CN101663577A - 探查系统及技术 - Google Patents

探查系统及技术 Download PDF

Info

Publication number
CN101663577A
CN101663577A CN200880013074A CN200880013074A CN101663577A CN 101663577 A CN101663577 A CN 101663577A CN 200880013074 A CN200880013074 A CN 200880013074A CN 200880013074 A CN200880013074 A CN 200880013074A CN 101663577 A CN101663577 A CN 101663577A
Authority
CN
China
Prior art keywords
image
glass plate
value
target area
view data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN200880013074A
Other languages
English (en)
Inventor
克里斯托夫·戴维斯
安德烈·塞热
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HUNGARY KFT ZUG BRANCH
Original Assignee
HUNGARY KFT ZUG BRANCH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HUNGARY KFT ZUG BRANCH filed Critical HUNGARY KFT ZUG BRANCH
Publication of CN101663577A publication Critical patent/CN101663577A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G01N2021/9586Windscreens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02Mechanical
    • G01N2201/022Casings
    • G01N2201/0221Portable; cableless; compact; hand-held

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

公开了一种探查玻璃板的方法,在该方法中,采集了所述玻璃板的目标区域的第一探查图像并采集了所述目标区域的第二探查图像。对来自所述第一探查图像与所述第二探查图像的图像数据进行合并以提供表示所述玻璃板在所述目标区域的状况的输出。

Description

探查系统及技术
技术领域
本发明涉及探查系统及技术,并且具体地说但并不排除,涉及用于探查诸如特别是车辆风挡玻璃的玻璃板(glazing panel)的损伤和/或修理质量的探查系统和技术。
背景技术
WO2006/000803公开了一种用于对诸如特别是车辆风挡玻璃的玻璃板的损伤和/或修理质量进行光学评估的装置和技术。
现在已经设计出了改进的系统和技术。
发明内容
根据第一个方面,本发明提供了一种探查玻璃板的方法,该方法包括以下步骤:
采集玻璃板的目标区域的第一探查图像;
采集所述目标区域的第二探查图像;
合并来自所述第一探查图像和所述第二探查图像的图像数据以提供表示玻璃板的所述目标区域处的状况的输出。
所述第一探查图像与所述第二探查图像有利地是强反差图像(contrast image),其中一个图像具有暗背景,另一个图像具有亮背景/反射背景。
根据另一方面,本发明由一种获得了数据文件输出的方法限定,所述数据文件输出包括:所获得的玻璃板的目标区域的数字探查图像;以及从数字图像数据得到的经处理的值,该经处理的值表示所述玻璃板的所述目标区域处的相对于基准(datum)水平或比例(scale)水平或标尺(gauge)水平的状况。
有利地,所述经处理的值用于给出与风挡玻璃的状况有关的百分比或比例值,或给出支持或反对特定动作过程的决定。
根据任一方面,优选地使用电子图像采集装置。
优选地,在采集并存储所采集的图像中的一个之前,获得测试图像,并且优选地处理所述测试图像以确定用于采集后续图像的曝光时间。
优选地,采集所述目标区域的强反差图像,并且对所述图像数据进行处理以确保将处于阈值或高于阈值的像素记录为第一极值(最大值或最小值(零)),并且把小于最小值的像素转换成相反的极值(最小(零)值或最大值)。
在特定实施方式中,可能期望在拍摄探查图像之前先拍摄参考图像并进行求差处理以从所述探查图像中减去所述参考图像。
在一个有效的实施方式中,拍摄所述目标区域的强反差图像,并且反转或转换(reverse/invert)所述图像中的其中一个图像的图像数据以与另一图像的图像数据进行合并。
希望的是,使用照明装置来照亮所述目标区域,所述照明装置优选地包括环形的照明环,该照明环用于将照明光导向所述环的中央。有利的是,所述照明装置提供了光谱位于红外区域中的照明辐射。
在根据本发明的一种技术中,优选地:
合并来自所述第一探查图像和所述第二探查图像的图像数据,从而提供表示是否能够修理所述目标区域处的损伤的输出;以及
在随后的修理之后,来自另一组探查图像的图像数据提供经处理的值,所述经处理的值表示在所述目标区域处进行的修理相对于基准水平或比例水平或标尺水平的质量。
根据另一个方面,本发明提供了一种探查玻璃板的系统,该系统包括:
探查装置,其包括数字图像采集装置和用于对设备进行照亮的照明设备;所述装置能够操作用于照亮所述玻璃板的目标区域;
暗背景元件,其设置在所述玻璃板上与所述光学探查设备相对的背面;
亮/反射背景元件,其设置在所述玻璃板上与所述光学探查装置相对的背面。
有利的是,提供了目标导板(target template)以确保所述光学探查装置和/或所述背景元件相对于所述玻璃板准确地定位。
