JP7185857B2

JP7185857B2 - エレベータ用ロープテスタ

Info

Publication number: JP7185857B2
Application number: JP2021059276A
Authority: JP
Inventors: 智之平田; 尚己田平
Original assignee: Fujitec Co Ltd
Current assignee: Fujitec Co Ltd
Priority date: 2021-03-31
Filing date: 2021-03-31
Publication date: 2022-12-08
Anticipated expiration: 2041-03-31
Also published as: JP2022155849A

Description

本出願は、エレベータ用ロープテスタに関する。

従来、例えば、エレベータ用ロープテスタは、ロープを磁化させる磁化部と、ロープが内部に挿入されるために、第１方向に延びる挿入凹面とを備えている。そして、エレベータ用ロープテスタは、ロープから漏洩する磁束を集める磁性部と、磁性部の内部を通る磁束を検出する漏洩磁束検出部とを備えている（例えば、特許文献１）。

ところで、特許文献１に係るエレベータ用ロープテスタにおいては、磁性部で磁束を有効に集めるために、磁性部は、挿入凹面を構成している。しかしながら、磁性部がロープに接してロープを案内することになるため、磁性部が摩耗することになる。これにより、例えば、漏洩磁束検出部で適正に磁束を検出できない場合がある。

特開２０２０－１３２３９５号公報

そこで、課題は、磁性部が摩耗することを抑制することができるエレベータ用ロープテスタを提供することである。

エレベータ用ロープテスタは、ロープを磁化させる磁化部と、前記ロープが内部に挿入されるために、第１方向へ延びる挿入凹面と、を備える、エレベータ用ロープのロープテスタであって、前記ロープに接することによって前記ロープを案内する案内部と、前記ロープから漏洩する磁束を集める磁性部と、前記磁性部の内部を通る磁束を検出する漏洩磁束検出部と、を備え、前記案内部は、前記挿入凹面の底面を構成する案内底面を備え、前記磁性部は、前記挿入凹面の底面を構成する磁性底面を備え、前記案内底面は、前記第１方向視において、前記磁性底面よりも、前記挿入凹面の内部側に配置される。

また、エレベータ用ロープテスタは、前記磁性部の透磁率よりも低い透磁率を有する非磁性部を備え、前記非磁性部は、前記挿入凹面の底面を構成する非磁性底面を備え、前記案内底面は、前記第１方向視において、前記非磁性底面よりも、前記挿入凹面の内部側へ配置され、前記非磁性底面は、前記第１方向視において、前記磁性底面よりも、前記挿入凹面の内部側へ配置される、という構成でもよい。

また、エレベータ用ロープテスタにおいては、前記挿入凹面は、前記案内底面が摩耗したことを検出する摩耗検出部を備える、という構成でもよい。

また、エレベータ用ロープテスタは、前記案内部が着脱される本体部をさらに備え、前記摩耗検出部は、前記案内部に備えられる、という構成でもよい。

また、エレベータ用ロープテスタにおいては、前記磁性部は、前記挿入凹面の側面を構成する磁性側面を備え、前記案内部は、前記挿入凹面の側面を構成する案内側面を備え、前記案内側面は、前記第１方向視において、前記磁性側面よりも、前記挿入凹面の内部側に配置される、という構成でもよい。

図１は、ロープテスタが用いられるエレベータの概要図である。図２は、一実施形態に係るロープテスタの斜視図である。図３は、図２のIII－III線要部断面図である。図４は、同実施形態に係る磁性部の斜視図である。図５は、同実施形態に係る磁性部の正面図である。図６は、図３のVI－VI線要部断面図である。図７は、図３のVII領域拡大図である。図８は、図３のVIII領域拡大図である。

以下、エレベータ用ロープテスタにおける一実施形態について、図１～図８を参照しながら説明する。なお、各図において、図面の寸法比と実際の寸法比とは、必ずしも一致しておらず、また、各図面の間での寸法比も、必ずしも一致していない。

まず、本実施形態に係るエレベータ用ロープテスタ（以下、単に「ロープテスタ」ともいう）の各構成を説明するのに先立って、ロープテスタが用いられるエレベータについて、図１を参照しながら説明する。

