JP7148523B2 - ガラス表面近くのk2oプロファイルが変更された、リチウムを含有するガラスまたはガラスセラミック物品 - Google Patents
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Description
64.13モル%のSiO2、15.98モル%のAl2O3、1.24モル%のP2O5、6.41モル%のLi2O、10.86モル%のNa2O、0.03モル%のK2O、1.17モル%のZnO、0.05モル%のSnO2、0.08モル%のMgO、0.02モル%のCaO、および0.02モル%のFe2O3の組成を有する0.8mm厚のガラス物品を、二重イオン交換過程においてイオン交換した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、3時間および30分に亘る380℃の温度での75質量%のNaNO3および25質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、30分に亘る380℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。ガラス物品の表面下の深さの関数としてのグロー放電発光分析(GDOES)により測定されたLi2O、Na2O、およびK2Oの結果として得られた濃度が、図7に示されている。
実施例1のガラス組成物をガラス物品に成形し、次に、このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、このイオン交換済みガラス物品に逆イオン交換過程を施した。この逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、化学エッチング過程を用いて、フッ化水素酸によって、ガラス物品の片面当たり4μmを除去した。次に、エッチングしたガラス物品を、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴中、および20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する第2のイオン交換浴中で再イオン交換した。イオン交換済みガラス物品のK2O濃度が、図15に実線で表されており、逆イオン交換済みガラス物品のK2O濃度が、図15に破線で表されており、再イオン交換済みガラス物品のK2O濃度が、図15に一点鎖線で表されている。図15において丸で囲まれた領域が、逆イオン交換過程から生じる追加のK2O濃度を強調している。図16は、深さの関数としてガラス物品中の酸化物濃度を示しており、図16の線は、図15における過程の同じ段階に対応する。
実施例1のガラス組成物を厚さ0.5mmのガラス物品に成形し、このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での10質量%のNaNO3および90質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、このイオン交換済みガラス物品に逆イオン交換過程を施した。この逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、化学エッチング過程を用いて、フッ化水素酸によって、ガラス物品の片面当たり4μmを除去した。次に、エッチングしたガラス物品を、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴中、および20分に亘る370℃の温度での10質量%のNaNO3および90質量%のKNO3を含有する第2のイオン交換浴中で再イオン交換した。図17に示されるように、酸化物濃度をGDOESによって測定した。逆イオン交換の結果としての追加のK2O濃度が、図17における点線の長方形により強調されている。
実施例1のガラス組成物をガラス物品に成形し、このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、ガラス物品の片面当たり表面から3μmを除去することによって、イオン交換済みガラス物品から表面引っ掻き傷および他の欠陥を除去した。次に、このガラス物品に逆イオン交換過程を施した。この逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、逆イオン交換済みガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。表面から材料を除去する前のイオン交換済みガラス物品および再イオン交換済みガラス物品に関する、カリウムの層の深さ(DOL)、圧縮深さ(DOC)、圧縮応力(CS)、膝部での圧縮応力(CSk)、および中央張力(CT)が、表1に報告されている。
