JP2000009696A - 渦流探傷装置 - Google Patents
渦流探傷装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被探傷材の磁気ムラ等による誤検出を生じな
い。 【解決手段】 第１判定回路５のハイパスフィルタと第
２判定回路６の疵長さカウント回路を探傷プローブ１Ａ
〜１Ｎと同数設ける。スイッチ素子７１Ａ〜７１Ｎ，７
２Ａ〜７２Ｎにより、励磁コイル１１の一つを励磁電源
２に接続するとともに、当該励磁コイル１１と対になっ
た検出コイル１２をこれに対応するハイパスフィルタの
前段に設けたピークホールド回路、および上記検出コイ
ル１２に対応する疵長さ判定回路にそれぞれ接続する。
スイッチ素子７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎを順次切
り換えて各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの出力信号から第１
判定回路５および第２判定回路６でそれぞれ短い疵と長
い疵を判定する。
い。 【解決手段】 第１判定回路５のハイパスフィルタと第
２判定回路６の疵長さカウント回路を探傷プローブ１Ａ
〜１Ｎと同数設ける。スイッチ素子７１Ａ〜７１Ｎ，７
２Ａ〜７２Ｎにより、励磁コイル１１の一つを励磁電源
２に接続するとともに、当該励磁コイル１１と対になっ
た検出コイル１２をこれに対応するハイパスフィルタの
前段に設けたピークホールド回路、および上記検出コイ
ル１２に対応する疵長さ判定回路にそれぞれ接続する。
スイッチ素子７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎを順次切
り換えて各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの出力信号から第１
判定回路５および第２判定回路６でそれぞれ短い疵と長
い疵を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は渦流探傷装置に関
し、特に被探傷材に生じる磁気特性ムラ等に無関係に線
状疵のみを確実に検出できる渦流探傷装置に関する。
し、特に被探傷材に生じる磁気特性ムラ等に無関係に線
状疵のみを確実に検出できる渦流探傷装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】特開平９−１３３６５３号公報には、金
属材の表面疵を確実に検出するための渦流探傷装置のプ
ローブバランス調整方法が開示されている。この方法
は、疵が存在しない時の検出コイルの出力信号をサンプ
リングしてバランス信号としてメモリに記憶し、以後、
このバランス信号と上記出力信号の差信号のレベルを検
出して、これが所定値を越えたか否かより疵の有無を判
定している。加えて、上記出力信号が緩やかに変化した
場合にはバランス信号を更新して零レベル調整を行い、
疵による出力信号の大きな変化のみを検出して、疵の有
無判定の確実性を向上させている。
属材の表面疵を確実に検出するための渦流探傷装置のプ
ローブバランス調整方法が開示されている。この方法
は、疵が存在しない時の検出コイルの出力信号をサンプ
リングしてバランス信号としてメモリに記憶し、以後、
このバランス信号と上記出力信号の差信号のレベルを検
出して、これが所定値を越えたか否かより疵の有無を判
定している。加えて、上記出力信号が緩やかに変化した
場合にはバランス信号を更新して零レベル調整を行い、
疵による出力信号の大きな変化のみを検出して、疵の有
無判定の確実性を向上させている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、板状金属材で
は曲がり矯正用のプレスによる塑性変形に伴って局所的
に磁気特性のムラ（磁気ムラ）を生じることがあり、こ
の磁気ムラのある領域では検出コイルの出力信号が疵と
同様に大きく変化するため、磁気ムラを疵と誤判定する
おそれがあった。また、板状金属材では矯正後にもその
曲がりが完全には無くならず、これに起因するリフトオ