所述目标导板可有利地包括设置有瞄准孔的柔性片。所述片可以设置有用于固定到所述玻璃板的装置。有利的是,所述目标孔的周边与所述探查装置和/或所述背景元件的周边大致地对应。
根据另一个发明,本发明提供了一种光学探查装置,该光学探查装置包括:
电子成像装置;
暗室(dark space chamber),其具有远离所述成像装置朝着探查装置的远端延伸的第一窄部,其中,所述暗室在阶梯状的宽室部处向外延伸,该宽室部的外周壁在外面与窄室部的外周壁间隔开;
照明环,其设置在位于所述装置的远端处的所述宽室部外周壁的远端的区域中,所述照明环将照明辐射导向所述环的中央。
在一个优选的实施方式中,所述照明环可包括围绕所述环而间隔开的一圈LED照明装置。
优选的是,对于所述暗室而言,所述宽室部的外周壁的深度小于所述宽室部外周壁与所述窄室部的外周壁之间的间隔。
令人期望的是,所述成像装置的视场处于所述窄室部的所述外周壁的边界之内。
优选的是,该装置具有内置处理器,所述内置处理器被设置成处理来自第一探查图像和第二探查图像的图像数据,其中来自第一探查图像和第二探查图像的图像数据被合并以提供表示所述玻璃板的所述目标区域处的状况的输出。有利的是,该装置具有内置数据存储单元,该内置数据存储单元被设置成存储来自所述成像装置采集的第一探查图像和第二探查图像的图像数据。
根据另一个方面,本发明提供了一种探查对象的状况的方法,该方法包括以下步骤:使用成像装置采集所述对象的图像并处理所述图像数据,从而除了获得所述图像之外还获得基于处理器输出而确定的表示特定结果的结果值。
优选地通过将经过处理的图像数据与参考数据进行比较而得到所确定的结果值。有利的是,所述图像数据和所确定的结果值以相互联系的方式存储以供将来参考。
附图说明
现在将仅通过示例的方式并结合附图来进一步描述本发明,在附图中:
图1是根据本发明的分析器装置的示意性侧视图;
图2是图1中的装置的外部的立体图;
图3是图1和图2中的装置的下侧的示意性立体图;
图4和图5分别是根据本发明而使用的附属装置的示意性立体图和剖面图;
图6和图7是根据本发明而使用的瞄准装置的示意性立体图;
图8到图11是表示用于根据本发明探查玻璃板的步骤的流程图。
具体实施方式
参照附图,先参照图1和图2,其中示出了在探查车辆玻璃板特别是探查损伤程度和/或修理质量过程中使用的分析器装置。装置1包括具有坚硬的塑料外壳的可手持装置。该外壳的表面部设置有LCD显示面板2、以及具有使得能够将字母数字输入到装置中的一系列电子数据输入键的输入仪表板3。输入仪表板3和LCD显示面板安装在操作员接口PCB17上。
该塑料外壳安装在承载着该装置的电子器件和光学器件的内底盘上。该装置内置有可充电的电池电源组21。CCD图像传感器照相机装置4安装在内底盘上。该图像传感器照相机装置4是1.3MP装置,在针对这个特定的应用而优化了数据路径和数据传输速度的640×480字节采集模式中使用。在一个示例性实施中,使用Omnivision OV91311.3MP单色区扫描传感器产生了有效结果。与图像传感器照相机装置4毗邻地设置镜筒5有助于采集光并将光导向图像传感器照相机装置4。镜筒5经由暗室6聚焦在位于该装置外部的镜筒下端的目标区域处。图像传感器照相机装置4安装在图像采集PCB 19上。图像采集PCB 19实现了具有1.3MP能力的单色数字静止照相机。该系统架构使得能够根据需要而采集图像并将其本地存储在图像采集PCB 19的内置本地图像存储器中。在示例性的实施中,使用场存储器序列来存储大小为640×480字节的各单个图像。已经发现其凭借少的参考引脚数提供了快速的写入能力。该装置的背面是由操作员启动以在要求的时间拍摄图像的采集按键14。
设置有数字信号处理器(DSP)板20以控制装置的整体操作。为了支持所要求的数字图像处理,DSP包括具有133MHz的8兆字节16位SDRAM。为了支持地址解码、外设选择、外部接口访问及其它逻辑功能,在实现采用48引脚TQFP复杂可编程逻辑器件(CPLD,complexprogrammable logic device)。DSP携带有使得能够增加安全数字(SD,secure digital)卡以存储图像数据的SD卡接口。为了支持从装置1到中央数据库或其它数据处理器或存储单元的快速数据传输,设置有USB接口,准许连接PC以访问作为标准大规模存储装置的内置SD卡。按照这种方式,不需要从该装置中移除SD卡。
在系统进行引导时,DSP被设置成从外部的8引脚12C EEPROM中提取其初始应用。这种方式提供了无需诸如掩膜编程(mask programming)的复杂操作而对应用进行更新的灵活性。为了在DSP与图像采集PCB 19或与接口PCB 17之间进行通信并交换图像数据,实现了16位双向接口。该接口被构造成在不使用时与DSP系统断开,由此使辐射的电噪声最小化。与内部DSP运算相比,该接口以降低的速度运行以减少辐射发射并减轻PCB之间的物理距离限制。外部接口的驱动由鲁棒的16位总线收发器提供。经由48引脚TQFP CPLD(thin quad flat pack complexprogrammable logic device,薄型四方扁平封装复杂可编程逻辑器件)来控制对图像采集PCB 19的访问。实现了内部寄存器以允许DSP来控制图像的重置(reset)、采集和传输。当DSP试图从图像采集PCB 19进行读取时,启动了26位外部接口。通过该接口将图像逐个字节地依次地进行时钟化(clocked),并且由于接口引脚数减少以及单场存储器的本质而禁止了随机访问。由于图像的时序本质,不需要随机访问。
