JP7142089B2 - 検査対象物の密閉性をチェックするための漏れ検出器 - Google Patents
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Description
この方法は、検査対象物のリーク部を通過するトレーサーガスの検出に依存している。一般にヘリウム又は水素がトレーサーガスとして使用される。これらのガスは、分子のサイズが小さく移動速度が速いため、他のガスよりも簡単に小さなリーク部を通過するためである。
到達真空圧を下げるための解決策の1つは、多数のポンピングステージを直列に取り付けた1台の粗引き真空ポンプを使用することである。ただし、この構成では、排気中のポンプ流量を増すことはできない。
さらに、複数台の粗引き真空ポンプ、特にダイヤフラム真空ポンプのポンプ性能は、経年劣化に伴って低下し、達成できる到達真空圧力が高くなる。これでは、真空圧力を下限閾値と交差して低下させて、ターボ分子真空ポンプによるポンピングに切り替えることを実行できない。
前記漏れ検出器は、
-検査対象物に接続するための1つの検出入口と、
-1つのポンプ装置と、
但し、前記ポンプ装置は、
-第1駆動モータ、吸入口と吐出口の間に直列に取り付けられた少なくとも1つの第1、第2ポンピングステージを含む第1粗引き真空ポンプ、
-第2駆動モータ、吸入口と吐出口の間に直列に取り付けられた少なくとも1つの第1、第2ポンピングステージを含む第2粗引き真空ポンプ、
-但し、前記両粗引き真空ポンプの前記各吸入口は、第1遮断弁によって前記検出入口に並列に接続されており、
-前記第1遮断弁と前記両粗引き真空ポンプの前記各吸入口の間に第2遮断弁を介して接続された吐出口を有する、ターボ分子真空ポンプとを含んでおり、
-前記ターボ分子真空ポンプに接続されたガス検出器とを備えたものにおいて、
少なくとも1つの前記第2粗引き真空ポンプの前記吐出口が、前記第1粗引き真空ポンプの2つの直列のポンピングステージの間において、前記第1粗引き真空ポンプに接続されていることを特徴とする。
第2粗引き真空ポンプを第1粗引き真空ポンプのポンピングステージ間に接続することにより、少なくとも2台の粗引き真空ポンプの第1ポンピングステージのポンプ流量と、第2粗引き真空ポンプの最後から2番目のポンピングステージと第1粗引き真空ポンプの最後のポンピングステージとを接続することによる、到達真空圧力の低下の両方の効果を得ることができる。
第2粗引き真空ポンプのポンピングステージの吐出口に、第1粗引き真空ポンプの少なくとも1つの最後のポンピングステージが追加されることで、第2粗引き真空ポンプのポンピングステージを通して、到達真空圧力におけるポンピングが効果的になされる。
この配置は直観に反している。むしろ、得られる到達真空圧力は、単一の粗引き真空ポンプで得られる圧力と同じであると考えられる。
また、到達真空圧力の低下により、粗引きポンプの経年劣化による性能低下に対して余裕を持たせることができる。従って、ポンプの経年劣化に関連して、堅牢性が向上する。
-少なくとも1台の前記第2粗引き真空ポンプの前記吐出口が、前記第1粗引き真空ポンプの前記最後から2番目のポンピングステージと前記最後のポンピングステージの間に接続されている。
-少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプはダイヤフラムポンプである。
-前記第1粗引き真空ポンプのポンピングステージの前記ダイヤフラムは、前記第1駆動モータによって駆動され、前記第2粗引き真空ポンプのポンピングステージの前記ダイヤフラムは、前記第2駆動モータによって移動するように構成されている。
-少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプは、スクリューポンプ又はスクロールポンプである。
-少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプは、2つのロータ、たとえばルーツロータを含んでいる。
-少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプは、各ポンピングステージで反対方向に同期して回転駆動されるように構成された2つのロータを含んでいる。
-前記第1粗引き真空ポンプの前記ロータは、前記第1駆動モータによって駆動され、前記第2粗引き真空ポンプの前記ロータは、前記第2駆動モータによって駆動されるように構成されている。
-少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプは、同一のポンピングステージ構成を有している。
-少なくとも1台の前記粗引き真空ポンプは、並列に設けられた少なくとも2つの第1ポンピングステージを含んでいる。
-少なくとも1台の前記粗引き真空ポンプは、直列に設けられた少なくとも3つのポンピングステージを含んでいる。