フ変動によっても検出コイルの出力信号が疵と同様に大
きく変化して、疵と誤判定されることがあった。
は曲がり矯正用のプレスによる塑性変形に伴って局所的
に磁気特性のムラ（磁気ムラ）を生じることがあり、こ
の磁気ムラのある領域では検出コイルの出力信号が疵と
同様に大きく変化するため、磁気ムラを疵と誤判定する
おそれがあった。また、板状金属材では矯正後にもその
曲がりが完全には無くならず、これに起因するリフトオ
フ変動によっても検出コイルの出力信号が疵と同様に大
きく変化して、疵と誤判定されることがあった。
【０００４】そこで本発明はこのような課題を解決する
もので、被探傷材の磁気ムラやリフトオフ変動による誤
判定を生じることがない渦流探傷装置を提供することを
目的とする。
もので、被探傷材の磁気ムラやリフトオフ変動による誤
判定を生じることがない渦流探傷装置を提供することを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本第１発明では、励磁コイル（１１）により被探傷
材の表層に渦電流を生じさせ、被探傷材表面の疵による
渦電流変化に応じた検出コイル（１２）の出力信号より
疵の存在を検出する渦流探傷装置において、上記出力信
号を入力するハイパスフィルタ（５２Ａ〜５２Ｎ）を有
し、これを通過した信号の信号レベルを検出して、当該
信号レベルが所定値以上の時に短い疵有りと判定する第
１判定回路（５）と、上記出力信号を入力し、当該出力
信号の信号レベルが所定値以上を所定時間以上維持した
時に長い疵有りと判定する疵長さ判定回路（６８Ａ〜６
８Ｎ）を有する第２判定回路（６）とを具備している。
め、本第１発明では、励磁コイル（１１）により被探傷
材の表層に渦電流を生じさせ、被探傷材表面の疵による
渦電流変化に応じた検出コイル（１２）の出力信号より
疵の存在を検出する渦流探傷装置において、上記出力信
号を入力するハイパスフィルタ（５２Ａ〜５２Ｎ）を有
し、これを通過した信号の信号レベルを検出して、当該
信号レベルが所定値以上の時に短い疵有りと判定する第
１判定回路（５）と、上記出力信号を入力し、当該出力
信号の信号レベルが所定値以上を所定時間以上維持した
時に長い疵有りと判定する疵長さ判定回路（６８Ａ〜６
８Ｎ）を有する第２判定回路（６）とを具備している。
【０００６】本第１発明において、短い線状疵を検出し
た際の出力信号は短時間で急激に変化するから、この出
力信号のみがハイパスフィルタを通過して「短い疵有
り」と判定される。これに対して、長い線状疵を検出し
た際の出力信号および磁気ムラやリフトオフ変動による
出力信号はいずれも短時間で急激に変化することはない
から、ハイパスフィルタで通過を阻止される。一方、長
い線状疵を検出した際の出力信号は高い信号レベルを長
く維持するから、疵長さ判定回路で「長い疵あり」と判
定される。これに対して、短い線状疵を検出した際の出
力信号および磁気ムラやリフトオフ変動による出力信号
はいずれも高い信号レベルを長く維持することはないか
ら、疵長さ判定回路で「長い疵あり」と判定されること
はない。結局、第１判定回路と第２判定回路でそれぞれ
短い疵と長い疵のみが確実に検出され、磁気ムラ等はい
ずれの判定回路でも検出されない。
た際の出力信号は短時間で急激に変化するから、この出
力信号のみがハイパスフィルタを通過して「短い疵有
り」と判定される。これに対して、長い線状疵を検出し
た際の出力信号および磁気ムラやリフトオフ変動による
出力信号はいずれも短時間で急激に変化することはない
から、ハイパスフィルタで通過を阻止される。一方、長
い線状疵を検出した際の出力信号は高い信号レベルを長
く維持するから、疵長さ判定回路で「長い疵あり」と判
定される。これに対して、短い線状疵を検出した際の出
力信号および磁気ムラやリフトオフ変動による出力信号
はいずれも高い信号レベルを長く維持することはないか
ら、疵長さ判定回路で「長い疵あり」と判定されること
はない。結局、第１判定回路と第２判定回路でそれぞれ
短い疵と長い疵のみが確実に検出され、磁気ムラ等はい
ずれの判定回路でも検出されない。
【０００７】本第２発明では、励磁コイル（１１）と検