暗室6包括从镜筒5到阶梯状肩部8向外逐渐变窄的截头圆锥形壁部6a,从而形成了具有显著大于截头圆锥形部分的外径的环形空腔6b。环形PCB 7安装在环形空腔6b的内周壁上。PCB安装有具有48个面向侧面的LED 9的阵列,以便于将它们的光导向朝着室6的轴。LED发射其光谱位于红外区域中的辐射。暗室6的形状与外周布置的LED阵列确保了围绕观察轴L的中央区域具有明亮和均匀覆盖的发射光。LED经由透明的塑料带10来引导它们的光。由于LED在横向方向上进行照明并且由于环形空腔6b相对的大范围的跨度,造成光广泛地照亮了围绕图像传感器照相机装置4的观察轴的中央区域,而只有极少的光直接地进入暗室6a的截头圆锥形部分。按照这种方式,大致避免了从LED阵列发出的光直接进入镜筒5和图像传感器照相机装置4。使用红外照明减少了来自自然环境照明(在修理过程中的阳光和变化的照明条件)的背景噪声。照相机装置4的镜头设置有滤波器,从而仅允许处于红外区域中的期望频率范围进入照相机中。
装置1的下侧设置有三脚架设备,该三脚架设备包括3个位于等角间隔开的位置处的突起11。这些突起保证了在玻璃板上的良好定位。环形密封件或垫圈12以在安装有LED 9阵列的PCB的外部沿外周延伸的方式设置在装置的基座上。在使用中,当将密封件挂靠(register with)玻璃板放置时,密封件发生变形以符合玻璃板的形状,从而基本上抑制了环境光进入玻璃板与密封件之间。该装置经由突起12而挂靠在玻璃板上。
根据本发明,分析器装置用于采集车辆风挡玻璃的破裂或修理部位的图像数据。对该装置进行校准以提供定量(quantitative)输出,该定量输出使得操作员能够给出关于玻璃板的损伤程度或已经实施的修理的功效的明确答案。
图像传感器照相机装置4瞄准玻璃板上的目标区域,并且由于LCD阵列所提供的照明场,图像传感器照相机装置4对目标区域成像,而各像素标记出对于相应像素而言该图像是亮的还是暗的。应用一种数学函数来计算图像的索引值(例如,与参考值比较),并且还存储图像数据。因此,本发明针对各次探查而提供损伤和/或修理情况的定量值或索引值以及采集的图像。定量数据与图像数据相互联系起来并且可以存储在该装置上的存储器中或无线地发送或者存储在数据库中,例如用于将来参考。
在某些实现中,图像传感器照相机装置4可采集第一图像并使用来自第一图像的数据来改变随后采集的第二“工作”图像的曝光时间或其它参数。已经发现,当在处理图像数据过程中需要对有色玻璃做出说明时,以上方法特别有用。应用于玻璃板的背面的反射衬底可以有助于成像处理。
而且,在从图像传感器照相机装置4的有效像素阵列(有效区域位于损伤区域或修理区域的中央)采集了图像数据的情况下,已经实现了改善的图像采集和处理结果。可以将损伤区域或修理区域以外的区域作为参考的“完好玻璃”。系统的软件处理可用于产生围绕损伤区域或修理区域的所需有效像素阵列。在本发明的一个实际的实施方式中,使用了640×480有效像素阵列。
在对图像进行阈值处理操作的情况下,同样已经实现了改善的图像采集和处理。向记录了处于阈值或高于阈值的光的像素分配最大值(255);向记录了低于阈值的光的像素分配最小值(0)。
在强反差图像被拍摄并在处理中被合并的情况下,同样实现了改善的图像采集和处理,强反差图像是例如通过在玻璃板的目标区域后面采用暗背景而得到其中一个图像,而通过在玻璃板的目标区域后面采用反射背景而得到另一个图像。之后,对所获得的图像进行合并处理以提供图像数据。反射衬底图像旨在提供表示从玻璃板的背面反射的光的照明模式。暗(辐射吸收)衬底图像旨在提供表示从玻璃板的正面反射的光的照明模式。
在本技术的一种实现中,首先在玻璃板的背面采用暗背景片的情况下拍摄玻璃板的无缺陷部分的参考图像。这样做的目的是提供暗图像的数据,暗图像显示了由LCD阵列造成的不均匀照明而导致的或在照明或成像设置中固有的其它时滞(skewing)因素而产生的照明“热点(hotspot)”。存储该图像并在单元每次启动时再次调用该图像。
在一种已经发现提供了良好结果的操作方式中,装置1开机并执行自检程序以确定其功能完好。操作员将黑片(black patch)放置在玻璃板的背面上目标区域之后。然后,操作员开启图像传感器照相机装置4以采集“黑色”图像。以大致220ms的曝光时长来采集“黑色”图像。在操作过程中,该图像存储在随机存取存储器中。接下来,操作员将白片(white patch)放置在玻璃板的背面目标区域之后。然后,操作员启动图像传感器照相机装置4以采集“白色”图像。
“白色”图像的采集包括以下操作。首先,按照大致10ms的固定曝光周期来采集图像。从所采集的图像读取一行像素并计算平均值。该值用于计算使来自有色(tinted)玻璃板的“白色”图像能够提供与无色(clear)玻璃板所产生的图像密度大致相同的图像密度所需要的曝光周期。按照从之前的计算产生的曝光周期来采集“白色”图像。在操作过程中,该图像存储在随机存取存储器中。因此,在启动图像传感器照相机装置4以采集白色图像时,实际上获得了两个图像,第一个图像用于修改第二符图像的曝光时间以补偿玻璃板的色度(tint)因素。
这样来处理图像数据,即,从“黑色”图像中减去参考图像,这形成了不受由于与照明系统的不一致性而造成的亮的热点的影响的黑色图像。然后,对“黑色”图像执行阈值化高-高操作。该操作将大于或等于预定值的任一像素值转换成255并且将低于预定值的任一像素值转换成0。所得到的图像存储在随机存取存储器中。
然后,对“白色”图像执行步进式阈值化高-低操作。该操作通过使阈值化值递增并将其应用于图像然后检查所产生的“热点”像素的数量而工作。将大于或等于阈值的任一值转换成0,而将低于阈值的任一值转换成255。其效果是将图像反转成使得暗区域呈白色而亮区域呈黑色。将所得到的图像存储在随机存取存储器中。然后,对“黑色”和“白色”阈值化的图像应用矩形空间滤波器,使得位于矩形以外的所有像素都被设置成零。
对两个图像中的“热点”像素(值为255的所有像素)求和,这得到了“黑色”图像中的亮像素的数量和“白色”图像中的暗像素的数量的总的值。
对该值应用数学比较函数以计算“索引”值,然后在玻璃板上向操作员显示该“索引”值。这提供了损伤程度(当针对损伤时)的指示,并且指出该损伤是否为可修理的损伤。附加地和/或另选地,该值可以表示目标区域的修理程度,以提供修理质量的定量值。通常,该装置将用于初步地评估损伤是否可修理,并且如果损伤可修理,则评估最终执行的修理的质量。
