JP7185340B2 - 非破壊検査装置 - Google Patents
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Description
12:一次コイル
14:パルス電流発生回路
16:二次コイル
18:比較回路
20:サンプリング回路
22:84:スイッチ
24:アナログゼロセット回路
26:増幅回路
28、52、54:フェライトコア
30、50:センサ
32:被検査物
34、35:異常個所
36:正常箇所
38:増幅回路
42:時点設定回路
44:平滑回路
46:アナログスイッチ
48:ホールド回路
60:第1直列回路
64:増幅回路
66:マルテンサイト化した時の電圧変化の電圧が低い部分
70:第2直列回路
72:ゼロセット回路
74:反転回路
76:マルテンサイト化した時の電圧変化の電圧が高い部分
78:バランス回路
82:微分回路
OP1、OP2、OP3:オペアンプ
R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7、R8:抵抗
C1、C2:コンデンサ
Claims (3)
- 被検査物に対する非破壊検査装置であって、
パルス電流による磁気で、被検査物に渦電流を生じさせる一次コイルと、
前記一次コイルの内側に配置され、前記渦電流によって生じた磁束の変化による誘導電圧 を検出する二次コイルと、
設定時点における前記二次コイルの電圧を出力するサンプリング回路と、
前記サンプリング回路にサンプリングパルスを入力する時点設定回路と、
前記サンプリング回路の出力を受けるアナログスイッチ、該アナログスイッチとアースの間に接続されたコンデンサ、該コンデンサの電極電圧を保持するホールド回路、および該ホールド回路の出力とアナログスイッチへの入力とを差動出力するオペアンプを備えたアナログゼロセット回路と、
前記アナログゼロセット回路の出力を増幅する増幅回路と、
を備え、
前記一次コイルの一次電流がオフになってからサンプリングパルスをサンプリング回路に入力する設定時間が変更できる非破壊検査装置。 - 前記アナログゼロセット回路および増幅回路が多段接続され、
前記増幅回路の後段に接続されたアナログゼロセット回路のアナログスイッチは前段の増幅回路に接続された請求項1の非破壊検査装置。 - 前記増幅回路の出力を微分する微分回路を備えた請求項1または2の非破壊検査装置。
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (17)
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DE2656111C3 (de) * | 1975-12-11 | 1981-02-26 | Magnetic Analysis Corp., Mount Vernon, N.Y. (V.St.A.) | Wirbelstromprüfgerät |
JPS60225058A (ja) * | 1984-04-24 | 1985-11-09 | Shigeru Kitagawa | 強磁性材料の機械的性質非破壊測定装置 |
JPS6270753A (ja) * | 1985-09-25 | 1987-04-01 | Sumitomo Metal Ind Ltd | パルス渦流検査法 |
JPS62108148A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Shigeru Kitagawa | 金属の材質検知方法及びその装置 |
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JPH01316655A (ja) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Nippon Hihakai Keisoku Kenkyusho:Kk | 渦流探傷装置 |
JP2622536B2 (ja) * | 1990-03-16 | 1997-06-18 | 株式会社日本非破壊計測研究所 | 渦流探傷方法及びその装置 |
JPH0833374B2 (ja) * | 1990-07-11 | 1996-03-29 | 株式会社小松製作所 | 金属内異質層検出方法およびその装置 |
US5311125A (en) * | 1992-03-18 | 1994-05-10 | Lake Shore Cryotronics, Inc. | Magnetic property characterization system employing a single sensing coil arrangement to measure AC susceptibility and DC moment of a sample |
JP3072304B2 (ja) * | 1994-09-14 | 2000-07-31 | 株式会社関電工 | 金属探知方法 |
JPH09133653A (ja) * | 1995-11-07 | 1997-05-20 | Daido Steel Co Ltd | 渦流探傷装置のプローブバランス調整方法及び調整装置 |
JPH11326284A (ja) * | 1998-05-08 | 1999-11-26 | Yonekura Seisakusho:Kk | パルス渦流探傷方法およびその装置 |
JP2000009696A (ja) * | 1998-06-23 | 2000-01-14 | Daido Steel Co Ltd | 渦流探傷装置 |
WO2003027661A1 (fr) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Daihatsu Motor Co., Ltd. | Procede d'inspection non destructeur |
JP4184962B2 (ja) * | 2001-09-25 | 2008-11-19 | ダイハツ工業株式会社 | 非破壊検査装置および非破壊検査方法 |
JP5466994B2 (ja) * | 2010-05-11 | 2014-04-09 | 一般財団法人雑賀技術研究所 | 金属検出装置 |
JP5383597B2 (ja) * | 2010-06-16 | 2014-01-08 | 株式会社日立製作所 | 渦電流検査装置および検査方法 |
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---|---|---|---|---|
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