実施例1のガラス組成物を厚さ0.5mmのガラス物品に成形し、このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、このイオン交換済みガラス物品に逆イオン交換過程を施した。1つの逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。別の逆イオン交換過程は、16時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。別の逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での12質量%のLiNO3および88質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。別の逆イオン交換過程は、16時間に亘る420℃の温度での12質量%のLiNO3および88質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。次に、逆イオン交換済みガラス物品に二重イオン交換処理を再び施した。RNFにより測定されたガラス物品の結果として得られた平滑化応力プロファイルは、図18に示されるように、似ていた。
実施例1のガラス組成物を厚さ0.5mmのガラス物品に成形し、このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、このイオン交換済みガラス物品に逆イオン交換過程を施した。1つの逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。別の逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での16質量%のLiNO3、0.2質量%のKNO3および83.8質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。別の逆イオン交換過程は、8時間に亘る420℃の温度での15質量%のLiNO3、0.4質量%のKNO3および84.6質量%のNaNO3を含有する浴を含んだ。ガラス物品の表面下の深さの関数としての、逆イオン交換過程後のGDOESによって測定されたK2O濃度が、図19に示されている。次に、逆イオン交換済みガラス物品に二重イオン交換処理を再び施した。イオン交換済みガラス物品、逆イオン交換済みガラス物品、および再イオン交換済みガラス物品のFSMスペクトルが、図20に示されている。図20に示された再イオン交換済みガラス物品(DIOX後)のFSMスペクトルにおける濃い縞模様は、逆イオン交換の結果としてガラス物品中に存在する追加のK2O濃度に関連付けられる。
実施例1のガラス組成物を、機械加工されたエッジ断面を持つ厚さ0.5mmのガラス物品に成形した。このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、これらのガラス物品の内の1つに、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のNaNO3を含有する浴を含む逆イオン交換過程を施した。次に、逆イオン交換済みガラス物品に、フッ化水素酸で酸エッチングして、ガラス物品の表面から3μmを除去した。次に、酸エッチングしたガラス物品に、再イオン交換処理としての二重イオン交換処理を施した。図21に示されるように、ガラス物品の10%が破壊されると予測される破壊応力(B10)を決定した。この破壊応力は、4点曲げ試験を使用して測定した。図21に示された対照は、二重イオン交換処理後であるが、逆イオン交換前のガラス物品である。B10値は、表面傷を減少させるための酸エッチングに関連するエッジ強度の増加のために、再イオン交換済みガラス物品のほうが高いであろう。
実施例1のガラス組成物を、機械加工されたエッジ断面を持つ厚さ0.5mmのガラス物品に成形した。このガラス物品に二重イオン交換処理を施した。この二重イオン交換過程は、第1と第2のイオン交換を含み、この第1のイオン交換は、80分に亘る380℃の温度での36質量%のNaNO3および64質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。第2のイオン交換は、20分に亘る370℃の温度での5質量%のNaNO3および95質量%のKNO3を含有する浴を含んだ。次に、これらのガラス物品の内の1つに、8時間に亘る420℃の温度での17質量%のLiNO3および83質量%のNaNO3を含有する浴を含む逆イオン交換過程を施した。次に、逆イオン交換済みガラス物品を処理して、ガラス物品の表面から3μmを除去した。次に、表面処理済みガラス物品に、再イオン交換処理として二重イオン交換処理を施した。
アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品であって、
Li2O、Na2O、およびK2O;
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラスの表面から圧縮深さ(DOC)まで延在する圧縮応力層;
前記圧縮深さから前記ガラス物品中に延在し、少なくとも約40MPaの最大引張応力を有する引張領域;および
K2O濃度がK2O濃度極大値まで増加する部分を含むK2O濃度プロファイル;
を有するアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記K2O濃度極大値が前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品の表面下約3μmから約30μmの範囲の深さに位置する、実施形態1に記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記K2O濃度極大値が0.05モル%から1.2モル%のK2O濃度である、実施形態1または2に記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記K2O濃度極大値が、前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品の表面でのK2O濃度の0.5%から15%のK2O濃度である、実施形態1から3いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記最大引張応力が少なくとも約50MPaである、実施形態1から4いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記圧縮応力層の最大圧縮応力が少なくとも約600MPaである、実施形態1から5いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