図１に示すように、エレベータ２１は、例えば、人が乗るためのかご２２と、かご２２に接続されるかごロープ２３と、かごロープ２３に接続される釣合錘２４と、かごロープ２３を駆動してかご２２及び釣合錘２４を上下方向に走行させる巻上機２５とを備えていてもよい。また、エレベータ２１は、例えば、かご２２を案内するかごレール２６と、釣合錘２４を案内する錘レール２７と、かご２２の走行速度を検出する調速機２８と、エレベータ２１の各部を制御する処理部２９とを備えていてもよい。

また、本実施形態においては、かごロープ２３の一端がかご２２に固定され、かごロープ２３の他端が釣合錘２４に固定されている、という構成であるが、斯かる構成に限られない。例えば、かごロープ２３の両端がそれぞれ昇降路Ｘ１の上部又は下部に固定され、かごロープ２３がかご２２のシーブ及び釣合錘２４のシーブにそれぞれ巻き掛けられることによって、かごロープ２３がかご２２及び釣合錘２４にそれぞれ接続されている、という構成でもよい。

また、本実施形態に係るエレベータ２１は、巻上機２５を機械室Ｘ２の内部に配置する、という構成であるが、斯かる構成に限られない。例えば、機械室Ｘ２が備えられておらず、エレベータ２１は、巻上機２５を昇降路Ｘ１の内部に配置する、という構成でもよい。

巻上機２５は、例えば、かごロープ２３が巻き掛けられる綱車２５ａと、綱車２５ａを回転させる駆動源２５ｂと、綱車２５ａを制動する制動部２５ｃとを備えていてもよい。また、調速機２８は、例えば、かご２２に接続される無端環状のガバナロープ２８ａと、かご２２の速度を検出するために、ガバナロープ２８ａが巻き掛けられるガバナ車２８ｂと、ガバナロープ２８ａに張力を付与するために、ガバナロープ２８ａに吊り下げられる張り車２８ｃと、ガバナロープ２８ａを把持する把持部２８ｄとを備えていてもよい。

かご２２は、例えば、かごレール２６を挟むことによってかご２２を停止させる停止部２２ａと、調速機２８の動作を停止部２２ａへ伝達する伝達部２２ｂとを備えていてもよい。そして、例えば、かご２２の速度が設定速度を超えた場合に、把持部２８ｄがガバナロープ２８ａを把持し、ガバナロープ２８ａの走行が停止されることによって、かご２２の停止部２２ａは、作動する、という構成でもよい。

図２に示すように、ロープテスタ１は、エレベータ用ロープＸ３を診断するために用いられる。なお、エレベータ用ロープ（以下、単に「ロープ」ともいう）Ｘ３は、エレベータ２１に用いられるロープ２３，２８ａであれば特に限定されず、例えば、かごロープ２３、ガバナロープ２８ａとすることができる。

ロープテスタ１は、ロープＸ３が内部に挿入されるために、第１方向Ｄ１へ延びる挿入凹面２を備えている。挿入凹面２は、例えば、ロープテスタ１の第２方向Ｄ２の一端に配置されていてもよい。そして、挿入凹面２は、第１方向Ｄ１視において、一部が開放された凹面に形成されていてもよい。なお、挿入凹面２は、外部に露出している面である。

また、ロープテスタ１は、例えば、本実施形態のように、ロープＸ３に接することによってロープＸ３を案内する案内部３と、案内部３が着脱される本体部４とを備えていることが好ましい。なお、案内部３を本体部４に固定する方法は、特に限定されない。そして、本体部４は、第２方向Ｄ２の他端に、把持される把持部４ａを備えていてもよい。

図３に示すように、ロープテスタ１は、例えば、ロープＸ３を磁化させる磁化部５と、ロープＸ３から漏洩する磁束を検出する漏洩磁束検出部６と、ロープＸ３の内部を通る磁束を検出する内部磁束検出部７とを備えていることが好ましい。そして、ロープテスタ１は、例えば、各磁束検出部６，７で検出した情報を、有線又は無線によって、外部装置（例えば、当該情報に基づいてロープＸ３を診断する診断システム）へ向けて出力してもよい。