-前記漏れ検出器は、前記第2粗引き真空ポンプの2つのポンピングステージ間にパージガスを供給するように構成されたパージ装置を含んでいる。
以下の実施形態は例示である。以下の説明は、1つ又は複数の実施形態に言及しているが、これは、各参照符号が同じ実施形態に関すること、又は特徴が単一の実施形態にのみ適用されることを必ずしも意味しない。異なる実施形態の単純な特徴はまた、本発明の他の実施形態とするために、組み合わせ又は交換することができる。
「到達真空度」は、無視できるバックグラウンドのガスの流れを除いて、ガスの流れがないとき(流量零)に真空ポンプによって得られる最小圧力を意味するように定義されている。
ポンプ装置3は、1台の第1粗引き真空ポンプ5、少なくとも1台の第2粗引き真空ポンプ6、1台のターボ分子真空ポンプ7、第1、第2遮断弁8、9、及び少なくとも1つのサンプリング弁10a、10bを備えている。
ガス検出器4は、ターボ分子真空ポンプ7、例えば、その吸気口11に接続されている。このガス検出器4は、例えば、質量分析計を備えている。
ターボ分子真空ポンプ7の吐出口17は、第2遮断弁9を介して粗引き真空ポンプ5、6の吸入口12、14に接続されている。
ポンプ装置3は、例えば、少なくとも2つのサンプリング弁10a、10bを含み、各サンプリング弁10a、10bは、ターボ分子真空ポンプ7の別個の中間ステージに接続されているので、サンプリング流量は、漏れ率のレベルに調整することができる。サンプリング弁10a、10bは、検出入口2と第1遮断弁8との間に配置された真空ライン16のパイプのバイパスに接続されている。
同じ粗引き真空ポンプの複数のポンピングステージは、前のポンピングステージの吐出口(又は排出口)又は幾つか前のポンピングステージの共通の吐出口を接続するそれぞれの段間チャネルによって、後続のステージの吸入口(又は吸気口)又は幾つかの後続のポンピングステージの共通の吸入口に、次々と直列に接続できる。
これらの第1ポンピングステージT1、T2は、第2ポンピングステージT3と直列にかつその上流に設けられ、この第2ポンピングステージT3は第3のポンピングステージT4に直列にかつその上流に設けられている。
第2粗引き真空ポンプ6は、並列に設けられた2つの第1ポンピングステージT1’、T2’を備えている。
これらの2つの第1ポンピングステージT1’、T2’は、第2ポンピングステージT3’と直列にかつその上流に設けられ、この第2ポンピングステージT3’は、第3のポンピングステージT4’と直列にかつその上流に設けられている。
粗引き真空ポンプ5、6の吸入口12、14は、第1遮断弁8を介して、ポンプ装置3の真空ライン16のパイプによって検出入口2に並列に接続される。
各ポンピングステージは、偏芯機構によって駆動されるダイヤフラムを有しているので、入口フラップ弁と出口フラップ弁を伴うダイヤフラムの動きにより、ガスをポンピングできる。
第1粗引き真空ポンプ5では、第1駆動モータ21により、ポンピングステージT1-T4のダイヤフラムを動かす偏芯機構が回転される。
第2粗引き真空ポンプ6では、第2駆動モータ23により、ポンピングステージT1’-T4’のダイヤフラムを動かす偏芯機構が回転される。
第2粗引き真空ポンプ6の吐出口15は、第1粗引き真空ポンプ5の最後から2つ目のポンピングステージT3と最後のポンピングステージT4の間など、第1粗引き真空ポンプ5の2つの直列のポンピングステージT3、T4の間で、第1粗引き真空ポンプ5に接続される。吐出口15は、例えば、第1粗引き真空ポンプ5の最後のステージ間チャネルに接続される。
第2粗引き真空ポンプ6を第1粗引き真空ポンプ5のポンピングステージT3、T4の間に接続することにより、2倍のポンピング流量と到達真空圧力の低下という両方の効果を得ることが可能になる。
到達真空において、第2粗引き真空ポンプ6の3つのポンピングステージT1’-T4’に、第1粗引き真空ポンプ5の最終のポンピングステージT4が追加されて、ポンピングが有効になる。
この配置は直感に反している。むしろ、得られる到達真空圧力は、単一の粗引き真空ポンプで得られる圧力と同一であると考えられるかもしれない。
従って、単一のパージ装置18は、第2粗引き真空ポンプ6の最終のポンピングステージT4’と第1粗引き真空ポンプ5の最終のポンピングステージT4の両方をパージすることを可能にする。
漏れ検出器1の制御ユニットは、特に真空ライン16で測定された圧力の関数として、ソレノイド弁8、9、10a、10bを制御するのに適したメモリ及びプログラムを有する、1つ又は複数のコントローラ又はマイクロコントローラ又はコンピューターを含んでおり、この制御ユニットは、遠隔制御装置及び/又は制御パネルなど、漏れ検出器1のユーザインターフェースを管理する。
最初に、検査対象物は検出入口2に接続され、遮断弁8、9及びサンプリング弁10a、10bは閉じられているとする。
この状態で、ユーザが測定サイクルを開始する。
これに伴い、検出入口2と粗引き真空ポンプ5、6の吸入口12、14との間に挿入された第1遮断弁8が開く。