将原始的采集的“黑色”和“白色”图像与包含有在计算图像处理过程中产生的值的第三文件一起存储在非易失性存储器(闪存卡)中。然后,该单元重置就绪以采集随后的系列图像。可以传输数据文件以供存储,而且数据文件提供了与特定操作绑定的特定修理作业的唯一记录。对于评估操作性能和诸如保险调查及其它目的的其它考察原因而言,这是非常有用的。
由于使用了衬底片,因此将图像称为“黑色”图像和“白色”图像。要求衬底具有强反差颜色,并且优选地其中一个反射(例如,白色)照明辐射而另一个吸收(即,黑色)照明辐射。图4和图5示出了将衬底片安装到风挡玻璃的背面的设备。具有外周边缘42的吸力底座41用于安置具有泡沫衬底45的反射片43。根据需要,可以将反射片43从底座移除并替换成暗色片。为了使片就位,按压吸力底座41以与风挡玻璃的背面形成吸力接合。
对于装置1的有效操作非常重要的是,需要能够准确地并重复地将该装置相对于目标区域(即,损伤/修理区域)定位在风挡玻璃的相同位置上。为了实现这个目标,有利地使用了瞄准设备。如图6和图7所示,合适的瞄准设备可包括由柔性塑料片材制成的导板51。该导板在接近一角处具有瞄准孔52并在接近其它角处具有吸盘座53a、53b、53c。吸盘53c位于导板51的与其它两个吸盘相反的表面上。瞄准孔具有在尺寸和形状上与白色和暗色片43的周边相对应的周边。瞄准孔的周边还与装置1的垫圈密封件12的周边的尺寸和形状相对应。在使用中,以瞄准孔为中心与目标(即,损伤或修理)大致对准地将导板放置在玻璃板的表面上。吸盘53使导板51保持在玻璃板的表面上的位置上。按压吸力底座41以与风挡玻璃的背面成吸力接合(从而各片处于适当位置),使得片瞄准了导板51的瞄准孔52。然后,将分析器装置定位在玻璃板的正面上,使得垫圈密封件周边与吸力底座41(其位于玻璃板的另一侧)上的片的周边配合一致。在定位分析器装置之前,向后折叠导板(如图7所示)并由吸盘53c将导板固定在向后折叠的位置上。当完成修理后,需要对装置进行重新定位,通过将导板折叠回到在图6中示出的位置,可以实现这个目的,并如已经描述的那样,重新定位吸力底座41和片并且重新瞄准装置1的垫圈密封件12。
流程图(图8到图11)依次地示出了在一示例性探查情形中如何使用分析器装置,在该示例性探查情形中,首先评估受损的目标区域以提供关于是否应该进行修理的明确的/定量的输出,并且随后修理该损伤并提供表示修理质量的明确/定量的输出。首先参照图8,在步骤801,操作员使用输入仪表板3上的输入键。在步骤802,当操作员经由显示器得到提示时,操作员选择“新作业”以开始一个新的作业。然后,提示操作员输入作业号并在步骤803中输入作业号;处理器进行检查以查看是否以正确的形式输入了作业号并且在805为操作员提供将输入清除的机会。
在步骤806,操作员确认正确地输入了作业号并且在步骤807输入特定的个人操作员ID。处理器在808检查是否正确输入了该ID并使操作员能够在步骤809将不正确的输入清除。如果正确地输入了操作员ID,则操作员在步骤810对此进行确认。
然后,在步骤811提示操作员输入玻璃板上需要探查和/或修理的受损位置的数量。在812要求操作员确认正确的输入并且在813为操作员提供将不正确的输入清除的机会。如果正确地输入了输入项,则在814提示操作员输入进行确认。
然后,该过程进行到图9。在步骤901,操作员选择开始第一探查作业。在902,要求操作员确认是否选择了正确的作业,并且如果选择了正确的作业,则前进到步骤903,在步骤903操作员确认选择了正确的作业号。
在步骤904,操作员得到提示,并且着手将分析器装置定位在玻璃板上所要求的位置处以对损伤进行考察。玻璃板还提示确保将黑色片设置在玻璃板的背面所要求的位置上。
在该步骤,显示器随后提示操作员采集图像。操作员通过按下采集按钮14而开始采集过程以实现图像采集。
在步骤905,处理器考察初始采集的图像数据以确定该图像数据是否具有可接受的图像质量。如果该图像数据不具有可接受的图像质量,则在步骤906提示操作员将该图像数据删除并且在步骤907进行确认。如果认为图像质量符合要求,则在908通知操作员该图像质量是可接受的并提示操作员将玻璃板的背面的黑片去除并替换成白片。当这一步骤完成时,在步骤909提示操作员采集第二图像。处理器在步骤910确定图像质量是否可接受,并且如果该图像质量不可接受,则在步骤911提示操作员删除该图像并且在步骤912对此进行确认。如果图像质量足够,则在步骤913对此进行确认。
在步骤914,处理器确定损伤程度相对于基线值(baseline)或参考值的定量值,并且提供表示该损伤是否可修理的输出。如果损伤不可修理,则在步骤915对此进行确认并且操作员在步骤916确认理解这一点。之后,在步骤917,操作员或者关闭装置或者开始一个新的作业。或者在914的确定之后,如果所确定的定量值表示了确定可以对损伤进行修理,则通知操作员并且可以在步骤918执行修理。
图10和图11示出了在已经进行修理之后对修理进行评估的顺序。在步骤1001,操作员通过经由键区界面3来选择评估选项或检查选项而开始评估例程。在步骤1002,系统检查一个或更多个作业是否在进行中。如果超过一个作业在进行中,则在步骤1003例程提示选择所需的作业,并且确认选择了正确的作业。在步骤1004,如果仅有一个作业在进行中,则不再执行这一过程。
在步骤1005,提示操作员将黑色背景片放置在玻璃板的背面上适当的位置,将装置定位在适当的位置并采集第一评估图像。在1006,系统对图像进行考察以确定图像是否具有足够的质量。如果图像具有足够的质量,则例程继续,如果图像不具有足够的质量,则在1007提示操作员删除图像并在1008进行确认。
转到图11,在成功地采集了黑色背景图像之后,提示操作员在玻璃板的背面上移除黑片并替换成白片。然后,在步骤1101提示操作员采集第二评估图像。然后,系统对图像质量进行评估,如果图像质量不足,则在1103提示操作员删除并在1104进行确认。如果图像质量足够,则执行所需的处理以显示代表了成功进行修理的定量值。在1103对此进行显示。该定量值可以是通过(0)或失败(1)或是百分比值。