漏洩磁束検出部６及び内部磁束検出部７は、例えば、本体部４の内部に収容されていてもよい。なお、各磁束検出部６，７の構成は、特に限定されないが、例えば、各磁束検出部６，７は、磁束の大きさを電圧（電流）の大きさに変換する各種磁気センサ（ホール素子、コイル）としてもよい。

漏洩磁束検出部６は、漏洩磁束法の診断のための磁束の検出を行っており、内部磁束検出部７は、全磁束法の診断のための磁束の検出を行っている。なお、ロープＸ３のサイズ（断面積）によって、ロープＸ３の内部を通る磁束の量が変わるため、外部装置（例えば、診断システム）において、内部磁束検出部７の検出値は、ロープＸ３の劣化を診断するための情報としてだけでなく、ロープＸ３のサイズを算出するための情報として使用されてもよい。

磁化部５は、例えば、本実施形態のように、第１及び第２磁石部５ａ，５ｂと、第１磁石部５ａと第２磁石部５ｂとを磁気的に接続する磁路部５ｃとを備えていることが好ましい。これにより、第１及び第２磁石部５ａ，５ｂと磁路部５ｃとは、ロープＸ３と協働することによって、無端環状の磁気回路を構成することができる。

なお、各磁石部５ａ，５ｂの構成は、特に限定されないが、例えば、各磁石部５ａ，５ｂは、永久磁石としてもよく、また、電磁石としてもよい。また、磁路部５ｃの材質は、特に限定されないが、磁路部５ｃは、高い透磁率を有しており、例えば、純鉄や低炭素鋼で形成されていてもよい。

また、磁路部５ｃは、並列される第１及び第２分離路５ｄ，５ｅと、第１及び第２分離路５ｄ，５ｅを結合して第１磁石部５ａに接続させる第１結合路５ｆと、第１及び第２分離路５ｄ，５ｅを結合して第２磁石部５ｂに接続させる第２結合路５ｇとを備えていてもよい。そして、内部磁束検出部７は、第１分離路５ｄの内部を通る磁束を検出していてもよい。

また、本体部４は、例えば、本実施形態のように、ロープＸ３から漏洩する磁束を集める磁性部８と、磁性部８の透磁率よりも低い透磁率を有する非磁性部９とを備えていることが好ましい。そして、漏洩磁束検出部６は、例えば、磁化部５によって磁化されるロープＸ３から漏洩する磁束を検出するために、磁性部８の内部を通る磁束を検出していてもよい。

ところで、案内部３、磁性部８及び非磁性部９は、例えば、本実施形態のように、それぞれ挿入凹面２を構成していてもよい。そして、案内部３は、例えば、ロープテスタ１の第１方向Ｄ１の両端部にそれぞれ配置されており、一対の案内部３，３は、例えば、第１方向Ｄ１において、第１及び第２磁石部５ａ，５ｂを挟むように、配置されている、という構成でもよい。

磁性部８の材質は、特に限定されないが、磁性部８は、磁性材料で形成され、高い透磁率を有しており、例えば、純鉄や低炭素鋼で形成されていてもよい。また、非磁性部９の材質は、特に限定されないが、非磁性部９は、非磁性材料で形成され、低い透磁率を有しており、例えば、ロープＸ３の硬度よりも低い硬度の金属（例えば、アルミ青銅、アルミ）や硬質樹脂で形成されてもよい。

また、例えば、磁性部８の透磁率は、非磁性部９の透磁率の１００倍以上であることが好ましく、また、１０００倍以上であることがより好ましい。また、例えば、磁性部８の透磁率は、大気の透磁率の１００倍以上であることが好ましく、また、１０００倍以上であることがより好ましい。