出コイル（１２）の対よりなる探傷プローブ（１Ａ〜１
Ｎ）を複数設けるとともに、ハイパスフィルタ（５２Ａ
〜５２Ｎ）と疵長さ判定回路（６８Ａ〜６８Ｎ）を上記
探傷プローブ（１Ａ〜１Ｎ）と同数だけ設け、スイッチ
素子（７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎ，７３Ａ〜７３
Ｎ，７４Ａ〜７４Ｎ）により、励磁コイル（１１）の一
つを励磁電源（２）に接続するとともに、当該励磁コイ
ル（１１）と対になった検出コイル（１２）をこれに対
応する各ハイパスフィルタ（５２Ａ〜５２Ｎ）の前段に
それぞれ設けたピークホールド回路（５１Ａ〜５１Ｎ）
と、上記検出コイル（１２）に対応する疵長さ判定回路
（６８Ａ〜６８Ｎ）とにそれぞれ接続し、スイッチ素子
（７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎ，７３Ａ〜７３Ｎ，
７４Ａ〜７４Ｎ）を順次切り換えて各探傷プローブ（１
Ａ〜１Ｎ）の出力信号から第１判定回路（５）および第
２判定回路（６）でそれぞれ短い疵と長い疵を判定す
る。本第２発明の構成によれば、探傷プローブを複数設
けるマルチチャンネル型渦流探傷装置に本発明を適用す
ることができる。
出コイル（１２）の対よりなる探傷プローブ（１Ａ〜１
Ｎ）を複数設けるとともに、ハイパスフィルタ（５２Ａ
〜５２Ｎ）と疵長さ判定回路（６８Ａ〜６８Ｎ）を上記
探傷プローブ（１Ａ〜１Ｎ）と同数だけ設け、スイッチ
素子（７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎ，７３Ａ〜７３
Ｎ，７４Ａ〜７４Ｎ）により、励磁コイル（１１）の一
つを励磁電源（２）に接続するとともに、当該励磁コイ
ル（１１）と対になった検出コイル（１２）をこれに対
応する各ハイパスフィルタ（５２Ａ〜５２Ｎ）の前段に
それぞれ設けたピークホールド回路（５１Ａ〜５１Ｎ）
と、上記検出コイル（１２）に対応する疵長さ判定回路
（６８Ａ〜６８Ｎ）とにそれぞれ接続し、スイッチ素子
（７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎ，７３Ａ〜７３Ｎ，
７４Ａ〜７４Ｎ）を順次切り換えて各探傷プローブ（１
Ａ〜１Ｎ）の出力信号から第１判定回路（５）および第
２判定回路（６）でそれぞれ短い疵と長い疵を判定す
る。本第２発明の構成によれば、探傷プローブを複数設
けるマルチチャンネル型渦流探傷装置に本発明を適用す
ることができる。
【０００８】なお、上記カッコ内の符号は、後述する実
施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであ
る。
施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであ
る。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１には本発明をマルチチャンネ
ル型渦流探傷装置に適用した場合の装置構成を示す。渦
流探傷装置は励磁コイル１１と検出コイル１２よりなる
探傷プローブ１Ａ，１Ｂ，…，１Ｎを複数有し、各励磁
コイル１１はスイッチ素子７１Ａ，７１Ｂ，…，７１Ｎ
を介して励磁電源２に接続され、一方、各検出コイル１
２はスイッチ素子７２Ａ，７２Ｂ，…，７２Ｎを介して
差動増幅回路３１に接続されている。スイッチ素子７１
Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎは切換信号発生回路４から
出力される切換信号ａ，ｂ，…，ｎによって所定周期
（例えば２ｍｓ）毎に所定時間（例えば０．１ｍｓ）順
次導通作動させられる。
ル型渦流探傷装置に適用した場合の装置構成を示す。渦
流探傷装置は励磁コイル１１と検出コイル１２よりなる
探傷プローブ１Ａ，１Ｂ，…，１Ｎを複数有し、各励磁
コイル１１はスイッチ素子７１Ａ，７１Ｂ，…，７１Ｎ
を介して励磁電源２に接続され、一方、各検出コイル１
２はスイッチ素子７２Ａ，７２Ｂ，…，７２Ｎを介して
差動増幅回路３１に接続されている。スイッチ素子７１
Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎは切換信号発生回路４から
出力される切換信号ａ，ｂ，…，ｎによって所定周期
（例えば２ｍｓ）毎に所定時間（例えば０．１ｍｓ）順
次導通作動させられる。
【００１０】励磁電源２は周波数可変の発振器２１と各
励磁コイル１１に並列に接続される共振用コンデンサ２
２を有しており、コンデンサ２２の端子電圧は整流回路
３３で整流された後、リフトオフ感度補正回路３４を経
て乗算回路３５へ入力している。検出コイル１２の出力
信号は差動増幅回路３１を経て位相検波回路３２に入力
し、ここでリフトオフノイズが軽減された後、上記乗算
回路３５へ入力している。
励磁コイル１１に並列に接続される共振用コンデンサ２
２を有しており、コンデンサ２２の端子電圧は整流回路
３３で整流された後、リフトオフ感度補正回路３４を経
て乗算回路３５へ入力している。検出コイル１２の出力
信号は差動増幅回路３１を経て位相検波回路３２に入力
し、ここでリフトオフノイズが軽減された後、上記乗算
回路３５へ入力している。
【００１１】探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの励磁コイル１１
がスイッチ素子７１Ａ〜７１Ｎによって選択されて励磁
電源２に接続され、同時に同じ探傷プローブ１Ａ〜１Ｎ
に属する検出コイル１２がスイッチ素子７２Ａ〜７２Ｎ
により選択されて差動増幅回路３１に接続され、位相検
波回路３２で疵信号が抽出される。この時、探傷プロー
ブ１Ａ〜１Ｎと被探傷材との相対距離（リフトオフ）が
小さくなると検出コイル１２からの出力信号レベルは上
昇するが、共振点がづれることによってコンデンサ２２
の端子電圧（すなわち励磁コイル１１の端子電圧）は低
下する。整流後の上記端子電圧に応じた電圧信号をリフ
トオフ感度補正回路３４から乗算回路３５へ出力して疵
信号に乗じることにより、リフトオフ量に無関係に疵信
号のレベルをほぼ一定に保つことができる。
がスイッチ素子７１Ａ〜７１Ｎによって選択されて励磁
電源２に接続され、同時に同じ探傷プローブ１Ａ〜１Ｎ
に属する検出コイル１２がスイッチ素子７２Ａ〜７２Ｎ
により選択されて差動増幅回路３１に接続され、位相検
波回路３２で疵信号が抽出される。この時、探傷プロー
ブ１Ａ〜１Ｎと被探傷材との相対距離（リフトオフ）が
小さくなると検出コイル１２からの出力信号レベルは上
昇するが、共振点がづれることによってコンデンサ２２
の端子電圧（すなわち励磁コイル１１の端子電圧）は低
下する。整流後の上記端子電圧に応じた電圧信号をリフ
トオフ感度補正回路３４から乗算回路３５へ出力して疵
信号に乗じることにより、リフトオフ量に無関係に疵信
号のレベルをほぼ一定に保つことができる。
【００１２】乗算回路３５を経た疵信号Ｓｄは詳細を後
述する第１判定回路５と第２判定回路６へ入力してい
る。ここで、疵信号Ｓｄの一例を図４に示し、図４
（Ａ）は長い線状疵を検出した際の疵信号を示す。図４
（Ｂ）は短い線状疵を検出した際の疵信号であり、図４
（Ｃ）は、被探傷材の磁気ムラやリフトオフ変動による
疵信号である。図４（Ａ），（Ｂ）より明らかなよう
に、線状疵の疵信号電圧は、被探傷材の移動速度が一定
の場合、疵の長さに応じた時間だけ判定閾値ＶT を越え
る。一方、磁気ムラ等による疵信号は図４（Ｃ）より明
らかなように、その大きさが判定閾値ＶT を越えること
があるため、従来の方法では疵と誤判定されおそれがあ
る。なお、乗算回路３５から出力される疵信号Ｓｄは図
４に示したような連続したものではなく、実際には、順
次切り換えられる各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎから得られ
る各疵信号が上記所定時間（０．１ｍｓ）毎に離散的に
現れるものとなる。
述する第１判定回路５と第２判定回路６へ入力してい
る。ここで、疵信号Ｓｄの一例を図４に示し、図４
（Ａ）は長い線状疵を検出した際の疵信号を示す。図４
（Ｂ）は短い線状疵を検出した際の疵信号であり、図４
（Ｃ）は、被探傷材の磁気ムラやリフトオフ変動による