在修理前后采集图像数据之后,提供与特定修理作业相联系的唯一一组数据,并且将该组数据存储在装置的内置存储器中或者传输(无线地或以其他方式)到远程存储介质或数据库。存储的数据提供了可以构建图像形式损伤和修理记录的输入数据,并且还提供了损伤和/或修理的定量值,该定量值是百分比、通过或失败或其它形式。定量评估指的是处理器生成关于损伤是否可修理(或者修理的质量是否具有足够好的质量)的判断。这可以是一个通过输出或一个失败输出,或者是比例或百分比值。考虑了操作员所熟悉的评估损伤是否可修理和修理的质量的任一种方式。
对于随后对操作员表现的评估、或一旦出现随后要求对过失进行赔偿而出于保险的目的来比较损伤程度和修理质量来说,或对于考察所采取的动作的其它需要来说,这种形式的数据非常有用。在作业完成之后,在步骤1104,操作员界面可提示是否将要评估其它作业。如果不评估其它作业,则在1105装置可关机。如果要求了另一个作业,则在步骤1106确定在装置的存储器中是否已经建立了该作业,并且如果已经建立了该作业,则在1107可以从正在进行的作业中选择该作业。或者,操作员可以在步骤1108选择要输入的新作业。

Claims (25)

1、一种探查玻璃板的方法,该方法包括以下步骤:
采集玻璃板的目标区域的第一探查图像;
采集所述目标区域的第二探查图像;
合并来自所述第一探查图像和所述第二探查图像的图像数据以提供表示玻璃板的所述目标区域处的状况的输出。
2、根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一探查图像和所述第二探查图像是强反差图像,其中一个图像具有暗背景,另一个图像具有亮背景/反射背景。
3、一种探查玻璃板的方法,其中,获得数据文件输出,所述数据文件输出包括:
所获得的玻璃板目标区域的数字探查图像;以及
从数字图像数据得到的经处理的值,所述经处理的值表示玻璃板的所述目标区域处的相对于基准水平或比例水平或标尺水平的状况。
4、根据权利要求3所述的方法,其中,所述经处理的值用于给出与风挡玻璃的状况有关的百分比或比例值,或给出支持或反对特定动作过程的决定。
5、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,使用一种电子图像采集装置。
6、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在采集并存储所采集的图像中的一个之前,获得测试图像,并且处理所述测试图像数据以确定用于采集后续图像的曝光时间。
7、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,采集所述目标区域的强反差图像,并且对所述图像数据进行处理以确保将处于阈值或高于阈值的像素被记录为第一极值(最大值或最小值(零)),并且把小于最小值的像素转换成相反的极值(最小(零)值或最大值)。
8、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,在拍摄探查图像之前拍摄参考图像,并进行求差处理以从所述探查图像中减去所述参考图像。
9、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,拍摄所述目标区域的强反差图像,并且反转或转换所述图像中的其中一个图像的图像数据以与另一图像的图像数据进行合并。
10、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,使用照明装置来照亮所述目标区域,所述照明装置包括环形的照明环,该照明环用于将照明光导向所述环的中央。
11、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,使用照明装置来照亮所述目标区域,所述照明装置提供了光谱位于红外区域中的照明辐射。
12、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,
合并来自所述第一探查图像和所述第二探查图像的图像数据,从而提供表示是否能够修理所述目标区域处的损伤的输出;以及
在随后的修理之后,来自另一组探查图像的图像数据提供经处理的值,所述经处理的值表示在所述目标区域处进行的修理相对于基准水平或比例水平或标尺水平的质量。
13、一种探查玻璃板的系统,该系统包括:
探查装置,其包括数字图像采集装置和用于对设备进行照亮的照明设备;所述装置能够操作用于照亮所述玻璃板的目标区域;
暗背景元件,其设置在所述玻璃板上与所述光学探查设备相对的背面;
亮/反射背景元件,其设置在所述玻璃板上与所述光学探查装置相对的背面。
14、根据权利要求13所述的系统,该系统进一步包括目标导板以确保所述光学探查装置和/或所述背景元件相对于所述玻璃板准确地定位。
15、根据权利要求14所述的系统,其中,所述目标导板包括具有瞄准孔的柔性片。
16、根据权利要求15所述的系统,其中,所述目标孔的周边与所述探查装置和/或所述背景元件的周边大致地对应。
17、一种光学探查装置,该光学探查装置包括:
电子成像装置;
暗室,其具有远离所述成像装置朝着探查装置的远端延伸的第一窄部,其中,所述暗室在阶梯状的宽室部处向外延伸,该宽室部的外周壁在外面与窄室部的外周壁间隔开;
照明环,其设置在位于所述装置的远端处的所述宽室部外周壁的远端的区域中,所述照明环将照明辐射导向所述环的中央。
18、根据权利要求17所述的装置,其中,所述照明环包括围绕所述环而间隔开的一圈LED照明装置。
19、根据权利要求17或18所述的装置,其中,所述宽室部的外周壁的深度小于所述宽室部外周壁与所述窄室部的外周壁之间的间隔。
20、根据权利要求17至19中任一项所述的装置,其中,所述成像装置的视场位于所述窄室部的外周壁的边界之内。
21、根据权利要求17至20中任一项所述的装置,该装置具有内置处理器,所述内置处理器被设置成处理来自第一探查图像和第二探查图像的图像数据,其中来自第一探查图像和第二探查图像的图像数据被合并以提供表示所述玻璃板在所述目标区域处的状况的输出。
22、根据权利要求17至21中任一项所述的装置,该装置具有内置数据存储单元,该内置数据存储单元被设置成存储来自所述成像装置采集的第一探查图像和第二探查图像的图像数据。