また、案内部３の材質は、特に限定されないが、案内部３は、例えば、非磁性材料で形成され、低い透磁率を有してもよく、そして、例えば、ロープＸ３の硬度よりも低い硬度の金属（例えば、アルミ青銅、アルミ）や硬質樹脂で形成されている、という構成でもよい。なお、案内部３の硬度は、例えば、非磁性部９の硬度と同じでもよく、また、例えば、非磁性部９の硬度よりも低くてもよい。

図４及び図５に示すように、磁性部８は、例えば、挿入凹面２を構成する凹状部８ａ，８ａと、凹状部８ａと漏洩磁束検出部６とを接続する接続部８ｂとを備えていてもよい。これにより、図５に示すように、ロープＸ３の断線部分が凹状部８ａ，８ａ間に位置したときに、断線部分から漏洩した磁束が、磁性部８によって集められ、漏洩磁束検出部６は、磁性部８の内部（接続部８ｂ，８ｂ間）を通る磁束を検出することができる。なお、接続部８ｂと漏洩磁束検出部６との間には、例えば、隙間が形成されていてもよい。

ところで、図６～図８に示すように、挿入凹面２は、例えば、湾曲面状に形成される挿入底面２ａと、平面状に形成され、第３方向Ｄ３で互いに対面するように配置される一対の挿入側面２ｂ，２ｂとを備えていてもよい。なお、挿入底面２ａは、例えば、平面状に形成されていてもよい。また、第１～第３方向Ｄ１～Ｄ３は、互いに直交する方向である。

案内部３は、例えば、本実施形態のように、挿入凹面２を構成する案内凹面３ａを備えていてもよい。そして、案内凹面３ａは、例えば、挿入底面２ａを構成する案内底面３ｂと、挿入側面２ｂを構成する案内側面３ｃ，３ｃとを備えていることが好ましい。

磁性部８は、例えば、本実施形態のように、凹状部８ａに、挿入凹面２を構成する磁性凹面８ｃを備えていてもよい。そして、磁性凹面８ｃは、例えば、挿入底面２ａを構成する磁性底面８ｄと、挿入側面２ｂを構成する磁性側面８ｅ，８ｅとを備えていることが好ましい。

非磁性部９は、例えば、本実施形態のように、挿入凹面２を構成する非磁性凹面９ａを備えていてもよい。そして、非磁性凹面９ａは、例えば、挿入底面２ａを構成する非磁性底面９ｂと、挿入側面２ｂを構成する非磁性側面９ｃ，９ｃとを備えていることが好ましい。

そして、本実施形態のように、案内底面３ｂは、第１方向Ｄ１視において、非磁性底面９ｂよりも、挿入凹面２の内部側へ配置されており、非磁性底面９ｂは、第１方向Ｄ１視において、磁性底面８ｄよりも、挿入凹面２の内部側へ配置されている、という構成が好ましい。これにより、案内底面３ｂは、第１方向Ｄ１視において、磁性底面８ｄよりも、挿入凹面２の内部側に配置されている。

したがって、案内底面３ｂがロープＸ３に接してロープＸ３を案内するときに、ロープＸ３は、非磁性底面９ｂ及び磁性底面８ｄから離れることになる。しかも、仮に、案内底面３ｂが摩耗した場合でも、ロープＸ３が非磁性底面９ｂに接することになるため、ロープＸ３は、磁性底面８ｄから離れることになる。その結果、ロープＸ３が磁性底面８ｄに接することを抑制することができる。

なお、「挿入凹面２の内部側」とは、挿入凹面２で形成される内空間の中心に近い側のことである。例えば、「挿入凹面２の内部側」とは、挿入凹面２の内部に挿入されるロープＸ３の中心に近い側ともいえる。

また、本実施形態のように、案内側面３ｃは、第１方向Ｄ１視において、非磁性側面９ｃよりも、挿入凹面２の内部側へ配置されており、非磁性側面９ｃは、第１方向Ｄ１視において、磁性側面８ｅよりも、挿入凹面２の内部側へ配置されている、という構成が好ましい。これにより、案内側面３ｃは、第１方向Ｄ１視において、磁性側面８ｅよりも、挿入凹面２の内部側に配置されている。