次に、漏れ検出器1が、2台の粗引き真空ポンプ5、6のポンプ流量を取得する。このポンプ流量は、4つのポンピングステージT1、T2、T1’、T2’が検査対象物から並行してガスを取り込むのに相当する。
真空ライン16で圧力が急速に低下する。
真空ライン16で測定された圧力が低圧閾値以下、例えば500Pa(又は5ミリバール)以下であるとき、第1遮断弁8が閉じるように制御される。
ターボ分子真空ポンプ7とガス検出器4を検出入口2に接続するために、第2遮断弁9とサンプリングソレノイド弁10a、10bの1つが開くように制御される。
ユーザは、検査対象物の周囲にトレーサーガスをスプレーすることで、漏れを探知することができる。ガス検出器4は、検査対象物にリーク部が存在する場合のトレーサーガスの増加を測定する。
検査対象物を取り巻くガスを取り込むために、漏れ検出器1の検出入口2に探知プローブが接続される。このようにしてサンプリングされたガスの一部は、リーク部の存在を明らかにするトレーサーガスを含んでいる可能性があり、ガス検出器4によって分析される。
漏れ検出器1が使用されなくなったとき、例えば、所定の期間の後に、スタンバイモードが提供され、粗引き真空ポンプ5、6の回転速度が低減される。
粗引き真空ポンプ5、6の回転数を下げることにより、使用しないときの漏洩検出器1の消費電力を低減することができる。このモードは手動でトリガーするか、制御ユニットで検出及び制御することができる。
曲線Aは、吐出口15が第1粗引き真空ポンプ5の最後から2つ目のポンピングステージT3と最終のポンピングステージT4の間に接続された場合のポンプ性能である。
曲線Bは、従来例の、共通の吸入口と共通の吐出口を使用する2台のダイヤフラムの粗引き真空ポンプのポンプ性能である。
この例では、3ミリバールを超える高圧の場合、本発明による粗引き真空ポンプ5、6の組み合わせによるポンプ流量が、従来例による共通の吐出口と並列に設けられた2台の粗引き真空ポンプのポンプ流量と同じであることに留意されたい。
従って、本発明による漏れ検出器1は、2台の粗引き真空ポンプ5、6の第1ポンピングステージT1、T2、T1’、T2’のポンプ流量を得ることができる。
第2粗引き真空ポンプ6の吐出口15を第1粗引き真空ポンプ5の最後から2番目のポンピングステージT3と最後のポンピングステージT4との間に接続しても、高い圧力におけるの2台の粗引き真空ポンプ5、6のポンプ性能は低下しない。
低下した回転速度V2において、本発明による粗引き真空ポンプ5、6で得られる到達真空圧力は0.5ミリバールに達するが、共通の吐出口を有する従来例の粗引き真空ポンプでは、1ミリバール程度の到達真空圧力付近で一定になる。従って、この場合も、本発明によれば、到達真空圧力を従来例の2分の1まで低下させることができる。
到達真空圧力圧を下げることができるので、粗引き真空ポンプ5、6の経年劣化によって発生する可能性のある性能低下に関して余裕を確保することも可能になる。従って、ポンプの経年劣化に関連して、堅牢性が向上する。
粗引き真空ポンプ19、20は、例えば、直列に設けられた5つのポンピングステージを含んでいる。第1粗引き真空ポンプ19では、複数のロータを保持する複数のシャフトが、次々と直列に設けられたポンピングステージT1-T5内に伸びている。複数のシャフトは、第1粗引き真空ポンプ19の第1の駆動モータ25によって駆動される。また、ポンピングステージT1-T5は、第1粗引き真空ポンプ19の第1のケーシング26内に配置されている。
第2粗引き真空ポンプ20では、複数のロータを保持する複数のシャフトが、次々と直列に設けられたポンピングステージT1’-T5’内に伸びている。複数のシャフトは、第2粗引き真空ポンプ20の第2駆動モータ27によって駆動される。また、ポンピングステージT1’-T5’は、第2粗引き真空ポンプ20の第2ケーシング28に配置されている。
複数のロータは角度的にオフセットされて駆動され、各ステージで反対方向に同期して回転する。回転中、吸気口から取り込んだガスは、複数のロータとステーターで形成された空間に閉じ込められ、次に、複数のロータで次段のステージに運ばれる。
これらの粗引き真空ポンプは、運転中、ロータがステーターと機械的に接触することなくステーター内で回転するため、「ドライ」と呼ばれる。これにより、ポンピングステージ階でオイルを完全に無くすることができる。
第2粗引き真空ポンプ20を第1粗引き真空ポンプ19のポンピングステージT4、T5の間に接続することにより、2倍のポンピング流量と到達真空圧力の低下の両方の効果を得ることが可能になる。
到達真空圧力では、第2粗引き真空ポンプ20の5つのポンピングステージT1’-T5’を介してポンピングが効果的であり、これは、第1粗引き真空ポンプ19の最終のポンピングステージT5に追加される。
2 検出入口
3 ポンプ装置
4 ガス検出器
5 第1粗引き真空ポンプ
6 第2粗引き真空ポンプ
7 ターボ分子真空ポンプ