約0.1モル%から約10モル%のB2O3をさらに含む、実施形態1から6いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品がB2O3を実質的に含まない、実施形態1から6いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品が、
約58モル%から約65モル%のSiO2、
約11モル%から約20モル%のAl2O3、
約6モル%から約18モル%のNa2O、
0モル%から約6モル%のMgO、
0.1モル%から約13モル%のLi2O、および
0モル%から約6モル%のZnO、
を含む、実施形態1から8いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品が約0.5モル%から約2.8モル%のP2O5を含む、実施形態1から9いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
約0.05mmから約1.5mmの範囲の厚さをさらに有する、実施形態1から10いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
銀、銅、セシウム、およびルビジウムの内の少なくとも1つをさらに含む、実施形態1から11いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品がガラスセラミックから作られている、実施形態1から12いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
筐体;
前記筐体に少なくとも部分的に内部に設けられた電気部品であって、少なくとも、制御装置、メモリ、および該筐体の前面にまたはそれに隣接して設けられたディスプレイを含む電気部品;および
前記筐体の前面にまたはその上に、かつ前記ディスプレイの上に配置されたカバー物品;
を備えた家庭用電子機器であって、
前記筐体またはカバー物品が、実施形態1から13いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品から作られている、家庭用電子機器。
アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品であって、
Li2O、Na2O、およびK2O;
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラスの表面から圧縮深さ(DOC)まで延在する圧縮応力層;
前記圧縮深さから前記ガラス物品中に延在し、少なくとも約40MPaの最大引張応力を有する引張領域;および
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品の中心でのK2O濃度より少なくとも約0.3モル%高い、約15μmから約25μmの深さでのK2O濃度;
を有するアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
K2O濃度極大値が0.3モル%から1.2モル%のK2O濃度である、実施形態15に記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
約15μmから約25μmの深さが、前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品の表面でのK2O濃度の0.5%から15%のK2O濃度を有する、実施形態15または16に記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記圧縮応力層の最大圧縮応力が少なくとも約600MPaである、実施形態15から17いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
約0.05mmから約1.5mmの範囲の厚さをさらに有する、実施形態15から18いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
銀、銅、セシウム、およびルビジウムの内の少なくとも1つをさらに含む、実施形態15から19いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品がガラスセラミックから作られている、実施形態15から20いずれか1つに記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
方法であって、
リチウム塩を含む逆イオン交換浴中でイオン交換済みガラス物品を逆イオン交換して、逆イオン交換済みガラス物品を製造する工程、および