したがって、仮に、案内側面３ｃがロープＸ３に接した場合に、ロープＸ３は、非磁性側面９ｃ及び磁性側面８ｅから離れることになる。しかも、仮に、案内側面３ｃが摩耗した場合でも、ロープＸ３は、非磁性側面９ｃに接し、磁性側面８ｅから離れることになる。その結果、ロープＸ３が磁性側面８ｅに接することを抑制することができる。

このように、ロープＸ３が磁性凹面８ｃ（磁性底面８ｄ及び磁性側面８ｅ）に接することを抑制することができるため、磁性部８が摩耗することを抑制することができる。特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における磁性底面８ｄと案内底面３ｂとの距離（段差）、即ち、磁性底面８ｄとロープＸ３との距離は、例えば、０．１ｍｍ以上としてもよく、また、例えば、０．２ｍｍ以上とすることが好ましく、また、例えば、０．３ｍｍ以上とすることがさらに好ましい。

一方で、磁性凹面８ｃが露出されているため、磁束凹面８ｃとロープＸ３との距離を小さくすることができるため、例えば、ロープＸ３から漏洩した磁束を検出する精度を向上させることができる。特に限定されないが、磁性底面８ｄとロープＸ３との距離、即ち、第１方向Ｄ１視における磁性底面８ｄと案内底面３ｂとの距離（段差）は、例えば、１．０ｍｍ以下としてもよく、また、例えば、０．８ｍｍ以下とすることが好ましく、また、例えば、０．６ｍｍ以下とすることがさらに好ましい。

また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性底面９ｂと案内底面３ｂとの距離（段差）は、例えば、０．１ｍｍ以上としてもよく、また、例えば、０．２ｍｍ以上としてもよい。また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性底面９ｂと案内底面３ｂとの距離（段差）は、例えば、０．６ｍｍ以下としてもよく、また、例えば、０．４ｍｍ以下としてもよい。

また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性底面９ｂと磁性底面８ｄとの距離（段差）は、例えば、０．１ｍｍ以上としてもよく、また、例えば、０．２ｍｍ以上としてもよい。また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性底面９ｂと磁性底面８ｄとの距離（段差）は、例えば、０．６ｍｍ以下としてもよく、また、例えば、０．４ｍｍ以下としてもよい。

また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における磁性側面８ｅと案内側面３ｃとの距離（段差）は、例えば、０．１ｍｍ以上としてもよく、また、例えば、０．２ｍｍ以上とすることが好ましく、また、例えば、０．３ｍｍ以上とすることがさらに好ましい。また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における磁性側面８ｅと案内側面３ｃとの距離（段差）は、例えば、１．０ｍｍ以下としてもよく、また、例えば、０．８ｍｍ以下とすることが好ましく、また、例えば、０．６ｍｍ以下とすることがさらに好ましい。

また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性側面９ｃと案内側面３ｃとの距離（段差）は、例えば、０．１ｍｍ以上としてもよく、また、例えば、０．２ｍｍ以上としてもよい。また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性側面９ｃと案内側面３ｃとの距離（段差）は、例えば、０．６ｍｍ以下としてもよく、また、例えば、０．４ｍｍ以下としてもよい。

また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性側面９ｃと磁性側面８ｅとの距離（段差）は、例えば、０．１ｍｍ以上としてもよく、また、例えば、０．２ｍｍ以上としてもよい。また、特に限定されないが、第１方向Ｄ１視における非磁性側面９ｃと磁性側面８ｅとの距離（段差）は、例えば、０．６ｍｍ以下としてもよく、また、例えば、０．４ｍｍ以下としてもよい。

また、案内部３は、例えば、本実施形態のように、案内底面３ｂが摩耗したことを検出する摩耗検出部３ｄを備えていることが好ましい。これにより、案内底面３ｂが摩耗したことを認識することができる。したがって、例えば、磁性底面８ｄが摩耗する可能性を認識することができるため、磁性部８が摩耗することをさらに抑制することができる。

なお、摩耗検出部３ｄの構成は、特に限定されないが、例えば、本実施形態のように、摩耗検出部３ｄは、案内底面３ｂに形成される溝であってもよい。これにより、溝の深さが浅くなったり、溝が無くなったりした場合に、案内底面３ｂが摩耗したことを検出することができる。

