JP7040927B2 - 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置における撮像条件調整方法 - Google Patents
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Description
まず、本発明の第1の実施の形態を説明する。図1に、第1の実施の形態に係る走査型電子顕微鏡(SEM)の概略図を示す。この走査型電子顕微鏡は、一例として、電子銃101と、集束レンズ102と、走査コイル103と、対物レンズ104と、一次電子検出器106と、ステージSTと、物面位置検出器107と、二次電子検出器108とを備える。
次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。図11に、第2の実施の形態に係る走査型電子顕微鏡(SEM)の概略図を示す。第1の実施の形態の構成要素と同一の構成要素については、図11において図1と同一の参照符号を付しているので、以下ではその詳細な説明は省略し、相違点のみを説明する。
次に、本発明の第3の実施の形態を説明する。図12に、第3の実施の形態に係る走査型電子顕微鏡(SEM)の概略図を示す。第1の実施の形態の構成要素と同一の構成要素については、図12において図1と同一の参照符号を付しているので、以下ではその詳細な説明は省略し、相違点のみを説明する。
続いて、本発明の第4の実施の形態を説明する。図13に、第4の実施の形態に係る走査型電子顕微鏡(SEM)の概略図を示す。第1の実施の形態の構成要素と同一の構成要素については、図13において図1と同一の参照符号を付しているので、以下ではその詳細な説明は省略し、相違点のみを説明する。
Claims (11)
- 電子ビームを発生する電子源と、
前記電子ビームを試料上に収束させるためコイル電流を印加される対物レンズと、
リターディング電圧を印加して前記電子ビームの焦点位置を調整可能な焦点位置調整装置と、
前記試料からの電子を検出する検出器と、
前記検出器からの信号に従い前記試料の画像を表示する表示部と、
前記コイル電流の初期値、前記コイル電流の変動量、前記焦点位置調整装置による焦点位置の調整量、及び磁束密度の変動量の関係を、前記対物レンズのヒステリシス特性情報として記憶する記憶部と、
前記コイル電流、前記コイル電流の変動量、及び前記焦点位置調整装置による焦点位置の調整量に基づいて、前記対物レンズが発生させている磁場を推定する推定部と
を備えたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 前記推定部で推定された磁場に従い、撮像された画像の偏向倍率を補正する倍率補正部を更に備えた、請求項1に記載の荷電粒子線装置。
- 前記推定部で推定された磁場に従い、撮像された画像の像回転を補正する、請求項1又は2に記載の荷電粒子線装置。
- 前記ヒステリシス特性情報を取得するヒステリシス特性情報取得部を更に備え、
前記ヒステリシス特性情報取得部は、
前記コイル電流を初期値に設定した後、第1の変動量だけ増加させ、再び前記初期値に戻し、前記画像の合焦状態が得られる第1電圧までリターディング電圧を調整する第1ステップと、
前記リターディング電圧を前記第1電圧に維持しつつ、前記コイル電流を最小値まで減少させた後、前記画像の合焦状態が得られるまで再び増加させる第2ステップと、
前記第2ステップで合焦状態が得られたときのコイル電流の値に基づき、前記ヒステリシス特性情報を演算する第3ステップと
を実行するよう構成されている、請求項1に記載の荷電粒子線装置。 - 前記焦点位置調整装置は、前記電子源の電圧を調整することにより、前記電子ビームの焦点位置を調節する、請求項1に記載の荷電粒子線装置。
- 前記焦点位置調整装置は、磁気回路の材料として非磁性体を用いたレンズを備えることを特徴とする、請求項1に記載の荷電粒子線装置。
- 前記焦点位置調整装置は、前記試料が載置されているステージの位置を調整するステージ制御部を含む、請求項1に記載の荷電粒子線装置。
- 電子ビームを発生する電子源と、前記電子ビームを試料上に集束させるためコイル電流を印加される対物レンズとを含む荷電粒子線装置における撮像条件調整方法であって、
前記コイル電流の初期値、前記コイル電流の変動量、リターディング電圧を印加して前記電子ビームの焦点位置を調整可能な焦点位置調整装置による焦点位置の調整量、及び磁束密度の変動量の関係を、前記対物レンズのヒステリシス特性情報として取得するステップと、
前記対物レンズの磁気回路を消磁させるレンズリセット動作を実行するステップと、
前記コイル電流を決定するステップと、
前記焦点位置調整装置を用いて電子ビームの焦点位置を調整するステップと、
前記コイル電流の初期値、前記コイル電流の変動量、及び前記焦点位置の調整量に基づいて、前記対物レンズが発生させている磁場を推定するステップと、
推定された磁場に従い撮像条件を調整するステップと
を備えたことを特徴とする、荷電粒子線装置における撮像条件調整方法。 - 推定された磁場に従い、撮像された画像の偏向倍率を補正するステップを更に備えた、請求項8に記載の方法。
- 推定された磁場に従い、撮像された画像の像回転を補正するステップを更に備えた、請求項8又は9に記載の方法。
- 前記ヒステリシス特性情報を取得するステップは、
前記コイル電流を初期値に設定した後、第1の変動量だけ増加させ、再び前記初期値に戻し、画像の合焦状態が得られる第1電圧までリターディング電圧を調整する第1ステップと、
前記リターディング電圧を前記第1電圧に維持しつつ、前記コイル電流を最小値まで減少させた後、前記画像の合焦状態が得られるまで再び増加させる第2ステップと、
前記第2ステップで合焦状態が得られたときのコイル電流の値に基づき、前記ヒステリシス特性情報を演算する第3ステップと
を含む、請求項8に記載の方法。
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