疵信号である。図４（Ａ），（Ｂ）より明らかなよう
に、線状疵の疵信号電圧は、被探傷材の移動速度が一定
の場合、疵の長さに応じた時間だけ判定閾値ＶT を越え
る。一方、磁気ムラ等による疵信号は図４（Ｃ）より明
らかなように、その大きさが判定閾値ＶT を越えること
があるため、従来の方法では疵と誤判定されおそれがあ
る。なお、乗算回路３５から出力される疵信号Ｓｄは図
４に示したような連続したものではなく、実際には、順
次切り換えられる各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎから得られ
る各疵信号が上記所定時間（０．１ｍｓ）毎に離散的に
現れるものとなる。
【００１３】図２には第１判定回路５の回路構成を示
す。第１判定回路５は、探傷プローブ１Ａ〜１Ｎと同数
だけ設けられて並列に接続されたスイッチ素子７３Ａ，
７３Ｂ，…，７３Ｎと、各スイッチ素子７３Ａ〜７３Ｎ
に直列に接続されたピークホールド回路５１Ａ，５１
Ｂ，…，５１Ｎおよびハイパスフィルタ５２Ａ，５２
Ｂ，…，５２Ｎを有している。各スイッチ素子７３Ａ〜
７３Ｎには上記乗算回路３５（図１）からの疵信号Ｓｄ
が入力し、ハイパスフィルタ５２Ａ〜５２Ｎの出力はコ
ンパレータ５３に入力している。各スイッチ素子７３Ａ
〜７３Ｎは上記切換信号発生回路４（図１）からの切換
信号ａ〜ｎによって、既に説明したスイッチ素子７１Ａ
〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎと同期して導通作動させら
れ、この結果、各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの疵信号Ｓｄ
が、対応するスイッチ素子７３Ａ〜７３Ｎの導通作動毎
に選択されて当該スイッチ素子７３Ａ〜７３Ｎの次の導
通作動時までピークホールド回路５１Ａ〜５１Ｎに保持
される。
す。第１判定回路５は、探傷プローブ１Ａ〜１Ｎと同数
だけ設けられて並列に接続されたスイッチ素子７３Ａ，
７３Ｂ，…，７３Ｎと、各スイッチ素子７３Ａ〜７３Ｎ
に直列に接続されたピークホールド回路５１Ａ，５１
Ｂ，…，５１Ｎおよびハイパスフィルタ５２Ａ，５２
Ｂ，…，５２Ｎを有している。各スイッチ素子７３Ａ〜
７３Ｎには上記乗算回路３５（図１）からの疵信号Ｓｄ
が入力し、ハイパスフィルタ５２Ａ〜５２Ｎの出力はコ
ンパレータ５３に入力している。各スイッチ素子７３Ａ
〜７３Ｎは上記切換信号発生回路４（図１）からの切換
信号ａ〜ｎによって、既に説明したスイッチ素子７１Ａ
〜７１Ｎ，７２Ａ〜７２Ｎと同期して導通作動させら
れ、この結果、各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの疵信号Ｓｄ
が、対応するスイッチ素子７３Ａ〜７３Ｎの導通作動毎
に選択されて当該スイッチ素子７３Ａ〜７３Ｎの次の導
通作動時までピークホールド回路５１Ａ〜５１Ｎに保持
される。
【００１４】これにより、各ハイパスフィルタ５２Ａ〜
５２Ｎの入力側には各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの疵信号
Ｓｄが再現され、疵信号Ｓｄのうち短時間に大きく変化
する、短い線状疵（例えば疵長さ１０ｍｍ以下）に対応
するもの（図４（Ｂ）参照）のみがハイパスフィルタ５
２Ａ〜５２Ｎを確実に通過してコンパレータ５３に入力
する。この際、長い線状疵に対応する疵信号（図４
（Ａ）参照）および磁気ムラやリフトオフ変動による疵
信号（図４（Ｃ）参照）はハイパスフィルタをほとんど
通過できないか、通過してもその信号レベルは大きく低
下する。上記コンパレータ５３はハイパスフィルタ５２
Ａ〜５２Ｎを通過した疵信号Ｓｄが判定閾値を越えた時
に「短い疵有り」の判定信号を発する。
５２Ｎの入力側には各探傷プローブ１Ａ〜１Ｎの疵信号
Ｓｄが再現され、疵信号Ｓｄのうち短時間に大きく変化
する、短い線状疵（例えば疵長さ１０ｍｍ以下）に対応
するもの（図４（Ｂ）参照）のみがハイパスフィルタ５
２Ａ〜５２Ｎを確実に通過してコンパレータ５３に入力
する。この際、長い線状疵に対応する疵信号（図４