23、一种探查对象状况的方法,该方法包括以下步骤:使用成像装置采集所述对象的图像并处理所述图像数据,从而除了获得所述图像之外还获得基于处理器输出而确定的表示特定结果的结果值。
24、根据权利要求23所述的方法,其中,通过将经过处理的图像数据与参考数据进行比较而得到所确定的结果值。
25、根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述图像和所确定的结果值以相互联系的方式存储以供将来参考。
CN200880013074A 2007-04-23 2008-04-22 探查系统及技术 Pending CN101663577A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0707857A GB2451417A (en) 2007-04-23 2007-04-23 Glazing panel investigation methods and systems
GB0707857.9 2007-04-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101663577A true CN101663577A (zh) 2010-03-03

Family

ID=38135305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200880013074A Pending CN101663577A (zh) 2007-04-23 2008-04-22 探查系统及技术

Country Status (11)

Country Link
US (1) US20100231707A1 (zh)
EP (1) EP2137520A2 (zh)
KR (1) KR20100014535A (zh)
CN (1) CN101663577A (zh)
AU (1) AU2008240370A1 (zh)
BR (1) BRPI0810536A2 (zh)
CA (1) CA2678830A1 (zh)
GB (3) GB2479489A (zh)
RU (1) RU2009132358A (zh)
TW (1) TW200912294A (zh)
WO (1) WO2008129299A2 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107261257A (zh) * 2017-05-25 2017-10-20 上海禹康医疗器械有限公司 一种基于机器视觉的输液管内空气检测方法及装置
JP7340213B1 (ja) * 2023-06-27 2023-09-07 株式会社ヴイ・エス・テクノロジ- 透明容器の外観検査装置、外観検査システム及び外観検査方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201608455D0 (en) 2016-05-13 2016-06-29 Belron Internat Ltd Break analysis system, method and device
EP3966543A4 (en) * 2019-05-06 2022-12-14 Saab AB METHOD, PRODUCT COMPUTER PROGRAM, DEVICE AND SYSTEM FOR DETERMINING IF AN OPTICAL COMPONENT OF AN ELECTRO-OPTICAL SENSOR SYSTEM NEEDS REPLACEMENT
TWI822117B (zh) * 2022-06-16 2023-11-11 技嘉科技股份有限公司 加工圖檢查方法及系統

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2042526A (en) * 1932-09-01 1936-06-02 Libbey Owens Ford Glass Co Sheet glass inspection apparatus
JPS4989428A (zh) * 1972-12-27 1974-08-27
FR2396971A1 (fr) * 1977-07-06 1979-02-02 Dubois Gerard Dispositif de controle normatif de la qualite des pieces optiques
US4424441A (en) * 1981-06-12 1984-01-03 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for inspecting glass containers
JPS61293657A (ja) * 1985-06-21 1986-12-24 Matsushita Electric Works Ltd 半田付け外観検査方法
JPS6269154A (ja) * 1985-09-21 1987-03-30 Hajime Sangyo Kk 壜口欠陥検査装置
US4924107A (en) * 1988-10-07 1990-05-08 Ball Corporation System for inspecting the inside surfaces of a container for defects and method therefor
JPH03105307A (ja) * 1989-09-20 1991-05-02 Hitachi Ltd 管端観察装置
US5239354A (en) * 1991-06-19 1993-08-24 Russell Kenneth M Method and apparatus for the positive identification of a natural pearl and for measuring the thickness of the nacre coating of cultured pearls