8 第1遮断弁
9 第2遮断弁
10a,10b サンプリング弁
11 吸気口
12 吸入口
13 吐出口
14 吸入口
15 吐出口
16 真空ライン
17 吐出口
18 パージ装置
19 第1粗引き真空ポンプ
20 第2粗引き真空ポンプ
21 第1駆動モータ
22 第1ケーシング
23 第2駆動モータ23
24 第2ケーシング
25 第1の駆動モータ
26 第1のケーシング
27 第2駆動モータ
28 第2ケーシング
T1-T5 ポンピングステージ
T1’-T4’ ポンピングステージ
Claims (10)
- 検査対象物の密閉性をチェックするための漏れ検出器(1)であって、
前記漏れ検出器は、
-検査対象物に接続するための1つの検出入口(2)と、
-1つのポンプ装置(3)と、
但し、前記ポンプ装置(3)は、
-第1駆動モータ(21、25)、少なくとも1つの第1ポンピングステージ(T1、T2)、及び、吸入口(12)と吐出口(13)の間に直列に設けられた1つの第2ポンピングステージ(T3)を含む第1粗引き真空ポンプ(5;19)と、
-第2駆動モータ(23、27)、吸入口(14)と吐出口(15)の間に直列に設けられた少なくとも1つの第1ポンピングステージ(T1’、T2’)及び1つの第2ポンピングステージ(T3’)を含む第2粗引き真空ポンプ(6;20)と、
-但し、前記各粗引き真空ポンプ(5、6;19、20)の前記各吸入口(12、14)は、第1遮断弁(8)によって前記検出入口(2)に並列に接続されており、
-前記第1遮断弁(8)と前記各粗引き真空ポンプ(5、6;19、20)の前記各吸入口(12、14)の間に第2遮断弁(9)を介して接続された吐出口(17)を有する、ターボ分子真空ポンプ(7)とを含んでおり、
-前記ターボ分子真空ポンプ(7)に接続されたガス検出器(4)とを備えたものにおいて、
少なくとも1つの前記第2粗引き真空ポンプ(6;20)の前記吐出口(15)が、前記第1粗引き真空ポンプ(5;19)の2つの直列のポンピングステージ(T3、T4;T4、T5)の間において、前記第1粗引き真空ポンプ(5;19)に接続されていることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1に記載の漏れ検出器おいて、
少なくとも1つの前記第2粗引き真空ポンプ(6)の前記吐出口(15)は、前記第1粗引き真空ポンプ(5;19)の前記最後から2番目のポンピングステージ(T3;T4)と前記最後のポンピングステージ(T4;T5)の間に接続されていることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1又は2に記載の漏れ検出器において、
少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプ(5、6)はダイヤフラムポンプであり、前記第1粗引き真空ポンプ(5)の前記ポンピングステージ(T1-T4)のダイヤフラムは、前記第1駆動モータ(21)によって駆動され、前記第2粗引き真空ポンプ(6)のポンピングステージ(T1’-T4’)のダイヤフラムは、前記第2駆動モータ(23)によって駆動されるように構成されていることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1又は2に記載の漏れ検出器において、
少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプ(19、20)には、前記各ポンピングステージ(T1’-T5‘;T1-T5)で反対方向に同期して回転するように駆動されるように構成された2つのロータが含まれ、前記第1粗引き真空ポンプ(19)のロータは、前記第1駆動モータ(25)によって駆動され、前記第2粗引き真空ポンプ(20)のロータは、前記第2駆動モータ(27)によって駆動されるように構成されていることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1~4のいずれか1項に記載の漏れ検出器において、
前記ロータはルーツロータであることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1、2、4のいずれか1項に記載の漏れ検出器において、
少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプは、スクリューポンプ又はスクロールポンプであることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1~6のいずれか1項に記載の漏れ検出器において、
少なくとも2台の前記粗引き真空ポンプ(5、6;19、20)は、同一のポンピングステージ構成を備えていることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1~7のいずれか1項に記載の漏れ検出器において、
