JP7068122B2 - 物体に接触して姿勢及び力を検出するための変形可能なセンサ及び方法 - Google Patents
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Description
本出願は、2017年9月26日に出願された米国特許仮出願第62/563,595号の利益を主張するものであり、当該仮出願は、参照によりその全体が組み込まれる。
具体的な実施形態はここに説明され記載されたが、さまざまな他の変更及び修正は、特許請求の範囲に記載の主題の精神及び範囲から逸脱することなくなされてよいと理解されるべきである。さらに、特許請求の範囲に記載の主題のさまざまな態様がここに記載されているが、態様は、組み合わせて利用されなくてもよい。従って、付加される特許請求の範囲は、特許請求の範囲に記載の主題の範囲内の全ての変更及び修正を対象にすることを意味する。
筐体及び前記筐体の上部に結合された変形可能な膜を含み、媒体で満たされるように構成される容器と、
前記容器の内部に配置され、前記媒体の中を通って前記変形可能な膜の底面に向けられるように構成される視野を有する内界センサと、を含み、
前記内界センサは、前記物体との接触の結果として前記変形可能な膜の内部の変形領域を出力するように構成される、変形可能なセンサ。
例2:前記筐体は、前記変形可能なセンサへ又は前記変形可能なセンサから電力又は信号のための配線を提供するように構成される電線管を含む、例1に記載の変形可能なセンサ。
例3:前記変形可能なセンサの内部の圧力は、加圧パラメータによって特定され、前記変形可能なセンサの変形能に反比例する、例1に記載の変形可能なセンサ。
例4:前記容器の内部に配置される複数の内界センサをさらに含む、例1に記載の変形可能なセンサ。
例5:前記変形可能なセンサの変形能は、膜の材料又は媒体の材料に起因する前記容器の内部の圧力の変化によって修正される、例1に記載の変形可能なセンサ。
例6:前記内界センサは、前記内界センサの視界の内部に配置され、且つ、前記内界センサによって放射される光信号を散乱させるように構成されるフィルタをさらに含む、例1に記載の変形可能なセンサ。
例7:前記内界センサは、ToFセンサを含む、例1に記載の変形可能なセンサ。
例8:前記変形可能な膜は、前記内界センサによって放射される内部信号を散乱させるように構成されるフィルタ層をさらに含む、例1に記載の変形可能なセンサ。
例9:フィルタ層は、前記変形可能な膜の前記底面に配置され、コーティング又は模様を含む、例1に記載の変形可能なセンサ。
例10:物体と関連付けられた姿勢及び力のセンサベースの検出のための方法であって、
プロセッサが、容器の内部に配置され、媒体の中を通って変形可能な膜の底面に向けられる視野を有する内界センサを利用して、前記物体との接触に起因する前記変形可能な膜の変形領域に関するデータを含む信号を、変形可能なセンサから受信するステップと、
前記プロセッサが、前記変形可能な膜の前記変形領域に基づいて前記物体の姿勢を決定するステップと、
前記プロセッサが、前記変形可能な膜の前記変形領域に基づいて前記変形可能な膜と前記物体との間に加えられる力の量を決定するステップと、
を含む、方法。
例11:前記容器の内部の圧力を変更することによって前記変形可能なセンサの変形能を修正するステップをさらに含む、例10に記載の方法。
例12:前記物体が前記変形可能な膜を変形したときに、前記プロセッサが、前記変形可能なセンサの出力を装置上の表示のために出力するステップをさらに含む、例10に記載の方法。
例13:前記物体の前記姿勢を決定するステップは、前記プロセッサが、前記変形領域の表面に垂直なベクトルを出力するステップをさらに含む、例10に記載の方法。
例14:前記変形可能な膜の前記底面の上に配置されるフィルタ層を経由して、前記内界センサによって放射される内部信号の、前記内界センサによって放射される光信号を散乱させるステップをさらに含む、例10に記載の方法。
例15:前記プロセッサが前記変形領域を分析するステップは、前記変形可能な膜の前記底面のコーティング又はパターンへの変化を測定するステップをさらに含む、例14に記載の方法。
例16:前記内界センサは、ToFセンサを含む、例10に記載の方法。
例17:物体と関連付けられた姿勢及び力を検出するためのシステムであって、
筐体及び前記筐体の上部に結合された変形可能な膜を含み、媒体で満たされるように構成される容器と、
前記容器の内部に配置され、前記媒体の中を通って前記変形可能な膜の底面に向けられるように構成される視野を有する内界センサであって、前記物体との接触の結果として前記変形可能な膜の内部の変形領域を出力するように構成される、内界センサと、
プロセッサであって、
前記変形領域を示す前記内界センサからデータを受信し、
前記物体の姿勢を決定し、