また、摩耗検出部３ｄが案内部３に設けられているため、摩耗検出部３ｄによって、案内底面３ｂが摩耗したことを検出された場合に、案内部３を取り替えることができる。即ち、現在の案内部３を本体部４から取り外し、新たな案内部３を本体部４に取り付けることによって、磁性部８が摩耗することを抑制することができる。

以上より、本実施形態のように、エレベータ用ロープテスタ１は、ロープＸ３を磁化させる磁化部５と、前記ロープＸ３が内部に挿入されるために、第１方向Ｄ１へ延びる挿入凹面２と、を備える、エレベータ用ロープＸ３のロープテスタ１であって、前記ロープＸ３に接することによって前記ロープＸ３を案内する案内部３と、前記ロープＸ３から漏洩する磁束を集める磁性部８と、前記磁性部８の内部を通る磁束を検出する漏洩磁束検出部６と、を備え、前記案内部３は、前記挿入凹面２の底面２ａを構成する案内底面３ｂを備え、前記磁性部８は、前記挿入凹面２の底面２ａを構成する磁性底面８ｄを備え、前記案内底面３ｂは、前記第１方向Ｄ１視において、前記磁性底面８ｄよりも、前記挿入凹面２の内部側に配置される、という構成が好ましい。

斯かる構成によれば、磁性底面８ｄが挿入凹面２の底面２ａを構成しているため、磁性部８で磁束を有効に集めることができる。そして、案内底面３ｂは、挿入凹面２の底面２ａを構成し、しかも、第１方向Ｄ１視において、磁性底面８ｄよりも、挿入凹面２の内部側に配置されている。これにより、案内底面３ｂがロープＸ３に接してロープＸ３を案内するときに、ロープＸ３が磁性底面８ｄから離れる。したがって、磁性部８が摩耗することを抑制することができる。

また、本実施形態のように、エレベータ用ロープテスタ１は、前記磁性部８の透磁率よりも低い透磁率を有する非磁性部９を備え、前記非磁性部９は、前記挿入凹面２の底面２ａを構成する非磁性底面９ｂを備え、前記案内底面３ｂは、前記第１方向Ｄ１視において、前記非磁性底面９ｂよりも、前記挿入凹面２の内部側へ配置され、前記非磁性底面９ｂは、前記第１方向Ｄ１視において、前記磁性底面８ｄよりも、前記挿入凹面２の内部側へ配置される、という構成が好ましい。

斯かる構成によれば、案内底面３ｂは、第１方向Ｄ１視において、非磁性底面９ｂよりも挿入凹面２の内部側へ配置され、非磁性底面９ｂは、第１方向Ｄ１視において、磁性底面８ｄよりも挿入凹面２の内部側へ配置されている。これにより、案内底面３ｂが摩耗した場合でも、ロープＸ３が非磁性底面９ｂに接するため、ロープＸ３が磁性底面８ｄに接することを抑制することができる。したがって、磁性部８が摩耗することをさらに抑制することができる

また、本実施形態のように、エレベータ用ロープテスタ１においては、前記挿入凹面２は、前記案内底面３ｂが摩耗したことを検出する摩耗検出部３ｄを備える、という構成が好ましい。

斯かる構成によれば、摩耗検出部３ｄによって、案内底面３ｂが摩耗したことを検出されるため、案内底面３ｂが摩耗したことを認識することができる。これにより、例えば、磁性部８が摩耗する可能性を認識することができるため、磁性部８が摩耗することを抑制することができる。

また、本実施形態のように、エレベータ用ロープテスタ１は、前記案内部３が着脱される本体部４をさらに備え、前記摩耗検出部３ｄは、前記案内部３に備えられる、という構成が好ましい。

斯かる構成によれば、摩耗検出部３ｄが案内部３に備えられ、案内部３は、本体部４に着脱可能に構成されている。これにより、例えば、摩耗検出部３ｄによって、案内底面３ｂが摩耗したことを検出された場合に、案内部３を取り替えることによって、磁性部８が摩耗することを抑制することができる。