少なくとも1台の粗引き真空ポンプ(5、6;19、20)は、並列に設けられた少なくとも2つの第1ポンピングステージ(T1、T2;T1’、T2’)を含んでいることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1~8のいずれか1項に記載の漏れ検出器において、
少なくとも1台の前記粗引き真空ポンプ(5、6)は、直列に設けられた少なくとも3段のポンピングステージ(T1-T4;T1’-T4‘)を備えていることを特徴とする漏れ検出器。 - 請求項1~9のいずれか1項に記載の漏れ検出器において、
前記第2粗引き真空ポンプ(6;20)の前記2つのポンピングステージ(T3’、T4’;T4’、T5’)の間にパージガスを供給するように構成されたパージ装置(18)を含んでいることを特徴とする漏れ検出器。
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003518256A (ja) | 1999-12-22 | 2003-06-03 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | シート型漏洩探査器を運転する方法並びに該方法を実施するために適したシート型探査器 |
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---|---|---|---|---|
EP0283543B1 (de) * | 1987-03-27 | 1991-12-11 | Leybold Aktiengesellschaft | Lecksuchgerät und Betriebsverfahren dazu |
EP0344345B1 (de) * | 1988-06-01 | 1991-09-18 | Leybold Aktiengesellschaft | Pumpsystem für ein Lecksuchgerät |
FR2653558B1 (fr) * | 1989-10-23 | 1994-06-10 | Cit Alcatel | Systeme de detection de fuites a gaz traceur. |
FR2667937B1 (fr) * | 1990-10-15 | 1995-03-10 | Cit Alcatel | Detecteur de fuite a gaz traceur. |
DE4140366A1 (de) * | 1991-12-07 | 1993-06-09 | Leybold Ag, 6450 Hanau, De | Lecksucher fuer vakuumanlagen sowie verfahren zur durchfuehrung der lecksuche an vakuumanlagen |
DE4228313A1 (de) * | 1992-08-26 | 1994-03-03 | Leybold Ag | Gegenstrom-Lecksucher mit Hochvakuumpumpe |
DE9405028U1 (de) * | 1994-03-24 | 1994-06-09 | Leybold AG, 50968 Köln | Testgas-Lecksuchgerät |
DE4442174A1 (de) * | 1994-11-26 | 1996-05-30 | Leybold Ag | Lecksuchgerät mit Vakuumpumpen und Betriebsverfahren dazu |
DE19504278A1 (de) * | 1995-02-09 | 1996-08-14 | Leybold Ag | Testgas-Lecksuchgerät |
US5703281A (en) * | 1996-05-08 | 1997-12-30 | Southeastern Univ. Research Assn. | Ultra high vacuum pumping system and high sensitivity helium leak detector |
DE19638506A1 (de) * | 1996-09-20 | 1998-03-26 | Leybold Vakuum Gmbh | Verfahren zur Untersuchung einer Mehrzahl ähnlicher Prüflinge auf Lecks sowie für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Lecksucher |
DE19735250A1 (de) * | 1997-08-14 | 1999-02-18 | Leybold Vakuum Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Heliumlecksuchers und für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Heliumlecksucher |