US5302836A (en) * 1992-07-16 1994-04-12 Bernard Siu High speed image acquisition for microelectronics inspection
US5471297A (en) * 1993-08-31 1995-11-28 Asahi Glass Company Ltd. Method of and apparatus for measuring optical distortion
JP3235009B2 (ja) * 1994-09-09 2001-12-04 株式会社新川 ボンディングワイヤ検査方法
JP3612119B2 (ja) * 1995-08-25 2005-01-19 日立エンジニアリング株式会社 撮像装置
GB2316168B (en) * 1996-08-06 2000-04-12 M V Research Limited A measurement system
US5940176A (en) * 1996-09-16 1999-08-17 Knapp; Julius Z. Accurate manual illumination inspection
US6115118A (en) * 1997-08-25 2000-09-05 Northstar Automotive Glass, Inc. Vehicle windshield scanning system
DE19803694C1 (de) * 1998-01-30 1999-04-22 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Verfahren zum Detektieren von auf einer lichtdurchlässigen Scheibe befindlichen Objekten sowie Vorrichtung
JP4147682B2 (ja) * 1998-04-27 2008-09-10 旭硝子株式会社 被検物の欠点検査方法および検査装置
JP2000047296A (ja) * 1998-07-31 2000-02-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像認識装置および画像認識方法
US6236044B1 (en) * 1998-08-21 2001-05-22 Trw Inc. Method and apparatus for inspection of a substrate by use of a ring illuminator
US6198529B1 (en) * 1999-04-30 2001-03-06 International Business Machines Corporation Automated inspection system for metallic surfaces
US6384421B1 (en) * 1999-10-07 2002-05-07 Logical Systems Incorporated Vision system for industrial parts
US6614922B1 (en) * 2000-01-04 2003-09-02 The Ohio State University Wire pattern test system
JPWO2002023480A1 (ja) * 2000-09-18 2004-01-22 オリンパス株式会社 画像データファイル管理システム及び方法
US7142294B2 (en) * 2000-12-20 2006-11-28 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for detecting defects
DE10102557B4 (de) * 2001-01-20 2005-11-17 Visotec Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von scheibenförmigen Werkstücken auf Oberflächen-oder Einschlußfehler
JP2002236100A (ja) * 2001-02-09 2002-08-23 Hitachi Ltd 非破壊検査方法およびその装置
US6596978B2 (en) * 2001-06-28 2003-07-22 Valeo Electrical Systems, Inc. Stereo imaging rain sensor
WO2003010525A1 (fr) * 2001-07-27 2003-02-06 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Procede d'evaluation de la contamination superficielle d'un objet et dispositif imageur utilise a cet effet
CN100514045C (zh) * 2001-11-16 2009-07-15 海尼根技术服务有限公司 用于专门选择容器的方法和装置
US20040150815A1 (en) * 2003-02-05 2004-08-05 Applied Vision Company, Llc Flaw detection in objects and surfaces
US20050075841A1 (en) * 2003-08-05 2005-04-07 Netanel Peles Automated defect classification system and method