また、本実施形態のように、エレベータ用ロープテスタ１においては、前記磁性部８は、前記挿入凹面２の側面２ｂを構成する磁性側面８ｅを備え、前記案内部３は、前記挿入凹面２の側面２ｂを構成する案内側面３ｃを備え、前記案内側面３ｃは、前記第１方向Ｄ１視において、前記磁性側面８ｅよりも、前記挿入凹面２の内部側に配置される、という構成が好ましい。

斯かる構成によれば、磁性側面８ｅが挿入凹面２の側面２ｂを構成しているため、磁性部８で磁束を有効に集めることができる。そして、案内側面３ｃは、挿入凹面２の側面２ｂを構成し、しかも、第１方向Ｄ１視において、磁性側面８ｅよりも、挿入凹面２の内部側に配置されている。これにより、ロープＸ３が案内側面３ｃに接した場合でも、ロープＸ３は、磁性側面８ｅから離れる。したがって、磁性部８が摩耗することをさらに抑制することができる。

なお、ロープテスタ１は、上記した実施形態の構成に限定されるものではなく、また、上記した作用効果に限定されるものではない。また、ロープテスタ１は、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。例えば、下記する各種の変更例に係る構成や方法等を任意に一つ又は複数選択して、上記した実施形態に係る構成や方法等に採用してもよいことは勿論である。

（１）上記実施形態に係るエレベータ用ロープテスタ１においては、案内底面３ｂは、第１方向Ｄ１視において、非磁性底面９ｂよりも、挿入凹面２の内部側へ配置され、非磁性底面９ｂは、第１方向Ｄ１視において、磁性底面８ｄよりも、前記挿入凹面２の内部側へ配置される、という構成である。しかしながら、エレベータ用ロープテスタ１は、斯かる構成に限られない。

例えば、案内底面３ｂは、第１方向Ｄ１視において、非磁性底面９ｂと同じ位置である、という構成でもよい。また、例えば、非磁性底面９ｂは、第１方向Ｄ１視において、磁性底面８ｄと同じ位置である、という構成でもよい。

（２）また、上記実施形態に係るエレベータ用ロープテスタ１においては、案内側面３ｃは、第１方向Ｄ１視において、非磁性側面９ｃよりも、挿入凹面２の内部側へ配置され、非磁性側面９ｃは、第１方向Ｄ１視において、磁性側面８ｅよりも、挿入凹面２の内部側へ配置されている、という構成である。しかしながら、エレベータ用ロープテスタ１は、斯かる構成に限られない。

例えば、案内側面３ｃは、第１方向Ｄ１視において、非磁性側面９ｃと同じ位置である、という構成でもよい。また、例えば、非磁性側面９ｃは、第１方向Ｄ１視において、磁性側面８ｅと同じ位置である、という構成でもよい。また、例えば、案内側面３ｃは、第１方向Ｄ１視において、磁性側面８ｅと同じ位置である、という構成でもよい。

（３）また、上記実施形態に係るエレベータ用ロープテスタ１においては、摩耗検出部３ｄは、案内底面３ｂに形成される溝である、という構成である。しかしながら、エレベータ用ロープテスタ１は、斯かる構成に限られない。例えば、摩耗検出部３ｄは、案内底面３ｂに塗料された色層である、という構成でもよい。具体的には、案内底面３ｂが摩耗することに伴って、色層が摩耗して無くなることによって、案内底面３ｂの摩耗が検出される、という構成でもよい。

（４）また、上記実施形態に係るエレベータ用ロープテスタ１においては、摩耗検出部３ｄは、案内部３に備えられている、という構成である。しかしながら、エレベータ用ロープテスタ１は、斯かる構成に限られない。例えば、摩耗検出部は、非磁性部９に備えられていてもよい。具体的には、案内底面３ｂが摩耗し、非磁性底面９ｂも摩耗した場合に、摩耗検出部が摩耗することによって、案内底面３ｂの摩耗が検出される、という構成でもよい。