再イオン交換浴中で逆イオン交換済みガラス物品を再イオン交換して、再イオン交換済みガラス物品を形成する工程、
を有してなり、
前記再イオン交換済みガラス物品が、
Li2O、Na2O、およびK2O;
前記再イオン交換済みガラス物品の表面から圧縮深さ(DOC)まで延在する圧縮応力層;
前記圧縮深さから前記再イオン交換済みガラス物品中に延在し、少なくとも約40MPaの最大引張応力を有する引張領域;および
K2O濃度がK2O濃度極大値まで増加する部分を含むK2O濃度プロファイル、
を有する、方法。
前記逆イオン交換済みガラス物品の表面から1μmと10μmの間を除去する工程をさらに含む、実施形態22に記載の方法。
前記除去する工程が、機械的研磨または化学エッチングを含む、実施形態23に記載の方法。
前記逆イオン交換浴が、
3質量%から40質量%のLiNO3、および
55質量%から97質量%のNaNO3、
を含む、実施形態22から24いずれか1つに記載の方法。
前記逆イオン交換浴が多くとも1質量%のKNO3しか含まない、実施形態22から25いずれか1つに記載の方法。
前記逆イオン交換浴がKNO3を含まない、実施形態22から26いずれか1つに記載の方法。
前記逆イオン交換浴が約320℃から約520℃の温度である、実施形態22から27いずれか1つに記載の方法。
リチウム塩を含む第2の逆イオン交換浴中で前記逆イオン交換済みガラス物品を逆イオン交換する工程をさらに含む、実施形態22から28いずれか1つに記載の方法。
前記第2の逆イオン交換浴が、
0.1質量%から約5.0質量%のLiNO3、および
NaNO3、
を含む、実施形態29に記載の方法。
前記第2の逆イオン交換浴がKNO3を実質的に含まない、実施形態29または30に記載の方法。
前記第2の逆イオン交換浴中の逆イオン交換が、約5から約30分の期間に亘る、実施形態29から31いずれか1つに記載の方法。
前記第2の逆イオン交換浴が約320℃から約520℃の温度である、実施形態29から32いずれか1つに記載の方法。
前記逆イオン交換浴中の逆イオン交換が、約2時間から約48時間の期間に亘る、実施形態22から33いずれか1つに記載の方法。
前記再イオン交換浴が、
約15質量%から約40質量%のNaNO3、および
約60質量%から約85質量%のKNO3、
を含む、実施形態22から34いずれか1つに記載の方法。
前記再イオン交換浴中の再イオン交換が、約30分から約120分の期間に亘る、実施形態22から35いずれか1つに記載の方法。
前記再イオン交換浴が約350℃から約420℃の温度である、実施形態22から36いずれか1つに記載の方法。
第2の再イオン交換浴中で前記再イオン交換済みガラス物品を再イオン交換する工程をさらに含む、実施形態22から37いずれか1つに記載の方法。
前記第2の再イオン交換浴が、
約3質量%から約15質量%のNaNO3、および
約85質量%から約97質量%のKNO3、
を含む、実施形態38に記載の方法。
前記第2の再イオン交換浴が約350℃から約420℃の温度である、実施形態38または39に記載の方法。
前記第2の再イオン交換浴中の再イオン交換が、約10分から約30分の期間に亘る、実施形態38から40いずれか1つに記載の方法。
イオン交換浴中でガラス物品をイオン交換して、前記イオン交換済みガラス物品を形成する工程をさらに含む、実施形態22から41いずれか1つに記載の方法。
前記イオン交換浴が、
約15質量%から約40質量%のNaNO3、および
約60質量%から約85質量%のKNO3、
を含む、実施形態42に記載の方法。
前記イオン交換浴中のイオン交換が、約30分から約120分の期間に亘る、実施形態42または43に記載の方法。
前記イオン交換浴が約350℃から約420℃の温度である、実施形態42から44いずれか1つに記載の方法。
第2のイオン交換浴中で前記イオン交換済みガラス物品をイオン交換する工程をさらに含む、実施形態42から45いずれか1つに記載の方法。
前記第2のイオン交換浴が、
約3質量%から約15質量%のNaNO3、および
約85質量%から約97質量%のKNO3、
を含む、実施形態46に記載の方法。
前記第2のイオン交換浴が約350℃から約420℃の温度である、実施形態46または47に記載の方法。
第2の再イオン交換浴中の再イオン交換が、約10分から約30分の期間に亘る、実施形態46から48いずれか1つに記載の方法。
前記再イオン交換済みガラス物品が、
該再イオン交換済みガラス物品の表面でのLi2O濃度の約0.5%から約20%の、該再イオン交換済みガラス物品の表面下10μmの深さでのLi2O濃度、および
該再イオン交換済みガラス物品の表面でのK2O濃度の約0.5%から約20%の、該再イオン交換済みガラス物品の表面下10μmの深さでのK2O濃度、
を有する、実施形態22から49いずれか1つに記載の方法。
複数の結合共鳴を含む強度結合プロファイルを有するリチウム含有ガラス物品であって、
前記結合共鳴の第1のものが、該結合共鳴の第2のものの半値半幅値より少なくとも1.8倍大きい半値半幅値を有する、リチウム含有ガラス物品。
前記結合共鳴の第1のものが、前記結合共鳴の第2のものの半値半幅値より少なくとも2倍大きい半値半幅値を有する、実施形態51に記載のリチウム含有ガラス物品。
横磁界偏波および横電界偏波の両方の強度結合プロファイルが、前記結合共鳴の第2のものの半値半幅値より少なくとも1.8倍大きい半値半幅値を有する該結合共鳴の第1のものを含む、実施形態51または52に記載のリチウム含有ガラス物品。