US7160479B2 (en) * 2004-01-20 2007-01-09 Ppg Industries Ohio, Inc. Method and apparatus for evaluating panel drip tests
GB2415776B (en) * 2004-06-28 2009-01-28 Carglass Luxembourg Sarl Zug Investigation of vehicle glazing panels
EP1794577A4 (en) * 2004-09-17 2010-10-06 Wdi Wise Device Inc OPTICAL INSPECTION OF FLAT MEDIA USING DIRECT PICTURE TECHNOLOGY
US7570794B2 (en) * 2005-09-02 2009-08-04 Gm Global Technology Operations, Inc. System and method for evaluating a machined surface of a cast metal component
US7369240B1 (en) * 2006-07-20 2008-05-06 Litesentry Corporation Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107261257A (zh) * 2017-05-25 2017-10-20 上海禹康医疗器械有限公司 一种基于机器视觉的输液管内空气检测方法及装置
JP7340213B1 (ja) * 2023-06-27 2023-09-07 株式会社ヴイ・エス・テクノロジ- 透明容器の外観検査装置、外観検査システム及び外観検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB2479677A (en) 2011-10-19
GB201112393D0 (en) 2011-08-31
GB0707857D0 (en) 2007-05-30
GB2451417A (en) 2009-02-04
US20100231707A1 (en) 2010-09-16
CA2678830A1 (en) 2008-10-30
RU2009132358A (ru) 2011-05-27
TW200912294A (en) 2009-03-16
GB201112398D0 (en) 2011-08-31
AU2008240370A1 (en) 2008-10-30
WO2008129299A3 (en) 2008-12-11
BRPI0810536A2 (pt) 2014-10-21
WO2008129299A2 (en) 2008-10-30
KR20100014535A (ko) 2010-02-10
EP2137520A2 (en) 2009-12-30
GB2479489A (en) 2011-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102290802B1 (ko) 전자 기기 가치 평가 시스템
KR102175160B1 (ko) 다중 파장 광원을 이용하여 촬영하는 중고 단말기의 가치평가를 위한 외관 촬영 분석 시스템
US8189887B2 (en) Imaging standard apparatus and method
CN104182727B (zh) 超薄型指纹、掌纹采集装置及指纹、掌纹图像采集方法
EP3951368A1 (en) Electronic device valuation system
US7272253B2 (en) Method for non-destructive inspection, apparatus thereof and digital camera system
CN110472618A (zh) 屏下指纹认证用的传感器模块及屏下指纹认证装置
TWI490445B (zh) 用於估計一物件之一三維表面形狀之方法、裝置及機器可讀非暫時性儲存媒體
CN101663577A (zh) 探查系统及技术
CN101696946B (zh) 车辆玻璃板的检查
US12112505B2 (en) System and method for determining whether a camera component is damaged
KR20190041418A (ko) 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 방법
CN106303509A (zh) 相机子组合件灰尘及缺陷检测系统及方法
KR100808019B1 (ko) 테스트 장치 및 그 제어 방법
WO1999042807A1 (fr) Procede et appareil de test de bris de glace, procede d'imagerie correspondant, et procede de traitement de signaux d'images
CN105758566A (zh) 玻璃表面应力仪
JP3874562B2 (ja) ガラス板破砕試験方法、装置及びガラス試験用撮像方法
CN210295133U (zh) 指纹识别模组、电子设备
KR101979805B1 (ko) 렌즈 플레어 검사장치
JPH10246706A (ja) 光学部材検査装置
CN215179622U (zh) 多光谱通道器件以及多光谱通道分析装置
KR102524989B1 (ko) 카메라 모듈 검사 장치
WO2022190273A1 (ja) ガラス破砕試験方法及びガラス破砕試験装置
CN109791691A (zh) 条纹状区域检测装置、条纹状区域检测方法、程序
CN110895824B (zh) 确定显示屏幕厚度参数的方法、存储介质及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20100303