（５）また、エレベータ用ロープテスタ１は、例えば、第２方向Ｄ２において、案内部３と本体部４との間に挿入される介挿体を備える、という構成でもよい。これにより、介挿体の厚み、個数を変更することによって、第１方向Ｄ１視における案内底面３ｂと磁性底面８ｄとの距離を変更することができる。

（６）また、エレベータ用ロープテスタ１は、例えば、磁性凹面８ｃと非磁性凹面９ａとの段差を埋めるように、磁性凹面８ｃに非磁性のコーティング樹脂を塗布した状態で、ロープＸ３を検査してもよい。例えば、コーティング樹脂は、塗布した後に乾燥して固体の状態でもよく、また、例えば、塗布した後も、液体（例えば、ジェル）の状態でもよい。

１…ロープテスタ、２…挿入凹面、２ａ…挿入底面、２ｂ…挿入側面、３…案内部、３ａ…案内凹面、３ｂ…案内底面、３ｃ…案内側面、３ｄ…摩耗検出部、４…本体部、４ａ…把持部、５…磁化部、５ａ…第１磁石部、５ｂ…第２磁石部、５ｃ…磁路部、５ｄ…第１分離路、５ｅ…第２分離路、５ｆ…第１結合路、５ｇ…第２結合路、６…漏洩磁束検出部、７…内部磁束検出部、８…磁性部、８ａ…凹状部、８ｂ…接続部、８ｃ…磁性凹面、８ｄ…磁性底面、８ｅ…磁性側面、９…非磁性部、９ａ…非磁性凹面、９ｂ…非磁性底面、９ｃ…非磁性側面、２１…エレベータ、２２…かご、２２ａ…停止部、２２ｂ…伝達部、２３…かごロープ、２４…釣合錘、２５…巻上機、２５ａ…綱車、２５ｂ…駆動源、２５ｃ…制動部、２６…かごレール、２７…錘レール、２８…調速機、２８ａ…ガバナロープ、２８ｂ…ガバナ車、２８ｃ…張り車、２８ｄ…把持部、２９…処理部、Ｄ１…第１方向、Ｄ２…第２方向、Ｄ３…第３方向、Ｘ１…昇降路、Ｘ２…機械室、Ｘ３…エレベータ用ロープ

Claims

ロープを磁化させる磁化部と、
前記ロープが内部に挿入されるために、第１方向へ延びる挿入凹面と、を備える、エレベータ用ロープのロープテスタであって、
前記ロープに接することによって前記ロープを案内する案内部と、
前記ロープから漏洩する磁束を集める磁性部と、
前記磁性部の内部を通る磁束を検出する漏洩磁束検出部と、を備え、
前記案内部は、前記挿入凹面の底面を構成する案内底面を備え、
前記磁性部は、前記挿入凹面の底面を構成する磁性底面を備え、
前記案内底面は、前記第１方向視において、前記磁性底面よりも、前記挿入凹面の内部側に配置される、エレベータ用ロープテスタ。
前記磁性部の透磁率よりも低い透磁率を有する非磁性部を備え、
前記非磁性部は、前記挿入凹面の底面を構成する非磁性底面を備え、
前記案内底面は、前記第１方向視において、前記非磁性底面よりも、前記挿入凹面の内部側へ配置され、
前記非磁性底面は、前記第１方向視において、前記磁性底面よりも、前記挿入凹面の内部側へ配置される、請求項１に記載のエレベータ用ロープテスタ。
前記挿入凹面は、前記案内底面が摩耗したことを検出する摩耗検出部を備える、請求項１又は２に記載のエレベータ用ロープテスタ。
前記案内部が着脱される本体部をさらに備え、
前記摩耗検出部は、前記案内部に備えられる、請求項３に記載のエレベータ用ロープテスタ。
前記磁性部は、前記挿入凹面の側面を構成する磁性側面を備え、
前記案内部は、前記挿入凹面の側面を構成する案内側面を備え、
前記案内側面は、前記第１方向視において、前記磁性側面よりも、前記挿入凹面の内部側に配置される、請求項１～４の何れか１項に記載のエレベータ用ロープテスタ。