行う。

ランダム上書きステップＳ４０は、一般的な削除とは異なる永久的な削除を意味する。データの全領域を「０」又は「１」に記録するゼロ埋め込み方式とデータの全領域を互いに重複しない文字で記録し、全てのデータを除去する無限乱数入力方式が挙げられる。

本発明は、オペレーティングシステムの単純な方式に従わず、ファイルシステムの記録を削除すると共に、データ領域に記録された実際のファイル空間に移動し、ファイル上に新しいデータ、すなわち、「０」又は「１」又は「重複しない」で記録する方式によりランダム上書きを行う。

一般に、データ完全な削除方式として、ＰＣのＨＤＤのような格納媒体の場合、米国防総省や韓国の情報院などで推奨する標準方式（ＤＯＤ ５２２０．２２－Ｍ）を適用しており、通常３回以上の上書きを推奨している。一方、モバイル機器は、ＰＣのＨＤＤのような格納媒体とは異なり、格納装置としてフラッシュメモリを用いているが、フラッシュメモリの場合、直接データの上書きが不可能であるため、全データ削除、ゼロフィル、再度全データ削除、ゼロフィルを行う方式で全データ削除を行う。ところが、フラッシュメモリにこのような複数回の上書きは時間がかかり、メモリ寿命の短縮という副作用があり、完全なデータ削除には一回の上書きでも十分であることが知られている。したがって、１回程度のゼロフィルを行うことが一般的な傾向である。しかし、このような削除方法と共にデータ復旧技術の発展により、単純なゼロフィル１回のみでデータの完全削除は保障し難いという問題がある。Ｈ／Ｗを活用するなどの復旧技術もさらに発展しており、完全な削除は期待することが難い。

したがって、本発明は、データを「０」又は「１」に記録するゼロフィル方式だけではなく、電子機器Ｍの状態に応じて重複しない文字を入力する無限乱数入力方式の両方を使用することで、データの完全削除を可能にする。

また、追加的なセキュリティプランとして、前述したように、ランダム上書きステップＳ４０の前に暗号化ステップを行って個人情報を復旧しても、暗号化されたファイルが復旧することにより、個人情報を読み取ることのできない完ぺきな個人情報の保護が可能である。

前記ランダム上書きステップＳ４０において、本発明は、個人情報をより安全に保護するために無限乱数入力方式及びゼロフィル方式を共に用いて、より迅速な処理のために並列プロセスで処理される。

図９を参照してより具体的に説明する。
まず、前記ランダム上書きステップＳ４０は、メモリデータ領域の容量が基準容量（例えば、１００Ｍ）よりも大きいかを確認する（Ｓ４１）。

確認結果データ領域が基準容量よりも小さければ、データ領域全体に対して無限乱数入力方式やゼロフィル方式、又は両方が混在された方式でデータを完全削除する（Ｓ４２）。

確認結果、データ領域が基準容量よりも大きければ、データ領域を分割容量（例えば、２８０Ｍ）大きさのセクタ（Ｓ４５）に順次分割する（Ｓ４３）。ここで、セクタ（Ｓ４５）は物理的、論理的に分割されて影響を与えないようにする。

データ領域において最初のセクタの分割が完了すれば、最初のセクタに対して無限乱数入力方式及びゼロフィル方式が混合した方式でデータの完全削除を行ない、最初のセクタに対してデータの完全削除が進行し始まると、直ちにデータ領域の残り部分で２番目のセクタの分割が開始され、２番目のセクタの分割が完了すれば、データの完全削除が行われ、再び３番目のセクタの分割が開始される。

これにより、前記ランダム上書きステップＳ４０は、データ領域から分割された複数のセクタ（Ｓ４５）に対するデータ完全削除を同時に行う並列プロセス方式で処理され、データ領域全体に対するデータ完全削除の時間を短縮することができる。

分割されたセクタ（Ｓ４５）でデータを完全削除する方式として、分割されたセクタの一部（例えば、２８０Ｍのうち９０Ｍ）に対して無限乱数入力方式でデータを完全削除し（Ｓ４６）、残りの一部（例えば、１９０Ｍ２８０－９０）の一部１００Ｍに対して、ゼロフィル方式でデータを完全削除し（Ｓ４７）、残りの全体（例えば、９０Ｍ）に対して無限乱数入力方式でデータを完全削除する（Ｓ４８）。