前記変形可能な膜と前記物体との間に加えられる力の量を決定するように構成される、プロセッサと、
を含む、システム。
例18:前記プロセッサは、前記変形領域を示す前記データに基づいて、前記物体の表面に垂直なベクトルを決定するようにさらに構成される、例17に記載のシステム。
例19:前記プロセッサは、前記物体が向いている方向を決定するために前記ベクトルを利用するようにさらに構成される、例18に記載のシステム。
例20:前記内界センサは、ToFセンサを含む、例17に記載のシステム。
Claims (10)
- 物体と関連付けられた姿勢及び力を検出するための変形可能なセンサであって、
筐体及び前記筐体の上部に結合された変形可能な膜を含み、媒体で満たされるように構成される容器と、
前記容器の内部に配置され、前記媒体の中を通って前記変形可能な膜の底面に向けられるように構成される視野を有する深度カメラと、を含み、
前記深度カメラは、前記物体との接触の結果として前記変形可能な膜の内部の変形領域を出力するように構成される、変形可能なセンサ。 - 前記筐体は、前記変形可能なセンサへ又は前記変形可能なセンサから電力又は信号のための配線を提供するように構成される電線管を含む、
前記変形可能なセンサの内部の圧力は、加圧パラメータによって特定され、前記変形可能なセンサの変形能に反比例する、
前記変形可能なセンサの変形能は、膜の材料又は媒体の材料に起因する前記容器の内部の圧力の変化によって修正される、
前記深度カメラは、前記深度カメラの視界の内部に配置され、且つ、前記深度カメラによって放射される光信号を散乱させるように構成されるフィルタをさらに含む、
前記深度カメラは、ToF(Time of Flight)センサを含む、
前記変形可能な膜は、前記深度カメラによって放射される内部信号を散乱させるように構成されるフィルタ層をさらに含む、又は、
フィルタ層は、前記変形可能な膜の前記底面に配置され、コーティング又は模様を含む、請求項1に記載の変形可能なセンサ。 - 前記容器の内部に配置される複数の深度カメラをさらに含む、請求項1に記載の変形可能なセンサ。
- 物体と関連付けられた姿勢及び力のセンサベースの検出のための方法であって、
プロセッサが、容器の内部に配置され、媒体の中を通って変形可能な膜の底面に向けられる視野を有する深度カメラを利用して、前記物体との接触に起因する前記変形可能な膜の変形領域に関するデータを含む信号を、変形可能なセンサから受信するステップと、
前記プロセッサが、前記変形可能な膜の前記変形領域に基づいて前記物体の姿勢を決定するステップと、
前記プロセッサが、前記変形可能な膜の前記変形領域に基づいて前記変形可能な膜と前記物体との間に加えられる力の量を決定するステップと、
を含む、方法。 - 前記容器の内部の圧力を変更することによって前記変形可能なセンサの変形能を修正するステップ、又は、
前記物体が前記変形可能な膜を変形したときに、前記プロセッサが、前記変形可能なセンサの出力を装置上の表示のために出力するステップをさらに含む、請求項4に記載の方法。 - 前記物体の前記姿勢を決定するステップは、前記プロセッサが、前記変形領域の表面に垂直なベクトルを出力するステップをさらに含む、又は、
前記深度カメラは、ToF(Time of Flight)センサを含む、請求項4に記載の方法。 - 前記変形可能な膜の前記底面の上に配置されるフィルタ層を経由して、前記深度カメラによって放射される内部信号の、前記深度カメラによって放射される光信号を散乱させるステップをさらに含み、
前記プロセッサが前記変形領域を分析するステップは、前記変形可能な膜の前記底面のコーティング又はパターンへの変化を測定するステップをさらに含む、請求項4に記載の方法。 - 物体と関連付けられた姿勢及び力を検出するためのシステムであって、
筐体及び前記筐体の上部に結合された変形可能な膜を含み、媒体で満たされるように構成される容器と、
前記容器の内部に配置され、前記媒体の中を通って前記変形可能な膜の底面に向けられるように構成される視野を有する深度カメラであって、前記物体との接触の結果として前記変形可能な膜の内部の変形領域を出力するように構成される、深度カメラと、
プロセッサであって、
前記変形領域を示す前記深度カメラからデータを受信し、
前記物体の姿勢を決定し、
前記変形可能な膜と前記物体との間に加えられる力の量を決定するように構成される、プロセッサと、
を含む、システム。 - 前記プロセッサは、
前記変形領域を示す前記データに基づいて、前記物体の表面に垂直なベクトルを決定し、
前記物体が向いている方向を決定するために前記ベクトルを利用する、
ようにさらに構成される、請求項8に記載のシステム。 - 前記深度カメラは、ToF(Time of Flight)センサを含む、請求項8に記載のシステム。
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