前記結合共鳴の第1のものが、該結合共鳴の第2のものと該結合共鳴の第3のものの半値半幅値より少なくとも1.8倍大きい半値半幅を有する、実施形態51から53いずれか1つに記載のリチウム含有ガラス物品。
複数の結合共鳴を含む平滑化された強度結合プロファイルを含むリチウム含有ガラス物品であって、
前記結合共鳴の第1のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数が、該結合共鳴の第2のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数より少なくとも1.8倍大きい、リチウム含有ガラス物品。
前記結合共鳴の第1のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数が、前記結合共鳴の第2のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数より少なくとも1.8倍大きい、実施形態55に記載のリチウム含有ガラス物品。
横磁界偏波および横電界偏波の両方の強度結合プロファイルが、前記結合共鳴の第2のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数より少なくとも1.8倍大きい該結合共鳴の第1のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数を含む、実施形態55または56に記載のリチウム含有ガラス物品。
前記結合共鳴の第1のものでの平滑化された強度結合プロファイルが、該結合共鳴の第2のものおよび該結合共鳴の第3のものでの平滑化された強度結合プロファイルの二次導関数より少なくとも1.8倍大きい、実施形態55から57いずれか1つに記載のリチウム含有ガラス物品。
110 第1の表面
112 第2の表面
120 第1の圧縮層
122 第2の圧縮層
130 中央領域
500 家庭用電子機器
502 筐体
504 前面
506 背面
508 側面
510 ディスプレイ
512 カバー基板
Claims (8)
- アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品であって、
Li2O、Na2O、およびK2O;
前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラスの表面から圧縮深さ(DOC)まで延在する圧縮応力層;
前記圧縮深さから前記ガラス物品中に延在し、少なくとも40MPaの最大引張応力を有する引張領域;および
K2O濃度がK2O濃度極大値まで増加する部分を含むK2O濃度プロファイル;
を有し、
前記K2O濃度極大値が、前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品の表面でのK2O濃度の0.5%から15%のK2O濃度である、アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。 - 前記K2O濃度極大値が前記アルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品の表面下3μmから30μmの範囲の深さに位置する、請求項1記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
- 前記K2O濃度極大値が0.05モル%から1.2モル%のK2O濃度である、請求項1または2記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品。
- 筐体;
前記筐体に少なくとも部分的に内部に設けられた電気部品であって、少なくとも、制御装置、メモリ、および該筐体の前面にまたはそれに隣接して設けられたディスプレイを含む電気部品;および
前記筐体の前面にまたはその上に、かつ前記ディスプレイの上に配置されたカバー物品;
を備えた家庭用電子機器であって、
前記筐体またはカバー物品が、請求項1から3いずれか1項記載のアルカリアルミノケイ酸塩ガラス物品から作られている、家庭用電子機器。 - 方法であって、
リチウム塩を含む逆イオン交換浴中でイオン交換済みガラス物品を逆イオン交換して、逆イオン交換済みガラス物品を製造する工程、および
再イオン交換浴中で前記逆イオン交換済みガラス物品を再イオン交換して、再イオン交換済みガラス物品を形成する工程、
を有してなり、
前記再イオン交換済みガラス物品が、
Li2O、Na2O、およびK2O;
前記再イオン交換済みガラス物品の表面から圧縮深さ(DOC)まで延在する圧縮応力層;
前記圧縮深さから前記再イオン交換済みガラス物品中に延在し、少なくとも40MPaの最大引張応力を有する引張領域;および
K2O濃度がK2O濃度極大値まで増加する部分を含むK2O濃度プロファイル、
を有する、方法。 - 前記逆イオン交換済みガラス物品の表面から1μmと10μmの間を除去する工程をさらに含む、請求項5記載の方法。
- 前記逆イオン交換浴が、
3質量%から40質量%のLiNO3、および
55質量%から97質量%のNaNO3、
を含む、請求項5または6記載の方法。 - リチウム塩を含む第2の逆イオン交換浴中で前記逆イオン交換済みガラス物品を逆イオン交換する工程をさらに含む、請求項6または7記載の方法。
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