このようにランダム上書きステップＳ４０が行われた電子機器Ｍは、再使用のための工程初期化を行う初期化ステップＳ５０が実行さる。これにより、電子機器Ｍに残っているデータを完全削除することができ、不正行為のために復元を試みる場合、復元されたデータが暗号化されていることで読み取りできないようにし、より強化された補完を含むという特徴がある。

実施形態に係る方法は、様々なコンピュータ手段を介して実施されるプログラム命令の形態で具現され、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録される。記録媒体は、プログラム命令、データファイル、データ構造などを単独又は組み合せて含む。記録媒体及びプログラム命令は、本発明の目的のために特別に設計して構成されたものでもよく、コンピュータソフトウェア分野の技術を有する当業者にとって公知のものであり使用可能なものであってもよい。コンピュータ読み取り可能な記録媒体の例として、ハードディスク、フロッピー（登録商標）ディスク及び磁気テープのような磁気媒体、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤのような光記録媒体、フロプティカルディスクのような磁気－光媒体、及びＲＯＭ、ＲＡＭ、フラッシュメモリなどのようなプログラム命令を保存して実行するように特別に構成されたハードウェア装置を含む。プログラム命令の例としては、コンパイラによって生成されるような機械語コードだけでなく、インタプリタなどを用いてコンピュータによって実行される高級言語コードを含む。本発明に示す動作を実行するために１つ以上のソフトウェアモジュールとして作動するように構成してもよく、その逆も同様である。

ソフトウェアは、コンピュータプログラム、コード、命令、又はそのうちの一つ以上の組合せを含み、希望の通りに動作するよう処理装置を構成したり、独立的又は結合的に処理装置を命令することができる。ソフトウェア及び／又はデータは、処理装置によって解釈されたり処理装置に命令又はデータを提供するために、いずれかの類型の機械、構成要素、物理的装置、仮想装置、コンピュータ格納媒体又は装置、又は送信される信号波に永久的又は一時的に具体化することができる。ソフトウェアはネットワークに連結されたコンピュータシステム上に分散され、分散した方法で格納されたり実行され得る。ソフトウェア及びデータは一つ以上のコンピュータで読出し可能な記録媒体に格納され得る。

上述したように実施形態をたとえ限定された図面によって説明したが、当技術分野で通常の知識を有する者であれば、上記の説明に基づいて様々な技術的な修正及び変形を適用することができる。例えば、説明された技術が説明された方法と異なる順で実行されるし、及び／又は説明されたシステム、構造、装置、回路などの構成要素が説明された方法と異なる形態で結合又は組み合わせられてもよいし、他の構成要素又は均等物によって置き換え又は置換されたとしても適切な結果を達成することができる。

したがって、本発明の範囲は、開示された実施形態に限定されて定められるものではなく、特許請求の範囲及び特許請求の範囲と均等なものなどによって定められるものである。

Claims (2)

1. ディスプレイと、
   電子機器が設置される本体と、
   同時に光を出力して前記電子機器を照明する複数の照明と、
   前記複数の照明を用いて前記電子機器を撮影するカメラと、
   前記電子機器の外観検査結果及び前記電子機器の性能検査結果に基づいて決定された前記電子機器の価値を前記ディスプレイに表示するコントローラと、
   を含み、
   前記複数の照明は、
   前記本体内部の第１側面に位置する第１照明と、
   前記第１側面に対向する第２側面に位置する第２照明と、
   前記本体内部の第３側面に位置する第３照明と、
   前記第３側面に対向する第４側面に位置する第４照明を含み、
   前記第１照明と前記第２照明の間の距離は、前記第３照明と前記第４照明の間の距離よりも短く、
   前記第１照明と前記第２照明は、前記電子機器の外観欠陥に起因する乱反射を照明光の干渉により相殺しないように互いに異なる波長の光を出力し、
   前記第３照明と前記第４照明の間の距離は、光の干渉がないほど長く、
   前記第３照明と前記第４照明は、同じ波長の光を出力する
   電子機器価値評価システム。
2. 前記第１照明及び前記第２照明は第１照射角で光を出力し、前記第３照明及び前記第４照明は第２照射角で光を出力する、請求項１に記載の電子機器価値評価システム。

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