（Ａ）参照）および磁気ムラやリフトオフ変動による疵
信号（図４（Ｃ）参照）はハイパスフィルタをほとんど
通過できないか、通過してもその信号レベルは大きく低
下する。上記コンパレータ５３はハイパスフィルタ５２
Ａ〜５２Ｎを通過した疵信号Ｓｄが判定閾値を越えた時
に「短い疵有り」の判定信号を発する。
【００１５】図３には第２判定回路６の回路構成を示
す。第２判定回路６は零レベル調整回路を有している。
この零レベル調整回路はＡ／Ｄコンバータ６１、スイッ
チ素子６２、メモリ６３、Ｄ／Ａコンバータ６４、比較
回路６５および差動増幅回路６６より構成されており、
疵信号Ｓｄは比較回路６５、Ａ／Ｄコンバータ６１およ
び差動増幅回路６６に入力している。Ａ／Ｄコンバータ
６１とメモリ６３の間にスイッチ素子６２が位置してお
り、スイッチ素子６２は比較回路６５からの出力によっ
て導通作動させられる。
す。第２判定回路６は零レベル調整回路を有している。
この零レベル調整回路はＡ／Ｄコンバータ６１、スイッ
チ素子６２、メモリ６３、Ｄ／Ａコンバータ６４、比較
回路６５および差動増幅回路６６より構成されており、
疵信号Ｓｄは比較回路６５、Ａ／Ｄコンバータ６１およ
び差動増幅回路６６に入力している。Ａ／Ｄコンバータ
６１とメモリ６３の間にスイッチ素子６２が位置してお
り、スイッチ素子６２は比較回路６５からの出力によっ
て導通作動させられる。
【００１６】メモリ６３には切換信号発生回路４（図
１）からの切換信号ａ〜ｎが入力しており、スイッチ素
子６２の導通時に、切換信号ａ〜ｎで指示されたメモリ
セルにＡ／Ｄコンバータ６１通過後の疵信号Ｓｄがバラ
ンス信号として書き込まれる。また、上記切換信号ａ〜
ｎで指示されたメモリセルからバランス信号がＤ／Ａコ
ンバータ６４へ読み出される。比較回路６５はＤ／Ａコ
ンバータ６４の出力と疵信号Ｓｄを比較して、疵信号Ｓ
ｄがＤ／Ａコンバータ６４の出力に対して一定範囲内に
ある場合にのみスイッチ素子６２を導通作動させる。差
動増幅回路６６は疵信号Ｓｄとバランス信号の差信号を
次段のコンパレータ６７へ出力する。
１）からの切換信号ａ〜ｎが入力しており、スイッチ素
子６２の導通時に、切換信号ａ〜ｎで指示されたメモリ
セルにＡ／Ｄコンバータ６１通過後の疵信号Ｓｄがバラ
ンス信号として書き込まれる。また、上記切換信号ａ〜
ｎで指示されたメモリセルからバランス信号がＤ／Ａコ
ンバータ６４へ読み出される。比較回路６５はＤ／Ａコ
ンバータ６４の出力と疵信号Ｓｄを比較して、疵信号Ｓ
ｄがＤ／Ａコンバータ６４の出力に対して一定範囲内に
ある場合にのみスイッチ素子６２を導通作動させる。差
動増幅回路６６は疵信号Ｓｄとバランス信号の差信号を
次段のコンパレータ６７へ出力する。
【００１７】以上の零レベル調整回路によって、各探傷
プローブ１Ａ〜１Ｎの疵信号Ｓｄが緩やかに変化する場
合にはスイッチ素子６２が導通作動させられて、各探傷
プローブ１Ａ〜１Ｎに対応するメモリセルに記憶された
バランス信号が新たな疵信号Ｓｄで更新され、Ｄ／Ａコ
ンバータ６４に出力される。これにより、差動増幅回路
６６の出力は零レベルに調整される。探傷プローブ１Ａ
〜１Ｎで線状疵が検出されて疵信号Ｓｄが大きく変化す
ると、バランス信号は更新されないから、差動増幅回路
６６からは疵信号Ｓｄの大きさに応じた信号が出力され
る。
プローブ１Ａ〜１Ｎの疵信号Ｓｄが緩やかに変化する場
合にはスイッチ素子６２が導通作動させられて、各探傷
プローブ１Ａ〜１Ｎに対応するメモリセルに記憶された
バランス信号が新たな疵信号Ｓｄで更新され、Ｄ／Ａコ
ンバータ６４に出力される。これにより、差動増幅回路
６６の出力は零レベルに調整される。探傷プローブ１Ａ
〜１Ｎで線状疵が検出されて疵信号Ｓｄが大きく変化す
ると、バランス信号は更新されないから、差動増幅回路
６６からは疵信号Ｓｄの大きさに応じた信号が出力され
る。
【００１８】コンパレータ６７の後段には探傷プローブ
１Ａ〜１Ｎに等しい数のスイッチ素子７４Ａ，７４Ｂ，
…，７４Ｎが並列に接続され、各スイッチ素子７４Ａ〜
７４Ｎに疵長さカウント回路６８Ａ，６８Ｂ，…，６８