DE19962006A1 (de) * | 1998-10-10 | 2001-06-28 | Leybold Vakuum Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Folien-Lecksuchers sowie für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Folien-Lecksucher |
DE50015394D1 (de) * | 1999-12-22 | 2008-11-20 | Inficon Gmbh | Verfahren zum betrieb eines folien-lecksuchers sowie für die durchführung dieses verfahrens geeigneter folien-lecksucher |
DE10156205A1 (de) * | 2001-11-15 | 2003-06-05 | Inficon Gmbh | Testgaslecksuchgerät |
DE10302764A1 (de) * | 2003-01-24 | 2004-07-29 | Pfeiffer Vacuum Gmbh | Vakuumpumpsystem |
DE10308420A1 (de) * | 2003-02-27 | 2004-09-09 | Leybold Vakuum Gmbh | Testgaslecksuchgerät |
DE10319633A1 (de) * | 2003-05-02 | 2004-11-18 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
DE10324596A1 (de) * | 2003-05-30 | 2004-12-16 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
EP1631807B1 (en) * | 2003-06-11 | 2007-11-21 | Varian, Inc. | Method and apparatus for large leak testing |
DE102007057944A1 (de) * | 2007-12-01 | 2009-06-04 | Inficon Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Dichtheitsprüfung |
DE102010033373A1 (de) * | 2010-08-04 | 2012-02-09 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
EP2671060B1 (de) * | 2011-02-03 | 2015-08-19 | Oerlikon Leybold Vacuum GmbH | Lecksucheinrichtung |
DE102011107334B4 (de) * | 2011-07-14 | 2023-03-16 | Leybold Gmbh | Lecksucheinrichtung sowie Verfahren zum Überprüfen von Gegenständen auf Dichtigkeit mittels einer Lecksucheinrichtung |
DE102015222213A1 (de) * | 2015-11-11 | 2017-05-11 | Inficon Gmbh | Druckmessung am Prüfgaseinlass |
DE102016210701A1 (de) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | Inficon Gmbh | Massenspektrometrischer Lecksucher mit Turbomolekularpumpe und Boosterpumpe auf gemeinsamer Welle |
CN106768685A (zh) * | 2016-12-05 | 2017-05-31 | 安徽皖仪科技股份有限公司 | 一种能够辅助抽空的氦质谱检漏仪 |
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JP2016532122A (ja) | 2013-09-16 | 2016-10-13 | インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングInficon GmbH | 多段膜式ポンプを備えた嗅気型漏洩検出器 |
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