Ｎが接続されている。なお、各スイッチ素子７４Ａ〜７
４Ｎは切換信号発生回路４（図１）からの切換信号ａ〜
ｎによって導通作動させられる。上記コンパレータ６７
はその判定閾値よりも高い信号が入力するとその出力が
「Ｈ」レベルとなる。したがって、この時、各疵長さカ
ウント回路６８Ａ〜６８Ｎにはスイッチ素子７４Ａ〜７
４Ｎが導通作動している間（０．１ｍｓ）「Ｈ」レベル
となるパルス信号が入力する。
１Ａ〜１Ｎに等しい数のスイッチ素子７４Ａ，７４Ｂ，
…，７４Ｎが並列に接続され、各スイッチ素子７４Ａ〜
７４Ｎに疵長さカウント回路６８Ａ，６８Ｂ，…，６８
Ｎが接続されている。なお、各スイッチ素子７４Ａ〜７
４Ｎは切換信号発生回路４（図１）からの切換信号ａ〜
ｎによって導通作動させられる。上記コンパレータ６７
はその判定閾値よりも高い信号が入力するとその出力が
「Ｈ」レベルとなる。したがって、この時、各疵長さカ
ウント回路６８Ａ〜６８Ｎにはスイッチ素子７４Ａ〜７
４Ｎが導通作動している間（０．１ｍｓ）「Ｈ」レベル
となるパルス信号が入力する。
【００１９】疵長さカウント回路６８Ａ〜６８Ｎはこれ
に入力する連続的なパルス信号をカウントし、これが所
定値以上になった時に「長い疵有り」と判定して、この
時のカウント値に応じた「疵長さ」を出力する。短い線
状疵および磁気ムラやリフトオフ変動による疵信号Ｓｄ
はコンパレータ６７の判定閾値を連続して越えている時
間が短いから、疵長さカウント回路６８Ａ〜６８Ｎにお
けるカウント値が上記設定値以上になることはなく、
「疵有り」と判定されることはない。なお、疵長さカウ
ント回路６８Ａ〜６８Ｎにおける設定値は例えば５０ｍ
ｍの疵長さに対応したものとし、これより長い線状疵を
「長い疵」と判定する。
に入力する連続的なパルス信号をカウントし、これが所
定値以上になった時に「長い疵有り」と判定して、この
時のカウント値に応じた「疵長さ」を出力する。短い線
状疵および磁気ムラやリフトオフ変動による疵信号Ｓｄ
はコンパレータ６７の判定閾値を連続して越えている時
間が短いから、疵長さカウント回路６８Ａ〜６８Ｎにお
けるカウント値が上記設定値以上になることはなく、
「疵有り」と判定されることはない。なお、疵長さカウ
ント回路６８Ａ〜６８Ｎにおける設定値は例えば５０ｍ
ｍの疵長さに対応したものとし、これより長い線状疵を
「長い疵」と判定する。
【００２０】このようにして、線状疵のみが第１および
第２の判定回路でそれぞれ短い疵および長い疵として確
実に検出され、磁気ムラ等による疵信号は排除される。
なお、上記実施形態において、零レベル調整回路は必ず
しも設ける必要はない。
第２の判定回路でそれぞれ短い疵および長い疵として確
実に検出され、磁気ムラ等による疵信号は排除される。
なお、上記実施形態において、零レベル調整回路は必ず
しも設ける必要はない。
【００２１】
【発明の効果】以上のように、本発明の渦流探傷装置に
よれば、被探傷材の磁気ムラやリフトオフ変動による誤
判定を生じることがない。
よれば、被探傷材の磁気ムラやリフトオフ変動による誤
判定を生じることがない。
【図１】渦流探傷装置の全体ブロック構成図である。
【図２】第１判定回路のブロック構成図である。
【図３】第２判定回路のブロック構成図である。
【図４】疵信号の波形図である。
１Ａ〜１Ｎ…探傷プローブ、１１…励磁コイル、１２…
検出コイル、２…励磁電源、５…第１判定回路、５２Ａ
〜５２Ｎ…ハイパスフィルタ、６…第２判定回路、６８
Ａ〜６８Ｎ…疵長さ判定回路、７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ
〜７２Ｎ，７３Ａ〜７３Ｎ，７４Ａ〜７４Ｎ…スイッチ
素子。
検出コイル、２…励磁電源、５…第１判定回路、５２Ａ
〜５２Ｎ…ハイパスフィルタ、６…第２判定回路、６８
Ａ〜６８Ｎ…疵長さ判定回路、７１Ａ〜７１Ｎ，７２Ａ
〜７２Ｎ，７３Ａ〜７３Ｎ，７４Ａ〜７４Ｎ…スイッチ
素子。
Claims (2)
- 【請求項１】 励磁コイルにより被探傷材の表層に渦電
流を生じさせ、被探傷材表面の疵による渦電流変化に応
じた検出コイルの出力信号より疵の存在を知る渦流探傷
装置において、前記出力信号を入力するハイパスフィル
タを有し、これを通過した信号の信号レベルを検出し
て、当該信号レベルが所定値以上の時に短い疵有りと判
定する第１判定回路と、前記出力信号を入力し、当該出
力信号の信号レベルが所定値以上を所定時間以上維持し
た時に長い疵有りと判定する疵長さ判定回路を有する第
２判定回路とを具備する渦流探傷装置。 - 【請求項２】 前記励磁コイルと検出コイルの対よりな
る探傷プローブを複数設けるとともに、前記ハイパスフ
ィルタと疵長さ判定回路を前記探傷プローブと同数だけ
設け、スイッチ素子により、前記励磁コイルの一つを励
磁電源に接続するとともに、当該励磁コイルと対になっ
た検出コイルをこれに対応する前記各ハイパスフィルタ
の前段にそれぞれ設けたピークホールド回路と、前記検
出コイルに対応する前記疵長さ判定回路とにそれぞれ接
続し、前記スイッチ素子を順次切り換えて各探傷プロー
ブの出力信号から前記第１判定回路および第２判定回路
でそれぞれ短い疵と長い疵を判定するようにした請求項
１に記載の渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10193799A JP2000009696A (ja) | 1998-06-23 | 1998-06-23 | 渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10193799A JP2000009696A (ja) | 1998-06-23 | 1998-06-23 | 渦流探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000009696A true JP2000009696A (ja) | 2000-01-14 |
Family
ID=16313977
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10193799A Pending JP2000009696A (ja) | 1998-06-23 | 1998-06-23 | 渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000009696A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9274085B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-03-01 | Hitachi, Ltd. | Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method |
| JP2020148759A (ja) * | 2019-03-06 | 2020-09-17 | サガワ産業株式会社 | 非破壊検査装置 |
-
1998
- 1998-06-23 JP JP10193799A patent/JP2000009696A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9274085B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-03-01 | Hitachi, Ltd. | Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method |
| JP2020148759A (ja) * | 2019-03-06 | 2020-09-17 | サガワ産業株式会社 | 非破壊検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050426 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061120 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070109 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070515 |